CN114785428B - 微波变频组件测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种微波变频组件测试装置及测试方法，涉及微波变频组件测试技术领域。在本发明中，测试适配系统用于根据专用测试程序执行双通道收发变频组件测试时接收和发射通道切换以及双通道转换、不同指标测试时测试仪表系统中仪表设备切换以及为双通道收发变频组件提供串口控制信号。本发明采用多功能仪表测试系统的集成、数据通信网络等硬件设备解决了双通道收发变频组件测试中，测试仪表设备量大、多通道收发变频组件手动切换测试，重复操作、生产过程多次测试结果一致性不好等问题。该方法及装置测试效率高，适合大批量生产测试的需求，能够快速准确完成全指标体系自动化测试。

Description

微波变频组件测试装置及测试方法

技术领域

本发明涉微波变频组件测试技术领域，具体涉及一种微波变频组件测试装置及测试方法。

背景技术

数字阵列模块DAM作为多个收发通道集成的雷达前端模块，是采用多通道集成技术、数字收发技术、光电调制解调技术，完成数字阵列雷达射频收发及数据预处理功能，实现大容量数据高速传输的多通道全数字收发模块。集成化变频组件作为DAM的重要组成部分，用于实现DAM系统的实现射频信号和中频信号之间的频率变换、信号放大滤波等功能。如何准确快速完成变频组件全指标测试十分重要。

在现有方法中，通常采用多台信号发生器、矢量网络分析仪、频谱分析仪、噪声系数分析仪、功率计、以及直流电源等搭建测试平台，测试仪表设备量大。且对于多通道收发变频组件的测试，采用手动切换通道，完成产品测试，测试效率低，无法满足大批量生产测试的需求。

通过上述描述可知，现有方法存在测试效率低这一技术问题。

发明内容

(一)解决的技术问题

针对现有技术的不足，本发明提供了一种微波变频组件测试装置及方法，解决了现有方法测试效率低的技术问题。

(二)技术方案

为实现以上目的，本发明通过以下技术方案予以实现：

第一方面，本发明提供一种微波变频组件测试装置，用于测试双通道收发变频组件的多个指标，包括：主控中心、数据通信网络、包括多个仪表设备的测试仪表系统和测试适配系统，其中：

所述主控中心通过数据通信网络与测试仪表系统相连；所述测试仪表系统通过测试适配系统与所述双通道收发变频组件相连；

所述主控中心用于提供专用测试程序，所述专用测试程序通过数据通信网络调用测试仪表系统中各仪表设备的校准状态文件，或设置各仪表设备的测试状态，并把各仪表设备的测试结果读取到主控中心；

所述数据通信网络用于实现所述主控中心与所述测试仪表系统数据交互；

所述测试适配系统用于根据专用测试程序执行双通道收发变频组件测试时接收和发射通道切换以及双通道转换、不同指标测试时测试仪表系统中仪表设备切换以及为双通道收发变频组件提供串口控制信号。

优选的，所述测试适配系统还用于控制双通道收发变频组件内频率切换和数控衰减状态。

优选的，所述测试适配系统包括：

控制模块、开关矩阵和线性电源，其中，所述线性电源用于为控制模块和开关矩阵供给不同的电源。

优选的，所述主控中心包括：

含串口通信的计算机，以及用于双通道收发变频组件测试的专用测试程序和人机操作界面。

优选的，所述测试仪表系统包括：

四端口变频矢网、频谱分析仪、信号发生器和可编程直流电源。

优选的，所述测试适配系统包括2个射频端口RF1、RF2、一个并行方式传输数据的端口TTL、2个正交中频端口IF1～2、1个RFS/IFS端口、1个SG端口和4个本振端口L01-1、L01-2、L02、L01/L02；

所述双通道收发变频组件包括1个射频端口RF、一个并行方式传输数据的端口TTL、2个正交中频端口IF1～2和3个本振端口L01-1、L01-2、L02；

其中，所述测试适配系统RF2端口与所述四端口变频矢网1端口相连，所述测试适配系统L01/L02端口与所述四端口变频矢网3端口相连，所述测试适配系统IF端口与所述四端口变频矢网2端口相连，所述测试适配系统RFS/IFS端口与所述测试仪表系统中频谱分析仪相连；所述测试适配系统SG端口与所述测试仪表系统中信号发生器相连。

