CN114088200B - 一种强激光远场功率衰减取样方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及激光测量技术，具体涉及一种强激光远场功率衰减取样方法，以解决现有激光衰减装置无法实现远场激光系统光轴对准的技术问题。该衰减取样装置包括机架、设置在机架上级联的第一级楔镜和第二级楔镜、第一楔镜调节单元、第二楔镜调节单元及机架调节单元；第一级楔镜将入射激光束反射后，反射激光束入射到到第二级楔镜，经第二级楔镜反射后，获得衰减后的取样激光束；入射激光束和反射激光束所在的平面与反射激光束和取样激光束所在的平面夹角为90°；第一级楔镜和第二级楔镜的楔角相等且均为3‑8°。同时本发明还提出一种强激光远场功率衰减取样方法，实现了高功率激光在远场靶点处的高精度衰减取样。

Description

一种强激光远场功率衰减取样方法

技术领域

本发明涉及光学测量领域的激光测量技术，具体涉及一种强激光远场功率衰减取样装置及方法。

背景技术

在强激光应用技术研究中，需要将强激光束发射至距离激光出口数百米或数公里后的远场靶点后进行光功率或光强参数测量，由于激光功率密度较高，一般需大倍率衰减后再进行测量。

利用石英玻璃镜片表面的菲涅尔反射实现光束的能量衰减是一种稳定可靠的光学衰减方法，其反射率仅取决于石英材料的折射率。由于菲涅尔反射率与激光的偏振态相关，故使用入射面不为同一平面的两级楔镜进行光衰减以保证衰减倍率的非偏振依赖性。

为了确保精确的衰减系数，要求激光按照设定的角度入射至第一级楔镜的表面，而在距离激光器系统出口几公里以外的远场靶点，光路调节异常困难，很难达到要求。首先，远场测量点与激光系统出口通常不在同一水平面，对于非水平光路，难以进行高精度测量和确定入射激光的方位角；第二，远场激光功率通常较高，不能直接利用待测激光进行光路准直调节；第三，多级楔镜之间的位置也需要进行精确调节。

在光学系统光轴对准领域，有多篇公开的论文和专利。潘高峰等报道了利用基准镜内缘的小孔，进行光路对准检测的方法(潘高峰,张景旭.强激光器光路对准检测系统研究.[J].仪器仪表学报,2006(z1):247-248)；叶建良等在中国专利CN2502287Y中提出了一种旋转式的利用CCD进行光路对准的装置；金小兵等在中国专利CN102313508B中提出了一种针对激光干涉仪的光路对准装置及方法。这些文章和专利，均是在激光器出口附近对光轴进行调节的方法和装置。但是对于在激光系统出口几公里外的远距离对激光衰减取样装置进行光轴对准的方法，还没相关报道。

发明内容

本发明的目的是解决现有激光衰减装置无法实现远场激光系统光轴对准的技术问题，提出一种强激光远场功率衰减取样装置及方法，采用二级级联的正交楔镜组，实现了高功率激光在远场靶点处的高精度衰减取样。

本发明的技术思路为：首先，利用可见光准直激光器产生用于调整光路的可见光，利用激光水平仪产生水平和垂直的激光参考面，基于准直激光和激光参考面调整两级楔镜组的相对角度，实现两级正交楔镜组的自对准；随后，利用准直激光瞄准远距离处的激光器系统发射窗口，再利用两个十字叉丝确定光路；再将准直激光穿过叉丝后入射至两级楔镜，整体调整两级楔镜，使准直激光通过两级楔镜表面参考点，完成光路准直调整；之后将远场激光器系统的强激光对准衰减取样装置，即可实现大倍数高精度衰减取样。

为了实现上述目的，完成上述技术思路，本发明所采用的技术方案是：

一种强激光远场功率衰减取样装置，其特殊之处在于：包括机架3、设置在机架3上的第一级楔镜1、第二级楔镜2、与第一级楔镜1连接的第一楔镜调节单元41、与第二级楔镜2连接的第二楔镜调节单元42以及用于调节机架3位置和角度的机架调节单元5；

所述第一级楔镜1将远端激光器系统14的入射激光束反射后形成反射激光束，所述第二级楔镜2将反射激光束反射后获得衰减后的取样激光束；所述入射激光束和反射激光束所在的平面与反射激光束和取样激光束所在的平面夹角为90°；

