CN114499706B - 一种电子校准系统及端口自动识别方法、存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种电子校准系统及端口自动识别方法、存储介质，其中的电子校准系统包括网络分析仪和电子校准件；网络分析仪的多个射频端口和电子校准件的多个测试端口之间以任意配合进行一一连接，网络分析仪用于根据预设规则自动识别多个射频端口和多个测试端口之间的物理连接关系。技术方案根据预设规则即可自动识别端口之间的物理连接关系，如此能够减少人为干预的影响，避免人为接线错乱导致的端口识别错误的情况发生，提高了网络分析仪校准过程的准确性，而且这种端口自动识别方式还可以扩展到更多端口数量的电子校准系统中。

Description

一种电子校准系统及端口自动识别方法、存储介质

技术领域

本申请涉及网络分析仪的技术领域，具体涉及一种电子校准系统及端口自动识别方法、存储介质。

背景技术

现代网络分析仪已在研究、生产中广泛运用，主要被用于分析各种不一样部件，如材料、电路、设备、系统等。无论是优化模拟电路的规划，还是调试检测电子元器件，网络分析仪都是一种不可缺少的测量仪器。

校准是网络分析仪使用前必不可少的一步，通过校准来消除网络分析仪测量过程中的系统误差，继而提高网络分析仪的测试准确度。针对网络分析仪的校准件分为机械校准件和电子校准件，机械校准件因自动化程度不高、校准时间久、操作易出错而逐渐被电子校准件取代，电子校准件只要连好线就可以完成网络分析仪所有端口所有误差项的校准，相比机械校准件而言具有高测试准确度和高校准效率的优势。

目前，网络分析仪的端口和电子校准件的端口还需要借助多条线缆进行一对一的连接，而且端口连接不能错乱，如果技术人员因操作失误造成端口接线错乱则会导致端口识别错误，严重时引起校准失败的情况发生，这种情况会增大网络分析仪在校准过程中的出错概率。

发明内容

本申请为了克服上述现有技术中遇到的问题，提供一种电子校准系统及端口自动识别方法、存储介质，允许网络分析仪的多个射频端口和电子校准件的多个测试端口之间以任意配合方式进行一一连接，网络分析仪能够自动识别端口之间的物理连接关系，这样可避免人为接线错乱导致的端口识别错误的情况发生，提高网络分析仪校准过程的准确性。

根据第一方面，本申请提供了一种电子校准系统，主要包括网络分析仪和电子校准件；所述网络分析仪包括第一通信端口和多个射频端口，所述电子校准件包括第二通信端口和多个测试端口，所述第一通信端口和所述第二通信端口之间通信连接，所述多个射频端口和所述多个测试端口之间以任意配合进行一一连接；所述网络分析仪用于根据预设规则自动识别所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系。

所述预设规则包括：配置初始的控制命令并通过所述第一通信端口发送到所述第二通信端口，所述初始的控制命令用于控制所述电子校准件的多个测试端口中初始被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；之后，测量获得所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数；配置新的控制命令并通过所述第一通信端口发送到所述第二通信端口，所述新的控制命令用于控制所述电子校准件的多个测试端口中重新被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；之后，再次测量获得所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数；通过分析多次测量获得的散射参数识别所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系。

所述电子校准件还包括开关控制器和开关集成部件 ；所述开关集成部件包括多个接入端，所述多个接入端与所述多个测试端口一一连接；所述开关集成部件用于导通自身任意的两个接入端；所述开关控制器用于通过所述第二通信端口接收所述初始的控制命令，响应于所述初始的控制命令并向所述开关集成部件发送相应的控制信号，使所述开关集成部件中与初始被指定的两个测试端口分别连接的两个接入端之间导通，且使与其余的各测试端口分别连接的各接入端接通到对应的负载；所述开关控制器还用于通过所述第二通信端口接收所述新的控制命令，响应于所述新的控制命令并向所述开关集成部件发送相应的控制信号，使所述开关集成部件中与重新被指定的两个测试端口分别连接的两个接入端之间导通，且使与其余的各测试端口分别连接的各接入端接通到对应的负载。

所述开关集成部件包括开关网络、多个电子开关和多个负载 ；所述开关网络包括控制端和多个公共端，所述多个电子开关均包括控制端、公共端、第一端和第二端；所述多个电子开关的公共端分别作为所述开关集成部件的多个接入端，所述多个电子开关的第一端与所述开关网络的多个公共端一一连接，所述多个电子开关的第二端与所述多个负载一一连接；所述开关网络的控制端、所述多个电子开关的控制端分别与所述开关控制器连接；所述控制信号包括向与初始被指定的两个测试端口分别连接的两个电子开关，或者与重新被指定的两个测试端口分别连接的两个电子开关发送的第一信号，以及包括向与其余的各测试端口分别连接的各电子开关发送的第二信号，和向所述开关网络发送的第三信号；在电子开关的控制端接收到所述第一信号时导通自身的公共端和第一端；在电子开关的控制端接收到所述第二信号时导通自身的公共端和第二端；在所述开关网络的控制端接收到所述第三信号时导通自身的两个公共端，且这两个公共端分别与接收到所述第一信号的那两个电子开关的第一端连接。

