KR102624365B1 - 디스플레이 패널 및 이를 포함하는 타일드 디스플레이 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명의 일 예는 인접한 서브 패널 간의 경계부에서 휘도의 불균일 또는 색 불균일 현상이 발생하는 것을 방지할 수 있는 디스플레이 패널 및 이를 포함하는 타일드 디스플레이 장치에 관한 것이다. 본 발명의 일 예는 초기 휘도 값을 저장해 놓고, 시간이 지남에 따라 변화한 휘도 값을 측정한 후, 두 값을 비교하여 휘도 게인을 산출하고, 휘도 게인을 이용하여 변환부의 룩 업 테이블을 보정함으로써 서브 패널들의 휘도를 초기와 동일하게 유지할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치는 인접한 서브 패널들 간의 경계부에서 휘도의 불균일 또는 색 불균일 현상이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
Description
본 발명의 일 예는 디스플레이 패널 및 이를 포함하는 타일드 디스플레이 장치에 관한 것이다.
최근, 표시 장치(Display Device)는 멀티미디어의 발달과 함께 그 중요성이 증대되고 있다. 이에 부응하여 액정 표시 장치, 플라즈마 표시 장치, 유기 발광 표시 장치 등 여러 가지 종류의 평판 표시 장치가 상용화되고 있다. 평판 표시 장치 중에서 액정 표시 장치와 유기 발광 표시 장치는 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 우수한 특성으로 인하여 노트북 컴퓨터, 텔레비전, 태블릿 컴퓨터, 모니터, 스마트폰, 휴대용 표시 기기, 휴대용 정보 기기 등의 표시 장치로 널리 사용되고 있다.
또한, 상업적 표시 장치 시장에는 복수 개의 서브 패널로 큰 디스플레이를 만들어내는 타일드 디스플레이(Tiled Display)에 대한 수요가 있다.
타일드 디스플레이 구현 시 환경의 변화에 의해 각각의 서브 패널의 휘도에 차이가 발생할 수 있다. 또한, 동일한 모델의 서브 패널이라도 장기간 사용하는 경우, 각각의 서브 패널의 열화 정도가 상이하게 된다. 이에 따라, 각각의 서브 패널 간의 휘도 편차 또는 색 편차가 발생한다. 타일드 디스플레이에서 인접한 서브 패널 간에 휘도 편차 또는 색 편차가 발생하는 경우, 인접한 서브 패널 간의 경계부에서 휘도 편차 또는 색 편차가 발생하고, 인접한 서브 패널 간의 경계부에서 발생한 휘도의 불균일 또는 색 불균일 현상이 사용자에게 인지된다.
본 발명의 일 예는 인접한 서브 패널 간의 경계부에서 휘도의 불균일 또는 색 불균일 현상이 발생하는 것을 방지할 수 있는 디스플레이 패널 및 이를 포함하는 타일드 디스플레이 장치를 제공하고자 한다.
본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 패널은 표시 영역을 구성하는 서브 패널 및 서브 패널들의 경계부에 배치된 휘도 측정부를 포함한다. 본 발명의 휘도 측정부는 서브 패널의 꼭지각에 인접하게 배치되고, 꼭지각 각각은 모 따기 형상이다.
본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치는 표시 영역을 구성하는 서브 패널, 서브 패널의 경계부에 배치된 휘도 측정부, 및 서브 패널의 휘도를 제어하는 휘도 제어부를 포함한다.
본 발명의 일 예는 초기 휘도 값을 저장해 놓고, 시간이 지남에 따라 변화한 휘도 값을 측정한 후, 두 값을 비교하여 휘도 게인을 산출하고, 휘도 게인을 이용하여 변환부의 룩 업 테이블을 보정함으로써 서브 패널들의 휘도를 초기와 동일하게 유지할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치는 인접한 서브 패널들 간의 경계부에서 휘도의 불균일 또는 색 불균일 현상이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 예에 디스플레이 패널을 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 예에 따른 화소를 상세히 보여주는 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치를 나타낸 평면도이다.
도 4는 본 발명의 일 예에 따른 휘도 측정부의 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치를 나타낸 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치를 상세히 나타낸 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 예에 따른 화소를 상세히 보여주는 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치를 나타낸 평면도이다.
도 4는 본 발명의 일 예에 따른 휘도 측정부의 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치를 나타낸 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치를 상세히 나타낸 블록도이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 발명의 실시예를 설명하기 위한 도면에 개시된 형상, 크기, 비율, 각도, 개수 등은 예시적인 것이므로 본 발명이 도시된 사항에 한정되는 것은 아니다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명은 생략한다.
본 명세서에서 언급된 '포함한다', '갖는다', '이루어진다' 등이 사용되는 경우 '~만'이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별히 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함한다.
구성 요소를 해석함에 있어서, 별도의 명시적 기재가 없더라도 오차 범위를 포함하는 것으로 해석한다.
위치 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~상에', '~상부에', '~하부에', '~옆에' 등으로 두 부분의 위치 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 두 부분 사이에 하나 이상의 다른 부분이 위치할 수도 있다.
시간 관계에 대한 설명일 경우, 예를 들어, '~후에', '~에 이어서', '~다음에', '~전에' 등으로 시간적 선후 관계가 설명되는 경우, '바로' 또는 '직접'이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않는다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있다.
"X축 방향", "Y축 방향" 및 "Z축 방향"은 서로 간의 관계가 수직으로 이루어진 기하학적인 관계만으로 해석되어서는 아니 되며, 본 발명의 구성이 기능적으로 작용할 수 있는 범위 내에서보다 넓은 방향성을 가지는 것을 의미할 수 있다.
"적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 적어도 하나"의 의미는 제 1 항목, 제 2 항목 또는 제 3 항목 각각 뿐만 아니라 제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미할 수 있다.
