CN114416432A - 一种芯片安全启动检测方法、装置、设备及介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种芯片安全启动检测方法、装置、设备及介质，涉及集成电路设计及应用领域，包括：利用待检测芯片的CPU将待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过安全启动电路检测待检测芯片的安全启动功能是否正常；若否则将待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的待检测芯片；将修复处理后的待检测芯片外部的安全外部引脚置为低电平，并通过安全启动电路检测修复处理后的待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是则利用待检测芯片的CPU将安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。通过本申请能够有效增加芯片的稳定性，有效提高芯片的安全性和灵活性。

Description

一种芯片安全启动检测方法、装置、设备及介质

技术领域

本发明涉及集成电路设计及应用领域，特别涉及一种芯片安全启动检测方法、装置、设备及介质。

背景技术

目前，在服务器基板管理芯片中安全启动电路在电路失效时，会导致整个芯片失效（即主电路CPU不能工作）。整个芯片失效，会影响进一步对芯片进行测试或使用，无论是在测试芯片过程中还是量产之后，都会对芯片产生巨大的损失。

由上可见，在芯片安全启动检测的过程中，如何增加芯片的稳定性，有效提高芯片的安全性和灵活性。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种芯片安全启动检测方法、装置、设备及介质，能够增加芯片的稳定性，有效提高芯片的安全性和灵活性。其具体方案如下：

第一方面，本申请公开了一种芯片安全启动检测方法，包括：

利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；

若否则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片；

将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是则利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。

可选的，所述检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，包括：

获取检测程序代码，并基于所述检测程序代码确定唯一标识；

通过所述安全启动电路对所述检测程序代码和所述唯一标识进行检测，以得到包含所述检测程序代码是否异常以及所述唯一标识是否异常的检测结果；

基于所述检测结果判断所述待检测芯片的安全启动功能是否正常。

可选的，所述利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，包括：

建立所述待检测芯片与所述安全启动电路之间的通信链路；

通过所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述执行功能开启后的所述安全启动电路基于一次性可编程只读存储器中保存的信息并通过所述通信链路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常。

可选的，通过所述安全启动电路对所述检测程序代码进行检测，包括：

确定出与所述检测程序代码对应的检测特征，并通过所述安全启动电路对所述待检测芯片的安全启动功能进行检测，以得到相应的检测结果；

如果所述检测结果与所述检测特征不匹配，则判定所述检测结果异常。

可选的，所述对所述待检测芯片进行修复处理，包括：

对所述待检测芯片异常的所述检测程序代码和/或异常的所述唯一标识进行修复处理。

可选的，所述通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常之后，还包括：

若是则为所述待检测芯片添加相应的正常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能正常；

若否则为所述待检测芯片添加相应的异常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能异常。

可选的，所述为所述待检测芯片添加相应的异常标签之后，还包括：

检测携带有所述异常标签的所述待检测芯片的其他功能异常情况；

基于所述其他功能异常情况，对所述携带有所述异常标签的所述待检测芯片进行分类，以得到不同类别的所述待检测芯片；其中，不同类别的所述待检测芯片对应于不同类型的异常功能。

第二方面，本申请公开了一种芯片安全启动检测装置，包括：

检测模块，用于利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；

引脚设置模块，用于当所述检测模块的检测结果为异常，则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片；

安全启动电路配置模块，用于将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是则利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。

第三方面，本申请公开了一种电子设备，包括：

存储器，用于保存计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序，以实现前述的芯片安全启动检测方法。

第四方面，本申请公开了一种计算机存储介质，用于保存计算机程序；其中，所述计算机程序被处理器执行时实现前述公开的芯片安全启动检测方法的步骤。

可见，本申请提供了一种芯片安全启动检测方法，包括利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；若否则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片；将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。本申请预先在待检测芯片的外部设置了一个能够用于触发芯片修复操作的安全外部引脚，当检测到待检测芯片的安全启动功能异常时，通过将上述安全外部引脚置为高电平以触发对待检测芯片的修复操作，从而有效提高芯片的安全性和灵活性，然后将上述安全外部引脚置为低电平，然后再次对待检测芯片的安全启动功能进行检测，如果所述检测结果正常便可将安全启动电路的强制执行功能进行开启，通过上述技术方案能够有效增加芯片的稳定性和安全性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请公开的一种芯片安全启动检测方法流程图；

