CN114184529A - 获取束缚水饱和度的方法、装置、电子设备及介质 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种获取束缚水饱和度的方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括：建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；根据拟合关系，确定储层的渗透率下限值；根据渗透率下限值，确定临界压汞压力；计算临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。本发明根据汞饱和度中值压力和岩心渗透率的拟合关系，通过求取曲线关系的突变点获取束缚水饱和度的方法，解决了仅依靠流动孔喉下限经验值造成束缚水饱和度计算不准的问题，原理通俗易懂，成本低，易于实施，覆盖范围广，可操作性强，取得了良好的应用效果，应用前景十分广阔。
Description
技术领域
本发明涉及油气田勘探开发领域，更具体地，涉及一种获取束缚水饱和度的方法、装置、电子设备及介质。
背景技术
油气藏中的束缚水是指在地层压力条件下，孔隙内“不能流动的水”，其相对总孔隙度的体积比即为束缚水饱和度。束缚水含量与地层的孔隙结构、岩石性质及形成条件有关。束缚水饱和度是油气藏储层评价的重要参数之一，获得准确的束缚水饱和度不仅能提高测井解释精度和储量评价的准确性，而且在水淹层识别、水淹级别判别过程中亦能发挥重要作用，在生产实践中意义重大。
目前，应用较多且较可靠的束缚水饱和度获取方法主要有核磁共振测井和岩心实验。核磁共振测井能够有效反映岩石微观孔隙结构的特征，并最终确定地层的束缚水饱和度，但由于其高昂的测井作业成本以及工程条件上的制约，使其不能作为一项必测的常规测井项目而在油田开发中大范围推广使用。相比之下，岩心实验确定束缚水饱和度的方法较多：核磁共振法、压汞法、半渗透隔板法、密闭岩心饱和度实验等。
在油气体系中，半渗透隔板法比其他方法更好，因为它较接近于实际油气藏的润湿条件，驱替均匀，测量精度较高，但其测量时间较长且不能测量松散岩心。密闭岩心饱和度实验接近地层实际情况，准确性高，但也存在着费用高、周期长、数据少的缺点。核磁共振法测量速度快，可同时得到束缚流体和可动流体含量，但对实验操作要求高。压汞法测量速度快、测量范围大，对岩样的形状、大小要求不严，费用低，但岩样不能重复使用，测量流体与地层实际相差较大。
受各种方法优缺点的限制，目前使用最多的、应用最广泛的是根据压汞实验确定束缚水饱和度。
压汞实验先将岩样进行烘干处理，然后对非润湿相的水银进行加压处理，使水银克服孔隙系统中的毛管压力而进入孔隙，所以实验的过程就是求取毛管压力的过程。在实验时分别提供不同的压力，就可相应地得到不同的进汞饱和度。将各测量点连接，就得到了一条毛管压力曲线。对于一块岩样来说，必有一个可区分可动流体与束缚流体的孔喉半径值，大于此孔喉半径的孔喉中存储着可动流体，小于此孔喉半径的孔喉中存储着束缚流体。束缚流体与流体总和的比值为束缚水饱和度。经调研发现，利用压汞实验数据获取束缚水饱和度的方法主要有以下几种。
一是经验法。孔喉、孔隙的大小分类及作用如表1所示。当孔喉半径小于等于0.1μm时，孔隙内的水被称为强束缚水。压汞实验毛细管压力一般取7.5MPa(孔喉半径近似为0.1μm)时对应的含水饱和度为束缚水饱和度。
表1
虽然该方法是基于大量岩心实验所确定的，但问题在于由于致密砂岩等复杂储层存在较强微观非均质性导致流动孔喉下限不固定，所以以0.1μm做为孔喉半径下限理论依据不足，利用该标准常常预测不准束缚水饱和度。
二是根据圈闭中油气柱高度得到束缚水饱和度。成藏过程中，油气运移的动力主要由油气与水的密度差所造成的浮力提供，油气柱的高度决定浮力的大小。根据毛细管压力理论，可以将油气藏圈闭高度换算成对应的油气驱替压力，再将油气藏条件下的油/气-水毛细管压力转换为实验气-水毛细管压力，这样即可得到相应的束缚水饱和度。但由于油气藏圈闭中油气柱高度计算本身就很复杂，影响因素多样，因此，用此方法计算束缚水饱和度难以推广和应用。
三是借助累积渗透率贡献值确定流动孔喉下限进而得到束缚水饱和度。不同孔喉半径对渗透率的贡献不同，而对渗透率贡献过低的孔喉中储存的流体为束缚流体。对应的累积渗透率贡献计算方法主要应用Purcell公式。有文献认为当孔喉体系对岩样渗透率的贡献只有0.1％时，应为束缚流体对应的孔喉体系，对油气的渗流无贡献，但此0.1％的标准来源没有出处。同时发现，以0.1％为界限时，随着孔隙度和渗透率变大，流动孔喉下限不断变大，相应的束缚水饱和度也不断变大，这与高孔渗储层的束缚水饱和度应该小于低孔渗储层的常规认知不符。
通过以上调研可知，利用压汞实验确定束缚水饱和度是目前应用最广泛的方法之一。但由于存在过度驱替、储层孔隙结构复杂、非均质性强等因素影响，获取准确的束缚水饱和度的难度很大。
因此，有必要开发一种获取束缚水饱和度的方法、装置、电子设备及介质。
公开于本发明背景技术部分的信息仅仅旨在加深对本发明的一般背景技术的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
发明内容
