CN114712016A - 一种牙髓活力测试装置、方法、存储介质及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种牙髓活力测试装置、方法、存储介质及电子设备,通过供电系统为半导体温度控制系统和电脉冲控制系统进行供电,在交互系统切换为电脉冲模式下,电脉冲控制系统生成预设脉冲信号,通过电脉冲探针,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试,在交互系统切换为冷热测试模式下,半导体温度控制系统输出预设恒定温度,通过导热棒,将预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。基于上述方案,将电脉冲的测试方法和半导体制冷技术的冷热测试法结合在一起,既能测试钙化根管的牙髓的活力,也能测试带有金属牙冠的牙齿的活力等,从而解决了单独冷热法或者电测法单一在临床上的不足,降低对牙髓活力测试的局限性和单一性。
Description
技术领域
本申请涉及医疗技术领域,更具体地说,涉及一种牙髓活力测试装置、方法、存储介质及电子设备。
背景技术
牙髓活力指的是牙髓腔和牙根管里的血管、神经坏死程度。如果牙神经、血管完好,说明牙髓是有活力的,反之说明牙髓坏死。为了医生对病患者牙髓活力判断的准确性,需要对牙髓活力进行测试。
现有对牙髓活力测试方式包括温度测试法和电测试法。温度测试法虽然有可用于金属牙冠的特点,但是无法测试钙化根管的牙髓的活力,只能测试牙冠髓的活力。而电测试法虽然能判断整个牙髓是否有无活力,但是无法测试带有金属牙冠的牙齿。
因此,现有对牙髓活力测试方式存在局限性和单一性。
发明内容
有鉴于此,本申请公开了一种牙髓活力测试装置、方法、存储介质及电子设备,旨在降低对牙髓活力测试的局限性和单一性。
为了实现上述目的,其公开的技术方案如下:
本申请第一方面公开了一种牙髓活力测试装置,所述牙髓活力测试装置包括供电系统、半导体温度控制系统、交互系统、电脉冲控制系统、导热棒和电脉冲探针;
所述供电系统的第一端与所述半导体温度控制系统的第一端相连,第二端与所述电脉冲控制系统的第一端相连;所述供电系统用于为所述半导体温度控制系统和所述电脉冲控制系统进行供电;
所述半导体温度控制系统的第二端与所述交互系统的第一端相连,第三端与所述导热棒的第一端相连;所述半导体温度控制系统用于确保输出预设恒定温度;
所述电脉冲控制系统的第二端与所述交互系统的第二端相连,第三端与所述电脉冲探针的第一端相连;所述电脉冲控制系统用于生成预设脉冲信号;所述预设脉冲信号为线性增强的脉冲信号;
所述交互系统用于切换电脉冲模式或者冷热测试模式;
所述导热棒的第二端与牙齿相连;所述导热棒用于在所述冷热测试模式下,将所述预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试;
所述电脉冲探针的第二端与牙齿相连;所述电脉冲探针用于在所述电脉冲模式下,将所述预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试。
优选的,所述导热棒上涂有隔热胶。
优选的,所述半导体温度控制系统中设置半导体制冷片;所述半导体制冷片用于通过预设温度要求输出预设恒定温度。
优选的,所述电脉冲控制系统具体用于:
通过变压器生成线性增强的脉冲信号。
优选的,所述供电系统中设置锂电池和电源管理模块。
优选的,所述交互系统中设置开机按键、关机按键和模式按键;所述开机按键用于开机;所述关机按键用于关机;所述模式按键用于切换所述切换电脉冲模式或者所述冷热测试模式。
优选的还包括显示系统;
所述显示系统的第一端与所述交互系统的第三端相连,第二端与所述供电系统的第三端相连;所述显示系统用于展示所述预设脉冲信号、所述预设脉冲信号对应的登记等级和所述预设恒定温度。
本申请第二方面公开了一种牙髓活力测试方法,所述牙髓活力测试方法适用于第一方面任一所述的牙髓活力测试装置,所述方法包括:
通过所述供电系统为所述半导体温度控制系统和所述电脉冲控制系统进行供电;
在所述交互系统切换为所述电脉冲模式下,处于通电状态的所述电脉冲控制系统生成所述预设脉冲信号;
通过所述电脉冲探针,将所述预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试;
在所述交互系统切换为所述冷热测试模式下,通过处于通电状态的所述半导体温度控制系统输出所述预设恒定温度;
通过所述导热棒,将所述预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。
