CN114665988B - 天线电路 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种天线电路，包括多个天线通路，天线通路包括：天线信号收发电路、传导与辐射转换电路与测试开关；其中，天线信号收发电路与测试开关连接，测试开关与传导与辐射转换电路连接；天线信号收发电路用于接收与发射天线信号，传导与辐射转换电路用于基站信号与天线信号之间的相互转换；首个天线通路的测试开关连接至测试电路，相邻天线通路的测试开关之间通过第一交流隔离元件连接，末尾天线通路的测试开关接地，以形成自测试电路至接地之间的路径。本申请提供的天线电路，在进行多天线检测时，无需设置多个测试电路，电路结构简单、占用的端口资源少并且检测方法简单。

Description

天线电路

技术领域

本申请涉及一种电路，尤其设计一种天线电路。

背景技术

随着智能设备的蓬勃发展，缘于移动通信技术进步，特别是进入5G阶段后，一个设备使用的天线数量越来越多，为了提高天线的性能需要时常检测天线的状态。

目前确定多条天线通路构成的天线电路的空口状态的方法是设置多个测试电路，分别对多条天线通路进行状态测试。但是目前这种方案中，由于需要设置大量的测试电路，导致电路结构比较复杂。

发明内容

本申请提供一种天线电路，用来解决天线空口测试的电路结构过于复杂的问题。

本申请提供一种天线电路，包括：多个天线通路，所述天线通路包括：天线信号收发电路、传导与辐射转换电路与测试开关；其中，

所述天线信号收发电路与所述测试开关连接，所述测试开关与所述传导与辐射转换电路连接；所述天线信号收发电路用于接收与发射天线信号，所述传导与辐射转换电路用于基站信号与天线信号之间的相互转换；

所述多个天线通路中，首个天线通路的测试开关连接至测试电路，相邻天线通路的测试开关之间通过第一交流隔离元件连接，末尾天线通路的测试开关接地，以形成自所述测试电路至所述接地之间的路径，其中所述多个天线通路的测试开关串联在所述路径中；

所述测试电路用于通过测试端口输出所述路径上的电平状态，所述路径上的电平状态用于反映所述路径的导通状态。

在一种实施例中，所述测试电路包括：并联的第一支路和第二支路；

所述第一支路的第一端连接至所述测试端口，所述第二支路的第一端连接表征高电平状态的电位；所述第一支路的第二端和所述第二支路的第二端相连，并连接至所述首个天线通路的测试开关。

在一种实施例中，所述测试电路还包括第二交流隔离元件；

所述第二交流隔离元件的第一端与所述第一支路的第二端和所述第二支路的第二端连接，所述第二交流隔离元件的第二端与所述首个天线通路的测试开关连接。

在一种实施例中，所述测试电路还包括：第一电阻和第二电阻；

所述第一电阻的第一端与所述第一支路的第二端和所述第二支路的第二端连接，所述第一电阻的第二端与所述第一交流隔离元件的第一端连接；

所述第二电阻的第一端连接所述表征高电平状态的电位，所述第二电阻的第二端与所述第一电阻的第一端连接。

在一种实施例中，所述第一交流隔离元件和所述第二交流隔离元件均为电感，且所述第一交流隔离元件和所述第二交流隔离元件的电感值相同。

在一种实施例中，所述天线通路还包括：第一直流隔离元件和第二直流隔离元件；

所述第一直流隔离元件的第一端与所述天线信号收发电路连接，所述第一直流隔离元件的第二端与所述测试开关连接；

所述第二直流隔离元件的第一端与所述测试开关连接，所述第二直流隔离元件的第二端与所述传导与辐射转换电路连接。

在一种实施例中，所述第一直流隔离元件和所述第二直流隔离元件均为电容，且所述第一直流隔离元件和所述第二直流隔离元件的电容值相同。

在一种实施例中，相邻天线通路的测试开关之间串联多个所述第一交流隔离元件。

在一种实施例中，所述末尾天线通路的测试开关与第三交流隔离元件的第一端连接，所述第三交流隔离元件的第二端接地。

在一种实施例中，所述首个天线通路的测试开关的第一端连接至所述测试电路，所述首个天线通路的测试开关的第二端通过第一交流隔离元件连接至相邻的天线通路的测试开关的第一端；相邻天线通路中，上一天线通路的测试开关的第二端通过第一交流隔离元件与下一天线通路的测试开关的第一端连接；末尾天线通路的测试开关的第二端接地。

