CN114076994A - 电子设备的故障检测方法、装置、电子装置和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种电子设备的故障检测方法、装置、电子装置和存储介质，其中，该电子设备的故障检测方法包括：对每一发射器进行自检，得到每一发射器的第一自检结果；对每一感应器进行自检，得到每一感应器的第二自检结果；检测多个发射器与多个感应器的对应关系，并根据对应关系，确定发射器与感应器的配套检测结果；根据第一自检结果、第二自检结果和配套检测结果，确定电子设备的故障位置。通过本申请，解决了相关技术中无法自动检测电子设备故障位置的问题。

Description

电子设备的故障检测方法、装置、电子装置和存储介质

技术领域

本申请涉及传感器领域，特别是涉及一种电子设备的故障检测方法、装置、电子装置和存储介质。

背景技术

随着缝纫机智能化程度的提高，缝纫机中传感器的数量也越来越多。很多传感器采用的是对射方式，即发射器和感应器在机械结构上并不是一体的，而是分设在缝纫机的不同位置，例如发射器设置在机头上部，感应器设置在缝纫或者针板上。一般情况下，发射器和感应器需要对应配套使用，例如前发射器要与前感应器配套使用。然而，在缝纫机装配、维修和清理的过程中，很容易出现发射器与感应器对应关系混乱的情况，从而导致缝纫机无法正常使用，会给缝纫机的使用人员带来很大的困扰。在相关技术中，通过专门的维修人员人工对缝纫机的故障原因进行排查，然而，这种方法需要维修人员掌握非常专业的知识才能排查出发生故障的感应器，同时排查时间较长，这对于缝纫机的使用人员来说是非常不方便的，另外还需要支付一笔额外的维修费。

目前针对相关技术中，无法自动检测电子设备故障位置的问题，尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请实施例提供了一种电子设备的故障检测方法、装置、电子装置和存储介质，以至少解决相关技术中无法自动检测电子设备故障位置的问题。