图2为本申请公开的一种芯片安全启动检测方法流程图；

图3为本申请公开的一种芯片安全启动检测装置结构示意图；

图4为本申请提供的一种电子设备结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

在当前背景下，在服务器基板管理芯片中安全启动电路在电路失效时，会导致整个芯片失效（即主电路CPU不能工作）。整个芯片失效，会影响进一步对芯片进行测试或使用，无论是在测试芯片过程中还是量产之后，都会对芯片产生巨大的损失。由上可见，在芯片安全启动检测的过程中，如何增加芯片的稳定性，有效提高芯片的安全性和灵活性。

参见图1所示，本发明实施例公开了一种芯片安全启动检测方法，具体可以包括：

步骤S11：利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常。

本实施例中，通过所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的执行功能置为开启状态，并建立所述待检测芯片与所述安全启动电路之间的通信链路，然后获取检测程序代码，基于所述检测程序代码确定唯一标识，然后通过所述执行功能开启后的所述安全启动电路基于一次性可编程只读存储器中保存的信息并通过所述通信链路对所述检测程序代码和所述唯一标识进行检测，以得到包含所述检测程序代码是否异常以及所述唯一标识是否异常的检测结果。

本实施例中，利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，然后确定出与所述检测程序代码对应的检测特征，通过所述安全启动电路对所述待检测芯片的安全启动功能进行检测，以得到相应的检测结果；如果所述检测结果与所述检测特征不匹配，则判定所述检测结果异常。

可以理解的是，通过所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的执行功能置为开启状态，然后建立所述待检测芯片与所述安全启动电路之间的通信链路，并获取检测程序代码，基于所述检测程序代码确定唯一标识，然后通过所述执行功能开启后的所述安全启动电路基于一次性可编程只读存储器中保存的信息并通过所述通信链路对所述检测程序代码和所述唯一标识进行检测，以得到相应的检测结果，根据所述检测程序代码确定出对应的检测特征，然后判断所述检测结果与所述检测特征是否匹配，如果所述检测结果与所述检测特征不匹配，则判定所述检测结果异常。

步骤S12：若否则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片。

本实施例中，如果检测结果异常，则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片异常的所述检测程序代码和/或异常的所述唯一标识进行修复处理，最后得到修复处理后的所述待检测芯片。

步骤S13：将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是则利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。

本实施例中，将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理以得到修复处理后的所述待检测芯片之后，将所述待检测芯片重新上电，然后将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，此时需要通过所述安全启动电路对修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能进行检测，如果所述检测结果正常，则表明此时所述待检测芯片正常，然后利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。

本实施例中，利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；若否则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片；将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是则利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。本申请预先在待检测芯片的外部设置了一个能够用于触发芯片修复操作的安全外部引脚，当检测到待检测芯片的安全启动功能异常时，通过将上述安全外部引脚置为高电平以触发对待检测芯片的修复操作，从而有效提高芯片的安全性和灵活性，然后将上述安全外部引脚置为低电平，然后再次对待检测芯片的安全启动功能进行检测，如果所述检测结果正常便可将安全启动电路的强制执行功能进行开启，通过上述技术方案能够有效增加芯片的稳定性和安全性。

参见图2所示，本发明实施例公开了一种芯片安全启动检测方法，具体可以包括：

步骤S21：利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常。

步骤S22：若否则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片。

步骤S23：将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常。

步骤S24：如果针对修复处理后的所述待检测芯片的检测结果正常，则为所述待检测芯片添加相应的正常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能正常，并利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。

