CN114765411A - 用于反串联开关的截止检测电路 - Google Patents

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CN114765411A CN202210038034.4A CN202210038034A CN114765411A CN 114765411 A CN114765411 A CN 114765411A CN 202210038034 A CN202210038034 A CN 202210038034A CN 114765411 A CN114765411 A CN 114765411A
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Abstract

本公开的各实施例涉及用于反串联开关的截止检测电路。在一些示例中，一种电路被配置为控制反串联开关，该反串联开关包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管。该电路包括被配置为控制第一晶体管的栅极和第二晶体管的栅极的一个或多个驱动器电路、以及被配置为检测第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态的检测电路。检测电路被配置为向反串联开关递送信号，在反串联开关中检测信号，并且经由检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。

Description

用于反串联开关的截止检测电路
技术领域
本公开涉及包括以反串联配置布置的两个晶体管的反串联开关，并且更具体地涉及被配置为控制反串联开关的电路。
背景技术
反串联开关被广泛用于各种电路和设备中。反串联开关包括以反串联配置彼此耦合的两个晶体管。在一些情况下，反串联开关可以包括两个不同晶体管，其中每个晶体管的源极节点耦合到另一晶体管的源极节点。在其他情况下，反串联开关可以包括两个不同晶体管，其中每个晶体管的漏极节点耦合到另一晶体管的漏极节点。
反串联开关通常耦合到两个或更多个电源，以控制来自两个或更多个电源的电力输送。此外，反串联开关通常用于需要考虑电气安全的环境中。例如，反串联开关可以用于电动车辆、自动驾驶车辆、或其中电气短路或电气故障可能导致安全问题的其他环境中。
发明内容
总体上，本公开涉及用于控制反串联开关的电路。该电路可以被配置为检测和确认反串联开关的两个晶体管是否处于截止状态。驱动器电路可以被配置为控制反串联开关的两个晶体管的栅极以控制两个晶体管的导通/截止切换。本公开的技术和电路可以执行附加步骤以主动检查或确认两个晶体管是否处于截止状态，出于安全原因这可能是合乎需要的。例如，检测电路装置(它可以是栅极驱动器电路装置的一部分，也可以是单独的电路)可以被配置为向反串联开关递送信号，在反串联开关中检测信号，并且基于检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。这些电路和技术对于其中安全性至高无上的应用尤其有用，诸如用于自动驾驶车辆内的电路、或其他类型的自动化机器内的电路。
在一个示例中，一种电路，被配置为控制反串联开关，该反串联开关包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管。该电路可以包括被配置为控制第一晶体管的栅极和第二晶体管的栅极的一个或多个驱动器电路、以及被配置为检测第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态的检测电路。检测电路可以被配置为向反串联开关递送信号，在反串联开关中检测信号，并且基于检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。