第一方面，本申请实施例提供了一种电子设备的故障检测方法，应用于电子设备，所述电子设备包括多个配套使用的发射器和感应器，所述方法包括：

对每一所述发射器进行自检，得到每一所述发射器的第一自检结果；

对每一所述感应器进行自检，得到每一所述感应器的第二自检结果；

检测多个所述发射器与多个所述感应器的对应关系，并根据所述对应关系，确定所述发射器与所述感应器的配套检测结果；

根据所述第一自检结果、所述第二自检结果和所述配套检测结果，确定所述电子设备的故障位置。

在其中一些实施例中，所述发射器的驱动电路包括载波电路和电流调节电路；所述对每一所述发射器进行自检，得到每一所述发射器的第一自检结果包括：

针对每一所述发射器，关闭所述发射器对应载波电路的信号源，并获取所述发射器对应电流调节电路的输出电压；

根据所述输出电压，得到所述发射器的第一自检结果。

在其中一些实施例中，所述对每一所述感应器进行自检，得到每一所述感应器的第二自检结果包括：

若所有所述发射器均正常，则获取每一所述感应器的感应电压；

将每一所述感应器的感应电压与第一预设电压阈值进行比较，得到第二比较结果；

根据所述第二比较结果，确定每一所述感应器的第二自检结果。

在其中一些实施例中，所述检测多个所述发射器与多个所述感应器的对应关系，并根据所述对应关系，确定所述发射器与所述感应器的配套检测结果包括：

从多个所述发射器中选取一个发射器作为当前被检测发射器；

设置所述当前被检测发射器处于第一状态，并设置其他发射器处于第二状态；

获取每一所述感应器的感应电压；

根据每一所述感应器的感应电压、所述第一状态和所述第二状态，得到所述当前被检测发射器的对应关系检测结果，并确定下一被检测发射器，依次类推，直至遍历所有所述发射器；

根据所有所述对应关系检测结果和预设对应关系，得到所述发射器与所述感应器的配套检测结果。

在其中一些实施例中，所述设置所述当前被检测发射器处于第一状态，并设置其他发射器处于第二状态包括：

设置所述当前被检测发射器处于开启状态，并设置其他发射器处于关闭状态；或者，

设置所述当前被检测发射器处于关闭状态，并设置其他发射器处于开启状态。

在其中一些实施例中，所述根据每一所述感应器的感应电压、所述第一状态和所述第二状态，得到所述当前被检测发射器的对应关系检测结果包括：

将每一所述感应器的感应电压与第二预设电压阈值进行比较，得到第三比较结果；

根据所述第三比较结果、所述第一状态和所述第二状态，确定与所述当前被检测发射器存在对应关系的感应器。

在其中一些实施例中，所述根据每一所述感应器的感应电压、所述第一状态和所述第二状态，得到所述当前被检测发射器的对应关系检测结果包括：

计算每一所述感应器的感应电压与第二预设电压阈值的差值；

根据所述差值、预设差值阈值、所述第一状态和所述第二状态，确定与所述当前被检测发射器存在对应关系的感应器。

第二方面，本申请实施例提供了一种电子设备的故障检测装置，包括：

第一自检模块，用于对每一发射器进行自检，得到每一所述发射器的第一自检结果；

第二自检模块，用于对每一感应器进行自检，得到每一所述感应器的第二自检结果；

配套检测模块，用于检测多个所述发射器与多个所述感应器的对应关系，并根据所述对应关系，确定所述发射器与所述感应器的配套检测结果；

故障确定模块，用于根据所述第一自检结果、所述第二自检结果和所述配套检测结果，确定所述电子设备的故障位置。

第三方面，本申请实施例提供了一种电子装置，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面所述的电子设备的故障检测方法。

第四方面，本申请实施例提供了一种存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如上述第一方面所述的电子设备的故障检测方法。

相比于相关技术，本申请实施例提供的电子设备的故障检测方法、装置、电子装置和存储介质，通过对每一发射器进行自检，得到每一发射器的第一自检结果；对每一感应器进行自检，得到每一感应器的第二自检结果；检测多个发射器与多个感应器的对应关系，并根据对应关系，确定发射器与感应器的配套检测结果；根据第一自检结果、第二自检结果和配套检测结果，确定电子设备的故障位置，解决了相关技术中无法自动检测电子设备故障位置的问题。

本申请的一个或多个实施例的细节在以下附图和描述中提出，以使本申请的其他特征、目的和优点更加简明易懂。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：

图1为本申请实施例的电子设备的故障检测方法的流程图；

图2为本申请实施例中对每一发射器进行自检的流程图；

图3为本申请实施例中发射器的驱动电路的示意图；

图4为本申请实施例中对每一感应器进行自检的流程图；

图5为本申请实施例中确定发射器与感应器的配套检测结果的流程图；

图6为本申请实施例中根据感应电压、第一状态和第二状态，得到当前被检测发射器的对应关系检测结果的流程图一；

图7为本申请实施例中根据感应电压、第一状态和第二状态，得到当前被检测发射器的对应关系检测结果的流程图二；

图8为本申请具体实施例的电子设备的故障检测方法的流程图；

图9为本申请实施例的电子设备的故障检测方法的终端的硬件结构框图；

图10为本申请实施例的电子设备的故障检测装置的结构框图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行描述和说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。基于本申请提供的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。此外，还可以理解的是，虽然这种开发过程中所作出的努力可能是复杂并且冗长的，然而对于与本申请公开的内容相关的本领域的普通技术人员而言，在本申请揭露的技术内容的基础上进行的一些设计，制造或者生产等变更只是常规的技术手段，不应当理解为本申请公开的内容不充分。

在本申请中提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本申请的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域普通技术人员显式地和隐式地理解的是，本申请所描述的实施例在不冲突的情况下，可以与其它实施例相结合。

除非另作定义，本申请所涉及的技术术语或者科学术语应当为本申请所属技术领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本申请所涉及的“一”、“一个”、“一种”、“该”等类似词语并不表示数量限制，可表示单数或复数。本申请所涉及的术语“包括”、“包含”、“具有”以及它们任何变形，意图在于覆盖不排他的包含；例如包含了一系列步骤或模块(单元)的过程、方法、系统、产品或设备没有限定于已列出的步骤或单元，而是可以还包括没有列出的步骤或单元，或可以还包括对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。本申请所涉及的“连接”、“相连”、“耦接”等类似的词语并非限定于物理的或者机械的连接，而是可以包括电气的连接，不管是直接的还是间接的。本申请所涉及的“多个”是指大于或者等于两个。“和/或”描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，“A和/或B”可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。本申请所涉及的术语“第一”、“第二”、“第三”等仅仅是区别类似的对象，不代表针对象的特定排序。

本申请所描述的各种技术，可以但不仅限于应用于各种电子设备的检测系统。

本申请提供一种电子设备的故障检测方法，该电子设备包括多个配套使用的发射器和感应器，以缝纫机为例对本实施例进行说明，图1为本申请实施例的电子设备的故障检测方法的流程图，如图1所示，该流程包括如下步骤：

