CN114140035A - 参数质量管理方法及相关装置 - Google Patents

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CN114140035A CN202210114224.XA CN202210114224A CN114140035A CN 114140035 A CN114140035 A CN 114140035A CN 202210114224 A CN202210114224 A CN 202210114224A CN 114140035 A CN114140035 A CN 114140035A
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Abstract

本申请提供了一种参数质量管理方法及相关装置，所述方法应用于服务器，所述方法包括：获取用于表征目标参数的质量状态的第一参数计分卡；更新所述目标参数中的部件参数和工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL；根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡；根据所述第二参数计分卡确定所述目标参数更新后的参数质量标准。这样，可以实时更新参数质量标准，提高用户生产效率。

Description

参数质量管理方法及相关装置
技术领域
本申请属于互联网产业的一般数据处理技术领域，具体涉及一种参数质量管理方法及相关装置。
背景技术
在企业的生产制造过程中，存在各种生产参数，如产品参数、部件参数和工艺设备参数等。但在目前，对生产过程中各参数的质量管理分散在各部门，导致信息无法沟通，使得参数质量标准无法根据生产实际情况的变化进行动态更新，降低了企业的生产效率。
发明内容
本申请提供了一种参数质量管理方法及相关装置，以期实时更新参数质量标准，提高用户生产效率。
第一方面，本申请实施例提供了一种参数质量管理方法，所述方法应用于服务器，包括：
获取用于表征目标参数的质量状态的第一参数计分卡，所述第一参数计分卡包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL，所述目标参数包括以下至少一种：产品参数、部件参数和工艺设备参数，所述产品参数是指经过生产过程得到的生产成果的参数，所述部件参数是指在所述生产过程中加入的初始物料的参数和/或得到的中间产物的参数，所述工艺设备参数是指在所述生产过程中的使用的设备的参数；
更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL；
根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，所述第二参数计分卡用于表征所述目标参数更新后的质量状态；
根据所述第二参数计分卡确定所述目标参数更新后的参数质量标准，所述参数质量标准是指所述目标参数在所述生产过程中的质量合格的标准。
第二方面，本申请实施例提供了一种参数质量管理装置，所述装置包括：
获取单元，用于获取用于表征目标参数质量状态的第一参数计分卡，所述第一参数计分卡包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL，所述目标参数包括产品参数、部件参数和工艺设备参数，所述产品参数是指经过生产过程得到的生产成果的参数，所述部件参数是指在所述生产过程中加入的初始物料的参数和/或得到的中间产物的参数，所述工艺设备参数是指在所述生产过程中的使用的设备的参数；第一更新单元，用于更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL；第二更新单元，用于根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，所述第二参数计分卡用于表征所述目标参数更新后的质量状态；确定单元，用于根据所述第二参数计分卡确定所述目标参数更新后的参数质量标准，所述参数质量标准是指所述目标参数在所述生产过程中的质量合格的标准。
第三方面，本申请实施例提供了一种服务器，包括处理器、存储器、通信接口，以及一个或多个程序，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置由所述处理器执行，所述程序包括用于执行本申请实施例第一方面中的步骤的指令。
第四方面，本申请实施例提供了一种计算机存储介质，存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行如本实施例第一方面中所描述的部分或全部步骤。
第五方面，本申请实施例提供了一种计算机程序产品，其中，上述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，上述计算机程序可操作来使计算机执行如本申请实施例第一方面中所描述的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。
可以看出，本申请实施例中，服务器首先获取用于表征目标参数的质量状态的第一参数计分卡，所述第一参数计分卡包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL，所述目标参数包括以下至少一种：产品参数、部件参数和工艺设备参数，再更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL，然后根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，最后根据所述第二参数计分卡确定所述目标参数更新后的参数质量标准。这样，通过获取来自不同部门的参数并设计成计分卡进行统一管理，并且根据实际生产情况对计分卡进行更新，使得各参数质量标准能够实时更新，提高用户生产效率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本申请实施例提供的一种系统架构示意图；