본 발명의 여러 실시예들의 각각 특징들이 부분적으로 또는 전체적으로 서로 결합 또는 조합 가능하고, 기술적으로 다양한 연동 및 구동이 가능하며, 각 실시예들이 서로에 대하여 독립적으로 실시 가능할 수도 있고 연관 관계로 함께 실시할 수도 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 예에 디스플레이 패널을 나타낸 블록도이다. 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 패널은 서브 패널(100), 게이트 구동부(110), 데이터 구동부(120), 및 타이밍 컨트롤러(Timing Controller, T-CON)(130)를 포함한다.
서브 패널(100)은 표시 영역과 표시 영역의 주변에 마련된 비표시 영역을 포함한다. 표시 영역은 화소(P)들이 마련되어 화상을 표시하는 영역이다. 서브 패널(100)에는 게이트 라인들(GL1~GLp, p는 2 이상의 양의 정수), 데이터 라인들(DL1~DLq, q는 2 이상의 양의 정수) 및 센싱 라인들(SL1~SLq)이 마련된다. 데이터 라인들(DL1~DLq) 및 센싱 라인들(SL1~SLq)은 게이트 라인들(GL1~GLp)과 교차할 수 있다. 데이터 라인들(DL1~DLq)과 센싱 라인들(SL1~SLq)은 서로 평행할 수 있다. 서브 패널(100)은 화소(P)들이 마련되는 하부기판과 봉지 기능을 수행하는 상부기판을 포함할 수 있다.
화소(P)들 각각은 게이트 라인들(GL1~GLp) 중 어느 하나, 데이터 라인들(DL1~DLq) 중 어느 하나 및 센싱 라인들(SL1~SLq) 중 어느 하나에 접속될 수 있다. 화소(P)들 각각은 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode, OLED)와 유기 발광 다이오드(OLED)에 전류를 공급하는 화소 구동부(PD)를 포함할 수 있다.
도 2는 본 발명의 일 예에 따른 화소를 상세히 보여주는 회로도이다. 도 2에서는 설명의 편의를 위해 제j(j는 1≤≤j≤≤q을 만족하는 양의 정수) 데이터 라인(DLj), 제j 센싱 라인(SLj), 제k(k는 1≤k≤≤p을 만족하는 양의 정수) 스캔 라인(Sk), 및 제k 센싱 신호 라인(SSk)에 접속된 화소(P)만을 도시하였다. 화소(P)는 유기 발광 다이오드(OLED)와, 유기 발광 다이오드(OLED)와 제j 센싱라인(SLj)으로 전류를 공급하는 화소 구동부(PD)를 포함한다.
유기 발광 다이오드(OLED)는 구동 트랜지스터(DT)를 통해 공급되는 전류에 따라 발광한다. 유기 발광 다이오드(OLED)의 애노드 전극은 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극에 접속되고, 캐소드 전극은 고전위전압보다 낮은 저전위전압이 공급되는 저 전위 전압 라인(ELVSSL)에 접속될 수 있다.
유기 발광 다이오드(OLED)는 애노드 전극(anode electrode), 정공 수송층(hole transporting layer), 유기발광층(organic light emitting layer), 전자 수송층(electron transporting layer), 및 캐소드 전극(cathode electrode)을 포함할 수 있다. 유기 발광 다이오드(OLED)는 애노드전극과 캐소드전극에 전압이 인가되면 정공과 전자가 각각 정공 수송층과 전자 수송층을 통해 유기발광층으로 이동되며, 유기발광층에서 정공과 전자가 서로 결합하여 발광하게 된다.
화소 구동부(PD)는 구동 트랜지스터(Driving Transistor)(DT), 스캔 라인(Sk)의 스캔 신호에 의해 제어되는 제1 트랜지스터(ST1), 센싱 신호 라인(SSk)의 센싱 신호에 의해 제어되는 제2 트랜지스터(ST2) 및 커패시터(capacitor)(C)를 포함할 수 있다. 화소 구동부(PD)는 표시 모드에서 화소(P)에 접속된 스캔 라인(Sk)으로부터 스캔 신호가 공급될 때 화소(P)에 접속된 데이터 라인(DLj)의 데이터 전압(VDATA)을 공급받고, 데이터 전압(VDATA)에 따른 구동 트랜지스터(DT)의 전류를 유기 발광 다이오드(OLED)에 공급한다. 화소 구동부(PD)는 센싱 모드에서 화소(P)에 접속된 스캔 라인(Sk)으로부터 스캔 신호가 공급될 때 화소(P)에 접속된 데이터 라인(DLj)의 센싱 전압을 공급받고, 구동 트랜지스터(DT)의 전류를 화소(P)에 접속된 센싱 라인(SLj)으로 흘린다.
구동 트랜지스터(DT)는 고 전위 전압 라인(ELVDDL)과 유기 발광 다이오드(OLED) 사이에 마련된다. 구동 트랜지스터(DT)는 게이트 전극과 소스 전극의 전압 차에 따라 고 전위 전압 라인(ELVDDL)으로부터 유기 발광 다이오드(OLED)로 흐르는 전류를 조정한다. 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극은 제1 트랜지스터(ST1)의 제1 전극에 접속되고, 소스 전극은 유기 발광 다이오드(OLED)의 애노드 전극에 접속되며, 드레인 전극은 고전위전압이 공급되는 고 전위 전압 라인(ELVDDL)에 접속될 수 있다.
제1 트랜지스터(ST1)는 제k 스캔 라인(Sk)의 제k 스캔 신호에 의해 턴-온되어 제j 데이터 라인(DLj)의 전압을 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극에 공급한다. 제1 트랜지스터(T1)의 게이트 전극은 제k 스캔 라인(Sk)에 접속되고, 제1 전극은 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극에 접속되며, 제2 전극은 제j 데이터 라인(DLj)에 접속될 수 있다. 제1 트랜지스터(ST1)는 스캔 트랜지스터로 통칭될 수 있다.