本申请第三方面公开了一种存储介质,所述存储介质包括存储的指令,其中,在所述指令运行时控制所述存储介质所在的设备执行如第二方面所述的牙髓活力测试方法。
本申请第四方面公开了一种电子设备,包括存储器,以及一个或者一个以上的指令,其中一个或者一个以上指令存储于存储器中,且经配置以由一个或者一个以上处理器执行如第二方面所述的牙髓活力测试方法。
经由上述技术方案可知,本申请公开了一种牙髓活力测试装置、方法、存储介质及电子设备,通过供电系统为半导体温度控制系统和电脉冲控制系统进行供电,在交互系统切换为电脉冲模式下,电脉冲控制系统生成预设脉冲信号,通过电脉冲探针,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试,在交互系统切换为冷热测试模式下,半导体温度控制系统输出预设恒定温度,通过导热棒,将预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。基于上述方案,将电脉冲的测试方法和半导体制冷技术的冷热测试法结合在一起,既能测试钙化根管的牙髓的活力,也能测试带有金属牙冠的牙齿的活力等,从而解决了单独冷热法或者电测法单一在临床上的不足,降低对牙髓活力测试的局限性和单一性。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例公开的一种牙髓活力测试装置的结构示意图;
图2为本申请实施例公开的另一种牙髓活力测试装置的结构示意图;
图3为本申请实施例公开的一种牙髓活力测试方法的流程示意图;
图4为本申请实施例公开的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
在本申请中,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
由背景技术可知,现有对牙髓活力测试方式包括温度测试法和电测试法。温度测试法虽然有可用于金属牙冠的特点,但是无法测试钙化根管的牙髓的活力,只能测试牙冠髓的活力。而电测试法虽然能判断整个牙髓是否有无活力,但是无法测试带有金属牙冠的牙齿。因此,现有对牙髓活力测试方式存在局限性和单一性。
为了解决上述问题,本申请实施例公开了一种牙髓活力测试装置、方法、存储介质及电子设备。通过供电系统为半导体温度控制系统和电脉冲控制系统进行供电,在交互系统切换为电脉冲模式下,电脉冲控制系统生成预设脉冲信号,通过电脉冲探针,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试,在交互系统切换为冷热测试模式下,半导体温度控制系统输出预设恒定温度,通过导热棒,将预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。通过上述,将电脉冲的测试方法和半导体制冷技术的冷热测试法结合在一起,既能测试钙化根管的牙髓的活力,也能测试带有金属牙冠的牙齿的活力等,从而解决了单独冷热法或者电测法单一在临床上的不足,降低对牙髓活力测试的局限性和单一性。具体实现方式通过下述实施例具体进行说明。
参考图1所示,为本申请实施例公开了一种牙髓活力测试装置的结构示意图,该牙髓活力测试装置包括供电系统11、半导体温度控制系统12、交互系统13、电脉冲控制系统14、导热棒15和电脉冲探针16。
具体供电系统11、半导体温度控制系统12、交互系统13、电脉冲控制系统14、导热棒15和电脉冲探针16之间的连接关系和数据交互的过程如下:
供电系统11中设置锂电池和电源管理模块。供电系统11的第一端与半导体温度控制系统12的第一端相连,第二端与电脉冲控制系统14的第一端相连;供电系统11用于为半导体温度控制系统12和电脉冲控制系统14进行供电。
半导体温度控制系统12的第二端与交互系统的第一端相连,第三端与导热棒15的第一端相连;半导体温度控制系统12用于确保输出预设恒定温度;其中,预设恒定温度的确定由技术人员根据实际情况进行设置,本申请不做具体限定。
半导体温度控制系统12中设置半导体制冷片;半导体制冷片用于通过预设温度要求输出预设恒定温度。
电脉冲控制系统14的第二端与交互系统13的第二端相连,第三端与电脉冲探针16的第一端相连;电脉冲控制系统14用于生成预设脉冲信号;预设脉冲信号为线性增强的脉冲信号。
电脉冲控制系统14具体用于通过变压器生成线性增强的脉冲信号。
其中,电脉冲控制系统14是通过芯片产生一定脉冲的信号,该脉冲信号作用于变压器上,产生线性增强的脉冲信号。
