CN114487100B - 一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法 - Google Patents

一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法,包括:步骤1)确定探头频谱测试信号中的一次回波S1(t)和二次回波S2(t);步骤2)分别计算其频谱S1(ω)和S2(ω);步骤3)待测超声探头,对平板试块,实测频谱为:S0(ω)=S1 2(ω)/(ωS2(ω));对半圆柱试块,实测频谱为:S0(ω)=S1 2(ω)/S2(ω)。该算法适用于在试块上采用脉冲反射法对探头频谱性能进行测试的情形,可消除试块衰减引起的测试探头中心频率偏小而带宽增加的现象,同时也消除了不同频率声波的声束扩散角不一致带来的频率偏移问题,从而提高探头性能测试的准确性。

Description

一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法
技术领域
本发明涉及超声检测领域,具体涉及一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法。
背景技术
作为超声检测系统的重要组成部分,超声探头是确保检测质量的关键因素之一。但超声探头性能参数受制作工艺影响很大,在长期使用过程中也会发生变化,因此超声探头出厂前必须按照相关国家标准进行型式试验,使用过程中也须每年进行年检,以确保探头性能符合国家规定、其使用结果才具有可信度,不符合规定的探头则产品验收不能通过或不能用于检测。探头频谱性能测试是标定工作的主要部分,根据无损检测国家标准GB/T27664.2:2011《无损检测超声检测设备的性能与检验第2部分:探头》,以及JB-T11731-2013《无损检测超声相控阵探头通用技术条件》、ASTM E2904-17《Standard Practice forCharacterization and Verification of Phased Array Probes》和ISO 22232-2:2020《Non-destructive testing characterization and verification of ultrasonic testequipment Part2:Probes》,在规定试块上采用脉冲反射法测试探头频谱性能。然而,由于试块对声波存在不可忽略的衰减作用,同时,激励脉冲信号属于宽频信号,高频声波的衰减远大于低频,另外,不同频率声波的声束扩散角也不相同,多个因素影响之下,采用试块法测试探头频谱时,试块对声波传播的上述诸多影响通常使得探头的频谱产生偏移和变形,从而频谱测试得到的探头中心频率与实际探头频率不符且带宽结果偏高,形成固有的测试误差,大大降低了测试的准确性。超声探头制作流程复杂、周期长、成本高,若将合格探头判为不合格,则会造成物力的极大浪费;反之,若将不合格探头判为合格,则必然会降低超声检测的可靠性,甚至因漏检缺陷而导致重大事故发生。
发明内容
本发明的目的在解决试块衰减导致的测试可靠性降低的问题,提出一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法。
为了实现上述目的,本发明提出了一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法,采用试块进行频谱测试,测试时,将待测超声纵波探头耦合于试块表面,所述探头输入端连接激励单元、输出端连接形波接收单元,激励单元以负方波激励所述探头,声波经所述试块反射后的回波信号由所述探头接收并输出至所述波形接收单元,所述探头的测试频谱采用如下步骤确定:
步骤1)由所述波形接收单元获取所述反射回波信号中的一次回波S1(t)和二次回波S2(t),S1(t)和S2(t)为所述反射回波信号的时域表达,t为时间;