所述网络分析仪包括端口识别模块和参数测量模块；所述端口识别模块用于配置所述初始的控制命令和所述新的控制命令，以及用于根据多次测量获得的散射参数识别与每个射频端口连接的测试端口，得到对应的物理连接关系；所述参数测量模块用于每次测量所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数。

所述端口识别模块根据多次测量获得的散射参数识别与每个射频端口连接的测试端口，得到对应的物理连接关系包括：对于初始测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值 进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；依据被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与初始被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系；对于再次测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；依据被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与重新被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系；从判断的可能连接关系中确定与每个射频端口存在唯一连接关系的测试端口，得到每个射频端口和与之连接的测试端口对应的物理连接关系。

所述网络分析仪还包括通道校准模块和多个射频通道，所述多个射频通道分别与所述多个射频端口连接；所述电子校准件还包括存储模块，所述存储模块中存储有所述多个测试端口分别对应的基准参数；所述通道校准模块用于从所述存储模块获取所述基准参数，根据所述基准参数，并结合所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系确定所述多个射频通道分别对应的误差参数，利用所述误差参数对所述多个射频通道分别进行校准。

根据第二方面，本申请提供了一种端口自动识别方法，用于自动识别网络分析仪的多个射频端口和电子校准件的多个测试端口之间的物理连接关系，所述方法包括：配置初始的控制命令，根据所述初始的控制命令控制多个测试端口中初始被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；初始测量获得所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数；配置新的控制命令，根据所述新的控制命令用于控制所述电子校准件的多个测试端口中重新被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；再次测量获得所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数；通过分析多次测量获得的散射参数识别所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系。

所述通过分析多次测量获得的散射参数识别所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系，包括：对于初始测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；依据被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与初始被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系；对于再次测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；通过被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与重新被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系；从判断的可能连接关系中确定与每个射频端口存在唯一连接关系的测试端口，得到每个射频端口和与之连接的测试端口对应的物理连接关系。

所述初始的控制命令中初始被指令的两个测试端口，和所述重新被指定的两个测试端口相比，其中一个测试端口相同。

根据第三方面，本申请提供了一种计算机可读存储介质，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现上述第二方面中所述的方法。

本申请的有益效果是：

上述实施例提供的一种电子校准系统及端口自动识别方法、存储介质，其中的电子校准系统包括网络分析仪和电子校准件；网络分析仪的多个射频端口和电子校准件的多个测试端口之间以任意配合进行一一连接，网络分析仪用于根据预设规则自动识别多个射频端口和多个测试端口之间的物理连接关系。一方面，技术方案由于允许网络分析仪的多个射频端口和电子校准件的多个测试端口之间以任意配合进行一一连接，如此不需要技术人员识记各个端口即可任意连接，增强了端口连线的便捷性，也提高了连线效率；第二方面，技术方案根据预设规则即可自动识别端口之间的物理连接关系，如此能够减少人为干预的影响，避免人为接线错乱导致的端口识别错误的情况发生，提高了网络分析仪校准过程的准确性，而且这种端口自动识别方式还可以扩展到更多端口数量的电子校准系统中。

附图说明

图1为本申请一种实施例中电子校准系统的结构示意图；

图2为本申请一种实施例中电子校准件的结构图；

图3为本申请一种实施例中开关集成部件的电路图；

图4为本申请另一种实施例中开关集成部件的电路图；

图5为本申请又一种实施例中开关集成部件的电路图；

图6为本申请一种实施例中网络分析仪的结构图；

图7为本申请一种实施例中端口自动识别方法的流程图；

图8为本申请另一种实施例中网络分析仪的结构图。

具体实施方式

下面通过具体实施方式结合附图对本申请作进一步详细说明。其中不同实施方式中类似元件采用了相关联的类似的元件标号。在以下的实施方式中，很多细节描述是为了使得本申请能被更好的理解。然而，本领域技术人员可以毫不费力的认识到，其中部分特征在不同情况下是可以省略的，或者可以由其他元件、材料、方法所替代。在某些情况下，本申请相关的一些操作并没有在说明书中显示或者描述，这是为了避免本申请的核心部分被过多的描述所淹没，而对于本领域技术人员而言，详细描述这些相关操作并不是必要的，他们根据说明书中的描述以及本领域的一般技术知识即可完整了解相关操作。

另外，说明书中所描述的特点、操作或者特征可以以任意适当的方式结合形成各种实施方式。同时，方法描述中的各步骤或者动作也可以按照本领域技术人员所能显而易见的方式进行顺序调换或调整。因此，说明书和附图中的各种顺序只是为了清楚描述某一个实施例，并不意味着是必须的顺序，除非另有说明其中某个顺序是必须遵循的。