交互系统13用于切换电脉冲模式或者冷热测试模式。交互系统13中设置开机按键、关机按键和模式按键;开机按键用于开机;关机按键用于关机;模式按键用于切换电脉冲模式或者冷热测试模式。
具体的,交互系统13的模式按键切换到冷热测试模式后,设置好温度,比如0°、60°、80°等,交互系统13的主控芯片会根据用户设定的温度值(预设温度要求)把指令发给半导体温度控制系统12,半导体温度控制系统12收到指令后会产生预设恒定温度。
导热棒15上涂有隔热胶,能最大限度的包装热量的损耗,确保导热棒15左右两端的温差小于预设温差。预设温差的确定由技术人员根据实际情况进行设置,本申请不做具体限定。
导热棒15的第二端与牙齿相连;导热棒15用于在冷热测试模式下,将预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。
其中,牙髓活力测试通常用于根管治疗时检测牙髓活力。是通过对牙齿的牙神经进行温度刺激或者电刺激,同时记录牙神经对刺激的反应值,从而来判断牙神经的活力。牙髓活力测试最大程度的保证了医生对患者牙髓活力判断的准确性。
牙髓活力指的是牙髓腔和牙根管里的血管、神经坏死程度。如果牙神经、血管完好,说明牙髓是有活力的;反之说明牙髓坏死。
牙齿的结构包括前臼齿、臼齿、釉质、牙本质、牙根管、牙龈组织、粘固粉、神经血管、门牙、犬齿、牙冠、齿颈、牙根等。其中,牙髓腔和牙根管里由血管、牙神经组成。
电脉冲探针16的第二端与牙齿相连;电脉冲探针16用于在电脉冲模式下,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试。
具体的,电脉冲探针16接上牙齿后,电脉冲控制系统14自动识别到有牙齿接上,并产生一个个不同等级的脉冲信号,脉冲等级从0到80,0是最小等级,80是最大等级。随着发送的脉冲等级变高,脉冲信号不断变大。在这个过程中,牙齿在预设时段内受到不断增强的电脉冲刺激,医生可以通过患者的反应来记录信号值,并跟正常的同名牙进行对比,从而判断牙髓活力。
预设时段可以是5秒钟、1分钟等,具体预设时段的确定由技术人员根据实际情况进行设置,本申请不做具体限定。
判断牙髓活力的方式存在如下两种方式:
一是电脉冲控制系统14分别对患者的患牙和正常同名牙进行测量,脉冲等级从0开始作用于正常牙齿上,脉冲等级信号不断增强,当患者有反应后,停止发送脉冲等级信号,同时记录为当前第一脉冲等级值,再对患牙进行同样的操作,当患者有反应后,记录当前第二脉冲等级值,如果这两个脉冲等级的差值大于预设阈值,则说明患牙不具备活力,反之说明患牙具有活力。
其中,预设阈值由技术人员根据实际情况进行设置,本申请不做具体限定。
二是电脉冲控制系统14生成同一个等级的脉冲信号(如脉冲等级30信号),在该同一个等级的脉冲信号流过患者的牙齿和正常的同名牙,将患者的牙齿产生的负载电流和正常的同名牙产生的负载电流进行对比,若患者的牙齿产生的负载电流和患者的牙齿产生的负载电流之间的差值小于预设电流值,则确定牙髓具备活力,若差值大于预设电流值,则确定患者的牙髓不具备活力。
其中,具体预设电流值的确定由技术人员根据实际情况进行设置,本申请不做具体限定。
本申请集合了电测试和冷热测试法的优点,能解决单独冷热法或者电测法在临床上的不足。
本申请的冷热测试法采用的是半导体制冷技术,该技术相较于市面上大尺寸的制冷技术或者制热技术有结构简单,方便操作的优点。
本申请实施例中,通过供电系统为半导体温度控制系统和电脉冲控制系统进行供电,在交互系统切换为所述电脉冲模式下,处于通电状态的电脉冲控制系统生成预设脉冲信号,通过电脉冲探针,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试,在交互系统切换为冷热测试模式下,通过处于通电状态的半导体温度控制系统输出预设恒定温度,通过导热棒,将预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。通过上述方案,将电脉冲的测试方法和半导体制冷技术的冷热测试法结合在一起,既能测试钙化根管的牙髓的活力,也能测试带有金属牙冠的牙齿的活力等,从而解决了单独冷热法或者电测法单一在临床上的不足,降低对牙髓活力测试的局限性和单一性。
在上述实施例图1的基础上该牙髓活力测试装置还包括显示系统21,具体结构如图2所示,图2示出了另一种牙髓活力测试装置。
显示系统21的第一端与交互系统13的第三端相连,第二端与供电系统11的第三端相连;显示系统21用于展示预设脉冲信号、预设脉冲信号对应的脉冲等级和预设恒定温度。