步骤2)计算一次回波S1(t)和二次回波S2(t)的频谱S1(ω)和S2(ω),即S1(ω)和S2(ω)为所述反射回波信号的频域表达,ω为角频率;
步骤3)计算所述探头的测试频谱,对平板试块,待测超声探头的实测频谱为:S0(ω)=S1 2(ω)/(ωS2(ω));对半圆柱试块,待测超声探头的实测频谱为:S0(ω)=S1 2(ω)/S2(ω)。
进一步的,所述频谱Sn(ω)为信号的幅度频谱,n=1、2,由所述反射回波信号Sn(t)经过傅里叶变换得到。
进一步的,所述方法适用于超声纵波探头的频谱检测,适用于平板状试块或半圆柱状试块作为反射体时的衰减补偿。
理论基础
1、探头频谱性能测试模型
超声纵波探头性能测试过程中,可将探头视为欠阻尼单自由度振动系统,其运动方程为
其中m,rm,K分别是系统的质量、阻尼系数和劲度系数,S(t)为探头测试时的激励信号,t为时间。对于该系统,其响应频谱为
其中ω0为系统固有频率,A0为激励信号幅度,Qm=ω0m/rm为品质因数,为归一化频率,ω为激励信号角频率。
对出厂标称中心频率为fc的待测超声纵波探头,各标准一般采用负方波脉冲信号作为激励源信号,信号脉冲宽度tm=1/2fc,有效频带范围为2fc;所述待测探头放置于试块上受激励而发射信号。各标准规定的试块材料和形状并不相同,试块材料一般为钢、聚苯乙烯或有机玻璃,形状大致可分为两类:一是半圆柱形试块,二是平板试块,试块尺寸一般在规定范围内由测试人员决定。所述待测探头接收经试块传播并反射的回波,若不考虑声波在试块中的衰减对频谱的影响,则回波信号频谱曲线即表征了所述待测探头的频率特性,即待测超声纵波探头的频谱曲线。
根据有关标准,所述待测探头中心频率的计算方法为:对于测量得到的探头频谱曲线,先测其最高点对应频率fm,然后测其幅度下降-6dB时对应的频率fu和fd;现有标准中,中心频率fc计算方法分两类,一类以fu和fd的几何平均值为中心频率fc1,另一类则以fu和fd的算术平均值为中心频率fc2。fu和fd二者差值与中心频率的比值为相对带宽Δf
上述计算方法均未考虑试块衰减等因素的影响。然而,实际上,声波在试块中的衰减是不可忽略的。
第一,频率越高,声波衰减加剧,激励超声探头发出声波有较宽的频带,在试块中传播时,高频部分衰减大,低频部分衰减小,接收到的回波频谱与原激励信号相比,其中心频率必然向左偏移,即向低频部分偏移。
第二,根据公式(3),信号带宽Δf与系统中的阻尼成正比,系统阻尼包括两部分,一部分为探头本身阻尼rp,另一部分为试块阻尼rw,即
rm=rp+rw (4)
若试块阻尼远小于探头阻尼,则有rm≈rp,测试所得带宽也约等于探头实际带宽。若试块阻尼较大,不能忽略,则测试所得带宽必然大于探头实际带宽。
第三,还要考虑探头声束扩散的影响,因为激励声波是宽带的,而不同频率声波的声束扩散角是不同的,频率越高,扩散角越小。若忽略衰减,经过同样的传播距离后,高频声波的幅度大于低频声波。
若采用平板试块,根据声学原理,此时探头接收到的反射波信号幅度为
其中A1为探头接收到的反射波信号幅度,A0为激励信号幅度,Fs为探头面积,λ为试块中波长,c为试块中波速,d为试块厚度。由于高频声波指向性更好,因此对平板试块测试结果,若不考虑衰减,则探头接收到的声波高频部分更强,且其与频率成线性关系。也就是说,此时测试所得中心频率应该高于实际探头频率。
若采用半圆形试块,则声束扩散的影响可以忽略。
由此,GB/T 27664.2:2011中给出公式(3)所述的中心频率和带宽计算方法,并未考虑上述三方面的影响,使得测试得到的中心频率与实际中心频率不符合,而测试得到的带宽高于实际带宽。对于产品验收测试或实际检测使用前的标定测试,若测试结果不符合规定参数范围,探头应验收不予通过或不能现场检测使用。根据理论分析,按现有标准方法测试,其结果必然与探头实际参数不符,超声探头成本为数千元甚至数万元,若将合格探头判为不合格,则会造成物力的极大浪费;反之,若将不合格探头判为合格,则必然会降低超声检测的可靠性,甚至因漏检缺陷而导致重大事故发生。