所述第一级楔镜1的楔角和第二级楔镜2的楔角相等，且所述楔角范围为3-8°；

可以理解的是，本发明是采用两级楔镜的表面菲涅尔反射实现激光衰减，两级楔镜的入射面互相垂直，即入射激光束和反射激光束所在的平面与反射激光束和取样激光束所在的平面夹角为90°，可使激光衰减精度高、衰减倍率稳定。

进一步地，所述第一级楔镜1前表面与入射激光束夹角为45°，第二级楔镜2前表面与反射激光束的夹角为45°，使得取样激光束与入射激光束呈垂直夹角，利于测量设备的摆放且不会发生位置干涉。

进一步地，所述第一级楔镜1和第二级楔镜2由无水熔融石英制成；所述第一级楔镜1和第二级楔镜2的背光面镀制有激光增透膜，以减少杂散光对测量系统的干扰。

同时，本发明还提出一种强激光远场功率衰减取样方法，基于上述衰减取样装置，其特殊之处在于，包括以下步骤：

步骤1、标记第一级楔镜1前表面的中心为参考点A，基于准直激光及水平参考面和垂直参考面分别调整第一级楔镜1和第二级楔镜2的位置和角度，使得第二级楔镜2前表面的中心作为参考点B，实现第一级楔镜1和第二级楔镜2的自对准，进而实现强激光远场功率衰减取样装置的自准直；

步骤2、将准直激光瞄准远端激光器系统14的发射窗口，利用放置在激光光路上的两个叉丝确定激光器系统14的光轴；

步骤3、将准直激光反向穿过两个叉丝后入射至第一级楔镜1和第二级楔镜2，整体调整第一级楔镜1和第二级楔镜2的位置和角度，直至准直激光11依次通过第一级楔镜1前表面的参考点A和第二级楔镜2前表面的参考点B，实现强激光远场功率衰减取样装置入射激光束的光轴准直；

步骤4、远端激光器系统14的入射激光束经强激光远场功率衰减取样装置中第一级楔镜1和第二级楔镜2的衰减，获得取样激光束。

进一步地，步骤1具体为：

1.1)将第一级楔镜1前表面的中心标记为参考点A，利用第一激光水平仪8产生第一水平面参考面D，准直激光器10发射准直激光11，调整准直激光器10的位置和角度，使得准直激光11落于第一水平参考面D上，同时使准直激光11经过参考点A；

1.2)利用第一激光水平仪8产生第一垂直参考面E，使得准直激光11落于第一垂直参考面E上；利用第二激光水平仪9产生不重合于第一垂直参考面E的第二垂直参考面F，使得参考点A落于第二垂直参考面F上，此时第一垂直参考面E和第二垂直参考面F的交线垂直于水平面且经过参考点A，定义该交线与第二级楔镜2前表面的交点为参考点B；

1.3)通过第一楔镜调节单元41调整第一级楔镜1的角度，使得反射光束12与参考点A、参考点B的连线AB重合，同时通过第二楔镜调节单元42调整第二级楔镜2的位置和角度，使得第二级楔镜2前表面的中心与参考点B重合，并在第二级楔镜2前表面的中心标记参考点B；

1.4)将第一激光水平仪8放置在参考点A和参考点B中间，使得第一激光水平仪8的中心落于连线AB上，利用第一激光水平仪8产生互相垂直的第三垂直参考面面G和第四垂直参考面H，并使得准直激光11与反射光束12均落于第三垂直参考面G上；

1.5)利用第二激光水平仪9产生经过参考点B的第二水平参考面I，通过第二楔镜调节单元42调整第二级楔镜2的角度，使得第二级楔镜2的出射光束13同时落于第四垂直参考面H和第二水平参考面I上，固定第一级楔镜1和第二级楔镜2的位置和角度，完成第一级楔镜1和第二级楔镜2自对准，进而实现了强激光远场功率衰减取样装置的自准直。

进一步地，步骤1.1)中，通过在第一级楔镜1前表面的中心挂叉丝的方法标记参考点A；

步骤1.3)中，通过在第二级楔镜2前表面的中心挂叉丝的方法标记参考点B。

进一步地，步骤2具体为：

2.1)利用准直激光器10瞄准远距离处激光器系统14的发射窗口15发射准直激光，在发射窗口15上形成可见光斑，调整准直激光器10，使得可见光斑与发射窗口15的中心位置重合；