本发明提出了一种获取束缚水饱和度的方法、装置、电子设备及介质，其能够根据汞饱和度中值压力和岩心渗透率的拟合关系，通过求取曲线关系的突变点获取束缚水饱和度的方法，解决了仅依靠流动孔喉下限经验值造成束缚水饱和度计算不准的问题，原理通俗易懂，成本低，易于实施，覆盖范围广，可操作性强，取得了良好的应用效果，应用前景十分广阔。
第一方面，本公开实施例提供了一种获取束缚水饱和度的方法，包括：
建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；
根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值；
根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力；
计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；
结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
优选地，根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值包括：
根据所述拟合关系，确定曲率方程；
计算所述曲率方程的最大值，将对应的曲率值记为储层的渗透率下限值。
优选地，计算所述曲率方程的最大值包括：
计算所述曲率方程的一阶导数，令一阶导数为零，获得曲率方程的最大值。
优选地，根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力包括：
将所述渗透率下限值代入所述拟合关系中，得到的压力值即为所述临界压汞压力。
优选地，计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度包括：
建立进汞压力与进汞饱和度的关系，采用二次插值法计算所述临界压汞压力对应的进汞饱和度，其相应的含水饱和度即为束缚水饱和度。
优选地，总饱和度100％减去进汞饱和度即为相应的含水饱和度。
作为本公开实施例的一种具体实现方式，
第二方面，本公开实施例还提供了一种获取束缚水饱和度的装置，包括：
拟合模块，建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；
渗透率下限值确定模块，根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值；
临界压汞压力确定模块，根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力；
束缚水饱和度确定模块，计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；
模型建立模块，结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
优选地，根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值包括：
根据所述拟合关系，确定曲率方程；
计算所述曲率方程的最大值，将对应的曲率值记为储层的渗透率下限值。
优选地，计算所述曲率方程的最大值包括：
计算所述曲率方程的一阶导数，令一阶导数为零，获得曲率方程的最大值。
优选地，根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力包括：
将所述渗透率下限值代入所述拟合关系中，得到的压力值即为所述临界压汞压力。
优选地，计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度包括：
建立进汞压力与进汞饱和度的关系，采用二次插值法计算所述临界压汞压力对应的进汞饱和度，其相应的含水饱和度即为束缚水饱和度。
优选地，总饱和度100％减去进汞饱和度即为相应的含水饱和度。
第三方面，本公开实施例还提供了一种电子设备，该电子设备包括：
存储器，存储有可执行指令；
处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现所述的获取束缚水饱和度的方法。
第四方面，本公开实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现所述的获取束缚水饱和度的方法。
本发明的方法和装置具有其它的特性和优点，这些特性和优点从并入本文中的附图和随后的具体实施方式中将是显而易见的，或者将在并入本文中的附图和随后的具体实施方式中进行详细陈述，这些附图和具体实施方式共同用于解释本发明的特定原理。
附图说明
通过结合附图对本发明示例性实施例进行更详细的描述，本发明的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本发明示例性实施例中，相同的参考标号通常代表相同部件。
图1示出了根据本发明的一个实施例的获取束缚水饱和度的方法的步骤的流程图。
图2示出了根据本发明的一个实施例的汞饱和度中值压力与岩心渗透率的关系示意图。
图3示出了根据本发明的一个实施例的岩心渗透率下限及相应的临界压汞压力的示意图。
图4示出了根据本发明的一个实施例的压汞毛细管压力为1.9895MPa时，束缚水饱和度与岩心渗透率的关系的示意图。
图5示出了根据本发明的一个实施例的一种获取束缚水饱和度的装置的框图。
附图标记说明：
