CN114295554B - 光强检测方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种光强检测方法、装置、设备及存储介质，属于光学检测技术领域。方法包括：在所述光学检测模块检测当前样本之前，调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，得到实际光源本底强度；根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数；通过所述光学检测模块检测当前样本，并获取所述光学检测模块检测当前样本得到的样本实际光强数据；根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到所述光学检测模块的样本光强检测结果。本发明可降低多组光学检测模块的检测偏差。

Description

光强检测方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，特别涉一种光强检测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

相关技术中，生产设备的光学检测模块在实际使用过程中，多个光学检测模块均以出厂前设置数据或者前次校准数据为基准。

但是，多组光学检测模块检测出的光强值由于环境及自然老化等因素，多组光学检测模块的检测结果之间存在检测偏差较大的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种光强检测方法、装置、设备及存储介质，旨在解决现有技术中多组光学检测模块的检测结果之间存在检测偏差较大的的问题。

为实现上述目的，第一方面，本发明提供一种光强检测方法，用于样本检测分析设备，所述样本检测分析设备包括检测台，所述检测台具有多个用于容纳样品的容纳腔；以及多个光学检测模块，多个光学检测模块与所述容纳腔一一对应设置；

所述方法包括：

在所述光学检测模块检测当前样本之前，调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，得到实际光源本底强度；

根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数；

通过所述光学检测模块检测当前样本，并获取所述光学检测模块检测当前样本得到的样本实际光强数据；

根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到样本光强检测结果。

在一实施例中，所述在所述光学检测模块检测当前样本之前，调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，得到所述光学检测模块的实际光源本底强度，包括：

在所述光学检测模块检测当前样本之前，获取当前光学检测模块的当前光源本底强度；

判断所述当前光源本底强度是否在预设阈值范围内；

若所述当前光源本底强度不在预设阈值范围内，则调整所述光学检测模块的光源输出参数，得到所述实际光源本底强度，以使所述实际光源本底强度在所述预设阈值范围内。

在一实施例中，若所述当前光源本底强度不在预设阈值范围内，则调整所述光学检测模块的光源输出参数，得到所述实际光源本底强度，以使所述实际光源本底强度在所述预设阈值范围内，包括：

若所述当前光源本底强度大于所述预设阈值范围的预设阈值上限值，则降低所述光学检测模块的光源输出参数，以使所述光学检测模块的实际光源本底强度降低至所述预设阈值范围内。

在一实施例中，若所述当前光源本底强度不在预设阈值范围内，则调整所述光学检测模块的光源输出参数，得到所述实际光源本底强度，以使所述实际光源本底强度在所述预设阈值范围内，包括：

若所述当前光源本底强度小于所述预设阈值范围的预设阈值下限值，则增大所述光学检测模块的光源输出参数，以使所述光学检测模块的实际光源本底强度增大至所述预设阈值范围内。

在一实施例中，所述调整所述光学检测模块的光源输出参数，得到所述实际光源本底强度，以使所述实际光源本底强度在所述预设阈值范围内，包括：

通过预设调整量参数调整所述光学检测模块的光源输出参数，得到调整后的光源输出参数；

检测所述光学检测模块以所述调整后的光源输出参数输出的光源本底强度，并基于所述光源本底强度更新所述当前光源本底强度，返回执行所述判断所述当前光源本底强度是否在预设阈值范围内，直至所述当前光源本底强度处于所述预设阈值范围内，得到所述实际光源本底强度。

在一实施例中，所述根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数，包括：

根据所述实际光源本底强度、预设光强基准值和第一公式，获得光强补偿系数；所述第一公式为：

其中，t为所述光强补偿系数，A为所述预设光强基准值，L为所述实际光源本底强度。

在一实施例中，所述根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到样本光强检测结果，包括：

根据所述光强补偿系数、所述样本实际光强数据和第二公式，得到样本光强检测结果；所述第二公式为：

X＝x·t；

其中，X为样本光强检测结果，x为所述样本实际光强数据，t为所述光强补偿系数。

第二方面，本发明还提供网络一种光强检测装置，配置于样本检测分析设备，所述样本检测分析设备包括检测台，所述检测台具有多个用于容纳样品的容纳腔；以及多个光学检测模块，多个光学检测模块与所述容纳腔一一对应设置；

