CN114706499A - 触控电路、触控显示电路、显示面板及触控检测方法 - Google Patents

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CN114706499A CN202210190748.7A CN202210190748A CN114706499A CN 114706499 A CN114706499 A CN 114706499A CN 202210190748 A CN202210190748 A CN 202210190748A CN 114706499 A CN114706499 A CN 114706499A
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Abstract

本申请实施例提供了一种触控电路、触控显示电路、显示面板及触控检测方法。该触控电路,包括:至少两个第一信号采集单元、至少一级信号采集单元组、至少两个信号输出单元和控制单元;控制单元,用于从前到后逐级检测各级的第二信号采集单元输出的第一反馈信号,确定与第二信号采集单元对应电连接的存在触控的各列触控感应块,直至确定存在触控的一列触控感应块,控制与存在触控的一列触控感应块电连接的信号输出单元输出的检测信号,根据各第一信号采集单元输出第二反馈信号,确定触控位置信息。本申请实施例可以降低检测数据量,有效提高检测效率。

Description

触控电路、触控显示电路、显示面板及触控检测方法
技术领域
本申请涉及触控技术领域,具体而言,本申请涉及一种触控电路、触控显示电路、显示面板及触控检测方法。
背景技术
TDDI是触控芯片与显示驱动芯片集成(Touch and Display DriverIntegration)。目前,显示面板Panel的触控和显示功能很多都由两块芯片独立控制,而TDDI最大的特点是把触控电路与显示电路整合进单一芯片中。
常规的TDDI显示技术是通过在显示面板内设置触控感应Sensor块,TDDI芯片通过向所有Sensor块发送检测信号,最后通过信号采集单元输出反馈信号,控制单元根据反馈信号的变化情况,以确定触控是否发生及发生的位置等。现有的触控电路的控制单元需要处理的数据量较大,使得触控检测效率较低。
发明内容
本申请针对现有方式的缺点,提出一种触控电路、触控显示电路、显示面板及触控检测方法,用以解决现有技术存在触控电路需要处理的数据量较大或触控检测效率较低的技术问题。
本申请实施例提供一种触控电路,包括:至少两个第一信号采集单元、至少一级信号采集单元组、至少两个信号输出单元和控制单元;
每个信号输出单元被构造成对应与一列触控感应块均电连接;每个第一信号采集单元被构造成对应与一行触控感应块均电连接;
每级信号采集单元组被构造成与所有列的触控感应块均电连接;每级信号采集单元组包括至少两个第二信号采集单元,最后一级各第二信号采集单元被构造成与一列触控感应块均电连接;
任意相邻两级信号采集单元组中,前一级的第二信号采集单元对应电连接的各列触控感应块,与后一级的至少两个第二信号采集单元对应电连接的各列触控感应块相同;
控制单元,用于从前到后逐级检测各级的第二信号采集单元输出的第一反馈信号,确定与第二信号采集单元对应电连接的存在触控的各列触控感应块,直至确定存在触控的一列触控感应块,控制与存在触控的一列触控感应块电连接的信号输出单元输出检测信号,根据各第一信号采集单元输出第二反馈信号,确定触控位置信息。
在一个可能的实现方式中,各级信号采集单元组的第二信号采集单元的数量依次增加;
每级信号采集单元组中,每个第二信号采集单元被构造成对应电连接的触控感应块的列数相同。
在一个可能的实现方式中,各级信号采集单元组包括2K个第二信号采集单元;K≥1且K为正整数,K的数值从前到后级依次增加。
在一个可能的实现方式中,控制单元,还用于控制各信号输出单元输出检测信号,获取第一级的各第二信号采集单元的第一反馈信号;根据检测信号和第一级的各第二信号采集单元的第一反馈信号,确定与第一级的一个第二信号采集单元电连接的存在触控的各列触控感应块,作为候选触控列;控制候选触控列对应电连接的各信号输出单元输出检测信号,获取第二级的各第二信号采集单元的第一反馈信号;根据检测信号和第二级的各第二信号采集单元的第一反馈信号,确定与第二级的一个第二信号采集单元电连接的存在触控的各列触控感应块,作为候选触控列;依次继续逐级确定候选触控列,直至候选触控列为一列,确定该候选触控列为存在触控的一列触控感应块。
在一个可能的实现方式中,触控电路,还包括至少两个第一控制开关和至少两个第二控制开关;
各第一控制开关的第一端与一个第一信号采集单元电连接,各第一控制开关的第二端被构造成与一行触控感应块电连接;
