CN114459359A - 一种基于弧形水冷的成像检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种基于弧形水冷的成像检测方法,测量待测弧面的弧长与弧度,根据测得的数据构建检测面及配合检测面的检测装置框架,在检测面上密集均匀配置检测光源,并设置配合的光量检测传感器和高清照相机,架设水冷通道,将检测面同轴套设在待测弧面外,启动检测光源,随后检测装置框架带动检测面沿待测弧面同轴方向旋转,随着检测面的旋转,光量检测传感器和高清照相机同步启动,在旋转过程中利用高清照相机检测待测弧面是否存在可见瑕疵,利用光量检测传感器检测是否存在不可见瑕疵,本发明的优点在于采用密集均匀配置的检测光源,亮度高,发光均匀,采用水冷结构散热,温度均衡,散热效果极佳,采用半圆形发光面,发光角度大,范围广。
Description
技术领域
本发明涉及光成像检测领域,具体地说,是一种基于弧形水冷的成像检测方法。
背景技术
电子产品因其对精密度的要求,各部件的制造都需要配置相匹配的检测流程,传统的视觉检测、面阵扫描检测和线阵扫描检测一般只能适配平面元器件的检测,而对于部分表面为弧面的元器件及装配部件,对其弧形表面的加工精度要求较高,因此也需要为其配置适配弧面检测的成像检测方法。
发明内容
发明目的:本发明目的在于针对现有技术的不足,提供一种基于弧形水冷的成像检测方法。
技术方案:本发明所述一种基于弧形水冷的成像检测方法,包括以下步骤:
S1、测量待测弧面的弧长与弧度,根据测得的数据构建检测面及配合检测面的检测装置框架;
S2、在检测面上密集均匀配置检测光源,检测面的上下两端均架设有与检测光源配合的光量检测传感器和高清照相机,并在检测装置框架内架设配合检测光源的水冷通道;
S3、将检测面同轴套设在待测弧面外,启动检测光源,随后检测装置框架带动检测面沿待测弧面同轴方向旋转;
S4、随着检测面的旋转,光量检测传感器和高清照相机同步启动;
S5、在旋转过程中,高清照相机对待测弧面被照亮部分进行持续摄像并在目视范围内检测待测弧面是否存在可见瑕疵,同时光量检测传感器同步检测待测弧面反射光量;
S6、当光量检测传感器测得待测弧面反射光量有变量时则说明待测弧面表面存在不可见瑕疵。
作为优选的,S2中在检测面上配置的检测光源包括若干道密集均匀排布且垂直于检测面上下边沿的LED灯带。
作为优选的,所述检测面上均距设置有若干根与LED灯带平行的激光射灯带。
作为优选的,所述激光射灯带设有三根。
作为优选的,S2中,水冷通道紧贴检测面的内壁设置。
作为优选的,S2中,检测面上设置有连接检测光源的温控保护开关。
本发明相比于现有技术具有以下有益效果:采用密集均匀配置的检测光源,亮度高,发光均匀,采用水冷结构散热,温度均衡,散热效果极佳,采用半圆形发光面,发光角度大,范围广。
具体实施方式
下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,也可以是成一体;可以是机械连接,也可以是电连接,也可以是通讯连接;可以是直接连接,也可以通过中间媒介的间接连接,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
下面以具体地实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合,对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
实施例:一种基于弧形水冷的成像检测方法,包括以下步骤:
S1、测量待测弧面的弧长与弧度,根据测得的数据构建检测面及配合检测面的检测装置框架;
S2、在检测面上设置若干道密集均匀排布且垂直于检测面上下边沿的LED灯带并均距设置有三根与LED灯带平行的激光射灯带,检测面的上下两端均架设有与检测光源配合的光量检测传感器和高清照相机,并在检测装置框架内架设配合检测光源且紧贴检测面内壁设置的水冷通道,检测面上设置有连接检测光源的温控保护开关;
S3、将检测面同轴套设在待测弧面外,启动检测光源,随后检测装置框架带动检测面沿待测弧面同轴方向旋转;
S4、随着检测面的旋转,光量检测传感器和高清照相机同步启动;
S5、在旋转过程中,高清照相机对待测弧面被照亮部分进行持续摄像并在目视范围内检测待测弧面是否存在可见瑕疵,同时光量检测传感器同步检测待测弧面反射光量;
S6、当光量检测传感器测得待测弧面反射光量有变量时则说明待测弧面表面存在不可见瑕疵。
这一技术方案的优点在于采用密集均匀配置的高亮度LED灯带,亮度高,发光均匀,采用水冷结构散热,温度均衡,散热效果极佳,采用半圆形发光面,发光角度大,范围广,采用光量检测传感器和高清照相机配合可以对待测弧面的可见瑕疵和不可见瑕疵的检测,配置与LED灯带配合的激光射灯带,当出现较明显瑕疵时反射的激光光斑会出现明显移位,便于观测。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一特征和第二特征直接接触,或第一特征和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可以是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度低于第二特征。在本说明书的描述中,参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”或“一些示例”等的描述,意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中,对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。