所述光强检测装置包括：

光源参数调整模块，用于在所述光学检测模块检测当前样本之前，调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，得到实际光源本底强度；

补偿参数确定模块，用于根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数；

光强数据获取模块，用于通过所述光学检测模块检测当前样本，并获取所述光学检测模块检测当前样本得到的样本实际光强数据；

检测结果获取模块，用于根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到所述光学检测模块的样本光强检测结果。

第三方面，本发明还提供了一种样本检测分析设备，包括：

检测台，所述检测台具有多个用于容纳样品的容纳腔；

多个光学检测模块，多个光学检测模块与所述容纳腔一一对应设置；

以及

存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的光强检测程序，所述光强检测程序配置为实现如上所述的光强检测方法。

第四方面，本发明还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有光强检测程序，所述光强检测程序被处理器执行时实现如上所述的光强检测方法。

本发明提供了一种光强检测方法、装置、设备及存储介质，通过在所述光学检测模块检测当前样本之前，调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，得到实际光源本底强度，从而通过所述光学检测模块检测当前样本，降低多个光学检测模块之间光源本底强度的差异对检测结果的影响。本发明并根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数，然后基于根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到样本光强检测结果，由此，可降低多组光学检测模块由于环境变化及自然老化等因素对检测结果的影响，从而降低多组光学检测模块的检测偏差。

附图说明

图1为本发明样本检测分析设备的结构示意图；

图2为本发明光强检测方法第一实施例的流程示意图；

图3为本发明光强检测方法第二实施例的流程示意图；

图4为本发明光强检测方法第三实施例的流程示意图；

图5为本发明光强检测装置第一实施例的模块示意图。

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

相关技术中，药敏分析仪等样本检测分析设备在出厂前，会进行光强校准，即在透射特定中间介质(一般为空气)的情况下，调节光源组件的输出参数(一般为电流)，使得光学检测模块读数在预设范围内，方为合格。

在实际使用时，随着样本检测分析设备受到所在的测试环境的温度、湿度及海拔等环境因素，此外还有光学检测模块的自然衰减及灰尘等因素，会导致样本检测分析设备的实际读数偏离设备出厂设置的读数值。同时，多组光学检测模块的不一致性，引入的测试结果偏差，导致样本检测分析设备最终输出的判读数据出错。在实际使用时，通过对光学检测模块进行校准可盖上述问题，但是频繁的进行维护校准，会导致用户体验差。

为此，本申请提供了一种光强检测方法，通过调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，改善多个光学检测模块之间光源本底强度的差异对检测结果的影响，并通过光强补偿系数对每个光学检测模块的样本实际光强数据进行修正得到样本光强检测结果，降低多组光学检测模块由于环境变化及自然老化等因素对检测结果的影响，进而降低多组光学检测模块的检测偏差。

下面结合一些具体实施例进一步阐述本申请的发明构思。

参照图1，图1为本申请实施例方案涉及的硬件运行环境的样本检测分析设备的结构示意图。该样本检测分析设备可为自动分析仪等设备。

该样本检测分析设备包括检测板，检测板具有多个检测位，每个检测位可构造为容纳腔，以容纳样品。

样品检测分析仪还包括多个光学检测模块，光学检测模块包括光源组件和检测单元，所述光源组件用于发射至少一种波长的光束并使所述光束照射检测板上的检测位，以照射检测位上的物质，所述检测单元用于收集通过检测位的光束，并根据光束的光谱强度输出电信号。

如图1所示，该样本检测分析设备还可包括：处理器1001，例如中央处理器(Central Processing Unit，CPU)，通信总线1002、用户接口1003，网络接口1004，存储器1005。其中，通信总线1002用于实现这些组件之间的连接通信。用户接口1003可以包括显示屏(Display)、输入单元比如键盘(Keyboard)，可选用户接口1003还可以包括标准的有线接口、无线接口。网络接口1004可选的可以包括标准的有线接口、无线接口(如无线保真(WIreless-FIdelity，WI-FI)接口)。存储器1005可以是高速的随机存取存储器(RandomAccess Memory，RAM)存储器，也可以是稳定的非易失性存储器(Non-Volatile Memory，NVM)，例如磁盘存储器。存储器1005可选的还可以是独立于前述处理器1001的存储装置。

