CN114563656A - 一种通信设备供电质量监测方法与装置 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及通信设备的配电技术领域,特别是涉及一种通信设备供电质量监测方法与装置。对供电电源质量进行持续监测,对供电环境的电源质量提供日志记录;对供电侧的已发故障,提供后续排查有效数据支持,提升工程可维护性;可作为电压波形观测工具,辅助通信设备远程测试或故障诊断,提升设备智能化水平。
Description
技术领域
本发明涉及通信设备的配电技术领域,特别是涉及一种通信设备供电质量监测方法与装置。
背景技术
在现有技术的通信设备-48V电源配电回路中,存在以下问题:
从列头柜、PDP、电源盘直到业务机盘,整个-48V功率主回路,虽然部分机盘内部具备电压检测功能,但现有方式检测周期长较长,一般需要2S到3S,检测后的数据本地未处理,需设备网管侧主动轮询时上报,难以监测和记录-48V 电压瞬变事件,对于工程上因-48V电压瞬态波动导致的设备重启问题,缺少故障发生时的电压信息记录,难以在故障消除后进行排查和分析。
现有技术中通常采用如下两种检测方式:
第一种采用A/D采样单元采样,每次采样一次,上报一条,由设备网管通过轮询方式获取,但轮询机盘数量会影响上报的数据及时性,实时性差,容易丢失数据,并且瞬态电压波动时容易漏过;
第二种采用比较器检测-48V电压,当有过压或欠压发生时,输出一个电压异常告警信号,缺陷是没有对应的电压异常细节信息记录,同时过欠压的判断门限通常是一个固定值,不能灵活修改。
鉴于此,克服该现有技术所存在的缺陷是本技术领域亟待解决的问题。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种通信设备供电质量监测方法。
本发明进一步要解决的技术问题是提供一种通信设备供电质量监测装置。
本发明采用如下技术方案:
第一方面,一种通信设备供电质量监测方法,包括:
将所述通信设备的供电电压作为被采样电压,A/D采样单元以预设采样周期对其进行采样,窗口比较器将所述被采样电压的采样值进行比较;
当所述采样值高于所述窗口比较器的预设高电压门限或者低于所述窗口比较器的预设低电压门限时,则判断所述被采样电压存在瞬态电压波动,将所述采样值进行缓存,并启动定时器进行计数,记录所述瞬态电压波动的时间长度。
优选的,还包括MCU,所述MCU用于获取所述A/D采样单元相连的采样值,所述MCU还用于根据窗口比较器对所述被采样电压的采样值的比较结果,将所述被采样电压的采样值进行指定区域的缓存。
优选的,所述MCU根据窗口比较器对所述被采样电压的采样值的比较结果将所述被采样电压的采样值进行指定区域的缓存具体包括:
当所述被采样电压的采样值低于所述窗口比较器的预设高电压门限并高于所述窗口比较器的预设低电压门限时,则所述被采样电压未发生瞬态电压波动,所述窗口比较器不向所述MCU发送触发信号,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存在第一数据记录区;
当所述被采样电压的采样值高于所述窗口比较器的预设高电压门限或者低于所述窗口比较器的预设低电压门限时,则所述被采样电压发生瞬态电压波动,所述窗口比较器向所述MCU发送触发信号,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存在第二数据记录区。
优选的,所述窗口比较器向所述MCU发送触发信号时,同时所述MCU启动所述定时器,具体包括:
所述定时器以预设输出周期输出脉冲,所述MCU对所述定时器的输出脉冲进行计数。
优选的,所述窗口比较器停止所述MCU发送触发信号时,所述MCU关闭所述定时器,还包括:
根据所述窗口比较器开始向所述MCU发送触发信号到停止向所述MCU发送触发信号之间所述MCU对所述定时器的输出脉冲的计数得出所述瞬态电压波形的持续时间长度。
优选的,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存在第一数据记录区,还包括:
所述MCU按照预设提取周期从所述第一数据记录区提取所述被采样电压的采样值。