步骤S110，对每一发射器进行自检，得到每一发射器的第一自检结果。

步骤S120，对每一感应器进行自检，得到每一感应器的第二自检结果。

当所有发射器均处于正常状态时，通过对每一感应器进行自检，以确定多个感应器中是否有存在故障的感应器；

若多个感应器均处于正常状态，则可以进一步对多个发射器与多个感应器的对应关系进行检测；若检测到某一感应器处于故障状态，则对该感应器进行拆除并在原故障传感器的位置安装一个新的感应器，再对多个发射器与多个感应器的对应关系进行检测。

步骤S130，检测多个发射器与多个感应器的对应关系，并根据对应关系，确定发射器与感应器的配套检测结果。

步骤S140，根据第一自检结果、第二自检结果和配套检测结果，确定电子设备的故障位置。

需要说明的是，在进行检测之前，需保证发射器和感应器之间没有物体遮挡。

通过上述步骤S110至步骤S140，对每一发射器进行自检，得到每一发射器的第一自检结果；对每一感应器进行自检，得到每一感应器的第二自检结果；检测多个发射器与多个感应器的对应关系，并根据对应关系，确定发射器与感应器的配套检测结果；根据第一自检结果、第二自检结果和配套检测结果，确定电子设备的故障位置。本申请通过结合发射器自检、感应器自检以及发射器与感应器的配套检测，能够快速准确地排查出电子设备的故障位置，整个检测过程自动进行，无需人工介入，使用人员不需要掌握非常专业的知识就排查出电子设备的故障位置，解决了相关技术中无法自动检测电子设备故障位置的问题。

在其中一些实施例中，发射器的驱动电路包括载波电路和电流调节电路；图2为本申请实施例中对每一发射器进行自检的流程图，如图2所示，该流程包括如下步骤：

步骤S210，针对每一发射器，关闭发射器对应载波电路的信号源，并获取发射器对应电流调节电路的输出电压。

图3为本申请实施例中发射器的驱动电路的示意图，以图3为例对本实施例进行说明，如图3所示，信号源CARRIER_WAVE、电阻R1、电阻R2、电阻R3、三极管Q1和三极管Q2构成了发射器IR LED的载波电路，用于产生发射器IR LED的载波信号，从而驱动发射器IR LED发射红外光。

DUTY_CYCLE、电阻R4、电阻R5、电阻R6、采样电阻R7、电容C1、三极管Q3和比较器U1A构成了发射器IR LED的电流调节电路。DUTY_CYCLE为PWM波，可以通过调整PWM波的占空比用来调节发射器IR LED的工作电流。

其中，电流调节电路的输出电压为比较器U1A的输出端1脚的输出电压。CARRIER_WAVE可以是频率为5KHz的信号，DUTY_CYCLE可以是频率20KHz的PWM波，这两个信号的频率也可以是其它值。

在进行发射器IR LED自检时，信号源CARRIER_WAVE＝0，三极管Q2关闭，三极管Q1关闭，获取比较器U1A的输出端1脚的电压，并将该电压作为电流调节电路的输出电压。

步骤S220，根据输出电压，得到发射器的第一自检结果。

通过上述步骤S210至步骤S220，针对每一发射器，关闭发射器对应载波电路的信号源，并获取发射器对应电流调节电路的输出电压；根据输出电压，得到发射器的第一自检结果。本实施例通过检测发射器对应电流调节电路的输出电压，并根据输出电压即可确定发射器是否存在故障，整个检测过程自动进行，无需人工介入，使用人员不需要掌握非常专业的知识就排查出发生故障的发射器，检测周期短，可以提高发射器的自检效率。检测步骤简单，便于操作，这对于电子设备的使用人员来说是非常方便的，无需请专业的维修人员进行排查，还可以为电子设备的使用人员节省一笔额外的维修费。

在其中一些实施例中，在比较器U1A的输出端1脚处引出一条测试线CURRENT_CHECK，并将该测试线CURRENT_CHECK与单片机连接，用于检测比较器U1A的输出电压。

具体地，若单片机检测到比较器U1A的输出电压为低电平，则确定发射器IR LED处于正常状态；若单片机检测到比较器U1A的输出电压一直处于高电平，则确定发射器IR LED处于故障状态。

需要说明的是，在进行发射器IR LED自检时，信号源CARRIER_WAVE＝0，三极管Q2关闭，三极管Q1关闭，DUTY_CYCLE输出占空比为B1的PWM波形，经过电阻R4、电容C1、电阻R5构成滤波电路，产生的电压A1输入至比较器U1A的同相端3脚，采样电阻R7上的电压A2输入至比较器U1A的反相端2脚。

若采样电阻R7上的电压A2超过电压A1，则比较器U1A的输出端1脚输出低电平，即CURRENT_CHECK为低电平，单片机检测到CURRENT_CHECK为低电平，发射器IR LED处于正常状态。

