CN114217194A - 一种测试装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种测试装置。该测试装置包括：包括第一接口和第二接口；第一接口用于连接被测件，第二接口用于连接外部电源；测试装置还包括电阻模块、开关模块、采集模块、控制模块和测试模块；测试模块用于根据被测件的当前工作状态生成控制指令，并将控制指令发送至控制模块；控制模块，用于根据控制指令控制开关模块的状态，以使电阻模块、开关模块和采集模块形成被测件的当前工作状态对应的工作回路；采集模块，用于采集电阻模块处于该工作回路的电参数；测试模块，还用于获取采集模块采集的电阻模块处于该工作回路的电参数，并根据该电参数计算被测件的输出电参数。本发明能够提高测试的可靠性。

Description

一种测试装置

技术领域

本发明涉及电参数采集技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

半导体器件测试是保证产品性能满足相关指标要求，降低产品失效率的重要手段。半导体器件性能指标的高效、精确采集，对测试设备及测试方法提出极高的要求。半导体器件具有夹断、静态、饱和等多个产品测试状态，不同状态下需采集的电流水平有着极大差异。在夹断、静态状态下，需精准采集的电流水平最低为uA级别，最高为百mA级别；饱和状态下，需精准采集的电流水平最低为十uA级别，最高为10A甚至更高级别。因此半导体器件测试系统中电流采集模块需具有宽范围、高精度、结构简单、低故障率的特点，以保证测试的高效率、准确性及稳定性。

然而，现有技术的电路中包含多个加法放大器、反相器、电压表和单片机模块等，导致电路结构复杂、故障率高、灵活性差、难以实际使用。即现有技术的电路结构复杂、不能满足实际需求。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试装置，以解决现有技术的电路结构复杂、不能满足实际需求的问题。

本发明实施例提供了一种测试装置，包括第一接口和第二接口；第一接口用于连接被测件，第二接口用于连接外部电源；

测试装置还包括电阻模块、开关模块、采集模块、控制模块和测试模块；开关模块分别与电阻模块、采集模块和控制模块连接；电阻模块分别与采集模块、第一接口和第二接口连接；测试模块分别与采集模块和控制模块连接；

测试模块，用于根据被测件的当前工作状态生成控制指令，并将控制指令发送至控制模块；

控制模块，用于根据控制指令控制开关模块的状态，以使电阻模块、开关模块和采集模块形成被测件的当前工作状态对应的工作回路；

采集模块，用于采集电阻模块处于该工作回路的电参数；其中，被测件的不同的工作状态对应不同的工作回路，电阻模块在不同的工作回路中的阻值不同；

所测试模块，还用于获取采集模块采集的电阻模块处于该工作回路的电参数，并根据该电参数计算被测件的输出电参数。

在一种可能的实现方式中，电阻模块包括第一电阻和第二电阻；第一电阻的阻值小于第二电阻的阻值；

第一电阻，第一端分别与第一接口和采集模块连接，第二端分别与第二电阻的第一端和开关模块连接；第二电阻的第二端分别与第二接口和开关模块连接。

在一种可能的实现方式中，开关模块包括第一单刀双掷开关和第一开关；第一单刀双掷开关和第一开关均受控于控制模块；

第一单刀双掷开关，动端与采集模块连接，第一不动端与第一电阻的第二端连接，第二不动端分别与第一开关的第二端和第二电阻的第二端连接；

第一开关的第一端与第二电阻的第一端连接。

在一种可能的实现方式中，输出电参数包括输出电流；

测试模块，具体用于：

在被测件处于输出第一电流的工作状态时，生成第一控制指令，并将第一控制指令发送给控制模块；或者，

在被测件处于输出第二电流的工作状态时，生成第二控制指令，并将第二控制指令发送给控制模块；其中，第一电流大于第二电流。

在一种可能的实现方式中，控制模块具体用于：

根据第一控制指令，控制第一单刀双掷开关的动端与第一单刀双掷开关的第一不动端处于连接状态，以及控制第一开关处于闭合状态，以使第一电阻、第一单刀双掷开关和采集模块形成被测件处于输出第一电流的工作状态对应的工作回路；或者，

根据第二控制指令，控制第一单刀双掷开关的动端与第一单刀双掷开关的第二不动端处于连接状态，以及控制第一开关处于断开状态，以使第一电阻、第二电阻、第一单刀双掷开关和采集模块形成被测件处于输出第二电流的工作状态对应的工作回路。