本领域技术人员可以理解，图1中示出的结构并不构成对样本检测分析设备的限定，可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

如图1所示，作为一种存储介质的存储器1005中可以包括操作系统、数据存储模块、蓝牙通信模块、用户接口模块以及光强检测程序。

在图1所示的播放终端中，网络接口1004主要用于与网络服务器进行数据通信；用户接口1003主要用于与用户进行数据交互，输出检测结果；本发明样本检测分析设备中的处理器1001、存储器1005可以设置在样本检测分析设备中，样本检测分析设备通过处理器1001调用存储器1005中存储的光强检测程序，并执行本申请实施例提供的光强检测程序。

基于上述硬件结构但不限于上述硬件结构，提出本申请的一种光强检测方法第一实施例。参阅图2，图2为光强检测方法第一实施例的流程示意图。

本实施例中，方法包括以下步骤：

步骤S100、在所述光学检测模块检测当前样本之前，调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，得到实际光源本底强度。

本实施例中，光强检测方法的执行主体为样本检测分析设备。样本检测分析设备可以是药敏分析仪等设备。该样本检测分析设备包括检测板，检测板具有多个检测位，每个检测位可构造为容纳腔，以容纳样品。样品检测分析仪还包括多个光学检测模块，光学检测模块包括光源组件和检测单元，所述光源组件用于发射至少一种波长的光束并使所述光束照射检测板上的检测位，以照射检测位上的物质，所述检测单元用于收集通过检测位的光束，并根据光束的光谱强度输出电信号。可以理解的，多个光学检测模块可依次对同一批次的样本进行光强检测。如药敏分析仪可对同一批次测试样本对药物的敏感程度。

当前光源本底强度为在需要对当前样本进行光强检测之前，即在检测位上并未放置样本，而控制光源组件射出检测光束至检测位，检测单元根据该光束输出的光强值。也即是光源组件投射特定中间介质(一般为空气)的情况下真实的读取数据。

本步骤中，在所述光学检测模块检测当前样本之前，调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，从而使得光学检测模块在检测样本时，输出的检测光束的光源本底强度均在一设定范围内，即预设阈值范围内。实际光源本底强度即为调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内后，光源组件射出的检测光束的光源本底强度。

本步骤中，通过调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，以在正式检测前实时消除多组光学检测模块的光强本底值差异大带来的偏差。

且调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，还可提高调整速度，降低调试成本。

步骤S200、根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数。

预设光强基准值为该台样本检测分析设备中，多组光学检测模块射出的检测光束的统一的理论基准值，即在不考虑温度、湿度及海拔等环境因素，以及光学检测模块的自然衰减及灰尘等因素情况下，光源组件理论上输出的检测光束的光强值。

可以理解的，在实际使用中，由于温度、湿度及海拔等环境因素，以及光学检测模块的自然衰减及灰尘等因素是客观存在的，这使得各个光源组件射出的检测光束的实际光源本底强度与预设光强基准值始终存在偏差。

因此，本实施例提出一光强补偿系数，通过该光强补偿系数对实际光源本底强度进行补偿优化，使其补偿为一致的理论光强数据，也即是预设光强基准值。

且本实施例中，在每次光学检测模块检测当前样本之前，均计算得到光强补偿系数，即动态计算出光强补偿系数，实时性更强，从而补偿效果更佳。

步骤S300、通过所述光学检测模块检测当前样本，并获取所述光学检测模块检测当前样本得到的样本实际光强数据。

在调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内后，可将当前样本放置于检测位，然后控制光源组件以实际光源本底强度输出检测光束，检测光束穿过当前样本后被检测单元接收，检测单元输出检测得到样本实际光强数据。

可以理解的，步骤S300可在步骤S200之前进行，本实施例对此并不限制。

步骤S400、根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到所述光学检测模块的样本光强检测结果。

样本光强检测结果为光学检测模块最终向外输出的检测结果，用于样本检测分析设备进行结果判断。

检测单元得到样本实际光强数据后，将样本实际光强数据发送至处理器，处理器获取到该样本实际光强数据，然后通过光强补偿系数对样本实际光强数据进行补偿，得到样本光强检测结果，并输出该样本光强检测结果。