各第二控制开关的第一端与一个第二信号采集单元,各第二控制开关的第二端被构造成与至少一列触控感应块电连接;
各第一控制开关的控制端、各第二控制开关的控制端均用于与控制单元电连接;
控制单元,用于控制第一信号采集单元与对应的一行触控感应块的导通和断开,控制第二信号采集单元与对应的至少一列触控感应块的导通和断开。
在一个可能的实现方式中,控制单元,还用于控制各第二控制开关导通,使得各第二信号采集单元对应的各列触控感应块均电连接,各第二信号采集单元输出第一反馈信号;和/或,控制各第一控制开关导通,使得各第一信号采集单元与存在触控的一列触控感应块中对应的触控感应块导通,各第一信号采集单元输出第二反馈信号。
第二方面,本申请实施例提供一种触控显示电路,包括:第一方面的触控电路。
在一个可能的实现方式中,信号输出单元包括第一输入端和第二输入端;
信号输出单元,用于在触控检测阶段,将第一输入端接收的检测信号向对应的一列触控感应块输出;在显示阶段,将第二输入端接收的公共电压信号向对应的一列触控感应块输出。
第三方面,本申请实施例提供一种显示面板,包括阵列排列的触控感应块、第一方面的触控电路;
每个信号输出单元对应与一列触控感应块均电连接;
每个第一信号采集单元对应与一行触控感应块均电连接;
每级信号采集单元组与所有列的触控感应块均电连接,最后一级各第二信号采集单元与一列触控感应块均电连接。
第四方面,本申请实施例提供一种触控检测方法,应用于第一方面的触控电路,包括:
从前到后逐级检测各级的第二信号采集单元输出的第一反馈信号,确定与第二信号采集单元对应电连接的存在触控的各列触控感应块,直至确定存在触控的一列触控感应块;
控制与存在触控的一列触控感应块电连接的信号输出单元输出检测信号;
根据各第一信号采集单元输出的第二反馈信号,确定触控位置信息。
本申请实施例提供的技术方案带来的有益技术效果包括:
本申请实施例的触控电路设有至少一级信号采集单元组,前一级的第二信号采集单元对应电连接的各列触控感应块,与后一级的至少两个第二信号采集单元对应电连接的各列触控感应块相同,使得在控制单元可以从前到后逐级检测各级的第二信号采集单元输出的第一反馈信号时,可以不断确定与第二信号采集单元对应电连接的存在触控的各列触控感应块,即不断逐级排除每个级别的第二信号采集单元所电连接的不存在触控的各各列触控感应块,从而不断地缩小检测范围,直到确定存在触控的一列触控感应块。
本申请实施例的触控电路通过各级信号采集单元组可以对各列触控感应块进行检测,不断排除不存在触控的各列触控感应块,逐级从存在触控的各列触控感应块中确定出一列触控感应块,再对这一列的各触控感应块的反馈信号进行检测,避免了对所有触控感应块的反馈信号直接进行检测,使得检测的反馈信号的数据量减少,从而有效提高了检测效率。
本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出,这些将从下面的描述中变得明显,或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解,其中:
图1为本申请实施例提供的一种触控电路与各触控感应块电连接的结构示意图;
图2为本申请实施例提供的另一种触控电路与各触控感应块电连接的结构示意图;
图3为本申请实施例提供的一种触控检测方法的时序图;
图4为本申请实施例提供的一种触控检测方法的流程示意图。
图5为本申请实施例提供的图4所示的一种触控检测方法的步骤S401的方法的流程示意图。
附图标记:
10-第一信号采集单元;
20-第二信号采集单元;
30-触控感应块;
40-信号输出单元;
50-控制单元;
60-模数转换单元。
具体实施方式
下面详细描述本申请,本申请的实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的部件或具有相同或类似功能的部件。此外,如果已知技术的详细描述对于示出的本申请的特征是不必要的,则将其省略。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本申请,而不能解释为对本申请的限制。
本技术领域技术人员可以理解,除非另外定义,这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语),具有与本申请所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是,诸如通用字典中定义的那些术语,应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义,并且除非像这里一样被特定定义,否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
