CN114694617A - 用于补偿劣化的显示装置及其补偿方法 - Google Patents

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Abstract

公开一种用于补偿劣化的显示装置及其补偿方法。根据本发明的显示装置包括：显示面板，所述显示面板包括用于显示图像的多个子像素；存储器，所述存储器被配置为存储包括增益值的查找表；以及劣化补偿单元，所述劣化补偿单元被配置为基于从所述显示面板输入的感测电压来补偿劣化了的子像素的劣化并且通过测量显示在所述显示面板上的图像的亮度来更新所述查找表。

Description

用于补偿劣化的显示装置及其补偿方法
技术领域
本发明涉及一种显示装置以及劣化补偿方法。
背景技术
随着多媒体的发展，对平板显示器的需求日益增加。结果，诸如液晶显示装置、等离子体显示装置和有机发光显示装置之类的平板显示装置已被商业化。在这些平板显示装置之中，有机发光显示装置由于其高速响应速度、高亮度和优良的视角而在当前被广泛使用。
但是，有机发光显示面板的亮度特性可由于在一定时间段之后有机发光器件的劣化而劣化。由于驱动时间增加，所以有机发光二极管的劣化速率可增加，并且亮度特性可快速劣化。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种能够补偿劣化的显示装置以及用于补偿其劣化的方法。
本发明的另一个目的是提供一种能够通过测量实际图像的亮度并且更新查找表来改进图像补偿效率的显示装置及其补偿方法。
为了实现这些目的和其他特点，根据本发明示例的显示装置可包括：显示面板，所述显示面板包括用于显示图像的多个子像素；存储器，所述存储器被配置为存储包括增益值的查找表；以及劣化补偿单元，所述劣化补偿单元被配置为基于从所述显示面板输入的感测电压来补偿劣化了的子像素的劣化并且通过测量显示在所述显示面板上的图像的亮度来更新所述查找表。
所述劣化补偿单元可包括：查找表更新单元，所述查找表更新单元被配置为通过测量显示在所述显示面板上的图像的亮度来写入新的查找表，以更新存储在所述存储器中的查找表；增益值读取单元，所述增益值读取单元被配置为读取存储在所述存储器中的查找表的增益值；以及数据调制单元，所述数据调制单元被配置为基于来自所述增益值读取单元的增益值来调制输入到所述显示面板的数据。
所述查找表更新单元可包括：亮度测量单元，所述亮度测量单元被配置为测量显示在所述显示面板上的图像的亮度；增益值计算单元，所述增益值计算单元被配置为基于在所述亮度测量单元中测量的亮度来计算所述增益值；以及查找表写入单元，所述查找表写入单元被配置为基于在所述增益值计算单元中计算的增益值来写入所述新的查找表。
显示在所述显示面板上的图像的亮度可通过摄像机来测量。所述摄像机可以是电荷耦合装置摄像机。
所述亮度测量单元可测量所述显示面板的劣化区域的亮度和所述显示面板的参考亮度测量区域的亮度。所述参考亮度测量区域可以是所述劣化区域的周围区域。所述参考亮度测量区域与所述劣化区域之间的距离可等于15至20个子像素的宽度之和。
所述增益值计算单元可基于所述显示面板的劣化区域的亮度和所述参考亮度测量区域的参考亮度来计算所述增益值。此时，所述参考亮度测量区域的参考亮度可以是所述参考亮度测量区域的多个位置的亮度的平均值。
所述查找表写入单元可通过计算多个劣化区域的增益值来写入所述新的查找表。
根据本发明示例的补偿显示装置的劣化的方法可包括：测量显示在所述显示装置的显示面板上的图像的亮度；基于测量的亮度计算增益值；基于计算的增益值来对查找表进行写操作并且利用进行了写操作的查找表来更新在前的查找表；根据更新的查找表来调制数据；以及将调制的数据应用于所述显示面板。
附图说明
图1是根据本发明实施方式的示意框图。
图2是根据本发明实施方式的有机发光显示装置的子像素的示意框图。
图3是根据本发明实施方式的有机发光显示装置的子像素的电路图。
图4是图解根据本发明实施方式的有机发光显示装置的劣化补偿单元的具体结构的框图。
图5是图解根据本发明实施方式的有机发光显示装置的查找表更新单元的结构的框图。
图6是示出在更新之前的查表表以及根据本发明实施方式的更新后的查找表的视图。
图7A和7B分别是概念性示出通过更新前的查找表进行的亮度补偿和通过更新后的查找表进行的亮度补偿的视图。
图8是示出根据本发明的实施方式驱动有机发光显示装置的方法的流程图。
图9是图解根据本发明的实施方式通过摄像机捕获的显示面板的图像的图。
图10是图解通过摄像机获得的在劣化区域和参考亮度测量区域中的亮度测量结果的图。
图11是示出根据劣化区域的亮度和参考亮度测量区域的亮度来计算增益值的视图。