在另一示例中，描述了一种用于控制反串联开关的方法，该反串联开关包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管。该方法可以包括检测第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。此外，检测第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态可以包括向反串联开关递送信号，在反串联开关中检测信号，并且基于检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。
在另一示例中，一种设备可以包括反串联开关，该反串联开关包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管。该设备还可以包括被配置为控制第一晶体管的栅极和第二晶体管的栅极的一个或多个驱动器电路、以及被配置为检测第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态的检测电路。检测电路可以被配置为向反串联开关递送信号，在反串联开关中检测信号，并且基于检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。
在附图和以下描述中阐述了这些和其他示例的细节。从说明书和附图以及从权利要求中，其他特征、目的和优点将很清楚。
附图说明
图1是反串联开关的电路图，其功能性地示出了在反串联开关中递送信号和检测信号的过程；
图2A和图2B是示出反串联开关、驱动器和截止检测电路的框图；
图3是示出控制反串联开关的两个晶体管的驱动器电路、以及与驱动器电路的组件一起操作以形成反串联开关的截止检测电路的附加电路元件的框图；
图4是示出向反串联开关递送信号和在反串联开关中检测两个不同信号响应的图，该两个不同信号响应可以用于标识反串联开关的两个晶体管是否均处于截止状态；以及
图5是与根据本公开的技术一致的流程图。
具体实施方式
本公开涉及用于控制反串联开关的电路。本文中描述的电路和技术对于其中安全性是最关注的问题的应用尤其有用，诸如用于自动驾驶车辆内的电路、或其他类型的自动化机器内的电路。例如，车辆和其他机器正在变得越来越自动化，并且可能能够在没有人工控制的情况下进行某些操作。但是，故障开关可能会导致自动化设备(以及非自动化设备)的操作出现问题。在可以用于多种应用和设置的反串联开关的操作中，本公开的电路和技术可以实现比常规电路更高的安全水平。本公开的电路和技术可以实现主动过程以检查和确认反串联开关的两个晶体管的截止状态，这对于提高安全性可能是合乎需要的。
驱动器电路可以被配置为控制反串联开关的两个晶体管的栅极以控制两个晶体管的导通/截止切换。本公开的技术和电路可以执行附加步骤以主动检查或确认两个晶体管是否处于截止状态。例如，检测电路装置(它可以是栅极驱动器电路装置的一部分，也可以是单独的电路)可以被配置为向反串联开关递送信号，在反串联开关中检测信号，并且基于检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。
图1是包括以反串联配置连接的第一晶体管12和第二晶体管14的反串联开关10的电路图。在该示例中，第一晶体管12的漏极端子和第二晶体管14的漏极端子连接到公共节点。反串联开关10还可以包括端子16和18，端子16和18可以被配置用于与不同电池电源(例如，在这种情况下是两个不同12V电源)的连接。
一个或多个驱动器电路(图1中未示出)可以被配置为通过控制施加到第一晶体管12和第二晶体管14的栅极的电压来控制晶体管12、14的导通/截止状态。然而，即使施加到晶体管12、14的栅极的电压对应于截止状态，栅极控制也可能无法确认两个晶体管是否均处于截止状态。因此，根据本公开，检测电路(图1中未示出)可以被配置为检测或确认第一晶体管12和第二晶体管14是否均处于截止状态。例如，检测电路可以向反串联开关递送信号(例如，如图1所示的一个或多个“脉冲”)，并且可以在反串联开关中(例如，在一个图1所示的测量点处)检测信号。基于检测到的信号，检测电路可以确定第一晶体管12和第二晶体管14是否均处于截止状态。在一些示例中，在一个或多个驱动器电路已经向晶体管12、14的栅极施加应当与晶体管12、14的截止状态相对应电压之后，检测电路装置可以在确定或确认第一晶体管12和第二晶体管14两者的截止状态方面提供冗余。
