CN114264879A - 一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置和系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置和系统，装置包括：CPCI连接器、第一端口、第二端口、电压源单元、电流源单元、测量单元和控制器；CPCI连接器连接上位机；第一端口连入待测绝缘电阻；第二端口连入待测导通电阻；电压源单元提供测量电压；电流源单元提供测量电流；测量单元包括第一电阻和模数转换器；第一电阻采样漏电流；模数转换器测量第一电阻两端的第一电压；测量待测导通电阻两端的第二电压。本发明的技术方案能够实现包括绝缘电阻、导通电阻和高压源电压的测量，能够把不同形式的物理量转换成电压形式的小于电压测量单元的量程的物理量，因而能够复用电压测量单元，电路设计更加紧凑，实现将测量装置设计在较小空间的CPCI模块上。

Description

一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置和系统

技术领域

本发明涉及测量领域，尤其涉及一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置和系统。

背景技术

为了检测电路板的质量，需要测量电路板多个关键节点的绝缘电阻和导通电阻。测量绝缘电阻通常采用的方式是测量漏电流，根据漏电流和高压源输出的电压计算出绝缘电阻。这就需要使用台式的高压表、静电计，或者使用台式的安规测试仪，而测量导通电流需要使用台式的恒流源。台式仪器的优点是测量精度较高，功能种类较多，但缺点是占据空间较大，不利于系统集成。

另外，在航天工业的地面测试设备领域，系统对于测试设备“三化六性”设计具有较高要求，测发控系统通常使用模块化测试设备对关键部组件进行电气性能测试，模块化测试设备便于调试和拆装。CPCI(Compact Peripheral Component Interconnect，紧凑型PCI)总线具有高可靠性，热插拔等优点，在航空航天领域得到广泛应用。CPCI总线的仪器模块为了适配CPCI总线机箱，有固定的尺寸要求，电路板面积非常有限。如何将在CPCI总线模块有限的电路板面积上能实现绝缘电阻和导通电阻的测量成为本领域的技术问题之一。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例提供了一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置和系统，以解决传统测量绝缘电阻和导通电阻的台式仪器占据空间大，不便于维修的问题。

根据本发明的一方面，提供了一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置，该装置包括：

CPCI连接器、第一端口、第二端口、电压源单元、电流源单元、测量单元和控制器；

CPCI连接器用于通过CPCI总线连接上位机；

第一端口用于连入待测绝缘电阻；

第二端口用于连入待测导通电阻；

电压源单元用于为测量待测绝缘电阻的第一阻值提供测量电压；

电流源单元用于为测量待测导通电阻的第二阻值提供测量电流；

测量单元包括第一电阻和模数转换器；第一电阻与待测绝缘电阻串联，用于采样通过待测绝缘电阻的漏电流；模数转换器用于测量电压源单元向待测绝缘电阻输出测量电压时，第一电阻两端的第一电压；测量电流源单元向待测导通电阻输出测量电流时，待测导通电阻两端的第二电压；