所述双通道收发变频组件L01-1端口与所述测试适配系统L01-1端口相连，所述双通道收发变频组件RF端口与所述测试适配系统RF端口相连，所述双通道收发变频组件TTL信号端口与所述测试适配系统TTL端口相连，所述双通道收发变频组件L01-2端口与所述测试适配系统L01-2端口相连，所述双通道收发变频组件IF1端口与所述测试适配系统IF1端口相连，所述双通道收发变频组件IF2端口与所述测试适配系统IF2端口相连，所述双通道收发变频组件L02端口与所述测试适配系统L02端口相连，所述双通道收发变频组件电源端口与所述测试仪表系统中可编程直流电源相连。

优选的，测试装置的测试指标包括：

双通道收发变频组件的发射指标和双通道收发变频组件的接收指标；

所述双通道收发变频组件的发射指标包括：上变频增益、驻波、群延时波动、带外抑制、P-1压缩点、功耗、杂波抑制、交调抑制和谐波抑制；

所述双通道收发变频组件的接收指标包括：下变频增益、驻波、群延时波动、数控衰减精度、中频带外抑制、P-1压缩点、噪声系数、功耗、杂波抑制、交调抑制、镜像抑制、中频抑制和谐波抑制；

其中，

四端口变频矢网与信号发生器用于测试发射指标中的上变频增益、驻波、群延时波动、带外抑制和P-1压缩，以及接收指标中的下变频增益、驻波、群延时波动、数控衰减精度、中频带外抑制、P-1压缩点和噪声系数；当测试上述指标时，四端口变频矢网1端口为接收输入端口或发射输出端口，四端口变频矢网2端口为接收输出端口或发射输入端口，四端口变频矢网3端口为接收或发射一本振输入端口，信号发生器用于为组件提供接收或发射的二本振输入信号；

四端口变频矢网、频谱分析仪与信号发生器用于测试发射指标中的杂波抑制、交调抑制和谐波抑制；以及接收指标中的杂波抑制、交调抑制、镜像抑制、中频抑制和谐波抑制，当测试上述指标时，四端口变频矢网1端口提供接收输入端口信号，四端口变频矢网2端口提供发射输入端口，四端口变频矢网3端口为接收或发射一本振输入端口，信号发生器用于为组件提供接收或发射的二本振输入信号，频谱分析仪用于发射输出或接收输出信号所述指标的测试。

优选的，所述测试仪表系统还包括：用于矢网校准的校准器，所述校准器包括电子校准件和功率计，或者，机械校准件和功率计。

第二方面，本发明提供一种采用第一方面所述微波变频组件测试装置进行微波变频组件测试的测试方法，包括：

在四端口变频矢网中存储若干个分别测试不同测试指标的校准程序；

调取主控中心中专用测试程序进行自动测试。

优选的，所述四端口变频矢网中存储不同测试指标的校准程序的步骤包括：

选择所述四端口变频矢网线性扫频模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为发射指标测试的第一组校准程序；

选择所述四端口变频矢网线性扫频模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为接收指标测试的第二组校准程序；

选择所述四端口变频矢网扫描功率模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为发射指标测试的第三组校准程序；

选择所述四端口变频矢网扫描功率模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为接收指标测试的第四组校准程序；

选择所述四端口变频矢网标准测试状态，设置一本振频率和功率，对四端口变频矢网3端口校准并保存为用于一本振驻波测试的的第五校准程序；

选择所述四端口变频矢网标准测试状态，设置二本振频率和功率，对四端口变频矢网3端口校准并保存为用于二本振驻波测试的的第六校准程序；

选择所述四端口变频矢网噪声系数测试模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为接收噪声系数指标测试的第七组校准程序。