本文中为部件所编序号本身，例如“第一”、“第二”等，仅用于区分所描述的对象，不具有任何顺序或技术含义。而本申请所说“连接”、“联接”，如无特别说明，均包括直接和间接连接（联接）。

本申请为了提高网络分析仪的校准效率，可允许网络分析仪的多个射频端口和电子校准件的多个测试端口之间任意配合连接，只需要网络分析仪自动识别端口之间的物理连接关系即可，这样就能够保证后续校准操作的顺利进行，以及正确的修改网络分析仪中各射频端口的系统误差。

实施例一、

请参考图1，本实施例中公开 一种电子校准系统，主要包括网络分析仪1和电子校准件2，下面分别说明。

网络分析仪1包括第一通信端口P0和多个射频端口（如附图标记P1、P2、P3、P4）。其中，第一通信端口P0包括但不局限于USB、LAN、RS232、RS485等；其中，每个射频端口可以使用常用的同轴电缆端口。

电子校准件2包括第二通信端口K和多个测试端口（如附图标记A、B、C、D）。其中，第二通信端口K包括但不局限于USB、LAN、RS232、RS485等；其中，每个测试端口可以使用常用的同轴电缆端口。

参见图1，第一通信端口P0和第二通信端口K之间通信连接；多个射频端口和多个测试端口之间以任意配合进行一一连接，比如射频端口P1与测试端口B直接连通，射频端口P2与测试端口C直接连通，射频端口P3与测试端口A直接连通，射频端口P4与测试端口D直接连通。可以理解，图1中仅给出了一种多个射频端口和多个测试端口之间的连接方式，用户还可以选用其它的配合连接方式，只要能够实现一一连接即可，具体的哪个射频端口与哪个测试端口的连接关系不做具体限定，这是为了不让技术人员识记各个端口即可任意连接，目的是增强端口连线的便捷性，提高连线效率。

在本实施例中，由于技术人员不需要识记各个端口，任意配合进行连线即可，所以需要网络分析仪1根据预设规则自动识别多个射频端口和多个测试端口之间的物理连接关系，从而让网络分析仪1自动去识别哪个射频端口与哪个测试端口进行了物理连接。这里的物理连接关系是指某个射频端口与某个测试端口之间的连接关系，比如射频端口P1与测试端口B就是一个明确的物理连接关系。

在本实施例中，网络分析仪1依据的预设规则包括以下环节：

（1）网络分析仪1配置初始的控制命令，并通过第一通信端口P0发送到第二通信端口K，电子校准件2可响应于初始的控制命令而执行一些开关切换的操作。在这里，初始的控制命令用于控制电子校准件2的多个测试端口中初始被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；比如，初始被指定的测试端口A、B直接导通，则测试端口C、D各自接通到对应的负载。在这种情况下，网络分析仪1测量获得多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数；比如，网络分析仪1通过自身的各个射频端口P1、P2、P3、P4分别输出射频信号，从而借助仪器内部的接收机来测量各个射频端口P1、P2、P3、P4上出射信号和反射信号的功率，得到对应的散射参数（即S参数），得到的散射参数可以表示为S21、S31、S41、S32、S42、S43；其中，S21为射频端口P2、P1对应的S参数，S31为射频端口P3、P1对应的S参数，S41为射频端口P4、P1对应的S参数，S32为射频端口P3、P2对应的S参数，S42为射频端口P4、P2对应的S参数，S43为射频端口P4、P3对应的S参数。

（2）网路分析仪1配置新的控制命令，并通过第一通信端口P0发送到第二通信端口K，电子校准件2可响应于初始的控制命令而执行一些开关切换的操作。在这里，新的控制命令用于控制电子校准件2的多个测试端口中重新被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；比如，重新被指定的测试端口A、C直接导通，则测试端口B、D各自接通到对应的负载。在这种情况下，网络分析仪1再次测量获得多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数，得到的散射参数（即S参数）可以表示为S21、S31，S41，S32，S42、S43；当然，也可仅获得与必要射频端口相关的散射参数，比如S31，S41，S32，S42。

（3）网络分析仪1通过分析多次测量获得的散射参数识别多个射频端口和多个测试端口之间的物理连接关系。

需要说明的是，散射参数（即S参数）中有些参数表示的是某两个射频端口在直通下的插损值（可用IL表示），有些参数表示的是某两个射频端口在分别接通负载且非直通下的隔离度（可用ISO表示）。由于直通下的插损值在全频段上会大于-10dB，而非直通下的隔离度在全频段上会小于-70dB，并且这两个数值相差很大，所以可以依据插损值、隔离度的数值大小来判断任意两个射频端口是否通过电子校准件2中被指定的两个测试端口进行直接导通。当然，为了提高数值大小判断的准确性，还可以在-70dB到-10dB的范围内取一个判断门限值Threshold（即预设阈值），比如设置为-30dB以作为判断时的参考条件。

