CN114460443A - 一种虚拟化自动测试设备的系统、测试方法及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种虚拟化自动测试设备的系统、测试方法及存储介质，该系统包括：自动测试设备和硬件资源控制器，自动测试设备包括多个测试头，每个测试头连接至少一个测试站点，每个测试站点连接一个被测设备；硬件资源控制器连接自动测试设备，测试程序控制硬件资源控制器获取自动测试设备的测试时间，当测试时间小于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。通过实施本发明，当测试一个测试站点上的被测设备时，另一个测试站点可以重新加载，实现了在处理程序索引时间内进行测试；同时通过测试程序的调用实现了在多个测试站点和被测设备之间的切换，实现了多路复用测试。即通过对处理程序索引时间的利用，提高了测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及自动测试设备技术领域，具体涉及一种虚拟化自动测试设备的系统、测试方法及存储介质。
背景技术
自动测试设备(Automatic Test Equipment，ATE)通常与机械处理器耦合。机械处理器将被测设备(Device Under Test，DUT)放置在测试头上进行测试，一旦测试完成就移除DUT，以替换为另一个被测设备进行测试。机械处理器移除和更换DUT所需的时间称为处理程序索引时间。在处理程序索引时间期间，自动测试设备空闲。
但是由于自动测试设备存在处理程序索引时间，且在该处理程序索引时间内，自动测试设备没有进行有效利用，导致现有的自动测试设备测试效率较低。
发明内容
有鉴于此，本发明实施例提供了涉及一种虚拟化自动测试设备的系统、测试方法及存储介质，以解决现有技术中自动测试设备测试效率较低的技术问题。
本发明提出的技术方案如下：
本发明实施例第一方面提供一种虚拟化自动测试设备的系统，该系统包括：自动测试设备和硬件资源控制器，所述自动测试设备包括多个测试头，每个测试头连接至少一个测试站点，每个测试站点连接一个被测设备；所述硬件资源控制器连接所述自动测试设备，测试程序控制所述硬件资源控制器获取所述自动测试设备的测试时间，当测试时间小于等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。
结合本发明实施例第一方面，在第一方面第一实施方式中，所述自动测试设备还包括：测量仪器，所述测量仪器连接所述自动测试设备中的测试头，所述测试程序通过所述硬件资源控制器控制自动测试设备中的测量仪器进行多路复用测试。
结合本发明实施例第一方面第一实施方式，在第一方面第二实施方式中，所述测试程序控制所述硬件资源控制器将测试调制文件下载到所述自动测试设备的测量仪器中，所述测量仪器存储每个测试头对应测试调制文件的通道地址。
结合本发明实施例第一方面第二实施方式，在第一方面第三实施方式中，所述自动测试设备还包括：硬件驱动器，所述硬件驱动器连接在所述硬件资源控制器和所述测量仪器之间。
结合本发明实施例第一方面，在第一方面第四实施方式中，该虚拟化自动测试设备的系统还包括：测试处理器，所述测试处理器用于将被测设备物理的移入和移出测试站点。
结合本发明实施例第一方面第二实施方式，在第一方面第五实施方式中，所述测试程序通过所述硬件资源控制器控制自动测试设备进行多路复用测试，包括：所述测试程序控制所述硬件资源控制器访问所述测量仪器中存储的通道地址，控制所述测量仪器在一个测试站点的处理程序索引时间，根据另一个测试站点的测试调制文件对相应的被测设备进行测试。
结合本发明实施例第一方面第一实施方式，在第一方面第六实施方式中，所述测量仪器包括：矢量信号发生器或矢量信号分析仪。
结合本发明实施例第一方面，在第一方面第七实施方式中，所述自动测试设备包括：一个测试头和与所述测试头连接的两个测试站点，当测试时间等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。
本发明实施例第二方面提供一种虚拟化自动测试设备的测试方法，所述测试方法本发明实施例第一方面及第一方面任一项所述的虚拟化自动测试设备的系统，所述测试方法包括：获取所述自动测试设备的测试时间；判断所述自动测试设备的测试时间和处理程序索引时间的大小；当所述测试时间小于等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。
结合本发明实施例第二方面，在第二方面第一实施方式中，当所述测试时间小于等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试，包括：控制所述硬件资源控制器调用测试程序访问测量仪器中存储的通道地址；通过所述硬件资源控制器控制所述测量仪器在一个测试站点的处理程序索引时间，根据另一个测试站点的测试调制文件对相应的被测设备进行测试。
本发明实施例第三方面提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如本发明实施例第一方面及第一方面任一项所述的虚拟化自动测试设备的系统。
本发明提供的技术方案，具有如下效果：