控制器，用于实现CPCI总线接口电路；根据第一电压、电压源单元的第一电源电压和第一电阻的第三阻值计算第一阻值；根据第二电压和电流源单元的电流值计算第二阻值。

进一步地，电压源单元还包括电压衰减电路，

电压衰减电路，用于按衰减倍数将第二电源电压缩小为第三电源电压；其中，第三电源电压小于模数转换器的量程电压；

模数转换器还用于测量第三电源电压；

控制器还用于根据第三电源电压和衰减倍数计算第二电源电压；根据第二电源电压、第三阻值和第一电压计算待测绝缘电阻的阻值。

进一步地，电压衰减电路包括至少两个第二电阻、第一运算放大器和第二继电器，

第二电阻和第一运算放大器用于构成第一运算放大电路；

第二继电器用于控制每个第二电阻是否接入第一运算放大电路，以控制衰减倍数。

进一步地，电压源单元还包括数模转换单元、开关管和变压器，

数模转换单元和开关管，用于生成电压可调的激励信号；

变压器，用于对激励信号进行放大，以生成测量电压。

进一步地，电压源单元包括振荡器，振荡器用于产生脉冲形式的测量电压。

进一步地，第一电阻的数量为至少为两个，测量单元还包括第一继电器，第一继电器用于控制每个第一电阻是否用于采样漏电流。

进一步地，电流源单元还包括至少两个第三电阻和第三继电器，

第三电阻用于采样测量电流；

第三继电器用于控制每个第三电阻是否用于采样测量电流。

进一步地，电流源单元还包括电压增益电路，

电压增益电路，用于按增益倍数将第二电压放大为第三电压；其中，第三电压小于模数转换器的量程电压；

模数转换器还用于测量第三电压；

控制器还用于根据第三电压和增益倍数计算第二电压；根据第二电源电压和第一电压计算待测导通电阻的阻值。

进一步地，电压增益电路包括至少两个第四电阻、第二运算放大器和第四继电器，

第四电阻和第二运算放大器用于构成第二运算放大电路；

第四继电器用于控制每个第四电阻是否接入第二运算放大电路，以控制增益倍数；其中第四电阻的数量为至少一个。

根据本发明的另一方面，提供了一种基于CPCI总线的系统，该系统包括上述任意一种测量装置。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，能够实现包括绝缘电阻、导通电阻和高压源电压的测量，能够把被测量的不同形式的物理量转换成电压形式的小于电压测量单元的量程的物理量，因而能够复用电压测量单元，电路设计更加紧凑，实现将测量装置设计在较小空间的CPCI模块上。

附图说明

图1示出了根据本发明示例性实施例的一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置的原理框图；

图2示出了根据本发明示例性实施例的第一继电器和第一电阻的连接关系原理图；

图3示出了根据本发明示例性实施例的一种电压增益电路原理图。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本发明的实施例。虽然附图中显示了本发明的某些实施例，然而应当理解的是，本发明可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本发明。应当理解的是，本发明的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本发明的保护范围。

应当理解，本发明的方法实施方式中记载的各个步骤可以按照不同的顺序执行，和/或并行执行。此外，方法实施方式可以包括附加的步骤和/或省略执行示出的步骤。本发明的范围在此方面不受限制。

本文使用的术语“包括”及其变形是开放性包括，即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”；术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”；术语“一些实施例”表示“至少一些实施例”。其他术语的相关定义将在下文描述中给出。需要注意，本发明中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对不同的测量装置、模块或单元进行区分，并非用于限定这些装置、模块或单元所执行的功能的顺序或者相互依存关系。

需要注意，本发明中提及的“一个”、“多个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。

本发明实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的，而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。

本发明提供了一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置，该测量装置应用于CPCI机箱中的板卡。受机箱限制，CPCI板卡的尺寸有限制，不能无限扩大板卡的PCB(PrintedCircuit Board，印制电路板)的大小。本发明的装置可应用在CPCI标准的3U尺寸的板卡上，3U尺寸的板卡的PCB的尺寸为100mm×160mm。图1示出了根据本发明示例性实施例的一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置的原理框图。

如图1所示，该装置包括：

CPCI连接器1、第一端口2、第二端口3、电压源单元4、电流源单元5、测量单元6和控制器7；

CPCI连接器1用于通过CPCI总线连接上位机；

第一端口2用于连入待测绝缘电阻；

第二端口3用于连入待测导通电阻；

电压源单元4用于为测量待测绝缘电阻的第一阻值提供测量电压；

电流源单元5用于为测量待测导通电阻的第二阻值提供测量电流；

测量单元6包括第一电阻61和模数转换器62；第一电阻61与待测绝缘电阻串联，用于采样通过待测绝缘电阻的漏电流；模数转换器62用于测量电压源单元4向待测绝缘电阻输出测量电压时，第一电阻61两端的第一电压；测量电流源单元5向待测导通电阻输出测量电流时，待测导通电阻两端的第二电压；