图12是示出在根据本发明实施方式的有机发光显示装置中新写入(即，新进行了写操作)并被更新了的查找表的视图。
具体实施方式
本发明的优点和特点及实现这些优点和特点的方法通过下面参照附图详细描述的实施方式将变得清楚。然而，本发明可实现为不同的形式，不应被解释为限于在此阐述的实施方式。而是，提供这些实施方式是为了使本发明的公开内容充分且完整，以有助于所属领域技术人员能够充分理解本发明的范围，本发明仅由所附权利要求书的范围限定。
为了描述本发明的实施方式而在附图中公开的形状、尺寸、比例、角度、数量等是示例性的，因此，本发明不限于图示的细节。在整个申请中相同的参考标记表示相同的组件。此外，在本发明下面的描述中，当对已知相关技术的详细描述被确定为会不必要地模糊本发明的重点时，可在本文省略其详细描述。在采用本说明书中提及的术语“包括”、“具有”和“包含”的情形下，可添加其他部件，除非使用了术语“仅”。
在分析组分时，即使没有明确描述，也应解释为包括误差范围。
在描述位置关系时，例如当两部分之间的位置关系被描述为“在……上”、“在……上方”、“在……下方”、“在……之后”等时，可在这两个部分之间设置一个或多个其他部分，除非使用了“紧接”或“直接”。
在描述时间关系时，例如当时间前后关系被描述为“在……之后”、“随后”、“接下来”、“在……之前”等时，也可包括不连续的情形，除非使用了“紧接”或“直接”。
尽管使用术语“第一”、“第二”等描述各种组件，但这些组件实质上不受这些术语限制。这些术语仅仅是用于区分一个组件与其他组件。因此，在本发明的技术精神的范围内，下文描述的第一组件实质上也可以是第二组件。
在描述说明书中的组件时，可采用如“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(a)”和“(b)”之类的术语。这些术语仅用于区分一个组件与其他组件，相应组件的性质、顺序、次序或数量不受这些术语的限制。当组件被描述为“连接至”或“接合至”另一组件时，其不仅可直接连接或接触另一组件，而且应当理解为在他们之间可插入其他组件，或者其他组件可在他们之间连接、接合或接触。
在说明书中，“显示装置”可包括窄义上的显示装置，比如包括显示面板以及驱动显示面板的驱动器的液晶模块(LCM)、OLED模块以及量子点(QD)模块等。此外，显示装置还可包括：作为包括LCM、OLED模块和QD模块等的完成品或最终产品的膝上型计算机、电视和计算机显示器；包括汽车显示器或其他类型车辆的设备显示器；以及诸如移动电子装置(比如智能电话或电子平板)之类的机组电子装置、机组装置(set device)或机组设备。
因此，说明书中的显示装置可包括：窄义上的显示装置，比如LCM、OLED模块、QD模块等；以及作为包括LCM、OLED模块、QD模块等的终端消费者装置的应用产品或机组装置。
此外，在一些情形下，可分开地进行表示：将包括显示面板和驱动器的LCM、OLED模块和QD模块在一些情形下表示为“显示装置”，并且将作为包括LCM、OLED模块或QD模块的完成品的电子装置表示为“机组装置”。例如，窄义上的显示装置可以是包括诸如液晶显示(LCD)面板、OLED面板或QD显示面板之类的显示面板以及作为用于驱动显示面板的控制器的源极印刷电路板(PCB)的概念，机组装置可以是进一步包括作为电连接至源极PCB以控制整个机组装置的机组控制器的机组PCB的概念。
在本发明的实施方式中使用的显示面板可采用所有类型的显示面板，比如液晶显示面板、OLED面板、QD显示面板、电致发光显示面板等。但是，本发明不限于特定的显示面板，比如其边框可利用本发明实施方式的OLED面板的柔性基板以及位于柔性基板下方的背板支撑结构弯曲的显示面板。此外，在根据本发明各实施方式的显示装置中使用的显示面板不限制显示面板的形状或尺寸。
例如，当显示面板是OLED面板时，显示面板可包括多条栅极线、多条数据线以及形成在栅极线和数据线的交叉区域中的多个像素。此外，每个像素可包括：具有作为向每个像素选择性施加电压的元件的薄膜晶体管(TFT)的阵列；在阵列上的OLED层；以及设置在阵列上以覆盖OLED层的封装基板或封装层。封装层可保护TFT和OLED层免受外部冲击的影响并且防止湿气或氧气渗透到OLED层中。此外，形成在阵列上的层可包括无机发光层，例如纳米尺寸材料层或量子点。
下文，将参照附图来详细描述本发明的实施方式。根据本发明所有实施方式的每个显示装置的所有组件都可操作地连接和配置。
图1是根据本发明的示意框图。图2是根据本发明实施方式的有机发光显示装置的子像素的示意框图。
如图1所示，有机发光显示装置1包括图像处理单元110、劣化补偿单元150、存储器160、时序控制单元120、栅极驱动单元130、数据驱动单元140、电源提供单元180以及包括多个子像素SP的显示面板PAN。