图2A和图2B是示出反串联开关、驱动器和截止检测电路的两个不同示例的框图。在图2A中，反串联开关25A包括具有在节点N2处被连接的源极端子的第一晶体管22A和第二晶体管24A。反串联开关25A的第一端子26A连接到第一晶体管22A的漏极端子，并且反串联开关25A的第二端子28A连接到第二晶体管24A的漏极端子。不同电池或其他电源可以连接到端子26A和28A。驱动器电路202A被配置为控制施加到晶体管22A、24A的栅极的电压以控制晶体管22A、24A的导通/截止切换。此外，截止检测电路204A可以被配置为检测或确认晶体管22A、24A的截止状态。特别地，截止检测电路204A可以被配置为向反串联开关25A递送信号，在反串联开关25A中检测信号，并且基于检测到的信号确定第一晶体管22A和第二晶体管24A是否均处于截止状态。
在一些示例中，截止检测电路204A和驱动器电路202A的切换可以使用公共电路元件。换言之，当执行截止检测过程时，截止检测电路204A的切换可以使用驱动器电路202A的一个或多个组件(诸如DC/DC转换器的电容器)。
在图2B的示例中，反串联开关25B包括在节点N2'处被连接的漏极端子的第一晶体管22B和第二晶体管24B。反串联开关25B的第一端子26B连接到第一晶体管22B的源极端子，并且反串联开关25B的第二端子28B连接到第二晶体管24B的源极端子。类似于图2A，在图2B中，不同电池或其他电源可以被连接到端子26B和28B。驱动器电路202B被配置为控制施加到晶体管22B、24B的栅极的电压以控制晶体管22B、2BB的导通/截止切换。此外，截止检测电路204B可以被配置为向反串联开关25B递送信号，在反串联开关25B中检测信号，并且基于检测到的信号确定(例如，确认)第一晶体管22B和第二晶体管24B是否均处于截止状态。以这种方式，截止检测电路204B可以被配置为检测或确认晶体管22B、24B的截止状态。
现在将一起描述图2A和图2B。反串联开关25统称为反串联开关25A或25B，驱动器电路202是指驱动器电路202A或202B，截止检测电路204是指电路204A或204B。类似地，端子26是指端子26A或26B，端子28是指端子28A或28B，第一晶体管22是指第一晶体管22A或22B，第二晶体管24是指第二晶体管24A或24B。
截止检测电路204可以被配置为向反串联开关25递送信号，在反串联开关25中检测信号，并且基于检测到的信号确定(例如，确认)第一晶体管22和第二晶体管24是否均处于截止状态。用于向反串联开关25递送信号的位置与用于在反串联开关25中检测信号的位置在不同配置中可以不同，并且可以取决于第一晶体管22和第二晶体管24内的体二极管的取向。在一些示例中，信号被递送到节点N2或N2'，并且信号还在节点N2或N2'处被检测。在这种情况下，如果第一晶体管22和第二晶体管24被卡在导通状态，则递送到节点N2或N2'的信号可以通过将晶体管开路而被耗散，并且在节点N2或N2'处检测到的信号可以指示这种耗散。因此，通过向节点N2或N2'递送信号并且在节点N2或N2'处检测信号，截止检测电路204可以确认第一晶体管22和第二晶体管24是否处于截止状态。
然而，在其他示例中，截止检测电路204可以将信号递送到一个节点(例如，N1、N2或N3)(例如，N1'、N2'或N3')，并且可以在反串联开关25内的不同节点(例如，N1、N2或N3)(例如，N1'、N2'或N3')处检测信号。取决于第一晶体管22和第二晶体管25内的体二极管的配置，这种类型的递送和检测在某些情况下可能是有用的。
第一晶体管22和第二晶体管25可以包括金属氧化物场效应晶体管(MOSFET)、或具有电荷注入栅极控制的任何其他类型的晶体管。截止检测电路204可以包括被配置为将信号递送到反串联开关25的RC电路，并且在一些情况下，截止检测电路204可以包括被配置为将信号递送到反串联开关25的DC/DC功率转换器。此外，在一些示例中，DC/DC转换器是驱动器电路202的一部分，其中检测电路204被配置为基于用于为驱动器电路202供电的电源电压并且基于附加电压来将信号递送到反串联开关25。因此，在一些示例中，截止检测电路204中的至少一些是驱动器电路202的一部分。