2.2)沿准直激光光路依次设置第二叉丝17和第一叉丝16，调整第二叉丝17和第一叉丝16的位置，使得准直激光依次穿过第二叉丝17的中心和第一叉丝16的中心，固定第二叉丝17和第一叉丝16的位置，则由第一叉丝16的中心和第二叉丝17的中心所确定的直线，与远端激光器系统14的光轴重合，即为远端激光器系统14发出的入射激光束的光轴。

进一步地，步骤3具体为：

3.1)将准直激光器10放置在第一叉丝16的一侧，瞄准强激光远场功率衰减取样装置发射准直激光，调整准直激光器10使得准直激光11依次经过第一叉丝16的中心和第二叉丝17的中心，并入射至强激光远场功率衰减取样装置的第一级楔镜1的前表面；

3.2)通过机架调节单元5调整强激光远场功率衰减取样装置的位置和角度，使得准直激光11经过参考点A，同时反射光束12经过参考点B，实现强激光远场功率衰减取样装置入射激光束的光轴准直。

进一步地，步骤1.1)中，调整准直激光器10的位置和角度，使得准直激光11落于第一水平参考面D上，同时使准直激光11经过第一级楔镜1前表面中心的参考点A，且准直激光11与第一级楔镜1前表面的夹角为45°；

步骤1.3)中，通过第二楔镜调节单元42调整第二级楔镜2的位置和角度，使得第二级楔镜2前表面的中心与参考点B重合，且反射光束12与第二级楔镜2前表面的夹角为45°。

进一步地，步骤3.2)之前还包括撤掉第一叉丝16和第二叉丝17的步骤，避免因其挡光而影响调整精度。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

1)本发明强激光远场功率衰减取样装置采用两只级联的正交楔镜组，实现了高功率大光斑激光束的大倍数高精度衰减取样；利用两级楔镜的表面菲涅尔反射实现激光衰减，两级楔镜的入射面互相垂直(即入射激光束和反射激光束所在的平面与反射激光束和取样激光束所在的平面夹角为90°)，激光衰减精度高、衰减倍率稳定，衰减倍率不依赖于激光偏振态。

2)本发明强激光远场功率衰减取样装置的楔镜采用45度入射激光束，使得取样激光束与入射激光束呈垂直夹角，利于测量设备的摆放且不发生位置干涉；此外，第一级楔镜的透射光可继续用于测量或效应试验。

3)本发明强激光远场功率衰减取样方法，利用激光水平仪、准直激光器和叉丝组成的系统，实现了正交楔镜组的光路准直，简化了光学系统的准直调试流程，准直精度优于0.1°，确保了楔镜组取样衰减系数的精度。

附图说明

图1为本发明强激光远场功率衰减取样装置的结构原理示意图；

图2为本发明强激光远场功率衰减取样装置中激光水平仪的工作原理示意图；

图3为本发明强激光远场功率衰减取样装置的自准直的原理示意图；

图4为本发明强激光远场功率衰减取样装置的确定激光远场光轴的原理示意图；

图5为本发明强激光远场功率衰减取样装置的入射激光束光轴准直的原理示意图；

图6为本发明强激光远场功率衰减取样装置的光路对准后在激光器系统测量试验时的工作原理图。

附图标记说明：

1-第一级楔镜，2-第二级楔镜，3-机架，41-第一楔镜调节单元，42-第二楔镜调节单元，5-机架调节单元，6-水平窄带光束，7-垂直窄带光束，8-第一激光水平仪，9-第二激光水平仪，10-准直激光器，11-准直激光，12—反射光束，13-出射光束，14-激光器系统，15-发射窗口，16-第一叉丝，17-第二叉丝。

具体实施方式

为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明。

如图1所示，一种强激光远场功率衰减取样装置，包括机架3和机架3内部级联设置的第一级楔镜1和第二级楔镜2、第一楔镜调节单元41、第二楔镜调节单元42。

远端的激光器系统14发出的入射激光束入射至第一级楔镜1的前表面后，反射激光束经过第二级楔镜2的前表面反射，获得取样激光束，实现激光功率密度的大倍数衰减，取样激光束入射至测试系统中进行后续测试。

所述的第一级楔镜1的前表面与入射激光束夹角为45°，第二级楔镜2的前表面与反射激光束的夹角为45°，且第一级楔镜1的入射面和第二级楔镜2的入射面互相垂直，即入射激光束和反射激光束所在的平面与反射激光束和取样激光束所在的平面夹角为90°。