图像处理单元110输出从外部提供的图像数据和用于驱动各种器件的驱动信号。例如，来自图像处理单元110的驱动信号可包括数据使能信号、垂直同步信号、水平同步信号和时钟信号。
感测电压Vsen从数据驱动单元140提供给劣化补偿单元150。劣化补偿单元150基于存储在存储器160中的查找表的增益值调制当前帧的每个子像素SP的输入图像数据Idata，然后将调制后图像数据Mdata提供给时序控制单元120。此外，劣化补偿单元150对查找表LUT进行写操作(或者说，写入查找表LUT)，并将进行了写操作的查找表LUT提供给存储器160以更新存储器160的查找表。
通过劣化补偿单元150调制的调制后图像数据Mdata和驱动信号被提供给时序控制单元120。时序控制单元120基于来自图像处理单元110的驱动信号写入并输出用于控制栅极驱动单元130的驱动时序的栅极时序控制信号GDC和用于控制数据驱动单元140的驱动时序的数据时序控制信号DDC。
时序控制单元120控制栅极驱动单元130和数据驱动单元140的驱动时序，以从每个子像素SP获得至少一个感测电压Vsen，并将获得的感测电压Vsen提供给劣化补偿单元150。
栅极驱动单元130响应于从时序控制单元120提供的栅极时序控制信号GDC向显示面板PAN输出扫描信号。栅极驱动单元130通过多条栅极线GL1至GLm输出扫描信号，其中m可以是比如正整数的正数。在这种情形下，栅极驱动单元130可形成为集成电路(IC)的形式，并且可通过直接沉积各种图案和层而形成在显示面板中，但不限于此。
数据驱动单元140响应于从时序控制单元120输入的数据时序控制信号DDC向显示面板PAN输出数据电压。数据驱动单元140采样并锁存从时序控制单元120提供的数字数据信号DATA，并基于伽马电压将其转换为模拟数据电压。数据驱动单元140通过多条数据线DL1至DLn输出数据电压，其中n可以是比如正整数的正数。
此外，数据驱动单元140通过感测电压读出线将从显示面板PAN输入的感测电压Vsen提供给劣化补偿单元150。
在这种情形下，数据驱动单元140可以按照集成电路(IC)的形式安装在显示面板PAN的顶表面上，或者可通过在显示面板PAN上直接堆叠各种图案和层而形成，但不限于此。
电源提供单元180输出高电位驱动电压EVDD和低电位驱动电压EVSS等，并将其提供给显示面板PAN。高电位驱动电压EVDD和低电位驱动电压EVSS通过电源线提供给显示面板PAN。此时，来自电源提供单元180的电压被施加给数据驱动单元140或栅极驱动单元130以对其进行驱动。
显示面板PAN基于来自数据驱动单元140和栅极驱动单元130的数据信号和扫描信号以及来自电源提供单元180的电源来显示图像。
显示面板包括用于显示图像的多个子像素SP。子像素SP可包括红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素。此外，子像素SP可包括白色子像素、红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素。白色子像素、红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素可形成在相同区域中或者可形成在不同区域中。
劣化补偿增益值的查找表存储在存储器160中。此外，查找表的更新时序也存储在存储器中，并且此更新时序通过显示面板被通知给用户。例如，更新时序可通过驱动次数或驱动时间来确定。也就是说，只要驱动次数的设定数量和驱动时间得到满足，查找表LUT可重复更新。
查找表LUT的更新周期可总是相同或者可改变。有机发光器件的有机发光层的劣化可随着驱动次数或驱动时间的经过而加速。因此，随着驱动次数或驱动时间的经过，可按照更短的周期而不是相同的周期来更新查找表LUT。
此外，查找表LUT可被周期性地更新。
例如，在有机发光显示装置1安装在诸如汽车之类的车辆中时，查找表LUT的更新周期是用户访问汽车修理店来检查或修理其汽车的时候。此外，在有机发光显示装置1被适配用于诸如智能电话或平板PC之类的电子移动设备的情形下，查找表LUT的更新周期是用户访问移动装置经销商或维修店的时候。
存储在存储器160中的查找表LUT形成为各种类型。例如，查找表LUT可形成为表格类型(table type)的与感测电压Vsen对应的增益值，并且可存储为一阶函数的形式或者感测电压Vsen和增益值的二阶函数的形式。
如图2所示，一个子像素SP可连接至栅极线GL1、数据线DL1、感测电压读出线SRL1和电源线PL1。晶体管和电容器的数量以及子像素SP(或每个子像素SP)的驱动方法根据电路配置来确定。