제2 트랜지스터(ST2)는 제k 센싱 신호 라인(SSk)의 제k 센싱 신호에 의해 턴-온되어 제j 센싱 라인(SLj)을 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극에 접속시킨다. 제2 트랜지스터(ST2)의 게이트 전극은 제k 센싱 신호 라인(SSk)에 접속되고, 제1 전극은 제j 센싱 라인(SLj)에 접속되며, 제2 전극은 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극에 접속될 수 있다. 제2 트랜지스터(ST2)는 센싱 트랜지스터로 통칭될 수 있다.
커패시터(C)는 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극과 소스 전극 사이에 마련된다. 커패시터(C)는 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전압과 소스 전압 간의 차전압을 저장한다.
도 2에서는 구동 트랜지스터(DT)와 제1 및 제2 트랜지스터들(ST1, ST2)이 N 타입 MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor)으로 형성된 것을 중심으로 설명하였으나, 이에 한정되지 않는 것에 주의하여야 한다. 구동 트랜지스터(DT)와 제1 및 제2 트랜지스터들(ST1, ST2)은 P 타입 MOSFET으로 형성될 수도 있다. 또한, 제1 전극은 소스 전극일 수 있고 제2 전극은 드레인 전극일 수 있으나, 이에 한정되지 않는 것에 주의하여야 한다. 즉, 제1 전극은 드레인 전극일 수 있고 제2 전극은 소스 전극일 수 있다.
표시 모드에서, 제k 스캔 라인(Sk)에 스캔 신호가 공급될 때 제j 데이터 라인(DLj)의 데이터 전압(VDATA)이 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극에 공급되고, 제k 센싱 신호 라인(SSk)에 센싱 신호가 공급될 때 제j 센싱라인(SEj)의 초기화 전압이 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극에 공급된다. 이로 인해, 표시 모드에서 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극의 전압과 소스 전극의 전압 간의 전압 차에 따라 흐르는 구동 트랜지스터(DT)의 전류가 유기 발광 다이오드(OLED)에 공급되며, 유기 발광 다이오드(OLED)는 구동 트랜지스터(DT)의 전류에 따라 발광한다. 이때, 데이터 전압(VDATA)은 구동 트랜지스터(DT)의 문턱 전압과 전자 이동도를 보상한 전압이므로, 구동 트랜지스터(DT)의 전류는 구동 트랜지스터(DT)의 문턱 전압과 전자 이동도에 의존하지 않는다.
센싱 모드에서, 제k 스캔 라인(Sk)에 스캔 신호가 공급될 때 제j 데이터 라인의 센싱 전압이 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극에 공급되고, 제k 센싱 신호 라인(SSk)에 센싱 신호가 공급될 때 제j 센싱 라인(SLj)의 초기화 전압이 구동 트랜지스터(DT)의 소스 전극에 공급된다. 또한, 제k 센싱 신호 라인(SSk)에 센싱 신호가 공급될 때 제2 트랜지스터(ST2)가 턴-온되어 구동 트랜지스터(DT)의 게이트 전극의 전압과 소스 전극의 전압 간의 전압 차에 따라 흐르는 구동 트랜지스터(DT)의 전류가 제j 센싱 라인(SLj)으로 흐르도록 한다.
게이트 구동부(110)는 타이밍 컨트롤러(130)로부터 게이트 구동부 제어 신호(GCS)를 공급받는다. 게이트 구동부(110)는 게이트 구동부 제어 신호(GCS)에 기초하여 게이트 신호들을 생성한다. 게이트 구동부(110)는 게이트 신호들을 게이트 라인들(GL1~GLp)에 공급한다. 게이트 구동부(110)는 게이트 드라이브 인 패널(Gate Drive in Panel, GIP) 방식으로 서브 패널(100)의 비표시 영역에 실장될 수 있다. 또는, 게이트 구동부(110)는 게이트 드라이브 IC(Gate Drive Integrated Circuit, GD-IC)로 구현될 수도 있다.
데이터 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(130)로부터 데이터 구동부 제어 신호(DCS)를 공급받는다. 데이터 구동부(120)는 데이터 구동부 제어 신호(DCS)에 기초하여 데이터 전압들을 생성한다. 데이터 구동부(120)는 데이터 전압들을 데이터 라인들(DL1~DLq)에 공급한다.
데이터 구동부(120)는 복수의 소스 드라이브 집적 회로(Integrated Circuit, 이하 "IC"라 한다)들을 포함할 수 있다. 소스 드라이브 IC들 각각은 연성필름들 각각에 실장될 수 있다. 연성필름들 각각은 칩 온 필름(Chip On Film, COF)으로 마련될 수 있다. 칩 온 필름은 폴리이미드(polyimide)와 같은 베이스 필름과 베이스 필름 상에 마련된 복수의 도전성 리드선들을 포함할 수 있다. 연성필름들 각각은 휘어지거나 구부러질 수 있다. 연성필름들 각각은 서브 패널(100)의 하부기판과 제어 인쇄회로보드(Control Printed Circuit Board, C-PCB)에 부착될 수 있다. 특히, 연성필름들 각각은 이방성 도전 필름(Anisotropic Conductive Flim, ACF)을 이용하여 TAB(Tape Automated Bonding) 방식으로 하부기판 상에 부착될 수 있으며, 이로 인해 소스 드라이브 IC들은 데이터 라인들(DL1~DLq)에 연결될 수 있다.
제어 인쇄회로보드는 연성필름들에 부착될 수 있다. 제어 인쇄회로보드는 타이밍 컨트롤러(130)를 실장할 수 있으며, 제어 인쇄회로보드 상에는 타이밍 컨트롤러(130)와 연상필름 상에 실장된 소스 드라이브 IC를 연결하는 신호 배선들이 배치된다.
