CN114114095A - 基于金刚石nv色心的磁力测量系统 - Google Patents
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Abstract
本发明适用于传感器技术领域,提供了一种基于金刚石NV色心的磁力测量系统,包括:激光器、金刚石NV色心、光纤、光纤准直器、滤光片、光电探测器、微波天线及微波源;微波天线设置在金刚石NV色心的正上方,与微波源连接,用于扫频;激光器发射的激光光束由入射位进入金刚石NV色心内部;金刚石NV色心在在微波天线的影响下激发产生荧光,荧光由出射位通过光纤形成出射光束;出射光束经光纤准直器形成平行光,并通过滤光片滤光后入射到光电探测器。本发明采用光纤集成金刚石NV色心光学腔体有效提高了荧光的激发效率,同时金刚石NV色心表面镀反射膜,提高了荧光的收集率,从而提高了磁力测量系统的测量精度。
Description
技术领域
本发明属于传感器技术领域,尤其涉及一种基于金刚石NV色心的磁力测量系统。
背景技术
金刚石NV色心是一个具有各种优良性质的固态单自旋量子的体系,与光泵原子气室体系相比具有更加优异的固态稳定性,可以通过金刚石NV色心在外界磁场作用下产生的能级劈裂来探测外界磁场的大小和变化。
现有技术中,通常采用聚焦透镜将激光聚焦至金刚石NV色心内部,金刚石NV色心产生荧光,再被聚焦镜收集,通过双色镜透射至滤光片上最后被光电探测器接收到。但上述方法激光光程较短,同时荧光从金刚石其他端面跑掉,从而导致荧光收集率低,磁力测量的灵敏度低。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提供了一种基于金刚石NV色心的磁力测量系统,以解决现有技术中磁力测量系统荧光收集率低,磁力测量灵敏度低的问题。
本发明实施例的第一方面提供了一种基于金刚石NV色心的磁力测量系统,包括:激光器、金刚石NV色心、光纤、光纤准直器、滤光片、光电探测器、微波天线及微波源;
金刚石NV色心的第一端面上预留有入射位,金刚石NV色心的第二端面上预留有出射位;光纤的一端与金刚石NV色心的出射位连接,光纤的另一端与光纤准直器连接;其中,金刚石NV色心表面除入射位和出射位外均镀有反射膜;
微波天线设置在金刚石NV色心的正上方,与微波源连接,用于扫频;
激光器发射的激光光束由入射位进入金刚石NV色心内部;金刚石NV色心在在微波天线的影响下激发产生荧光,荧光由出射位通过光纤形成出射光束;出射光束经光纤准直器形成平行光,并通过滤光片滤光后入射到光电探测器。
可选的,金刚石NV色心为方体;其中,方体的长与高的比值不小于预设值;
金刚石NV色心的第一端面由长边和高边形成,金刚石NV色心的第二端面由长边和宽边形成。
可选的,预设值为10。
可选的,于金刚石NV色心的长为1mm~5mm、宽为1mm~5mm、高为0.1mm~0.5mm。
可选的,入射位为圆形,直径为10μm~300μm。
可选的,光纤准直器与滤光片及光电探测器的光轴重合。
可选的,光纤除两个端面外,侧面均镀有反射膜。
可选的,上述系统还包括:第一聚焦透镜和/或第二聚焦透镜;
第一聚焦透镜设置在激光器和金刚石NV色心的入射位之间,激光器发射的激光光束经第一聚焦透镜聚焦后由入射位进入金刚石NV色心内部;
第二聚焦透镜设置在滤光片和光电探测器之间,经滤光片滤光后的光束经第二聚焦透镜聚焦后入射到光电探测器。
可选的,反射膜的形成材料为Ag、Al、Au、Pt、氟化钙及BaF中的任意一种;
反射膜的厚度为200nm。
可选的,上述系统还包括:遮光套筒;
光纤准直器、滤光片及光电探测器均设置在遮光套筒内。
本发明实施例提供了一种基于金刚石NV色心的磁力测量系统,包括:激光器、金刚石NV色心、光纤、光纤准直器、滤光片、光电探测器、微波天线及微波源;金刚石NV色心的第一端面上预留有入射位,金刚石NV色心的第二端面上预留有出射位;光纤的一端与金刚石NV色心的出射位连接,光纤的另一端与光纤准直器连接;金刚石NV色心表面镀有反射膜;微波天线设置在金刚石NV色心的正上方,与微波源连接,用于扫频;激光器发射的激光光束由入射位进入金刚石NV色心内部,金刚石NV色心在在微波天线的影响下激发产生荧光,荧光由出射位通过光纤形成出射光束;出射光束经光纤准直器形成平行光,通过滤光片滤光后入射到光电探测器。本发明实施例采用光纤集成金刚石NV色心光学腔体的结构有效提高了荧光的激发效率,同时金刚石NV色心表面镀反射膜,提高了荧光的收集率,从而提高了磁力测量系统的测量精度。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施例提供的一种基于金刚石NV色心的磁力测量系统的结构示意图;