图3是图解根据本发明实施方式的有机发光显示装置1的每个子像素SP的电路图。
如图3所示，根据本发明的有机发光显示装置1包括彼此交叉以限定子像素SP的栅极线GL、数据线DL、电源线PL和感测线SL。驱动TFT DT、有机发光器件D、存储电容器Cst、第一开关TFT ST1以及第二开关TST ST2设置在子像素SP中。
有机发光器件D包括连接至第二节点N2的阳极、连接至低电位驱动电压EVSS的输入端子的阴极以及设置在阳极和阴极之间的有机发光层。
驱动TFT DT根据栅极-源极电压Vgs控制流经有机发光器件D的电流Id。驱动TFTDT包括连接至第一节点N1的栅极、连接至提供高电位驱动电压EVDD的电源线PL的漏极；以及连接至第二节点N2的源极。
存储电容器Cst连接在第一节点N1和第二节点N2之间。
当显示面板PAN工作时，第一开关TFT ST1响应于栅极信号(或扫描信号)SCAN将充入在数据线DL中的数据电压Vdata施加给第一节点N1，以导通驱动TFT DT。在这种情形下，第一开关TFT ST1包括连接至栅极线GL以接收扫描信号SCAN的栅极、连接至数据线DL以接收数据电压Vdata的漏极以及连接至第一节点N1的源极。
第二开关TFT ST2响应于感测信号SEN切换在第二节点N2和感测电压读出线SRL之间的电流，以将第二节点N2的源极电压存储在感测电压读出线SRL的感测电容器Cx中。第二开关TFT ST2在显示面板PAN工作时响应于感测信号SEN切换在第二节点N2和感测电压读出线SRL之间的电流，以将驱动TFT DT的源极电压复位到初始化电压Vpre。在这种情形下，第二开关TFT ST2的栅极连接至感测线SL，漏极连接至第二节点N2，并且源极连接至感测电压读出线SRL。
在具有这种结构的有机发光显示装置1中，有机发光层随着驱动时间增加而劣化，亮度降低，并且由于这种劣化，随着有机发光器件的使用时间的增加会出现不可修复的余像。为了解决亮度退化和余像，需要通过补偿有机发光层的劣化来将亮度增加到目标亮度。
根据本发明的示例，从显示面板PAN输入的感测电压Vsen的增益值被存储为查找表LUT，以补偿劣化。具体地，根据本发明的示例，通过在设定的时间(set timing)或者必要的时间更新查找表LUT来补偿劣化。原因如下。
通过在出厂之前测量有机发光显示装置1的显示面板PAN的亮度和初始感测电压Vsen来制作查找表LUT。也就是说，在产品出厂之前，测量基于由于显示面板PAN中出现的劣化导致的亮度下降的感测电压Vsen，并且感测电压Vsen被制成查找表LUT且存储在存储器160中。
查找表LUT用于当用户在产品出厂之后实际使用有机发光显示装置1时补偿劣化。也就是说，在有机发光显示装置1被使用的同时持续测量感测电压Vsen。劣化补偿单元150从查找表LUT读取对应于测量的感测电压Vsen的增益值，然后通过读取的增益值来调制图像数据，并将调制后图像数据提供给显示面板PAN。
因此，增加的电流被提供给亮度可由于劣化而降低了的子像素或区域(此区域由多个子像素构成，下文将未出现劣化的子像素或区域称为一个区域(region))，以将此区域的降低的亮度几乎相等地变为未劣化区域的亮度。
但是，在产品出厂之前制作的查找表LUT的增益值与感测电压Vsen的关系不同于在有机发光显示装置1实际使用时的增益值和感测电压Vsen之间的关系。这种不同可导致在有机发光显示装置1实际使用时劣化补偿效率的降低，从而精确补偿可能存在风险，由此可使有机发光显示装置1的图像质量劣化。
存在各种原因导致在出厂之前制作的查找表LUT的增益值和实际使用的产品的增益值之间的差别。也就是说，在产品出厂之前制作查找表LUT的环境与有机发光显示装置1实际使用时的环境可不同。例如，当有机发光显示装置1应用于车辆时，车辆可用于比如高温和低温之类的严酷环境中。
因此，在工厂中实施的查找表LUT的制作环境与有机发光显示装置1实际使用的环境具有很大差别。由于这种差别，可能难以利用在工厂中制作的查找表LUT来精确补偿在严酷环境中使用的有机发光显示装置1的劣化。
此外，由于随着长时间使用有机发光显示装置1而可使劣化累积，所以在产品出厂之前制作的查找表LUT的增益值与劣化累积了的有机发光显示装置1的查找表LUT的增益值之间可存在差异。增加的电流提供给劣化补偿区域，此区域的劣化通过电流的增加而加速，从而可能难以对劣化长时间累积了的有机发光显示装置进行精确的劣化补偿。
在本发明的实施方式中，由于查找表LUT在设定时间或者根据需要而被重写以更新存储在存储器中的查找表LUT，所以可以防止由于使用环境的差别或者劣化的长时间累积而导致的不精确劣化补偿。下文，将参照附图对此进行详细描述。
图4是示出根据本发明实施方式的劣化补偿单元150的结构的框图。