检测电路204可以包括被配置为在反串联开关205中检测信号的比较器，或者备选地，检测电路204还可以包括被配置为在反串联开关中检测信号的模数转换器(ADC)。在一些示例中，在检测到反串联开关25不处于截止状态时，检测电路204可以向系统级微控制器或电源管理控制器发出警报，这可以表明有问题。
如上所述，在一些示例中，截止检测电路204包括被配置为将信号递送到反串联开关25的RC电路。与这种实现一致，在一些情况下，RC电路包括与驱动器电路202和附加电阻器相关联的DC/DC转换器的输出电容器。截止检测电路204还可以包括两个附加晶体管，该两个附加晶体管被配置为将RC电路与位于第一晶体管22与第二晶体管24之间的节点N2或N2'连接和断开连接。
图3示出了与本公开一致的一个特定实现的更详细示例。特别地，图3是示出驱动器电路(其可以包括驱动器IC 32和附加组件，包括内部或外部DC/DC功率转换器34)的框图。驱动器电路控制反串联开关的两个晶体管302、304。此外，图3示出了与驱动器电路的组件一起操作以形成反串联开关的截止检测电路的附加电路元件(例如，晶体管334、336和电阻器348)。端子312和314可以定义反串联开关的端子，该端子可以耦合到不同电池或电源。
图3内的栅极驱动器电路可以包括连接到第一晶体管302的栅极端子和源极端子的驱动器IC 32。驱动器IC 32类似地连接到第二晶体管304的栅极端子和源极端子，尽管也可以针对第一晶体管302和第二晶体管304使用单独的专用驱动器。在图3的示例中，电阻器324位于驱动器IC 32与第一晶体管302的栅极之间，并且电阻器322位于第一晶体管302的栅极与第一晶体管302的源极之间。类似地，电阻器328位于驱动器IC 32与第二晶体管304的栅极之间，并且电阻器326位于第二晶体管304的栅极与第二晶体管304的源极之间。
驱动器电路可以包括DC/DC转换器34，DC/DC转换器34可以在驱动器IC 32内部或在驱动器IC 32外部。在图3所示的示例中，输入电容器332和输出电容器334在外部配置中定义DC/DC功率转换器，由此输出电容器334连接到输出364并且输入电容器332连接到输入362。输入电容器332可以向驱动器电路递送受控输入电压，如图3所示为VCC_in。
在用于控制晶体管302和304的栅极的正常驱动器操作期间，晶体管344导通，而晶体管346截止。在这种情况下，晶体管之间的节点处的电压VCC在输入端子362处向驱动器电路提供输入电源电压。根据本公开，为了执行截止检测，晶体管344截止并且晶体管346导通，例如，达短暂的持续时间。这在输出364处产生电压VCC+VDRV，该输出364通过电阻器348递送电流以定义第一晶体管302与第二晶体管304之间的节点上的信号。截止检测电路装置可以包括元件350，该元件350可以包括一个或多个比较器和/或能够检测第一晶体管302与第二晶体管304之间的节点上的信号的一个或多个模数转换器。以这种方式，截止检测电路装置可以被配置为向反串联开关(例如，向晶体管302与304之间的节点)递送信号，检测信号，并且基于检测到的信号确定反串联开关的晶体管302、304是否均处于截止状态。
图4是示出向反串联开关递送信号和在反串联开关中检测两个不同信号响应的图，该两个不同信号响应可以用于标识反串联开关的两个晶体管是否在截止状态。将从图3所示的电路的角度描述图4。如图4所示，在时间位置402处，晶体管302与304之间的节点可以定义与大约12伏相对应的电压。在时间位置404处，信号被递送到晶体管302与304之间的节点。在一个示例中，为了在晶体管302与304之间的节点处实现该信号，晶体管344截止，而晶体管346导通。这在输出364处产生电压VCC+VDRV，该输出364通过电阻器348递送电流以定义第一晶体管302与第二晶体管304之间的节点上的信号。
元件350(可以包括一个或多个比较器和/或一个或多个模数转换器)能够检测第一晶体管302与第二晶体管304之间的节点上的信号。如图4所示，如果在第一晶体管302与第二晶体管304之间的节点上测量的信号看起来类似于信号420，则这可以指示反串联开关的故障操作。例如，信号420保持与在时间位置404处递送的电压相似的电压，该电压显著高于时间位置402处的电压，而该信号由截止检测电路装置在小于大约0.001毫秒的时间段内递送。例如，信号420可以在大约0.001到0.0001毫秒之间的时间段内递送。