201、拟合模块；202、渗透率下限值确定模块；203、临界压汞压力确定模块；204、束缚水饱和度确定模块；205、模型建立模块。
具体实施方式
下面将更详细地描述本发明的优选实施方式。虽然以下描述了本发明的优选实施方式，然而应该理解，可以以各种形式实现本发明而不应被这里阐述的实施方式所限制。
本发明提供一种获取束缚水饱和度的方法，包括：
建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；
根据拟合关系，确定储层的渗透率下限值；
根据渗透率下限值，确定临界压汞压力；
计算临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；
结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
在一个示例中，根据拟合关系，确定储层的渗透率下限值包括：根据拟合关系，确定曲率方程；计算曲率方程的最大值，将对应的曲率值记为储层的渗透率下限值。
在一个示例中，计算曲率方程的最大值包括：计算曲率方程的一阶导数，令一阶导数为零，获得曲率方程的最大值。
在一个示例中，根据渗透率下限值，确定临界压汞压力包括：将渗透率下限值代入拟合关系中，得到的压力值即为临界压汞压力。
在一个示例中，计算临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度包括：建立进汞压力与进汞饱和度的关系，采用二次插值法计算临界压汞压力对应的进汞饱和度，其相应的含水饱和度即为束缚水饱和度。
在一个示例中，总饱和度100％减去进汞饱和度即为相应的含水饱和度。
具体地，由于汞饱和度中值压力测量误差更小，能更好地反映储层的孔渗性，而渗透率比孔隙度更能反映岩石的孔喉情况，故通过压汞实验样品点，建立汞饱和度中值压力与样品渗透率的关系曲线。通过数学方法，确定中值压力随渗透率变化最敏感的突变点，得到渗透率下限。当地层渗透率小于该下限时，地层不能自然产出流体，地层水以束缚水状态存在。这个压力突变点可以认为是地层水流体状态与束缚状态的临界压汞压力。通过插值得到进汞饱和度后，其对应的含水饱和度即为束缚水饱和度。
读取压汞实验中每一块样品的汞饱和度中值压力，建立其与样品岩心渗透率的曲线关系式y＝f(x)。
由于曲率在数学上表明了曲线在某一点的弯曲程度，所以求取曲线y＝f(x)的曲率方程k，并对曲率方程求一阶导数，令一阶导数为零，得到曲率最大值。该值即为储层的渗透率下限。
将渗透率下限值代入曲线关系式y＝f(x)中，得到压力值。该压力值是随渗透率变化最敏感的突变点，是地层水流体状态与束缚状态的临界压汞压力。
建立压汞实验中进汞压力与进汞饱和度的关系，采用二次插值法，计算出临界压汞压力下的进汞饱和度，其相应的含水饱和度即为束缚水饱和度。结合地质概念，对样本点进行层位分析，层位数据为已知条件，进而分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
本发明还提供一种获取束缚水饱和度的装置，包括：
拟合模块，建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；
渗透率下限值确定模块，根据拟合关系，确定储层的渗透率下限值；
临界压汞压力确定模块，根据渗透率下限值，确定临界压汞压力；
束缚水饱和度确定模块，计算临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；
模型建立模块，结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
在一个示例中，根据拟合关系，确定储层的渗透率下限值包括：根据拟合关系，确定曲率方程；计算曲率方程的最大值，将对应的曲率值记为储层的渗透率下限值。
在一个示例中，计算曲率方程的最大值包括：计算曲率方程的一阶导数，令一阶导数为零，获得曲率方程的最大值。
在一个示例中，根据渗透率下限值，确定临界压汞压力包括：将渗透率下限值代入拟合关系中，得到的压力值即为临界压汞压力。
在一个示例中，计算临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度包括：建立进汞压力与进汞饱和度的关系，采用二次插值法计算临界压汞压力对应的进汞饱和度，其相应的含水饱和度即为束缚水饱和度。
在一个示例中，总饱和度100％减去进汞饱和度即为相应的含水饱和度。
具体地，由于汞饱和度中值压力测量误差更小，能更好地反映储层的孔渗性，而渗透率比孔隙度更能反映岩石的孔喉情况，故通过压汞实验样品点，建立汞饱和度中值压力与样品渗透率的关系曲线。通过数学方法，确定中值压力随渗透率变化最敏感的突变点，得到渗透率下限。当地层渗透率小于该下限时，地层不能自然产出流体，地层水以束缚水状态存在。这个压力突变点可以认为是地层水流体状态与束缚状态的临界压汞压力。通过插值得到进汞饱和度后，其对应的含水饱和度即为束缚水饱和度。
读取压汞实验中每一块样品的汞饱和度中值压力，建立其与样品岩心渗透率的曲线关系式y＝f(x)。
由于曲率在数学上表明了曲线在某一点的弯曲程度，所以求取曲线y＝f(x)的曲率方程k，并对曲率方程求一阶导数，令一阶导数为零，得到曲率最大值。该值即为储层的渗透率下限。
将渗透率下限值代入曲线关系式y＝f(x)中，得到压力值。该压力值是随渗透率变化最敏感的突变点，是地层水流体状态与束缚状态的临界压汞压力。