在一种实施例中，所述测试开关的第一端为连接至所述天线信号收发电路的端口，所述测试开关的第二端为连接至所述传导与辐射转换电路的端口；

或者，所述测试开关的第二端为连接至所述天线信号收发电路的端口，所述测试开关的第一端为连接至所述传导与辐射转换电路的端口。

在一种实施例中，所述测试开关包括同轴开关或是同轴线开关。

本申请提供的天线电路中，包括：多个天线通路；每个天线通路中，测试开关连接在天线信号收发电路和传导与辐射转换电路之间；所述多个天线通路中，首个天线通路的测试开关连接至测试电路，相邻天线通路的测试开关之间通过第一交流隔离元件连接，末尾天线通路的测试开关接地，以形成自所述测试电路至所述接地之间的路径，其中所述多个天线通路的测试开关串联在所述路径中；测试电路通过测试端口输出反映所述路径的导通状态的电平状态。上述方案将每条天线通路中的测试开关在直流信号的传输路径上串联，从而只需通过一个测试端口的状态即可判定所述路径是否导通，从而判定每个天线通路的状态。本申请提供的天线电路，在进行多天线检测时，无需设置多个测试电路，电路结构简单、占用的端口资源少并且检测方法简单。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。

图1为单个天线通路的结构示例图；

图2为多条天线通路的结构示例图；

图3为本申请实施例一提供的第一种天线电路的结构示例图；

图4为本申请实施例一提供的第二种天线电路的结构示例图；

图5为本申请实施例一提供的第三种天线电路的结构示例图；

图6为本申请实施例一提供的第四种天线电路的结构示例图；

图7为本申请实施例一提供的第五种天线电路的结构示例图；

图8为本申请实施例一提供的第六种天线电路的结构示例图；

图9为本申请实施例一提供的第七种天线电路的结构示例图；

图10为本申请实施例一提供的第八种天线电路的结构示例图；

图11为本申请实施例一提供的第九种天线电路的结构示例图；

图12为本申请实施例一提供的第十种天线电路的结构示例图。

附图标记：

31：天线信号收发电路；

32：传导与辐射转换电路；

33：测试开关；

34：测试电路；

35：第一交流隔离元件；

36：第一支路；

37：第二支路；

38：第三交流隔离元件；

L2：第二交流隔离元件；

R1：第一电阻；

R2：第二电阻；

C1：第一直流隔离元件；

C2：第二直流隔离元件。

通过上述附图，已示出本申请明确的实施例，后文中将有更详细的描述。这些附图和文字描述并不是为了通过任何方式限制本申请构思的范围，而是通过参考特定实施例为本领域技术人员说明本申请的概念。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。

需要说明的是，本申请中对于术语的简要说明，仅是为了方便理解接下来描述的实施方式，而不是意图限定本申请的实施方式。除非另有说明，这些术语应当按照其普通和通常的含义理解。

图1为单个天线通路的结构示例图，分别由天线信号收发电路、测试开关与传导与辐射转换电路构成。其中，所述天线收发电路主要进行负责天线信号的发射与接收，所述天线信号是一种无线电波形式的信号。所述传导与辐射转换电路负责所述天线信号转与基站信号的相互转换，所述基站信号指的是天线通路内部传输的一种数字信号。所述测试开关导通时，所述天线通路处于天线辐射模式，所述天线辐射模式指的是天线通路处于正常的信号传输状态。当天线通路需要发射信号时，所述传导与辐射转换电路32将从基站中将待发射的基站信号取出并转换成天线信号，并由所述天线信号收发电路发出；当天线通路需要接收信号时，所述天线信号收发电路接收天线信号，所述传导与辐射转换电路32将接收到的无线电波转换成基站信号传输到基站中。测试开关33断开时，所述天线通路处于传导测试模式，此时所述天线通路可选择使用仪表测试天线的信号。