如图4所示，劣化补偿单元150包括查找表更新单元152、增益值读取单元154和数据调制单元156。
查找表更新单元152通过在设定的更新时间或者根据需要对查找表LUT进行写操作来更新存储在存储器160中的查找表LUT。查找表更新单元152直接捕获在显示面板PAN的劣化区域和未劣化区域中的图像以直接测量这些区域中的亮度，然后根据这些区域之间的亮度差来计算增益值。查找表更新单元152通过基于计算的增益值对查找表LUT进行新的写操作(或者新写入查找表LUT)并且将查找表LUT存储在存储器160中来更新查找表LUT。
由于应当提供亮度测量摄像机以测量显示面板PAN的亮度，所以查找表LUT应当在具体的地点被更新。例如，在有机发光显示装置1安装在汽车中的情形下，查找表在具有亮度测量摄像机的汽车修理店或汽车经销商商店中被更新。此外，在有机发光显示装置1被适配用于诸如智能电话或平板PC之类的电子移动设备的情形下，查找表在具有亮度测量摄像机的维修店或经销商商店中被更新。但是，不限于这些地点，查找表LUT可在其他各种地点被更新。
显示面板PAN的感测电压Vsen从数据驱动单元140输入给增益值读取单元154，并且从存储在存储器160中的查找表LUT来读取对应于感测电压Vsen的增益值，以将读取的增益值提供给数据调制单元154。
通过数据调制单元156基于从增益值读取单元154提供的增益值来调制当前帧的每个子像素的输入图像数据Idata，然后将调制后图像数据Mdata提供给时序控制单元120。
包括增益值的查找表LUT存储在存储器160中。
根据本发明的查找表LUT可以为一阶函数形式或关于感测电压Vsen和增益值G的二阶函数形式。此外，查找表LUT可以是感测电压Vsen和增益值G彼此对应的表格。
查找表LUT的更新时间可存储在存储器160中。存储器160根据劣化补偿单元150的请求来提供查找表LUT的更新时间，并且劣化补偿单元150可通过时序控制单元120在显示面板PAN上显示查找表LUT的更新时间，以将更新时间通知给用户。
图5是示出图4的查找表更新单元152的框图。
如图5所示，查找表更新单元152包括亮度测量单元157、增益值计算单元158和查找表写入单元159。
亮度测量单元157根据从摄像机输入的显示面板PAN的图像来测量所拍摄区域的亮度。此时，摄像机不仅拍摄劣化区域的照片，而且拍摄未劣化区域的照片，并且亮度测量单元157测量劣化区域和未劣化区域的亮度。
可通过测量相应区域的感测电压Vsen来检测显示面板PAN的劣化区域的位置。劣化补偿单元150通过感测电压Vsen来检测劣化区域和未劣化区域的位置，并将其提供给摄像机。摄像机基于提供的信息来拍摄劣化区域和未劣化区域的照片。在这种情形下，摄像机可拍摄多个子像素和区域的照片。
亮度测量单元157的亮度测量结果被输入给增益值计算单元158以计算增益值。此时，增益值计算单元158将劣化区域的亮度与未劣化区域的亮度进行比较，以计算增益值。
查找表写入单元159通过计算的增益值来对查找表LUT进行写操作，然后将写入的新查找表LUT提供给存储器，以更新存储在存储器160中的查找表LUT。
查找表写入单元159基于多个位置的增益值写入感测电压Vsen与增益值的关系作为表格，并将其提供给存储器160，或者写入感测电压Vsen和增益值的关系作为函数，并将其提供给存储器160。
图6是示出在根据本发明示例的有机发光显示装置1中存储的查找表LUT的视图，其示出了在前(更新前)的查找表LUT1和更新后的查找表LUT2。在这种情形下，查找表LUT1和LUT2分别是表示通过显示面板PAN感测的增益值和感测电压Vsen之间的关系的函数。
图7A和7B分别是概念性示出通过更新前的查找表LUT1进行的亮度补偿和通过更新后的查找表LUT2进行的亮度补偿的视图。
如图6所示，查找表LUT1和LUT2由线性函数(即一阶函数)形式的直线构成)。在这种情形下，更新后的查找表LUT2的直线相比在前的查找表LUT1的直线具有更大的斜率。原因在于当前有机发光显示装置1在严酷环境中使用或者劣化累积了较长时间段，从而相比在制造有机发光显示装置1时的制造工厂中准备的第一查找表LUT1需要更多的补偿。
作为感测电压Vsen的感测结果，劣化出现在第一区域X1和第二区域X2。在更新之前的查找表LUT1中，在第一区域X1中的增益值是1.032，在第二区域X2中的增益值是1.066。另一方面，在更新后的查找表LUT2中，第一区域X1的增益值是1.052，第二区域X2的增益值是1.111。