本技术领域技术人员可以理解,除非特意声明,这里使用的单数形式“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。应该进一步理解的是,本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件,但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解,当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时,它可以直接连接或耦接到其他元件,或者也可以存在中间元件。此外,这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
经研究发现,由于将触控的功能集成于显示驱动芯片中,因此它的机身也可以做到更薄,成本也可以做到更低。但是,芯片的架构也更复杂,对触控驱动与感应电路的设计要求也更高。
常规的TDDI显示技术,是通过在显示面板内设置Sensor块,TDDI芯片通过向所有Sensor块发送方波信号,最后通过AFE(analog front-end,模拟前端)获取所有反馈信号(即Sensor方波),根据反馈信号变化情况,以确定触控是否发生,及发生的位置等。
以一个常规的32*18,即576个Sensor块的设计为例,需要在一帧120Hz(赫兹)的时间里(约1/10用于触控感应)处理全部的信号,CPU(Central Processing Unit,中央处理器)在短时间内需要处理的数据压力很大。为了减轻CPU同时需要处理的数据量,一般采用多路复用器MUX的设计去进行分时驱动。但是,触控感应的可用时间是固定的(只能在一帧内的非显示阶段进行,否则会影响显示),所以在这时间里,实际CPU需要处理的总数据量是不变的。而且,MUX设计的引入虽然可以实现分时驱动,但每一组检测信号的时间也减少了,并没有解决CPU处理数据量大的问题,而且缩短了每一组检测信号的时间。
因此,需要一种触控电路提供更高效的触控检测方法,以减轻CPU的处理数据压力及提高触控的效率。
本申请提供的触控电路、触控显示电路、显示面板及触控检测方法,旨在解决现有技术的如上技术问题。
下面以具体地实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。
本申请实施例提供一种触控电路,参见图1所示,该触控电路包括:至少两个第一信号采集单元10、至少一级信号采集单元组、至少两个信号输出单元40和控制单元50。
每个信号输出单元40被构造成对应与一列触控感应块30均电连接。每个第一信号采集单元10被构造成对应与一行触控感应块30均电连接。
每级信号采集单元组被构造成与所有列的触控感应块30均电连接。每级信号采集单元组包括至少两个第二信号采集单元20,最后一级各第二信号采集单元20被构造成与一列触控感应块30均电连接。
任意相邻两级信号采集单元组中,前一级的第二信号采集单元20对应电连接的各列触控感应块30,与后一级的至少两个第二信号采集单元20对应电连接的各列触控感应块30相同。
控制单元50用于从前到后逐级检测各级的第二信号采集单元20输出的第一反馈信号,确定与第二信号采集单元20对应电连接的存在触控的各列触控感应块30,直至确定存在触控的一列触控感应块30,控制与存在触控的一列触控感应块30电连接的信号输出单元40输出检测信号,根据各第一信号采集单元10输出第二反馈信号,确定触控位置信息。
本申请实施例的触控电路通过各级信号采集单元组可以对触控感应块30列进行检测,不断排除不存在触控的各列触控感应块30,逐级从存在触控的各列触控感应块30中确定出一列触控感应块30,再对这一列的各触控感应块30的反馈信号进行检测,避免了对所有触控感应块30的反馈信号直接进行检测,使得检测的反馈信号的数据量减少,从而有效提高了检测效率。
在一些实施例中,参见图1所示,各级信号采集单元组的第二信号采集单元20的数量依次增加;每级信号采集单元组中,每个第二信号采集单元20被构造成对应电连接的触控感应块30的列数相同。
可选地,各级信号采集单元组的第二信号采集单元20的数量依次增加,使得上一级的每个第二信号采集单元20对应电连接的各列触控感应块30,在下一级都可以有至少两个第二信号采集单元20与这些列的触控感应块30电连接,从而可以实现各列触控感应块30的组合的不断细分,便于逐级确认存在触控的一列触控感应块30。
可选地,参见图1所示,第二信号采集单元20电连接的各列触控感应块30为相邻的触控感应列,便于将相邻的触控感应列全部电连接,从而输出一个反馈信号,控制单元50通过检测一个反馈信号可以一起确定至少两列触控感应块30是否存在触控,提高检测效率。