在一种可能的实现方式中，电阻模块还包括第三电阻；第一电阻的阻值小于第三电阻的阻值；

第三电阻，第一端分别与第二电阻的第二端和开关模块连接，第二端分别与第二接口和开关模块连接。

在一种可能的实现方式中，开关模块包括第二单刀双掷开关、第三单刀双掷开关、第二开关和第三开关；第二单刀双掷开关、第三单刀双掷开关、第二开关和第三开关均受控于控制模块；

第二单刀双掷开关，动端与采集模块连接，第一不动端与第三单刀双掷开关的动端连接，第二不动端分别与第三开关的第二端和第三电阻的第二端连接；

第三单刀双掷开关，第一不动端与第一电阻的第二端连接，第二不动端分别与第二开关的第二端、第三开关的第一端、第二电阻的第二端和第三电阻的第一端连接；第二开关的第一端与第二电阻的第一端连接。

在一种可能的实现方式中，输出电参数包括输出电流；

测试模块具体用于：

在被测件处于输出第三电流的工作状态时，生成第三控制指令，并将第三控制指令发送给控制模块；或者，

在被测件处于输出第四电流的工作状态时，生成第四控制指令，并将第四控制指令发送给控制模块；或者，

在被测件处于输出第五电流的工作状态时，生成第五控制指令，并将第五控制指令发送给控制模块；

其中，第三电流大于第四电流，第四电流大于第五电流。

在一种可能的实现方式中，开关模块具体用于：

根据第三控制指令，控制第二单刀双掷开关的动端与第二单刀双掷开关的第一不动端处于连接状态，控制第三单刀双掷开关的动端与第三单刀双掷开关的第一不动端处于连接状态，以及控制第二开关和第三开关均处于闭合状态，以使第一电阻、第三单刀双掷开关、第二单刀双掷开关和采集模块形成被测件处于输出第三电流的工作状态对应的工作回路；或者，

根据第四控制指令，控制第二单刀双掷开关的动端与第二单刀双掷开关的第一不动端处于连接状态，控制第三单刀双掷开关的动端与第三单刀双掷开关的第二不动端处于连接状态，以及控制第二开关处于断开状态，第三开关处于闭合状态，以使第一电阻、第二电阻、第三单刀双掷开关、第二单刀双掷开关和采集模块形成被测件处于输出第四电流的工作状态对应的工作回路；或者，

根据第五控制指令，控制第二单刀双掷开关的动端与第二单刀双掷开关的第二不动端处于连接状态，以及控制第三单刀双掷开关、第二开关和第三开关均处于断开状态，以使第一电阻、第二电阻、第三电阻、第二单刀双掷开关和采集模块形成被测件处于输出第五电流的工作状态对应的工作回路。

在一种可能的实现方式中，测试模块还用于显示被测件的输出电参数。

本发明实施例提供一种测试装置，该装置包括电阻模块、开关模块、采集模块、控制模块和测试模块；开关模块分别与电阻模块、采集模块和控制模块连接；电阻模块分别与采集模块、第一接口和第二接口连接；测试模块分别与采集模块和控制模块连接；测试模块，用于根据被测件的当前工作状态生成控制指令，并将控制指令发送至控制模块；控制模块用于根据控制指令控制开关模块的状态，以使电阻模块、开关模块和采集模块形成被测件的当前工作状态对应的工作回路；采集模块，用于采集电阻模块处于该工作回路的电参数；测试模块，还用于获取采集模块采集的电阻模块处于该工作回路的电参数，并根据该电参数计算被测件的输出电参数。通过采集不同工作回路的电参数，可以简单、高效、快捷得到被测件的相关输出电参数，有助于测试被测件是否满足相关要求，测试过程简单，提高了测试过程的可靠性，电路结构简单，提高了测试过程的灵活性，可以应用在各种测试情况中，具有高实用性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的第一种测试装置的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的第二种测试装置的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的第三种测试装置的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本方案，下面将结合本方案实施例中的附图，对本方案实施例中的技术方案进行清楚地描述，显然，所描述的实施例是本方案一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本方案中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本方案保护的范围。

本方案的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“包括”以及其他任何变形，是指“包括但不限于”，意图在于覆盖不排他的包含，并不仅限于文中列举的示例。此外，术语“第一”和“第二”等是用于区别不同对象，而非用于描述特定顺序。