(三)有益效果

本发明提供了一种微波变频组件测试装置及测试方法。与现有技术相比，具备以下有益效果：

本发明提供了一种微波变频组件测试装置及测试方法，其中该装置包括：主控中心、数据通信网络、包括多个仪表设备的测试仪表系统和测试适配系统，测试适配系统用于根据专用测试程序执行双通道收发变频组件测试时接收和发射通道切换以及双通道转换、不同指标测试时测试仪表系统中仪表设备切换以及为双通道收发变频组件提供串口控制信号。在本发明中，采用多功能仪表测试系统的集成、数据通信网络等硬件设备解决了双通道收发变频组件测试中，测试仪表设备量大、多通道收发变频组件手动切换测试，重复操作、生产过程多次测试结果一致性不好等问题。该方法及装置测试效率高，适合大批量生产测试的需求，能够快速准确完成全指标体系自动化测试。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的微波变频组件测试装置的连接示意图；

图2是本发明实施例提供的测试双通道变频组件发射增益等指标时信号路径示意图；

图3是本发明实施例提供的测试双通道变频组件接收增益等指标时信号路径示意图；

图4是本发明实施例提供的测试双通道变频组件发射杂波抑制等指标时信号路径示意图；

图5是本发明实施例提供的测试双通道变频组件接收杂波抑制等指标时信号路径示意图；

图6是本发明实施例提供的测试双通道变频组件一本振驻波指标时信号路径示意图；

图7是本发明实施例提供的测试双通道变频组件二本振驻波指标时信号路径示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本申请实施例通过提供一种微波变频组件测试装置及方法，解决了现有方法测试效率低的技术问题，实现快速完成全指标自动化测试。

本申请实施例中的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：

微波变频组件主要指标体系包括：上、下变频增益，带内起伏，驻波，群延时波动，数控衰减精度，中频带外抑制，P-1压缩点，噪声系数，功耗，杂波抑制，交调抑制，镜像抑制，中频抑制，谐波抑制等性能指标，指标体系相对普通收发组件复杂。

对于传统的测试方法，通常采用多台信号发生器、矢量网络分析仪、频谱分析仪、噪声系数分析仪、功率计、以及直流电源等搭建测试平台，测试仪表设备量大。且对于多通道收发变频组件的测试，采用手动切换通道，完成产品测试，测试效率低，无法满足大批量生产测试的需求。如果没有专用测试程序及数据存储和后处理软件，测试还存在重复操作、生产过程多次测试结果准确性和一致性问题。为解决上述问题，本发明实施例提出了一种微波变频组件测试装置和方法，能够快速完成全指标自动化测试，以解决现有方法中存在的上述问题。

为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。

4、如图1所示，本发明实施例提供一种微波变频组件测试装置，用于测试双通道收发变频组件的多个指标，包括：包括主控中心、数据通信网络、测试仪表系统和测试适配系统，其中：

所述主控中心通过数据通信网络与测试仪表系统相连；所述测试仪表系统通过测试适配系统与所述双通道收发变频组件相连；

所述主控中心用于提供专用测试程序，所述专用测试程序通过数据通信网络调用仪表设备的校准状态文件，或设置仪表测试状态，并把各仪表设备的测试结果读取到主控中心；

所述数据通信网络用于实现所述主控中心与所述测试仪表系统数据交互；

所述测试适配系统用于根据专用测试程序执行双通道收发变频组件测试时接收和发射通道切换以及双通道转换、不同指标测试时测试仪表系统中仪表设备切换、为双通道收发变频组件提供串口控制信号、控制组件内频率切换以及数控衰减状态。

本发明实施例的微波变频组件测试装置，采用多功能仪表测试系统的集成、数据通信网络等硬件设备解决了双通道收发变频组件测试中，测试仪表设备量大、多通道收发变频组件手动切换测试，重复操作、生产过程多次测试结果一致性不好等问题。该方法及装置测试效率高，适合大批量生产测试的需求，能够快速准确完成全指标体系自动化测试。

下面对各个模块进行详细描述：

在具体实施过程中，主控中心包括一台含串口通信的计算机，以及用于双通道收发变频组件测试的专用测试程序和人机操作界面。

数据通信网络用于完成主控中心与所述测试仪表系统数据交换，专用测试程序通过数据通信网络调用仪表设备的校准状态文件，或设置仪表测试状态，并把各仪表设备的测试结果读取到主控中心，所使用硬件为GPIB卡及线缆或者网络交换机及网线。