半导体温度控制系统12通过把供电系统11提供的电来控制半导体制冷片,通过交互系统13把预设温度要求执行到半导体温度控制系统12中的半导体制冷片上,通过半导体制冷片可以输出预设恒定温度,半导体温度控制系统12并把预设恒定温度反馈到显示系统21上,确保输出温度的恒定。
显示系统21,具体还用于显示当前模式(电脉冲模式或冷热测试模式),显示设定温度和显示脉冲等级等。
本申请实施例中,通过供电系统为半导体温度控制系统和电脉冲控制系统进行供电,在交互系统切换为电脉冲模式下,处于通电状态的电脉冲控制系统生成预设脉冲信号,通过电脉冲探针,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试,在交互系统切换为冷热测试模式下,通过处于通电状态的半导体温度控制系统输出预设恒定温度,通过导热棒,将预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。通过上述方案,将电脉冲的测试方法和半导体制冷技术的冷热测试法结合在一起,既能测试钙化根管的牙髓的活力,也能测试带有金属牙冠的牙齿的活力等,从而解决了单独冷热法或者电测法单一在临床上的不足,降低对牙髓活力测试的局限性和单一性。
基于上述实施例图1公开的一种牙髓活力测试装置,本申请实施例还对应公开了一种牙髓活力测试方法,如图3所示,该牙髓活力测试方法主要包括如下步骤:
S301:通过供电系统为半导体温度控制系统和电脉冲控制系统进行供电。
在S301中,供电系统中设置锂电池和电源管理模块,通过锂电池和电源管理模块,分别为半导体温度控制系统和电脉冲控制系统进行供电。
S302:在交互系统切换为电脉冲模式下,处于通电状态的电脉冲控制系统生成预设脉冲信号。
在S302中,在电脉冲控制系统处于通电状态,且电脉冲控制系统在电脉冲模式下,通过芯片产生一定脉冲的信号,该脉冲信号作用于变压器上,产生线性增强的脉冲信号,即预设脉冲信号。
在执行S302后,执行S303。
S303:通过电脉冲探针,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试。
其中,牙髓活力测试通常用于根管治疗时检测牙髓活力。是通过对牙齿的牙神经进行温度刺激或者电刺激,同时记录牙神经对刺激的反应值,从而来判断牙神经的活力。牙髓活力测试最大程度的保证了医生对患者牙髓活力判断的准确性。
牙髓活力指的是牙髓腔和牙根管里的血管、神经坏死程度。如果牙神经、血管完好,说明牙髓是有活力的;反之说明牙髓坏死。
牙齿的结构包括前臼齿、臼齿、釉质、牙本质、牙根管、牙龈组织、粘固粉、神经血管、门牙、犬齿、牙冠、齿颈、牙根等。其中,牙髓腔和牙根管里由血管、牙神经组成。
在电脉冲探针接上牙齿后,电脉冲控制系统自动识别到有牙齿接上,并产生一个个不同等级的脉冲信号,脉冲等级从0到80,0是最小等级,80是最大等级。随着发送的脉冲等级变高,脉冲信号不断变大。在这个过程中,牙齿在预设时段内受到不断增强的电脉冲刺激,医生可以通过患者的反应来记录信号值,并跟正常的同名牙进行对比,从而判断牙髓活力。
判断牙髓活力的方式如下两种:
一是通过电脉冲控制系统分别对患牙和正常同名牙进行测量,脉冲等级从0开始作用于正常牙齿上,脉冲等级信号不断增强,当患者有反应后,停止发送脉冲等级信号,同时记录为当前正常脉冲等级值,再对患牙进行同样的操作,记录脉冲等级,得到当前患牙脉冲等级值,如果这两个脉冲等级的差值大于预设的值,则说明患牙的牙髓不具备活力,如果这两个脉冲等级的差值小于等于预设的值,说明患牙的牙髓具备活力。
其中,预设的值由技术人员根据实际情况进行设置,本申请不做具体限定。
二是通过电脉冲控制系统生成同一个等级的脉冲信号(如脉冲等级30信号),在该同一个等级的脉冲信号流过患者的牙齿和正常的同名牙,将患者的牙齿产生的负载电流和正常的同名牙产生的负载电流进行对比,若患者的牙齿产生的负载电流和患者的牙齿产生的负载电流之间的差值小于预设电流值,则确定牙髓具备活力,若差值大于等于预设电流值,则确定患者的牙髓不具备活力。
其中,具体预设电流值的确定由技术人员根据实际情况进行设置,本申请不做具体限定。
预设时段可以是10秒钟、1分钟等,具体预设时段的确定由技术人员根据实际情况进行设置,本申请不做具体限定。
为了方便理解通过电脉冲探针,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试的过程,这里举例进行说明:
例一,设置预设阈值为20,通过电脉冲控制系统分别对患牙和正常同名牙进行测量,脉冲等级从0开始作用于正常牙齿上,脉冲等级信号不断增强,当患者有反应后,停止发送脉冲等级信号,同时记录为当前第一脉冲等级值50,再对患牙进行同样的操作,记录当前第二脉冲等级值10,如果这两个脉冲等级的差值50-10=40,大于预设阈值20,则说明患者牙齿的牙髓不具备活力。