优选的,所述MCU按照预设提取周期从所述第一数据记录区提取的被采样电压的采样值,还包括:
所述被MCU提取的被采样电压的采样值与其对应的提取时间合并成一条性能值记录并转存至预设记录位置。
优选的,当所述窗口比较器停止向所述MCU发送触发信号并得出所述瞬态电压波形的持续时间长度时,还包括:
所述MCU提取所述第二数据记录区的被采样电压的采样值并与所述瞬态电压波形的持续时间长度合并成一条故障信息记录转存至预设记录位置。
优选的,当所述窗口比较器停止向所述MCU发送触发信号并得出所述瞬态电压波形的持续时间长度时,还包括:
当按照所述定时器的输出脉冲的计数得出的瞬态电压波形的持续时间长度大于第一预设时间长度或者小于第二预设时间长度时,则不进行对应的所述故障信息记录的合并与转存。
第二方面,一种通信设备供电质量监测装置,所述通信设备供电质量监测装置包括至少一个处理器,以及,与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述处理器执行,用于执行权利要求1-9所述的通信设备供电质量监测方法。
本发明提供一种通信设备供电质量监测与装置,对供电电源质量进行持续监测,对供电环境的电源质量提供日志记录;对供电侧的已发故障,提供后续排查有效数据支持,提升工程可维护性;可作为电压波形观测工具,辅助通信设备远程测试或故障诊断,提升设备智能化水平。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对本发明实施例中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地,下面所描述的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种通信设备供电质量监测方法的电路示意图;
图2是本发明实施例提供的一种通信设备供电质量监测方法的采样周期的周期示意图;
图3是本发明实施例提供的一种通信设备供电质量监测方法的流程示意图;
图4是本发明实施例提供的一种通信设备供电质量监测方法的电路示意图;
图5是本发明实施例提供的一种通信设备供电质量监测方法的电路示意图;
图6是本发明实施例提供的一种通信设备供电质量监测装置的装置示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
在本发明的描述中,术语“内”、“外”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“顶”、“底”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明而不是要求本发明必须以特定的方位构造和操作,因此不应当理解为对本发明的限制。
此外,下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
实施例1:
本发明实施例1提供了一种通信设备供电质量监测方法,具体包括:
将所述通信设备的供电电压作为被采样电压,A/D采样单元以预设采样周期对其进行采样,窗口比较器将所述被采样电压的采样值进行比较;
如图1所示,当所述采样值高于所述窗口比较器的预设高电压门限或者低于所述窗口比较器的预设低电压门限时,则判断所述被采样电压存在瞬态电压波动,将所述采样值进行缓存,并启动定时器进行计数,记录所述瞬态电压波动的时间长度。
所述通信设备电源为-48V,或者所述电源由本领域技术人员根据实际情景自行选择设定;
其中,所述通信设备的配电系统包括电源柜输出端,经列头柜、PDP、通信设备直流电源盘到DC-DC电源模块入口;
所述A/D采样单元将模拟电压信号按照采样周期进行采样并转换为数字信号输出;本发明中所述预设采样周期为10us-20us,或者由本领域技术人员按照实际情况自行设定,不应限制本专利的保护范围;
如图2所示,所述窗口比较器为带有高电压门限与低电压门限的电压比较器,当输入进窗口比较器的电压值低于高电压门限并高于低电压门限时,所述窗口比较器输出不变;当所述输入进窗口比较器的电压值高于高电压门限或者低于低电压门限时,所述窗口比较器输出翻转;本发明中所述预设高电压门限值与所述低电压门限值由本领域技术人员根据实际情况对于触发记录瞬态波形记录的灵敏度需求自行设计;
