CN114460441A - 芯片的校正方法、装置及存储介质 - Google Patents

芯片的校正方法、装置及存储介质 Download PDF

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Abstract

本申请实施例公开了一种芯片的校正方法、装置及存储介质,涉及测试领域。本申请通过通用的测试装置实现对目标芯片输出的模拟信号进行校正,不需要借助专用的校正设备或仪器,可以降低校正的硬件成本,同时整个校正过程不需要人工的参与,可以实现自动化的校正以提高校正效率。

Description

芯片的校正方法、装置及存储介质
技术领域
本申请涉及测试领域,尤其涉及一种芯片的校正方法、装置及存储介质及。
背景技术
芯片在生产测试过程中,发现实际测得芯片的模拟信号的参数值与理想的性能参数差异很大,极大降低了芯片的产品质量,因此需要对芯片进行模拟信号的校正,现有条件下校正芯片的模拟信号通常需要借助价格昂贵的设备来完成,该校正方案是需要大量的专业仪器、成本高、对测试人员的专业要求高、以及测试繁琐效率低下。
发明内容
本申请实施例提供了芯片的校正方法、装置及存储介质,可以解决现有技术中芯片的校正成本高和测试效率较低的问题。所述技术方案如下:
第一方面,本申请实施例提供了一种芯片的校正方法,所述方法包括:
向目标芯片发送第一控制信号;其中,所述第一控制信号携带端口ID,所述控制指令用于指示所述目标芯片打开所述端口ID指示的信号端口,以及通过所述信号端口输出模拟信号;
接收来自所述目标芯片响应于所述第一控制信号返回的第一确认信号时,确定成功输出所述模拟信号;
向通道选择开关发送第二控制信号;其中,所述第二控制信号用于指示所述通道选择开关开启所述信号端口对应的信号通道,所述信号通道中设置有模数转换器,所述模数转换器将所述模拟信号转换为数字信号;
接收来自所述通道选择开关响应于所述第二控制信号返回的第二确认信号时,确定所述信号通道成功开启;
通过所述信号通道接收所述数字信号;
将所述数字信号的参数值和预设的参考值进行对所述目标芯片进行校正。
第二方面,本申请实施例提供了一种芯片的校正装置,所述装置包括:
收发单元,用于向目标芯片发送第一控制信号;其中,所述第一控制信号携带端口ID,所述控制指令用于指示所述目标芯片打开所述端口ID指示的信号端口,以及通过所述信号端口输出模拟信号;
确定单元,用于接收来自所述目标芯片响应于所述第一控制信号返回的第一确认信号时,确定成功输出所述模拟信号;
所述收发单元,还用于向通道选择开关发送第二控制信号;其中,所述第二控制信号用于指示所述通道选择开关开启所述信号端口对应的信号通道,所述信号通道中设置有模数转换器,所述模数转换器将所述模拟信号转换为数字信号;
所述确定单元,还用于接收来自所述通道选择开关响应于所述第二控制信号返回的第二确认信号时,确定所述信号通道成功开启;
所述收发单元,还用于通过所述信号通道接收所述数字信号;
校正单元,用于将所述数字信号的参数值和预设的参考值进行对所述目标芯片进行校正。
第三方面,本申请实施例提供一种计算机存储介质,所述计算机存储介质存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行上述的方法步骤。
第四方面,本申请实施例提供一种校正装置,可包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行上述的方法步骤。
本申请一些实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括:
在需要对目标芯片的模拟信号进行校正时,指示目标芯片通过指定的信号端口输入模拟信号,以及指示通道选择开关打开信号端口对应的信号通道,以使目标芯片输出的模拟信号通过信号通道发送给模数转换器,模数转换器将模拟信号进行模数转换得到数字信号,将数字信号发送给测试装置,测试装置根据数字信号的参数值和预设的参数值进行校正,本申请通过通用的测试装置实现对目标芯片输出的模拟信号进行校正,不需要借助专用的校正设备或仪器,可以降低校正的硬件成本,同时整个校正过程不需要人工的参与,可以实现自动化的校正以提高校正效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1是本申请实施例提供的系统架构示意图;
图2是本申请实施例提供的芯片的校正方法的流程示意图;
图3是本申请提供的一种芯片的校正装置的结构示意图;