控制器7，用于实现CPCI总线接口电路；根据第一电压、电压源单元的第一电源电压和第一电阻的第三阻值计算第一阻值；根据第二电压和电流源单元的电流值计算第二阻值。

本发明中的装置通过CPCI总线与上位机通信，通信和控制满足CPCI总线标准的要求。CPCI连接器1用于将本发明的装置连接在CPCI机箱中，进而通过CPCI机箱与上位机通信。本发明应用的板卡可以是3U尺寸，相应的，CPCI连接器1可以是两个接插件。

本发明通常用于检测电路板的质量，待测绝缘电阻和待测导通电阻的含义是待测电路板的某两个关键的节点之间的电阻。实际应用时，被检测的电路板的待测的节点可延伸出导线或接插件，与第一端口2(测量绝缘电阻)或第二端口3(测量导通电阻)相连。检测电路板质量通常需要既测量绝缘电阻，又测量导通电阻。例如，某两个待测节点理论上应该是绝缘的，首先测量这两个待测节点的导通电阻，以确定这两个待测节点是否短路，若短路说明电路板质量有问题，若不短路，则测量这两个待测节点的绝缘电阻。

下面分绝缘电阻测量功能和导通电阻测量功能介绍本发明的装置。

(一)绝缘电阻测量

本发明用于测量绝缘电阻的电压源单元4用于产生200V-1000V左右的较高电压(即测量电压)，电压源单元4产生的电压可以是固定的，也可以是可调的。产生上述电压的原理通常是通过输出固定电压的电源芯片产生激励电压，再通过放大电路(例如变压器和运算放大电路)对激励电压进行放大。

本发明的装置通过测量漏电流的方式测量绝缘电阻。漏电流即电压源单元4向待测绝缘电阻输出测量电压时，通过待测绝缘电阻的电流值。本发明的装置中有与待测绝缘电阻串联的第一电阻61，漏电流同样通过第一电阻61，因而通过测量第一电阻61两端的电压(即第一电压)，根据I＝U/R公式能够得到漏电流的电流值。根据漏电流的电流值，电压源单元4输出的电压的理论值(即第一电源电压)能够计算出待测绝缘电阻的阻值(即第一阻值)。本发明的装置具有检测模块，检测模块中具有模数转换器62，能够测量第一电压，并把第一电压发送给控制器7，控制器7能够自动完成上述运算，得到第一阻值。

上述运算中，使用的电压源单元4输出的电压是理论值，电压源单元4实际输出的电压可能与理论值存在偏差。本发明的装置还能够测量电压源单元4实际输出的电压(即第二电源电压)。

进一步地，电压源单元4还包括电压衰减电路，

电压衰减电路，用于按衰减倍数将第二电源电压缩小为第三电源电压；其中，第三电源电压小于模数转换器62的量程电压；

模数转换器62还用于测量第三电源电压；

控制器7还用于根据第三电源电压和衰减倍数计算第二电源电压；根据第二电源电压、第三阻值和第一电压计算待测绝缘电阻的阻值。

本发明的装置使用上文中的模数转换器62来测量第二电源电压，第二电源电压过大，超出模数转换器62的量程，因而采用电压衰减电路来缩小第二电源电压，使第二电源电压被缩小后的电压(即第三电源电压)小于模数转换器62的量程。控制器7能够根据第三电源电压和缩小的倍数即衰减倍数，衰减倍数小于1计算得到第二电源电压。第二电源电压为加在待测绝缘电阻和第一电阻上的电压之和。根据第二电源电压、第三阻值和第一电压计算待测绝缘电阻的阻值，可以按照“待测绝缘电阻的阻值＝(第二电源电压-第一电压)/(第一电压/第三阻值)”的公式。其中，“第二电源电压-第一电压”为待测绝缘电阻两端的电压，“第一电压/第三阻值”为通过绝缘电阻的漏电流的电流值。