所述定时器为按照输出周期输出脉冲的计时器,当所述定时器开启时对所述定时器的输出脉冲次数进行计数,将所述输出脉冲次数与输出周期相乘则可以得出开启定时器期间的持续时间从而进行计时;
使用A/D采样单元按照预设采样周期对所述-48V电压进行连续快速的采样,避免使用轮询的方式导致数据上报的及时性与实时性差,从而漏过瞬态电压波动的情况;将所述被采样电压的采样值发送给所述窗口比较器进行比较,在通信设备-48V供电过程中出现瞬态电压波动时,所述被采样电压的采样值会高于所述预设高电压门限或者低于所述预设低电压门限,此时启动所述定时器,对瞬态电压波动的持续时间进行计时,当所述瞬态电压波动结束时,所述被采样电压的采样值恢复正常,会低于所述高电压门限并高于所述低电压门限,此时停止所述定时器,结束对所述瞬态电压波动的持续时间的计时,根据采样得到的采样电压的采样值,结合采样时的时间,便可对通信设备-48V的供电质量进行持续的监测与记录。
因此通过对于通信设备-48V供电的连续采样从而对所述通信设备-48V供电电源质量进行持续的监测,对供电环境的电源质量提供日志记录;而对于通信设备-48V供电过程中的已发生的瞬态电压波动的故障,通过窗口比较器的对供电过程中采集电压的实时比较与定时器的实时计时,可以清晰的提供故障时的监测记录,为后续的故障排查提供有效的数据支持,提升了工程的可维护性;
如图3所示,所述通信设备供电质量监测方法流程如下:
在对所述通信设备-48V的供电时的电压进行采样时,需要对所述采样电压的采样电压进行缓存与处理,才能对所述通信设备-48V的供电质量进行监测与记录,因此本发明还涉及以下优选设计:
步骤301中,所述A/D采样单元对所述通信设备-48V的电压以预设采样周期进行采样;
步骤302中,将所述被采样电压的采样值发送给MCU,所述MCU根据窗口比较器对所述被采样电压的采样值的比较结果将所述被采样电压的采样值进行缓存。
所述MCU为微控制单元,所述A/D采样单元将被采样电压的采样值发送给所述MCU,所述窗口比较器对所述被采样电压的采样值进行比较,所述MCU根据所述窗口比较器的比较结果判断所述被采样电压是否发生瞬态电压波动,并将所述被采样电压的采样值缓存至相应位置,以便后续进行处理。
当通信设备-48V的供电时对于未发生瞬态电压波动的电压与已发生瞬态电压波动的电压需要进行不同的记录与处理,因此需要将所述未发生瞬态电压波动的电压与已发生瞬态电压波动的电压缓存在不同的位置,进而进行不同的记录与处理,因此本发明还涉及以下优选方法:
步骤303中,所述MCU检查所述被采样电压的采样值是否触发所述窗口比较器的高电压门限或者低电压门限;当所述被采样电压的采样值大于所述高电压门限或者小于所述低电压门限时,则触发所述窗口比较器,跳转至步骤305;当所述被采样电压的采样值小于所述高电压门限并且大于所述低电压门限时,则未触发所述窗口比较器,跳转至步骤304;
所述MCU根据窗口比较器对所述被采样电压的采样值的比较结果将所述被采样电压的采样值进行缓存具体包括:
步骤304中,当所述被采样电压的采样值低于所述窗口比较器的预设高电压门限并高于所述窗口比较器的预设低电压门限时,则所述被采样电压未发生瞬态电压波动,所述窗口比较器不向所述MCU发送触发信号,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存在第一数据记录区;
步骤305中,当所述被采样电压的采样值高于所述窗口比较器的预设高电压门限或者低于所述窗口比较器的预设低电压门限时,则所述被采样电压发生瞬态电压波动,所述窗口比较器向所述MCU发送触发信号,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存在第二数据记录区;