其中，第一级楔镜1和第二级楔镜2由无水熔融石英制成，楔角为3-8°，第一级楔镜1和第二级楔镜2的背光面镀制有入射激光的增透膜，以减少杂散光对测量系统的干扰。第一级楔镜1和第二级楔镜2上均设置有楔镜调节单元即第一楔镜调节单元41、第二楔镜调节单元42，可独立实现两级楔镜的位置和角度调整。同时，机架3上设置有机架调节单元5，可实现衰减取样装置的整体位置和角度调整。

激光器系统14的发射激光需严格按照预定角度入射衰减取样装置，才能确保该级联的楔镜组具有与理论相符的衰减系数，并克服激光偏振态的影响。

衰减取样装置的光路对准包括装置自准直和入射光光轴准直两个步骤，准直系统如图2-图5所示，采用仪器包括两台激光水平仪(第一激光水平仪8、第二激光水平仪9)、一台发射可见光的准直激光器10、两件十字叉丝(第一叉丝16、第二叉丝17)，以及放置十字叉丝的水平导轨。

激光水平仪可产生数毫米宽的窄带光束，如图2所示，第一激光水平仪8可产生形成水平面x-o-y的水平窄带光束6和形成两个互相垂直的垂直面x-o-z和y-o-z的垂直窄带光束7。

步骤一、衰减取样装置的自准直

如图3所示，首先需要确保两级楔镜(第一级楔镜1和第二级楔镜2)满足空间角度及正交排布的方式，然后实现两级楔镜相对位置的精确对准，从而实现两级楔镜的自准直。利用可见光准直激光器产生用于调整光路的准直激光，利用激光水平仪(第一激光水平仪8、第二激光水平仪9)产生水平和垂直的激光参考面，基于准直激光和激光参考面调整两级楔镜的位置和角度，实现两级楔镜的自对准。

衰减取样装置自准直的具体步骤如下：

(1.1)第一激光水平仪8产生水平面参考D；准直激光器10发射准直激光，调整准直激光器10的角度和高度，使产生的准直激光11落于该水平参考面D内，同时准直激光11经过第一级楔镜1中心参考点A，并标记参考点A。

(1.2)利用第一激光水平仪8产生一个垂直参考面E，使得准直激光落于该垂面上。利用第二激光水平仪9产生另一不重合于E的垂直参考面F，使得第一级楔镜1表面中心参考点A落于垂直参考面F上，则E、F的交线垂直于水平面同时经过参考A点；该交线与第二级楔镜2前表面的交点设为参考点B。

(1.3)调整第一级楔镜1的角度，使得反射光束12(准直激光11被第一级楔镜1反射的光束)与AB线重合，同时调整第二级楔镜2的位置，使得参考点B为第二级楔镜2表面的中心，并标记该参考点B。

(1.4)在参考点A和参考点B中间放置第一激光水平仪8，使得激光水平仪中心落于AB线上，利用第一激光水平仪8产生互相垂直的垂直参考面G和垂直参考面H，使得G与准直激光在第一级楔镜1的入射面(指入射的准直激光11与反射光束12所在的平面)重合。

(1.5)设置第二激光水平仪9产生水平参考面I，使其经过参考点B；调整第二级楔镜2的角度，使得准直激光在第二级楔镜2的出射光束13同时落于H和I面，衰减取样装置自准直完成。

此时，第一级楔镜1和第二级楔镜2的入射角均为45°，同时第一级楔镜1和第二级楔镜2的入射面垂直，即准直激光11和反射光束12所在的平面与反射光束12和出射光束13所在的平面夹角为90°。固定两级楔镜的相对位置，在后续调整中，对两级楔镜整体调整，但是两级楔镜的位置和角度保持不变。

调整好两级楔镜的位置和角度后，入射激光束只要同时经过参考点A和参考点B，则说明激光沿衰减取样装置预定的光轴方向入射。否则，需继续调整衰减取样装置的空间位置，直至入射激光束同时经过参考点A和参考点B。通过在楔镜镜片表面挂叉丝等方法标记A点和B点。

步骤二、远场发射激光光轴的确定

确定远场激光系统(激光器系统14)的光轴，利用准直激光瞄准远距离处的激光器系统14出口(发射窗口15)，再利用两个十字叉丝(第一叉丝16、第二叉丝17)确定光路。

如图4所示，准直激光器10向激光器系统14的发射窗口15发射可见准直激光。准直激光器10的发散角较小，发射至激光器窗口15处形成约百毫米直径的可见光斑，调整准直激光器10，使得可见光斑与发射窗口15的中心位置重合，此时准直激光器10与激光器系统14的光轴实现重合。