目前，在实际应用中，天线电路中有多条天线通路，其中每条天线通路中都设置有对应的测试电路，通过所述测试电路的状态来判定对应的天线通路的通断，从而判断对应的天线通路的状态。图2为多条天线通路的结构示例图，图2以三条天线通路为例，当天线通路中检测开关处于导通状态，所述天线通路处于天线辐射模式。当天线通路中检测开关处于断开状态时，所述天线通路处于传导测试模式。针对上述多天线通路的情形，整个天线电路的状态由多条天线通路的状态共同决定。具体的，当多条天线通路均处于天线辐射模式，所述天线电路在这时处于“空口”状态。当多条天线通路中至少有一个没有处于天线辐射模式时，所述天线电路在这时处于非“空口”状态。实际应用中，当所述天线电路在这时处于“空口”状态时，由于每条天线通路均处于天线辐射模式，故可以增强所述天线通路的传输功率，从而提高天线发射的信号质量，当所述天线电路处于非“空口”状态时，此时所述天线电路可使用仪表测试天线的信号，故需要降低所述天线通路的传输功率，达到保护仪表的作用。

在一种针对多天线通路构成的天线电路进行空口状态检测的方案中，判断多条天线通路需要设置多个测试电路，电路结构复杂。

下面以具体的实施例对本申请的技术方案以及本申请的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。在本申请的描述中，除非另有明确的规定和限定，各术语应在本领域内做广义理解。下面将结合附图，对本申请的实施例进行描述。

实施例一

图3为本申请实施例一提供的第一种天线电路的结构示例图，如图3所示，该天线电路包括：多个天线通路，所述天线通路包括：天线信号收发电路31、传导与辐射转换电路32与测试开关33；其中，

天线信号收发电路31与测试开关33连接，测试开关33与传导与辐射转换电路32连接；天线信号收发电路31用于接收与发射天线信号，传导与辐射转换电路32用于基站信号与天线信号之间的相互转换；

所述多个天线通路中，首个天线通路的测试开关33连接至测试电路34，相邻天线通路的测试开关之间通过第一交流隔离元件35连接，末尾天线通路的测试开关33接地，以形成自测试电路33至所述接地之间的路径，其中所述多个天线通路的测试开关33串联在所述路径中；

测试电路34用于通过测试端口输出所述路径上的电平状态，所述路径上的电平状态用于反映所述路径的导通状态。

本实施例中，天线电路包括多条天线通路，图中以三条天线通路为例来说明所述天线电路的工作原理。需要说明的是，图中仅为一种示例，天线通路的数量可以根据天线结构和参数设定。所述天线电路中每一条天线通路都由天线信号收发电路31、传导与辐射转换电路32与测试开关33构成，天线信号收发电路31用于接收与发射天线信号，传导与辐射转换电路32用于基站信号与天线信号之间的相互转换，所述天线信号是一种无线电波形式的信号，所述基站信号指的是天线通路内部传输的一种数字信号。本实施例中，首条天线通路与测试电路34连接，末尾天线通路接地，相邻天线通路的测试开关33之间通过第一交流隔离元件35连接，构成自测试电路34开始至所述接地之间的一条路径，并且所述多个天线通路中对应的测试开关33依次串联在所述路径中。所述首条天线通路指的是对应的测试开关33与测试电路34连接的天线通路，如所述图3中的第一条天线通路；所述末尾天线通路指的是对应的测试开关33接地的天线通路，如所述图3中的第三条天线通路；所述相邻天线通路指的是在所述路径中，所述测试开关33依次串联后，两个相邻的测试开关33对应的两条天线通路为相邻天线通路，比如图3中，第一条天线通路与第二条天线通路为相邻天线通路，第二条天线通路与第三条天线通路亦为相邻天线通路。

所述路径是否导通可以以测试电路34的状态来判定，当每条天线通路中对应的每个测试开关33都处于闭合状态，因为所述路径接地，所以这时测试电路34的测试端口输出的电平状态为低电平。当每条天线通路中对应的每个测试开关33不都处于闭合状态是，所述路径不导通，所以这时测试电路34的测试端口输出的电平状态为高电平。

如图3提供的天线电路，若测试电路34的测试端口输出的电平状态为低电平时，三条天线通路中的测试开关33均闭合，所述三条天线通路均处于天线辐射模式，这时的天线电路正处于“空口”状态，可以增强所述天线通路的传输功率，从而提高天线发射的信号质量。若测试电路34的测试端口输出的电平状态为高电平时，三条天线通路中的测试开关33至少有一个处于非闭合，所以所述三条天线通路不都处于天线辐射模式，这时的天线电路正处于非“空口”状态，此时所述天线电路可使用仪表测试天线的信号 ，需要降低所述天线通路的传输功率，达到保护仪表的作用。本实施例提供的天线电路，可以通过单个测试电路判定出天线电路的状态，天线电路的结构简单。