타이밍 컨트롤러(130)는 시스템 보드로부터 디지털 비디오 데이터(DATA)와 타이밍 신호(TS)를 공급받는다. 타이밍 컨트롤러(130)의 입력단에는 타이밍 신호와 디지털 비디오 데이터(DATA)가 설정된 프로토콜에 의해 입력된다. 타이밍 신호(TS)는 수직 동기 신호(Vertical sync signal, VSYNC), 수평 동기 신호(Horizontal sync signal, HSYNC), 데이터 인에이블 신호(Data Enable signal, DE), 및 도트 클럭(Dot clock, DCLK)을 포함한다. 타이밍 컨트롤러(130)는 데이터 구동부(120)로부터 센싱 데이터(SD)를 공급받는다. 타이밍 컨트롤러(130)는 센싱 데이터(SD)에 기초하여 디지털 비디오 데이터(DATA)를 보상한다.
타이밍 컨트롤러(130)는 게이트 구동부(110), 데이터 구동부(120), 스캔 구동부 및 센싱 구동부의 동작 타이밍을 제어하기 위한 구동부 제어 신호들을 생성한다. 구동부 제어 신호들은 게이트 구동부(110)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 구동부 제어 신호(GCS), 데이터 구동부(120)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 데이터 구동부 제어 신호(DCS), 스캔 구동부의 동작 타이밍을 제어하기 위한 스캔 구동부 제어 신호 및 센싱 구동부의 동작 타이밍을 제어하기 위한 센싱 구동부 제어 신호를 포함한다.
타이밍 컨트롤러(130)는 모드 신호에 따라 표시 모드와 센싱 모드 중 어느 하나의 모드로 데이터 구동부(120), 스캔 구동부 및 센싱 구동부를 동작시킨다. 표시 모드는 서브 패널(100)의 화소(P)들이 화상을 표시하는 모드이고, 센싱 모드는 서브 패널(100)의 화소(P)들 각각의 구동 트랜지스터(DT)의 전류를 센싱하는 모드이다. 표시 모드와 센싱 모드 각각에서 화소(P)들 각각에 공급되는 스캔 신호의 파형과 센싱 신호의 파형이 변경되는 경우, 표시 모드와 센싱 모드 각각에서 데이터 구동부 제어 신호(DCS), 스캔 구동부 제어 신호 및 센싱 구동부 제어 신호 역시 변경될 수 있다. 따라서, 타이밍 컨트롤러(130)는 표시 모드와 센싱 모드 중 어느 모드인지에 따라 해당하는 모드에 대응하여 데이터 구동부 제어 신호(DCS), 스캔 구동부 제어 신호 및 센싱 구동부 제어 신호를 생성한다.
타이밍 컨트롤러(130)는 게이트 구동부 제어 신호(GCS)를 게이트 구동부(110)로 출력한다. 타이밍 컨트롤러(130)는 보상 디지털 비디오 데이터와 데이터 구동부 제어 신호(DCS)를 데이터 구동부(120)로 출력한다. 타이밍 컨트롤러(130)는 스캔 구동부 제어 신호를 스캔 구동부로 출력한다. 타이밍 컨트롤러(130)는 센싱 구동부 제어 신호를 센싱 구동부로 출력한다.
또한, 타이밍 컨트롤러(130)는 데이터 구동부(120), 스캔 구동부 및 센싱 구동부를 표시 모드와 센싱 모드 중에 어느 모드로 구동할지에 따라 해당 모드를 구동하기 위한 모드 신호를 생성한다. 타이밍 컨트롤러(130)는 모드 신호에 따라 표시 모드와 센싱 모드 중 어느 하나의 모드로 데이터 구동부(120), 스캔 구동부 및 센싱 구동부를 동작시킨다.
도 3은 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치(200)를 나타낸 평면도이다. 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치(200)는 복수의 서브 패널(100)들과 복수의 휘도 측정부(300)들은 포함한다.
복수의 서브 패널(100)들은 경계부가 서로 인접한 상태로 배치된다. 복수의 서브 패널(100)들 전체가 하나의 내용을 표시하는 경우, 복수의 서브 패널(100)들은 경계부에서 연속적인 화상을 표시할 수 있다. 또는 복수의 서브 패널(100)들 각각은 독립적인 내용을 표시하는 경우, 복수의 서브 패널(100)들 각각은 독립적으로 화상을 표시할 수 있다.
복수의 서브 패널(100)들 각각은 게이트 구동부(110), 데이터 구동부(120), 및 타이밍 컨트롤러(130)를 갖는다. 인접한 서브 패널(100) 간의 연속적인 화상 표시를 위해서, 복수의 서브 패널(100)들 각각의 타이밍 컨트롤러(130)들은 전기적으로 연결된다. 인접한 서브 패널(100)들에 포함된 타이밍 컨트롤러(130)들은 서브 패널(100)들이 연속적으로 화상을 표시할 수 있도록 각각의 게이트 구동부(110)와 데이터 구동부(120)를 제어한다.
인접한 두 개의 서브 패널(100)들이 있는 경우, 각각의 서브 패널(110)들의 구동을 제어하는 타이밍 컨트롤러(130)들은 어느 하나의 서브 패널(100)의 마지막 게이트 라인과 다른 서브 패널(100)의 첫 번째 게이트 라인에는 게이트 신호들이 연속적으로 공급되도록 각각의 게이트 구동부(110)들을 제어한다. 또한, 각각의 서브 패널(110)들의 구동을 제어하는 타이밍 컨트롤러(130)들은 어느 하나의 서브 패널(100)의 마지막 데이터 라인과 다른 서브 패널(100)의 첫 번째 데이터 라인에는 연속적인 데이터 전압들이 공급하도록 각각의 데이터 구동부(120)들을 제어한다.