2、补偿方法
设所述待测探头受激励源激励的发射信号为S0(ω),试块衰减系数为β(ω),试块上、下表面反射系数为C,且与声波频率无关,则一次反射回波S1(ω)和二次反射回波S2(ω)分别为
其中C1=Fs/4πcd,Fs为待测超声探头面积,c为试块中波速,d为试块厚度,C1为一常数,且与频率无关。由公式(5),可得待测超声探头的发射信号为
由于C和C1为与声波频率无关的常数,实际计算过程中可不考虑其影响,不会改变测试结果。由此,激励超声探头发射信号频谱可由一次回波频谱的平方除以二次回波频谱,即可消除试块衰减的影响。
对平板试块,须再除以对应频率以补偿声束扩散,得到所述待测探头的实测频谱:
S0(ω)=S1 2(ω)/(ωS2(ω)) (8.1)
若采用半圆形试块,则无需对声束扩散进行补偿,则实测频谱为
S0(ω)=S1 2(ω)/S2(ω) (8.2)
公式(8.1)和(8.2)通过一次和二次回波之间的关系推导得出探头发射信号的原始波形,从而消除了声波在试块中传播时引起的中心频率偏移和带宽增加,另外公式(8.1)还通过频率归一化消除了平板试块中声束扩散的影响,从而得到更准确的测试结果,而且计算步骤简洁,便于推广应用。
本发明的有益效果:本发明在理论模型的基础上,考虑了试块衰减对测试结果的影响,消除了测试试块引起的探头频谱测试时中心频率偏移且带宽增加的现象,从而提高探头频谱测试的准确性,降低误判率,并具有算法简便,易于操作和推广的优点。
附图说明
图1为待测超声探头在平板试块上测试得到的时域信号;
图2为待测超声探头在平板试块上测试得到的一次回波和二次回波频谱;
图3为经过本发明所述补偿后的待测超声探头的实测频谱。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明的技术方案进行详细说明。
下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细的说明。
本发明是为解决脉冲反射法探头频谱测试中试块衰减带来中心频率偏移和带宽增大的问题,而提出的一种补偿方法。
以标称中心频率为10MHz,直径为3mm的新的未使用过的出厂纵波探头为例,采用脉冲反射法进行探头频率测试。采用脉冲发生器(型号CTS-8077PR),发射波形为负方波,激励电压为300V,根据所测探头的标称中心频率fc选择脉冲宽度tm=1/2fc。试块为平板试块,尺寸为100×100×10mm,材料为聚苯乙烯。待测超声探头与试块之间采用机油耦合,回波信号采用示波器TEK DPO3032接收,利用MATLAB对信号进行处理,根据GB/T 27664.2-2011标准计算待测超声探头的中心频率和带宽。
图1即为测试所得信号波形,图中标出了一次回波和二次回波位置,由于衰减影响,二次回波幅度远小于一次回波。
根据理论分析,声波在试块中受到的衰减作用越大,则中心频率偏移越大,测试所得带宽也越宽。对于同一探头在同一试块上测试的信号,由第二次反射回波计算所得的中心频率必然小于第一次反射回波中心频率,同理,由第二次反射回波计算所得的带宽必然大于第一次反射回波带宽。
图2即为图1中一次回波和二次回波信号经过傅里叶变化计算所得的频谱,其一次回波频谱的峰值频率fm为8.21MHz,二次回波的峰值频率fm为6.82MHz,根据公式(3),按照几何平均值计算获得一次回波的中心频率为7.38MHz,带宽为91%,二次回波的中心频率为5.98MHz,带宽为95%,即声波在试块中多经历一次反射,受介质衰减作用更强,使得中心频率降低,而带宽升高,与之前理论分析和实验结果符合。