所述测试仪表系统包括1台四端口变频矢网、1台频谱分析仪、一台信号发生器、1台可编程直流电源和1台功率计，其中四端口变频矢网、频谱分析仪、信号发生器和可编程直流电源用于测试使用，功率计用于矢网校准。需要说明的是，在本发明实施例中，矢网校准还包括通过通过电子校准件或者机械校准件校准s参数。

所述测试适配系统包括控制模块、开关矩阵以及线性电源，该系统与所述测试仪表系统和双通道收发变频组件相连。测试适配系统包括2个射频端口RF1、RF、一个并行方式传输数据的端口TTL、2个中频端口IF1～2、1个射频/中频共用端口RFS/IFS、1个SG端口和4个本振端口L01-1、L01-2、L02、L01/L02。

所述双通道收发变频组件包括1个射频端口RF、一个并行方式传输数据的端口TTL、2个中频端口IF1～2和3个本振端口L01-1、L01-2、L02。

其中，所述测试适配系统RF2端口与所述四端口变频矢网1端口相连，所述测试适配系统L01/L02端口与所述四端口变频矢网3端口相连，所述测试适配系统IF端口与所述四端口变频矢网2端口相连，所述测试适配系统RFS/IFS端口与所述测试仪表系统中频谱分析仪相连；所述测试适配系统SG端口与所述测试仪表系统中信号发生器相连。

所述双通道收发变频组件L01-1端口与所述测试适配系统L01-1端口相连，所述双通道收发变频组件RF端口与所述测试适配系统RF端口相连，所述双通道收发变频组件TTL信号端口与所述测试适配系统TTL端口相连，所述双通道收发变频组件L01-2端口与所述测试适配系统L01-2端口相连，所述双通道收发变频组件IF1端口与所述测试适配系统IF1端口相连，所述双通道收发变频组件IF2端口与所述测试适配系统IF2端口相连，所述双通道收发变频组件L02端口与所述测试适配系统L02端口相连，所述双通道收发变频组件电源端口与所述测试仪表系统中可编程直流电源相连。

在具体实施过程中，该装置用于完成测试仪表系统校准、组件指标测试、存储及数据后处理。组件测试指标包括发射指标中的上变频增益、驻波、群延时波动、带外抑制、P-1压缩点、功耗、杂波抑制、交调抑制和谐波抑制；以及接收指标中的下变频增益、驻波、群延时波动、数控衰减精度、中频带外抑制、P-1压缩点、噪声系数、功耗、杂波抑制、交调抑制、镜像抑制、中频抑制和谐波抑制等。当测试上述指标时，测试仪表系统的状态如下：

当测试发射指标中的上变频增益、驻波、群延时波动、带外抑制和P-1压缩点，以及接收指标中的下变频增益、驻波、群延时波动、数控衰减精度、中频带外抑制、P-1压缩点和噪声系数时，四端口变频矢网1端口为接收输入端口或发射输出端口，四端口变频矢网2端口为接收输出端口或发射输入端口，四端口变频矢网3端口为接收或发射一本振输入端口，信号发生器用于为组件提供接收或发射的二本振输入信号；

四端口变频矢网在以上指标测试时需保存校准文件。其中测试发射指标中的上变频增益、驻波、群延时波动和带外抑制时，设置及校准状态存储为第一组校准程序；测试接收指标中的下变频增益、驻波、群延时波动、数控衰减精度和中频带外抑制时，设置及校准状态存储为第二组校准程序；测试发射指标中的P-1压缩点时，设置存储为第三组测试程序；测试发射指标中的P-1压缩点时，设置存储为第四组测试程序；一本振驻波校准状态存储为第五校准程序；二本振驻波校准状态存储为第六校准程序；噪声系数测试设置及校准状态存储为第七组校准程序。

当测试发射指标中的杂波抑制、交调抑制和谐波抑制；以及接收指标中的杂波抑制、交调抑制、镜像抑制、中频抑制和谐波抑制时，四端口变频矢网1端口提供接收输入端口信号，四端口变频矢网2端口提供发射输入端口，四端口变频矢网3端口为接收或发射一本振输入端口，信号发生器用于为组件提供接收或发射的二本振输入信号，频谱分析仪用于发射输出或接收输出信号所述指标的测试，测试状态切换由所述测试适配系统完成。