本发明的控制器7可以是FPGA(Field Programmable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)芯片。控制器7完成CPCI接口芯片功能(利用开源的IP核实现)和测量导通电阻和测量绝缘电阻时所需要用到的控制和计算功能。板卡上电复位后，上位机操作系统利用FPGA模块内部的CPCI IP核自动对板卡进行CPCI地址分配。上位机可通过PCI地址映射操作FPGA模块内部各个功能寄存器达到控制板卡工作的目的。

本实施例的装置将电源较高的电压衰减成较低的电压，因而能够用测量较低电压的模数转换器62测量高压电源的电压，由于能够测量高压电源的实际输出电压，因而利用高压电源的实际输出电压和漏电流计算绝缘电阻的阻值时，得到的绝缘电阻更准确。

进一步地，电压衰减电路包括至少两个第二电阻411、第一运算放大器和第二继电器412，

第二电阻411和第一运算放大器用于构成第一运算放大电路；

第二继电器412用于控制每个第二电阻411是否接入第一运算放大电路，以控制衰减倍数。

若电压源单元4输出的电压是固定的，由于模数转换器62的量程是固定的，因此第一衰减电路的缩小的倍数也是固定的。若电压源单元4输出的电压是可调的，则衰减电路需要根据电压源单元4输出的电压来调节缩小倍数，防止衰减后的电压超出模数转换器62的量程，导致无法测量出真正的电源电压或损坏模数转换器62，或者，衰减后的电压过小，降低模数转换器62测量衰减后的电压的精度。电压衰减电路可以采用DC/DC(DirectCurrent，直流变换器)电源供电，这样能够为测量单元提供浮动测量能力。

电压衰减电路通常位于电压源单元4输出测试电压的端口之后，通常是由运算放大电路组成的，运算放大电路包括运算放大器(即第一运算放大器)和电阻(即第二电阻411)。电阻的阻值决定了运算放大电路的放大倍数(即衰减倍数，衰减倍数小于1)。通过继电器对电阻所在回路的通断能够调节电阻是否接入，进而调节衰减倍数。

进一步地，电压源单元4还包括数模转换单元、开关管和变压器，

数模转换单元和开关管，用于生成电压可调的激励信号；

变压器，用于对激励信号进行放大，以生成测量电压。

为了输出可调的电压，数模转换单元生成可控(由控制器7输出的数字信号控制)的直流模拟控制信号，控制信号的参考地相对系统供电是浮动的，开关管将直流模拟信号转换成交流模拟信号(即激励信号)，变压器将交流模拟信号放大。变压器可以使用放大倍数较大的音频放大器。数模转换单元可采用16位的DAC(Digital to analog converter，数模转换器)芯片配合输出Buffer(缓存)运算放大器来实现。DAC芯片通过电磁隔离芯片进行控制，能够用于测量用于采样漏电流的采样电阻两端的电压，电流源单元5两端的电压，待测导通电阻两端的电压，经过电压源单元4经高压衰减电路衰减后的电压。可采用电磁继电器对切换被测对象。DAC芯片可采用浮动隔离电源供电，其表头为浮动表头构成浮动测量单元。

进一步地，电压源单元4包括振荡器，振荡器用于产生脉冲形式的测量电压。

测量绝缘电阻时，若长时间向待测绝缘电阻输出较高电压的测量电压，可能会损坏待测绝缘电阻。因而，需要电压源单元4能够输出脉冲形式的测量电压。本实施例的装置中使用振荡器(振荡频率可以是20kHz～30kHz)来控制电压源单元4输出的电压信号的周期和占空比(即脉冲宽度)。