以下结合具体附图对本发明的实现进行详细的描述：

参见图1，其示出了本发明实施例提供的第一种测试装置的结构示意图。如图1所示，该测试装置10包括第一接口A和第二接口B；第一接口A用于连接被测件20，第二接口B用于连接外部电源30；

测试装置10还包括电阻模块101、开关模块102、采集模块103、控制模块104和测试模块105；开关模块102分别与电阻模块101、采集模块103和控制模块104连接；电阻模块101分别与采集模块103、第一接口A和第二接口B连接；测试模块105分别与采集模块103和控制模块104连接；

测试模块105，用于根据被测件20的当前工作状态生成控制指令，并将控制指令发送至控制模块104；

控制模块104，用于根据控制指令控制开关模块102的状态，以使电阻模块101、开关模块102和采集模块103形成被测件20的当前工作状态对应的工作回路；

采集模块103，用于电阻模块101处于该工作回路的电参数；其中，被测件20的不同的工作状态对应不同的工作回路，电阻模块101在不同的工作回路中的阻值不同。

可选的，电阻模块101处于该工作回路的电参数可以为电压，电阻模块101用于根据控制模块104执行的不同的控制指令，提供不同的电阻值。其中，电阻模块101中的电阻均为高精度电阻，具体地，对于1Ω及以上的阻值的电阻，其与标识值的误差在±0.5％以内，对于1Ω以下的电阻，其与标识值的误差在±1％以内。

开关模块102可以为继电器电路，控制模块104可以为控制电路，用于控制继电器电路。

采集模块103可以为采集电路，如电压采集模块，如可以为数字万用表(DigitalMultiMeter，DMM)。开关模块102中的开关元件可以选用继电器(电磁、耦合)或具有开关功能的元器件等。

被测件20可以为半导体器件，半导体器件在出厂前需进行各项性能参数的测试，最终根据测试结果判断该半导体器件是否满足出厂要求。被测件20的输出电参数可以包括输出电流。被测件20的工作作态可以为被测件20输出电流对应的状态，如大电流工作状态或者小电流工作状态。其中，大电流工作状态的级别可以为安培级，如10A或者更高，小电流工作状态可以为μA级。

此外，测试模块105可以为测试电路，可以直接获取被测件20的工作状态，如测试模块105直接与被测件20连接。测试模块105也可以间接获取被测件20的工作状态，如测试模块105通过通信获取被测件20的工作状态。或者，测试模块105可以根据被测件20的型号预先设置有对应的控制指令，直接根据被测件20的型号向控制模块104下发控制指令。

示例性的，假设被测件20的工作状态可以包括大电流工作状态和小电流工作状态，本发明实施例提供的测试装置10的工作过程为：

电源30通过测试装置10对被测件20上电，被测件20正常工作。测试模块105获取被测件20的当前工作状态，并根据被测件20的当前工作状态生成控制指令，并向控制模块104下发控制指令。

若被测件20的当前的工作状态为大电流状态，则控制模块104执行大电流状态下测试模块105生成的控制指令，使电阻模块101、开关模块102和采集模块103形成大电流工作状态对应的工作回路。在该大电流工作状态对应的工作回路中，电阻模块可以提供较小的阻值，如mΩ级别的阻值。采集模块103可以采集电阻模块101此时的电压，测试模块105再通过霍尔定理I＝U/R计算出此时被测件20输出的大电流。

若被测件20的当前的工作状态为小电流状态，则控制模块104执行小电流状态下测试模块105生成的控制指令，使电阻模块101、开关模块102和采集模块103形成小电流工作状态对应的工作回路。在该小电流工作状态对应的工作回路中，电阻模块可以提供较大的阻值，如Ω级别的阻值。采集模块103可以采集电阻模块101此时的电压，测试模块105再通过I＝U/R计算出此时被测件20输出的小电流。

