CN114441606A - 电缆水树枝老化缺陷的定位方法及其测试方法、设备 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种电缆水树枝老化缺陷的定位方法及其测试方法、设备,该定位方法包括:测量待测电缆的单端阻抗谱,根据汉明窗和高斯信号对所述单端阻抗谱进行处理,以得到目标频域信号;对目标频域信号进行快速傅里叶变换,以得到目标时域信号;将目标时域信号与未发生水树枝老化的电缆的时域信号进行对比,若目标时域信号中存在畸变点,则确定待测电缆发生水树枝老化缺陷,并将目标时域信号中畸变点所对应的位置,确定为待测电缆水树枝老化缺陷的位置。本发明可以定位电缆水树枝老化缺陷的位置。
Description
技术领域
本发明涉及输配电电缆安全技术领域,尤其涉及一种电缆水树枝老化缺陷的定位方法及其测试方法、设备。
背景技术
电缆在现代城市电网系统的电能传输中起着极其重要的作用,其运行状态直接影响大型电气系统的安全与稳定。目前我国配电网电缆供电系统主要使用交联聚乙烯(XLPE)电缆。配电缆的主要敷设方式有直埋、电缆沟、排管、电缆隧道、桥架、海底敷设等。不管对于配电缆采用哪种敷设方式,其运行环境普遍比较恶劣,且均普遍存在潮湿、阴暗、霉菌滋生等特点。电缆运行环境潮湿,电缆受潮进而引发水树枝,水树枝生长又会造成电缆内部绝缘电场不均匀进而诱发电树枝,最终严重威胁电力电网的安全稳定运行。
目前主要的电缆运行状态检测方法主要包括绝缘电阻检测、耐压实验、局放检测、极化去极化电流等方法。这些检测方法已经可以对较大范围内电缆现有状况进行诊断,例如局部热老化等。同时电桥法、脉冲电流法、多次脉冲法、时域反射法、频域反射法等故障定位对于电力电缆的低阻故障和高阻故障具有较高的识别能力,但对于电力电缆水树枝的故障定位仍然是亟需解决的问题。
发明内容
本发明实施例提供电缆水树枝老化缺陷的定位方法和定位方法的测试方式、装置、设备及存储介质,以解决目前无法对电缆发生的水树枝故障进行定位的问题。
第一方面,本发明实施例提供了一种电缆水树枝老化缺陷的定位方法,包括:
测量待测配电电缆的单端阻抗谱;
根据汉明窗和高斯信号对所述单端阻抗谱进行处理,以得到目标频域信号;
将汉明窗、高斯信号与所述单端阻抗谱相乘,以得到所述目标频域信号;
对所述目标频域信号进行快速傅里叶变换,以得到目标时域信号;
将所述目标时域信号与未发生水树枝老化的配电电缆的时域信号进行对比,若所述目标时域信号中存在畸变点,则确定所述待测电缆发生水树枝老化缺陷,并将所述目标时域信号中畸变点所对应的位置,确定为所述待测配电电缆水树枝老化缺陷的位置。
在一种可能的实现方式中,根据汉明窗和高斯信号对所述单端阻抗谱进行处理,以得到目标频域信号,包括:
将汉明窗、高斯信号与所述单端阻抗谱相乘,以得到所述目标频域信号。
第二方面,本发明实施例提供了一种电缆水树枝老化缺陷的定位方法的测试方式,包括:
测量实验电缆切片的电导值和电容值,其中,实验电缆切片为发生水树枝老化缺陷的电缆切片;
根据水树枝故障模型、所述实验电缆切片的电导值和电容值,确定发生水树枝老化缺陷的电缆的单端阻抗谱函数;
对所述单端阻抗谱函数进行仿真,得到第一阻抗谱;
测量实验电缆的单端阻抗谱波形,得到第二阻抗谱,其中,所述实验电缆为发生水树枝老化缺陷的电缆;
根据所述第一阻抗谱波形和所述第二阻抗谱波形,确定待检测的电缆水树枝老化缺陷的定位方法是否有效。
在一种可能的实现方式中,根据水树枝故障模型、所述实验电缆切片的电导值和电容值,确定发生水树枝老化缺陷的电缆的单端阻抗谱函数,包括:
根据所述实验电缆切片的电导值,确定发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电导值;
根据所述实验电缆切片的电容值,确定发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电容值;
根据所述水树枝故障模型、发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电导值和电容值,确定所述单端阻抗谱函数。
在一种可能的实现方式中,单端阻抗谱函数为:
R是电缆单位长度的电阻值,L是电缆单位长度的电感值,G是电缆单位长度的电导值,C是电缆单位长度的电容值。