图4是本申请提供的一种校正装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请实施例方式作进一步地详细描述。
需要说明的是,本申请提供的芯片的校正方法一般由校正装置执行,相应的,芯片的校正装置一般设置于校正装置中。
图1示出了可以应用于本申请的芯片的校正方法或芯片的校正装置的示例性系统架构。
如图1所示,系统架构可以包括:校正装置1、目标芯片2、通道选择开关3和模数转换器4。
其中,上述装置的连接关系为:校正装置1的第一控制端口与所述目标芯片3的控制端口相连,校正装置1的第二控制端口与通道选择开关2的控制端口相连,目标芯片3设置有3个信号端口,分别用于输出不同类型的模拟信号:电压信号、电流信号和频率信号,通道选择开关2的3个输入端口分别和3个信号端口呈一对一的连接关系,通道选择开关2的输出端口通过模数转换器4与校正装置1的信号端口相连。由此可见,目标芯片3和校正装置1之间设置有3个信号通道,分别用于传输电压信号、电流信号和频率信号,通道选择开关3控制各个信号通道的开启或闭合,各个信号通道共用一个模数转换器4,以降低硬件成本。进一步的目标芯片3的数量可以为多个,可以采用并行的方式同时对多个目标芯片进行测试,提高测试效率。信号通道的数量也可以根据测试项目的要求进行增加或减少,本申请不作限制。
其中,上述各个装置之间可以采用有线通信链路或无线通信链路进行通信,有线通信链路包括光纤、双绞线或同轴电缆等,无线通信链路包括蓝牙通信链路、无线保真(WIreless-FIdelity,Wi-Fi)通信链路或微波通信链路等。
其中,校正装置1可以是具有显示屏的各种计算机设备,包括但不限于智能手机、平板电脑、膝上型便携式计算机和台式计算机等等。
应理解,图1中的目标芯片、目标芯片的信号端口的数量、通道选择开关的数量仅是示意性的。根据实现需要,可以是任意数量。
下面将结合附图2,对本申请实施例提供的芯片的校正方法进行详细介绍。其中,本申请实施例中的芯片的校正装置可以是图1所示的校正装置。
请参见图2,为本申请实施例提供了一种芯片的校正方法的流程示意图。如图2所示,本申请实施例的所述方法可以包括以下步骤:
S201、向目标芯片发送第一控制信号。
其中,第一控制信号携带端口ID,目标芯片通过控制端口接收到第一控制信号,解析第一控制信号得到端口ID。目标芯片设置有多个信号端口,不同的信号端口用于输出不同类型的模拟信号,目标芯片打开端口ID指示的信号端口,然后通过信号端口输出模拟信号。可选的,校正装置和目标芯片之间可以通过SPI(Serial Peripheral Interface,串行外设接口)协议进行通信。
例如:参见图1所示,目标芯片设置有3个信号端口,分别为端口ID分别为信号端口1、信号端口2和信号端口3,信号端口1用于输出电压信号,信号端口2用于输出电流信号,信号端口3用于输出频率信号。目标芯片解析第一控制信号得到端口ID指示信号端口1,那么目标信号在信号端口1中输出电压信号。
S202、接收来自目标芯片响应于第一控制信号返回的第一确认信号时,确定成功输出模拟信号。
其中,目标芯片基于第一控制信号的指示生成相应的模拟信号,在成功在相应的信号端口输出模拟信号时,目标芯片向校正装置返回第一确认信号,校正装置在预设时长内接收到第一确认信号时,确定模拟信号成功输出,例如:预设时长为1秒。
S203、向通道选择开关发送第二控制信号。
其中,校正装置在接收到来自目标芯片的第一确认信号时,向通道选择开关发送第二控制信号,第二控制信号携带信号通道的ID或S201中的端口ID,通道选择开关解析第二控制信号后开启对应的信号通道,信号通道中设置有模数转换器,模数转换器将模拟信号转换为数字信号。可选的,测试装置可以与URAT协议与通道选择开关进行通信。
举例来说,根据S201中的例子,校正装置向通道选择开关发送的第二控制信号携带信号端口1的端口ID,通道选择开关解析第二控制信号确定需要开启信号通道1,通道选择开关为单刀多掷开关,通道选择开关开启信号通道1的开关,将来自目标芯片的电压信号传输给模数转换器,模数转换器将该电压信号进行模数转换得到数字信号。
进一步的,为了提高模数转换器的精度,校正装置在上电后,对模数转换器进行校正得到偏移量,该偏移量表示模数转换器的理想输出和实际输出之间的偏移,校正的方法可以是,在上电后,控制通道选择开关保持所有的信号通道处于关闭状态,这样模数转换器4的输入为零电压,然后校正装置获取此时模数转换器的输出电压,该输出电压的数值即为偏移量,利用该偏移量对模数转换器进行校正。
S204、接收来自通道选择开关响应于第二控制信号返回的第二确认信号时,确定信号通道成功开启。