进一步地，第一电阻61的数量为至少为两个，测量单元6还包括第一继电器，第一继电器用于控制每个第一电阻61是否用于采样漏电流。

实际应用中，用户需要测量的绝缘电阻的范围比较大。如果绝缘电阻很大，会导致漏电流很小，若采样电阻也比较小，则第一电压会很小，模数转换器62的精度是一定的，信号过小会导致测得的结果精度不足。本装置能够通过控制继电器(第一继电器)的通断，来切换用于采样漏电流的第一电阻61的阻值，因而适合测量阻值波动范围可能较大的绝缘电阻。图2示出了根据本发明示例性实施例的第一继电器和第一电阻的连接关系原理图。

表1是第一电阻的第三阻值、漏电流电流值和被测的绝缘电阻阻值的关系表。

第一电阻的第三阻值	漏电流电流值	绝缘电阻阻值
			2MΩ	0.1μA～1μA	100M～1GΩ
200KΩ	1μA～10μA	10M～100MΩ
			20KΩ	10μA～100μA	1M～10MΩ
2KΩ	100μA～1mA	100K～1MΩ

表1第一电阻的第三阻值、漏电流电流值和被测的绝缘电阻阻值的关系表

实际应用中，电压源单元4使用固定频率振荡器和开关管生成激励信号输出到音频变压器(匝数比可以为1：250)的初级线圈，由变压器次级线圈输出高压。电压输出端可以设置保护电阻。电压输出端后有电压衰减电路。经电压衰减电路的电压被运算放大器捕获。运算放大器用于组成负反馈环路中的运算放大电路，并提供环路增益。运算放大器通过控制调整管进而控制变压器初级线圈中的电流，进而控制电压源单元4输出稳定的电压。

(二)导通电阻测量

本发明的装置测量待测导通电阻的原理是通过电流源单元5给待测导通电阻供电，能够通过模数转换器62测量待测导通电阻两端的电压(即第二电压)，通过公式R＝U/I计算得到待测导通电阻的阻值。

具体地，本发明中测量单元6通过第二端口3与待测导通电阻的连接可以是四线开尔文连接方式，同时采集地电压和输出激励电压。由于待测导通电阻通常较小(几十毫欧)，开尔文连接方式在测量导通电阻时排除导线，接线端子带来的电阻，这种连接方式专门用于测量导通电阻。

电流源单元5的实现方式可以是通过高电流输出型运算放大器与取样电阻组成负反馈控制回路，负为反馈控制回路使电流输出保持恒定。

具体地，电流源单元5的构成可以是用一个高电流输出型运算放大器作为主运算放大器，用一个精密运算放大器于主运算放大器构成复合式运算放大器，精密运算放大器具有低温漂和失调电压极低的优点，能对主运算放大器的运算点失调电压进行补偿。利用采样电阻与复合式运算放大器构成负反馈控制回路，使电流输出保持恒定。为了准确地测量阻值的导通电阻，电流源单元5中还可以包括一个双运放，用于同时采集地电压和输出激励电压，构成四线开尔文连接，四线连接能够精确测量被测设备接触电阻两端的电压。电流源单元5可采用隔离电源供电，为导通电阻测试提供浮动的激励单元。

电流源单元5输出的测量电流的电流值是固定的或是可调的。例如，电流源可以输出-20mA～20mA的电流，也可以输出-200mA～200mA的电流。

进一步地，电流源单元5还包括至少两个第三电阻和第三继电器，

第三电阻用于采样测量电流；

第三继电器用于控制每个第三电阻是否用于采样测量电流。

具体地，电流源中通常包含比较器，用于将经过第三电阻采样的电压信号与基准电压相比较，根据比较的结果调节电流源单元5输出的电流。基准电压通常是固定的，经过负反馈控制回路的调节，用于采样的电阻的电阻值与电流源单元5输出的电流的电流值的乘积无限接近于基准电压，因而用于采样的电阻越大，电流源单元5输出的电流的电流值就越小。因而，改变用于采样的电阻的电阻值能够调节电流源单元5输出的电流值。