当所述被采样电压的采样值经过所述窗口比较器的比较后均发送回所述 MCU,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存至存储器中,所述存储器为RAM 或者根据本领域技术人员自行选择,不应限制本发明的保护范围;所述第一数据记录区仅缓存未发生瞬态电压波动的电压数据,所述第一数据记录区的存储空间为固定容量,当所述第一数据记录区的存储空间达到上限时,最后需要缓存进所述第一数据记录区的被采样电压的采样值根据写入第一数据记录区的先后顺序对所述第一数据记录区内的采样值进行覆盖;所述第二数据记录区仅缓存发生瞬态电压波动的电压数据,当一次瞬态电压波动发生时,所述窗口比较器对所述MCU发送触发信号,其中所述触发信号为中断信号,中断将所述被采样电压的采样值缓存至所述第一数据记录区转而将所述被采样电压的采样值缓存至第二数据记录区,所述当一次瞬态电压波动发生完毕以后,直接将从本轮瞬态电压波动开始到本轮瞬态电压波动结束期间缓存在所述第二数据记录区的采样值进行提取并处理,当处理完毕后对所述第二数据记录区内的缓存数据进行清空,等下次发生瞬态电压波动后再将新的对应的采样电压的采样值缓存至实时第二数据记录区。
当发生瞬态电压波动时,将所述诶采样电压的采样值发送给所述第二数据记录区,同时需要记录所述瞬态电压波动的持续时间,保证对故障的跟进监测与记录,所述定时器对瞬态电压波动的持续时间进行跟进测量,因此本发明还涉及以下优选方法:
当所述被采样电压发生瞬态电压波动时,所述窗口比较器持续向所述MCU 发送触发信号时,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存在第二数据记录区,同时所述MCU启动所述定时器,所述定时器以预设输出周期输出脉冲,所述MCU 对所述定时器的输出脉冲进行计数。
当所述前级采样电路将采样电压的采样值发送给所述A/D采样单元与窗口比较器,所述窗口比较器比较得所述被采样电压的采样值高于所述窗口比较器的预设高电压门限或者低于所述窗口比较器的预设低电压门限时,所述窗口比较器向所述MCU发送触发信号,所述MCU停止将所述被采样电压的采样值缓存至所述第一数据记录区转而将所述被采样电压的采样值缓存至第二数据记录区,同时启动所述定时器,定时器以预设输出周期输出脉冲,其中所述预设输出周期为所述定时器前一次输出脉冲到后一次输出脉冲之间的时间差,所述MCU对所述定时器的输出脉冲进行计数,因此所述计数与所述预设输出周期相乘得出的时间则为所述定时器启动的持续时间,其中,所述预设输出周期由本领域技术人员根据实际情景自行设计,此处不应限制本发明的保护范围。
由于所述定时器用于测量通信设备-48V供电过程中瞬态电压波动的持续时间,因此所述定时器的启动与结束应该与瞬态电压波动的持续时间进行同步,同时开始并且同时结束,保证所述定时器的开启的持续时间就是所述瞬态电压波动的持续时间,因此本发明还涉及以下优选方法:
所述窗口比较器停止向所述MCU发送触发信号时,所述MCU重新将所述被采样电压的采样值缓存在第一数据记录区,同时所述MCU关闭所述定时器,根据所述窗口比较器开始向所述MCU发送触发信号到停止向所述MCU发送触发信号之间所述MCU对所述定时器的输出脉冲的计数得出所述瞬态电压波形的持续时间长度。
当所述被采样电压的采样值重新回复到低于所述窗口比较器的高电压门限并且高于所述窗口比较器的低电压门限的区间中时,则所述瞬态电压波动停止,所述窗口比较器停止向所述MCU发送触发信号,所述MCU随之关闭所述定时器,所述定时器停止输出脉冲,所述MCU停止对所述定时器的输出脉冲的计数,所述MCU根据瞬态电压波动期间所述定时器的输出脉冲的计数,将所述计数值与预设输出周期相乘,得出所述定时器的输出脉冲的持续时间,从而得出所述瞬态电压波形的持续时间。
为了保证所述第一数据记录区的存储空间不超出容量上限达到上限,所述 MCU需要定期从所述第一数据记录区中提取所述被采样电压的采样值,避免随着 A/D采样单元对通信设备-48V供电的电压的采样,所述MCU将被采样电压的采样值进行持续的缓存导致所述第一数据记录区的存储空间达到上限,因此,本发明还存在以下优选方法:
步骤306中,所述MCU按照预设提取周期从所述第一数据记录区提取所述被采样电压的采样值。
其中,所述预设提取周期由本领域技术人员根据实际情景自行设计,主要根据所述第一数据记录区的存储空间来设定,保证在预设提取周期内,所述被采样电压的采样值持续缓存进所述第一数据记录区,所述第一数据记录区的存储空间不会达到上限,将所述第一数据记录区内的被采样电压的采样值提取出并进行处理后,新的被采样电压的采样值根据第一数据记录区内采样值缓存的先后顺进行重复覆盖。