图2是本申请实施例提供的一种参数质量管理方法的流程示意图；
图3是本申请实施例提供的一种获取第一参数计分卡之前的方法步骤示意图；
图4a是本申请实施例提供的一种空白的参数计分卡示意图；
图4b是本申请实施例提供的一种带有第一配置数据的参数计分卡示意图；
图4c是本申请实施例提供的一种带有第二配置数据的参数计分卡示意图；
图4d是本申请实施例提供的一种产品计分卡示意图；
图4e是本申请实施例提供的一种部件计分卡示意图；
图4f是本申请实施例提供的一种工艺设备计分卡示意图；
图5a是本申请实施例提供的一种参数质量管理装置的功能单元组成框图；
图5b是本申请实施例提供的另一种参数质量管理装置的功能单元组成框图；
图6是本申请实施例提供的一种服务器的结构框图。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案，下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。此外，术语“包括”和“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可选地还包括没有列出的步骤或单元，或可选地还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
在本文中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，本文所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
下面先对本申请涉及到的相关术语进行介绍。
生产过程：本申请实施例中的生产过程是指企业在制造或生产得到某一成果的流程，例如将B部件作为初始物料，经过C设备的处理，最终得到A产品这一生产成果，上述过程即为所述生产过程。
参数：本申请实施例中的参数是指企业在生产过程中对产品、物料或设备等进行指标计算的值，例如产品参数是指经过生产过程得到的生产成果的参数，部件参数是指在所述生产过程中加入的初始物料的参数和得到的中间产物的参数，工艺设备参数是指在所述生产过程中的设备参数，通过设置参数的形式可以对不同部门管理的流程进行统一管理，使各类型参数的具体参数值统一化，便于后续参数质量标准的实时更新与比较。
参数计分卡：本申请实施例中的参数计分卡是用于将上述参数与参数值汇总起来的工具，其可以是表格形式，并且具有数值更新能力。
规格上限值（Upper Spec Limit，USL）与规格下限值（Lower Spec Limit，LSL）：是指允许参数值浮动的取值范围。
过程能力指数（Capability Index of Process，Cpk）：是指过程能力满足产品质量标准要求(规格范围等)的程度。
过程表现指数（Performance Index of Process，Ppk）：是指考虑过程有特殊原因引起的偏差时，样本数据的过程性能，一般仅用来与Cp及Cpk对比，或/和Cp、Cpk一起去度量和确认一段时间内改进的优先次序。
每百万次采样数的缺陷率（Defects per Million Opportunities，DPMO）是指100万个机会里面，出现缺陷的机会是多少；所谓的缺陷，是指产品、或服务、或过程的输出没有达到顾客要求或超出规格规定。
西格玛水平（Z值）：用来描述输出范围无偏移的程度。是规格范围与2倍标准差的比值，即Z=（USL-LSL）/2σ，σ为标准差。
目前，在生产过程中，各参数的质量管理分散在各部门，例如产品参数在研发部门管理、部件参数在质量部门管理、工艺设备参数在制造部门管理，信息无法沟通，使得参数质量标准无法根据生产实际情况的变化进行动态更新，缺少一套统一的生产过程中的参数质量管理体系，降低了企业的生产效率。
为解决上述问题，本申请实施例提供了一种参数质量管理方法，该方法可以应用于生产制造业务领域。可以通过该方法对企业各部门负责的不同生产质量的参数进行统一管理，并通过各部门的配置形成第一参数计分卡，并在后续仿真实验或实际生产过程中根据具体情况对该第一参数计分卡进行更新，形成最新版本的第二参数计分卡，再根据第二参数计分卡确定最新的参数质量标准，从而实现参数质量标准的实时更新。本申请可以适用于多种需要进行参数质量管理或更新的应用场景，包括但不限于上述提到的应用场景。
下面介绍本申请实施例涉及的系统架构。
请参阅图1，图1是本申请实施例提供的一种系统架构示意图。如图1所示，所述系统架构10包括服务器11和多个客户端12，所述服务器11与所述多个客户端12通信连接，其中所述服务器11从所述多个客户端12中获取第一参数计分卡中需要由客户端进行配置的各项参数值，所述服务器11可以是一台服务器，或者由若干服务器组成的服务器集群，或者是云计算服务中心，所述多个客户端12可以是手机终端，平板电脑，笔记本电脑，车载终端等，示例性地，所述多个客户端12可以是企业各部门用于配置第一参数计分卡的计算机。
下面介绍本申请实施例提供的一种参数质量管理方法。
请参阅图2，图2是本申请实施例提供的一种参数质量管理方法的流程示意图，所述方法应用于服务器，如图2所示，所述参数质量管理方法包括：
步骤201，获取用于表征目标参数的质量状态的第一参数计分卡，所述第一参数计分卡包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL，所述目标参数包括以下至少一种：产品参数、部件参数和工艺设备参数。
其中，所述产品参数是指经过生产过程得到的生产成果的参数，所述部件参数是指在所述生产过程中加入的初始物料的参数和/或得到的中间产物的参数，所述工艺设备参数是指在所述生产过程中的使用的设备的参数，所述质量状态是指所述目标参数的各项参数值，通过参数值可以反映出目标参数的质量；与目标参数对应的，所述第一参数计分卡包括以下至少一种：产品计分卡、部件计分卡和工艺设备计分卡。
步骤202，更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL；
