CN114323566A - 一种显示器件的环境测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种测试装置，特别涉及一种显示器件的环境测试装置，包括：箱体，所述箱体上设置有箱盖，所述箱体内设置有第一内胆，所述第一内胆内设置有第二内胆，所述第一内胆上设置有贯穿第一内胆的导热块，所述导热块一端接触第二内胆，所述导热块另一端接触温度控制装置。使用时，将待测样品放置在装置中，即可对样品进行测试，结构简单，使用方便，另外，本装置体积小，可以实现高温测试、低温测试、高湿度测试等多种功能，并且具有可程控、可监控的优点。
Description
技术领域
本发明涉及电气设备技术领域，特别涉及一种显示器件的环境测试装置。
背景技术
传统的用于恒温恒湿箱体积一般都很大，基本都超过100*100*100,使用不方便且价格昂贵，不适应于显示器件的测试。因此，我们生产研发了一种显示器件的环境测试装置，本装置体积小，可以实现高温测试、低温测试、高湿度测试等多种功能，并且具有可程控、可监控的优点。
发明内容
本发明为了解决上述现有技术中存在问题，提供一种显示器件的环境测试装置，以解决现在的技术问题。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：
本发明提供了一种显示器件的环境测试装置，包括：箱体，所述箱体上设置有箱盖，所述箱体内设置有第一内胆，所述第一内胆内设置有第二内胆，所述第一内胆上设置有贯穿第一内胆的导热块，所述导热块一端接触第二内胆，所述导热块另一端接触温度控制装置。
优选的，所述温度控制装置为半导体制冷制热片，所述半导体制冷制热片下方设置有散热块，所述散热块上连接有水管。
优选的，所述第二内胆上设置有若干小孔，第一内胆和第二内胆之间设置有鼓风机。
优选的，所述箱盖上设置有观察窗，所述观察窗上设置有有机玻璃。
优选的，所述第二内胆内部放置有待测元器件。
优选的，所述箱体上设置有氮气保护气体接口，所述氮气保护气体接口贯穿第一内胆。
优选的，所述箱体上设置有样品接线口，所述样品接线口贯穿第一内胆。
优选的，所述箱体上设置有温湿度传感器接头，所述温湿度传感器接头连接于温湿度传感器上，所述温湿度传感器位于第一内胆与第二内胆之间。
优选的，所述箱体上设置有加热制冷供电头，所述加热制冷供电头通过导线与温度控制装置相连接。
优选的，所述箱体上设置有加湿口，所述加湿口贯穿第一内胆。
本发明的有益效果是：使用时，将待测样品放置在装置中，即可对样品进行测试，结构简单，使用方便，另外，本装置体积小，可以实现高温测试、低温测试、高湿度测试等多种功能，并且具有可程控、可监控的优点。
附图说明
本发明的上述的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的结构示意图；
图2是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的另一结构示意图；
图3是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的部分内部结构的结构示意图；
图4是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的部分内部结构的结构示意图；
图5是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的部分内部结构的结构示意图；
图6是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的部分内部结构的结构示意图；
图7是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的部分内部结构的结构示意图；
图8是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的部分内部结构的结构示意图；
图9是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的部分内部结构的结构示意图；
图10是本发明实施例的显示器件的环境测试装置的部分内部结构的结构示意图。
附图标记说明：
在图1-图10中，加湿口1；第一内胆2；观察窗3；样品接线口4；第二内胆5；温湿度传感器接头6；加热制冷供电头7；水管8；散热块9；半导体制冷制热片10；导热块11；鼓风机12；箱体13；箱盖14。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本发明提供了一种显示器件的环境测试装置，包括：箱体13，箱体13上设置有箱盖14，箱体13内设置有第一内胆2，第一内胆2内设置有第二内胆5，第一内胆2上设置有贯穿第一内胆2的导热块11，导热块11一端接触第二内胆5，导热块11另一端接触温度控制装置。箱体13为一个金属箱体13，端盖为金属端盖，第一内胆2和第二内胆5都为金属内胆，第一内胆2和箱盖14之间为一个密闭的腔室，在这个腔室中可以模拟高温、低温、高湿等环境，导热块11为一个导热的铝块。
温度控制装置为半导体制冷制热片10，半导体制冷制热片10采用现有技术，半导体制冷制热片10下方设置有散热块9，散热块9上连接有水管8，散热块9可以选择一个水冷的制冷器，也可以使用一个水箱代替，其内不断注入和排出冷水。