被所述MCU按照预设提取周期从所述第一数据记录区提取的被采样电压的采样值需要进行处理转为检测记录,因此本发明还涉及以下优选方法:
将所述MCU按照预设提取周期从所述第一数据记录区提取的被采样电压的采样值与对应的提取时间合并成一条性能值记录并转存至预设记录位置。
所述预设记录位置为非易失存储器,可以选择FLASH和存储卡,或者所述预设位置的存储器可以根据本领域技术人员根据实际情景自行选择,此处不应限制本发明的保护范围;所述性能值记录为通信设备-48V供电期间未发生故障的正常供电记录。
当所述瞬态电压波动停止时,所述MCU从所述第二数据记录区提取所有在所述瞬态电压波动持续时间内缓存进的被采样电压的采样值,并需要将所述被采样电压的采样值进行处理转为检测记录,因此本发明还涉及以下优选方法:
步骤307中,当所述窗口比较器停止向所述MCU发送触发信号并得出所述瞬态电压波形的持续时间长度时,所述MCU提取所述第二数据记录区的被采样电压的采样值并与所述瞬态电压波形的持续时间长度合并成一条故障信息记录;
步骤308,将所述故障信息记录转存至预设记录位置。
所述MCU将所述瞬态电压波动持续时间内第二数据记录区的所有被采样电压的采样值提取后,将所述被采样电压的采样值与所述定时器的输出脉冲的持续时间长度合并成一条故障信息记录并转存至预设位置,其中所述预设记录位置与所述存放性能值记录的预设记录位置为同一位置,所述预设记录位置为非易失存储器,可以选择FLASH和存储卡,或者所述预设位置的存储器可以根据本领域技术人员根据实际情景自行选择,此处不应限制本发明的保护范围;所述故障信息记录为通信设备-48V供电期间发生瞬态电压波动故障的故障供电记录。
由于当瞬态电压波动持续时间过短时,所述瞬态电压波动对于通信设备的影响可以忽略不计;而当瞬态电压波动持续时间过长时,所述瞬态电压波动会对通信设备造成严重影响,通常此时通信设备已无法维持正常状态;因此对于这两种状态出于节约存储空间减少MCU的资源浪费,本发明还涉及以下优选方法:
当按照所述定时器的输出脉冲的计数得出的瞬态电压波形的持续时间长度大于第一预设时间长度或者小于第二预设时间长度时,则不进行对应的所述故障信息记录的合并与转存。
当瞬态电压波形的持续时间长度大于所述第一预设时间长度时,所述所述瞬态电压波动会对通信设备造成严重影响,通常此时通信设备已无法维持正常状态,所述第一预设时间长度为10s或者根据本领域技术人员根据实际情况自行设计,此处不应限制本发明的保护范围;当瞬态电压波形的持续时间长度小于所述第二预设时间长度时,所述瞬态电压波动对于通信设备的影响可以忽略不计,所述第二预设时间长度为50us或者根据本领域技术人员根据实际情况自行设计,此处不应限制本发明的保护范围;当瞬态电压波形的持续时间长度大于第一预设时间长度或者小于第二预设时间长度时,则不进行对应的故障信息记录的合并,并且不转存至预设记录位置中。
实施例2:
本发明实施例2提供了一种通信设备供电质量监测方法,本实施例2相比实施例1从更为具体的情景来展现本方案的实施流程。
主要部件组成如下:
如图4所示,为窗口比较器示意图;
其中,窗口比较器参数设定如下:
R1=100KΩ,R2=2.49KΩ,R3=2.49KΩ,高电压门限(OV)=0.024*输入电压值,低电压门限(UV)=0.047*输入电压值,通信设备运行电压范围为 40.0~57.6V,窗口比较器的高电压门限为58.5V,窗口比较器的低电压门限为 36.0V,Ref1=0.047*36=1692mV,,Ref2=0.024*58.5=1404mv;
所述Ref1和Ref2由MCU通过软件设定,由D/A输出给所述窗口比较器;由于R1,R2,R3阻值固定,当改变Ref1,Ref2时,高电压门限和低电压门限随之改变;
输入电压在过压和欠压两个门限之间时,所述窗口比较器输出为恒定高电平,当电压有瞬态波动时,所述电压高于高电压门限或者低于低电压门限,窗口比较器输出变为低电平,提供给MCU一个下降沿的中断触发信号;只有瞬态变化的电压重新回到过压和欠压两个电压门限之间时,中断信号消除。
如图5所示,为监测系统示意图
其中,所述监测系统各部分参数设定如下:
R4=100KΩ,R5=2KΩ,-48V电压瞬态波动幅值不超过200V时,能被监测到;
缓冲器使用LM2904运放搭建;
所述A/D采样单元使用16bit的AD7699,采样速率设定为125KSPS,每8us 完成一次采样;
所述MCU使用STM32F429芯片,外接32.768KHz晶振提供RTC实时时钟,外接24MHz晶振用于系统时钟;
所述D/A采样单元采用AD5061,支持0~4.096V输出范围设定;
SDRAM采用166MHz/256MBit 16bit数据接口的SCB33S256160AE;
SPI Flash采用W25Q256JVFIQ/256Mbit;
定时器由MCU内部180MHz系统时钟分频后由软件产生,MCU具备17个定时器,使用32Bit的通用定时器TIM2,最高时钟速率为45MHz,对应每个时钟周期为22.2ns,可以记录95.44S的单个时间长度;TIM2定时器支持4个捕获通道,即可以支持同时处理4个中断信号计时;
数字隔离器采样I2C接口的NSI8100,用于和远程上位机系统隔离通信。
系统工作流程:
系统上电,MCU对D/A输出进行设定,Ref1,Ref2产生输出,对应检测门限为UV36.0V,OV 58.5V;
使能TIM2定时器,输入模式为捕获模式,通过外部引脚中断信号启动;
启动A/D,工作在连续模式,按照每8us一次进行连续采样转换,由SPI总线传输给MCU;
SDRAM每4M字节容量为一个bank,一共有8个bank,A/D每次采样产生2 字节数据,每秒产生244K字节数据;将4个低地址位的bank划分为缓存区A; 4个高地址位的bank划分为缓存区B;两个缓存区域可以缓存持续67S时间长度的采样数据;
MCU内部生成一个周期15S的软件定时器,每次定时器计满15S时,产生溢出中断信号,MCU若未收到窗口比较器输出的中断信号,则对缓存区A中最近一次写入的数据进行提取;提取的采样缓存数据,加上当前的系统时间,打包记录到Flash中;然后MCU对15S的软件定时器进行复位,重新开始计时;在未收到窗口比较器的中断信号之前,A/D采样数据由MCU持续写入缓存区A的 bank0~bank3空间,写满后进行循环覆盖(按照低位到高位);软件定时器可以在0.5S~60S范围内进行修改,对应的采样数据压缩比例也随之进行调整;
当窗口比较器有中断信号产生时,MCU会执行两个操作,一是将A/D数据缓存到缓存区B,即SDRAM的bank4~bank7;同时启动TIM2的定时器1开始计时; TIM2有4个通道可以独立计时,当瞬态波形存在振荡,连续触发OV门限和UV 门限,可以同时使用TIM2的两个通道分别进行计时;
中断信号结束时,MCU将缓存区B的数据提取出来,同时获取系统当前时间,打包后写入Flash;考虑到瞬态波形振荡造成的连续两次触发中断,MCU在提取缓存区B的数据时可以延迟1~10ms再对缓存区B的数据进行提取和缓存区B的清空处理。
提取缓存区B的数据时,MCU还需要对TIM2的通道1计时结果进行提取和判断,对于小于50us和大于10S的数据,按照前述原因,可以忽略,不用记录到flash中;
针对Flash的存储容量使用,在达到90%容量时,MCU会产生容量满的状态提示,提醒用户尽快提取日志;
实施例3:
如图6所示,是本发明实施例的通信设备供电质量监测装置的装置示意图。本实施例的通信设备供电质量监测装置包括一个或多个处理器61以及存储器62。其中,图6中以一个处理器61为例。
处理器61和存储器62可以通过总线或者其他方式连接,图6中以通过总线连接为例。
存储器62作为一种非易失性计算机可读存储介质,可用于存储非易失性软件程序和非易失性计算机可执行程序,如实施例1中的通信设备供电质量监测。处理器61通过运行存储在存储器62中的非易失性软件程序和指令,从而执行通信设备供电质量监测方法。
存储器62可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。在一些实施例中,存储器62可选包括相对于处理器61远程设置的存储器,这些远程存储器可以通过网络连接至处理器61。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