沿准直激光光路方向设置水平导轨，导轨上依次放置第二叉丝17和第一叉丝16。两个十字叉丝的间距为数百毫米至数米，调整两个十字叉丝的位置，使得准直激光同时穿过第二叉丝17和第一叉丝16的中心，则两个十字叉丝中心确定的直线作为后续步骤的远场光轴基准。

步骤三、衰减取样装置的光轴准直

基于光轴，整体调整两级楔镜位置，使其对准激光器系统14的光轴，可通过将准直激光反向穿过两个十字叉丝后入射至两级楔镜(第一级楔镜1和第二级楔镜2)，整体调整两级楔镜的位置和角度，使得准直激光依次通过两级楔镜表面的参考点A和参考点B，即可实现光路对准。

如图5所示，将准直激光器10移位，放置到第一叉丝16的一侧，对准衰减取样装置发射准直激光，使得准直激光依次经过第一叉丝16、第二叉丝17的中心并入射至第一级楔镜1的前表面，撤掉两个十字叉丝，避免其挡光。利用机架调节单元5调整整个衰减取样装置的位置和角度，使得准直激光11经过参考点A，且反射光束12同时经过参考点B。

此时，准直激光器10代替远距离处激光器系统14，发射的准直激光沿衰减取样装置的预定角度入射两级楔镜组，准直激光11经过参考点A，且反射光束12同时经过参考点B，则完成了衰减取样装置的自准直和入射激光束的光轴准直步骤。后续将远场激光(远距离处激光器系统14)对准该衰减取样装置，如图6所示，激光器系统14只要瞄准第一级楔镜1的中心(考点A)发射入射激光束，获得取样激光束即可进行激光参数测量。即使瞄准的位置有稍许偏差，由于距离较远，引入的角度误差也可以忽略。

本发明实施例给出了两级楔镜衰减取样装置结构，楔镜衰减取样装置可以进行多样的变形，比如：可以改变为四级楔镜衰减结构，入射角可以为22.5°或其他角度，同样适用于本发明的原理。

以上仅是对本发明的优选实施方式进行了描述，并非对本发明技术方案的限制，本领域技术人员在本发明主要技术构思的基础上所作的任何变形都属于本发明所要保护的技术范畴。

Claims (7)

1.一种强激光远场功率衰减取样方法，基于强激光远场功率衰减取样装置，所述强激光远场功率衰减取样装置包括机架(3)、设置在机架(3)上的第一级楔镜(1)、第二级楔镜(2)、与第一级楔镜(1)连接的第一楔镜调节单元(41)、与第二级楔镜(2)连接的第二楔镜调节单元(42)以及用于调节机架(3)位置和角度的机架调节单元(5)；所述第一级楔镜(1)将远端激光器系统(14)的入射激光束反射后形成反射激光束，所述第二级楔镜(2)将反射激光束反射后获得衰减后的取样激光束；所述入射激光束和反射激光束所在的平面与反射激光束和取样激光束所在的平面夹角为90°；所述第一级楔镜(1)的楔角和第二级楔镜(2)的楔角相等，且所述楔角范围为3-8°；

其特征在于，包括以下步骤：

步骤1、标记第一级楔镜(1)前表面的中心为参考点A，基于准直激光及水平参考面和垂直参考面分别调整第一级楔镜(1)和第二级楔镜(2)的位置和角度，使得第二级楔镜(2)前表面的中心作为参考点B，实现强激光远场功率衰减取样装置的自准直；

1.1)将第一级楔镜(1)前表面的中心标记为参考点A，利用第一激光水平仪(8)产生第一水平参考面D，准直激光器(10)发射准直激光(11)，调整准直激光器(10)的位置和角度，使得准直激光(11)落于第一水平参考面D上，同时使准直激光(11)经过参考点A；

1.2)利用第一激光水平仪(8)产生第一垂直参考面E，使得准直激光(11)落于第一垂直参考面E上；利用第二激光水平仪(9)产生不重合于第一垂直参考面E的第二垂直参考面F，使得参考点A落于第二垂直参考面F上，此时第一垂直参考面E和第二垂直参考面F的交线垂直于水平面且经过参考点A，定义该交线与第二级楔镜(2)前表面的交点为参考点B；

1.3)通过第一楔镜调节单元(41)调整第一级楔镜(1)的角度，使得反射光束(12)与参考点A、参考点B的连线AB重合，同时通过第二楔镜调节单元(42)调整第二级楔镜(2)的位置和角度，使得第二级楔镜(2)前表面的中心与参考点B重合，并在第二级楔镜(2)前表面的中心标记参考点B；