所述每条天线通路之间传输的是一种交流信号，并且每条天线通路传输的数据应该互不干扰，故为了避免相邻天线通路之间信号的相互干扰，在相邻天线通路之间设置第一交流隔离元件35。比如，在图3中，可在第一条天线通路与第二条天线通路之间和第二条天线通路与第三条天线通路之间分别连接第一交流隔离元件35。

在所述相邻天线通路之间的路径中可以选择设置单个第一交流隔离元件35，也可以选择设置多个第一交流隔离元件35。由于所述相邻天线通路的两条天线通路之间相隔较远，当在所述相邻天线通路之间设置单个第一交流隔离元件35时，所以所述相邻天线通路中的交流信号还是会进入到所述路径中一段距离。比如在图3中，若在第一条天线通路与第二条天线通路中设置单个第一交流隔离元件35，那所述第一条天线通路中的交流信号可以进入到所述第一条天线通路与所述第二条天线通路之间路径的一段距离，所述一段距离指的是所述第一条天线通路与所述第一交流隔离元件35之间的这段距离，同时所述第二条天线通路中的交流信号也可以进入到所述路径中。

在所述相邻天线通路之间的路径中可以选择设置两个第一交流隔离元件35时，如图3中，在所述第一条天线通路与所述第二条天线通路中设置两个第一交流隔离元件35，所述两个第一交流隔离元件35分别设置与相邻天线通路中其中一条天线通路和另一条天线通路相近的位置，避免所述第一条天线通路与所述第二条天线通路之间的交流信号进入到所述第一条天线通路与所述第二条天线通路之间的路径中。

由于所述路径的存在，不仅相邻天线通路之间可能会发生信号的相互干扰，因为所述首个天线通路对应的检测开关33与测试电路34连接，所述末尾天线通路对应的检测开关33接地，所以所述首个天线通路与测试电路34之间，所述末尾天线通路与所述接地之间也可能会发生信号的相互干扰，所以可在所述首个天线通路与测试电路34之间设置第二交流隔离元件L2，在所述末尾天线通路与所述接地之间设置第三交流隔离元件38。因为电感元件具有隔交流、通直流的作用，所以所述第一交流隔离元件35、第二交流隔离元件L2与第三交流隔离元件38均可以选择电感元件。

在一种示例中，图4为本申请实施例一提供的第二种天线电路的结构示例图，如图4所示，测试电路34包括：并联的第一支路36和第二支路37；

第一支路36的第一端连接至所述测试端口，第二支路37的第一端连接表征高电平状态的电位；第一支路36的第二端和第二支路37的第二端相连，并连接至所述首个天线通路的测试开关33。

测试端口处的电平状态反映所述路径是否导通，从而判断天线电路的状态，测试电路34可由两条并联支路构成，分别为第一支路36与第二支路37。第一支路36的第一端连接至测试端口，以通过测试端口输出路径上的电平状态，该电平状态用于判定路径的导通情况，后面文中也称为判定信号。第二支路37的第一端连接表征高电平状态的电位，举例来说，所述高电平状态的电位可选为1.8V的直流信号。

结合图示的结构举例，当所述路径中的测试开关33均闭合时，所述路径接地，所以第一支路36会受到一个接地信号，所以第一支路36中提供的判定信号显示为低电平信号，当所述路径中的测试开关33至少有一个断开时，所述路径与所述接地之间不导通，第一支路36中提供的判定信号显示为第二支路37提供的高电平信号。所以当第一支路36中提供的判定信号显示为低电平信号时，所述路径导通，所述多条天线通路均处于天线辐射模式，所述这种情况下天线电路处于“空口”状态。当第一支路36中提供的判定信号显示为高电平信号时，所述路径不导通，所述多条天线通路中至少一条天线通路处于传导测试模式，所以此时所述天线电路处于非“空口”状态。

具体的，当所述路径导通时，在所述路径中传输的是一个直流电信号，因为所述路径经过所述每条天线通路，所以所述路径中传输的直流电信号可能会与所述每条天线通路内的交流电信号相互干扰，为了避免所述干扰，可在所述每条天线通路的测试开关33的两端分别设置直流隔离元件。举例来说，电容元件具有隔直流、通交流的作用，所述直流隔离元件可选为电容元件。

