CN114563162A - 一种光纤激光器输出光斑直径测试装置 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及一种光纤激光器输出光斑直径测试装置，包括：衰减模组、光束分析仪、支架以及计算机，所述衰减模组、所述光束分析仪固定在所述支架上，所述衰减模组靠近所述光束分析仪的一端与所述光束分析仪的进光口同轴设置；所述光束分析仪与所述计算机电连接，所述衰减模组远离所述光束分析仪的一端形成待测光纤激光器的光输入端。本发明的光纤激光器输出光斑直径测试装置，通过设置衰减模组、光束分析仪以及计算机，所述衰减模组远离所述光束分析仪的一端形成待测光纤激光器的光输入端，所述光束分析仪与所述计算机电连接；该装置与目前测试装置相比结构更为简单，省去了分光器等不必要的设备，更易于组装操作。

Description

一种光纤激光器输出光斑直径测试装置
技术领域
本发明涉及激光检测技术领域，特别是涉及一种光纤激光器输出光斑直径测试装置。
背景技术
直接零部件标识技术(Direct Part Marking,DPM)指直接在产品表面标识可被机器识别的代码的一种标识技术，可对零部件进行唯一标识，以实现产品数据的实时准确获取与透明管理。常用的直接零部件标识方法有激光标识、机械针式撞击、化学蚀刻及喷墨喷码等。其中，采用光纤激光器的激光标识技术由于操作方便、灵活、可标识材料范围广、标识质量和精度高、自动化程度高等特点在工业上得到广泛应用。
光纤激光器的输出头规格跟随激光器的工作体制和功率等级各不相同，对大功率连续激光器，主要采用QBH接头，低功率连续激光器，有些采用自带准直的QCS接头，对脉冲激光器多采用准直隔离器接头，对低功率直接半导体激光器经常采用D80接头。无论采用哪种接头规格，激光器输出的光束作用于靶材之前都要经过准直和聚焦过程。准直光斑的尺寸往往会直接影响聚焦光斑的尺寸，进一步影响聚焦功率密度和工艺效果。以脉冲光纤激光器为例，通常采用准直隔离器输出，输出光斑的直径一般在6mm～9mm范围内。
因此，激光器输出光斑直径大小是衡量激光器的关键参数之一，因此光斑直径大小测试成为了激光器制作过程中必不可少的环节。但现有的测量设备都较为复杂，不易操作。
发明内容
本发明的目的是针对现有的测量设备都较为复杂、不易操作的问题，提供一种光纤激光器输出光斑直径测试装置。
本发明采用的技术方案为：一种光纤激光器输出光斑直径测试装置，包括：
衰减模组、光束分析仪、支架以及计算机，所述衰减模组、所述光束分析仪固定在所述支架上，所述衰减模组靠近所述光束分析仪的一端与所述束分析仪的进光口同轴设置；所述光束分析仪与所述计算机电连接，所述衰减模组远离所述光束分析仪的一端形成待测光纤激光器的光输入端。
进一步的，所述衰减模组包括壳体以及若干衰减片，若干所述衰减片固定在所述壳体内，在所述光输入端到所述光束分析仪的方向上，所述衰减片按照透射率从大到小排列。
进一步的，所述壳体包括若干连接件，所述连接件顺次连接，位于首端的所述连接件形成所述光输入端，位于末端的所述连接件与所述光束分析仪对接。
进一步的，所述连接件呈管状，所述连接件的一端的环面上设置有凸环，所述凸环外表面上设有外螺纹，所述连接件的另一端的环面上开设有与所述凸环相匹配的环形槽，所述环形槽的内壁上设置有与所述外螺纹相匹配的内螺纹。
进一步的，所述连接件的内壁上还设置有用于固定所述衰减片的固定槽。
进一步的，所有所述衰减片的衰减比例之积K需要满足以下公式：
Figure BDA0003509302930000021
其中，Pth为所述光束分析仪的芯片光损伤阈值Pth，r为所述光束分析仪接收半径，P为待测激光器的输出功率。
进一步的，所述支架包括底座、支撑杆以及连接管，所述支撑杆一端与所述底座固定，另一端与所述连接管固定，所述连接管一端与所述衰减模组连接，另一端与所述光束分析仪连接。
进一步的，所述连接管呈管状，所述连接管靠近所述衰减模组的一端呈环状，所述连接管靠近所述衰减模组的一端的环面上设置有与所述环形槽相匹配的连接环。
进一步的，所述连接管靠近所述光束分析仪的一端呈环状，所述连接管靠近所述光束分析仪的一端延伸形成固定套筒，所述光束分析仪的接收端能够伸入所述固定套筒内并与所述固定套筒的内壁紧密接触，形成固定。
进一步的，所述光束分析仪的具体型号为索雷博LT665。
本发明的光纤激光器输出光斑直径测试装置，通过设置衰减模组、光束分析仪以及计算机，所述衰减模组远离所述光束分析仪的一端形成待测光纤激光器的光输入端，所述光束分析仪与所述计算机电连接；该装置与目前测试装置相比结构更为简单，省去了分光器等不必要的设备，更易于组装操作。