而且,描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任意一个或者多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外,在不相互矛盾的情况下,本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
最后应说明的是:以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。
Claims (6)
1.一种基于弧形水冷的成像检测方法,其特征在于:包括以下步骤:
S1、测量待测弧面的弧长与弧度,根据测得的数据构建检测面及配合检测面的检测装置框架;
S2、在检测面上密集均匀配置检测光源,检测面的上下两端均架设有与检测光源配合的光量检测传感器和高清照相机,并在检测装置框架内架设配合检测光源的水冷通道;
S3、将检测面同轴套设在待测弧面外,启动检测光源,随后检测装置框架带动检测面沿待测弧面同轴方向旋转;
S4、随着检测面的旋转,光量检测传感器和高清照相机同步启动;
S5、在旋转过程中,高清照相机对待测弧面被照亮部分进行持续摄像并在目视范围内检测待测弧面是否存在可见瑕疵,同时光量检测传感器同步检测待测弧面反射光量;
S6、当光量检测传感器测得待测弧面反射光量有变量时则说明待测弧面表面存在不可见瑕疵。
2.根据权利要求1所述的一种基于弧形水冷的成像检测方法,其特征在于:S2中在检测面上配置的检测光源包括若干道密集均匀排布且垂直于检测面上下边沿的LED灯带。
3.根据权利要求2所述的一种基于弧形水冷的成像检测方法,其特征在于:所述检测面上均距设置有若干根与LED灯带平行的激光射灯带。
4.根据权利要求2所述的一种基于弧形水冷的成像检测方法,其特征在于:所述激光射灯带设有三根。
5.根据权利要求1所述的一种基于弧形水冷的成像检测方法,其特征在于:S2中,水冷通道紧贴检测面的内壁设置。
6.根据权利要求1所述的一种基于弧形水冷的成像检测方法,其特征在于:S2中,检测面上设置有连接检测光源的温控保护开关。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001091469A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Olympus Optical Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JP2004354226A (ja) * | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Ricoh Co Ltd | 表面欠陥検査方法及び検査装置 |
JP2006258663A (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-28 | Ricoh Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
CN110575966A (zh) * | 2019-10-16 | 2019-12-17 | 苏州微感网络科技有限公司 | 一种高反光物体表面缺陷检测装置 |
CN213813993U (zh) * | 2020-11-26 | 2021-07-27 | 中国人民解放军国防科技大学 | 一种用于星载微光成像仪辐射定标的积分球灯光源装置 |
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Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001091469A (ja) * | 1999-09-21 | 2001-04-06 | Olympus Optical Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
JP2004354226A (ja) * | 2003-05-29 | 2004-12-16 | Ricoh Co Ltd | 表面欠陥検査方法及び検査装置 |
JP2006258663A (ja) * | 2005-03-17 | 2006-09-28 | Ricoh Co Ltd | 表面欠陥検査装置 |
CN110575966A (zh) * | 2019-10-16 | 2019-12-17 | 苏州微感网络科技有限公司 | 一种高反光物体表面缺陷检测装置 |
CN213813993U (zh) * | 2020-11-26 | 2021-07-27 | 中国人民解放军国防科技大学 | 一种用于星载微光成像仪辐射定标的积分球灯光源装置 |
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