其中，在实际的生产过程中，由于产品是直接面向客户的最终成果，因此产品需要锁定在一个不会给用户带来负面体验的规格范围，因此产品参数的规格上下限在配置第一参数计分卡时，由工程师配置完毕后即相对固定，在后续服务器进行自动化更新过程中不会去更改产品的规格限，特殊情况下需要修改时，可以由设计人员人工改变，因此在本步骤中服务器只需更新目标参数中的部件参数和工艺设备参数的规格上下限。
步骤203，根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡。
其中，所述第二参数计分卡用于表征所述目标参数更新后的质量状态。在所述第二规格上下限更新完成后，可以选择对第一参数计分卡上的其他参数值进行重新计算，将计算得到的数值填入第一参数计分卡中以实现数据更新。
步骤204，根据所述第二参数计分卡确定所述目标参数更新后的参数质量标准。
其中，所述参数质量标准是指所述目标参数在所述生产过程中的质量合格的标准，所述参数质量标准可以是当最终产品面向客户，客户回馈满意度较高时，所述目标参数在参数计分卡中的各项参数值指标。
可见，本示例中，服务器首先获取用于表征目标参数的质量状态的第一参数计分卡，所述第一参数计分卡包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL，所述目标参数包括以下至少一种：产品参数、部件参数和工艺设备参数，再更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL，然后根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，最后根据所述第二参数计分卡确定所述目标参数更新后的参数质量标准。这样，通过获取来自不同部门的参数并设计成计分卡进行统一管理，并且根据实际生产情况对计分卡进行更新，使得各参数质量标准能够实时更新，提高用户生产效率。
在一个可能的示例中，请参阅图3，图3是本申请实施例提供的一种获取第一参数计分卡之前的方法步骤示意图，如图3所示，在所述获取用于表征目标参数的质量状态的第一参数计分卡之前，所述方法还包括：
步骤S301，创建空白的参数计分卡。
其中，所述空白的参数计分卡中设置有所述目标参数的各项参数指标，但该参数指标对应的参数值是空值，需要由各部门研发人员分别填写进行配置。示例性地，请参阅图4a，图4a是本申请实施例提供的一种空白的参数计分卡示意图，如图4a所示，以目标产品为A产品的产品计分卡为例，所述空白的参数计分卡的标题为“A产品参数管理”，所述空白的参数计分卡中可以包含数个目标参数，每个目标参数都有对应参数指标，如变量参数编号、变量参数名称、参数单位、测量方法、数据属性、目标值等，并且在此步骤中各项参数指标的参数值为空值，需要后续由各部门研发人员进行配置。
步骤S302，获取来自客户端的第一配置数据。
其中，所述第一配置数据包括所述目标参数的变量参数编号、变量参数名称、参数单位、测量方法、数据类型和数据属性。其中，数据属性包括短期数据和长期数据，当数据属性为短期数据时，ST=1，所述目标参数的标准差为短期标准差σ1，当数据属性为长期数据时，ST=0，所述目标参数的标准差为长期标准差σ0，所述ST的值可用于后续计算目标参数的西格玛水平。示例性地，请参阅图4b，图4b是本申请实施例提供的一种带有第一配置数据的参数计分卡示意图，如图4b所示，以目标产品为A产品的产品计分卡为例，所述产品计分卡的标题为“A产品参数管理”，研发人员通过实验数据将所述第一配置数据依次填入参数计分卡中，得到如图所示的结果。
步骤S303，获取来自客户端的第二配置数据，所述第二配置数据包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL。
在一个可能的示例中，在所述获取来自客户端的第二配置数据之前，所述方法还包括：获取所述目标参数的测量分数，所述测量分数用于表征所述目标参数是否达到合格标准；根据所述测量分数和预设的参数测量合格标准确定所述目标参数达到合格标准。
其中，服务器中存储有参数测量系统数据库，所述参数测量系统数据库连接研发部门的实验室管理系统数据源和质量部门的生产质量系统数据源，在进行第二配置数据的配置前，所述参数测量系统数据库会从生产质量系统中获取产品数据，根据产品数据来测量目标参数，得到测量分数，并且将所述测量分数与预设的参数测量合格标准相比较，判断所述目标参数是否达到合格标准，只有当所述目标参数达到合格标准时，服务器才会允许进行第二配置数据的配置。
可见，本示例中，通过参数测量系统数据库对目标参数进行合格标准评估，仅允许合格的目标参数进入流程，可以清晰地剔除不合格的参数，从而能够快速找到产品瑕疵，便于企业管理，并且在后续的更新中保证了整个流程的准确性。
在一个可能的示例中，所述获取来自客户端的第二配置数据，包括：筛选出达到合格标准的N个目标参数；计算所述N个目标参数的规格限的值；若所述目标参数的规格要求为单规格，则选择所述规格限的值的最大值为第一规格上限值USL或选择所述规格限的值的最小值为第一规格下限值LSL；若所述目标参数的规格要求为双规格，则选择所述规格限的值的最大值为第一规格上限值USL以及选择所述规格限的值的最小值为第一规格下限值LSL。
其中，参数的规格要求可分为单规格和双规格，采用单规格的参数的规格限只有USL或LSL中的一种，具体需要根据实验数据或生产情况灵活确定，此时计算其规格限的值，取其中的最大值为USL，或取其中的最小值为LSL；采用双规格的参数的规格限包含USL和LSL，在计算其规格限的值后，取其中的最大值为USL以及取其中的最小值为LSL。
示例性地，请参阅图4c，图4c是本申请实施例提供的一种带有第二配置数据的参数计分卡示意图，如图4c所示，以目标产品为A产品的产品计分卡为例，所述产品计分卡的标题为“A产品参数管理”，当所述目标参数达到所述合格标准后，在所述参数计分卡的“分析结果”中填入“合格”，并根据实验数据填入规格上下限。
步骤S304，基于预设算法计算得到所述目标参数的第一属性值。