이에 따라, 어느 하나의 서브 패널(100)에 타이밍 신호(TS)를 공급하는 타이밍 컨트롤러(130)는 어느 하나의 서브 패널(100)이 다른 서브 패널(100)끼리 접한 경계부에서 끊기거나 서브 패널(100) 간의 화상 사이에서 이질감이 발생하는 현상을 최소화하면서 연속적인 화상을 표시할 수 있다.
휘도 측정부(300)는 복수의 서브 패널(100)들의 경계부에 배치된다. 휘도 측정부(300)는 인접한 서브 패널(100)들의 휘도를 측정한다. 휘도 측정부(300)는 각각의 서브 패널(100)에서 나오는 빛의 밝기를 측정하고, 각각의 서브 패널(100)의 휘도를 수치화할 수 있는 모든 종류의 센서, 측정 소자, 또는 측정 기기를 이용하여 구현할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 예에 따른 휘도 측정부(300)의 단면도이다. 도 4에서는 휘도 측정부(300)가 포토 센서(Photo Sensor)인 경우를 예시하였다. 포토 센서는 특정 방향에서 입사하는 광의 세기를 측정하는 센서이다. 휘도 측정부(300)는 지지부(310)와 센싱부(320)를 포함한다.
지지부(310)는 센싱부(320)가 서브 패널(100)과 인접하여 배치되도록 고정시킨다. 지지부(310)는 디지털 데이터를 전달할 수 있는 내부 회로를 구비하고 있다. 지지부(310)는 내부 회로를 이용하여, 센싱부(320)에서 센싱하여 수치화한 방향 별 광의 세기 정보를 외부의 저장부로 전달할 수 있다.
센싱부(320)는 광의 세기를 측정한다. 센싱부(320)는 측면에서 들어오는 광의 세기를 방향 별로 구분하여 측정할 수 있다. 센싱부(320)는 방향 별로 측정한 광의 세기를 수치화할 수 있다. 센싱부(320)는 수치화한 방향 별 광의 세기 정보를 별도의 저장부에 저장할 수 있다. 저장된 수치화한 방향 별 광의 세기 정보를 휘도 측정 데이터로 정의할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치를 나타낸 단면도이다. 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치는 제1 및 제2 서브 패널(101, 102), 휘도 측정부(300), 투명 접착 부재(400), 및 후면 커버(800)를 포함한다.
제1 및 제2 서브 패널(101, 102)의 꼭지각은 모 따기(chamfer) 된 형상을 갖는다. 제1 및 제 2 서브 패널(101, 102)의 꼭지각은 제1 및 제2 서브 패널(101, 102)의 경계부에서 후면 커버(800) 방향에 있는 테두리선을 의미한다. 제1 서브 패널(101)은 제1 광(L1)을 전면으로 방출하고, 제2 서브 패널(102)은 제2 광(L2)을 전면으로 방출한다. 제1 및 제 2 서브 패널(101, 102)의 내부에 있는 발광층은 모든 방향으로 광을 방출한다. 따라서, 모 따기 된 형상을 갖는 서브 패널(101, 102)은 전면뿐만 아니라, 모 따기 된 꼭지각에서도 제1 및 제2 광(L1, L2)을 방출하게 된다. 모 따기 된 꼭지각에서 제1 및 제2 광(L1, L2)을 방출하므로, 모 따기 된 꼭지각에 휘도 측정부(300)를 설치하는 경우, 휘도 측정부(300)에 광이 도달할 수 있다. 이에 따라, 휘도 측정부(300)가 제1 및 제2 서브 패널들(101, 102)의 경계부에 설치되어, 광을 측정하여 휘도 측정 데이터를 생성할 수 있다.
휘도 측정부(300)는 제1 및 제2 서브 패널(101, 102) 각각의 평균 휘도를 측정한다. 평균 휘도는 제1 서브 패널(101) 방향에서 입사하는 빛의 총량을 측정하여 제1 서브 패널(101)의 표면적으로 나누어서 제1 서브 패널(101)의 평균 휘도를 측정하고, 제2 서브 패널(102) 방향에서 입사하는 빛의 총량을 측정하여 제2 서브 패널(102)의 표면적으로 나누어서 제2 서브 패널(101)의 평균 휘도를 측정할 수 있다. 이 경우, 하나의 휘도 측정부(300)를 이용하여 제1 서브 패널(101)과 제2 서브 패널(102) 각각의 휘도 측정 데이터를 생성할 수 있다.
투명 접착 부재(400)는 제1 및 제2 서브 패널들(101, 102)의 경계부를 채운다. 투명 접착 부재(400)는 휘도 측정부(300)를 제1 및 제2 서브 패널들(101, 102)의 각각의 꼭지각에 인접하게 고정시킨다. 투명 접착 부재(400)는 제1 서브 패널(101)에서 휘도 측정부(300)로 진행하는 제1 광(L1)과 제2 서브 패널(102)에서 휘도 측정부(300)로 진행하는 제2 광(L2)을 투과시켜, 휘도 측정부(300)가 서브 패널(100)에서 방출된 광을 측정할 수 있도록 한다.
또한, 휘도 측정부(300)로 제1 및 제2 광(L1, L2)이 더 많이 지나갈 수 있도록, 투명 접착 부재(400)는 휘도 측정부(300)가 배치된 곳에서 돌출된다. 도 5에서는 투명 접착 부재(400)가 사선으로 돌출된 구조를 예시하였으나, 이에 한정되지 않으며 반구 또는 곡면으로 돌출된 구조 또한 구현 가능하다. 이에 따라, 측면 방향으로 비스듬히 출사하는 제1 및 제2 광(L1, L2)이 투명 접착 부재(400)를 도광하여 휘도 측정부(300)에 포함된 센싱부(320)로 더 많이 입사하도록 할 수 있다. 이 경우, 휘도 측정부(300)에서 광의 세기를 용이하게 측정할 수 있다.