备选地，如图4所示，如果在图3的第一晶体管302与第二晶体管304之间的节点上测量的信号看起来类似于图4所示的信号430，则这可以指示反串联开关的正常操作状态。代替保持信号420中所示的电压升高，在信号430中存在相对较快的电压降。元件350(图3)能够检测信号420或信号430(图4所示)之间的差异，以标识反串联开关的两个晶体管302、304是否均处于截止状态。如果没有(例如，如果检测到信号420)，则元件350(图3)可以向系统级微控制器、电源管理系统或电源控制器发回故障信号。例如，这样的故障可能会导致系统级的校正或保护动作，诸如通过禁用或限制系统内的自动化特征。例如，如果用于自动驾驶车辆，则故障条件可能会导致一个或多个自动驾驶特征的暂停，并且可能提醒驾驶员这样的自动驾驶特征不可用。
图5是与根据本公开的技术一致的流程图。将从图2A或图2B所示的电路的角度描述图5。如图5所示，驱动器电路202控制反串联开关25的第一晶体管22和第二晶体管24(501)。特别地，驱动器电路202可以通过控制施加到晶体管22、24的栅极的电压来控制第一晶体管22和第二晶体管24的导通/截止状态。
截止检测电路204向反串联开关25递送信号(502)，在反串联开关25中检测信号(503)，并且基于检测到的信号确定(例如，确认)第一晶体管22和第二晶体管24是否均处于截止状态(504)。用于向反串联开关25传送信号的位置和用于在反串联开关25中检测信号的位置在不同配置中可以不同，并且可以取决于第一晶体管22和第二晶体管24内的体二极管的取向。在一些示例中，信号被递送到节点N2或N2'，并且信号还在节点N2或N2'处被检测。在这种情况下，如果第一晶体管22和第二晶体管24被卡在导通状态，则递送到节点N2或N2'的信号可能看起来类似于图4的信号420。相应地，通过向节点N2或N2'递送信号并且在节点N2或N2'处检测信号，截止检测电路204可以通过检测图4所示的信号430(表示两个晶体管都处于截止状态的正常操作)或图4所示的信号420(表示反串联开关25有故障)来确认第一晶体管22和第二晶体管24是否处于截止状态。
在一些示例中，递送信号(502)可以包括经由DC/DC转换器将信号递送到反串联开关，其中DC/DC转换器是一个或多个驱动器电路202的一部分。此外，在一些示例中，递送信号(502)可以包括经由RC电路将信号递送到反串联开关。在该示例中，RC电路的电容器可以包括DC/DC转换器的输出电容器，其中DC/DC转换器是被配置为控制第一晶体管22和第二晶体管24的一个或多个驱动器电路202的一部分。此外，递送信号(502)可以包括将RC电路连接到位于第一晶体管22与第二晶体管24之间的节点。图3所示的示例电路是使用包括DC/DC转换器的输出电容器的RC电路的一个示例，其中DC/DC转换器是被配置为控制第一晶体管302和第二晶体管304的一个或多个驱动器电路的一部分。
在一些情况下，在基于检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否处于截止状态(504)之后，如果第一晶体管和第二晶体管中的一者或两者不处于截止状态，则本公开的检测电路装置还可以被配置为执行附加步骤。例如，图3的元件350还可以被配置为响应于确定第一晶体管302和第二晶体管304中的一者或两者不处于截止状态而生成故障信号。元件350可以有能力检测信号420或信号430之间的差异，以标识反串联开关的晶体管302、304是否均处于截止状态。如果没有(例如，如果检测到信号420)，则元件350可以向系统级微控制器、电源管理系统或电源控制器发回故障信号。例如，这种故障可能会导致系统级的校正或保护动作，诸如通过禁用或限制系统内的自动化特征。例如，如果用于自动驾驶车辆，则故障条件可能会导致一个或多个自动驾驶特征的暂停，并且可能提醒驾驶员这样的自动驾驶特征不可用。
以下条款可以说明本公开的一个或多个方面。
条款1：一种电路，被配置为控制反串联开关，反串联开关包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管，电路包括：