本发明实施例提供的虚拟化自动测试设备的系统、测试方法及存储介质，通过在自动测试设备上设置多个测试头，每个测试头设置至少一个测试站点，这样，当测试一个测试站点上的被测设备时，另一个测试站点可以进行重新加载，实现了在处理程序索引时间内进行测试；同时设置硬件资源控制器和测试程序，通过测试程序的调用实现了在多个测试站点和被测设备之间的切换，即实现了多路复用测试。由此，该虚拟化自动测试设备的系统，通过对处理程序索引时间的利用，提高了自动测试设备的效率。
附图说明
为了更清楚地说明本发明具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是根据本发明实施例的虚拟化自动测试设备的系统的结构框图；
图2是根据本发明实施例的虚拟化自动测试设备的测试方法流程图；
图3是根据本发明实施例的虚拟化自动测试设备的测试方法的时间分配示意图；
图4是根据本发明另一实施例的虚拟化自动测试设备的测试方法的时间分配示意图；
图5是根据本发明实施例提供的计算机可读存储介质的结构示意图；
图6是根据本发明实施例提供的虚拟化自动测试设备的系统中硬件资源控制器的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明实施例提供一种虚拟化自动测试设备的系统，如图1所示，该系统包括：自动测试设备10和硬件资源控制器30，所述自动测试设备10包括多个测试头，每个测试头连接至少一个测试站点，每个测试站点连接一个被测设备；所述硬件资源控制器30连接所述自动测试设备10，测试程序80控制所述硬件资源控制器获取所述自动测试设备10的测试时间，当测试时间小于等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备10进行多路复用测试。其中，图1所示为设置两个测试头即第一测试头11和第二测试头12，每个测试头连接两个测试站点，共包括第一测试站点21、第二测试站点22、第三测试站点23以及第四测试站点24。具体地，第一测试头11和第二测试头12中可以进行不同类型的测试。
在一实施方式中，每个测试站点上连接一个被测设备，由此，包括连接第一测试头11的第一被测设备71和第二被测设备72；以及连接第二测试头12的第一被测设备71以及第二被测设备72。其中，连接第一测试头11的第一被测设备71和第二被测设备72可以是WIFI设备，连接第二测试头12的第一被测设备71以及第二被测设备72可以是蓝牙设备。此外，这些被测设备也可以是其他设备，本发明实施例对此不做限定。测试头可以是自动测试设备中的电气或机械夹具，测试站点为测试头伸出来的连接器，测试头接收自动测试设备内的测试信号，并通过测试站点将其路由到被测设备。
在一实施方式中，所述自动测试设备包括：一个测试头和与所述测试头连接的两个测试站点。此时，当自动测试设备包括一个测试头和两个测试站点时，控制自动测试设备进行多路复用测试时，其测试时间可以等于处理程序索引时间时。
对于硬件资源控制器，其可以是由软件构成。即硬件资源控制器是一个软件组件。该硬件资源控制器在工作时，由测试程序控制，由此通过测试程序控制一个硬件资源控制器即可实现对多个被测设备的测试。
本发明实施例提供的虚拟化自动测试设备的系统，通过在自动测试设备上设置多个测试头，每个测试头设置至少一个测试站点，这样，当测试一个测试站点上的被测设备时，另一个测试站点可以进行重新加载，实现了在处理程序索引时间内进行测试；同时设置硬件资源控制器和测试程序，通过测试程序的调用实现了在多个测试站点和被测设备之间的切换，即实现了多路复用测试。由此，该虚拟化自动测试设备的系统，通过对处理程序索引时间的利用，提高了自动测试设备的效率。
作为本发明实施例一种可选的实施方式，如图1所示，所述自动测试设备还包括：测量仪器50，所述测量仪器50连接所述自动测试设备中的测试头，所述测试程序通过所述硬件资源控制器控制自动测试设备中的测量仪器50进行多路复用测试。其中，所述测量仪器50中存储有测试调制文件。当检测到测量仪器50中不存在测试调制文件时，所述测试程序控制所述硬件资源控制器将测试调制文件下载到所述自动测试设备的测量仪器50中。
具体地，该测试调制文件可以是波形调制文件，波形调制文件中包含无线通信信号波形的数字表示。此外，测试调制文件也可以是测试参数文件。在测量仪器对被测设备进行测试时，可以基于其存储的测试调制文件，向被测设备注入参考激励进行测试。其中，测量仪器可以是电气或射频测试测量仪器，例如，测量仪器为矢量信号发生器(VectorSignal Generator，VSG)或矢量信号分析仪(Vector Signal Analyser)。此外，被测设备可以是半导体微芯片，通过自动测试设备对被测设备的测试，能够对被测设备的电压输出、电流输出以及无线信号输出等方面进行测试。
在一实施方式中，所述测量仪器存储每个测试头对应测试调制文件的通道地址。具体地，目前的测量仪器一次只能在一个测试头上测试一个被测设备。通过在测量仪器中存储每个测试头对应测试调制文件的通道地址，在测试时，由所述测试程序控制硬件资源控制器访问相应的地址可以实现对多个测试设备的切换测试。由此，可以通过硬件资源控制器在测试程序和测量仪器之间建立多个连接，通过每个连接能够测试对应的一个测试站点上的被测设备。