上述说明仅是本发明技术方案的概述，为了能够更清楚了解本发明的技术手段，并可依照说明书的内容予以实施，以下以本发明的较佳实施例并配合附图详细说明如后。本发明的具体实施方式由以下实施例及其附图详细给出。
附图说明
此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：
图1所示为本发明提供的一种光纤激光器输出光斑直径测试装置的结构示意图；
图2所示为图1中衰减模组的结构示意图；
图3所示为图1中支架的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本发明，并非用于限定本发明的范围。在下列段落中参照附图以举例方式更具体地描述本发明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
需要说明的是，当组件被称为“装设于”另一个组件，它可以直接装设在另一个组件上或者也可以存在居中的组件。当一个组件被认为是“设置于”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。当一个组件被认为是“固定于”另一个组件，它可以是直接固定在另一个组件上或者可能同时存在居中组件。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
实施例1
下面结合附图介绍本发明提供的一种光纤激光器输出光斑直径测试装置；
请参阅图1，为本发明提供的一种光纤激光器输出光斑直径测试装置，其包括：衰减模组1、光束分析仪2、支架3以及计算机4，所述衰减模组1、所述光束分析仪2固定在所述支架3上，所述衰减模组1靠近所述光束分析仪2的一端与所述束分析仪2的进光口同轴设置；所述光束分析仪2与所述计算机4电连接，所述衰减模组1远离所述光束分析仪2的一端形成待测光纤激光器的光输入端。
使用时将待测的光纤激光器的输出端对准所述光输入端，光纤激光器发出的激光经过所述衰减模组1进入所述光束分析仪2内，所述光束分析仪2对激光进行分析，并将结果输送至所述计算机4显示。本发明提供的一种光纤激光器输出光斑直径测试装置，结构简单、易操作。
具体的，请参阅图2，所述衰减模组1包括壳体11以及若干衰减片12，若干所述衰减片12固定在所述壳体11内，并且在所述光输入端到所述光束分析仪2的方向上，所述衰减片12按照透射率从大到小排列。
进一步，所述壳体11包括若干连接件111，所述连接件111顺次连接，位于首端的所述连接件111形成所述光输入端，位于末端的所述连接件111与所述光束分析仪2对接。
具体的，所述连接件111呈管状，所述连接件111的一端的环面上设置有凸环112，所述凸环112外表面上设有外螺纹，所述连接件111的另一端的环面上开设有与所述凸环112相匹配的环形槽113，所述环形槽113内壁上设置有与所述外螺纹相匹配的内螺纹。
所述连接件111的内壁上还设置有用于固定所述衰减片12的固定槽114。
使用时，将每个所述衰减片12分别安装到一个所述连接件111内，将安装有所述衰减片12的所述连接件111按照所述衰减片12的透射率从大到小依次连接。
具体的，所有所述衰减片12的衰减比例之积K需要满足以下公式：
Figure BDA0003509302930000051
其中，Pth为所述光束分析仪2的芯片光损伤阈值Pth(即芯片单位面积上能够承受的最小功率)，r为所述光束分析仪2接收半径，P为待测激光器的输出功率。
具体的，请参阅图3，所述支架3包括底座31、支撑杆32以及连接管33，所述支撑杆32一端与所述底座31固定，另一端与所述连接管33固定，所述连接管33一端与所述衰减模组1连接，另一端与所述光束分析仪2连接。
所述连接管33呈管状，所述连接管33靠近所述衰减模组1的一端呈环状，所述连接管33靠近所述衰减模组1的一端的环面上设置有与所述环形槽113相匹配的连接环331，所述连接环331能够深入所述环形槽113内，与所述环形槽113内壁紧密接触，形成卡合；所述连接管33靠近所述光束分析仪2的一端呈环状，所述连接管33靠近所述光束分析仪2的一端延伸形成固定套筒332，所述光束分析仪2的接收端能够伸入所述固定套筒332内并与所述固定套筒332的内壁紧密接触，形成固定。
在本实施例中，所述光束分析仪2的具体型号为索雷博LT665。