在一种可能的实现方式中,测量实验电缆切片的电导值,包括:
基于电导值测量电路,测量所述实验电缆切片的电导值;
其中,所述电导值测量电路包括三极电系统、皮安表、保护电阻,所述实验电缆切片两端涂抹银漆且包裹铜箔,所述三级电系统的高压电极连接所述实验电缆切片的线芯,保护电极连接铜箔并接地,测试电极连接所述实验电缆切片的外半导电层,所述测试电极通过所述保护电阻连接所述皮安表。
在一种可能的实现方式中,测量实验电缆切片的电容值,包括:
测量实验电缆切片的电容值,包括:
基于电容值测量电路,测量所述实验电缆切片的电容值;
其中,所述电容值测量电路包括所述LCR测试仪,所述LCR测试仪的输入端口连接所述实验电缆切片的外半导电层和内半导电层,所述实验电缆切片的线芯与所述LCR测试仪一同接地。
第三方面,本发明实施例提供了一种电子设备包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现上第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所述方法的步骤。
第四方面,本发明实施例提供了一种电子设备包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现上第二方面或第二方面的任一种可能的实现方式所述方法的步骤。
第五方面,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实被处理器执行时实现如上第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所述方法的步骤,或者实现如上第二方面或第二方面的任一种可能的实现方式所述方法的步骤。
本发明实施例提供电缆水树枝老化缺陷的定位方法及其测试方法、设备,首先,测量待测电缆的单端阻抗谱。然后,将汉明窗、高斯信号与单端阻抗谱相乘,以得到目标频域信号。对目标频域信号进行快速傅里叶变换,以得到目标时域信号。最后,将目标时域信号与未发生水树枝老化的电缆的时域信号进行对比,若目标时域信号中存在畸变点,则确定待测电缆发生水树枝老化缺陷,并将目标时域信号中畸变点所对应的位置,确定为待测电缆水树枝老化缺陷的位置。如此,通过对比目标时域信号与未发生水树枝老化的电缆的时域信号,将高斯脉冲信号的起始端作为电缆首端位置,将反射得到的高斯脉冲簇作为电缆的末端。得到定位图谱,其中故障点会在相应位置发生畸变,该畸变点即为水树枝的故障位置,从而实现对电缆水树枝老化缺陷的定位。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的电缆水树枝老化缺陷的定位方法的实现流程图;
图2是本发明实施例提供的电缆水树枝老化缺陷的定位方法的测试方法的实现流程图;
图3是本发明实施例提供的塑料管-电缆系统的示意图;
图4是本发明实施例提供的染色后电缆切片的水树枝的示意图;
图5是本发明实施例提供的电导测试电路的结构示意图;
图6是本发明实施例提供的电感测试电路的结构示意图;
图7是本发明实施例提供的水树枝故障模型的示意图;
图8是本发明实施例提供的水树枝引发系统电路的示意图;
图9是本发明实施例提供的电缆水树枝老化缺陷定位装置的结构示意图;
图10是本发明实施例提供的测试装置的结构示意图;
图11是本发明实施例提供的电子设备的示意图;
图12是本发明实施例提供的电子设备的示意图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本发明实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图通过具体实施例来进行说明。
目前配电电缆供电系统主要使用交联聚乙烯电缆。其主要敷设方式有直埋、电缆沟、排管、电缆隧道、桥架、海底敷设等。其运行环境均普遍存在潮湿、阴暗。电缆运行环境潮湿,电缆受潮进而引发水树枝。因此亟需一种对电缆水树枝故障进行定位的方法和定位的测试方法,从而便于对故障及时修复。
为了解决现有技术问题,本发明实施例提供了一种电缆水树枝老化缺陷的定位方法。下面首先对本发明实施例所提供的电缆水树枝老化缺陷的定位方法实施例所提供的方法进行介绍。