후면 커버(800)는 제1 및 제2 서브 패널들(101, 102)의 배면에 배치된다. 후면 커버(800)는 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치(200)를 지지한다. 후면 커버(800)는 제1 및 제2 서브 패널들(101, 102)이 분리되거나 틀어지지 않도록 고정시킨다. 후면 커버(800)는 휘도 측정부(300)의 배면인 지지부(310)의 배면과 인접하게 배치된다. 후면 커버(800)는 휘도 측정부(300)가 제1 및 제2 서브 패널(101, 102)의 전면으로 나오지 않도록 고정시킨다.
도 6은 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치(200)를 상세히 나타낸 블록도이다.
본 발명의 일 예에 따른 표시 장치는 복수의 서브 패널들(101~109), 복수의 휘도 측정부들(301~304), 저장부(500), 및 휘도 제어부(600)를 포함한다.
복수의 서브 패널들(101~109) 각각은 표시 영역을 구성한다. 복수의 서브 패널들(101~109) 각각은 도 1을 결부하여 설명한 서브 패널(100)과 동일한 역할 및 기능을 수행한다. 도 6에서는 가로로 3개, 세로로 3개 총 9개의 서브 패널들을 이용하여 타일드 디스플레이 장치(200)를 구현한 경우를 도시하였다. 그러나 이에 한정되지 않으며, 서브 패널들의 개수는 이보다 많거나 적을 수 있다.
복수의 휘도 측정부들(301~304)은 복수의 서브 패널들(101~109)의 경계부에 배치된다. 보다 구체적으로, 복수의 서브 패널들(101~109) 중 4개의 서브 패널들이 만나는 모서리 상에 배치된다. 제1 휘도 측정부(301)는 제1 서브 패널(101), 제2 서브 패널(102), 제4 서브 패널(104), 및 제5 서브 패널(105)들이 만나는 모서리 상에 배치된다. 제2 휘도 측정부(302)는 제2 서브 패널(102), 제3 서브 패널(103), 제5 서브 패널(105), 및 제6 서브 패널(106)들이 만나는 모서리 상에 배치된다. 제3 휘도 측정부(303)는 제4 서브 패널(104), 제5 서브 패널(105), 제7 서브 패널(107), 및 제8 서브 패널(108)들이 만나는 모서리 상에 배치된다. 제4 휘도 측정부(304)는 제5 서브 패널(105), 제6 서브 패널(106), 제8 서브 패널(108), 및 제9 서브 패널(109)들이 만나는 모서리 상에 배치된다. 이와 같이 휘도 측정부들(301~304)을 배치하는 경우, 하나의 휘도 측정부가 4개의 서브 패널들의 평균 휘도를 측정할 수 있다.
저장부(500)는 복수의 휘도 측정부들(301~304)에서 측정한 휘도 측정 데이터를 저장한다. 휘도 측정 데이터는 복수의 서브 패널(101~109)들이 구동하기 시작할 때의 평균 휘도를 측정한 데이터인 초기 휘도 측정 데이터(RGBW1~RGBW9)와, 복수의 서브 패널(101~109)들이 일정 시간 구동한 후의 평균 휘도를 측정한 데이터인 후기 휘도 측정 데이터(PRGBW1~PRGBW9)가 있다. 저장부(500)는 복수의 휘도 측정부들(301~304)에서 초기 휘도 측정 데이터(RGBW1~RGBW9)를 공급받아서 내부의 메모리에 저장한다. 저장부(500)는 제1 내지 제4 서브 메모리(501~504)를 포함한다.
제1 서브 메모리(501)는 제1 휘도 측정부(301)에서 측정한 제1, 제2, 제4, 및 제5 서브 패널(101, 102, 104, 105)의 초기 휘도 측정 데이터인 제1, 제2, 제4, 및 제5 초기 휘도 측정 데이터(RGBW1, RGBW2, RGBW4, RGBW5)를 공급받는다.
제2 서브 메모리(502)는 제2 휘도 측정부(302)에서 측정한 제2, 제3, 제5, 및 제6 서브 패널(102, 103, 105, 106)의 초기 휘도 측정 데이터인 제2, 제3, 제5, 및 제6 초기 휘도 측정 데이터(RGBW2, RGBW3, RGBW5, RGBW6)를 공급받는다.
제3 서브 메모리(503)는 제3 휘도 측정부(303)에서 측정한 제4, 제5, 제7, 및 제8 서브 패널(104, 105, 107, 108)의 초기 휘도 측정 데이터인 제4, 제5, 제7, 및 제8 초기 휘도 측정 데이터(RGBW4, RGBW5, RGBW7, RGBW8)를 공급받는다.
제4 서브 메모리(504)는 제4 휘도 측정부(304)에서 측정한 제5, 제6, 제8, 및 제9 서브 패널(105, 106, 108, 109)의 초기 휘도 측정 데이터인 제5, 제6, 제8, 및 제9 초기 휘도 측정 데이터(RGBW5, RGBW6, RGBW8, RGBW9)를 공급받는다.
이와 같이, 하나의 휘도 측정부에서 측정한 초기 휘도 측정 데이터를 하나의 서브 메모리에 대응하도록 저장하는 경우, 로딩 시에도 하나의 휘도 측정부에서 측정한 초기 휘도 측정 데이터를 동시에 로딩할 수 있다. 또한, 제1, 제3, 제7, 및 제9 서브 패널(101, 103, 107, 109)의 휘도는 한 번 측정되는 반면, 제2, 제4, 제6, 및 제8 서브 패널(102, 104, 106, 108)의 휘도는 두 번 측정된다. 또한, 제5 서브 패널(105)의 휘도는 네 번 측정된다. 휘도 측정부들(301~304) 별로 제5 서브 패널(105)의 휘도값을 분리하여 저장하는 경우, 동일한 대상에 대한 측정값이 동일한지 여부를 판단하여, 휘도 측정부들(301~304)의 측정값이 정확한지 여부를 판단할 수 있다.