本实例通过单个判定信号判定所述天线电路的状态，所述天线电路的结构简单，实现方便。实际应用中，可以将所述测试端口连接至具有数据处理功能的处理模块，以使处理模块根据测试端口提供的判定信号检测天线电路的空口状态。举例来说，该处理模块可以具有一个通用型输入输出端口（General-purpose input/output，简称GPIO），本实施例中测试电路的测试端口可以连接该GPIO，从而处理模块能够基于GPIO接收到的判定信号，确定天线电路的空口状态。可选的，所述处理模块包括但不限于：处理芯片、处理器、智能电脑等。

在一种示例中，如图4所示，测试电路34还包括第二交流隔离元件L2；

第二交流隔离元件L2的第一端与第一支路36的第二端和第二支路37的第二端连接，第二交流隔离元件L2的第二端与所述首个天线通路的测试开关34连接。

因为所述首个天线通路对应的检测开关33与测试电路34连接，测试电路34中的第二支路37中提供的是一个1.8V的直流信号，但是所述首个天线通路中传输的是一种交流信号，为了避免所述首个天线通路中传输的交流信号与测试电路34中提供的直流电信号之间的相互干扰，所以可在测试电路34与所述首个天线通路的连接之间设置第二交流隔离元件L2，因为电感元件具有隔交流、通直流的作用，所以第二交流隔离元件L2可选为电感元件。

在一种示例中，如图4所示，测试电路34还包括：第一电阻R1和第二电阻R2；

第一电阻R1的第一端与第一支路36的第一端和第二支路37的第二端连接，第一电阻R1的第二端与第二交流隔离元件L2的第一端连接；

第二电阻R2的第一端连接所述表征高电平状态的电位，第二电阻R2的第二端与第一电阻R1的第一端连接。

在测试电路34中可以连接两个电阻，第一电阻R1和第二电阻R2，第一电阻R1处于第一支路36与第二支路37构成的并联电路与第二交流隔离元件L2之间，第二电阻R2位于第二支路37上。第一电阻R1与第二电阻R2的设置主要是提供上拉电阻防止测试电路误测为低电平，第一电阻R1与第二电阻R2的设置还可以防止电路中电流过大，从而防止电流对电路负载的影响，第一电阻R1与第二电阻R2可选为相同的阻值，第一电阻R1与第二电阻R2选择相同阻值可使得所述天线电路的电路结构简单化。

在一种示例中，图5为本申请实施例一提供的第三种天线电路的结构示例图，如图5所示，第一交流隔离元件35和第二交流隔离元件L2均为电感，且第一交流隔离元件35和第二交流隔离元件L2的电感值相同。

第一交流隔离元件35和第二交流隔离元件L2都是为了避免相邻天线通路之间的交流信号相互干扰，电感元件具有通直流阻交流的作用，所以所述第一交流隔离元件35和第二交流隔离元件L2可选为电感元件，第一交流隔离元件35和第二交流隔离元件L2可具有相同的电感值，第一交流隔离元件35和第二交流隔离元件L2选择相同的电感值可简化所述天线电路。

图6为本申请实施例一提供的第四种天线电路的结构示例图，在一种示例中，如图6所示，所述天线通路还包括：第一直流隔离元件C1和第二直流隔离元件C2；

第一直流隔离元件C1的第一端与天线信号收发电路31连接，第一直流隔离元件C1的第二端与测试开关33连接；

第二直流隔离元件C2的第一端与所述测试开关33连接，第二直流隔离元件C2的第二端与传导与辐射转换电路32连接。

所述天线通路中传输的是交流信号，但是测试电路中提供的高电平信号是直流电信号，当所述路径导通时，所以在所述路径中传输的是一个直流电信号。测试电路34与所述首个天线通路连接，所述路径中的直流电会进入到所述首个天线通路中，为了防止所述直流电信号进入到所述首个天线通路中天线信号收发电路31与传导与辐射转换电路32中，可在所述路径与所述首个天线通路中设置直流隔离元件。