图2是本发明实施例提供的金刚石NV色心光学腔示意图;
图3是本发明实施例提供的又一种基于金刚石NV色心的磁力测量系统的结构示意图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本发明实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其它实施例中也可以实现本发明。在其它情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本发明的描述。
为了说明本发明的技术方案,下面通过具体实施例来进行说明。
现有技术使用聚焦透镜将激光聚焦至金刚石NV色心内部,金刚石NV色心产生荧光,再被聚焦透镜收集,通过双色镜透射至滤光片上最后达到光电探测器探测。这种方法会导致激光在金刚石NV色心内部的光程较短激发的金刚石NV色心较少,同时荧光都从金刚石NV色心其他面跑掉导致荧光收集效率低,通常<1%。根据金刚石磁探测声子散射噪声极限灵敏度公式:荧光强度I0越大,则金刚石NV色心磁探测噪声越低,灵敏度越高。
基于以上问题,参考图1,本发明实施例提供了一种基于金刚石NV色心的磁力测量系统,包括:激光器11、金刚石NV色心12、光纤13、光纤准直器14、滤光片15、光电探测器16、微波天线17及微波源18;
金刚石NV色心12的第一端面上预留有入射位,金刚石NV色心12的第二端面上预留有出射位;光纤13的一端与金刚石NV色心12的出射位连接,光纤13的另一端与光纤准直器14连接;其中,金刚石NV色心12表面除入射位和出射位外均镀有反射膜;
微波天线17设置在金刚石NV色心12的正上方,与微波源18连接,用于扫频;
激光器11发射的激光光束由入射位进入金刚石NV色心12内部;金刚石NV色心12在微波天线17的影响下激发产生荧光,荧光由出射位通过光纤13形成出射光束;出射光束经光纤准直器14形成平行光,并通过滤光片15滤光后入射到光电探测器16。
金刚石NV色心在外界磁场的作用下会发生能级劈裂。金刚石NV色心外加微波扫频信号,在微波频率与NV色心电子共振的频率处荧光信号强度明显下降,而共振频率与外界磁场强度有关,由此可通过测量荧光信号强度实现对磁场强度的测量。
本发明实施例中金刚石NV色心12与光纤13集成,形成高激光激发的光学腔体,参考图2,提高了荧光的激光率。本发明实施例激光信号直接由入射位入射,最大程度的保留了激光信号到达金刚石NV色心12表面的原始功率值,降低了激光因提升功率所带来的噪声和能量损失,提高了测量的灵敏度及准确度。同时直接入射还省去了双色镜片,降低了激光强度衰减,简化了系统光路。金刚石NV色心12表面镀反射膜,提高了荧光的收集率,有效提高了磁力测量系统的灵敏度。光纤准直器14将激发的荧光形成平行光,便于被光电探测器16接收到。本发明实施例还设置有滤光片15,保留荧光,滤除其他波段的光,提高了荧光信号强度的测量准确度,进一步提高了磁力测量系统的灵敏度及准确度。
由以上,本系统灵敏度及准确度高,光路简单,器件少,成本低,实用性好。
一些实施例中,可采用紫外线固化胶将金刚石NV色心12与光纤13连接。
一些实施例中,金刚石NV色心12可以为方体;其中,方体的长与高的比值不小于预设值;
金刚石NV色心12的第一端面由长边和高边形成,金刚石NV色心12的第二端面由长边和宽边形成。
一些实施例中,预设值可以为10。
一些实施例中,金刚石NV色心12可以为长方体。
本发明实施例中金刚石NV色心12为方体,金刚石NV色心12的长高比较大,也即为片状,激光信号由片状结构的侧面入射进入金刚石NV色心12内部,经上下面全反射后进入光纤13,由于长高比较大,有效提高了激光的光程,从而提高了荧光的激发率。
一些实施例中,反射膜可以为全反射膜。
一些实施例中,于金刚石NV色心12的长可以为1mm~5mm、宽可以为1mm~5mm、高可以为0.1mm~0.5mm。
一些实施例中,金刚石NV色心12的表面粗糙度可以为0.2nm~1nm。
一些实施例中,金刚石NV色心12掺氮浓度可以为0.1ppm~200ppm。
一些实施例中,入射位可以为圆形,直径可以为10μm~300μm。
一些实施例中,出射位的孔径可以为50μm~1500μm。