其中,通道选择开关在响应第二控制信号,成功开启对应的信号通道后,向校正装置返回第二确认信号,校正装置接收到第二确认信号后确定对应的信号通道成功开启。
在一个或多个可能的实施例中,测试装置在预设时长内未接收到来自通道选择开关的第二确认信号时,测试装置进行告警提示,例如:测试装置通过显示单元显示告警消息,告警消息包括告警类型和告警内容。
S205、通过信号通道接收数字信号。
S206、将数字信号的参数值和预设的参考值进行比较得到校准结果,以及存储校准结果。
其中,参数值包括但不限于电压值、电流值、相位值或频率值等,测试装置预配置有各个类型的模拟信号关联的参考值,将数字信号的参数值和关联的参考值进行比较得到差值,若差值不在预设范围内时,表明需要对该模拟信号进行校正,校正的方法可以是基于比例积分或比例微分或其他方法,将校正量发送给目标信号进行校正,校正后再次执行本申请的S201~S206的步骤,直到满足差值位于预设范围内。
例如:不同类型的模拟信号关联有不同的参考值,例如:电压信号、电流信号和频率信号关联的参考值可能各不相同。例如:数字信号为电压信号转换而来的,获取数字信号的幅度值,以及获取该电压信号关联的参考值,若幅度值和参考值之间的差值在预设范围内浮动时,表明目标芯片的电压信号测试通过,否则目标芯片的电压信号测试不通过,此时校正装置根据给差值计算校正量,可以基于比例积分调节方法或比例微分调节方法计算差值对应的校正量,然后指示目标芯片根据校正量对输出的模拟信号进行校正,以使目标芯片输出的模拟信号满足上述的判断条件。
需要说明的是,校正装置可以对目标芯片进行不同测试项目的校正,除了上述的电压信号的校正,还可以是电流信号或频率信号的校正。一个测试项目的校正次数可以为多次,在满足最大校正次数后停止校正,避免耗费较多的校正时间。
本申请的实施例在需要对目标芯片的模拟信号进行校正时,指示目标芯片通过指定的信号端口输入模拟信号,以及指示通道选择开关打开信号端口对应的信号通道,以使目标芯片输出的模拟信号通过信号通道发送给模数转换器,模数转换器将模拟信号进行模数转换得到数字信号,将数字信号发送给测试装置,测试装置根据数字信号的参数值和预设的参数值进行校正,本申请通过通用的测试装置实现对目标芯片输出的模拟信号进行校正,不需要借助专用的校正设备或仪器,可以降低校正的硬件成本,同时整个校正过程不需要人工的参与,可以实现自动化的校正以提高校正效率。
下述为本申请装置实施例,可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节,请参照本申请方法实施例。
请参见图3,其示出了本申请一个示例性实施例提供的芯片的校正装置的结构示意图,以下简称装置3。该装置3可以通过软件、硬件或者两者的结合实现成为校正装置的全部或一部分。装置3包括:收发单元301、确定单元302、校正单元304。
收发单元301,用于向目标芯片发送第一控制信号;其中,所述第一控制信号携带端口ID,所述控制指令用于指示所述目标芯片打开所述端口ID指示的信号端口,以及通过所述信号端口输出模拟信号;
确定单元302,用于接收来自所述目标芯片响应于所述第一控制信号返回的第一确认信号时,确定成功输出所述模拟信号;
所述收发单元301,还用于向通道选择开关发送第二控制信号;其中,所述第二控制信号用于指示所述通道选择开关开启所述信号端口对应的信号通道,所述信号通道中设置有模数转换器,所述模数转换器将所述模拟信号转换为数字信号;
所述确定单元302,还用于接收来自所述通道选择开关响应于所述第二控制信号返回的第二确认信号时,确定所述信号通道成功开启;
所述收发单元301,还用于通过所述信号通道接收所述数字信号;
校正单元303,用于将所述数字信号的参数值和预设的参考值进行对所述目标芯片进行校正。
在一个或多个可能的实施例中,通过SPI接口向目标芯片发送第一开启指令。
在一个或多个可能的实施例中,通过URAT接口向通道选择开关发送第二开启指令。
在一个或多个可能的实施例中,所述目标芯片设置有3个信号端口,分别用于输出电压信号、电流信号和频率信号。
在一个或多个可能的实施例中,校正单元,还用于检测到上电后,测量所述模数转换器的偏移量,利用所述偏移量对所述模数转换器进行校正。
在一个或多个可能的实施例中,还包括:
告警单元,用于若在预设时长内未接收到来自所述通道选择开关的第二确认指令,进行告警提示。
在一个或多个可能的实施例中,所述将所述数字信号的参数值和预设的参考值进行比较得到校准结果,以及存储所述校准结果,包括:
若所述数字信号的参数值和所述预设的参考值之间的差值不位于预设范围内时,根据所述差值对所述目标芯片输出的模拟信号进行校正。
需要说明的是,上述实施例提供的装置3在执行芯片的校正方法时,仅以上述各功能模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块完成,即将设备的内部结构划分成不同的功能模块,以完成上述的全部或者部分功能。另外,上述实施例提供的芯片的校正装置与芯片的校正方法实施例属于同一构思,其体现实现过程详见方法实施例,这里不再赘述。
上述本申请实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
本申请实施例还提供了一种计算机存储介质,所述计算机存储介质可以存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行如上述图2所示实施例的方法步骤,具体执行过程可以参见图2所示实施例的具体说明,在此不进行赘述。
本申请还提供了一种计算机程序产品,该计算机程序产品存储有至少一条指令,所述至少一条指令由所述处理器加载并执行以实现如上各个实施例所述的芯片的校正方法。
请参见图4,为本申请实施例提供了一种校正装置的结构示意图。如图4所示,所述校正装置500可以包括:至少一个处理器501,至少一个网络接口504,用户接口503,存储器505,至少一个通信总线502。
其中,通信总线502用于实现这些组件之间的连接通信。
其中,用户接口503可以包括显示屏(Display)、摄像头(Camera),可选用户接口503还可以包括标准的有线接口、无线接口。
其中,网络接口504可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如WI-FI接口)。
其中,处理器501可以包括一个或者多个处理核心。处理器501利用各种接口和线路连接整个校正装置500内的各个部分,通过运行或执行存储在存储器505内的指令、程序、代码集或指令集,以及调用存储在存储器505内的数据,执行终端500的各种功能和处理数据。可选的,处理器501可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing,DSP)、现场可编程门阵列(Field-Programmable GateArray,FPGA)、可编程逻辑阵列(ProgrammableLogic Array,PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器501可集成中央处理器(CentralProcessing Unit,CPU)、图像处理器(Graphics Processing Unit,GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中,CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等;GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制;调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是,上述调制解调器也可以不集成到处理器501中,单独通过一块芯片进行实现。
其中,存储器505可以包括随机存储器(RandomAccess Memory,RAM),也可以包括只读存储器(Read-Only Memory)。可选的,该存储器505包括非瞬时性计算机可读介质(non-transitory computer-readable storage medium)。存储器505可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器505可包括存储程序区和存储数据区,其中,存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等;存储数据区可存储上面各个方法实施例中涉及到的数据等。存储器505可选的还可以是至少一个位于远离前述处理器501的存储装置。如图4所示,作为一种计算机存储介质的存储器505中可以包括操作系统、网络通信模块、用户接口模块以及应用程序。