在一个具体实施例中，参见图1和图2，电子校准件2还包括开关控制器21和开关集成部件22。

其中，开关集成部件22包括多个接入端（如附图标记201、202、203、204），多个接入端与多个测试端口一一连接；比如，接入端201与测试端口A连接，接入端202与测试端口B连接，接入端203与测试端口C连接，接入端204与测试端口D连接。这里的开关集成部件22内部集成有一些开关，作用是通过开关转换导通自身任意的两个接入端。

开关控制器21用于通过第二通信端口K接收来自网络分析仪1的初始的控制命令，并且，可以响应于初始的控制命令并向开关集成部件22发送相应的控制信号，依据控制信号使开关集成部件22中与初始被指定的两个测试端口分别连接的两个接入端之间导通，且使与其余的各测试端口分别连接的各接入端接通到对应的负载。

开关控制器21还用于通过第二通信端口K接收来自网络分析仪1的新的控制命令，并且，可以响应于新的控制命令并向开关集成部件22发送相应的控制信号，依据控制信号使开关集成部件22中与重新被指定的两个测试端口分别连接的两个接入端之间导通，且使与其余的各测试端口分别连接的各接入端接通到对应的负载。

比如，若初始的控制命令中指定有两个测试端口A、B导通，则开关控制器21通过向开关集成部件22发送相应的控制信号，使与初始被指定的两个测试端口分别连接的两个接入端201、202之间导通。若新的控制命令中指定有测试端口A、C导通，则开关控制器21通过向开关集成部件22发送相应的控制信号，使与初始被指定的两个测试端口分别连接的两个接入端201、203之间导通。

在一个具体实施例中，参见图1、图2和图3，开关集成部件22包括开关网络221、多个电子开关（如附图标记222、223、224、225）和多个负载（如附图标记226、227、228、229）；开关网络221包括控制端（图3中未标记）和多个公共端（如附图标记e1、e2、e3、e4），多个电子开关均包括控制端（图3中未标记）、公共端a0、第一端a1和第二端a2。

其中，多个电子开关的公共端分别作为开关集成部件22的多个接入端，多个电子开关的第一端与开关网络221的多个公共端一一连接，多个电子开关的第二端与多个负载一一连接。比如，电子开关222的公共端a0作为开关集成部件22的接入端201且连接到测试端口A，第一端a1连接至开关网络221的公共端e1，第二端a2连接至负载226；电子开关223的公共端a0作为开关集成部件22的接入端202且连接到测试端口B，第一端a1连接至开关网络221的公共端e2，第二端a2连接至负载227；电子开关224的公共端a0作为开关集成部件22的接入端203且连接到测试端口C，第一端a1连接至开关网络221的公共端e3，第二端a2连接至负载228；电子开关225的公共端a0作为开关集成部件22的接入端204且连接到测试端口D，第一端a1连接至开关网络221的公共端e4，第二端a2连接至负载229。

需要说明的是，开关网络221可以采用现有技术的开关集成芯片，且能够实现任意两个公共端的导通；每个电子开光可以采用现有技术的单刀双掷类型的开关芯片，且能够实现一端对多端的择一导通；每个负载可以采用负载标准件，比如一定阻值的电阻。

在图3中，开关网络221的控制端、多个电子开关（如222、223、224、225）的控制端分别与开关控制器21连接。

可以理解，开关控制器21向开关集成部件22发送的控制信号包括：向与初始被指定的两个测试端口分别连接的两个电子开关发送的第一信号（或者是向与重新被指定的两个测试端口分别连接的两个电子开关发送的第一信号），以及向与其余的各测试端口分别连接的各电子开关发送的第二信号，和向开关网络发送的第三信号。其中，在某个电子开关的控制端接收到第一信号时导通自身的公共端a0和第一端a1；在某个电子开关的控制端接收到第二信号时导通自身的公共端a0和第二端a2；在开关网络221的控制端接收到第三信号时导通自身的两个公共端，这两个公共端分别与接收到第一信号的那两个电子开关的第一端连接。

比如图1，开关控制器21收到的初始的控制命令中指定两个测试端口A、B导通，则向电子开关222、223均发送第一信号，使电子开关222、223的公共端a0和第一端a1导通；向电子开关224、225均发送第二信号，使电子开关224、225的公共端a0和第二端a2导通；向开关网络221发送第三信号，使开关网络221的公共端e1、e2导通；此时，测试端口A与测试端口B直接连通，测试端口C接通负载228，测试端口D接通负载229。可以理解，开关控制器21收到的新的控制命令中指定两个测试端口A、C导通的原理可以参考初始的控制命令，这里不再进行赘述。