本大明实施例提供一种测试装置10，该装置10包括电阻模块101、开关模块102、采集模块103、控制模块104和测试模块105；开关模块102分别与电阻模块101、采集模块103和控制模块104连接；电阻模块101分别与采集模块103、第一接口A和第二接口B连接；测试模块105分别与采集模块103和控制模块104连接；测试模块105用于根据被测件20的工作状态生成不同的控制指令；控制模块104用于根据不同的控制指令控制开关模块102，以使电阻模块101、开关模块102和采集模块103不同的工作回路；采集模块103，用于采集不同工作回路的电参数；测试模块105还用于根据采集的不同工作回路的电参数计算被测件20的输出电参数。通过采集不同工作回路的电参数，可以简单、高效、快捷得到被测件的相关输出参数，有助于测试被测件是否满足相关要求，测试过程简单，提高了测试过程的可靠性，电路结构简单，提高了测试过程的灵活性，可以应用在各种测试情况中，具有高实用性。

参见图2，其示出了本发明实施例提供的第二种测试装置的结构示意图。如图2所示，电阻模块101包括第一电阻R1和第二电阻R2；第一电阻R1的阻值小于第二电阻R2的阻值；第一电阻R1和第二电阻R2均为高精度电阻，其中，第一电阻R1为mΩ级高精度电阻，第二电阻R2为Ω级高精度电阻；

第一电阻R1，第一端分别与第一接口A和采集模块103连接，第二端分别与第二电阻R2的第一端和开关模块102连接；第二电阻R2的第二端分别与第二接口B和开关模块102连接。

参见图2，在本发明的一些实施例中，开关模块包括第一单刀双掷开关D1和第一开关K1；第一单刀双掷开关D1和第一开关K1均受控于控制模块104；

第一单刀双掷开关D1，动端a₀与采集模块103连接，第一不动端a₁与第一电阻R1的第二端连接，第二不动端a₂分别与第一开关K1的第二端b₂和第二电阻R2的第二端连接；

第一开关K1的第一端b₁与第二电阻R2的第一端连接。

在本发明的一些实施例中，输出电参数包括输出电流；

测试模块105，具体用于：

在被测件20处于输出第一电流的工作状态时，生成第一控制指令，并将第一控制指令发送给控制模块104；或者，

在被测件20处于输出第二电流的工作状态时，生成第二控制指令，并将第二控制指令发送给控制模块104；其中，第一电流大于第二电流。

被测件20处于输出第一电流的工作状态，可以为大电流工作状态，如被测件20输出的电流为10A或者更高。被测件20处于输出第二电流的工作状态，可以为小电流工作状态，如被测件20输出的电流为μA级电流。

参见图2，在本发明的一些实施例中，控制模块104具体用于：

根据第一控制指令，控制第一单刀双掷开关D1的动端a₀与第一单刀双掷开关D1的第一不动端a₁处于连接状态，以及控制第一开关K1处于闭合状态，以使第一电阻R1、第一单刀双掷开关D1和采集模块103形成被测件20处于输出第一电流的工作状态对应的工作回路；或者，

根据第二控制指令，控制第一单刀双掷开关D1的动端a₀与第一单刀双掷开关D1的第二不动端a₂处于连接状态，以及控制第一开关K1处于断开状态，以使第一电阻R1、第二电阻R2、第一单刀双掷开关D1和采集模块103形成被测件20处于输出第二电流的工作状态对应的工作回路。

在控制模块104执行第一控制指令时，回路中只有第一电阻R1，此时测试装置10用于测试被测件20输出第一电流的工作状态，即测试被测件20输出大电流，判断该被测件20的输出大电流是否满足要求。

在控制模块104执行第二控制指令时，回路中包括串联的第一电阻R1和第二电阻R2，此时测试装置10用于测试被测件20输出第二电流的工作状态，即测试被测件20输出小电流的状态，判断该被测件20的输出小电流是否满足要求。

下面对本发明实施例在宽范围内测试被测件的过程进行说明：

如图2所示，电阻模块101中包括低阻值的第一电阻R1和高阻值的第二电阻R2，R1与R2均为高精度电阻。采集模块103为DMM。

当进行大电流测量时：控制模块104根据第一控制指令，控制开关模块102进行状态切换，使a₀、a₁导通，b₁、b₂导通，此时第一电阻R1串联进电路中，第二电阻R2被短路后脱离电路。此时开关模块103中的D1串联进DMM探头电路中，利用DMM在电压采集模式下的极大的自身内阻(MΩ级)，开关模块103中各处的mΩ～Ω级内阻可忽略不计。通过电路的合理化设计，DMM探头连接第一电阻R1的电极，规避PCB带线自身mΩ级内阻降压对DMM采集的影响，因此DMM采集到的电压为第一电阻R1的电压，经过I＝U/R1，完成大电流采集。