一个或多个驱动器电路，被配置为控制第一晶体管的栅极和第二晶体管的栅极；以及
检测电路，被配置为检测第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态，其中检测电路被配置为向反串联开关递送信号，在反串联开关中检测信号，并且基于检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。
条款2：根据条款1的电路，其中第一晶体管和第二晶体管包括金属氧化物场效应晶体管。
条款3：根据条款1或2的电路，其中检测电路中的至少一些检测电路是一个或多个驱动器电路的一部分。
条款4：根据条款1-3中任一项的电路，其中检测电路被配置为向位于第一晶体管与第二晶体管之间的节点递送信号，并且检测电路被配置为在节点处检测信号。
条款5：根据条款1-4中任一项的电路，其中检测电路包括被配置为在反串联开关中检测信号的比较器。
条款6：根据条款1-4中任一项的电路，其中检测电路包括被配置为在反串联开关中检测信号的模数转换器(ADC)。
条款7：根据条款1-6中任一项的电路，其中检测电路包括被配置为向反串联开关递送信号的DC/DC转换器。
条款8：根据条款7的电路，其中DC/DC转换器是一个或多个驱动器电路的一部分，其中检测电路被配置为基于用于为一个或多个驱动器电路供电的电源电压和附加电压向反串联开关递送信号。
条款9：根据条款1-8中任一项的电路，其中检测电路包括被配置为向反串联开关递送信号的RC电路。
条款10：根据条款9的电路，其中RC电路的电容器包括电容器和电阻器，并且其中电容器包括DC/DC转换器的输出电容器。
条款11：根据条款10的电路，其中DC/DC转换器是一个或多个驱动器电路的一部分。
条款12：根据条款9-11中任一项的电路，其中检测电路还包括两个晶体管，两个晶体管被配置为将RC电路与位于第一晶体管与第二晶体管之间的节点连接和断开连接。
条款13：一种控制反串联开关的方法，反串联开关包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管，方法包括：
检测第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态，其中检测包括：
向反串联开关递送信号，
在反串联开关中检测信号，以及
基于检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。
条款14：根据条款13的方法，还包括：经由一个或多个驱动器电路控制第一晶体管的状态和第二晶体管的状态。
条款15：根据条款14的方法，还包括经由DC/DC转换器向反串联开关递送信号，其中DC/DC转换器是一个或多个驱动器电路的一部分。
条款16：根据条款13-15中任一项的方法，还包括经由RC电路向反串联开关递送信号。
条款17：根据条款16的方法，其中RC电路的电容器包括DC/DC转换器的输出电容器，并且其中DC/DC转换器是被配置为控制第一晶体管和第二晶体管的一个或多个驱动器电路的一部分。
条款18：根据条款16或17的方法，其中向反串联开关递送信号包括将RC电路连接到位于第一晶体管与第二晶体管之间的节点。
条款19：根据条款13-18中任一项的方法，还包括响应于确定第一晶体管和第二晶体管中的一者或两者不处于截止状态而生成故障信号。
条款20：一种设备，包括：
反串联开关，包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管；
一个或多个驱动器电路，被配置为控制第一晶体管的栅极和第二晶体管的栅极；以及
检测电路，被配置为检测第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态，其中检测电路被配置为向反串联开关递送信号，在反串联开关中检测信号，并且基于检测到的信号确定第一晶体管和第二晶体管是否均处于截止状态。
在本公开中已经描述了各个方面。这些和其他方面在所附权利要求的范围内。

Claims (20)