如图7A所示，当未劣化区域的亮度是100％并且劣化了的第一区域X1和第二区域X2的亮度分别是95％和90％时，第一区域X1和第二区域X2的增益值分别是G1＝1.032，G2＝1.066。当第一区域X1和第二区域X2被这些增益值G1和G2补偿时，第一区域X1的亮度大约为98％(95％×1.032＝98.04％)，第二区域X2的亮度为大约96％(90％×1.066＝95.94％)。
因此，即使亮度通过在前的查找表LUT1被补偿，劣化区域的亮度也不会变成100％，而是变成低于100％的亮度，因此无法实现彻底的补偿。
另一方面，如图7B所示，当劣化了的第一区域X1和第二区域X2的亮度分别是95％和90％时，第一区域X1和第二区域X2的增益值分别是G1＝1.052，G2＝1.111。当第一区域X1和第二区域X2被这些增益值G1和G2补偿时，第一区域X1的亮度x1和第二区域X2的亮度x2均为大约100％(x1＝95％×1.052＝99.94％,x2＝90％×1.111＝99.99％)。
如上所述，通过更新前的查找表LUT1进行的劣化补偿不会将相应区域的亮度增加到100％，而通过更新后的查找表LUT2进行的劣化补偿将相应区域的亮度增加到大约100％。因此，通过捕获显示在当前显示面板PAN上的图像、测量亮度并且将查找表LUT1更新为新的查找表LUT2，可大大改进有机发光显示装置1的劣化区域的劣化补偿效率。
图8是示出根据本发明的实施方式驱动有机发光显示装置(其中补偿了劣化)的方法的流程图。将参照附图详细描述有机发光显示装置1的驱动方法。
如图8所示，首先，驱动有机发光显示装置1以在显示面板PAN上显示图像(步骤S101)。
随后，确定是否是查找表LUT的更新时间(步骤S102)。如果不是更新时间，通过用更新前的查找表LUT1补偿劣化来驱动显示面板PAN(步骤S108)。
此时，查找表LUT的更新时间可以对应于有机发光显示装置1的驱动次数或驱动时间。此外，查找表LUT的更新时间可以是具有诸如汽车或移动电话之类的有机发光显示装置的设备的检查时间或修理时间。
当有机发光显示装置1处于查找表LUT的更新时间时(步骤S102)，摄像机设置在显示面板PAN的前侧上来拍摄显示在显示面板PAN上的图像照片，并将拍摄的图像照片输入给查找表更新单元152的亮度测量单元157(步骤S103)。
图9是图解通过摄像机190捕获的显示面板PAN的图像的图。
如图9所示，摄像机190设置在显示面板PAN的显示图像的前方。尽管图中未示出，但是摄像机190可安装在输送装置(transport means)上以在沿着显示面板PAN的短边方向或长边方向从显示面板PAN的前侧移动的同时拍摄屏幕的照片。此外，摄像机190可沿着显示面板PAN的前后方向移动。劣化区域的位置被输入给摄像机190，从而摄像机190可通过输送装置移动到相应位置。
摄像机190可使用CCD(电荷耦合装置)摄像机，但不限于此。
如图10所示，摄像机190拍摄劣化区域X1和X2的照片以及参考亮度测量区域(reference luminance measuring region)S1和S2的照片。参考亮度测量区域S1和S2是未劣化的区域。摄像机190测量劣化区域X1和X2以及参考亮度测量区域S1和S2的图像的亮度，并且基于劣化区域X1和X2的亮度以及参考亮度测量区域S1和S2的亮度在查找表更新单元152中计算增益值。
具体地，根据本发明的示例，劣化区域X1和X2的周围被设定为参考亮度测量区域S1和S2，由此基于劣化区域X1和X2的亮度以及周围的参考亮度测量区域S1和S2的亮度(即，参考亮度)计算增益值。
因此，当计算多个劣化区域X1和X2的增益值时，劣化区域X1和X2的亮度以及相应的参考亮度测量区域S1和S2的亮度被测量，并且相应的劣化出现区域被分别测量以计算劣化区域X1和X2的每一个的增益值。例如，通过第一劣化区域X1的亮度和第一参考亮度测量区域S1的亮度来计算第一劣化区域X1的增益值G1，通过第二劣化区域X2的亮度和第二参考亮度测量区域S2的亮度来计算第二劣化区域X2的增益值G2。
在这种情形下，在劣化区域X1、X2与参考亮度测量区域S1、S2之间的距离d大约等于15-20个子像素的宽度之和。但是，这个距离不限于此，可进行各种不同设置。
如上所述，根据本发明的示例，参考亮度测量区域S1和S2分别被设定为劣化区域X1和X2的周围区域的原因如下。
有机发光层的劣化可出现在整个显示面板PAN的整个屏幕上，但是可主要出现在某一区域中。尤其是，有机发光层的劣化在长时间显示恒定亮度的图像的区域中显著出现。例如，在长时间显示相同字符或图片的区域中出现严重劣化。
劣化区域X1和X2包括多个子像素，劣化区域X1和X2的子像素可不都具有相同的亮度，而是可具有不同的亮度。此外，在劣化区域X1和X2周围的亮度也可受到劣化区域X1和X2的影响。