在另一个具体实施例中，为了让电子校准件2实现更多的测试端口转换功能，可以对开关集成部件22中的多个电子开关分别进行改进。参见图2和图4，开关集成部件22中每个电子开关除了具有公共端a0、第一端a1、第二端a2之外，还具有第三端a3和第四端a4；其中，第一端a1连接到开关网络221，第二端a2连接负载，第三端a3连接到短路的标准件（比如接地），第四端a4连接到开路的标准件（比如悬空）。可以理解，每个电子开关可受到开关控制器21的信号控制作用，使公共端a0与第一端a1、第二端a2、第三端a3、第四端a4中的一个导通，从而让与公共端a0连接的测试端口实现不同的测试功能。

在另一个具体实施例中，电子校准件2具有更多的测试端口，如测试端口A、B、C、D、…、N-1、N，那么开关集成部件22除了包括开关网络221，还包括N个电子开关，这些电子开关的公共端分别连接到电子校准件2的测试端口A、B、C、D、…、N-1、N连接。可以理解，若要实现这么多测试端口中的被指定的两个测试端口之间的导通，只需要控制对应的两个电子开关的公共端接通到第一端，以及控制开关网络221导通自身的两个公共端以使这两个电子开关连通即可。

在一个具体实施例中，参见图1和图6，网络分析仪1包括端口识别模块16和参数测量模块17。

其中，端口识别模块16用于配置初始的控制命令和新的控制命令，以及用于根据多次测量获得的散射参数识别与每个射频端口连接的测试端口，得到对应的物理连接关系。端口识别模块16可以是具有数据处理能力的处理器等部件。

其中，参数测量模块17用于每次测量多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数。参数测量模块17可以是具有信号功率测量能力的接收机等部件。需要说明的是，参数测量模块17所实现的功能可以使用现有的技术，也可以是使用未来出现的技术，这里不做具体限定。

在这里，由于端口识别模块16可根据多次测量获得的散射参数识别与每个射频端口连接的测试端口，得到对应的物理连接关系，那么端口识别模块16可具体实现以下操作。

（1）对于初始测量获得的散射参数，端口识别模块16将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；依据被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与初始被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系。

（2）对于再次测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；依据被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与重新被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系。

（3）从判断的可能连接关系中确定与每个射频端口存在唯一连接关系的测试端口，得到每个射频端口和与之连接的测试端口对应的物理连接关系。

比如，网络分析仪1通过配置初始的控制指令来控制电子标准件2中初始被指定的两个测试端口A、B进行导通，那么利用参数测量模块17进行初始测量得到的散射参数有S21、S31、S41、S32、S42、S43，此时可将各个散射参数分别与预设阈值（表示为Threshold，比如-30dB）进行数值比较。若S21 >Threshold，且S31<Threshold，S41<Threshold，S32<Threshold，S42<Threshold，S43<Threshold，则能够判断出射频端口P1、P2之间导通，由于测试端口A、B之间也导通了，所以射频端口P1、P2与测试端口A、B之间存在有可能的连接关系，至于射频端口P1与测试端口A、B中的哪一个进行了物理连接则还需要进一步判断。此外，也可以由此间接判断出射频端口P3、P4与测试端口C、D之间也存在有可能的连接关系。

比如，在射频端口P1、P2与测试端口A、B之间存在有可能的连接关系情况下，网络分析仪1通过配置新的控制指令来控制电子标准件2中新的被指定的两个测试端口A、C进行导通，那么利用参数测量模块17进行再次测量得到的散射参数有S31、S41、S32、S42，此时可将各个散射参数分别与预设阈值（表示为Threshold，比如-30dB）进行数值比较。若S31 >Threshold，且S41 <Threshold，S32<Threshold，S42<Threshold，则能够判断出射频端口P1、P3之间导通，由于测试端口A、C之间也导通了，所以射频端口P1、P3与测试端口A、C之间存在有可能的连接关系。由于射频端口P1、P2与测试端口A、B之间也存在可能的连接关系，所以，此时可以确定射频端口P1与测试端口A之间存在明确的物理连接关系，进一步地，可以确定射频端口P2与测试端口B之间存在物理连接关系，射频端口P3与测试端口C之间存在物理连接关系，射频端口P4与测试端口D之间存在物理连接关系。

在本实施例中，初始的控制命令中初始被指令的两个测试端口，和重新被指定的两个测试端口相比，其中一个测试端口相同。比如，初始被指定的测试端口A、B进行了导通，那么在配置新的控制指令时可让新的被指定的测试端口A、C进行导通，如此能够重点判断测试端口A的连通状态，可增快判断效率。

可以理解，这里进行两次射频端口间的直通配置，即可快速的自动识别出网络分析仪1的多个射频端口和电子校准件2的多个测试端口之间的物理连接关系。这种自动识别的方式能够减少人为干预的影响，避免人为接线错乱导致的端口识别错误的情况发生。