例二,设置预设电流值为3毫安,通过电脉冲控制系统生成脉冲等级50信号,通过脉冲探针将脉冲等级50信号流过患牙,得到患牙对应的负载电流为1毫安,脉冲等级50信号流过正常的同名牙的负载电流为5毫安,患牙对应的负载电流与正常的同名牙的负载电流的差值为5毫安-1毫安=4毫安,该差值大于预设电流值3毫安,因此确定患者牙齿的牙髓不具备活力。
S304:在交互系统切换为冷热测试模式下,通过处于通电状态的半导体温度控制系统输出预设恒定温度。
在S304中,通过交互系统的模式按键切换到冷热测试模式后,设置好温度,比如0°、60°、80°等,交互系统的主控芯片会根据用户设定的温度值(预设温度要求)把指令发给半导体温度控制系统,半导体温度控制系统收到指令后会产生预设恒定温度。
其中,半导体温度控制系统中设置半导体制冷片;半导体制冷片用于通过预设温度要求输出预设恒定温度。
预设温度要求由技术人员进行确定,本申请的预设温度要求不做具体限定。
S304与S302是并列关系,执行S304后执行S305。
S305:通过导热棒,将预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。
在S305中,把导热棒的另一端接触到牙齿颈部1/3处,进行牙髓活力测试。
导热棒上涂有隔热胶,能最大限度的包装热量的损耗,确保导热棒左右两端的温差小于预设温差。
其中,预设温差的确定由技术人员根据实际情况进行设置,本申请不做具体限定。
可选的,通过显示系统展示预设脉冲信号、预设脉冲信号对应的脉冲等级、预设恒定温度和当前模式(如电脉冲模式或者冷热测试模式)等。
通过半导体温度控制系统把供电系统提供的电来控制半导体制冷片,通过交互系统把预设温度要求执行到半导体温度控制系统中的半导体制冷片上,通过半导体制冷片可以输出预设恒定温度,通过半导体温度控制系统把预设恒定温度反馈到显示系统上,确保输出温度的恒定。
本申请集合了电测试和冷热测试法的优点,能解决单独冷热法或者电测法在临床上的不足。本申请的冷热测试法采用的是半导体制冷技术,该技术相较于市面上大尺寸的制冷技术或者制热技术有结构简单,方便操作的优点。
本申请实施例中,通过供电系统为半导体温度控制系统和电脉冲控制系统进行供电,在交互系统切换为电脉冲模式下,处于通电状态的电脉冲控制系统生成预设脉冲信号,通过电脉冲探针,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试,在交互系统切换为冷热测试模式下,通过处于通电状态的半导体温度控制系统输出预设恒定温度,通过导热棒,将预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。通过上述方案,将电脉冲的测试方法和半导体制冷技术的冷热测试法结合在一起,既能测试钙化根管的牙髓的活力,也能测试带有金属牙冠的牙齿的活力等,从而解决了单独冷热法或者电测法单一在临床上的不足,降低对牙髓活力测试的局限性和单一性。
本申请实施例还提供了一种存储介质,存储介质包括存储的指令,其中,在指令运行时控制存储介质所在的设备执行上述牙髓活力测试方法。
本申请实施例还提供了一种电子设备,其结构示意图如图4所示,具体包括存储器401,以及一个或者一个以上的指令402,其中一个或者一个以上指令402存储于存储器401中,且经配置以由一个或者一个以上处理器403执行所述一个或者一个以上指令402执行以下操作:
通过供电系统为半导体温度控制系统和电脉冲控制系统进行供电;
在交互系统切换为电脉冲模式下,处于通电状态的电脉冲控制系统生成预设脉冲信号;
通过电脉冲探针,将预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试;
在交互系统切换为冷热测试模式下,通过处于通电状态的半导体温度控制系统输出预设恒定温度;
通过导热棒,将预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。
上述各个实施例的具体实施过程及其衍生方式,均在本申请的保护范围之内。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述,各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其,对于系统或系统实施例而言,由于其基本相似于方法实施例,所以描述得比较简单,相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的系统及系统实施例仅仅是示意性的,其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下,即可以理解并实施。