本实施例中，在每次光学检测模块检测当前样本之前，先通过调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内以均衡各个光学检测模块的光强本底值，从而降低检测结果中多组光学检测模块的光强本底值本身得到差异性带来的偏差。此外，在使用实际光源本底强度的检测光束检测得到样本实际光强数据之后，再使用实际光源本底强度与预设光强基准值确定出的光强补偿系数对该样本实际光强数据进行补偿处理，以降低各个光学检测模块以同一预设阈值范围内的光源本底强度输出的检测光束由于受到环境变化及自然老化等因素的影响而产生的检测偏差，进而提高多组光学检测模块之间的检测结果一致性，提高检测精度。

此外，容易理解的，实际使用过程中，光学检测模块所有算法均以出厂前设置数据或者上次校准数据为基准。由于，本身多组检测模块存在不一致性、环境及自然老化等因素，算法的基准数据会慢慢偏离校准数据，但是现有技术中一般等到发现极大偏差后，再校准。

而本实施例中，通过在每次测试之前，实时均衡各个光学检测模块的光强本底值，并且每次测试均通过光强补偿系数实时对检测结果进行补偿，还可极大地延长维护和校准周期，提升用户的使用体验。

基于上述实施例，提出本发明光强检测方法第二实施例。参阅图3，图3为本发明光强检测方法第二实施例的流程示意图。

本实施例中，步骤S100包括：

步骤S101、在所述光学检测模块检测当前样本之前，获取当前光学检测模块的当前光源本底强度。

具体而言，在需要对当前样本进行光强检测之前，即在检测位上并未放置样本时，控制光源组件射出检测光束至检测位，检测单元根据该光束输出的光强值。从而检测单元获取到光源组件投射特定中间介质(一般为空气)的情况下真实的读取数据，即前光源本底强度后，将其发送至样本检测分析设备的处理器。

步骤S102、判断所述当前光源本底强度是否在预设阈值范围内。

处理器接收到该当前光源本底强度后，判断其是否在预设阈值范围内。

具体的，处理器判断a≤L≤b是否成立。其中，a为预设阈值范围的预设阈值下限值，b为预设阈值范围的预设阈值上限值。

步骤S103、若所述当前光源本底强度不在预设阈值范围内，则调整所述光学检测模块的光源输出参数，得到所述实际光源本底强度，以使所述实际光源本底强度在所述预设阈值范围内。

本实施例中，当判断a≤L≤b是否成立的判定结果为否时，则调整光学检测模块的光源输出参数，如调整激光器的输出电流值至少一次，最终使得得到的实际光源本底强度在所述预设阈值范围内。也即是使得光学检测模块在检测样本时，以均衡后的光强本底值输出检测光束，从而降低检测结果中多组光学检测模块的光强本底值本身得到差异性带来的偏差。

在一具体实施方式中，步骤S103包括：

若所述当前光源本底强度大于所述预设阈值范围的预设阈值上限值，则降低所述光学检测模块的光源输出参数，以使所述光学检测模块的实际光源本底强度降低至所述预设阈值范围内。

具体而言，当L＞b时，此时该光学检测模块输出的光源本底强度相对极大，利用该光源本底强度输出的检测光束产生的检测上偏差较大，为了降低该检测上偏差，可通过调整光源组件的光源输出参数，如电流或者输出功率等调整光源组件的光强，使得光学检测模块的实际光源本底强度降低至所述预设阈值范围内，从而达到均衡多组光学检测模块的光源本底强度的目的。

在另一具体实施方式中，步骤S103包括：

若所述当前光源本底强度小于所述预设阈值范围的预设阈值下限值，则增大所述光学检测模块的光源输出参数，以使所述光学检测模块的实际光源本底强度增大至所述预设阈值范围内。

具体而言，当L＜a时，此时该光学检测模块输出的光源本底强度相对极小，利用该光源本底强度输出的检测光束产生的检测下偏差较大，为了降低该检测下偏差，可通过调整光源组件的光源输出参数，如电流或者输出功率等调整光源组件的光强，使得光学检测模块的实际光源本底强度增大至所述预设阈值范围内，从而达到均衡多组光学检测模块的光源本底强度的目的。