휘도 제어부(600)는 제어 인쇄회로보드 상에 IC 칩의 형태로 배치된다. 휘도 제어부(600)는 복수의 서브 패널들(101~109) 각각을 제어하는 타이밍 컨트롤러(130)들과 연결된다. 휘도 제어부(600)는 데이터 입력부(610), 데이터 비교부(620), 룩 업 테이블 저장부(630), 및 휘도 보정부(640)를 포함한다.
데이터 입력부(610)는 서브 패널(100)로부터 복수의 서브 패널들(101~109)의 후기 휘도 측정 데이터(PRGBW1~PRGBW9)를 공급받는다. 데이터 입력부(610)는 데이터 비교부(620)로 후기 휘도 측정 데이터(PRGBW1~PRGBW9)를 공급한다.
데이터 비교부(620)는 저장부(500)로부터 초기 휘도 측정 데이터(RGBW1~RGBW9)를 공급받고, 데이터 입력부(610)로부터 후기 휘도 측정 데이터(PRGBW1~PRGBW9)를 공급받는다. 데이터 비교부(620)는 초기 휘도 측정 데이터(RGBW1~RGBW9)와 후기 휘도 측정 데이터(PRGBW1~PRGBW9)를 비교한다. 데이터 비교부(620)는 후기 휘도 측정 데이터(PRGBW1~PRGBW9) 대비 초기 휘도 측정 데이터(RGBW1~RGBW9)의 비율인 휘도 게인(Gain)을 산출한다. 휘도 게인(Gain)은 서브 패널들(101~109) 각각에 대해서 개별적으로 산출된다. 데이터 비교부(620)는 휘도 게인(Gain)을 휘도 보정부(640)로 공급한다.
휘도 게인(Gain)은 복수의 서브 패널들(101~109)의 물리적인 성질에 의해 산출된다. 휘도 게인(Gain)은 복수의 서브 패널들(101~109) 각각이 열화 등에 의해서 휘도가 변화하는 경우, 후기 휘도 측정 데이터(PRGBW1~PRGBW9)를 이용하여 초기 휘도 측정 데이터(RGBW1~RGBW9)를 복원시킬 수 있도록 한다.
룩 업 테이블 저장부(630)는 복수의 서브 패널들(101~109)에 대응하는 복수의 룩 업 테이블(LUT)을 포함한다. 복수의 룩 업 테이블(LUT) 각각은 복수의 서브 패널들(101~109)을 표시 채널 별로 RGB 표시 방식에서 RGBW 표시 방식으로 변환한다. 룩 업 테이블 저장부(630)는 복수의 룩 업 테이블(LUT)을 휘도 보정부(640)에 공급한다.
휘도 보정부(640)는 데이터 비교부(620)로부터 휘도 게인(Gain)을 공급받는다. 휘도 보정부(640)는 룩 업 테이블 저장부(630)로부터 복수의 룩 업 테이블(LUT)을 공급받는다. 휘도 보정부(640)는 복수의 서브 패널들(101~109)의 휘도를 제어한다. 휘도 보정부(640)는 변조부(641)와 변환부(642)를 포함한다.
변조부(641)는 데이터 비교부(620)로부터 서브 패널들 별로 산출된 휘도 게인(Gain)을 공급받는다. 변조부(641)는 룩 업 테이블 저장부(630)로부터 복수의 룩 업 테이블(LUT)을 공급받는다. 변조부(641)는 휘도 게인(Gain)을 룩 업 테이블 각각에 적용한다. 변조부(641)는 데이터 비교부(620)에서 산출한 휘도 게인(Gain)을 적용하여 룩 업 테이블(LUT)을 보정하여, 보정 룩 업 테이블(CLUT)을 생성한다. 변조부(641)는 보정 룩 업 테이블(CLUT)을 변환부(642)에 공급한다.
변환부(642)는 보정 룩 업 테이블(CLUT)을 이용하여 설정된 변환 강도를 이용하여 RGB 표시 방식을 RGBW 표시 방식으로 변환한다. 변환부(642)는 복수의 서브 패널들(101~109) 각각의 휘도 변동 또는 색 변동을 보정한다. 변환부(642)는 보정 룩 업 테이블(CLUT)을 이용하여 복수의 서브 패널들(101~109)의 표시 채널 별 변환 강도를 보정한다.
휘도 보정부(640)에서 보정 룩 업 테이블(CLUT)을 이용하는 경우, RGB 표시 방식에서 시간의 경과에 따라 휘도가 변화하더라도, RGB 표시 방식을 RGBW 표시 방식으로 변환시키면서 휘도 게인(Gain)을 반영하여 변환하기 때문에 초기 휘도 측정 데이터(RGBW1~RGBW9)에 따른 휘도를 표시할 수 있다. 이에 따라, 각각의 서브 패널들(101~109)은 초기와 동일한 휘도를 유지할 수 있다.
특히, 초기 휘도 측정 데이터(RGBW1~RGBW9)는 타일드 디스플레이에서 인접한 서브 패널들 간의 휘도를 균일하게 맞춰 놓도록 설정되어 있다. 그런데, 서브 패널들 각각은 사용 시간이 경과함에 따라 서로 다른 정도로 열화가 진행된다. 이 경우, 인접한 서브 패널들 간의 휘도가 다르게 된다. 이로 인하여, 인접한 서브 패널들 간의 경계부에서 휘도의 불균일 또는 색 불균일 현상이 발생하게 된다.