在一个具体实施例中，参见图1、图2和图6，网络分析仪1还包括通道校准模块18和多个射频通道（图6中未示意），其中，多个射频通道分别与多个射频端口P1、P2、P3、P4一一连接。电子校准件2还包括存储模块（图1、图2中未示意），该存储模块中存储有多个测试端口A、B、C、D分别对应的基准参数。

其中，通道校准模块18用于从存储模块获取基准参数，根据获取的基准参数，并结合多个射频端口P1、P2、P3、P4和多个测试端口A、B、C、D之间的物理连接关系确定多个射频通道分别对应的误差参数，利用这些误差参数对多个射频通道分别进行校准。

需要说明的是，网络分析仪1的校准原理可以描述如下：在使用网络分析仪1对待测器件进行测试前，需要对网络分析仪1进行校准，目的是排除掉网络分析仪1和测试线缆夹具引入的系统误差，这里的系统误差主要包含方向性误差、源匹配误差、负载匹配误差、反射跟踪误差、传输跟踪误差等。电子校准件2自身硬件电路中的各个测试端口对应的S参数可以通过外部测试设备（如频谱分析仪）获取并存储到电子校准件2内置的存储模块中，被作为基准参数进行读取。当用电子校准件2对网络分析仪1进行校准时，网络分析仪1获得的数据既包含了电子校准件2自身的基准参数，也包括了各项网络分析仪1中多个射频通道对应的误差数据，网络分析仪1可以依据这些数据计算出各项系统误差的值并存储在网络分析仪1中，如此就完成了网络分析仪1的校准。

由于本申请中利用电子校准件2对网络分析仪1进行校准的过程不是技术改进的重点，所以这里不再对校准过程进行详细说明。如要了解更多的校准实现技术，可以参考专利文献（CN201910532115.8-电子校准件以及校准系统、方法、装置和存储介质）中的技术内容，也可以参考专利文献（CN201310250462.4-一种电子校准件及其校准系统）中的技术内容。

实施例二、

本实施例在基于实施例一中公开的电子校准系统的基础上，公开一种端口自动识别方法，该端口自动识别方法主要在图6中的端口识别模块16上应用。

在本实施例中，利用端口自动识别方法的目的是自动识别网络分析仪1的多个射频端口和电子校准件2的多个测试端口之间的物理连接关系。

在本实施例中，请参考图7，端口自动识别方法包括步骤310-350，下面分别说明。

步骤310，配置初始的控制命令，根据初始的控制命令控制多个测试端口中初始被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载。

步骤320，初始测量获得多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数。

比如图1，通过配置初始的控制指令来控制电子标准件2中被指定的测试端口A、B进行导通，那么进行初始测量得到的散射参数有S21、S31，S41，S32，S42，S43，此时可将各个散射参数分别与预设阈值（表示为Threshold，比如-30dB）进行数值比较。

若S21 >Threshold，且S31<Threshold，S41<Threshold，S32<Threshold，S42<Threshold，S43<Threshold，则能够判断出射频端口P1、P2之间导通，由于测试端口A、B之间也导通了，所以射频端口P1、P2与测试端口A、B之间存在有可能的连接关系，至于射频端口P1与测试端口A、B中的哪一个进行了物理连接则还需要进一步判断。此外，也可以由此间接判断出射频端口P3、P4与测试端口C、D之间也存在有可能的连接关系。

步骤330，配置新的控制命令，根据新的控制命令用于控制电子校准件的多个测试端口中重新被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载。

步骤340，再次测量获得多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数。

比如图1，通过配置新的控制指令来控制电子标准件2中新的被指定的测试端口A、C进行导通，那么进行再次测量得到的散射参数有S31，S41，S32，S42，此时可将各个散射参数分别与预设阈值（表示为Threshold，比如-30dB）进行数值比较。若S31 >Threshold，且S41 <Threshold，S32<Threshold，S42<Threshold，则能够判断出射频端口P1、P3之间导通，由于测试端口A、C之间也导通了，所以射频端口P1、P3与测试端口A、C之间存在有可能的连接关系。

步骤350，通过分析多次测量获得的散射参数识别多个射频端口和多个测试端口之间的物理连接关系。

比如图1，两次射频端口间的直通配置，可知射频端口P1、P2与测试端口A、B之间存在可能的连接关系，射频端口P1、P3与测试端口A、C之间也存在有可能的连接关系，所以，此时可以确定射频端口P1与测试端口A之间存在明确的物理连接关系，进一步地，可以确定射频端口P2与测试端口B之间存在物理连接关系，射频端口P3与测试端口C之间存在物理连接关系，射频端口P4与测试端口D之间存在物理连接关系。

在本实施例中，对于步骤350，由于通过分析多次测量获得的散射参数可识别多个射频端口和多个测试端口之间的物理连接关系，则具体的实现过程表示为：

步骤351，对于初始测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；依据被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与初始被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系。