可选地,参见图1所示,作为一种示例,只示出了第一级信号采集单元组和最后一级信号采集单元组,第一级信号采集单元组和最后一级信号采集单元组之间可以设置至少一级信号采集单元组,具体设置数量和第二信号采集单元20的数量可以实际情况设置。本申请实施例的第一级信号采集单元组包括两个第二信号采集单元20,将所有列的触控感应块30均分为左右两侧区域。在实际应用中,第一级信号采集单元组也可以包括三个或三个以上的第二信号采集单元20,将所有列的触控感应块30划分为三个或三个以上的区域进行检测。
可选地,参见图2所示,第一信号采集单元10包括第一模拟前端,用于输出第二反馈信号,对应图2中每个AFE。第二信号采集单元20包括第二模拟前端,用于输出第一反馈信号,对应图2中每个United AFE。触控感应块30用于接收触控,对应图2中Sensor块。信号输出单元40包括多路复用器,可以分时输出至少两种信号,对应图2中每个MUX,控制单元50用于进行反馈信号检测是否存在触控和确定触控位置信息,对应图2中CPU。
在一些实施例中,参见图2所示,各级信号采集单元组包括2K个第二信号采集单元20;K≥1且K为正整数,K的数值从前到后级依次增加。
本申请实施例将前一级的第二信号采集单元20电连接的触控感应列在后一级对应设置两个第二信号采集单元20电连接触控感应列,且每个第二信号采集单元电连接的触控感应列的数量相同。采用这样的电路结构,可以实现在存在触控的各触控感应列中,不断排除不存在触控的触控感应列的数量,使得每次需要检测是否存在触控的触控感应列的数量不断减半,直到得到最后一列存在触控的触控感应块30,提高了检测效率。
可选地,参见图2所示,作为一种示例,以8*8Sensor块数的TDDI为例,共有64个Sensor块,即存在64个触控感应块30。AFE1-AFE8均为第一信号采集单元10,简称为AFE;United AFE1-United AFE14均为第二信号采集单元20,简称为United AFE。MUX1-MUX8均为信号输出单元40。United AFE1和United AFE2组成第一级信号采集单元组,United AFE3-United AFE6组成第二级信号采集单元组,依次类推。本申请实施例中AFE1-AFE8表示包括AFE1、AFE2、AFE3、AFE4、AFE5、AFE6、AFE7、AFE8。United AFE1-United AFE14表示包括United AFE1、United AFE2、United AFE3、United AFE4、United AFE5、United AFE6、United AFE7、United AFE8、United AFE9、United AFE10、United AFE11、United AFE12、United AFE13、United AFE14。
可选地,参见图2所示,本申请实施例在触控感应块30(即Sensor块)内加载检测信号,检测信号可以是一个方波,如图3中Touch方波。如果存在触控,检测的方波信号由于手指电容的影响会产生变化,由AFE输出的反馈信号如图3所示,反馈信号相对于检测信号存在一个电压降低的变化,根据电压变化可以确定是否存在触控,即if Touch处的电压下降所示。
可选地,本申请实施例的控制单元50可以根据反馈信号确定是否存在触控,可以是将反馈信号与检测信号进行对比,存在电压降低的反馈信号对应存在触控,也可以是将各反馈信号之间进行对比,存在电压降低的反馈信号对应存在触控,其他的反馈信号不存在触控,信号一致。反馈信号包括第一反馈信号和第二反馈信号,检测原理相同。
在一些实施例中,控制单元50用于控制各信号输出单元40输出检测信号,获取第一级的各第二信号采集单元20的第一反馈信号;根据检测信号和第一级的各第二信号采集单元20的第一反馈信号,确定与第一级的一个第二信号采集单元20电连接的存在触控的各列触控感应块30,作为候选触控列;控制候选触控列对应电连接的各信号输出单元40输出检测信号,获取第二级的各第二信号采集单元20的第一反馈信号;根据检测信号和第二级的各第二信号采集单元20的第一反馈信号,确定与第二级的一个第二信号采集单元20电连接的存在触控的各列触控感应块30,作为候选触控列;依次继续逐级确定候选触控列,直至候选触控列为一列,确定该候选触控列为存在触控的一列触控感应块30。