1.4)将第一激光水平仪(8)放置在参考点A和参考点B中间，使得第一激光水平仪(8)的中心落于连线AB上，利用第一激光水平仪(8)产生互相垂直的第三垂直参考面G和第四垂直参考面H，并使得准直激光(11)与反射光束(12)均落于第三垂直参考面G上；

1.5)利用第二激光水平仪(9)产生经过参考点B的第二水平参考面I，通过第二楔镜调节单元(42)调整第二级楔镜(2)的角度，使得第二级楔镜(2)的出射光束(13)同时落于第四垂直参考面H和第二水平参考面I上，固定第一级楔镜(1)和第二级楔镜(2)的位置和角度，实现强激光远场功率衰减取样装置的自准直；

步骤2、将准直激光瞄准远端激光器系统(14)的发射窗口，利用放置在激光光路上的两个叉丝确定激光器系统(14)的光轴；

步骤3、将准直激光反向穿过两个叉丝后入射至第一级楔镜(1)和第二级楔镜(2)，整体调整第一级楔镜(1)和第二级楔镜(2)的位置和角度，直至准直激光(11)依次通过第一级楔镜(1)前表面的参考点A和第二级楔镜(2)前表面的参考点B，实现强激光远场功率衰减取样装置入射激光束的光轴准直；

步骤4、远端激光器系统(14)的入射激光束经强激光远场功率衰减取样装置中第一级楔镜(1)和第二级楔镜(2)的衰减，获得取样激光束。

2.根据权利要求1所述的强激光远场功率衰减取样方法，其特征在于：步骤1.1)中，通过在第一级楔镜(1)前表面的中心挂叉丝的方法标记参考点A；

步骤1.3)中，通过在第二级楔镜(2)前表面的中心挂叉丝的方法标记参考点B。

3.根据权利要求2所述的强激光远场功率衰减取样方法，其特征在于，步骤2具体为：

2.1)利用准直激光器(10)瞄准远距离处激光器系统(14)的发射窗口(15)发射准直激光，在发射窗口(15)上形成可见光斑，调整准直激光器(10)，使得可见光斑与发射窗口(15)的中心位置重合；

2.2)沿准直激光光路依次设置第二叉丝(17)和第一叉丝(16)，调整第二叉丝(17)和第一叉丝(16)的位置，使得准直激光依次穿过第二叉丝(17)的中心和第一叉丝(16)的中心，固定第二叉丝(17)和第一叉丝(16)的位置，则由第一叉丝(16)的中心和第二叉丝(17)的中心所确定的直线，即为远端激光器系统(14)的光轴。

4.根据权利要求3所述的强激光远场功率衰减取样方法，其特征在于，步骤3具体为：

3.1)将准直激光器(10)放置在第一叉丝(16)的一侧，瞄准强激光远场功率衰减取样装置发射准直激光，调整准直激光器(10)使得准直激光(11)依次经过第一叉丝(16)的中心和第二叉丝(17)的中心，并入射至强激光远场功率衰减取样装置的第一级楔镜(1)的前表面；

3.2)通过机架调节单元(5)调整强激光远场功率衰减取样装置的位置和角度，使得准直激光(11)经过参考点A，同时反射光束(12)经过参考点B，实现强激光远场功率衰减取样装置入射激光束的光轴准直。

5.根据权利要求1至4任一所述的强激光远场功率衰减取样方法，其特征在于：

步骤1.1)中，调整准直激光器(10)的位置和角度，使得准直激光(11)落于第一水平参考面D上，同时使准直激光(11)经过第一级楔镜(1)前表面中心的参考点A，且准直激光(11)与第一级楔镜(1)前表面的夹角为45°；

步骤1.3)中，通过第二楔镜调节单元(42)调整第二级楔镜(2)的位置和角度，使得第二级楔镜(2)前表面的中心与参考点B重合，且反射光束(12)与第二级楔镜(2)前表面的夹角为45°。

6.根据权利要求4所述的强激光远场功率衰减取样方法，其特征在于：步骤3.2)之前还包括撤掉第一叉丝(16)和第二叉丝(17)的步骤。

7.根据权利要求5所述的强激光远场功率衰减取样方法，其特征在于：所述第一级楔镜(1)和第二级楔镜(2)由无水熔融石英制成；所述第一级楔镜(1)和第二级楔镜(2)的背光面镀制有激光增透膜。