步骤S104、若所述当前光源本底强度在预设阈值范围内，则将所述当前光源本底强度确定为所述实际光源本底强度。

具体而言，当判断a≤L≤b是否成立的判定结果为是时，则无需调整当前光源本底强度，可将该当前光源本底强度确定为所述实际光源本底强度。

基于第二实施例，提出本发明光强检测方法第三实施例。参阅图4，图4为本发明光强检测方法第三实施例的流程示意图。

本实施例中，步骤步骤S103包括：

步骤A10、通过预设调整量参数调整所述光学检测模块的光源输出参数，得到调整后的光源输出参数；

步骤A20、检测所述光学检测模块以所述调整后的光源输出参数输出的光源本底强度，并基于所述光源本底强度更新所述当前光源本底强度，返回执行步骤S102，直至所述当前光源本底强度处于所述预设阈值范围内，得到所述实际光源本底强度。

具体而言，在调整光学检测模块的光源输出参数时，每次以预设调整量参数降低或者增大该光源输出参数。如，每次调整光源的电流值增大0.2A。可以理解的，预设调整量参数可由样本检测分析设备的厂家或者用户根据具体情况设定。

若第一次以预设调整量参数降低或者增大该光源输出参数后，得到的光源本底强度处于预设阈值范围内，则将调整后的光源本底强度作为实际光源本底强度，并结束执行调整操作。

若第一次以预设调整量参数降低或者增大该光源输出参数后，执行步骤S102，判断结果为得到的光源本底强度仍不处于预设阈值范围内，则继续执行步骤A10，第二次以预设调整量参数降低或者增大该光源输出参数，然后检测所述光学检测模块以所述第二次调整后的光源输出参数输出的光源本底强度，并基于所述光源本底强度更新所述当前光源本底强度，执行步骤S102，判断结果为得到的光源本底强度仍不处于预设阈值范围内。循环执行上述步骤，直至调整混的当前光源本底强度处于所述预设阈值范围内，得到所述实际光源本底强度。

本实施例中，在调整调光源组件的光源输出参数时，可以是采用以预设调整量参数降低或者提高的方式，即以固定幅度调整，从而避免光源输出参数改变的幅度过大而严重偏离当前设定工况或产生其它异常，还可提高调整速度，避免调整过量。

作为一个实施例中，步骤S200包括：

根据所述实际光源本底强度、预设光强基准值和第一公式，获得光强补偿系数；所述第一公式为：

其中，t为所述光强补偿系数，A为所述预设光强基准值，L为所述实际光源本底强度。

具体而言，任一台光学检测模块的光强补偿系数为预设光强基准值和所述实际光源本底强度的比值。如样本检测分析设备包括多台光学检测模块时，第n台光学检测模块的光强补偿系数为

进一步的，步骤S400包括，根据所述光强补偿系数、所述样本实际光强数据和第二公式，得到样本光强检测结果；所述第二公式为：

X＝x·t；

其中，X为样本光强检测结果，x为所述样本实际光强数据，t为所述光强补偿系数。

也即是，在每次检测样本之前，实时计算得到光学检测模块的光强补偿系数之后，并且检测得到样本实际光强数据之后，可通过光强补偿系数对样本实际光强数据进行放大，具体为将样本实际光强数据和所述光强补偿系数的乘积作为样本光强检测结果。

如样本检测分析设备包括多台光学检测模块时，第n台光学检测模块的样本光强检测结果为X_n＝x_n·t_n。

本实施例中，为了使得光学检测模块检测时的实际光源本底强度校准达到理论上的预设光强基准值，且避免校准带来的使用不便以及耗时较长等问题出现，可通过光强补偿系数对样本实际光强数据进行放大，达到每次测试准确归一各个光学检测模块的实际光源本底强度至预设光强基准值的目的。从而降低检测偏差。

为了便于理解本申请，下面示出一具体实施方式：

药敏分析仪具有12路光学检测模块，在对同一批次样品进行药敏分析之前，依次控制每路光源组件射出检测光束至检测位，检测单元根据该光束输出的光强值。即首先控制第1路光学检测模块射出检测光束至检测位，第1路对应的检测单元根据该光束输出的光强值得到第1路光源组件的当前光源本底强度L。判断a≤L≤b是否成立，并在L＞b时，可通过调整光源组件的光源输出参数，如电流或者输出功率等调整光源组件的光强，使得光学检测模块的实际光源本底强度L₁降低至所述预设阈值范围内，从而达到均衡多组光学检测模块的光源本底强度的目的。然后由计算出第1路光学检测模块的光强补偿系数t₁。