第二内胆5上设置有若干小孔，第一内胆2和第二内胆5之间设置有鼓风机12，鼓风机12用于使第一内胆2和第二内胆5中的气体循环。
箱盖14上设置有观察窗3，观察窗3上设置有有机玻璃，观察窗3为一个金属方管，方管的两端都设置有有机玻璃，两层玻璃可以起到更好的保温效果，箱体13外侧可以粘贴一层保温材料。第二内胆5内部放置有待测元器件。
箱体13上设置有氮气保护气体接口，氮气保护气体接口贯穿第一内胆2，氮气保护气体接口可以使用一个气嘴代替，氮气保护气体接口是用来充氮气的，防止显示器件的环境测试装置低温结霜。
箱体13上设置有样品接线口4，样品接线口4贯穿第一内胆2。样品接线口4连接显示器件，给显示器器件供电，让器件显示，使器件在发光的时候测试，样品接线口4也可以使用一根导管代替。
箱体13上设置有温湿度传感器接头6，温湿度传感器接头6连接于温湿度传感器上，温湿度传感器位于第一内胆2与第二内胆5之间。
箱体13上设置有加热制冷供电头7，加热制冷供电头7通过导线与温度控制装置相连接，加热制冷供电头7为一个供电接头。
箱体13上设置有加湿口1，加湿口1贯穿第一内胆2，加湿口1可以使用导管代替，其作用是用来外接加湿装置，使腔室可以达到一定的湿度。
通过PID温控模块控制半导体，实现制冷制热功能，散热铝是给半导体散热的，从而提高制冷制热功能、腔室采用密封处理。
使用时，将待测样品放置在装置中，即可对样品进行测试，结构简单，使用方便，另外，本装置体积小，可以实现高温测试、低温测试、高湿度测试等多种功能，并且具有可程控、可监控的优点。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种显示器件的环境测试装置，包括：箱体，其特征在于：所述箱体上设置有箱盖，所述箱体内设置有第一内胆，所述第一内胆内设置有第二内胆，所述第一内胆上设置有贯穿第一内胆的导热块，所述导热块一端接触第二内胆，所述导热块另一端接触温度控制装置。
2.根据权利要求1所述的显示器件的环境测试装置，其特征在于：所述温度控制装置为半导体制冷制热片，所述半导体制冷制热片下方设置有散热块，所述散热块上连接有水管。
3.根据权利要求1所述的显示器件的环境测试装置，其特征在于：所述第二内胆上设置有若干小孔，第一内胆和第二内胆之间设置有鼓风机。
4.根据权利要求1所述的显示器件的环境测试装置，其特征在于：所述箱盖上设置有观察窗，所述观察窗上设置有有机玻璃。
5.根据权利要求1所述的显示器件的环境测试装置，其特征在于：所述第二内胆内部放置有待测元器件。
6.根据权利要求1所述的显示器件的环境测试装置，其特征在于：所述箱体上设置有氮气保护气体接口，所述氮气保护气体接口贯穿第一内胆。
7.根据权利要求1所述的显示器件的环境测试装置，其特征在于：所述箱体上设置有样品接线口，所述样品接线口贯穿第一内胆。
8.根据权利要求1所述的显示器件的环境测试装置，其特征在于：所述箱体上设置有温湿度传感器接头，所述温湿度传感器接头连接于温湿度传感器上，所述温湿度传感器位于第一内胆与第二内胆之间。
9.根据权利要求1所述的显示器件的环境测试装置，其特征在于：所述箱体上设置有加热制冷供电头，所述加热制冷供电头通过导线与温度控制装置相连接。
10.根据权利要求1所述的显示器件的环境测试装置，其特征在于：所述箱体上设置有加湿口，所述加湿口贯穿第一内胆。
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| CN204688734U (zh) * | 2015-05-06 | 2015-10-07 | 广州市拓璞电器发展有限公司 | 一种文物保存装置 |
| CN105588958A (zh) * | 2016-01-22 | 2016-05-18 | 中山大学 | 一种快速多功能电子元器件温度特性测量仪器及测试腔体 |
| CN209947237U (zh) * | 2019-01-23 | 2020-01-14 | 许天霖 | 一种利用半导体制冷技术的高中生物理化学实验装置 |
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Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6412286B1 (en) * | 2001-04-24 | 2002-07-02 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Storage box using a thermoelement and a cooling method for a storage box |
| CN204688734U (zh) * | 2015-05-06 | 2015-10-07 | 广州市拓璞电器发展有限公司 | 一种文物保存装置 |
| CN105588958A (zh) * | 2016-01-22 | 2016-05-18 | 中山大学 | 一种快速多功能电子元器件温度特性测量仪器及测试腔体 |
| CN209947237U (zh) * | 2019-01-23 | 2020-01-14 | 许天霖 | 一种利用半导体制冷技术的高中生物理化学实验装置 |
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