电缆水树枝老化缺陷的定位方法的执行主体,可以是电缆水树枝老化缺陷的的定位装置,该电缆水树枝老化缺陷的可以是具有处理器和存储器的电子设备,例如移动电子设备或者非移动电子设备。本发明实施例不作具体限定。
参见图1,其示出了本发明电缆水树枝老化缺陷的定位方法的实现流程图,详述如下:
步骤S110、测量待测电缆的单端阻抗谱。
本实施例中,待测电缆可以是配电电缆,示例性的,可以为10kv配电电缆。可以通过网络分析仪测量待测电缆的单端阻抗谱。配电电缆由于发生水树枝故障,电缆的电气参数会发生改变,从而导致单端阻抗谱发生变化。
具体的,测量前首先制作测量端,实现与网络分析仪的正确连接。为减小测量引线阻抗不匹配所引起的误差,可以使用压接式N头实现电缆导体、铜屏蔽与网络分析仪的有效连接。测量时将被测电缆通过N型接头连接至网络分析仪,通过网络分析仪读取所测单端阻抗谱的波形。
具体的,铜屏蔽与N头金属壳完全压紧,导体与N头针电极焊接完好,以减小该段的阻抗不匹配程度。
步骤S120、根据汉明窗和高斯信号对单端阻抗谱进行处理,以得到目标频域信号。
本实施例中,可以先利用汉明窗和高斯信号对单端阻抗谱进行处理。具体的,可以将汉明窗、高斯信号与所述单端阻抗谱相乘,以得到所述目标频域信号。
将用网络分析仪得到的阻抗谱函数,其与同长度汉明窗相乘,通过乘中心频率设置为100mHz的高斯脉冲得到高斯脉冲经过电缆反射后形成的频域信号。
具体的,乘通长度汉明窗的目的是为了,降低频谱泄露的影响。高斯脉冲的方程如下所示:
其中σ是高斯信号的脉宽,设置成8×10-8s,t0是高斯函数的中心时刻,f是高斯信号的频率,设置为1.5×108Hz。
步骤S130、对目标频域信号进行快速傅里叶变换,以得到目标时域信号。
步骤S140、将目标时域信号与未发生水树枝老化的电缆的时域信号进行对比,若目标时域信号中存在畸变点,则确定待测电缆发生水树枝老化缺陷,并将目标时域信号中畸变点所对应的位置,确定为待测电缆水树枝老化缺陷的位置。
可选的,若目标时域信号中不存在畸变点,则确定待测电缆未发生水树枝老化缺陷。
本实施例中,首先,测量待测电缆的单端阻抗谱。然后,将汉明窗、高斯信号与单端阻抗谱相乘,以得到目标频域信号。对目标频域信号进行快速傅里叶变换,以得到目标时域信号。最后,将目标时域信号与未发生水树枝老化的电缆的时域信号进行对比,若目标时域信号中存在畸变点,则确定待测电缆发生水树枝老化缺陷,并将目标时域信号中畸变点所对应的位置,确定为待测电缆水树枝老化缺陷的位置。如此,通过对比目标时域信号与未发生水树枝老化的电缆的时域信号,将高斯脉冲信号的起始端作为电缆首端位置,将反射得到的高斯脉冲簇作为电缆的末端。得到定位图谱,其中故障点会在相应位置发生畸变,该畸变点即为水树枝的故障位置,从而实现对电缆水树枝老化缺陷的定位。
本发明实施例还提供了一种电缆水树枝故障定位方法的测试方法。下面首先对本发明实施例所提供的电缆水树枝故障定位方法的测试方法实施例所提供的方法进行介绍。
配电电缆水树枝的故障定位方法的测试方法的执行主体,可以是测试装置,该测试装置可以是具有处理器和存储器的电子设备,例如移动电子设备或者非移动电子设备。本发明实施例不作具体限定。
参见图2,其示出了本发明配电电缆水树枝的故障定位方法的测试方法的实现流程图,详述如下:
步骤S210、测量实验电缆切片的电导值和电容值。其中,实验电缆切片为发生水树枝老化缺陷的电缆切片。
本实施例中,可以首先制作实验电缆切片。具体过程如下:
示例性的,电缆切片试样采取10kV电缆,切片装置采用德国LeicaRM2235切片机,切片厚度为3cm,切片后去除两侧铜屏蔽层和半导体层各为1cm,切片后为引入水树枝故障,在切片未去除屏蔽的位置划上刀痕,采用的刀片采用定制刀片,长度为1cm,厚度为250μm,单面开刃,刀痕末端距线芯长度为2mm。
之后搭建样段水树枝诱发模块。在水树枝诱发模块中,采用塑料管作为盐水的容器。示例性的,塑料管的材质为聚丙烯(PP),塑料管的直径为1cm,长度为5cm。将塑料管两侧钻孔,将电缆从两侧孔中传入塑料管,保证刀痕处能完全处于塑料管内。将制作好的塑料管-电缆系统用玻璃胶密封,并验证其防水性。将塑料管内倒入盐水,示例性的,盐水浓度为1.8mol/L。将该塑料管-电缆系统的电缆线芯处通过高压电阻接高压电源。示例性的,高压电源采用南京苏曼等离子电源,型号为CTP2000K。水树枝引发的工作电压为3kV,5kHz。高压电阻组为50MΩ。该系统通过高压导线接地,保证高压导线垂直没入水面。水树枝引发时间设置为7天,形成上述的实验电缆切片,如图3所示。