同理，依次调整其他11路光学检测模块的光源输出参数，使得光学检测模块的实际光源本底强度L₂、……以及L₁₂均调整至所述预设阈值范围内，以均衡多组光学检测模块的光源本底强度的目的。并依次计算出第2路光学检测模块至第12路光学检测模块的光强补偿系数t₁、……以及t₁₂。

开始测试以后，将待测样本分别放入检测位，依次通过12路光学检测模块检测当前样本，并依次获取12路光学检测模块检测当前样本得到的样本实际光强数据x₁、……、x₁₂。根据X_n＝x_n·t_n计算得到每路光学检测模块的样本光强检测结果X₁、……、X₁₂。药敏分析仪根据X₁、……、X₁₂上报判读数据。

基于同一发明构思，本发明还提供了一种光强检测装置。参阅图5，图5为本发明光强检测装置第一实施例的模块示意图。光强检测装置配置于样本检测分析设备，样本检测分析设备包括：检测台，所述检测台具有多个用于容纳样品的容纳腔；多个光学检测模块，多个光学检测模块与所述容纳腔一一对应设置。

本实施例中，所述装置包括：

光源参数调整模块，用于在所述光学检测模块检测当前样本之前，调整所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，得到实际光源本底强度；

补偿参数确定模块，用于根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数；

光强数据获取模块，用于通过所述光学检测模块检测当前样本，并获取所述光学检测模块检测当前样本得到的样本实际光强数据；

检测结果获取模块，用于根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到所述光学检测模块的样本光强检测结果。

本申请光强检测装置的其他实施例和具体实施方式可参照上述方法实施例，此处不再赘述。

此外，本发明实施例还提出一种计算机存储介质，所述存储介质上存储有光强检测程序，所述光强检测程序被处理器执行时实现如上文所述的光强检测方法的步骤。因此，这里将不再进行赘述。另外，对采用相同方法的有益效果描述，也不再进行赘述。对于本申请所涉及的计算机可读存储介质实施例中未披露的技术细节，请参照本申请方法实施例的描述。确定为示例，程序指令可被部署为在一个计算设备上执行，或者在位于一个地点的多个计算设备上执行，又或者，在分布在多个地点且通过通信网络互连的多个计算设备上执行。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，上述的程序可存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，上述的存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)或随机存储记忆体(RandomAccessMemory，RAM)等。

另外需说明的是，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。另外，本发明提供的装置实施例附图中，模块之间的连接关系表示它们之间具有通信连接，具体可以实现为一条或多条通信总线或信号线。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

通过以上的实施方式的描述，所属领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件的方式来实现，当然也可以通过专用硬件包括专用集成电路、专用CPU、专用存储器、专用元器件等来实现。一般情况下，凡由计算机程序完成的功能都可以很容易地用相应的硬件来实现，而且，用来实现同一功能的具体硬件结构也可以是多种多样的，例如模拟电路、数字电路或专用电路等。但是，对本发明而言更多情况下软件程序实现是更佳的实施方式。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在可读取的存储介质中，如计算机的软盘、U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，RandomAccessMemory)、磁碟或者光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述的方法。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (10)

1.一种光强检测方法，其特征在于，用于样本检测分析设备，所述样本检测分析设备包括检测台，所述检测台具有多个用于容纳样品的容纳腔；以及多个光学检测模块，多个光学检测模块与所述容纳腔一一对应设置；

所述方法包括：

在所述光学检测模块检测当前样本之前，分别调整各所述光学检测模块的当前光源本底强度均至预设阈值范围内，得到各所述光学检测模块的实际光源本底强度；

针对各所述光学检测模块，根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数；

通过各所述光学检测模块检测当前样本，并获取各所述光学检测模块检测当前样本得到的样本实际光强数据；

针对各所述光学检测模块，根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到所述光学检测模块的样本光强检测结果。

2.根据权利要求1所述的光强检测方法，其特征在于，所述在所述光学检测模块检测当前样本之前，分别调整各所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，得到实际光源本底强度，包括：