其中，所述第一属性值包括第一均值、第一标准差、第一过程能力指数Cpk、第一过程表现指数Ppk、第一每百万次采样数的缺陷率DPMO和第一西格玛水平Z值。所述预设算法可以是现有算法，也可以是通过具有计算功能的数据库系统进行计算。本示例中，所述预设算法可以是通过服务器中存储的计分卡数据库计算得到所述第一属性值，所述计分卡数据库连接研发部门的实验室管理系统数据源和设计仿真系统数据源，为其提供数据信息和计算能力，并且通过所述计分卡数据库可以完整记录上述N个达到合格标准的目标参数的数据集合。
在一个可能的示例中，所述基于预设算法计算得到所述目标参数的第一属性值，包括：根据所述第一均值、所述第一标准差、所述第一规格上限值USL和/或所述第一规格下限值LSL确定所述第一过程能力指数Cpk和所述第一过程表现指数Ppk；根据所述第一均值、所述第一标准差、所述数据属性、所述第一规格上限值USL和/或所述第一规格下限值LSL确定所述第一每百万次采样数的缺陷率DPMO；根据所述第一每百万次采样数的缺陷率DPMO确定所述第一西格玛水平Z值。
其中，Cpk=min{Cpl，Cpu}，Cpl=(μ-LSL)/3σ1，Cpu=(USL-μ)/3σ1，μ为均值，σ1为短期标准差；Ppk=min{Ppu，Ppl}，Ppu=(USL-μ)/3σ0，Ppl=(μ-LSL)/3σ0，μ为均值，σ0为长期标准差；由ZLSL=(μ-LSL)/σ-1.5*ST，可得DPMOLSL=IF(ZLSL<4.51，1000000*(1-NORMSDIST(ZLSL))，0)；由ZUSL=(USL-μ)/σ-1.5*ST，可得DPMOUSL=IF(ZUSL<4.51，1000000*(1-NORMSDIST(ZUSL))，0)，其中，当所述数据属性为短期时，ST=1，当所述数据属性为长期时，ST=0，NORMSDIST表示正态累积分布函数，综上可得DPMO=DPMOLSL+DPMOUSL；西格玛水平Z值（短期）=﹣NORMSINV(DPMO/1000000)+1.5，其中，NORMSINV表示正态分布逆累积分布函数，且若DPMO<3.4，则Z值>6。可选地，本申请还可以根据所述每百万次采样数的缺陷率DPMO预测所述目标参数的合格率，即合格率= 1-DPMO/1000000。
步骤S305，根据所述第一标准差、所述第一规格上限值USL和/或所述第一规格下限值LSL确定所述目标参数的第一目标值。
其中，目标值=USL-4σ或目标值=LSL+4σ。
步骤S306，将所述第一配置数据、所述第二配置数据、所述第一目标值、所述第一属性值填入所述空白的参数计分卡，得到所述第一参数计分卡。
示例性地，请参阅图4d，图4d是本申请实施例提供的一种产品计分卡示意图，如图4d所示，所述产品计分卡的标题为“A产品参数管理”，将上述配置数据及计算得到的参数值填入所述空白的参数计分卡后，得到第一参数计分卡中的产品计分卡，所述第一参数计分卡还包括部件计分卡和工艺设备计分卡，为辅助理解，请参阅图4e和图4f，图4e是本申请实施例提供的一种部件计分卡示意图，示例性地，所述部件计分卡的标题为“B部件参数管理”；图4f是本申请实施例提供的一种工艺设备计分卡示意图，示例性地，所述工艺设备计分卡的标题为“C设备参数管理”，所述部件计分卡和工艺设备计分卡中的参数值配置过程和计算过程参见上述产品计分卡中参数值的配置和计算部分，在此不进行赘述。如图所示，图4e的部件计分卡是以B部件为原始物料的部件计分卡，用于管理B部件的相关参数，图4f的工艺设备计分卡是以C设备为设备的工艺设备计分卡，用于管理利用C设备进行生产的相关参数。
可见，本示例中，通过设计第一参数计分卡使企业生产过程中各部门分散管理的质量参数进行了统一，且以可视化形式将各项参数指标展现给用户，方便用户管理，提高用户生产效率，也为后续根据实际生产状况更新参数计分卡打下基础。
在一个可能的示例中，所述更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL，包括：根据所述部件参数和所述工艺设备参数更新后的测量分数和预设的参数测量合格标准确定所述部件参数和所述工艺设备参数更新后达到合格标准；筛选出达到所述合格标准的M个更新后的目标参数，其中，所述M个更新后的目标参数包括x个更新后的部件参数和y个更新后的工艺设备参数；分别计算所述x个更新后的部件参数和所述y个更新后的工艺设备参数的规格限的值；若所述更新后的参数的规格要求为单规格，则选择所述规格限的值的最大值为第二规格上限值USL或选择所述规格限的值的最小值为第二规格下限值LSL；若所述更新后的参数的规格要求为双规格，则选择所述规格限的值的最大值为第二规格上限值USL以及选择所述规格限的值的最小值为第二规格下限值LSL。
其中，在步骤202中已经提到，由于产品参数的规格上下限在工程师配置完毕后即相对固定，因此后续参数计分卡更新时，只会更新部件参数和工艺设备参数的规格上下限；与前述示例相同地，在更新规格上下限前，仍需要先通过参数测量系统数据库测量更新后的目标参数，得到测量分数并根据测量分数判断更新后的目标参数是否合格，只有达到合格标准才允许更新；当更新后的目标参数达到合格标准后，服务器会筛选出所有达到合格标准的M个更新后的目标参数，其中包括x个更新后的部件参数和y个更新后的工艺设备参数，那么更新后的产品参数就是（M-x-y）个；与前述示例相同地，根据单规格或双规格的规格要求，通过计算x个更新后的部件参数的规格限的值和y个更新后的工艺设备参数的规格限的值，分别得到对应的更新后的第二规格上下限值。
可见，本示例中，通过差异化更新规格上下限并保留更新前的合格标准筛选，保证了在根据实际生产状况更新参数计分卡时的合理性和可靠性。
在一个可能的示例中，所述根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，包括：基于预设算法计算得到所述目标参数更新后的第二属性值，所述第二属性值包括第二均值、第二标准差、第二过程能力指数Cpk、第二过程表现指数Ppk、第二每百万次采样数的缺陷率DPMO和第二西格玛水平Z值；根据所述第二标准差、所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL确定所述目标参数更新后的第二目标值；将所述第二规格上限值USL、所述第二规格下限值LSL、所述第二目标值、所述第二属性值填入所述第一参数计分卡进行数据更新，得到所述第二参数计分卡。