若IR LED处于断开状态，则采样电阻R7上的电压A2不会超过电压A1，那么比较器U1A的输出端1脚一直输出高电平，即CURRENT_CHECK一直为高电平，若在一定时间内单片机检测到CURRENT_CHECK一直为高电平，则说明发射器IR LED处于故障状态。

通过本实施例，在比较器U1A的输出端1脚处引出一条测试线CURRENT_CHECK，并将该测试线CURRENT_CHECK与单片机连接，从而可以根据单片机的检测电压快速确定发射器IR LED是否发生故障，进一步提高了发射器的自检效率。

在其中一些实施例中，以缝纫机为例对本实施例进行说明，图4为本申请实施例中对每一感应器进行自检的流程图，如图4所示，该流程包括如下步骤：

步骤S410，若所有发射器均正常，则获取每一感应器的感应电压。

步骤S420，将每一感应器的感应电压与第一预设电压阈值进行比较，得到第二比较结果。

其中，第一预设电压阈值是根据多次检测的经验值设置的。

步骤S430，根据第二比较结果，确定每一感应器的第二自检结果。

在其中一些实施例中，根据每一感应器，若感应器的感应电压小于或者等于第一预设电压阈值，则确定感应器处于故障状态；若感应器的感应电压大于第一预设电压阈值，则确定感应器处于正常状态。

通过上述步骤S410至步骤S430，若所有发射器均正常，则获取每一感应器的感应电压；将每一感应器的感应电压与第一预设电压阈值进行比较，得到第二比较结果；根据第二比较结果，确定每一感应器的第二自检结果。本实施例通过获取每一感应器的感应电压，并通过每一感应器的感应电压与第一预设电压阈值的第二比较结果，来确定每一感应器是否存在故障，整个检测过程自动进行，无需人工介入，使用人员不需要掌握非常专业的知识就排查出发生故障的感应器，检测周期短，可以提高感应器的自检效率。

在其中一些实施例中，假设缝纫机上安装有n个发射器，m个感应器。将n个发射器的PWM波的占空比DUTYCYCLE[1]，DUTYCYCLE[1]，...，DUTYCYCLE[n]分别到设置为CURRENT_SET[1]，CURRENT_SET[2]，...，CURRENT_SET[n]，并通过载波电路生成发射器的载波信号，以驱动发射器发射红外光。当感应器接收到发射器发射的红外光后，经过滤波电路后会输出感应信号到单片机的引脚上，从而得到每一感应器的感应电压，m个感应器的感应电压分别为V[1]，V[2]，...，V[m]。若V[1]值小于第一预设电压阈值，则确定第一个感应器存在故障。若V[m]值小于第一预设电压阈值，则确定第m个感应器存在故障。

在其中一些实施例中，图5为本申请实施例中确定发射器与感应器的配套检测结果的流程图，如图5所示，该流程包括如下步骤：

步骤S510，从多个发射器中选取一个发射器作为当前被检测发射器。

需要说明的是，可以按照一定的顺序从多个发射器中选取一个发射器作为当前被检测发射器，也可以从多个发射器中任意选取一个发射器作为当前被检测发射器，本实施例不作限制。

步骤S520，设置当前被检测发射器处于第一状态，并设置其他发射器处于第二状态。

其中，第一状态和第二状态是两种相反的状态。

步骤S530，获取每一感应器的感应电压。

感应电压表示感应器接收到的感应信号的电压。

步骤S540，根据每一感应器的感应电压、第一状态和第二状态，得到当前被检测发射器的对应关系检测结果，并确定下一被检测发射器，依次类推，直至遍历所有发射器。

步骤S550，根据所有对应关系检测结果和预设对应关系，得到发射器与感应器的配套检测结果。

需要说明的是，通过将当前被检测发射器与其他发射器设置为两种不同的状态，从而可以单独检测某一发射器的对应关系是否与预设对应关系相对应，若该发射器的对应关系与预设对应关系一致，则确定发射器与其对应的感应器的对应关系没有发生错乱；

若该发射器的对应关系与预设对应关系不一致，则确定发射器与其对应的感应器的对应关系发生了错乱，从而可以根据预设对应关系调整相关发射器和感应器的连接关系。

通过上述实施例，从多个发射器中选取一个发射器作为当前被检测发射器，将当前被检测发射器与其他发射器设置为两种不同的状态，实现逐一地检测每一发射器的对应关系，并将每一对应关系检测结果与预设对应关系进行比较，从而根据比较结果确定发射器与感应器的对应关系是否发生了错乱，这种检测方法操作简单，检测周期比较短，单独对每一发射器的对应关系进行检测，不容易出错，实现了快速准确对发射器与感应器的对应关系进行检测，提高了发射器与感应器配套检测的效率和准确度。