例如，在显示具有具体形状的图像的情形下，亮度必须从显示图像的区域的边界逐渐改变到上述某一区域，以平滑地表现图像。此外，由于相同幅度的电流提供给长时间显示了相同字符或图片的区域，所以不仅相应的区域而且相邻的区域也可受到相同电流的长时间提供的影响。
尽管受到这些劣化区域X1和X2影响的相邻区域不被感测为劣化区域，但是其亮度相比其他区域(例如，不受劣化区域X1和X2影响的区域)会略微降低。
因此，如果除了劣化区域X1和X2的周围区域之外的其他区域被设定为参考亮度测量区域以计算增益值，则即使劣化区域X1和X2通过计算的增益值被补偿，在劣化补偿后的劣化区域X1、X2与其周围区域之间也会出现亮度差异。换句话说，在劣化被补偿了的劣化区域X1、X2与亮度由于劣化影响而略微下降了的区域之间会出现亮度差异。
尽管这种亮度差异非常小，但是由于亮度在劣化区域X1和X2的边界处急剧改变，所以用户的眼睛可清楚地识别到细微的亮度差异。
根据本发明的示例，由于劣化区域X1和X2的周围区域(peripheral region)被设定为参考亮度测量区域S1和S2，所以在劣化被补偿了的劣化区域X1、X2与参考亮度测量区域S1、S2之间不存在亮度差异。
尤其是，在本发明中，由于在劣化区域X1、X2与参考亮度测量区域S1、S2之间的距离d等于15-20个子像素的宽度之和，所以在劣化被补偿了的劣化区域X1、X2与劣化区域X1、X2的周围区域之间不存在亮度差异。此外，在劣化被补偿了的劣化区域X1、X2与未发生劣化的其他区域之间不存在亮度差异。
如果在劣化区域X1、X2与参考亮度测量区域S1、S2之间的距离d小于15-20个子像素的宽度之和，则参考亮度测量区域S1、S2的亮度相比未被劣化的其他区域的亮度(即100％的亮度)会显著降低。因此，在通过基于此参考亮度测量区域S1、S2计算的增益值来补偿劣化区域X1和X2的情形下，用户会识别到在劣化被补偿了的劣化区域X1、X2与未劣化区域之间的亮度差异。
如果在劣化区域X1、X2与参考亮度测量区域S1、S2之间的距离d大于15-20个子像素的宽度之和，则用户会识别到在劣化被补偿了的劣化区域X1、X2与劣化区域X1、X2的周围区域之间的亮度差异。
参考亮度测量区域S1、S2的每一个可被拍摄多次。由于在劣化区域X1和X2周围的亮度取决于位置具有微小差异，所以由于取决于劣化补偿位置的亮度差异可在边界处出现斑点(spot)。
根据本发明的示例，通过拍摄参考亮度测量区域S1、S2的每一个的多个位置并且将多个拍摄位置的亮度的平均值确定为参考亮度，可以将取决于位置的亮度差异最小化。例如，在本发明中，参考亮度测量区域S1、S2的每一个的8个点可被拍摄，并且其平均亮度值可被确定为参考亮度。但是，本发明不限于此，可通过拍摄7个点或更少的点或者9个点或更多的点的位置来将平均亮度值确定为参考亮度。
返回参照图8，查找表更新单元152的亮度测量单元157分析从摄像机190输入的捕获图像，以测量相应区域的亮度(步骤S104)，增益值计算单元158基于测量的亮度计算增益值(步骤S105)。
图11是示出根据劣化区域X1和X2的亮度以及参考亮度测量区域S1和S2的亮度来计算增益值的视图。
如图11所示，第一劣化区域X1的测量亮度是95％，第一参考亮度测量区域S1的测量亮度是100％。因此，为了将第一劣化区域X1的亮度(95％)增加到第一参考亮度测量区域S1的亮度(100％)，增益值G1应当被设定为G1＝100/95＝1.052。
此外，第二劣化区域X2的测量亮度是90％，第二参考亮度测量区域S2的测量亮度是100％。因此，为了将第二劣化区域X2的亮度(90％)增加到第二参考亮度测量区域S2的亮度(100％)，增益值G2应当被设定为G2＝100/90＝1.111。
返回参照图8，在计算增益值并且写入新的查找表LUT(步骤S106)之后，存储在存储器160中的查找表LUT通过新的查找表LUT被更新(步骤S107)。
图12是示出在根据本发明示例的有机发光显示装置1中新写入的并被更新了的查找表LUT的视图。
如图12所示，在劣化区域中测量的感测电压Vsen相对于对应于感测电压Vsen的增益值的函数可作为查找表LUT被写入。在这种情形下，x轴(横轴)是感测电压Vsen，y轴(纵轴)是增益值。
此时，由于在第一劣化区域X1中测量的感测电压Vsen的增益值是1.052，并且在第二劣化区域X2中测量的感测电压Vsen的增益值G2是1.111，所以可通过连接这些坐标来写入一阶函数的线性形式的查找表LUT(即，对查找表LUT进行写操作)。
此外，根据本发明的示例，可通过测量三个或更多个劣化区域的亮度以及其周围区域的参考亮度测量区域的亮度以计算三个或更多个增益值来形成查找表LUT。在这种情形下，查找表LUT可以为连接增益值G相对于三个或更多个感测电压Vsen的坐标的线性函数形式，或者二阶函数的曲线形式。