其中，与前述示例相同地，所述预设算法可以是现有算法，也可以是通过具有计算功能的数据库系统进行计算。本示例中，所述预设算法可以是通过服务器中存储的计分卡数据库计算得到所述第二属性值，所述计分卡数据库连接研发部门的实验室管理系统数据源和设计仿真系统数据源以及质量部门的生产质量系统，为其提供数据信息和计算能力，并且通过所述计分卡数据库可以完整记录前述M个达到合格标准的更新后的目标参数的数据集合；以及，与前述示例相同地，目标值=USL-4σ或目标值=LSL+4σ。
在一个可能的示例中，所述基于预设算法计算得到所述目标参数更新后的第二属性值，包括：根据所述第二均值、所述第二标准差、所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL确定所述第二过程能力指数Cpk和所述第二过程表现指数Ppk；根据所述第二均值、所述第二标准差、与所述目标参数对应的数据属性、所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL确定所述第二每百万次采样数的缺陷率DPMO；根据所述第二每百万次采样数的缺陷率DPMO确定所述第二西格玛水平Z值。
其中，由于更新参数计分卡后只是参数值发生了变化，而相关计算公式并未发生改变，因此过程能力指数Cpk，过程表现指数Ppk，每百万次采样数的缺陷率DPMO以及西格玛水平Z值的计算公式如前述步骤S304中所示，此处不再赘述。
可见，本示例中，根据实际生产情况更新第一参数计分卡中的其他参数值，得到第二参数计分卡，使得整个生产流程的实时变化具象地呈现给用户，用户能够根据参数计分卡的实时更新了解到当前状态下的参数质量标准，方便管理，提高了生产效率。
与上述所示的实施例一致的，请参阅图5a，图5a是本申请实施例提供的一种参数质量管理装置的功能单元组成框图，所述装置应用于服务器，如图5a所示，所述参数质量管理装置50包括：获取单元501，用于获取用于表征目标参数质量状态的第一参数计分卡，所述第一参数计分卡包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL，所述目标参数包括产品参数、部件参数和工艺设备参数，所述产品参数是指经过生产过程得到的生产成果的参数，所述部件参数是指在所述生产过程中加入的初始物料的参数和/或得到的中间产物的参数，所述工艺设备参数是指在所述生产过程中的使用的设备的参数；第一更新单元502，用于更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL；第二更新单元503，用于根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，所述第二参数计分卡用于表征所述目标参数更新后的质量状态；确定单元504，用于根据所述第二参数计分卡确定所述目标参数更新后的参数质量标准，所述参数质量标准是指所述目标参数在所述生产过程中的质量合格的标准。
在一个可能的示例中，在所述获取用于表征目标参数的质量状态的第一参数计分卡之前，所述参数质量管理装置50还用于：创建空白的参数计分卡；获取来自客户端的第一配置数据，所述第一配置数据包括所述目标参数的变量参数编号、变量参数名称、参数单位、测量方法、数据类型和数据属性；获取来自客户端的第二配置数据，所述第二配置数据包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL；基于预设算法计算得到所述目标参数的第一属性值，所述第一属性值包括第一均值、第一标准差、第一过程能力指数Cpk、第一过程表现指数Ppk、第一每百万次采样数的缺陷率DPMO和第一西格玛水平Z值；根据所述第一标准差、所述第一规格上限值USL和/或所述第一规格下限值LSL确定所述目标参数的第一目标值；将所述第一配置数据、所述第二配置数据、所述第一目标值、所述第一属性值填入所述空白的参数计分卡，得到所述第一参数计分卡。
在一个可能的示例中，在所述获取来自客户端的第二配置数据之前，所述参数质量管理装置50还用于：获取所述目标参数的测量分数，所述测量分数用于表征所述目标参数是否达到合格标准；根据所述测量分数和预设的参数测量合格标准确定所述目标参数达到合格标准。
在一个可能的示例中，在所述获取来自客户端的第二配置数据方面，所述获取单元501具体用于：筛选出达到合格标准的N个目标参数；计算所述N个目标参数的规格限的值；若所述目标参数的规格要求为单规格，则选择所述规格限的值的最大值为第一规格上限值USL或选择所述规格限的值的最小值为第一规格下限值LSL；若所述目标参数的规格要求为双规格，则选择所述规格限的值的最大值为第一规格上限值USL以及选择所述规格限的值的最小值为第一规格下限值LSL。
在一个可能的示例中，在所述基于预设算法计算得到所述目标参数的第一属性值方面，所述获取单元501具体用于：根据所述第一均值、所述第一标准差、所述第一规格上限值USL和/或所述第一规格下限值LSL确定所述第一过程能力指数Cpk和所述第一过程表现指数Ppk；根据所述第一均值、所述第一标准差、所述数据属性、所述第一规格上限值USL和/或所述第一规格下限值LSL确定所述第一每百万次采样数的缺陷率DPMO；根据所述第一每百万次采样数的缺陷率DPMO确定所述第一西格玛水平Z值。
在一个可能的示例中，在所述更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL方面，所述第一更新单元502具体用于：根据所述部件参数和所述工艺设备参数更新后的测量分数和预设的参数测量合格标准确定所述部件参数和所述工艺设备参数更新后达到合格标准；筛选出达到所述合格标准的M个更新后的目标参数，其中，所述M个更新后的目标参数包括x个更新后的部件参数和y个更新后的工艺设备参数；分别计算所述x个更新后的部件参数和所述y个更新后的工艺设备参数的规格限的值；若所述更新后的参数的规格要求为单规格，则选择所述规格限的值的最大值为第二规格上限值USL或选择所述规格限的值的最小值为第二规格下限值LSL；若所述更新后的参数的规格要求为双规格，则选择所述规格限的值的最大值为第二规格上限值USL以及选择所述规格限的值的最小值为第二规格下限值LSL。