比如图1，在被指定的测试端口A、B进行导通，初始测量得到的散射参数有S21、S31、S41、S32、S42、S43的情况下，可将各个散射参数分别与预设阈值（表示为Threshold，比如-30dB）进行数值比较。若S21 >Threshold，且S31<Threshold，S41<Threshold，S32<Threshold，S42<Threshold，S43<Threshold，则能够判断出射频端口P1、P2之间导通，由于测试端口A、B之间也导通了，所以射频端口P1、P2与测试端口A、B之间存在有可能的连接关系，至于射频端口P1与测试端口A、B中的哪一个进行了物理连接则还需要进一步判断。此外，也可以由此间接判断出射频端口P3、P4与测试端口C、D之间也存在有可能的连接关系。

步骤352，对于再次测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；通过被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与重新被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系。

比如图1，在新的被指定的测试端口A、C进行导通，再次测量得到的散射参数有S31、S41、S32、S42的情况下，可将各个散射参数分别与预设阈值（表示为Threshold，比如-30dB）进行数值比较。若S31 >Threshold，且S41 <Threshold，S32<Threshold，S42<Threshold，则能够判断出射频端口P1、P3之间导通，由于测试端口A、C之间也导通了，所以射频端口P1、P3与测试端口A、C之间存在有可能的连接关系。

步骤353，从判断的可能连接关系中确定与每个射频端口存在唯一连接关系的测试端口，得到每个射频端口和与之连接的测试端口对应的物理连接关系。

比如图1，通过两次射频端口间的直通配置，可知射频端口P1、P2与测试端口A、B之间存在可能的连接关系，射频端口P1、P3与测试端口A、C之间也存在有可能的连接关系，所以，此时可以确定射频端口P1与测试端口A之间存在明确的物理连接关系，进一步地，可以确定射频端口P2与测试端口B之间存在物理连接关系，射频端口P3与测试端口C之间存在物理连接关系，射频端口P4与测试端口D之间存在物理连接关系。

在本实施例中，初始的控制命令中初始被指令的两个测试端口，和重新被指定的两个测试端口相比，其中一个测试端口相同。

实施例三、

在实施例二中公开的端口自动识别方法的基础上，本实施例中公开一种网络分析仪，该网络分析仪4包括存储器41和处理器42。

在本实施例中，存储器41和处理器42是网络分析仪4的主要部件，当然网络分析仪4还可以包括一些与处理器42连接的其它部件，具体可参考上面的实施例一，这里不再详细说明。

其中，存储器41可作为计算机可读存储介质，这里用于存储程序，该程序可以是实施例二中端口自动识别方法对应的程序代码。

其中，处理器42与存储器41连接，用于执行存储器41中存储的程序以实现上面实施例中公开的端口自动识别方法。需要说明的是，处理器42实现的功能可以参考实施例一中的端口识别模块16，这里不再进行详细说明。

本领域技术人员可以理解，上述实施方式中各种方法的全部或部分功能可以通过硬件的方式实现，也可以通过计算机程序的方式实现。当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：只读存储器、随机存储器、磁盘、光盘、硬盘等，通过计算机执行该程序以实现上述功能。例如，将程序存储在设备的存储器中，当通过处理器执行存储器中程序，即可实现上述全部或部分功能。另外，当上述实施方式中全部或部分功能通过计算机程序的方式实现时，该程序也可以存储在服务器、另一计算机、磁盘、光盘、闪存盘或移动硬盘等存储介质中，通过下载或复制保存到本地设备的存储器中，或对本地设备的系统进行版本更新，当通过处理器执行存储器中的程序时，即可实现上述实施方式中全部或部分功能。

以上应用了具体个例对本申请进行阐述，只是用于帮助理解本申请，并不用以限制本申请。对于本申请所属技术领域的技术人员，依据本申请的思想，还可以做出若干简单推演、变形或替换。

Claims (10)

1.一种电子校准系统，其特征在于，包括网络分析仪和电子校准件；

所述网络分析仪包括第一通信端口和多个射频端口，所述电子校准件包括第二通信端口和多个测试端口，所述第一通信端口和所述第二通信端口之间通信连接，所述多个射频端口和所述多个测试端口之间以任意配合进行一一连接；

所述网络分析仪用于根据预设规则自动识别所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系；

所述预设规则包括：

配置初始的控制命令并通过所述第一通信端口发送到所述第二通信端口，所述初始的控制命令用于控制所述电子校准件的多个测试端口中初始被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；之后，测量获得所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数；

配置新的控制命令并通过所述第一通信端口发送到所述第二通信端口，所述新的控制命令用于控制所述电子校准件的多个测试端口中重新被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；之后，再次测量获得所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数；