使用时，将所述衰减模组1与所述连接环331对接，形成稳定卡合，将所述光束分析仪2的接收端伸入所述固定套筒332内，形成固定；将所述光束分析仪2与所述计算机4电连接。将待测光纤激光器的输出端对准所述衰减模组1的所述光输入端；待测光纤激光器输出激光，经过所述衰减模组1衰减处理后，被所述光束分析仪2接收并分析，在所述计算机4上显示检测结果。
本发明的光纤激光器输出光斑直径测试装置，通过设置衰减模组1、光束分析仪2以及计算机4，所述衰减模组1远离所述光束分析仪2的一端形成待测光纤激光器的光输入端，所述光束分析仪2与所述计算机4电连接；该装置与目前测试装置相比结构更为简单，省去了分光器等不必要的设备，更易于组装操作。
以上，仅为本发明的较佳实施例而已，并非对本发明作任何形式上的限制；凡本行业的普通技术人员均可按说明书附图所示和以上而顺畅地实施本发明；但是,凡熟悉本专业的技术人员在不脱离本发明技术方案范围内，利用以上所揭示的技术内容而做出的些许更动、修饰与演变的等同变化，均为本发明的等效实施例；同时,凡依据本发明的实质技术对以上实施例所作的任何等同变化的更动、修饰与演变等，均仍属于本发明的技术方案的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，包括：
衰减模组、光束分析仪、支架以及计算机，所述衰减模组、所述光束分析仪固定在所述支架上，所述衰减模组靠近所述光束分析仪的一端与所述束分析仪的进光口同轴设置；所述光束分析仪与所述计算机电连接，所述衰减模组远离所述光束分析仪的一端形成待测光纤激光器的光输入端。
2.如权利要求1所述的光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，
所述衰减模组包括壳体以及若干衰减片，若干所述衰减片固定在所述壳体内，在所述光输入端到所述光束分析仪的方向上，所述衰减片按照透射率从大到小排列。
3.如权利要求2所述的光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，
所述壳体包括若干连接件，所述连接件顺次连接，位于首端的所述连接件形成所述光输入端，位于末端的所述连接件与所述光束分析仪对接。
4.如权利要求3所述的光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，
所述连接件呈管状，所述连接件的一端的环面上设置有凸环，所述凸环外表面上设有外螺纹，所述连接件的另一端的环面上开设有与所述凸环相匹配的环形槽，所述环形槽的内壁上设置有与所述外螺纹相匹配的内螺纹。
5.如权利要求4所述的光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，
所述连接件的内壁上还设置有用于固定所述衰减片的固定槽。
6.如权利要求2所述的光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，
所有所述衰减片的衰减比例之积K需要满足以下公式：
Figure FDA0003509302920000021
其中，Pth为所述光束分析仪的芯片光损伤阈值Pth，r为所述光束分析仪接收半径，P为待测激光器的输出功率。
7.如权利要求4所述的光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，
所述支架包括底座、支撑杆以及连接管，所述支撑杆一端与所述底座固定，另一端与所述连接管固定，所述连接管一端与所述衰减模组连接，另一端与所述光束分析仪连接。
8.如权利要求7所述的光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，
所述连接管呈管状，所述连接管靠近所述衰减模组的一端呈环状，所述连接管靠近所述衰减模组的一端的环面上设置有与所述环形槽相匹配的连接环。
9.如权利要求8所述的光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，
所述连接管靠近所述光束分析仪的一端呈环状，所述连接管靠近所述光束分析仪的一端延伸形成固定套筒，所述光束分析仪的接收端能够伸入所述固定套筒内并与所述固定套筒的内壁紧密接触，形成固定。
10.如权利要求9所述的光纤激光器输出光斑直径测试装置，其特征在于，
所述光束分析仪的具体型号为索雷博LT665。
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