在一个可能的示例中，在所述根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，所述第二更新单元503具体用于：基于预设算法计算得到所述目标参数更新后的第二属性值，所述第二属性值包括第二均值、第二标准差、第二过程能力指数Cpk、第二过程表现指数Ppk、第二每百万次采样数的缺陷率DPMO和第二西格玛水平Z值；根据所述第二标准差、所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL确定所述目标参数更新后的第二目标值；将所述第二规格上限值USL、所述第二规格下限值LSL、所述第二目标值、所述第二属性值填入所述第一参数计分卡进行数据更新，得到所述第二参数计分卡。
在一个可能的示例中，在所述基于预设算法计算得到所述目标参数更新后的第二属性值方面，所述第二更新单元503具体用于：根据所述第二均值、所述第二标准差、所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL确定所述第二过程能力指数Cpk和所述第二过程表现指数Ppk；根据所述第二均值、所述第二标准差、与所述目标参数对应的数据属性、所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL确定所述第二每百万次采样数的缺陷率DPMO；根据所述第二每百万次采样数的缺陷率DPMO确定所述第二西格玛水平Z值。
可以理解的是，由于方法实施例与装置实施例为相同技术构思的不同呈现形式，因此，本申请中方法实施例部分的内容应同步适配于装置实施例部分，此处不再赘述。
在采用集成的单元的情况下，如图5b所示，图5b是本申请实施例提供的另一种参数质量管理装置的功能单元组成框图。在图5b中，参数质量管理装置51包括：处理模块512和通信模块511。处理模块512用于对参数质量管理装置的动作进行控制管理，例如，执行获取单元501、第一更新单元502、第二更新单元503和确定单元504的步骤，和/或用于执行本文所描述的技术的其它过程。通信模块511用于支持参数质量管理装置与其他设备之间的交互。如图5b所示，参数质量管理装置还可以包括存储模块513，存储模块513用于存储参数质量管理装置的程序代码和数据。所述参数质量管理装置51可以是前述参数质量管理装置50。
其中，处理模块512可以是处理器或控制器，例如可以是中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)，通用处理器，数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)，ASIC，FPGA或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件、硬件部件或者其任意组合。其可以实现或执行结合本申请公开内容所描述的各种示例性的逻辑方框，模块和电路。所述处理器也可以是实现计算功能的组合，例如包含一个或多个微处理器组合，DSP和微处理器的组合等等。通信模块511可以是收发器、RF电路或通信接口等。存储模块513可以是存储器。
其中，上述方法实施例涉及的各场景的所有相关内容均可以援引到对应功能模块的功能描述，在此不再赘述。上述参数质量管理装置51均可执行上述图2所示的参数质量管理方法。
上述实施例，可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或其他任意组合来实现。当使用软件实现时，上述实施例可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令或计算机程序。在计算机上加载或执行所述计算机指令或计算机程序时，全部或部分地产生按照本申请实施例所述的流程或功能。所述计算机可以为通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中，或者从一个计算机可读存储介质向另一个计算机可读存储介质传输，例如，所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线或无线方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集合的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质（例如，软盘、硬盘、磁带）、光介质（例如，DVD）、或者半导体介质。半导体介质可以是固态硬盘。
图6是本申请实施例提供的一种服务器的结构框图。如图6所示，服务器600可以包括一个或多个如下部件：处理器601、与处理器601耦合的存储器602，其中存储器602可存储有一个或多个计算机程序，一个或多个计算机程序可以被配置为由一个或多个处理器601执行时实现如上述各实施例描述的方法。所述服务器600可以是前述服务器11。
处理器601可以包括一个或者多个处理核。处理器601利用各种接口和线路连接整个服务器600内的各个部分，通过运行或执行存储在存储器602内的指令、程序、代码集或指令集，以及调用存储在存储器602内的数据，执行服务器600的各种功能和处理数据。可选地，处理器601可以采用数字信号处理(Digital Signal Processing，DSP)、现场可编程门阵列(Field－Programmable Gate Array，FPGA)、可编程逻辑阵列(ProgrammableLogicArray，PLA)中的至少一种硬件形式来实现。处理器601可集成中央处理器(CentralProcessing Unit，CPU)、图像处理器(Graphics Processing Unit，GPU)和调制解调器等中的一种或几种的组合。其中，CPU主要处理操作系统、用户界面和应用程序等；GPU用于负责显示内容的渲染和绘制；调制解调器用于处理无线通信。可以理解的是，上述调制解调器也可以不集成到处理器601中，单独通过一块通信芯片进行实现。