参见图2所示,控制MUX1-MUX8均输出检测信号,获取United AFE1和United AFE2的第一反馈信号,根据第一反馈信号和检测信号的对比确定存在触控变化的第一反馈信号,就可以确定United AFE1或United AFE2电连接的各列触控感应块30是否存在触控。若确定United AFE1电连接的各列触控感应块30存在触控,即触控位置对应在图中Sensorleft一侧的各触控感应块30中。United AFE3和United AFE4对应与Sensor left一侧的各列触控感应块30电连接,确定与United AFE3和United AFE4电连接的各列触控感应块30是否存在触控,例如确定United AFE3电连接的各列触控感应块30存在触控,则再确定与United AFE3对应的United AFE7和United AFE8电连接的一列触控感应块30是否存在触控,从而可以依次逐级确定出唯一的一列触控感应块30存在触控。若确定United AFE2电连接的各列触控感应块30存在触控,即触控位置对应在图中Sensor Right一侧的各触控感应块30中,原理与检测Sensor left一侧的各触控感应块30原理一致,在此不再赘述。
可选地,参见图2所示,基于图2所示的电路结构,United AFE1连接Sensor1~32,由MUX1-4同时控制,United AFE2连接Sensor33~64,由MUX5~8同时控制,United AFE1和United AFE2负责在Sensing阶段1,判断Sensor左右两边(即Sensor Left和Sensor Righe各四列)是否存在触控,确定存在触控的一边,确定后进入Sensing阶段2。
可选地,Unit AFE 3连接Sensor1~16,由MUX1和MUX2控制;United AFE 4连接Sensor17~32,由MUX3和MUX4控制;Unit AFE 5连接Sensor33~48,由MUX5和MUX6控制;United AFE 6连接Sensor49~64,由MUX7和MUX8控制;Unit AFE 3,United AFE 4,UnitAFE 5及United AFE 6负责在Sensing阶段2,判断对应的Sensor组(各两列Sensor块)是否存在触控,及存在触控的组,确定后进入Sensing阶段3。
可选地,United AFE7连接Sensor1~8,由MUX1控制;United AFE8连接Sensor9~16,由MUX2控制;United AFE9连接Sensor17~24,由MUX3控制;United AFE10连接Sensor25~32,由MUX4控制;United AFE11连接Sensor33~40,由MUX5控制;United AFE12连接Sensor41~48,由MUX6控制;United AFE13连接Sensor49~56,由MUX7控制;United AFE14连接Sensor57~64,由MUX8控制;United AFE7~14负责在Sensing阶段3判断对应的MUX是否存在触控,确定存在触控的MUX后,进入Sensing阶段4。
可选地,Sensing阶段4,打开存在触控的MUX,同时驱动8组AFE进行Touch检测,最终确定存在触控的AFE Y。由此,MUX X和AFE Y共同组成的坐标(X,Y),便为存在触控的Sensor位置,即触控位置。其中,X为Sensor块所在的列的信息,Y为Sensor块所在的行的信息,这样就可以确定Sensor块,从而确定Sensor的位置,得到本申请实施例的触控位置信息。
本申请实施例的触控电路可以使得检测反馈信号的数量减少,检测效率提升,可以实现需要处理的数据量从原来的M(列)*N(行)个,减少成1/2M+N个,处理压力大大减少。
结合图2的8*8Sensor块数的TDDI示例,本申请实施例可以将触控检测阶段(即Sensing阶段)简化一半,需要处理的AFE和United AFE输出的数据量也由原来的64个,变成14个。具体地,Sensing阶段1至Sensing阶段3,United AFE输出的数据量均为2个;Sensing阶段4,AFE输出的数据量为8个,整个Sensing阶段1至Sensing阶段4一共有14个数据量,触控检测效率大大提升。
在一些实施例中,触控电路,还包括至少两个第一控制开关和至少两个第二控制开关。
各第一控制开关的第一端与一个第一信号采集单元10电连接,各第一控制开关的第二端被构造成与一行触控感应块30电连接。
各第二控制开关的第一端与一个第二信号采集单元20,各第二控制开关的第二端被构造成与至少一列触控感应块30电连接。
各第一控制开关的控制端、各第二控制开关的控制端均用于与控制单元50电连接。
控制单元50,用于控制第一信号采集单元10与对应的一行触控感应块30的导通和断开,控制第二信号采集单元20与对应的至少一列触控感应块30的导通和断开。
可选地,参见图2所示,AFE1-AFE8与Sensor块之间是设有一个第一控制开关、United AFE1-United AFE14与Sensor块之间是设有一个第二控制开关,图中未示出第一控制开关和第二控制开关,通过第一控制开关和第二控制开关可以控制AFE1-AFE8或UnitedAFE1-United AFE14与Sensor块之间导通,使得AFE1-AFE8输出第二反馈信号或UnitedAFE1-United AFE14输出第一反馈信号,只有需要对应检测反馈信号时,才对应控制第一控制开关或第二控制开关导通,其他不需要检测反馈信号的第一控制开关或第二控制开关保持断开状态,第一控制开关或第二控制开关不同时导通。