本发明实施例还提供一种微波变频组件测试方法，该方法采用上述微波变频组件测试装置进行双通道收发变频组件的全指标自动化测试。具体过程如下：

在四端口变频矢网中存储若干个分别测试不同测试指标的校准程序；

调取主控中心中专用测试程序进行自动测试。

其中，所述四端口变频矢网中存储不同测试指标的校准程序的步骤包括：

选择所述四端口变频矢网线性扫频模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为发射指标测试的第一组校准程序；

选择所述四端口变频矢网线性扫频模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为接收指标测试的第二组校准程序；

选择所述四端口变频矢网扫描功率模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为发射指标测试的第三组校准程序；

选择所述四端口变频矢网扫描功率模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为接收指标测试的第四组校准程序；

选择所述四端口变频矢网标准测试状态，设置一本振频率和功率，对四端口变频矢网3端口校准并保存为用于一本振驻波测试的的第五校准程序；

选择所述四端口变频矢网标准测试状态，设置二本振频率和功率，对四端口变频矢网3端口校准并保存为用于二本振驻波测试的的第六校准程序；

选择所述四端口变频矢网噪声系数测试模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为接收噪声系数指标测试的第七组校准程序。

如图2所示，当测试发射指标中的上变频增益、驻波、群延时波动和带外抑制时，主控中心通过专用测试程序调取第一组(共10个)不同频段校准程序。当测试发射指标中中的P-1压缩点时，主控中心通过专用测试程序调取第三组(共10个)不同频段校准程序。这两种测试状态下，测试程序对测试适配系统中开关矩阵和控制模块打码到上变频相应状态。射频信号输入输出流向如图2所示：四端口变频矢网2端口为组件提供中频输入信号，该中频信号，通过测试适配系统中开关矩阵传输到双通道收发变频组件IF1端口(或IF2端口)，经过双通道收发变频组件RF端口输出后，进入测试适配系统中开关矩阵，再输入四端口变频矢网1端口。同时，四端口变频矢网3端口输出一本振信号，进入测试适配系统中开关矩阵，切换到双通道收发变频组件L01-1端口(或者L01-2)端口，为组件提供一本振信号，测试仪表系统中信号发生器输出信号进入测试适配系统中开关矩阵，通过开关切换输出L02信号到双通道收发变频组件L02端口，为组件提供双通道共用的二本振信号。

如图3所示，当测试接收指标中的下变频增益、驻波、群延时波动、数控衰减精度和中频带外抑制时，主控中心通过专用测试程序调取第二组(共10个)不同频段校准程序。当测试接收指标中的P-1压缩点时，主控中心通过专用测试程序调取第四组(共10个)不同频段校准程序。当测试噪声系数时，调取第七组(共10个)校准程序；这三种测试状态下，测试程序对测试适配系统中开关矩阵和控制模块打码到下变频相应状态，射频信号输入输出流向如图3所示：四端口变频矢网1端口为组件提供射频输入信号，该射频信号，通过测试适配系统中开关矩阵传输到双通道收发变频组件RF端口，经过双通道收发变频组件IF1端口(或IF2端口)输出后，进入测试适配系统中开关矩阵，再输入四端口变频矢网2端口。一二本振信号流向与图2相同。

如图4所示，当测试发射指标中的杂波抑制、交调抑制和谐波抑制时，主控中心通过专用测试程序设置仪表状态，测试程序对测试适配系统中开关矩阵和控制模块打码到上变频相应状态，射频信号输入输出流向如图4所示：四端口变频矢网2端口为组件提供中频输入信号，该中频信号，通过测试适配系统中开关矩阵传输到双通道收发变频组件IF1端口(或IF2端口)，经过双通道收发变频组件RF端口输出后，进入测试适配系统中开关矩阵，再输入频谱分析仪。一二本振信号流向与图2相同。