建立压汞实验中进汞压力与进汞饱和度的关系，采用二次插值法，计算出临界压汞压力下的进汞饱和度，其相应的含水饱和度即为束缚水饱和度。结合地质概念，对样本点进行层位分析，层位数据为已知条件，进而分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
本发明还提供一种电子设备，电子设备包括：存储器，存储有可执行指令；处理器，处理器运行存储器中的可执行指令，以实现上述的获取束缚水饱和度的方法。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述的获取束缚水饱和度的方法。
为便于理解本发明实施例的方案及其效果，以下给出四个具体应用示例。本领域技术人员应理解，该示例仅为了便于理解本发明，其任何具体细节并非意在以任何方式限制本发明。
实施例1
图1示出了根据本发明的一个实施例的获取束缚水饱和度的方法的步骤的流程图。
如图1所示，该获取束缚水饱和度的方法包括：步骤101，建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；步骤102，根据拟合关系，确定储层的渗透率下限值；步骤103，根据渗透率下限值，确定临界压汞压力；步骤104，计算临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；步骤105，结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
以华东X地区为例。
图2示出了根据本发明的一个实施例的汞饱和度中值压力与岩心渗透率的关系示意图。从图中可以看出，随着渗透率的降低，汞饱和度中值压力呈增高的趋势，并在渗透率达到某项值后，中值压力增高速度明显加快。从不同曲线的拟合结果来看，幂函数曲线更符合渗透率和汞饱和度中值压力的变化趋势。幂函数曲线为y＝2.5002x-0.726，相关系数R2为0.7243。
图3示出了根据本发明的一个实施例的岩心渗透率下限及相应的临界压汞压力的示意图。
曲线的曲率在数学上表明曲线在某一点的弯曲程度的数值，通过微分来定义。曲率方程的计算公式为
其中，y'是幂函数关系式的一阶导数；y”是幂函数关系式的二阶导数。由于y是幂函数形式，即y＝axb，因此通过计算得到
求曲率的最大值就是对曲率方程求一阶导数，并令一阶导数等于零。其计算公式为：
此时得到的x即为曲率方程的最大值，也就是渗透率下限值。把a＝2.5002，b＝-0.726代入公式，得到x＝1.37，y＝1.9895，具体位置如图3中黑边圆点所示。
表2为本发明实施例华东X地区在1.9895MPa进汞压力下，通过二次插值得到的束缚水饱和度。
表2
表3为本发明实施例华东X地区选取压汞毛细管压力为1.9895MPa时得到的束缚水饱和度与核磁实验得到的束缚水饱和度对比表。
表3
从表中可以看出，在仅有的具有相似孔渗特征的岩心中，由压汞实验得到的束缚水饱和度与由核磁实验得到的束缚水饱和度基本相当，最低绝对误差为0.66％，最高绝对误差为4.04％，平均绝对误差为2.29％，小于5％的储量规范要求。
图4示出了根据本发明的一个实施例的压汞毛细管压力为1.9895MPa时，束缚水饱和度与岩心渗透率的关系的示意图。图中，黑色圆点为由压汞实验数据获得的束缚水饱和度。束缚水饱和度与岩心渗透率的拟合系数为0.9277，满足束缚水饱和度计算精度要求。
实施例2
图5示出了根据本发明的一个实施例的一种获取束缚水饱和度的装置的框图。
如图5所示，该获取束缚水饱和度的装置，包括：
拟合模块201，建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；
渗透率下限值确定模块202，根据拟合关系，确定储层的渗透率下限值；
临界压汞压力确定模块203，根据渗透率下限值，确定临界压汞压力；
束缚水饱和度确定模块204，计算临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；
模型建立模块205，结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
作为可选方案，根据拟合关系，确定储层的渗透率下限值包括：
根据拟合关系，确定曲率方程；
计算曲率方程的最大值，将对应的曲率值记为储层的渗透率下限值。
作为可选方案，计算曲率方程的最大值包括：
计算曲率方程的一阶导数，令一阶导数为零，获得曲率方程的最大值。
作为可选方案，根据渗透率下限值，确定临界压汞压力包括：
将渗透率下限值代入拟合关系中，得到的压力值即为临界压汞压力。
作为可选方案，计算临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度包括：
建立进汞压力与进汞饱和度的关系，采用二次插值法计算临界压汞压力对应的进汞饱和度，其相应的含水饱和度即为束缚水饱和度。
作为可选方案，总饱和度100％减去进汞饱和度即为相应的含水饱和度。
实施例3
本公开提供一种电子设备包括，该电子设备包括：存储器，存储有可执行指令；处理器，处理器运行存储器中的可执行指令，以实现上述获取束缚水饱和度的方法。
根据本公开实施例的电子设备包括存储器和处理器。