본 발명의 일 예는 초기 휘도 값을 저장해 놓고, 시간이 지남에 따라 변화한 휘도 값을 측정한 후, 두 값을 비교하여 휘도 게인을 산출하고, 휘도 게인을 이용하여 변환부의 룩 업 테이블을 보정함으로써 서브 패널들의 휘도를 초기와 동일하게 유지할 수 있다. 이에 따라, 본 발명의 일 예에 따른 타일드 디스플레이 장치는 인접한 서브 패널들 간의 경계부에서 휘도의 불균일 또는 색 불균일 현상이 발생하는 것을 방지할 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 따라서, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호 범위는 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 서브 패널 110: 게이트 구동부
120: 데이터 구동부 130: 타이밍 컨트롤러
200: 타일드 디스플레이 300: 휘도 측정부
400: 투명 접착 부재 500: 저장부
600: 휘도 제어부 800: 후면 커버
120: 데이터 구동부 130: 타이밍 컨트롤러
200: 타일드 디스플레이 300: 휘도 측정부
400: 투명 접착 부재 500: 저장부
600: 휘도 제어부 800: 후면 커버
Claims (10)
- 표시 영역을 구성하는 서브 패널; 및
상기 서브 패널들의 경계부에 배치된 휘도 측정부를 포함하며,
상기 서브 패널은 상기 경계부가 형성되도록 서로 이웃하게 배치되는 제1 서브 패널과 제2 서브 패널을 포함하고,
상기 휘도 측정부는 상기 제1 서브 패널과 상기 제2 서브 패널 각각의 휘도를 측정하고,
상기 휘도 측정부와 인접한 상기 서브 패널의 테두리는 모 따기(chamber) 형상을 가지는 디스플레이 패널. - 제 1 항에 있어서,
상기 휘도 측정부로 유입되는 광은 상기 제1 서브 패널의 모 따기 형상을 통해 유입되는 제1 광과 상기 제2 서브 패널의 모 따기 형상을 통해 유입되는 제2 광을 포함하고,
상기 휘도 측정부는,
인접하게 배치된 서브 패널의 평균 휘도를 측정하여 휘도 측정 데이터를 생성하는 디스플레이 패널. - 제 2 항에 있어서,
상기 서브 패널의 경계부에 마련된 투명 접착 부재를 더 포함하고,
상기 휘도 측정부는 상기 투명 접착 부재에 의해 상기 서브 패널의 모 따기 형상에 인접하게 고정되는 디스플레이 패널. - 제 3 항에 있어서,
상기 투명 접착 부재는 상기 휘도 측정부가 배치된 위치에서 돌출된 디스플레이 패널. - 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 휘도 측정부는 포토 센서인 디스플레이 패널. - 표시 영역을 구성하는 서브 패널;
상기 서브 패널의 경계부에 배치된 휘도 측정부; 및
상기 서브 패널의 휘도를 제어하는 휘도 제어부를 포함하며,
상기 서브 패널은 상기 경계부가 형성되도록 서로 이웃하게 배치되는 제1 서브 패널과 제2 서브 패널을 포함하고,
상기 휘도 측정부는 상기 제1 서브 패널과 상기 제2 서브 패널 각각의 휘도를 측정하고,
상기 휘도 측정부와 인접한 상기 서브 패널의 테두리는 모 따기(chamber) 형상을 가지는 타일드 디스플레이 장치. - 제 6 항에 있어서,
상기 휘도 측정부로 유입되는 광은 상기 제1 서브 패널의 모 따기 형상을 통해 유입되는 제1 광과 상기 제2 서브 패널의 모 따기 형상을 통해 유입되는 제2 광을 포함하고,
상기 휘도 측정부는,
인접하게 배치된 서브 패널의 평균 휘도를 측정하여 측정 데이터를 생성하는 타일드 디스플레이 장치. - 제 7 항에 있어서, 상기 휘도 측정부는,
인접하게 배치된 서브 패널의 초기 휘도 측정 데이터를 측정하여 별도의 서브 메모리들에 저장하는 타일드 디스플레이 장치. - 제 8 항에 있어서, 상기 휘도 측정부는,
상기 서브 패널이 턴-온 된 후 일정 시간이 경과한 경우, 후기 휘도 측정 데이터를 측정하는 타일드 디스플레이 장치. - 제 9 항에 있어서, 상기 휘도 제어부는,
상기 휘도 측정부에서 측정한 상기 서브 패널들 각각의 초기 휘도 측정 데이터를 이용해 상기 서브 패널 각각의 휘도를 제어하는 타일드 디스플레이 장치.
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
| KR1020160169292A KR102624365B1 (ko) | 2016-12-13 | 2016-12-13 | 디스플레이 패널 및 이를 포함하는 타일드 디스플레이 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020160169292A KR102624365B1 (ko) | 2016-12-13 | 2016-12-13 | 디스플레이 패널 및 이를 포함하는 타일드 디스플레이 장치 |
Publications (2)
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|---|---|
| KR20180067884A KR20180067884A (ko) | 2018-06-21 |
| KR102624365B1 true KR102624365B1 (ko) | 2024-01-12 |
Family
ID=62806853
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020160169292A KR102624365B1 (ko) | 2016-12-13 | 2016-12-13 | 디스플레이 패널 및 이를 포함하는 타일드 디스플레이 장치 |
Country Status (1)
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| CN116206576B (zh) * | 2023-03-20 | 2023-11-14 | 百润生科技(深圳)有限公司 | 拼接显示系统漏光补偿方法、装置、设备及存储介质 |
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|---|---|---|---|---|
| JP2009058574A (ja) * | 2007-08-30 | 2009-03-19 | Sharp Corp | 液晶表示装置 |
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-
2016
- 2016-12-13 KR KR1020160169292A patent/KR102624365B1/ko active IP Right Grant
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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