专业人员还可以进一步意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、计算机软件或者二者的结合来实现,为了清楚地说明硬件和软件的可互换性,在上述说明中已经按照功能一般性地描述了各示例的组成及步骤。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
以上所述仅是本申请的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。
Claims (10)
1.一种牙髓活力测试装置,其特征在于,所述牙髓活力测试装置包括供电系统、半导体温度控制系统、交互系统、电脉冲控制系统、导热棒和电脉冲探针;
所述供电系统的第一端与所述半导体温度控制系统的第一端相连,第二端与所述电脉冲控制系统的第一端相连;所述供电系统用于为所述半导体温度控制系统和所述电脉冲控制系统进行供电;
所述半导体温度控制系统的第二端与所述交互系统的第一端相连,第三端与所述导热棒的第一端相连;所述半导体温度控制系统用于确保输出预设恒定温度;
所述电脉冲控制系统的第二端与所述交互系统的第二端相连,第三端与所述电脉冲探针的第一端相连;所述电脉冲控制系统用于生成预设脉冲信号;所述预设脉冲信号为线性增强的脉冲信号;
所述交互系统用于切换电脉冲模式或者冷热测试模式;
所述导热棒的第二端与牙齿相连;所述导热棒用于在所述冷热测试模式下,将所述预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试;
所述电脉冲探针的第二端与牙齿相连;所述电脉冲探针用于在所述电脉冲模式下,将所述预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述导热棒上涂有隔热胶。
3.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述半导体温度控制系统中设置半导体制冷片;所述半导体制冷片用于通过预设温度要求输出预设恒定温度。
4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述电脉冲控制系统具体用于:
通过变压器生成线性增强的脉冲信号。
5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述供电系统中设置锂电池和电源管理模块。
6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述交互系统中设置开机按键、关机按键和模式按键;所述开机按键用于开机;所述关机按键用于关机;所述模式按键用于切换所述切换电脉冲模式或者所述冷热测试模式。
7.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,还包括显示系统;
所述显示系统的第一端与所述交互系统的第三端相连,第二端与所述供电系统的第三端相连;所述显示系统用于展示所述预设脉冲信号、所述预设脉冲信号对应的登记等级和所述预设恒定温度。
8.一种牙髓活力测试方法,其特征在于,所述牙髓活力测试方法适用于权利要求1至7任一所述的牙髓活力测试装置,所述方法包括:
通过所述供电系统为所述半导体温度控制系统和所述电脉冲控制系统进行供电;
在所述交互系统切换为所述电脉冲模式下,处于通电状态的所述电脉冲控制系统生成所述预设脉冲信号;
通过所述电脉冲探针,将所述预设脉冲信号传输到牙齿上进行牙髓活力测试;
在所述交互系统切换为所述冷热测试模式下,通过处于通电状态的所述半导体温度控制系统输出所述预设恒定温度;
通过所述导热棒,将所述预设恒定温度传输到牙齿上进行牙髓活力测试。
9.一种存储介质,其特征在于,所述存储介质包括存储的指令,其中,在所述指令运行时控制所述存储介质所在的设备执行如权利要求8所述的牙髓活力测试方法。
10.一种电子设备,其特征在于,包括存储器,以及一个或者一个以上的指令,其中一个或者一个以上指令存储于存储器中,且经配置以由一个或者一个以上处理器执行如权利要求8所述的牙髓活力测试方法。
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