步骤S25：如果针对修复处理后的所述待检测芯片的检测结果异常，则为所述待检测芯片添加相应的异常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能异常，并检测携带有所述异常标签的所述待检测芯片的其他功能异常情况，然后基于所述其他功能异常情况，对所述携带有所述异常标签的所述待检测芯片进行分类，以得到不同类别的所述待检测芯片；其中，不同类别的所述待检测芯片对应于不同类型的异常功能。

本实施例中，利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；若是则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片；将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；若是则为所述待检测芯片添加相应的正常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能正常，并利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态，若否则为所述待检测芯片添加相应的异常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能异常，并检测携带有所述异常标签的所述待检测芯片的其他功能异常情况，然后基于所述其他功能异常情况，对所述携带有所述异常标签的所述待检测芯片进行分类，以得到不同类别的所述待检测芯片；其中，不同类别的所述待检测芯片对应于不同类型的异常功能。本申请预先在待检测芯片的外部设置了一个能够用于触发芯片修复操作的安全外部引脚，当检测到待检测芯片的安全启动功能异常时，通过将上述安全外部引脚置为高电平以触发对待检测芯片的修复操作，从而有效提高芯片的安全性和灵活性，然后将上述安全外部引脚置为低电平，然后再次对待检测芯片的安全启动功能进行检测，如果所述检测结果正常便可将安全启动电路的强制执行功能进行开启，通过上述技术方案能够有效增加芯片的稳定性和安全性。

例如，如表1所示，在未对所述待检测芯片的安全启动电路进行安全启动配置时，所述一次性可编程只读存储器的安全有效位数据为0（即security_en_bit=0），此时无论所述待检测芯片外部预设的所述安全外部引脚置为高电平还是低电平，都不需要启动安全启动电路检测，可以理解的是，所述一次性可编程只读存储器的安全有效位数据为0时，也就是芯片的初始状态，待检测芯片的CPU可以直接启动，不需要安全启动电路检测；利用所述待检测芯片的CPU对安全启动电路进行安全启动配置，此时所述一次性可编程只读存储器的安全有效位数据为1（即security_en_bit=1），然后重新上电，需要进行安全启动电路检测，如果所述检测结果异常，则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平（即bypass_security_pin=1），可以理解的是，所述一次性可编程只读存储器的安全有效位数据为1时，表明此时所述待检测芯片的所述安全启动功能异常，不需要进行安全启动电路检测；在对所述待检测芯片进行修复处理之后，将修复处理后的所述待检测芯片外部预设的所述安全外部引脚置为低电平（即bypass_security_pin=0），然后重新上电，需要进行安全启动电路检测，如果所述检测结果正常，则利用所述待检测芯片的CPU对所述安全启动电路进行强制安全启动配置，即将所述一次性可编程只读存储器的强制安全启动位置为1，也就是force_security=1。此时，无论所述待检测芯片的安全外部引脚为高电平或低电平，都需要通过所述安全启动电路对所述待检测芯片的安全启动功能进行检测，其中，x代表0或1的任意状态。

表1

安全有效位	安全外部引脚有效位	强制安全启动有效位	是否启动安全启动电路检查
				0	x	x	否
1	0	0	是
				1	1	0	否
1	x	1	是

参见图3所示，本发明实施例公开了一种芯片安全启动检测装置，具体可以包括：

检测模块11，用于利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；

引脚设置模块12，用于当所述检测模块的检测结果为异常，则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片；

安全启动电路配置模块13，用于将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是则利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。

本实施例中，利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；若否则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片；将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。本申请预先在待检测芯片的外部设置了一个能够用于触发芯片修复操作的安全外部引脚，当检测到待检测芯片的安全启动功能异常时，通过将上述安全外部引脚置为高电平以触发对待检测芯片的修复操作，从而有效提高芯片的安全性和灵活性，然后将上述安全外部引脚置为低电平，然后再次对待检测芯片的安全启动功能进行检测，如果所述检测结果正常便可将安全启动电路的强制执行功能进行开启，通过上述技术方案能够有效增加芯片的稳定性和安全性。