再次参照图8，通过利用更新后的查找表LUT补偿劣化来驱动有机发光显示装置1(步骤S108)。也就是说，在劣化补偿单元150的增益值读取单元154读取存储在存储器中的查找表LUT的增益值之后，数据调制单元156通过增益值来调制图像数据Idata，以将调制后的图像数据Mdata提供给显示面板PAN用以显示图像。
如上所述，根据本发明的示例，显示在有机发光显示装置1上的图像在更新时间或者所需时间被直接拍摄，以测量图像的亮度，然后更新查找表以补偿有机发光显示装置的劣化。因此，即使在严酷环境中或者在长时间累积劣化时使用有机发光显示装置1，也可精确地补偿劣化。
本申请的上述示例中描述的特征、结构、效果等包括在本申请的至少一个示例中，不必限于仅一个示例。此外，在本申请的至少一个示例中说明的特征、结构、效果等可由本申请所属领域的普通技术人员与相对于他示例进行组合或修改。因此，与这些组合和修改相关的内容也应解释为包括在本申请的范围内。
上述本申请不限于上述实施方式和附图，对于具有本申请所属技术领域公知常识的技术人员将明显的是，在不脱离本发明的技术精神的条件下可在进行各种替换、修改和变化。因此，本申请的范围由所附权利要求书限定，从权利要求书的含义和范围以及其等效概念得出的所有变化和修改都应解释为包括在本申请的范围内。

Claims (16)

1.一种显示装置，包括：
显示面板，所述显示面板包括用于显示图像的多个子像素；
存储器，所述存储器被配置为存储包括增益值的查找表；以及
劣化补偿单元，所述劣化补偿单元被配置为基于从所述显示面板输入的感测电压来补偿劣化了的子像素的劣化并且通过测量显示在所述显示面板上的图像的亮度来更新所述查找表。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中所述劣化补偿单元包括：
查找表更新单元，所述查找表更新单元被配置为通过测量显示在所述显示面板上的图像的亮度来写入新的查找表，以更新存储在所述存储器中的查找表；
增益值读取单元，所述增益值读取单元被配置为读取存储在所述存储器中的查找表的增益值；以及
数据调制单元，所述数据调制单元被配置为基于来自所述增益值读取单元的增益值来调制输入到所述显示面板的数据。
3.根据权利要求2所述的显示装置，其中所述查找表更新单元包括：
亮度测量单元，所述亮度测量单元被配置为测量显示在所述显示面板上的图像的亮度；
增益值计算单元，所述增益值计算单元被配置为基于在所述亮度测量单元中测量的亮度来计算所述增益值；以及
查找表写入单元，所述查找表写入单元被配置为基于在所述增益值计算单元中计算的增益值来写入所述新的查找表。
4.根据权利要求3所述的显示装置，其中显示在所述显示面板上的图像的亮度通过摄像机来测量。
5.根据权利要求4所述的显示装置，其中所述摄像机包括电荷耦合装置摄像机。
6.根据权利要求3所述的显示装置，其中所述亮度测量单元测量所述显示面板的劣化区域的亮度和所述显示面板的参考亮度测量区域的亮度。
7.根据权利要求6所述的显示装置，其中所述参考亮度测量区域是所述劣化区域的周围区域。
8.根据权利要求7所述的显示装置，其中所述参考亮度测量区域与所述劣化区域之间的距离等于15至20个子像素的宽度之和。
9.根据权利要求6所述的显示装置，其中所述增益值计算单元基于所述显示面板的劣化区域的亮度和所述参考亮度测量区域的参考亮度来计算所述增益值。
10.根据权利要求9所述的显示装置，其中所述参考亮度测量区域的参考亮度是所述参考亮度测量区域的多个位置的亮度的平均值。
11.根据权利要求3所述的显示装置，其中所述查找表写入单元通过计算多个劣化区域的增益值来写入所述新的查找表。
12.一种补偿显示装置的劣化的方法，所述方法包括：
测量显示在所述显示装置的显示面板上的图像的亮度；
基于测量的亮度计算增益值；
基于计算的增益值来对查找表进行写操作并且利用进行了写操作的查找表来更新在前的查找表；
根据更新的查找表来调制数据；以及
将调制的数据应用于所述显示面板。
13.根据权利要求12所述的方法，其中测量亮度包括：通过摄像机拍摄所述图像的照片。
14.根据权利要求13所述的方法，其中通过所述摄像机测量所述显示面板的劣化区域的亮度以及位于所述劣化区域的周围的参考亮度测量区域的亮度。
15.根据权利要求14所述的方法，其中计算增益值包括：基于所述劣化区域的亮度和所述参考亮度测量区域的亮度来计算所述增益值。
16.根据权利要求12所述的方法，其中更新查找表包括：基于多个劣化区域的增益来更新所述在前的查找表。
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