因为所述路径经过所述每条天线通路，所以所述路径中传输的直流电信号可能会与所述每条天线通路之间的交流电信号相互干扰，为了避免所述干扰，可在所述路径与所述每条天线通路之间分别设置直流隔离元件。所述每条天线通路的测试开关33与天线信号收发电路31之间设置第一直流隔离元件C1，隔绝所述路径中的直流电信号进入到每条通路中的天线信号收发电路31，在所述每条天线通路的测试开关33与传导与辐射转换电路32之间设置第二直流隔离元件C2，隔绝所述路径中的直流电信号进入到每条通路中的传导与辐射转换电路32。

因为电容元件具有隔直流、通交流的作用，所以所述直流隔离元件可选为电容元件。通过设置第一直流隔离元件C1与第二直流隔离元件C2，防止了所述直流信号进入到所述每条天线通路中天线信号收发电路31与传导与辐射转换电路32中，保障了所述每条天线通路的正常工作。

在一种示例中，第一直流隔离元件C1和第二直流隔离元件C2均为电容，且第一直流隔离元件C1和第二直流隔离元件C2的电容值相同。

第一直流隔离元件C1与第二直流隔离元件C2是为了隔绝直流电，电容元件具有通、交流阻直流的作用，所以第一直流隔离元件C1与所述第二直流隔离元件C2可选则为电容器，并且，第一直流隔离元件C1与第二直流隔离元件C2可选为电容值相同的电容器，使得所述天线电路简单化。

在一种示例中，图7为本申请实施例一提供的第五种天线电路的结构示例图，如图7所示，相邻天线通路的测试开关33之间串联多个所述第一交流隔离元件35。在所述天线电路中，每条天线通路中传输的交流信号不一样，为了防止相邻天线通路之间的信号相互干扰，所以在相邻天线通路之间设置有所述第一交流隔离元件35。

在所述相邻天线通路之间的路径中可以选择设置单个第一交流隔离元件35，也可以选择设置多个第一交流隔离元件35。由于所述相邻天线通路的两条天线通路之间相隔较远，当在所述相邻天线通路之间设置单个第一交流隔离元件35时，所以所述相邻天线通路中的交流信号还是会进入到所述路径中一段距离。比如在图3中，若在第一条天线通路与第二条天线通路中设置单个第一交流隔离元件35，那所述第一条天线通路中的交流信号可以进入到所述第一条天线通路与所述第二条天线通路之间路径的一段距离，所述一段距离指的是所述第一条天线通路与所述第一交流隔离元件35之间的这段距离，同时所述第二条天线通路中的交流信号也可以进入到所述路径中。所以若在所述相邻天线通路的两条天线通路之间只设置单个第一交流隔离元件35时，只可以保障所述相邻天线通路的两条天线通路之间不发生信号干扰，但是所述相邻天线通路的两条天线通路中的交流信号也会进入到所述路径中。

为了隔绝所述相邻天线通路的两条天线通路中的交流信号进入到所述路径中，在所述相邻天线通路之间的路径中可以选择设置两个第一交流隔离元件35时，如图3中，在所述第一条天线通路与所述第二条天线通路中设置两个第一交流隔离元件35，所述两个第一交流隔离元件35分别设置与所述第一条天线通路与所述第二条天线通路相近的位置，避免所述第一条天线通路与所述第二条天线通路之间的交流信号进入到所述第一条天线通路与所述第二条天线通路之间的路径中。

在一种示例中，图8为本申请实施例一提供的第六种天线电路的结构示例图，如图8所示，所述末尾天线通路的测试开关33与第三交流隔离元件38的第一端连接，第三交流隔离元件38的第二端接地。

在所述天线电路中，由所述每条天线通路中的测试开关33与测试电路34串联构成的路径中传输的信号为直流信号，并且所述末尾天线通路接地，以通过测试电路34中测试端口的状态信号反应所述路径上串联的测试开关33是否全部导通。实际应用中，天线通路中传输的是一种交流信号，为了防止所述末尾天线通路中传输的交路信号通过所述路径接地，所以在所述路径上，所述末尾天线通路对应的测试开关33与所述接地之间设置第三交流隔离元件38。因为电感元件具有隔交流的作用，所以所述第三交流隔离元件38可选为电感元件。通过设置第三交流隔离元件38，当所述天线电路处于“空口”状态时，也就是所述多条天线通路均处于天线辐射模式时，可避免因为所述末尾天线通路中的交流信号传输至地导致天线无法正常工作，从而提高天线检测的可靠性。