通过分析多次测量获得的散射参数识别所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系。

2.如权利要求1所述的电子校准系统，其特征在于，所述电子校准件还包括开关控制器和开关集成部件；

所述开关集成部件包括多个接入端，所述多个接入端与所述多个测试端口一一连接；所述开关集成部件用于导通自身任意的两个接入端；

所述开关控制器用于通过所述第二通信端口接收所述初始的控制命令，响应于所述初始的控制命令并向所述开关集成部件发送相应的控制信号，使所述开关集成部件中与初始被指定的两个测试端口分别连接的两个接入端之间导通，且使与其余的各测试端口分别连接的各接入端接通到对应的负载；

所述开关控制器还用于通过所述第二通信端口接收所述新的控制命令，响应于所述新的控制命令并向所述开关集成部件发送相应的控制信号，使所述开关集成部件中与重新被指定的两个测试端口分别连接的两个接入端之间导通，且使与其余的各测试端口分别连接的各接入端接通到对应的负载。

3.如权利要求2所述的电子校准系统，其特征在于，所述开关集成部件包括开关网络、多个电子开关和多个负载；所述开关网络包括控制端和多个公共端，所述多个电子开关均包括控制端、公共端、第一端和第二端；

所述多个电子开关的公共端分别作为所述开关集成部件的多个接入端，所述多个电子开关的第一端与所述开关网络的多个公共端一一连接，所述多个电子开关的第二端与所述多个负载一一连接；

所述开关网络的控制端、所述多个电子开关的控制端分别与所述开关控制器连接；

所述控制信号包括向与初始被指定的两个测试端口分别连接的两个电子开关，或者与重新被指定的两个测试端口分别连接的两个电子开关发送的第一信号，以及包括向与其余的各测试端口分别连接的各电子开关发送的第二信号，和向所述开关网络发送的第三信号；

在电子开关的控制端接收到所述第一信号时导通自身的公共端和第一端；

在电子开关的控制端接收到所述第二信号时导通自身的公共端和第二端；

在所述开关网络的控制端接收到所述第三信号时导通自身的两个公共端，且这两个公共端分别与接收到所述第一信号的那两个电子开关的第一端连接。

4.如权利要求1-3中任一项所述的电子校准系统，其特征在于，所述网络分析仪包括端口识别模块和参数测量模块；

所述端口识别模块用于配置所述初始的控制命令和所述新的控制命令，以及用于根据多次测量获得的散射参数识别与每个射频端口连接的测试端口，得到对应的物理连接关系；

所述参数测量模块用于每次测量所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数。

5.如权利要求4所述的电子校准系统，其特征在于，所述端口识别模块根据多次测量获得的散射参数识别与每个射频端口连接的测试端口，得到对应的物理连接关系包括：

对于初始测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；依据被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与初始被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系；

对于再次测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；依据被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与重新被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系；

从判断的可能连接关系中确定与每个射频端口存在唯一连接关系的测试端口，得到每个射频端口和与之连接的测试端口对应的物理连接关系。

6.如权利要求5所述的电子校准系统，其特征在于，所述网络分析仪还包括通道校准模块和多个射频通道，所述多个射频通道分别与所述多个射频端口连接；所述电子校准件还包括存储模块，所述存储模块中存储有所述多个测试端口分别对应的基准参数；

所述通道校准模块用于从所述存储模块获取所述基准参数，根据所述基准参数，并结合所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系确定所述多个射频通道分别对应的误差参数，利用所述误差参数对所述多个射频通道分别进行校准。

7.一种端口自动识别方法，其特征在于，用于自动识别网络分析仪的多个射频端口和电子校准件的多个测试端口之间的物理连接关系，所述方法包括：

配置初始的控制命令，根据所述初始的控制命令控制多个测试端口中初始被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；

初始测量获得所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数；

配置新的控制命令，根据所述新的控制命令用于控制所述电子校准件的多个测试端口中重新被指定的两个测试端口直接导通，且其余的各测试端口分别接通到对应的负载；

再次测量获得所述多个射频端口中每两个射频端口对应的散射参数；

通过分析多次测量获得的散射参数识别所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系。

8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，所述通过分析多次测量获得的散射参数识别所述多个射频端口和所述多个测试端口之间的物理连接关系，包括：

对于初始测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；依据被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与初始被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系；

对于再次测量获得的散射参数，将每两个射频端口对应的散射参数与预设阈值进行比较，选择出大于预设阈值的散射参数；通过被选出的散射参数判断被选出的散射参数对应的两个射频端口与重新被指定的两个测试端口之间存在的可能连接关系；

从判断的可能连接关系中确定与每个射频端口存在唯一连接关系的测试端口，得到每个射频端口和与之连接的测试端口对应的物理连接关系。

9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述初始的控制命令中初始被指定 的两个测试端口，和所述重新被指定的两个测试端口相比，其中一个测试端口相同。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述介质上存储有程序，所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求7-9中任一项所述的方法。

Images