进一步地，电流源单元5还包括电压增益电路51，

电压增益电路51，用于按增益倍数将第二电压放大为第三电压；其中，第三电压小于模数转换器62的量程电压；

模数转换器62还用于测量第三电压；

控制器7还用于根据第三电压和增益倍数计算第二电压；根据第二电源电压和第一电压计算待测导通电阻的阻值。

实际应用中，待测导通电阻阻值较小可能小于200mΩ，电流源单元5输出的电流通过待测导通电阻，待测导通电阻两端的电压差较小，若直接用模数转化器进行测量，受模数转换器62的精度限制，测量的第二电压的精度可能较低，导致通过第二电压计算得到的待测导通电阻的阻值不精确。本实施例使用电压增益电路51对待测导通电阻两端的电压进行放大，用测量单元6的数模转换单元测量放大后的信号，提高了数模转换单元的测量精度，进而提高了最后计算得到的待测导通电阻的阻值的精度。

进一步地，电压增益电路51包括至少两个第四电阻511、第二运算放大器512和第四继电器513，

第四电阻511和第二运算放大器512用于构成第二运算放大电路；

第四继电器513用于控制每个第四电阻511是否接入第二运算放大电路，以控制增益倍数；其中第四电阻511的数量为至少一个。

本实施例的电压增益电路51由运算放大器构成的运算放大电路组成，运算放大电路的放大倍数(即增益倍数)由第四电阻511决定，类似上文中的衰减电路的衰减倍数控制，第四继电器513(受控制器7的控制)的通断能够影响第四电阻511是否接入电压增益电路51，继而影响增益倍数。第四继电器513的数量也可以是多个。图3示出了根据本发明示例性实施例的一种电压增益电路原理图。如图3所示，当第四继电器513闭合时，与继电器并联的第四电阻511会被短路。表2是电压增益电路的反馈电阻、输入端电阻、放大倍数与导通电阻量程的关系表。根据待测导通电阻的预估值估计需要测量导通电阻的量程，根据表2中反馈电阻和输出端电阻的阻值，能够确定对第四继电器513的通断的控制方式。例如，待测导通电阻的预估值为不到100mΩ，调节反馈电阻为500kΩ，则与反馈电阻200kΩ并联的开关需要断开，输入端与1.8kΩ并联和与100kΩ并联的两个开关闭合。

反馈电阻——输出端电阻	放大倍数	导通电阻量程
			500kΩ——200Ω	2500	200mΩ
100kΩ——200Ω	500	1Ω
			100kΩ——2kΩ	50	10Ω
100kΩ——102kΩ	0.9804	510Ω

表2电压增益电路的反馈电阻、输入端电阻、放大倍数与导通电阻量程的关系表

进一步地，模数转换器62还用于测量电流源单元5的开路电压；

即利用数模转换单元测量电流源两端的电压值。

本实施例的装置能够使用继电器控制电阻是否接入放大电路，来影响放大电路对

多种量程测量待测导通电阻的阻值(即第二阻值)。测量待测导通电阻多种量程对应待测导通电阻的多个阻值范围，因而本装置测量导通电阻的测量范围较广。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，能够实现包括绝缘电阻，导通电阻，高压源的电压的测量，由于能够把被测量的不同形式的物理量转换成电压形式的小于电压测量单元6的量程的物理量，因而能够复用电压测量单元6，电路设计更加紧凑，将电路设计在较小空间的CPCI模块上。

根据本发明的另一方面，提供了一种基于CPCI总线的系统，该系统包括上述任意一种测量装置。

本系统为CPCI总线系统，通常包括CPCI机箱，CPCI零槽模块，上位机和本发明装置的板卡。

Claims (10)