在一些实施例中,控制单元50,还用于控制各第二控制开关导通,使得各第二信号采集单元20对应的各列触控感应块30均电连接,各第二信号采集单元20输出第一反馈信号;和/或,控制各第一控制开关导通,使得各第一信号采集单元10与存在触控的一列触控感应块30中对应的触控感应块30导通,各第一信号采集单元10输出第二反馈信号。
在一些实施例中,参见图2所示,触控电路还包括:模数转换单元60。
模数转换单元60包括多个输入端口,各输入端口分别与各第一信号采集单元10和各第二信号采集单元20均电连接。
模数转换单元60用于将各第二信号采集单元20输出的第一反馈信号转换为数字信号的第三反馈信号,将各第一信号采集单元10输出的第二反馈信号转化为数字信号的第四反馈信号;第一反馈信号和第二反馈信号均为模拟信号。
可选地,参见图2所示,ADC(Analog-to-digital converter,模拟数字转换器)对应模数转换单元60,需要将AFE1-AFE8输出的第二反馈信号和United AFE1-United AFE14输出的第一反馈信号都转换为数字信号,便于CPU进行检测识别。
基于同一发明构思,本申请实施例提供一种触控显示电路,包括:本申请任一实施例的触控电路。
在一些实施例中,信号输出单元40包括第一输入端和第二输入端。
信号输出单元40用于在触控检测阶段,将第一输入端接收的检测信号向对应的一列触控感应块30输出;在显示阶段,将第二输入端接收的公共电压信号向对应的一列触控感应块30输出。
可选地,参见图2所示,Drive Signal表示检测信号,Vcom表示公共电压信号,信号输出单元40通过输出Drive Signal或Vcom,可以实现显示阶段和触控检测阶段的切换。
基于同一发明构思,本申请实施例提供一种显示面板,参见图2所示,显示面板包括:阵列排列的触控感应块30和本申请任一实施例的触控电路。
每个信号输出单元40对应与一列触控感应块30均电连接。
每个第一信号采集单元10对应与一行触控感应块30均电连接。
每级信号采集单元组与所有列的触控感应块30均电连接,最后一级各第二信号采集单元20与一列触控感应块30均电连接。
结合图2和图3所示,在非Touch阶段,输出Vcom信号;在Touch阶段输出Touch方波。基于触控显示电路的触控显示方法,包括:
在非Touch阶段(即显示阶段),所有MUX选择Vcom通道,Sensor块内加载显示使用的Vcom信号,保证显示面板正常显示。
在Touch阶段(即触控检测阶段),所有MUX选择Touch Drive通道,Sensor块内加载Touch检测使用的方波信号,进行触控检测。如果存在触控,检测的方波信号由于手指电容的影响会产生变化,从而确定触控是否存在及触控存在的位置。
基于同一发明构思,本申请实施例提供一种触控检测方法,应用于本申请任一实施例的触控电路,参见图4所示,包括:步骤S401至步骤S403。
S401、从前到后逐级检测各级的第二信号采集单元20输出的第一反馈信号,确定与第二信号采集单元20对应电连接的各列触控感应块30是否存在触控,直至确定存在触控的一列触控感应块30。
可选地,本申请实施例的触控检测方法通过控制单元50实现。
S402、控制与存在触控的一列触控感应块30电连接的信号输出单元40输出检测信号。
S403、根据各第一信号采集单元10输出的第二反馈信号,确定触控位置信息。
在一些实施例中,参见图5所示,步骤S401中,从前到后逐级检测各级的第二信号采集单元20输出的第一反馈信号,确定与第二信号采集单元20对应电连接的存在触控的各列触控感应块30,直至确定存在触控的一列触控感应块30,包括:步骤S501至步骤S505。
S501、控制各信号输出单元40输出检测信号,获取第一级的各第二信号采集单元20的第一反馈信号。
S502、根据检测信号和第一级的各第二信号采集单元20的第一反馈信号,确定与第一级的一个第二信号采集单元20电连接的存在触控的各列触控感应块30,作为候选触控列。
S503、控制候选触控列对应电连接的各信号输出单元40输出检测信号,获取第二级的各第二信号采集单元20的第一反馈信号。
S504、根据检测信号和第二级的各第二信号采集单元20的第一反馈信号,确定与第二级的一个第二信号采集单元20电连接的存在触控的各列触控感应块30,作为候选触控列。
S505、依次继续逐级确定候选触控列,直至候选触控列为一列,确定该候选触控列为存在触控的一列触控感应块30。