由于电感元件具有隔交流的作用，所以第三交流隔离元件38也可选为电感元件，第三交流隔离元件38的电感值可选择与所述第一交流隔离元件35和第二交流隔离元件L2的电感值相同。

在一种示例中，所述首个天线通路的测试开关33的第一端连接至所述测试电路，所述首个天线通路的测试开关33的第二端通过第一交流隔离元件35连接至相邻的天线通路的测试开关33的第一端；相邻天线通路中，上一天线通路的测试开关33的第二端通过第一交流隔离元件35与下一天线通路的测试开关33的第一端连接；末尾天线通路的测试开关33的第二端接地。

所述天线电路中的天线通路，除了之前举例的三天通路之外，所述天线电路可能具有n条通路。在所述n条通路中，首个天线通路与测试电路连接，末尾天线通路接地，所述首个天线通路为第一条天线通路，末尾天线通路为第n条天线通路。所述第一条通路的测试开关33的第一端与所述测试电路连接，所述第一条天线通路的测试开关33的第二端与下一条天线通路中测试开关33的第一端连接，之后每一条的天线通路中的测试开关33的第二端与下一条天线通路中测试开关33的第一端连接，直到最后一条通路中的测试开关33的第二端通过第三交流隔离元件38后接地。比如将测试电路与所述第一条天线通路的测试开关33的第一端相连，所述第一条天线通路的测试开关33的第二端与第二条天线电路的测试开关33的第一端相连，以此类推，形成从测试电路到所述接地的一条路径，每条天线通路的测试开关33串联在所述路径中，可通过单个测试电路中的GPIO的状态来判定所述路径是否导通，从而判定天线电路的状态。

在一种示例中，图9为本申请实施例一提供的第七种天线电路的结构示例图，如图9所示，所述测试开关33的第一端为连接至所述天线信号收发电路31的端口，所述测试开关33的第二端为连接至所述传导与辐射转换电路32的端口。在另一种示例中，图10为本申请实施例一提供的第八种天线电路的结构示例图，如图10所示，所述测试开关33的第二端为连接至所述天线信号收发电路31的端口，所述测试开关33的第一端为连接至所述传导与辐射转换电路32的端口。

在所述天线电路中，每条天线通路中都设置有测试开关33，测试开关33的第一端可以连接至所述天线电路中的天线信号收发电路31的端口，也可以连接至所述天线电路中的传导与辐射转换电路32的端口。本申请提供的天线电路主要是将每条天线通路中的测试开关33串联成路径，所以所述测试电路可以连接至第一条天线通路中测试开关33的第二端，之后每一条天线通路中测试开关33的第一端可与之后的天线通路中的测试开关33的第二端相连，直到最后一条通路中的测试开关33的第一端通过第三交流隔离元件38后接地。比如将测试电路与所述第一条天线通路的测试开关33的第二端相连，所述第一条天线通路的测试开关33的第一端与第二条天线电路的测试开关33的第二端相连，以此类推，形成从测试电路到所述接地的一条路径，每条天线通路的测试开关33串联在所述路径中。可通过单个测试电路中的GPIO的状态来判定所述路径是否导通，从而判定天线电路的状态。

在一种示例中，测试开关33包括同轴开关或是同轴线开关。所述测试开关33可选为同轴开关，比如单刀单掷开关，如图11所示，图11为本申请实施例一提供的第九种天线电路的结构示例图；所述测试开关33也可选为同轴线开关，如图12所示，图12为本申请实施例一提供的第十种天线电路的结构示例图，在图12中，所述测试开关33为同轴线开关，所述同轴线开关由两个同轴座构成，所述两个同轴座的2、3、4脚分别接地，构成所述测试开关33的两个同轴座的1脚分别连接至天线通路中的天线信号收发电路31与传导与辐射转换电路32，当所述两个同轴座的1脚使用同轴线连接在一起时，所述测试开关33处于闭合状态。