1.一种电路，被配置为控制反串联开关，所述反串联开关包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管，所述电路包括：
一个或多个驱动器电路，被配置为控制所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极；以及
检测电路，被配置为检测所述第一晶体管和所述第二晶体管是否均处于截止状态，其中所述检测电路被配置为向所述反串联开关递送信号，在所述反串联开关中检测所述信号，并且基于检测到的所述信号确定所述第一晶体管和所述第二晶体管是否均处于所述截止状态。
2.根据权利要求1所述的电路，其中所述第一晶体管和所述第二晶体管包括金属氧化物场效应晶体管。
3.根据权利要求1所述的电路，其中所述检测电路中的至少一些检测电路是所述一个或多个驱动器电路的一部分。
4.根据权利要求1所述的电路，其中所述检测电路被配置为向位于所述第一晶体管与所述第二晶体管之间的节点递送所述信号，并且所述检测电路被配置为在所述节点处检测所述信号。
5.根据权利要求1所述的电路，其中所述检测电路包括被配置为在所述反串联开关中检测所述信号的比较器。
6.根据权利要求1所述的电路，其中所述检测电路包括被配置为在所述反串联开关中检测所述信号的模数转换器(ADC)。
7.根据权利要求1所述的电路，其中所述检测电路包括被配置为向所述反串联开关递送所述信号的DC/DC转换器。
8.根据权利要求7所述的电路，其中所述DC/DC转换器是所述一个或多个驱动器电路的一部分，其中所述检测电路被配置为基于用于为所述一个或多个驱动器电路供电的电源电压和附加电压向所述反串联开关递送所述信号。
9.根据权利要求1所述的电路，其中所述检测电路包括被配置为向所述反串联开关递送所述信号的RC电路。
10.根据权利要求9所述的电路，其中所述RC电路的电容器包括电容器和电阻器，并且其中所述电容器包括DC/DC转换器的输出电容器。
11.根据权利要求10所述的电路，其中所述DC/DC转换器是所述一个或多个驱动器电路的一部分。
12.根据权利要求11所述的电路，其中所述检测电路还包括两个晶体管，所述两个晶体管被配置为将所述RC电路与位于所述第一晶体管与所述第二晶体管之间的节点连接和断开连接。
13.一种控制反串联开关的方法，所述反串联开关包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管，所述方法包括：
检测所述第一晶体管和所述第二晶体管是否均处于截止状态，其中所述检测包括：
向所述反串联开关递送信号，
在所述反串联开关中检测所述信号，以及
基于检测到的所述信号确定所述第一晶体管和所述第二晶体管是否均处于截止状态。
14.根据权利要求13所述的方法，还包括：
经由一个或多个驱动器电路控制所述第一晶体管的状态和所述第二晶体管的状态。
15.根据权利要求14所述的方法，还包括经由DC/DC转换器向所述反串联开关递送所述信号，其中所述DC/DC转换器是所述一个或多个驱动器电路的一部分。
16.根据权利要求13所述的方法，还包括经由RC电路向所述反串联开关递送所述信号。
17.根据权利要求16所述的方法，其中所述RC电路的电容器包括DC/DC转换器的输出电容器，并且其中所述DC/DC转换器是被配置为控制所述第一晶体管和所述第二晶体管的一个或多个驱动器电路的一部分。
18.根据权利要求16所述的方法，其中向所述反串联开关递送信号包括将所述RC电路连接到位于所述第一晶体管与所述第二晶体管之间的节点。
19.根据权利要求13所述的方法，还包括响应于确定所述第一晶体管和所述第二晶体管中的一者或两者不处于所述截止状态而生成故障信号。
20.一种设备，包括：
反串联开关，包括以反串联配置耦合的第一晶体管和第二晶体管；
一个或多个驱动器电路，被配置为控制所述第一晶体管的栅极和所述第二晶体管的栅极；以及
检测电路，被配置为检测所述第一晶体管和所述第二晶体管是否均处于截止状态，其中所述检测电路被配置为向所述反串联开关递送信号，在所述反串联开关中检测所述信号，并且基于检测到的所述信号确定所述第一晶体管和所述第二晶体管是否均处于所述截止状态。
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