作为本发明实施例一种可选的实施方式，如图1所示，所述自动测试设备还包括：硬件驱动器40，所述硬件驱动器40连接在所述硬件资源控制器30和所述测量仪器50之间。该虚拟化自动测试设备的系统还包括：测试处理器，所述测试处理器用于将被测设备物理的移入和移出测试站点。其中，移入测试站点是将被测设备连接到对应的测试站点上，移出测试站点是断开被测设备和对应测试站点之间的连接。具体地，如图1所示，当具有两个测试头时，测试处理器也包括两个，即第一测试处理器61以及第二测试处理器62。
具体地，在测试开始之前，将每个测试头的测试站点上连接被测设备。当测试时间小于等于处理程序索引时间时，测试程序控制所述硬件资源控制器访问所述测量仪器中存储的通道地址，控制所述测量仪器在一个测试站点的处理程序索引时间，根据另一个测试站点的测试调制文件对相应的被测设备进行测试。例如，该自动测试设备有两个测试站点，当采用自动测试设备测试第一个测试站点时，在这个时间内(处理程序索引时间)，可以通过测试处理器实现另一个测试站点和被测设备的连接。
本发明实施例还提供一种虚拟化自动测试设备的测试方法，所述测试方法应用于上述实施例所述的虚拟化自动测试设备的系统，所述测试方法由上述测试程序实现，如图2所示，所述测试方法包括：
步骤S101：控制硬件资源控制器获取所述自动测试设备的测试时间。具体地，可以由测试程序控制硬件资源控制器获取测试时间，从而进行多路复用测试。
步骤S102：判断所述自动测试设备的测试时间和处理程序索引时间的大小。具体地，在采用该自动测试设备测试被测设备时，可以先通过测试处理器将被测设备先连接到测试站点上，然后通过测试仪器对被测设备进行测试，从而获取自动测试设备的测试时间以及处理程序索引时间。此外，还可以通过获取相应类型被测设备的历史数据，获取相应被测设备的测试时间以及处理程序索引时间。
在获取到被测设备的测试时间与处理程序索引时间之后，可以将二者进行对比，判断是否满足增加吞吐量条件(即测试时间是否小于等于处理程序索引时间)。
步骤S103：当所述测试时间小于等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。具体地，当测试时间小于等于处理程序索引时间时，说明可以在处理程序索引时间内完成一个被测设备的测试。因此，当测试时间小于等于处理程序索引时间时，可以进行多路复用测试。
在一实施方式中，在进行多路复用测试时，可以由测试程序控制所述硬件资源控制器访问测量仪器中存储的通道地址；控制所述测量仪器在一个测试站点的处理程序索引时间，根据另一个测试站点的测试调制文件对相应的被测设备进行测试。
具体地，若上述虚拟化自动测试设备的系统包括两个测试头，每个测试头连接两个测试站点。当采用该测试方法进行测试时，在测试开始之前，先将4个被测设备分别物理连接到4个测试站点上，并确认测试时间小于等于处理程序索引时间。然后采用测试处理器实现第一个测试站点和第一个被测设备的信号连接，通过测试程序控制所述硬件资源控制器访问测量仪器中存储的通道地址，根据该通道地址控制测量仪调用相应的测试调制文件对第一个被测设备进行测试；如图3所示，在该测试时间内，采用测试处理器实现第二个测试站点和第二个被测设备的信号连接；然后在第一个被测设备测试完成之后，可以直接进行第二个被测设备的测试；同理，在第二个被测设备测试时，还可以进行第三个被测设备的信号连接；由此，根据上述步骤，最终实现四个被测设备的测试。
如图4所示，该虚拟化自动测试设备的系统可以包括单个测试头和两个测试站点，此时测试过程与上述两个测试头的测试过程类似，在此不再赘述。需要说明的是，此时该测试时间可以等于处理程序索引时间。
在采用上述测试方式进行虚拟化自动测试设备的测试时，由于测试和信号连接过程是同步进行的，由此，实现了虚拟化自动测试设备的高效测试。
本发明实施例提供的虚拟化自动测试设备的测试方法，通过采用上述虚拟化自动测试设备的系统，在自动测试设备上设置多个测试头，每个测试头设置至少一个测试站点，这样，当测试一个测试站点上的被测设备时，另一个测试站点可以进行重新加载，实现了在处理程序索引时间内进行测试；同时通过测试程序的调用实现了在多个测试站点和被测设备之间的切换，即实现了多路复用测试。由此，该虚拟化自动测试设备的测试方法，通过对处理程序索引时间的利用，提高了自动测试设备的效率。
本发明实施例提供的虚拟化自动测试设备的测试方法的功能描述详细参见上述实施例中虚拟化自动测试设备的系统描述。
本发明实施例还提供一种存储介质，如图5所示，其上存储有计算机程序601，该指令被处理器执行时实现上述实施例中虚拟化自动测试设备的系统的步骤。该存储介质上还存储有音视频流数据，特征帧数据、交互请求信令、加密数据以及预设数据大小等。其中，存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read－Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random Access Memory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid－State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
本领域技术人员可以理解，实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read－Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid－State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。