本实施例提供的天线电路，将每条天线通路中的测试开关33串联，形成一个由所述测试开关33构成的路径，通过一个GPIO的状态来判定所述路径是否导通，从而判定天线电路的状态。当GPIO信号显示低电平时，每条天线通路中的测试开关33均导通，此时所述路径导通。当GPIO信号显示高电平时，每条天线通路中的测试开关33至少有一个是断开状态，此时所述路径不导通。当测试电路测得所述路径导通时，所述天线电路中的每条天线通路都处于天线辐射模式，即正常的信号传输状态，此时可以增强所述天线通路的传输功率，从而提高天线发射的信号质量，当测试电路测得所述路径不导通时，所述多条天线通路至少有一条不导通，此时所述天线通路应使用仪表测试天线的信号，需要降低多所述天线通路的传输功率，达到保护仪表的作用。本申请提供的天线电路，在进行多天线检测时，无需设置多个测试电路，电路结构简单、占用的端口资源少并且检测方法简单。

本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本申请的真正范围和精神由下面的权利要求书指出。

应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求书来限制。

Claims (12)

1.一种天线电路，其特征在于，包括：多个天线通路，所述天线通路包括：天线信号收发电路、传导与辐射转换电路与测试开关；其中，

所述天线信号收发电路与所述测试开关连接，所述测试开关与所述传导与辐射转换电路连接；所述天线信号收发电路用于接收与发射天线信号，所述传导与辐射转换电路用于基站信号与天线信号之间的相互转换；

所述多个天线通路中，首个天线通路的测试开关连接至测试电路，相邻天线通路的测试开关之间通过第一交流隔离元件连接，末尾天线通路的测试开关接地，以形成自所述测试电路至所述接地之间的路径，其中所述多个天线通路的测试开关串联在所述路径中；

所述测试电路用于通过测试端口输出所述路径上的电平状态，所述路径上的电平状态用于反映所述路径的导通状态。

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述测试电路包括：并联的第一支路和第二支路；

所述第一支路的第一端连接至所述测试端口，所述第二支路的第一端连接表征高电平状态的电位；所述第一支路的第二端和所述第二支路的第二端相连，并连接至所述首个天线通路的测试开关。

3.根据权利要求2所述的电路，其特征在于，所述测试电路还包括第二交流隔离元件；

所述第二交流隔离元件的第一端与所述第一支路的第二端和所述第二支路的第二端连接，所述第二交流隔离元件的第二端与所述首个天线通路的测试开关连接。

4.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述测试电路还包括：第一电阻和第二电阻；

所述第一电阻的第一端与所述第一支路的第一端和所述第二支路的第二端连接，所述第一电阻的第二端与所述第二交流隔离元件的第一端连接；

所述第二电阻的第一端连接所述表征高电平状态的电位，所述第二电阻的第二端与所述第一电阻的第一端连接。

5.根据权利要求3所述的电路，其特征在于，所述第一交流隔离元件和所述第二交流隔离元件均为电感，且所述第一交流隔离元件和所述第二交流隔离元件的电感值相同。

6.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述天线通路还包括：第一直流隔离元件和第二直流隔离元件；

所述第一直流隔离元件的第一端与所述天线信号收发电路连接，所述第一直流隔离元件的第二端与所述测试开关连接；

所述第二直流隔离元件的第一端与所述测试开关连接，所述第二直流隔离元件的第二端与所述传导与辐射转换电路连接。

7.根据权利要求6所述的电路，其特征在于，所述第一直流隔离元件和所述第二直流隔离元件均为电容，且所述第一直流隔离元件和所述第二直流隔离元件的电容值相同。

8.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，相邻天线通路的测试开关之间串联多个所述第一交流隔离元件。

9.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述末尾天线通路的测试开关与第三交流隔离元件的第一端连接，所述第三交流隔离元件的第二端接地。

10.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述首个天线通路的测试开关的第一端连接至所述测试电路，所述首个天线通路的测试开关的第二端通过第一交流隔离元件连接至相邻的天线通路的测试开关的第一端；相邻天线通路中，上一天线通路的测试开关的第二端通过第一交流隔离元件与下一天线通路的测试开关的第一端连接；末尾天线通路的测试开关的第二端接地。

11.根据权利要求10所述的电路，其特征在于，所述测试开关的第一端为连接至所述天线信号收发电路的端口，所述测试开关的第二端为连接至所述传导与辐射转换电路的端口；

或者，所述测试开关的第二端为连接至所述天线信号收发电路的端口，所述测试开关的第一端为连接至所述传导与辐射转换电路的端口。

12.根据权利要求1-11任一项所述的电路，其特征在于，所述测试开关包括同轴开关或是同轴线开关。

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