存储器602可以包括随机存储器(Random Access Memory，RAM)，也可以包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)。存储器602可用于存储指令、程序、代码、代码集或指令集。存储器602可包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储用于实现操作系统的指令、用于实现至少一个功能的指令(比如触控功能、声音播放功能、图像播放功能等)、用于实现上述各个方法实施例的指令等。存储数据区还可以存储服务器600在使用中所创建的数据等。
可以理解的是，服务器600可包括比上述结构框图中更多或更少的结构元件，例如，包括电源模块、物理按键、WiFi(Wireless Fidelity，无线保真)模块、扬声器、蓝牙模块、传感器等，在此不进行限定。
本申请实施例还提供一种计算机存储介质，其中，该计算机存储介质存储用于电子数据交换的计算机程序，该计算机程序使得计算机执行如上述方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤。
本申请实施例还提供一种计算机程序产品，上述计算机程序产品包括存储了计算机程序的非瞬时性计算机可读存储介质，上述计算机程序可操作来使计算机执行如上述方法实施例中记载的任一方法的部分或全部步骤。该计算机程序产品可以为一个软件安装包。
应理解，在本申请的各种实施例中，上述各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后，各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定，而不应对本申请实施例的实施过程构成任何限定。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的方法、装置和系统，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的；例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式；例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理包括，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
上述以软件功能单元的形式实现的集成的单元，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。上述软件功能单元存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、易失性存储器或非易失性存储器。其中，非易失性存储器可以是只读存储器（read-only memory，ROM）、可编程只读存储器（programmable ROM，PROM）、可擦除可编程只读存储器（erasable PROM，EPROM）、电可擦除可编程只读存储器（electrically EPROM，EEPROM）或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器（random access memory，RAM），其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明，许多形式的随机存取存储器（random access memory，RAM）可用，例如静态随机存取存储器（static RAM，SRAM）、动态随机存取存储器（DRAM）、同步动态随机存取存储器（synchronous DRAM，SDRAM）、双倍数据速率同步动态随机存取存储器（double data rateSDRAM，DDR SDRAM）、增强型同步动态随机存取存储器（enhanced SDRAM，ESDRAM）、同步连接动态随机存取存储器（synchlink DRAM，SLDRAM）和直接内存总线随机存取存储器（directrambus RAM，DR RAM）等各种可以存储程序代码的介质。
虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，可轻易想到变化或替换，均可作各种更动与修改，包含上述不同功能、实施步骤的组合，包含软件和硬件的实施方式，均在本发明的保护范围。

Claims (11)

1.一种参数质量管理方法，其特征在于，应用于服务器，所述方法包括：
获取用于表征目标参数的质量状态的第一参数计分卡，所述第一参数计分卡包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL，所述目标参数包括以下至少一种：产品参数、部件参数和工艺设备参数，所述产品参数是指经过生产过程得到的生产成果的参数，所述部件参数是指在所述生产过程中加入的初始物料的参数和/或得到的中间产物的参数，所述工艺设备参数是指在所述生产过程中的使用的设备的参数；
更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL；
根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，所述第二参数计分卡用于表征所述目标参数更新后的质量状态；
根据所述第二参数计分卡确定所述目标参数更新后的参数质量标准，所述参数质量标准是指所述目标参数在所述生产过程中的质量合格的标准。
2.根据权利要求1所述方法，其特征在于，在所述获取用于表征目标参数的质量状态的第一参数计分卡之前，所述方法还包括：
创建空白的参数计分卡；
获取来自客户端的第一配置数据，所述第一配置数据包括所述目标参数的变量参数编号、变量参数名称、参数单位、测量方法、数据类型和数据属性；