搭建水树枝观察模块。在水树枝观察模块中,将诱发水树枝的该塑料管-电缆系统进行再次切片。示例性的,切片厚度为1mm,切片位置为刀痕的位置。可以配置亚甲基蓝染色溶液,配置的亚甲基蓝染色液,示例性的,染色液的浓度为5g/L,将切片置于染色液中水浴加热保持90℃恒温,加热时间为12h,将染色后的试样置于显微镜下,拍摄装置采用工业CCD,显微镜光源采用卤素冷光源。染色后电缆切片的水树枝图片如图4所示。
在得到实验电缆切片后,可以通过电容测量电路和电导测量电路,分别测量出来实验电缆切片的电导值和电容值。
在一些实施例中,电导测量电路可以包括三极电系统、皮安表、保护电阻。实验电缆切片两端涂抹银漆且包裹铜箔。三级电系统的高压电极连接实验电缆切片的线芯,保护电极连接铜箔并接地,测试电极连接实验电缆切片的外半导电层,测试电极通过保护电阻连接皮安表。
参照图3和图5,测试电导前可以将实验电缆切片在真空干燥箱内干燥3h作为电导测试试样,将干燥后的试样两端用铜箔包裹。示例性的,铜箔的宽度为1mm,在包裹铜箔前先在试样两侧1mm位置涂抹银漆保证试样和铜箔接触良好。将试样的线芯连接三电极系统的高压电极。示例性的,高压电极材质为铜,尺寸为直径2cm,高度为5cm的铜柱。将铜箔作为三电极系统的保护电极接至系统的地,将系统的外半导电层连接测试电极,测试电极通过保护电阻连接皮安表。示例性的,保护电阻的阻值为2MΩ,数字皮安表的型号为B2983A,最小量程为2pA,最大读取速率为20000读数每秒。
本实施例通过三极电系统、皮安表、保护电阻构成电导测量电路,能够实现对实验电缆切片的电导测量。
在一些实施例中,电容测量电路可以包括LCR测试仪。LCR测试仪的输入端口连接实验电缆切片的外半导电层和内半导电层,实验电缆切片的线芯与所述LCR测试仪一同接地。
示例性的,参照图6,电容测试可以采用LCR测试仪,将干燥后的实验电缆切片的半导体层接LCR表输入端口,线芯与表一同接地。示例性的,LCR表的型号可以为苏黎世仪器MFIA测试电桥,测试频率为1mHz到500kHz,基本精度高达0.05%,量程覆盖1mΩ至1TΩ的范围。
本实施例通过LCR测试仪搭建电容测试电路,能够实现对实验电缆切片的电容测量。
步骤S220、根据水树枝故障模型、所述实验电缆切片的电导值和电容值,确定发生水树枝老化缺陷的电缆的单端阻抗谱函数。
可以首先根据实验电缆切片的电导值,确定发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电导值;根据实验电缆切片的电容值,确定发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电容值;然后根据水树枝故障模型、发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电导值和电容值,确定单端阻抗谱函数。
在确定单端阻抗函数之前,可以首先构建水树枝故障模型,参见图7。
具体的,设置水树枝老化后单位电缆长度的电导、电容值,根据水树枝故障模型,求解得到单端阻抗谱函数。
其中,单端阻抗谱函数如下所示:
其中Z0是特征阻抗,ΓL是反射系数,α是阻抗谱传播系数的实部,β是传播系数的虚部。特征阻抗和传播系数都是关于系统单位长度电气参数和频率的函数,如下所示:
其中R是电缆单位长度的电阻,L是电缆单位长度的电感,G是电缆单位长度的电导,C是电缆单位长度的电容。
步骤S230、对单端阻抗谱函数进行仿真,得到第一阻抗谱。
步骤S240、测量实验电缆的单端阻抗谱波形,得到第二阻抗谱,其中,实验电缆为发生水树枝老化缺陷的电缆。
本步骤中,可以首先制作实验电缆,具体过程如下:
首先对实验室测试水树枝的电缆样段进行处理,示例性的,电缆样段制作中电缆长度不小于10m,电缆两端裸露5cm以上线芯并引出电缆铜屏蔽层。为引入水树枝故障,在电缆中间段未去除屏蔽的位置划上刀痕。示例性的,刀片采用定制刀片,长度为10cm,厚度为250μm,单面开刃,刀痕末端距线芯长度为2mm。引入刀痕后,将热塑套管套在刀痕的位置,先将一端加热收紧,将盐水通过注射器注入套管中,盐水的浓度为1.8mol/L。注入的盐水需要漫过电缆刀痕位置,将套管另一端加热收紧,并将两端用钢箍收紧,将套管和电缆连接的部分用玻璃胶密封。
水树枝引发系统电路设计方面,将两端线芯通过高压电阻接高压电源。示例性的,高压电源采用南京苏曼等离子电源,型号为CTP2000K。等离子电源设置的电压为3kV,5kHz。高压电阻组为50MΩ。设置针电极插入热塑套管内,该系统通过针电极接地,保证高压导线垂直没入水面。水树枝引发时间设置为30天。水树枝引发系统电路如图8所示。
在得到实验电缆后,可以测量实验电缆的单端阻抗谱波形,得到第二阻抗谱。测量实验电缆的单端阻抗谱波形的具体过程,与图1实施例中步骤S110的测量过程相同,可参见步骤S110的描述,在此不再赘述。
步骤S250、根据第一阻抗谱波形和第二阻抗谱波形,确定待检测的电缆水树枝老化缺陷的定位方法是否有效。
以对图1实施例所示的电缆水树枝老化缺陷的定位方法进行测试为例,可以按照步骤S120和S130的方式,对第一阻抗谱波形进行处理,得到第一阻抗谱波形对应的时域信号,也就是,第一阻抗谱波形的定位图谱。按照步骤S120和S130的方式,对第二阻抗谱波形进行处理,得到第二阻抗谱波形对应的时域信号,也就是,第二阻抗谱波形的定位图谱。
对比第一阻抗谱波形的定位图谱和第二阻抗谱波形的定位图谱。如果两个定位图谱中的畸变点位置相同,也就是,两个定位图谱所反映的电缆的水数值故障位置相同,与实验电缆的水树枝故障的引发位置一致,则表明图1实施例所示的电缆水树枝老化缺陷的定位方法的定位结果准确。
本实施例中,首先,根据电容和电导测量电路,测量发生水树实验电缆切片的电导值和电容值。由水树枝故障模型、所述实验电缆切片的电导值和电容值,确定发生水树枝老化缺陷的电缆的单端阻抗谱函数。然后,对所述单端阻抗谱函数进行仿真,得到第一阻抗谱。测量发生水树实验电缆的单端阻抗谱波形,得到第二阻抗谱。最后,根据所述第一阻抗谱波形和所述第二阻抗谱波形,确定待检测的电缆水树枝老化缺陷的定位方法的测试方法是否有效。如此,可以验证通过电导、电容值和水树枝故障模型的计算方法,以及实验电缆的测量,实现对待检测的电缆水树枝老化缺陷的定位方法是否定位准确的测试。
应理解,上述实施例中各步骤的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本发明实施例的实施过程构成任何限定。
以下为本发明的装置实施例,对于其中未详尽描述的细节,可以参考上述对应的方法实施例。
图9示出了本发明实施例提供的电缆水树枝老化缺陷的定位装置900的结构示意图,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,详述如下:
如图9所示,电缆水树枝老化缺陷的定位装置900包括:获取模块910和处理模块920。
获取模块910,用于测量待测电缆的单端阻抗谱。
处理模块920,用于根据汉明窗和高斯信号对单端阻抗谱进行处理,以得到目标频域信号。
处理模块920,还用于对目标频域信号进行快速傅里叶变换,以得到目标时域信号。
处理模块920,还用于将目标时域信号与未发生水树枝老化的电缆的时域信号进行对比,若目标时域信号中存在畸变点,则确定待测电缆发生水树枝老化缺陷,并将目标时域信号中畸变点所对应的位置,确定为待测电缆水树枝老化缺陷的位置。
在一种可能的实现方式中,处理模块920,具体用于:
将汉明窗、高斯信号与单端阻抗谱相乘,以得到所述目标频域信号。
图10示出了本发明实施例提供的测试装置1000的结构示意图,为了便于说明,仅示出了与本发明实施例相关的部分,详述如下:
如图10所示,测试装置1000包括:获取模块1010、处理模块1020。
获取模块1010,用于测量实验电缆切片的电导值和电容值,其中,实验电缆切片为发生水树枝老化缺陷的电缆切片。
处理模块1020,用于对单端阻抗谱函数进行仿真,得到第一阻抗谱。
获取模块1010,还用于测量实验电缆的单端阻抗谱波形,得到第二阻抗谱,其中,实验电缆为发生水树枝老化缺陷的电缆。