如图5所示，当测试接收指标中的杂波抑制、交调抑制、镜像抑制、中频抑制和谐波抑制时，主控中心通过专用测试程序设置仪表状态，测试程序对测试适配系统中开关矩阵和控制模块打码到下变频相应状态，射频信号输入输出流向如图5所示：四端口变频矢网1端口为组件提供射频输入信号，该射频信号，通过测试适配系统中开关矩阵传输到双通道收发变频组件RF端口，经过双通道收发变频组件IF1端口(或IF2端口)输出后，进入测试适配系统中开关矩阵，再输入频谱分析仪。一二本振信号流向与图2相同。

如图6所示，当测试发射指标中的一本振驻波或接收指标中的一本振驻波时，主控中心通过专用测试程序一本振驻波校准状态调取第五校准程序，完成上变频或下变频一本振L01-1端口(或者L01-2)单端口测试。此时，四端口变频矢网3端口输出一本振信号，进入测试适配系统中开关矩阵，切换到双通道收发变频组件L01-1端口(或者L01-2)端口，为组件提供一本振信号。

如图7所示，当测试发射指标中的二本振驻波或接收指标中的二本振驻波时，主控中心通过专用测试程序调取二本振驻波校准状态第六校准程序，完成上变频或下变频二本振L02单端口测试。此时，四端口变频矢网3端口输出二本振信号，进入测试适配系统中开关矩阵，切换到双通道收发变频组件L02端口，为组件提供二本振信号。

综上所述，与现有技术相比，具备以下有益效果：

1、本发明实施例通过采用波变频组件测试装置及方法，实现了双通道收发宽带二次变频组件一键自动化测试。通过采取多功能仪表测试系统、数据通信网络、定制专用测试适配系统硬件设计，及编制专用测试程序，实现了该类组件批量生产高效自动测试，解决了原有手动或半自动测试中测试仪表设备量大、手动切换重复操作、多次测试结果一致性差等问题。本发明实施例经过宇航级组件初样、方案、正样阶段测试验证，性能稳定可靠。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (7)

1.一种微波变频组件测试装置，用于测试双通道收发变频组件的多个指标，其特征在于，包括：主控中心、数据通信网络、包括多个仪表设备的测试仪表系统和测试适配系统，其中：

主控中心包括一台含串口通信的计算机，以及用于双通道收发变频组件测试的专用测试程序和人机操作界面；

数据通信网络用于完成主控中心与所述测试仪表系统数据交换，专用测试程序通过数据通信网络调用仪表设备的校准状态文件，或设置仪表测试状态，并把各仪表设备的测试结果读取到主控中心，所使用硬件为GPIB卡及线缆或者网络交换机及网线；

所述测试仪表系统包括1台四端口变频矢网、1台频谱分析仪、一台信号发生器、1台可编程直流电源和1台功率计，其中四端口变频矢网、频谱分析仪、信号发生器和可编程直流电源用于测试使用，功率计用于矢网校准；

所述测试适配系统包括控制模块、开关矩阵以及线性电源，该测试适配系统与所述测试仪表系统和双通道收发变频组件相连，测试适配系统包括2个射频端口RF1、RF、一个并行方式传输数据的端口TTL、2个中频端口IF1～2、1个射频/中频共用端口RFS/IFS、1个SG端口和4个本振端口L01-1、L01-2、L02、L01/L02；所述测试适配系统用于根据专用测试程序执行双通道收发变频组件测试时接收和发射通道切换以及双通道转换、不同指标测试时测试仪表系统中仪表设备切换以及为双通道收发变频组件提供串口控制信号。

2.如权利要求1所述的微波变频组件测试装置，其特征在于，所述测试适配系统还用于控制双通道收发变频组件内频率切换和数控衰减状态。

3.如权利要求1所述的微波变频组件测试装置，其特征在于，

所述双通道收发变频组件包括1个射频端口RF、一个并行方式传输数据的端口TTL、2个正交中频端口IF1～2和3个本振端口L01-1、L01-2、L02；

其中，所述测试适配系统RF2端口与所述四端口变频矢网1端口相连，所述测试适配系统L01/L02端口与所述四端口变频矢网3端口相连，所述测试适配系统IF端口与所述四端口变频矢网2端口相连，所述测试适配系统RFS/IFS端口与所述测试仪表系统中频谱分析仪相连；所述测试适配系统SG端口与所述测试仪表系统中信号发生器相连；