其中,光纤13的内径与出射位的孔径相适应,也即光纤13的内径可以为50μm~1500μm。
一些实施例中,金刚石NV色心12的长可以为3mm、宽可以为3mm、高可以为0.3mm。
一些实施例中,光纤13内径可以为1500μm,入射孔孔径可以为100μm。
一些实施例中,金刚石NV色心12的长可以为2mm、宽可以为2mm、高可以为0.2mm。
一些实施例中,光纤13内径可以为105μm,入射孔孔径可以为50μm。
一些实施例中,光纤准直器14与滤光片15及光电探测器16的光轴可以重合。
各个部件光轴重合,确保荧光最大程度的被光电探测器16接收到,提高测量准确度。
一些实施例中,光纤13除两个端面外,侧面均可以镀有反射膜。
本发明实施例中还可在光纤13外设置反射膜,防止荧光溢出。
本发明实施例中可将金刚石NV色心12与光纤13连接后在二者表面统一喷涂反射膜。
一些实施例中,参考图3,上述系统还可以包括:第一聚焦透镜19和/或第二聚焦透镜20;
第一聚焦透镜19设置在激光器11和金刚石NV色心12的入射位之间,激光器11发射的激光光束经第一聚焦透镜19聚焦后由入射位进入金刚石NV色心12内部;
第二聚焦透镜20设置在滤光片15和光电探测器16之间,经滤光片15滤光后的光束经第二聚焦透镜20聚焦后入射到光电探测器16。
本发明实施例中可设置第一聚焦透镜19,激光器11发出的激光信号经第一聚焦透镜19聚焦后入射至入射位,减小了激光光斑的面积,从而使得入射位可以做的更小,减小了荧光从入射位溢出的概率。同时,采用第一聚焦透镜19提高了单位面积内激光的功率,提升激光泵浦的速率,进而提高了荧光激发的效率。
本发明实施例中还可设置第二聚焦透镜20,用于聚焦荧光,使荧光最大程度的被收集。
其中,第一聚焦透镜19和第二聚焦透镜20可以均设置,或可仅设置一个。
一些实施例中,反射膜的形成材料可以为Ag、Al、Au、Pt、氟化钙及BaF中的任意一种;
反射膜的厚度可以为200nm。
一些实施例中,参考图3,上述系统还可以包括:遮光套筒21。
光纤准直器14、滤光片15及光电探测器16均设置在遮光套筒21内。
遮光套筒21用于防止荧光溢出,及防止其他波段的光线进入,提高荧光信号强度测量的准确度。
一些实施例中,遮光套筒21设置有内螺纹,光纤准直器14、滤光片15及光电探测器16均设置有外螺纹,光纤准直器14、滤光片15及光电探测器16通过螺纹与遮光套筒21固定连接。
一些实施例中,微波源18可以包括:脉冲发生器、微波开关及微波源模块。
一些实施例中,金刚石NV色心12的制备方法可以包括:
1、选取片状含氮金刚石,并抛光六个面;
2、使用高能电子以预设强度辐照金刚石第一预设时间;
3、将辐照后的金刚石在10-5mbar,预设温度下退火第二预设时间;
4、金刚石在浓硫酸:浓硝酸比例1:1溶液中煮沸第三预设时间。
一些实施例中,金刚石的表面粗糙度可以为0.2nm~1nm;高能电子的预设强度可以为2~10MeV:第一预设时间可以为1h~20h;第二预设时间可以为1h~5h;预设温度可以为850℃~1000℃;第三预设时间可以为30~180min。具体可根据实际应用需求设置。
下面结合具体实施例详细说明上述系统的制备方法。
一、1、选取片状含氮金刚石,3mm*3mm*0.3mm,并抛光六个面,每个面表面粗糙度控制在1nm;
2、使用高能电子10MeV辐照金刚石10h;
3、将辐照后的金刚石在10-5mbar,850℃下退火5h;
4、金刚石在浓硫酸:浓硝酸比例1:1溶液中煮沸30min;
5、使用紫外固化胶将光纤13,光纤13内径1500μm和金刚石NV色心12固定;
6、在片状金刚石样品侧面预留入射位,孔径100μm,除入射位外,将光纤及金刚石其余各面均镀上高反射率镀层,镀层为金属Au 200nm;
7、使用第一聚焦透镜19聚焦后的激光信号直接入射片状金刚石NV色心12的入射位,光纤13的另一端使用光纤准直器14、滤光片15、第二聚焦透镜20、光电探测器16。
二、1、选取片状含氮金刚石,2mm*2mm*0.1mm,并抛光六个面,每个面表面粗糙度控制在1nm;
2、使用高能电子10MeV辐照金刚石5h;
3、将辐照后的金刚石在10-5mbar,850℃下退火2h;
4、金刚石在浓硫酸:浓硝酸比例1:1溶液中煮沸30min;
5、使用紫外固化胶将光纤13和金刚石NV色心12固定(内径105μm);
6、在片状金刚石样品侧面预留入射位,孔径50μm,除预留入射位外,将光纤13和金刚石其余各面均镀上高反射率镀层,镀层为金属Ag 200nm;