在一些实施例中,步骤S303中,根据各第一信号采集单元10输出的第二反馈信号,确定触控位置信息,包括:
获取各第四反馈信号;第四反馈信号是第二反馈信号转换得到的数字信号,第二反馈信号为模拟信号。
从各第四反馈信号中确定一个存在触控的第四反馈信号。
根据确定的第四反馈信号,确定存在触控的触控感应块30所在行的第一位置信息。
根据确定的存在触控的一列触控感应块30,确定存在触控的触控感应块30所在列的第二位置信息;触控位置信息包括第一位置信息和第二位置信息。
可选地,根据确定的第四反馈信号,确定模数转换单元60输入该第四反馈信号的输入端口,根据输入端口可以确定对应的第一信号采集单元10,根据确定的第一信号采集单元10确定触控的触控感应块30所在行。
可选地,控制单元50获取确定的第四反馈信号对应的输入端口信息,根据输入端口信息和第一信号采集单元10的对应信息,确定第四反馈信号对应的第一信号采集单元10,从而确定存在触控的触控感应块30所在行。同理,通过第三反馈信号确定对应的第二信号采集单元20,从而确定存在触控的第二信号采集单元20对应的各列触控感应块30,进而可以控制对应的信号输出单元40输出检测信号。
在一些实施例中,步骤S501中,获取第一级的各第二信号采集单元20的第一反馈信号,包括:
控制触控电路的各第二控制开关导通,使得各第二信号采集单元20对应的各列触控感应块30均电连接,各第二信号采集单元20输出第一反馈信号。
步骤S403中,根据各第一信号采集单元10输出的第二反馈信号,确定触控位置信息,包括:
控制触控电路的各第一控制开关导通,使得各第一信号采集单元10与存在触控的一列触控感应块30中对应的触控感应块30导通,各第一信号采集单元10输出第二反馈信号。
可选地,基于图2的电路结构,本申请实施例的触控检测方法,包括如下步骤:
Sensing阶段一:MUX1,MUX2,MUX3,MUX4同时打开,Sensor 1~32短接(即Sensor 1~32全部电连接,只对应输出一个第一反馈信号),United AFE1接收左侧Sensor块的反馈信号。MUX5,MUX6,MUX7,MUX8同时打开,Sensor 33~64短接,United AFE2接收右侧Sensor块的反馈信号。United AFE1和AFE2反馈信号到CPU,CPU判断哪一侧存在触控,并驱动Touch方波在该侧进行下一阶段的Sensing检测。
Sensing阶段二及中间更多Sensing阶段:每个Sensing Stage一直按以上UnitedAFE 2选1的方法,筛选存在触控的MUX和Sensor列。最终得到存在触控的唯一Sensor列和MUX,假设其为MUX X;
最终Sensing阶段:打开存在触控的MUX X,并加载Touch检测方波信号。AFE1~8同时与对应的Sensor电连接,并接收对应8个Sensor块的反馈信号,最后向CPU反馈,得到存在触控的AFE,假设其为AFE Y。Sensor(X,Y)便为存在触控的显示面板的坐标,得到触控位置信息。
通过上述步骤,本申请实施例可以实现触控检测次数减少,需要处理的数据量大幅下降,触控检测的效率有效提升的目的。
本技术领域技术人员可以理解,本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案可以被交替、更改、组合或删除。进一步地,具有本申请中已经讨论过的各种操作、方法、流程中的其他步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。进一步地,现有技术中的具有与本申请中公开的各种操作、方法、流程中的步骤、措施、方案也可以被交替、更改、重排、分解、组合或删除。
术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
在本说明书的描述中,具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
应该理解的是,虽然附图的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,其可以以其他的顺序执行。而且,附图的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,其执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其他步骤或者其他步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
以上所述仅是本申请的部分实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本申请的保护范围。

Claims (10)