图3为根据探头一次回波和二次回波频谱代入公式(8.1)计算得到的经补偿后的所述待测探头的发射信号频谱,其峰值频率为9.41MHz,与标称中心频率差别较小,在该补偿后的频谱的基础上,获取峰值频率为9.41MHz对应幅度下降-6dB时对应的频率fu和fd,再根据公式(3)计算在中心频率和带宽分别为7.87MHz和85%。出厂标称,是指探头制作厂家在探头出厂时对探头进行检测测试后标注的探头性能参数,该探头出厂检测采用6mm聚苯乙烯试块,得到10(±0.5)MHz的中心频率结果。而由于其出厂测试条件与年检标准中要求不一致,声波衰减情况也不一致。因此采用GB/T 27664.2-2011规定的试块,探头频谱复验结果与出厂标称值相差甚远,将误判为不合格;而采用本发明所述补偿方法,考虑了试块衰减对测试结果的影响,消除了测试试块引起的探头频谱测试时中心频率偏移且带宽增加的现象,从而提高探头频谱测试的准确性,降低误判率。
以下分别说明中心频率和带宽测试偏差对实际检测应用的不良后果。
中心频率测试偏差的影响
对于超声探头,其探头近场区长度N、半扩散角θ、Φ2平底孔与同距离大平底面回波高度之差P是进行检测工艺设计、缺陷尺寸判别的关键依据,均通过中心频率计算,若探头实际中心频率为fc,频谱测试所得中心频率为fcm,则得到的上述参数偏差分别为
以本实施例中所述探头为例,其实际中心频率(采用本发明所述方法补偿后得到)为fc=7.87MHz,未补偿前测得中心频率为fcm=7.38MHz,则其近场区长度、半扩散角、Φ2平底孔与同距离大平底面回波高度之差的偏差分别为6.3%,6.6%,和6.6%。特别是Φ2平底孔与同距离大平底面回波高度之差,直接关系到缺陷尺寸的判别,6.6%偏差对回波幅度、缺陷定位均造成检测偏差,已达到不可忽略的程度。
带宽测试偏差的影响
由于带宽直接关系到探头分辨率这一重要性能,因此是探头性能设计和考核的关键指标,一般要求不低于某一设计值。根据理论分析,若探头测试时不进行衰减补偿,则测试得到的带宽Δfm必将大于探头实际带宽Δf,即很有可能将不合格探头标定为合格。以本实施例中探头为例,若其设计要求带宽为90%,则在不进行补偿情况下,测得其带宽为91%,是合格的,然而其实际带宽为85%,并未达到设计要求。实际测试中,采用有机玻璃试块时衰减更大,由此带来的带宽测试误差更明显,因此更容易对探头性能形成误判。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法,采用试块进行频谱测试,测试时,将待测超声探头耦合于试块表面,所述探头输入端连接激励单元、输出端连接波形接收单元,激励单元以负方波激励所述探头,声波经所述试块反射后的反射回波信号由所述探头接收并输出至所述波形接收单元,其特征在于,所述探头的测试频谱采用如下步骤确定:
步骤1)由所述波形接收单元获取所述反射回波信号中的一次回波S1(t)和二次回波S2(t),S1(t)和S2(t)为所述反射回波信号的时域表达,t为时间;
步骤2)计算一次回波S1(t)和二次回波S2(t)的频谱S1(ω)和S2(ω),即S1(ω)和S2(ω)为所述反射回波信号的频域表达,ω为角频率,
S1(ω)=C1ωS0(ω)Ce-2β(ω)ωd
其中,S0(ω)为所述待测超声探头受激励源激励的发射信号,β(ω)为试块衰减系数,C为试块上、下表面反射系数,C1=Fs/4πcd,Fs为待测超声探头面积,c为试块中波速,d为试块厚度,C1为一常数,且C1与频率无关;
步骤3)计算所述探头的测试频谱,对平板状试块,待测超声探头的实测频谱为:S0(ω)=S1 2(ω)/(ωS2(ω));对半圆柱状试块,待测超声探头的实测频谱为:S0(ω)=S1 2(ω)/S2(ω)。
2.根据权利要求1所述的一种超声探头频谱测试的频谱偏移补偿方法,其特征在于,所述频谱S1(ω)和S2(ω)为信号的幅度频谱,分别由所述一次回波S2(t)和二次回波S2(t)经过傅里叶变换得到。
3.根据权利要求1或2所述的一种超声探头频谱测试的频谱偏
移补偿方法,其特征在于,所述方法适用于超声纵波探头的频谱检测,
适用于平板状试块或半圆柱状试块作为反射体时的衰减补偿。
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