在一些具体实施例中，所述检测模块11，具体可以包括：

代码获取模块，用于获取检测程序代码，并基于所述检测程序代码确定唯一标识；

检测模块，用于通过所述安全启动电路对所述检测程序代码和所述唯一标识进行检测，以得到包含所述检测程序代码是否异常以及所述唯一标识是否异常的检测结果；

安全启动功能判断模块，用于基于所述检测结果判断所述待检测芯片的安全启动功能是否正常。

在一些具体实施例中，所述检测模块11，具体可以包括：

通信链路建立模块，用于建立所述待检测芯片与所述安全启动电路之间的通信链路；

执行功能开启模块，用于通过所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述执行功能开启后的所述安全启动电路基于一次性可编程只读存储器中保存的信息并通过所述通信链路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常。

在一些具体实施例中，所述检测模块11，具体可以包括：

检测特征确定模块，用于确定出与所述检测程序代码对应的检测特征，并通过所述安全启动电路对所述待检测芯片的安全启动功能进行检测，以得到相应的检测结果；

检测特征匹配模块，用于如果所述检测结果与所述检测特征不匹配，则判定所述检测结果异常。

在一些具体实施例中，所述引脚设置模块12，具体可以包括：

修复处理模块，用于对所述待检测芯片异常的所述检测程序代码和/或异常的所述唯一标识进行修复处理。

在一些具体实施例中，所述安全启动电路配置模块13，具体可以包括：

正常标签添加模块，用于如果针对修复处理后的所述待检测芯片的检测结果正常，则为所述待检测芯片添加相应的正常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能正常；

异常标签添加模块，用于如果针对修复处理后的所述待检测芯片的检测结果异常，则为所述待检测芯片添加相应的异常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能异常。

在一些具体实施例中，所述安全启动电路配置模块13，具体可以包括：

检测模块，用于检测携带有所述异常标签的所述待检测芯片的其他功能异常情况；

分类模块，用于基于所述其他功能异常情况，对所述携带有所述异常标签的所述待检测芯片进行分类，以得到不同类别的所述待检测芯片；其中，不同类别的所述待检测芯片对应于不同类型的异常功能。

图4为本申请实施例提供的一种电子设备的结构示意图。该芯片安全启动检测设备20，具体可以包括：至少一个处理器21、至少一个存储器22、电源23、通信接口24、输入输出接口25和通信总线26。其中，所述存储器22用于存储计算机程序，所述计算机程序由所述处理器21加载并执行，以实现前述任一实施例公开的由芯片安全启动检测设备执行的芯片安全启动检测方法中的相关步骤。

本实施例中，电源23用于为芯片安全启动检测设备20上的各硬件设备提供工作电压；通信接口24能够为芯片安全启动检测设备20创建与外界设备之间的数据传输通道，其所遵循的通信协议是能够适用于本申请技术方案的任意通信协议，在此不对其进行具体限定；输入输出接口25，用于获取外界输入的数据或者向外界输出数据，其具体接口类型可以根据实际应用需要进行设置，在此不进行具体限定。

另外，存储器22作为资源存储的载体，可以是只读存储器、随机存储器、磁盘或者光盘等，其上所存储的资源包括操作系统221、计算机程序222及数据223等，存储方式可以是短暂存储或者永久存储。

其中，操作系统221用于管理与控制芯片安全启动检测设备20上的各硬件设备以及计算机程序222，以实现处理器21对存储器22中数据223的运算与处理，其可以是Windows、Unix、Linux等。计算机程序222除了包括能够用于完成前述任一实施例公开的由芯片安全启动检测设备20执行的芯片安全启动检测方法的计算机程序之外，还可以进一步包括能够用于完成其他特定工作的计算机程序。数据223除了可以包括芯片安全启动检测设备20接收到的由外部设备传输进来的数据，也可以包括芯片安全启动检测设备20内部所产生的数据等。