处理模块1020,还用于根据第一阻抗谱波形和第二阻抗谱波形,确定待检测的电缆水树枝老化缺陷的定位方法是否有效。
在一种可能的实现方式中,处理模块1020,具体用于:
根据实验电缆切片的电导值,确定发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电导值;
根据实验电缆切片的电容值,确定发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电容值;
根据水树枝故障模型、发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电导值和电容值,确定单端阻抗谱函数。
在一种可能的实现方式中,单端阻抗谱函数为:
R是电缆单位长度的电阻值,L是电缆单位长度的电感值,G是电缆单位长度的电导值,C是电缆单位长度的电容值。
在一种可能的实现方式中,获取模块1010,具体用于:
基于电导值测量电路,测量实验电缆切片的电导值;
其中,电导值测量电路包括三极电系统、皮安表、保护电阻,实验电缆切片两端涂抹银漆且包裹铜箔,三级电系统的高压电极连接所述实验电缆切片的线芯,保护电极连接铜箔并接地,测试电极连接实验电缆切片的外半导电层,测试电极通过所述保护电阻连接所述皮安表。
在一种可能的实现方式中,获取模块1010,具体用于:
基于电容值测量电路,测量实验电缆切片的电容值;
其中,电容值测量电路包括LCR测试仪,LCR测试仪的输入端口连接所述实验电缆切片的外半导电层和内半导电层,实验电缆切片的线芯与LCR测试仪一同接地。
图11是本发明实施例提供的电子设备的示意图。如图11所示,该实施例的电子设备11包括:处理器110、存储器111以及存储在所述存储器111中并可在所述处理器110上运行的计算机程序112。所述处理器110执行所述计算机程序112时实现上述一种电缆水树枝老化缺陷的定位方法实施例中的步骤,例如图1所示的步骤110至步骤140。或者,所述处理器110执行所述计算机程序112时实现上述各装置实施例中各模块的功能,例如图9所示模块910至920的功能。
示例性的,所述计算机程序112可以被分割成一个或多个模块,所述一个或者多个模块被存储在所述存储器111中,并由所述处理器110执行,以完成本发明。所述一个或多个模块可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序112在所述电子设备11中的执行过程。例如,所述计算机程序112可以被分割成图9所示的模块910至920。
所述电子设备11可包括,但不仅限于,处理器110、存储器111。本领域技术人员可以理解,图11仅仅是电子设备11的示例,并不构成对电子设备11的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述电子设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器110可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器111可以是所述电子设备11的内部存储单元,例如电子设备11的硬盘或内存。所述存储器111也可以是所述电子设备11的外部存储设备,例如所述电子设备11上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器111还可以既包括所述电子设备11的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器111用于存储所述计算机程序以及所述电子设备所需的其他程序和数据。所述存储器111还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
图12是本发明实施例提供的电子设备的示意图。如图12所示,该实施例的电子设备12包括:处理器120、存储器121以及存储在所述存储器122中并可在所述处理器120上运行的计算机程序122。所述处理器120执行所述计算机程序122时实现上述一种电缆水树枝老化缺陷的定位方法的测试方法实施例中的步骤,例如图2所示的步骤210至步骤250。或者,所述处理器120执行所述计算机程序122时实现上述各装置实施例中各模块的功能,例如图10所示模块1010至1030的功能。