7、使用第一聚焦透镜19聚焦后的激光光束直接入射片状金刚石NV色心12的入射位,光纤13的另一端使用光纤准直器14、滤光片15、第二聚焦透镜20、光电探测器16。
对于上述实施例,假定金刚石NV色心12的尺寸为2mm*2mm*0.1mm,入射位孔径为0.1mm,则入射位面积为0.00785mm2,整个金刚石NV色心12的面积为2mm*2mm*2+2mm*0.1mm*4=8.8mm2,从入射位跑出的荧光比例为0.00785/8.8=0.089%,荧光收集效率为1-0.089%=99.911%。由此可知,荧光收集效率接近100%,荧光收集率得到了有效的提高。
以上实施例仅用以说明本申请的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本申请进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例技术方案的精神和范围,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,包括:激光器、金刚石NV色心、光纤、光纤准直器、滤光片、光电探测器、微波天线及微波源;
所述金刚石NV色心的第一端面上预留有入射位,所述金刚石NV色心的第二端面上预留有出射位;所述光纤的一端与所述金刚石NV色心的出射位连接,所述光纤的另一端与所述光纤准直器连接;其中,所述金刚石NV色心表面除所述入射位和所述出射位外均镀有反射膜;
所述微波天线设置在所述金刚石NV色心的正上方,与所述微波源连接,用于扫频;
所述激光器发射的激光光束由所述入射位进入所述金刚石NV色心内部;所述金刚石NV色心在所述微波天线的影响下激发产生荧光,所述荧光由所述出射位通过所述光纤形成出射光束;所述出射光束经所述光纤准直器形成平行光,并通过所述滤光片滤光后入射到所述光电探测器。
2.如权利要求1所述的基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,所述金刚石NV色心为方体;其中,所述方体的长与高的比值不小于预设值;
所述金刚石NV色心的第一端面由长边和高边形成,所述金刚石NV色心的第二端面由长边和宽边形成。
3.如权利要求2所述的基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,所述预设值为10。
4.如权利要求3所述的基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,所述于金刚石NV色心的长为1mm~5mm、宽为1mm~5mm、高为0.1mm~0.5mm。
5.如权利要求4所述的基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,所述入射位为圆形,直径为10μm~300μm。
6.如权利要求1至5任一项所述的基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,所述光纤准直器与所述滤光片及所述光电探测器的光轴重合。
7.如权利要求1至5任一项所述的基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,所述光纤除两个端面外,侧面均镀有反射膜。
8.如权利要求1至5任一项所述的基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,所述系统还包括:第一聚焦透镜和/或第二聚焦透镜;
所述第一聚焦透镜设置在所述激光器和所述金刚石NV色心的入射位之间,所述激光器发射的激光光束经所述第一聚焦透镜聚焦后由所述入射位进入所述金刚石NV色心内部;
所述第二聚焦透镜设置在所述滤光片和所述光电探测器之间,经所述滤光片滤光后的光束经所述第二聚焦透镜聚焦后入射到所述光电探测器。
9.如权利要求1至5任一项所述的基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,所述反射膜的形成材料为Ag、Al、Au、Pt、氟化钙及BaF中的任意一种;
所述反射膜的厚度为200nm。
10.如权利要求1至5任一项所述的基于金刚石NV色心的磁力测量系统,其特征在于,所述系统还包括:遮光套筒;
所述光纤准直器、所述滤光片及所述光电探测器均设置在所述遮光套筒内。
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