结合本文中所公开的实施例描述的方法或算法的步骤可以直接用硬件、处理器执行的软件模块，或者二者的结合来实施。软件模块可以置于随机存储器（RAM）、内存、只读存储器（ROM）、电可编程ROM、电可擦除可编程ROM、寄存器、硬盘、可移动磁盘、CD-ROM、或技术领域内所公知的任意其它形式的存储介质中。

进一步的，本申请实施例还公开了一种计算机可读存储介质，所述存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器加载并执行时，实现前述任一实施例公开的芯片安全启动检测方法步骤。

最后，还需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上对本发明所提供的一种芯片安全启动检测方法、装置、设备及存储介质进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发明的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种芯片安全启动检测方法，其特征在于，包括：

利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；

若否则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片；

将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是则利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。

2.根据权利要求1所述的芯片安全启动检测方法，其特征在于，所述检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，包括：

获取检测程序代码，并基于所述检测程序代码确定唯一标识；

通过所述安全启动电路对所述检测程序代码和所述唯一标识进行检测，以得到包含所述检测程序代码是否异常以及所述唯一标识是否异常的检测结果；

基于所述检测结果判断所述待检测芯片的安全启动功能是否正常。

3.根据权利要求2所述的芯片安全启动检测方法，其特征在于，所述利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，包括：

建立所述待检测芯片与所述安全启动电路之间的通信链路；

通过所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述执行功能开启后的所述安全启动电路基于一次性可编程只读存储器中保存的信息并通过所述通信链路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常。

4.根据权利要求2所述的芯片安全启动检测方法，其特征在于，通过所述安全启动电路对所述检测程序代码进行检测，包括：

确定出与所述检测程序代码对应的检测特征，并通过所述安全启动电路对所述待检测芯片的安全启动功能进行检测，以得到相应的检测结果；

如果所述检测结果与所述检测特征不匹配，则判定所述检测结果异常。

5.根据权利要求2所述的芯片安全启动检测方法，其特征在于，所述对所述待检测芯片进行修复处理，包括：

对所述待检测芯片异常的所述检测程序代码和/或异常的所述唯一标识进行修复处理。

6.根据权利要求1至5任一项所述的芯片安全启动检测方法，其特征在于，所述通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常之后，还包括：

若是则为所述待检测芯片添加相应的正常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能正常；

若否则为所述待检测芯片添加相应的异常标签，以表征所述待检测芯片的安全启动功能异常。

7.根据权利要求6所述的芯片安全启动检测方法，其特征在于，所述为所述待检测芯片添加相应的异常标签之后，还包括：

检测携带有所述异常标签的所述待检测芯片的其他功能异常情况；

基于所述其他功能异常情况，对所述携带有所述异常标签的所述待检测芯片进行分类，以得到不同类别的所述待检测芯片；其中，不同类别的所述待检测芯片对应于不同类型的异常功能。

8.一种芯片安全启动检测装置，其特征在于，包括：

检测模块，用于利用待检测芯片的CPU将所述待检测芯片中安全启动电路的执行功能置为开启状态，并通过所述安全启动电路检测所述待检测芯片的安全启动功能是否正常；

引脚设置模块，用于当所述检测模块的检测结果为异常，则将所述待检测芯片外部预设的安全外部引脚置为高电平，并对所述待检测芯片进行修复处理，以得到修复处理后的所述待检测芯片；

安全启动电路配置模块，用于将修复处理后的所述待检测芯片外部的所述安全外部引脚置为低电平，并通过所述安全启动电路检测修复处理后的所述待检测芯片的安全启动功能是否正常，若是则利用所述待检测芯片的CPU将所述安全启动电路的强制执行功能置为开启状态。

9.一种芯片安全启动检测设备，其特征在于，包括：

存储器，用于保存计算机程序；

处理器，用于执行所述计算机程序，以实现如权利要求1至7任一项所述的芯片安全启动检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，用于保存计算机程序；其中，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的芯片安全启动检测方法。

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