示例性的,所述计算机程序122可以被分割成一个或多个模块,所述一个或者多个模块被存储在所述存储器121中,并由所述处理器120执行,以完成本发明。所述一个或多个模块可以是能够完成特定功能的一系列计算机程序指令段,该指令段用于描述所述计算机程序122在所述电子设备12中的执行过程。例如,所述计算机程序122可以被分割成图10所示的模块1010至1030。
所述电子设备12可包括,但不仅限于,处理器120、存储器121。本领域技术人员可以理解,图12仅仅是电子设备12的示例,并不构成对电子设备12的限定,可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者不同的部件,例如所述电子设备还可以包括输入输出设备、网络接入设备、总线等。
所称处理器120可以是中央处理单元(Central Processing Unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。
所述存储器121可以是所述电子设备12的内部存储单元,例如电子设备12的硬盘或内存。所述存储器121也可以是所述电子设备12的外部存储设备,例如所述电子设备12上配备的插接式硬盘,智能存储卡(Smart Media Card,SMC),安全数字(Secure Digital,SD)卡,闪存卡(Flash Card)等。进一步地,所述存储器121还可以既包括所述电子设备12的内部存储单元也包括外部存储设备。所述存储器121用于存储所述计算机程序以及所述电子设备所需的其他程序和数据。所述存储器121还可以用于暂时地存储已经输出或者将要输出的数据。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为了描述的方便和简洁,仅以上述各功能单元、模块的划分进行举例说明,实际应用中,可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能单元、模块完成,即将所述装置的内部结构划分成不同的功能单元或模块,以完成以上描述的全部或者部分功能。实施例中的各功能单元、模块可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中,上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。另外,各功能单元、模块的具体名称也只是为了便于相互区分,并不用于限制本申请的保护范围。上述系统中单元、模块的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述或记载的部分,可以参见其它实施例的相关描述。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本发明的范围。
在本发明所提供的实施例中,应该理解到,所揭露的装置/电子设备和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置/电子设备实施例仅仅是示意性的,例如,所述模块或单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通讯连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通讯连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
所述集成的模块/单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明实现上述实施例方法中的全部或部分流程,也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一计算机可读存储介质中,该计算机程序在被处理器执行时,可实现上述各个变压器升高座及套管的监测方法实施例的步骤。其中,所述计算机程序包括计算机程序代码,所述计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。所述计算机可读介质可以包括:能够携带所述计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(Read-Only Memory,ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)、电载波信号、电信信号以及软件分发介质等。需要说明的是,所述计算机可读介质包含的内容可以根据司法管辖区内立法和专利实践的要求进行适当的增减,例如在某些司法管辖区,根据立法和专利实践,计算机可读介质不包括是电载波信号和电信信号。