当进行小电流测量时：控制模块104根据第二控制指令，控制开关模块102进行状态切换，a₀、a₂导通，b₁、b₂断开。此时开关模块103中的D1串联进DMM探头中，利用DMM在电压采集模式下的极大的自身内阻(MΩ级)，开关模块103中各处的mΩ～Ω级内阻可忽略不计，第一电阻R1与第二电阻R2均串联进电路中，PCB带线自身的mΩ级别内阻在第二电阻R2(Ω级)下可忽略不计，此时电路中DMM检测的电阻指为(R1+R2)，经过I＝U/(R1+R2)，完成小电流采集。

示例性的，选用R1＝20mΩ、R2＝10Ω，耐功率值为2W，通过开关切换，理论实现采集范围(10uA-10A)。计算方式如下：

电阻能承受极限电流：2W/10.02Ω≈440mA；2W/0.02Ω＝10A。

电压表选用1V档位，分辨率10uV，所产生电流误差：10uV/10.02Ω＝1uA；10uV/0.02Ω＝0.5mA。

电压表选用1V档位，电流采集量程：1V/10.02Ω＝100mA；1V/0.02Ω＝50A。

通过上述计算方式，小电阻R1＝20mΩ串联进电路测量大电流时，DMM处于电压1V档，分辨率为10uV，理论可实现(100mA-10A)电流的精准采集(分辨率0.5mA)；小电阻R1及大电阻R2串联进电路测量小电流时，DMM处于电压1V档，分辨率为10uV，理论可实现(1uA-100mA)电流的精准采集(分辨率1uA)。由此可实现一个范围为1uA-10A、精度可达1uA精度的宽范围、高精度电流测试装置。

参见图3，其示出本发明实施例提供的第三种测试装置的结构示意图。如图3所示，电阻模块101还包括第三电阻R3；第一电阻人的阻值小于第三电阻的阻值；第三电阻R3为Ω级高精度电阻；为保证测量的准确性，第三电阻R3的阻值可以大于或等于第二电阻R2的阻值；第一电阻R1、第二电阻R2和第三电阻R3均可以根据实际测量电流的量程进行选择；

第三电阻R3，第一端分别与第二电阻R2的第二端和开关模块102连接，第二端分别与第二接口B和开关模块102连接。

在本发明的一些实施例中，开关模块包括第二单刀双掷开关D2、第三单刀双掷开关D3、第二开关K2和第三开关K3；第二单刀双掷开关D2、第三单刀双掷开关D3、第二开关K2和第三开关K3均受控于控制模块104；

第二单刀双掷开关D2，动端c₀与采集模块103连接，第一不动端c₁与第三单刀双掷开关D3的动端d₀连接，第二不动端c₂分别与第三开关K3的第二端f₂和第三电阻R3的第二端连接；

第三单刀双掷开关D3，第一不动端d₀与第一电阻R1的第二端连接，第二不动端d₂分别与第二开关K2的第二端e₂、第三开关K3的第一端、第二电阻R2的第二端和第三电阻R1的第一端连接；第二开关K2的第一端e₁与第二电阻R2的第一端连接。

在本发明的一些实施例中，输出电参数包括输出电流；

测试模块105具体用于：

在被测件20处于输出第三电流的工作状态时，生成第三控制指令，并将第三控制指令发送给控制模块104；或者，

在被测件20处于输出第四电流的工作状态时，生成第四控制指令，并将第四控制指令发送给控制模块104；或者，

在被测件20处于输出第五电流的工作状态时，生成第五控制指令，并将第五控制指令发送给控制模块104；

其中，第三电流大于第四电流，第四电流大于第五电流。

被测件20处于输出第三电流的工作状态，可以为大电流工作状态，如被测件20输出的电流为10A或者更高。被测件20处于输出第四电流的工作状态，可以为中电流工作状态，如被测件20输出的电流为mA级电流。被测件20处于输出第五电流的工作状态，可以为小电流工作状态，如被测件20输出的电流为μA级电流。