在图4所示的校正装置500中,用户接口503主要用于为用户提供输入的接口,获取用户输入的数据;而处理器501可以用于调用存储器505中存储的应用程序,并具体执行如图2所示的方法,具体过程可参照图2所示,此处不再赘述。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中,该程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,所述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体或随机存储记忆体等。
以上所揭露的仅为本申请较佳实施例而已,当然不能以此来限定本申请之权利范围,因此依本申请权利要求所作的等同变化,仍属本申请所涵盖的范围。

Claims (10)

1.一种芯片的校正方法,其特征在于,包括:
向目标芯片发送第一控制信号;其中,所述第一控制信号携带端口ID,所述控制指令用于指示所述目标芯片打开所述端口ID指示的信号端口,以及通过所述信号端口输出模拟信号;
接收来自所述目标芯片响应于所述第一控制信号返回的第一确认信号时,确定成功输出所述模拟信号;
向通道选择开关发送第二控制信号;其中,所述第二控制信号用于指示所述通道选择开关开启所述信号端口对应的信号通道,所述信号通道中设置有模数转换器,所述模数转换器将所述模拟信号转换为数字信号;
接收来自所述通道选择开关响应于所述第二控制信号返回的第二确认信号时,确定所述信号通道成功开启;
通过所述信号通道接收所述数字信号;
将所述数字信号的参数值和预设的参考值进行对所述目标芯片进行校正。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过SPI接口向目标芯片发送第一开启指令。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,通过URAT接口向通道选择开关发送第二开启指令。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述目标芯片设置有3个信号端口,分别用于输出电压信号、电流信号和频率信号。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述向目标芯片发送第一控制信号之前,还包括:
检测到上电后,测量所述模数转换器的偏移量,利用所述偏移量对所述模数转换器进行校正。
6.根据权利要求1或5所述的方法,其特征在于,还包括:
若在预设时长内未接收到来自所述通道选择开关的第二确认指令,进行告警提示。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述将所述数字信号的参数值和预设的参考值进行比较得到校准结果,以及存储所述校准结果,包括:
若所述数字信号的参数值和所述预设的参考值之间的差值不位于预设范围内时,根据所述差值对所述目标芯片输出的模拟信号进行校正。
8.一种芯片的校正装置,其特征在于,包括:
收发单元,用于向目标芯片发送第一控制信号;其中,所述第一控制信号携带端口ID,所述控制指令用于指示所述目标芯片打开所述端口ID指示的信号端口,以及通过所述信号端口输出模拟信号;
确定单元,用于接收来自所述目标芯片响应于所述第一控制信号返回的第一确认信号时,确定成功输出所述模拟信号;
所述收发单元,还用于向通道选择开关发送第二控制信号;其中,所述第二控制信号用于指示所述通道选择开关开启所述信号端口对应的信号通道,所述信号通道中设置有模数转换器,所述模数转换器将所述模拟信号转换为数字信号;
所述确定单元,还用于接收来自所述通道选择开关响应于所述第二控制信号返回的第二确认信号时,确定所述信号通道成功开启;
所述收发单元,还用于通过所述信号通道接收所述数字信号;
校正单元,用于将所述数字信号的参数值和预设的参考值进行对所述目标芯片进行校正。
9.一种计算机存储介质,其特征在于,所述计算机存储介质存储有多条指令,所述指令适于由处理器加载并执行如权利要求1~7任意一项的方法步骤。
10.一种校正装置,其特征在于,包括:处理器和存储器;其中,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序适于由所述处理器加载并执行如权利要求1~7任意一项的方法步骤。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115242256A (zh) * 2022-07-21 2022-10-25 珠海泰芯半导体有限公司 Iq通道的校正方法、电子设备和计算机存储介质
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