1.一种触控电路,其特征在于,包括:至少两个第一信号采集单元、至少一级信号采集单元组、至少两个信号输出单元和控制单元;
每个所述信号输出单元被构造成对应与一列触控感应块均电连接;每个所述第一信号采集单元被构造成对应与一行所述触控感应块均电连接;
每级所述信号采集单元组被构造成与所有列的所述触控感应块均电连接;每级所述信号采集单元组包括至少两个第二信号采集单元,最后一级各所述第二信号采集单元被构造成与一列所述触控感应块均电连接;
任意相邻两级所述信号采集单元组中,前一级的所述第二信号采集单元对应电连接的各列所述触控感应块,与后一级的至少两个所述第二信号采集单元对应电连接的各列所述触控感应块相同;
所述控制单元,用于从前到后逐级检测各级的所述第二信号采集单元输出的第一反馈信号,确定与所述第二信号采集单元对应电连接的存在触控的各列所述触控感应块,直至确定存在触控的一列所述触控感应块,控制与存在触控的一列所述触控感应块电连接的所述信号输出单元输出检测信号,根据各所述第一信号采集单元输出第二反馈信号,确定触控位置信息。
2.根据权利要求1所述的触控电路,其特征在于,各级所述信号采集单元组的第二信号采集单元的数量依次增加;
每级所述信号采集单元组中,每个所述第二信号采集单元被构造成对应电连接的所述触控感应块的列数相同。
3.根据权利要求2所述的触控电路,其特征在于,各级所述信号采集单元组包括2K个第二信号采集单元;K≥1且K为正整数,K的数值从前到后级依次增加。
4.根据权利要求1所述的触控电路,其特征在于,所述控制单元,还用于控制各所述信号输出单元输出检测信号,获取第一级的各所述第二信号采集单元的第一反馈信号;根据所述检测信号和第一级的各所述第二信号采集单元的第一反馈信号,确定与第一级的一个所述第二信号采集单元电连接的存在触控的各列所述触控感应块,作为候选触控列;控制所述候选触控列对应电连接的各所述信号输出单元输出检测信号,获取第二级的各所述第二信号采集单元的第一反馈信号;根据所述检测信号和第二级的各所述第二信号采集单元的第一反馈信号,确定与第二级的一个所述第二信号采集单元电连接的存在触控的各列所述触控感应块,作为候选触控列;依次继续逐级确定候选触控列,直至所述候选触控列为一列,确定该候选触控列为存在触控的一列所述触控感应块。
5.根据权利要求1所述的触控电路,其特征在于,还包括至少两个第一控制开关和至少两个第二控制开关;
各所述第一控制开关的第一端与一个所述第一信号采集单元电连接,各所述第一控制开关的第二端被构造成与一行所述触控感应块电连接;
各所述第二控制开关的第一端与一个所述第二信号采集单元,各所述第二控制开关的第二端被构造成与至少一列所述触控感应块电连接;
各所述第一控制开关的控制端、各所述第二控制开关的控制端均用于与所述控制单元电连接;
所述控制单元,用于控制所述第一信号采集单元与对应的一行所述触控感应块的导通和断开,控制所述第二信号采集单元与对应的至少一列所述触控感应块的导通和断开。
6.根据权利要求5所述的触控电路,其特征在于,所述控制单元,还用于控制各所述第二控制开关导通,使得各所述第二信号采集单元对应的各列所述触控感应块均电连接,各所述第二信号采集单元输出第一反馈信号;和/或,控制各所述第一控制开关导通,使得各所述第一信号采集单元与存在触控的一列所述触控感应块中对应的触控感应块导通,各所述第一信号采集单元输出所述第二反馈信号。
7.一种触控显示电路,其特征在于,包括:如权利要求1-6中任一项所述的触控电路。
8.根据权利要求7所述的触控显示电路,其特征在于,所述信号输出单元包括第一输入端和第二输入端;
所述信号输出单元,用于在触控检测阶段,将所述第一输入端接收的检测信号向对应的一列所述触控感应块输出;在显示阶段,将所述第二输入端接收的公共电压信号向对应的一列所述触控感应块输出。
9.一种显示面板,其特征在于,包括:阵列排列的触控感应块、如权利要求1-6中任一项所述的触控电路;
每个所述信号输出单元对应与一列所述触控感应块均电连接;
每个所述第一信号采集单元对应与一行所述触控感应块均电连接;
每级所述信号采集单元组与所有列的所述触控感应块均电连接,最后一级各所述第二信号采集单元与一列所述触控感应块均电连接。
10.一种触控检测方法,应用于如权利要求1-6中任一项所述的触控电路,其特征在于,包括:
从前到后逐级检测各级的第二信号采集单元输出的第一反馈信号,确定与所述第二信号采集单元对应电连接的存在触控的各列触控感应块是否,直至确定存在触控的一列所述触控感应块;
控制与存在触控的一列所述触控感应块电连接的信号输出单元输出检测信号;
根据各所述第一信号采集单元输出的第二反馈信号,确定触控位置信息。
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