参见图3，在本发明的一些实施例中，控制模块104具体用于：

根据第三控制指令，控制第二单刀双掷开关D2的动端c₀与第二单刀双掷开关D2的第一不动端c₁处于连接状态，控制第三单刀双掷开关D3的动端d₀与第三单刀双掷开关D3的第一不动端d₁处于连接状态，以及控制第二开关K2和第三开关K3均处于闭合状态，以使第一电阻R1、第三单刀双掷开关D3、第二单刀双掷开关D2和采集模块103形成被测件20处于输出第三电流的工作状态对应的工作回路；或者，

根据第四控制指令，控制第二单刀双掷开关D2的动端c₀与第二单刀双掷开关D2的第一不动端c₁处于连接状态，控制第三单刀双掷开关D3的动端d₀与第三单刀双掷开关D3的第二不动端d₂处于连接状态，以及控制第二开关K2处于断开状态，第三开关K3处于闭合状态，以使第一电阻R1、第二电阻R2、第三单刀双掷开关D3、第二单刀双掷开关D2和采集模块103形成被测件20处于输出第四电流的工作状态对应的工作回路；或者，

根据第五控制指令，控制第二单刀双掷开关D2的动端c₀与第二单刀双掷开关D2的第二不动端c₂处于连接状态，以及控制第三单刀双掷开关D3、第二开关K2和第三开关K3均处于断开状态，以使第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第二单刀双掷开关D2和采集模块103形成被测件20处于输出第五电流的工作状态对应的工作回路。

图2及图3仅为本发明实施例提供的两个示例结构示意图，在实际应用中，可以根据被测件20的输出电流的大小进行更精确地测量，通过合理地设置电阻模块101中的电阻的数量和开关模块102中开关的数量可以实现多量程的测量。

图3为图2的拓展电路结构示意图，图3拓展电路中串联多个阻值不同的高精度采样电阻，按照上述实施方式，通过开关模块在电路中的合理布局及切换，可进一步提高电路的采集范围及采集精度。

在本发明的一些实施例中，测试模块105还用于显示被测件20的输出电参数.

可选的，测试模块105可以显示被测件20的输出电流。

本发明的测试装置中存在多个阻值不同的高精度采样电阻，由开关模块在电路中的合理布局及切换来调整DMM探头的采集位置、电路中采样电阻的数量及阻值来实现电流的宽范围采集；该电路的设计规避掉开关模块和带线内阻产生的采集误差，从而实现电流的高精度采集。该测试装置满足半导体器件最低为uA级别，最高为10A甚至更高级别的测试电流的精准、高效采集。

在本发明的一些实施例中，本发明还提供一种测试设备，包括如上的测试装置10。

可选的，测试设备还可以包括外部电源30。

以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种测试装置，其特征在于，包括第一接口和第二接口；所述第一接口用于连接被测件，所述第二接口用于连接外部电源；

所述测试装置还包括电阻模块、开关模块、采集模块、控制模块和测试模块；所述开关模块分别与所述电阻模块、所述采集模块和所述控制模块连接；所述电阻模块分别与所述采集模块、所述第一接口和所述第二接口连接；所述测试模块分别与所述采集模块和所述控制模块连接；

所述测试模块，用于根据所述被测件的当前工作状态生成控制指令，并将所述控制指令发送至所述控制模块；

所述控制模块，用于根据所述控制指令控制所述开关模块的状态，以使所述电阻模块、所述开关模块和所述采集模块形成所述被测件的当前工作状态对应的工作回路；

所述采集模块，用于采集所述电阻模块处于该工作回路的电参数；其中，所述被测件的不同的工作状态对应不同的工作回路，所述电阻模块在不同的工作回路中的阻值不同；

所述测试模块，还用于获取所述采集模块采集的所述电阻模块处于该工作回路的电参数，并根据该电参数计算所述被测件的输出电参数。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述电阻模块包括第一电阻和第二电阻；所述第一电阻的阻值小于所述第二电阻的阻值；

所述第一电阻，第一端分别与所述第一接口和所述采集模块连接，第二端分别与所述第二电阻的第一端和所述开关模块连接；所述第二电阻的第二端分别与所述第二接口和所述开关模块连接。

3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述开关模块包括第一单刀双掷开关和第一开关；所述第一单刀双掷开关和所述第一开关均受控于所述控制模块；