该存储器用于存储非暂时性计算机可读指令。具体地，存储器可以包括一个或多个计算机程序产品，该计算机程序产品可以包括各种形式的计算机可读存储介质，例如易失性存储器和/或非易失性存储器。该易失性存储器例如可以包括随机存取存储器(RAM)和/或高速缓冲存储器(cache)等。该非易失性存储器例如可以包括只读存储器(ROM)、硬盘、闪存等。
该处理器可以是中央处理单元(CPU)或者具有数据处理能力和/或指令执行能力的其它形式的处理单元，并且可以控制电子设备中的其它组件以执行期望的功能。在本公开的一个实施例中，该处理器用于运行该存储器中存储的该计算机可读指令。
本领域技术人员应能理解，为了解决如何获得良好用户体验效果的技术问题，本实施例中也可以包括诸如通信总线、接口等公知的结构，这些公知的结构也应包含在本公开的保护范围之内。
有关本实施例的详细说明可以参考前述各实施例中的相应说明，在此不再赘述。
实施例4
本公开实施例提供一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现所述的获取束缚水饱和度的方法。
根据本公开实施例的计算机可读存储介质，其上存储有非暂时性计算机可读指令。当该非暂时性计算机可读指令由处理器运行时，执行前述的本公开各实施例方法的全部或部分步骤。
上述计算机可读存储介质包括但不限于：光存储介质(例如：CD－ROM和DVD)、磁光存储介质(例如：MO)、磁存储介质(例如：磁带或移动硬盘)、具有内置的可重写非易失性存储器的媒体(例如：存储卡)和具有内置ROM的媒体(例如：ROM盒)。
本领域技术人员应理解，上面对本发明的实施例的描述的目的仅为了示例性地说明本发明的实施例的有益效果，并不意在将本发明的实施例限制于所给出的任何示例。
以上已经描述了本发明的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。
Claims (10)
1.一种获取束缚水饱和度的方法，其特征在于，包括：
建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；
根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值；
根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力；
计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；
结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
2.根据权利要求1所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值包括：
根据所述拟合关系，确定曲率方程；
计算所述曲率方程的最大值，将对应的曲率值记为储层的渗透率下限值。
3.根据权利要求2所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，计算所述曲率方程的最大值包括：
计算所述曲率方程的一阶导数，令一阶导数为零，获得曲率方程的最大值。
4.根据权利要求1所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力包括：
将所述渗透率下限值代入所述拟合关系中，得到的压力值即为所述临界压汞压力。
5.根据权利要求1所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度包括：
建立进汞压力与进汞饱和度的关系，采用二次插值法计算所述临界压汞压力对应的进汞饱和度，其相应的含水饱和度即为束缚水饱和度。
6.根据权利要求5所述的获取束缚水饱和度的方法，其中，总饱和度100％减去进汞饱和度即为相应的含水饱和度。
7.一种获取束缚水饱和度的装置，其特征在于，包括：
拟合模块，建立汞饱和度中值压力与岩心渗透率的拟合关系；
渗透率下限值确定模块，根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值；
临界压汞压力确定模块，根据所述渗透率下限值，确定临界压汞压力；
束缚水饱和度确定模块，计算所述临界压汞压力的进汞饱和度，进而确定束缚水饱和度；
模型建立模块，结合地质概念，对样本点进行层位分析，分层段建立不同层位的束缚水饱和度计算模型。
8.根据权利要求7所述的获取束缚水饱和度的装置，其中，根据所述拟合关系，确定储层的渗透率下限值包括：
根据所述拟合关系，确定曲率方程；
计算所述曲率方程的最大值，将对应的曲率值记为储层的渗透率下限值。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
存储器，存储有可执行指令；
处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现权利要求1-6中任一项所述的获取束缚水饱和度的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，该计算机可读存储介质存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1-6中任一项所述的获取束缚水饱和度的方法。
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