在所述光学检测模块检测当前样本之前，获取当前光学检测模块的当前光源本底强度；

判断所述当前光源本底强度是否在所述预设阈值范围内；

若所述当前光源本底强度不在预设阈值范围内，则调整所述当前光学检测模块的光源输出参数，得到所述实际光源本底强度，以使所述当前光学检测模块的实际光源本底强度在所述预设阈值范围内。

3.根据权利要求2所述的光强检测方法，其特征在于，若所述当前光源本底强度不在预设阈值范围内，则调整所述光学检测模块的光源输出参数，得到所述实际光源本底强度，以使所述当前光学检测模块的实际光源本底强度在所述预设阈值范围内，包括：

若所述当前光源本底强度大于所述预设阈值范围的预设阈值上限值，则降低所述当前光学检测模块的光源输出参数，以使所述当前光学检测模块的实际光源本底强度件降低至所述预设阈值范围内。

4.根据权利要求2所述的光强检测方法，其特征在于，若所述当前光源本底强度不在预设阈值范围内，则调整所述当前光学检测模块的光源输出参数，得到所述实际光源本底强度，以使所述当前光学检测模块的实际光源本底强度在所述预设阈值范围内，包括：

若所述当前光源本底强度小于所述预设阈值范围的预设阈值下限值，则增大所述当前光学检测模块的光源输出参数，以使所述当前光学检测模块的实际光源本底强度增大至在所述预设阈值范围内。

5.根据权利要求2至4任一项所述的光强检测方法，其特征在于，所述调整所述当前光学检测模块的光源输出参数，得到所述实际光源本底强度，以使所述当前光学检测模块的实际光源本底强度在所述预设阈值范围内，包括：

通过预设调整量参数调整所述当前光学检测模块的光源输出参数，得到调整后的光源输出参数；

检测所述当前光学检测模块以所述调整后的光源输出参数输出的光源本底强度，并基于所述光源本底强度更新所述当前光源本底强度，返回执行所述判断所述当前光源本底强度是否在预设阈值范围内，直至所述当前光源本底强度处于所述预设阈值范围内，得到所述实际光源本底强度。

6.根据权利要求1所述的光强检测方法，其特征在于，所述针对各所述光学检测模块，根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数，包括：

针对各所述光学检测模块，根据所述实际光源本底强度、预设光强基准值和第一公式，获得光强补偿系数；所述第一公式为：

其中，t为所述光强补偿系数，A为所述预设光强基准值，L为所述实际光源本底强度。

7.根据权利要求1所述的光强检测方法，其特征在于，所述针对各所述光学检测模块，根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到各所述光学检测模块的样本光强检测结果，包括：

根据所述光强补偿系数、所述样本实际光强数据和第二公式，得到所述光学检测模块的样本光强检测结果；所述第二公式为：

X＝x·t；

其中，X为样本光强检测结果，x为所述样本实际光强数据，t为所述光强补偿系数。

8.一种光强检测装置，其特征在于，配置于样本检测分析设备，所述样本检测分析设备包括检测台，所述检测台具有多个用于容纳样品的容纳腔；以及多个光学检测模块，多个光学检测模块与所述容纳腔一一对应设置；

所述光强检测装置包括：

光源参数调整模块，用于在所述光学检测模块检测当前样本之前，分别调整各所述光学检测模块的当前光源本底强度至预设阈值范围内，得到实际光源本底强度；

补偿参数确定模块，用于针对各所述光学检测模块，根据所述实际光源本底强度与预设光强基准值，获得光强补偿系数；

光强数据获取模块，用于通过各所述光学检测模块检测当前样本，并获取各所述光学检测模块检测当前样本得到的样本实际光强数据；

检测结果获取模块，用于针对各所述光学检测模块，根据所述光强补偿系数与所述样本实际光强数据，得到所述光学检测模块的样本光强检测结果。

9.一种样本检测分析设备，其特征在于，包括：

检测台，所述检测台具有多个用于容纳样品的容纳腔；

多个光学检测模块，多个光学检测模块与所述容纳腔一一对应设置；以及

存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的光强检测程序，所述光强检测程序配置为实现如权利要求1至7任一项所述的光强检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有光强检测程序，所述光强检测程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述的光强检测方法。