所述程序指令/模块存储在所述存储器62中,当被所述一个或者多个处理器61执行时,执行上述实施例1中的通信设备供电质量监测方法,例如,执行以上描述的图1与图2所示的各个步骤。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种通信设备供电质量监测方法,其特征在于,包括:
将所述通信设备的供电电压作为被采样电压,A/D采样单元以预设采样周期对其进行采样,窗口比较器将所述被采样电压的采样值进行比较;
当所述采样值高于所述窗口比较器的预设高电压门限或者低于所述窗口比较器的预设低电压门限时,则判断所述被采样电压存在瞬态电压波动,将所述采样值进行缓存,并启动定时器进行计数,记录所述瞬态电压波动的时间长度。
2.根据权利要求1所述的通信设备供电质量监测方法,其特征在于,还包括MCU,所述MCU用于获取所述A/D采样单元相连的采样值,所述MCU还用于根据窗口比较器对所述被采样电压的采样值的比较结果,将所述被采样电压的采样值进行指定区域的缓存。
3.根据权利要求2所述的通信设备供电质量监测方法,其特征在于,所述MCU根据窗口比较器对所述被采样电压的采样值的比较结果将所述被采样电压的采样值进行指定区域的缓存具体包括:
当所述被采样电压的采样值低于所述窗口比较器的预设高电压门限并高于所述窗口比较器的预设低电压门限时,则所述被采样电压未发生瞬态电压波动,所述窗口比较器不向所述MCU发送触发信号,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存在第一数据记录区;
当所述被采样电压的采样值高于所述窗口比较器的预设高电压门限或者低于所述窗口比较器的预设低电压门限时,则所述被采样电压发生瞬态电压波动,所述窗口比较器向所述MCU发送触发信号,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存在第二数据记录区。
4.根据权利要求3所述的通信设备供电质量监测方法,其特征在于,所述窗口比较器向所述MCU发送触发信号时,同时所述MCU启动所述定时器,具体包括:
所述定时器以预设输出周期输出脉冲,所述MCU对所述定时器的输出脉冲进行计数。
5.根据权利要求3所述的通信设备供电质量监测方法,其特征在于,所述窗口比较器停止所述MCU发送触发信号时,所述MCU关闭所述定时器,还包括:
根据所述窗口比较器开始向所述MCU发送触发信号到停止向所述MCU发送触发信号之间所述MCU对所述定时器的输出脉冲的计数得出所述瞬态电压波形的持续时间长度。
6.根据权利要求3所述的通信设备供电质量监测方法,其特征在于,所述MCU将所述被采样电压的采样值缓存在第一数据记录区,还包括:
所述MCU按照预设提取周期从所述第一数据记录区提取所述被采样电压的采样值。
7.根据权利要求6所述的通信设备供电质量监测方法,其特征在于,所述MCU按照预设提取周期从所述第一数据记录区提取的被采样电压的采样值,还包括:
所述被MCU提取的被采样电压的采样值与其对应的提取时间合并成一条性能值记录并转存至预设记录位置。
8.根据权利要求5所述的通信设备供电质量监测方法,其特征在于,当所述窗口比较器停止向所述MCU发送触发信号并得出所述瞬态电压波形的持续时间长度时,还包括:
所述MCU提取所述第二数据记录区的被采样电压的采样值并与所述瞬态电压波形的持续时间长度合并成一条故障信息记录转存至预设记录位置。
9.根据权利要求8所述的通信设备供电质量监测方法,其特征在于,当所述窗口比较器停止向所述MCU发送触发信号并得出所述瞬态电压波形的持续时间长度时,还包括:
当按照所述定时器的输出脉冲的计数得出的瞬态电压波形的持续时间长度大于第一预设时间长度或者小于第二预设时间长度时,则不进行对应的所述故障信息记录的合并与转存。
10.一种通信设备供电质量监测装置,其特征在于,通信设备供电质量监测装置包括至少一个处理器,以及,与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令,所述指令被所述处理器执行,用于执行权利要求1-9任一所述的通信设备供电质量监测方法。
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