1.一种绝缘电阻和导通电阻的测量装置，其特征在于，包括：

CPCI连接器(1)、第一端口(2)、第二端口(3)、电压源单元(4)、电流源单元(5)、测量单元(6)和控制器(7)；

所述CPCI连接器(1)用于通过CPCI总线连接上位机；

所述第一端口(2)用于连入待测绝缘电阻；

所述第二端口(3)用于连入待测导通电阻；

所述电压源单元(4)用于为测量所述待测绝缘电阻的第一阻值提供测量电压；

所述电流源单元(5)用于为测量所述待测导通电阻的第二阻值提供测量电流；

所述测量单元(6)包括第一电阻(61)和模数转换器(62)；所述第一电阻(61)与所述待测绝缘电阻串联，用于采样通过所述待测绝缘电阻的漏电流；所述模数转换器(62)用于测量所述电压源单元(4)向所述待测绝缘电阻输出所述测量电压时，所述第一电阻(61)两端的第一电压；测量所述电流源单元(5)向所述待测导通电阻输出测量电流时，所述待测导通电阻两端的第二电压；

所述控制器(7)，用于实现CPCI总线接口电路；根据所述第一电压、所述电压源单元的第一电源电压和所述第一电阻的第三阻值计算第一阻值；根据所述第二电压和所述电流源单元的电流值计算第二阻值。

2.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述电压源单元(4)还包括电压衰减电路，

所述电压衰减电路，用于按衰减倍数将第二电源电压缩小为第三电源电压；其中，所述第三电源电压小于所述模数转换器(62)的量程电压；

模数转换器(62)还用于测量所述第三电源电压；

所述控制器(7)还用于根据所述第三电源电压和所述衰减倍数计算所述第二电源电压；根据所述第二电源电压、所述第三阻值和所述第一电压计算所述待测绝缘电阻的阻值。

3.根据权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述电压衰减电路(41)包括至少两个第二电阻(411)、第一运算放大器和第二继电器(412)，

所述第二电阻(411)和所述第一运算放大器用于构成第一运算放大电路；

所述第二继电器(412)用于控制每个所述第二电阻(411)是否接入所述第一运算放大电路，以控制所述衰减倍数。

4.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述电压源单元(4)还包括数模转换单元、开关管和变压器，

所述数模转换单元和所述开关管，用于生成电压可调的激励信号；

变压器，用于对所述激励信号进行放大，以生成所述测量电压。

5.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述电压源单元(4)包括振荡器，所述振荡器用于产生脉冲形式的所述测量电压。

6.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，

所述第一电阻(61)的数量为至少为两个，所述测量单元(6)还包括第一继电器，所述第一继电器用于控制每个所述第一电阻(61)是否用于采样所述漏电流。

7.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述电流源单元(5)还包括至少两个第三电阻和第三继电器，

所述第三电阻用于采样所述测量电流；

第三继电器用于控制每个第三电阻是否用于采样所述测量电流。

8.根据权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述电流源单元(5)还包括电压增益电路(51)，

所述电压增益电路(51)，用于按增益倍数将所述第二电压放大为第三电压；其中，所述第三电压小于所述模数转换器(62)的量程电压；

模数转换器(62)还用于测量所述第三电压；

所述控制器(7)还用于根据所述第三电压和所述增益倍数计算所述第二电压；根据所述第二电源电压和所述第一电压计算所述待测导通电阻的阻值。

9.根据权利要求8所述的测量装置，其特征在于，所述电压增益电路(51)包括至少两个第四电阻(511)、第二运算放大器(512)和第四继电器(513)，

所述第四电阻和所述第二运算放大器用于构成第二运算放大电路；

所述第四继电器(513)用于控制每个所述第四电阻(511)是否接入所述第二运算放大电路，以控制所述增益倍数；其中所述第四电阻(511)的数量为至少一个。

10.一种基于CPCI总线的系统，其特征在于，包括权利要求1-9中所述的任意一种测量装置。

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