获取来自客户端的第二配置数据，所述第二配置数据包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL；
基于预设算法计算得到所述目标参数的第一属性值，所述第一属性值包括第一均值、第一标准差、第一过程能力指数Cpk、第一过程表现指数Ppk、第一每百万次采样数的缺陷率DPMO和第一西格玛水平Z值；
根据所述第一标准差、所述第一规格上限值USL和/或所述第一规格下限值LSL确定所述目标参数的第一目标值；
将所述第一配置数据、所述第二配置数据、所述第一目标值、所述第一属性值填入所述空白的参数计分卡，得到所述第一参数计分卡。
3.根据权利要求2所述方法，其特征在于，在所述获取来自客户端的第二配置数据之前，所述方法还包括：
获取所述目标参数的测量分数，所述测量分数用于表征所述目标参数是否达到合格标准；
根据所述测量分数和预设的参数测量合格标准确定所述目标参数达到合格标准。
4.根据权利要求3所述方法，其特征在于，所述获取来自客户端的第二配置数据，包括：
筛选出达到合格标准的N个目标参数；
计算所述N个目标参数的规格限的值；
若所述目标参数的规格要求为单规格，则选择所述规格限的值的最大值为第一规格上限值USL或选择所述规格限的值的最小值为第一规格下限值LSL；
若所述目标参数的规格要求为双规格，则选择所述规格限的值的最大值为第一规格上限值USL以及选择所述规格限的值的最小值为第一规格下限值LSL。
5.根据权利要求2所述方法，其特征在于，所述基于预设算法计算得到所述目标参数的第一属性值，包括：
根据所述第一均值、所述第一标准差、所述第一规格上限值USL和/或所述第一规格下限值LSL确定所述第一过程能力指数Cpk和所述第一过程表现指数Ppk；
根据所述第一均值、所述第一标准差、所述数据属性、所述第一规格上限值USL和/或所述第一规格下限值LSL确定所述第一每百万次采样数的缺陷率DPMO；
根据所述第一每百万次采样数的缺陷率DPMO确定所述第一西格玛水平Z值。
6.根据权利要求1所述方法，其特征在于，所述更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL，包括：
根据所述部件参数和所述工艺设备参数更新后的测量分数和预设的参数测量合格标准确定所述部件参数和所述工艺设备参数更新后达到合格标准；
筛选出达到所述合格标准的M个更新后的目标参数，其中，所述M个更新后的目标参数包括x个更新后的部件参数和y个更新后的工艺设备参数；
分别计算所述x个更新后的部件参数和所述y个更新后的工艺设备参数的规格限的值；
若所述更新后的参数的规格要求为单规格，则选择所述规格限的值的最大值为第二规格上限值USL或选择所述规格限的值的最小值为第二规格下限值LSL；
若所述更新后的参数的规格要求为双规格，则选择所述规格限的值的最大值为第二规格上限值USL以及选择所述规格限的值的最小值为第二规格下限值LSL。
7.根据权利要求6所述方法，其特征在于，所述根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，包括：
基于预设算法计算得到所述目标参数更新后的第二属性值，所述第二属性值包括第二均值、第二标准差、第二过程能力指数Cpk、第二过程表现指数Ppk、第二每百万次采样数的缺陷率DPMO和第二西格玛水平Z值；
根据所述第二标准差、所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL确定所述目标参数更新后的第二目标值；
将所述第二规格上限值USL、所述第二规格下限值LSL、所述第二目标值、所述第二属性值填入所述第一参数计分卡进行数据更新，得到所述第二参数计分卡。
8.根据权利要求7所述方法，其特征在于，所述基于预设算法计算得到所述目标参数更新后的第二属性值，包括：
根据所述第二均值、所述第二标准差、所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL确定所述第二过程能力指数Cpk和所述第二过程表现指数Ppk；
根据所述第二均值、所述第二标准差、与所述目标参数对应的数据属性、所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL确定所述第二每百万次采样数的缺陷率DPMO；
根据所述第二每百万次采样数的缺陷率DPMO确定所述第二西格玛水平Z值。
9.一种参数质量管理装置，其特征在于，应用于服务器，所述装置包括：
获取单元，用于获取用于表征目标参数质量状态的第一参数计分卡，所述第一参数计分卡包括所述目标参数的第一规格上限值USL和/或所述目标参数的第一规格下限值LSL，所述目标参数包括产品参数、部件参数和工艺设备参数，所述产品参数是指经过生产过程得到的生产成果的参数，所述部件参数是指在所述生产过程中加入的初始物料的参数和/或得到的中间产物的参数，所述工艺设备参数是指在所述生产过程中的使用的设备的参数；
第一更新单元，用于更新所述目标参数中所述部件参数和所述工艺设备参数的第一规格上限值USL和/或第一规格下限值LSL，得到第二规格上限值USL和/或第二规格下限值LSL；
第二更新单元，用于根据所述第二规格上限值USL和/或所述第二规格下限值LSL更新所述第一参数计分卡，得到第二参数计分卡，所述第二参数计分卡用于表征所述目标参数更新后的质量状态；
确定单元，用于根据所述第二参数计分卡确定所述目标参数更新后的参数质量标准，所述参数质量标准是指所述目标参数在所述生产过程中的质量合格的标准。
10.一种服务器，其特征在于，包括处理器、存储器、通信接口，以及一个或多个程序，所述一个或多个程序被存储在所述存储器中，并且被配置由所述处理器执行，所述程序包括用于执行如权利要求1-8任一项所述的方法中的步骤的指令。
11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储用于电子数据交换的计算机程序，其中，所述计算机程序使得计算机执行如权利要求1-8任一项所述的方法。
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