所述双通道收发变频组件L01-1端口与所述测试适配系统L01-1端口相连，所述双通道收发变频组件RF端口与所述测试适配系统RF端口相连，所述双通道收发变频组件TTL信号端口与所述测试适配系统TTL端口相连，所述双通道收发变频组件L01-2端口与所述测试适配系统L01-2端口相连，所述双通道收发变频组件IF1端口与所述测试适配系统IF1端口相连，所述双通道收发变频组件IF2端口与所述测试适配系统IF2端口相连，所述双通道收发变频组件L02端口与所述测试适配系统L02端口相连，所述双通道收发变频组件电源端口与所述测试仪表系统中可编程直流电源相连。

4.如权利要求3所述的微波变频组件测试装置，其特征在于，测试装置的测试指标包括：

双通道收发变频组件的发射指标和双通道收发变频组件的接收指标；

所述双通道收发变频组件的发射指标包括：上变频增益、驻波、群延时波动、带外抑制、P-1压缩点、功耗、杂波抑制、交调抑制和谐波抑制；

所述双通道收发变频组件的接收指标包括：下变频增益、驻波、群延时波动、数控衰减精度、中频带外抑制、P-1压缩点、噪声系数、功耗、杂波抑制、交调抑制、镜像抑制、中频抑制和谐波抑制；

其中，

四端口变频矢网与信号发生器用于测试发射指标中的上变频增益、驻波、群延时波动、带外抑制和P-1压缩，以及接收指标中的下变频增益、驻波、群延时波动、数控衰减精度、中频带外抑制、P-1压缩点和噪声系数；当测试上述指标时，四端口变频矢网1端口为接收输入端口或发射输出端口，四端口变频矢网2端口为接收输出端口或发射输入端口，四端口变频矢网3端口为接收或发射一本振输入端口，信号发生器用于为组件提供接收或发射的二本振输入信号；

四端口变频矢网、频谱分析仪与信号发生器用于测试发射指标中的杂波抑制、交调抑制和谐波抑制；以及接收指标中的杂波抑制、交调抑制、镜像抑制、中频抑制和谐波抑制，当测试上述指标时，四端口变频矢网1端口提供接收输入端口信号，四端口变频矢网2端口提供发射输入端口，四端口变频矢网3端口为接收或发射一本振输入端口，信号发生器用于为组件提供接收或发射的二本振输入信号，频谱分析仪用于发射输出或接收输出信号所述指标的测试。

5.如权利要求1～4任一所述的微波变频组件测试装置，其特征在于，所述测试仪表系统还包括：用于矢网校准的校准器，所述校准器包括电子校准件和功率计，或者，机械校准件和功率计。

6.一种采用如权利要求1～5任一项所述微波变频组件测试装置进行微波变频组件测试的测试方法，其特征在于，包括：

在四端口变频矢网中存储若干个分别测试不同测试指标的校准程序；

调取主控中心中专用测试程序进行自动测试。

7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于，所述四端口变频矢网中存储不同测试指标的校准程序的步骤包括：

选择所述四端口变频矢网线性扫频模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为发射指标测试的第一组校准程序；

选择所述四端口变频矢网线性扫频模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为接收指标测试的第二组校准程序；

选择所述四端口变频矢网扫描功率模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为发射指标测试的第三组校准程序；

选择所述四端口变频矢网扫描功率模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为接收指标测试的第四组校准程序；

选择所述四端口变频矢网标准测试状态，设置一本振频率和功率，对四端口变频矢网3端口校准并保存为用于一本振驻波测试的第五校准程序；

选择所述四端口变频矢网标准测试状态，设置二本振频率和功率，对四端口变频矢网3端口校准并保存为用于二本振驻波测试的第六校准程序；

选择所述四端口变频矢网噪声系数测试模式，根据微波变频组件工作频段设置测试频率、功率和各端口定义，分频段校准并保存为接收噪声系数指标测试的第七组校准程序。