以上所述实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种电缆水树枝老化缺陷的定位方法,其特征在于,包括:
测量待测电缆的单端阻抗谱;
根据汉明窗和高斯信号对所述单端阻抗谱进行处理,以得到目标频域信号;
对所述目标频域信号进行快速傅里叶变换,以得到目标时域信号;
将所述目标时域信号与未发生水树枝老化的电缆的时域信号进行对比,若所述目标时域信号中存在畸变点,则确定所述待测电缆发生水树枝老化缺陷,并将所述目标时域信号中畸变点所对应的位置,确定为所述待测电缆水树枝老化缺陷的位置。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,根据汉明窗和高斯信号对所述单端阻抗谱进行处理,以得到目标频域信号,包括:
将汉明窗、高斯信号与所述单端阻抗谱相乘,以得到所述目标频域信号。
3.一种电缆水树枝老化缺陷的定位方法的测试方法,其特征在于,包括:
测量实验电缆切片的电导值和电容值,其中,实验电缆切片为发生水树枝老化缺陷的电缆切片;
根据水树枝故障模型、所述实验电缆切片的电导值和电容值,确定发生水树枝老化缺陷的电缆的单端阻抗谱函数;
对所述单端阻抗谱函数进行仿真,得到第一阻抗谱;
测量实验电缆的单端阻抗谱波形,得到第二阻抗谱,其中,所述实验电缆为发生水树枝老化缺陷的电缆;
根据所述第一阻抗谱波形和所述第二阻抗谱波形,确定待检测的电缆水树枝老化缺陷的定位方法是否有效。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,根据水树枝故障模型、所述实验电缆切片的电导值和电容值,确定发生水树枝老化缺陷的电缆的单端阻抗谱函数,包括:
根据所述实验电缆切片的电导值,确定发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电导值;
根据所述实验电缆切片的电容值,确定发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电容值;
根据所述水树枝故障模型、发生水树枝缺陷的电缆的单位长度的电导值和电容值,确定所述单端阻抗谱函数。
6.如权利要求3所述的方法,其特征在于,测量实验电缆切片的电导值,包括:
基于电导值测量电路,测量所述实验电缆切片的电导值;
其中,所述电导值测量电路包括三极电系统、皮安表、保护电阻,所述实验电缆切片两端涂抹银漆且包裹铜箔,所述三级电系统的高压电极连接所述实验电缆切片的线芯,保护电极连接铜箔并接地,测试电极连接所述实验电缆切片的外半导电层,所述测试电极通过所述保护电阻连接所述皮安表。
7.如权利要求3所述的方法,其特征在于,测量实验电缆切片的电容值,包括:
测量实验电缆切片的电容值,包括:
基于电容值测量电路,测量所述实验电缆切片的电容值;
其中,所述电容值测量电路包括所述LCR测试仪,所述LCR测试仪的输入端口连接所述实验电缆切片的外半导电层和内半导电层,所述实验电缆切片的线芯与所述LCR测试仪一同接地。
8.一种电子设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1或2所述方法的步骤。
9.一种电子设备,包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求3-6任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6所述方法的步骤。
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