本发明实施例提供的虚拟化自动测试设备的系统中测试程序可以存储在一个电子设备中，该电子设备可以包括处理器51和存储器52，其中处理器51和存储器52可以通过总线或者其他方式连接，图6中以通过总线连接为例。
处理器51可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器51还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。
存储器52作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本发明实施例中的对应的程序指令/模块。处理器51通过运行存储在存储器52中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施例中的虚拟化自动测试设备的系统。
存储器52可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作装置、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器51所创建的数据等。此外，存储器52可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施例中，存储器52可选包括相对于处理器51远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器51。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。
所述一个或者多个模块存储在所述存储器52中，当被所述处理器51执行时，执行如图2所示实施例中的虚拟化自动测试设备的测试方法。
上述硬件资源控制器具体细节可以对应参阅图2所示的实施例中对应的相关描述和效果进行理解，此处不再赘述。
虽然结合附图描述了本发明的实施例，但是本领域技术人员可以在不脱离本发明的精神和范围的情况下做出各种修改和变型，这样的修改和变型均落入由所附权利要求所限定的范围之内。
Claims (10)
1.一种虚拟化自动测试设备的系统，其特征在于，包括：自动测试设备和硬件资源控制器，
所述自动测试设备包括多个测试头，每个测试头连接至少一个测试站点，每个测试站点连接一个被测设备；
所述硬件资源控制器连接所述自动测试设备，测试程序控制所述硬件资源控制器获取所述自动测试设备的测试时间，当测试时间小于等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。
2.根据权利要求1所述的虚拟化自动测试设备的系统，其特征在于，所述自动测试设备还包括：测量仪器，所述测量仪器连接所述自动测试设备中的测试头，所述测试程序通过所述硬件资源控制器控制自动测试设备中的测量仪器进行多路复用测试。
3.根据权利要求2所述的虚拟化自动测试设备的系统，其特征在于，所述测试程序控制所述硬件资源控制器将测试调制文件下载到所述自动测试设备的测量仪器中，所述测量仪器存储每个测试头对应测试调制文件的通道地址。
4.根据权利要求3所述的虚拟化自动测试设备的系统，其特征在于，所述自动测试设备还包括：硬件驱动器，所述硬件驱动器连接在所述硬件资源控制器和所述测量仪器之间。
5.根据权利要求1所述的虚拟化自动测试设备的系统，其特征在于，还包括：测试处理器，所述测试处理器用于将被测设备物理的移入和移出测试站点。
6.根据权利要求3所述的虚拟化自动测试设备的系统，其特征在于，所述测试程序通过所述硬件资源控制器控制自动测试设备进行多路复用测试，包括：
所述测试程序控制所述硬件资源控制器访问所述测量仪器中存储的通道地址，控制所述测量仪器在一个测试站点的处理程序索引时间，根据另一个测试站点的测试调制文件对相应的被测设备进行测试。
7.根据权利要求2所述的虚拟化自动测试设备的系统，其特征在于，所述测量仪器包括：矢量信号发生器或矢量信号分析仪。
8.根据权利要求1所述的虚拟化自动测试设备的系统，其特征在于，所述自动测试设备包括：一个测试头和与所述测试头连接的两个测试站点，当测试时间等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。
9.一种虚拟化自动测试设备的测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于权利要求1－8任一项所述的虚拟化自动测试设备的系统，所述测试方法包括：
控制硬件资源控制器获取所述自动测试设备的测试时间；
判断所述自动测试设备的测试时间和处理程序索引时间的大小；
当所述测试时间小于等于处理程序索引时间时，控制自动测试设备进行多路复用测试。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使所述计算机执行如权利要求1－8任一项所述的虚拟化自动测试设备的测试方法。
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2022
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