所述第一单刀双掷开关，动端与所述采集模块连接，第一不动端与所述第一电阻的第二端连接，第二不动端分别与所述第一开关的第二端和所述第二电阻的第二端连接；

所述第一开关的第一端与所述第二电阻的第一端连接。

4.如权利要求3所述的测试装置，其特征在于，所述输出电参数包括输出电流；

所述测试模块，具体用于：

在所述被测件处于输出第一电流的工作状态时，生成第一控制指令，并将所述第一控制指令发送给所述控制模块；

在所述被测件处于输出第二电流的工作状态时，生成第二控制指令，并将所述第二控制指令发送给所述控制模块；其中，所述第一电流大于所述第二电流。

5.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述控制模块具体用于：

根据所述第一控制指令，控制所述第一单刀双掷开关的动端与所述第一单刀双掷开关的第一不动端处于连接状态，以及控制所述第一开关处于闭合状态，以使所述第一电阻、所述第一单刀双掷开关和所述采集模块形成所述被测件处于输出第一电流的工作状态对应的工作回路；或者，

根据所述第二控制指令，控制所述第一单刀双掷开关的动端与所述第一单刀双掷开关的第二不动端处于连接状态，以及控制所述第一开关处于断开状态，以使所述第一电阻、所述第二电阻、所述第一单刀双掷开关和所述采集模块形成所述被测件处于输出第二电流的工作状态对应的工作回路。

6.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述电阻模块还包括第三电阻；所述第一电阻的阻值小于所述第三电阻的阻值；

所述第三电阻，第一端分别与所述第二电阻的第二端和所述开关模块连接，第二端分别与所述第二接口和所述开关模块连接。

7.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述开关模块包括第二单刀双掷开关、第三单刀双掷开关、第二开关和第三开关；所述第二单刀双掷开关、所述第三单刀双掷开关、所述第二开关和所述第三开关均受控于所述控制模块；

所述第二单刀双掷开关，动端与所述采集模块连接，第一不动端与所述第三单刀双掷开关的动端连接，第二不动端分别与所述第三开关的第二端和所述第三电阻的第二端连接；

所述第三单刀双掷开关，第一不动端与所述第一电阻的第二端连接，第二不动端分别与所述第二开关的第二端、所述第三开关的第一端、所述第二电阻的第二端和所述第三电阻的第一端连接；所述第二开关的第一端与所述第二电阻的第一端连接。

8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述输出电参数包括输出电流；

所述测试模块具体用于：

在所述被测件处于输出第三电流的工作状态时，生成第三控制指令，并将所述第三控制指令发送给所述控制模块；或者，

在所述被测件处于输出第四电流的工作状态时，生成第四控制指令，并将所述第四控制指令发送给所述控制模块；或者，

在所述被测件处于输出第五电流的工作状态时，生成第五控制指令，并将所述第五控制指令发送给所述控制模块；

其中，所述第三电流大于所述第四电流，所述第四电流大于所述第五电流。

9.如权利要求8所述的测试装置，其特征在于，所述控制模块具体用于：

根据所述第三控制指令，控制所述第二单刀双掷开关的动端与所述第二单刀双掷开关的第一不动端处于连接状态，控制所述第三单刀双掷开关的动端与所述第三单刀双掷开关的第一不动端处于连接状态，以及控制所述第二开关和所述第三开关均处于闭合状态，以使所述第一电阻、所述第三单刀双掷开关、所述第二单刀双掷开关和所述采集模块形成所述被测件处于输出第三电流的工作状态对应的工作回路；或者，

根据所述第四控制指令，控制所述第二单刀双掷开关的动端与所述第二单刀双掷开关的第一不动端处于连接状态，控制所述第三单刀双掷开关的动端与所述第三单刀双掷开关的第二不动端处于连接状态，控制所述第二开关处于断开状态，以及控制所述第三开关处于闭合状态，以使所述第一电阻、所述第二电阻、所述第三单刀双掷开关、所述第二单刀双掷开关和所述采集模块形成所述被测件处于输出第四电流的工作状态对应的工作回路；或者，

根据所述第五控制指令，控制所述第二单刀双掷开关的动端与所述第二单刀双掷开关的第二不动端处于连接状态，以及控制所述第三单刀双掷开关、所述第二开关和所述第三开关均处于断开状态，以使所述第一电阻、所述第二电阻、所述第三电阻、所述第二单刀双掷开关和所述采集模块形成所述被测件处于输出第五电流的工作状态对应的工作回路。

10.如权利要求1至9任一项所述的测试装置，其特征在于，其特征在于，所述测试模块还用于显示所述被测件的输出电参数。

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