在其中一些实施例中，设置当前被检测发射器处于开启状态，并设置其他发射器处于关闭状态；或者，

设置当前被检测发射器处于关闭状态，并设置其他发射器处于开启状态。

在其中一些实施例中，图6为本申请实施例中根据感应电压、第一状态和第二状态，得到当前被检测发射器的对应关系检测结果的流程图一，如图6所示，该流程包括如下步骤：

步骤S610，将每一感应器的感应电压与第二预设电压阈值进行比较，得到第三比较结果。

步骤S620，根据第三比较结果、第一状态和第二状态，确定与当前被检测发射器存在对应关系的感应器。

在其中一些实施例中，设置当前被检测发射器处于开启状态，并设置其他发射器处于关闭状态，即第一状态为开启状态，第二状态为关闭状态；

若某一感应器的感应电压大于第二预设电压阈值，其他感应器的感应电压均小于第二预设电压阈值，则确定该感应器与当前被检测发射器存在对应关系。

例如，假设第x个感应器的感应电压U[x]大于第二预设电压阈值，而其他感应器的感应电压均低于第二预设电压阈值，则确定当前被检测发射器发射的红外光被第x个感应器接收到，即第x个感应器与当前被检测发射器存在对应关系。

在其中一些实施例中，设置当前被检测发射器处于关闭状态，并设置其他发射器处于开启状态，即第一状态为关闭状态，第二状态为开启状态；

若某一感应器的感应电压小于第二预设电压阈值，其他感应器的感应电压均大于第二预设电压阈值，则确定该感应器与当前被检测发射器存在对应关系。

通过上述步骤S610至步骤S620，将每一感应器的感应电压与第二预设电压阈值进行比较，得到第三比较结果，并根据第三比较结果、第一状态和第二状态，可以快速确定出与当前被检测发射器存在对应关系的感应器，进一步提高了发射器与感应器的配套检测的效率。

在其中一些实施例中，图7为本申请实施例中根据感应电压、第一状态和第二状态，得到当前被检测发射器的对应关系检测结果的流程图二，如图7所示，该流程包括如下步骤：

步骤S710，计算每一感应器的感应电压与第二预设电压阈值的差值。

步骤S720，根据差值、预设差值阈值、第一状态和第二状态，确定与当前被检测发射器存在对应关系的感应器。

设置当前被检测发射器处于开启状态，并设置其他发射器处于关闭状态，即第一状态为开启状态，第二状态为关闭状态；

若某一感应器对应的差值大于预设差值阈值，其他感应器对应的差值均小于预设差值阈值，则确定该感应器与当前被检测发射器存在对应关系。

例如，假设第x个感应器的感应电压U[x]与第二预设电压阈值的差值大于预设差值阈值，而其他感应器的感应电压与第二预设电压阈值的差值均低于预设差值阈值，则确定当前被检测发射器发射的红外光被第x个感应器接收到，即第x个感应器与当前被检测发射器存在对应关系。

在其中一些实施例中，设置当前被检测发射器处于关闭状态，并设置其他发射器处于开启状态，即第一状态为关闭状态，第二状态为开启状态；

若某一感应器对应的差值小于预设差值阈值，其他感应器对应的差值均大于预设差值阈值，则确定该感应器与当前被检测发射器存在对应关系。

下面通过具体实施例对本申请实施例进行描述和说明。

图8为本申请具体实施例的电子设备的故障检测方法的流程图，如图8所示，该电子设备的故障检测方法包括如下步骤：

步骤S810，针对每一发射器，关闭发射器对应载波电路的信号源，并获取发射器对应电流调节电路的输出电压；根据输出电压，得到发射器的第一自检结果。

步骤S820，若所有发射器均正常，则获取每一感应器的感应电压；将每一感应器的感应电压与第一预设电压阈值进行比较，得到第二比较结果；根据第二比较结果，确定每一感应器的第二自检结果。

步骤S830，从多个发射器中选取一个发射器作为当前被检测发射器；设置当前被检测发射器处于第一状态，并设置其他发射器处于第二状态。

步骤S840，获取每一感应器的感应电压；根据每一感应器的感应电压、第一状态和第二状态，得到当前被检测发射器的对应关系检测结果，并确定下一被检测发射器，依次类推，直至遍历所有发射器。

步骤S850，根据所有对应关系检测结果和预设对应关系，得到发射器与感应器的配套检测结果。

步骤S860，根据第一自检结果、第二自检结果和配套检测结果，确定电子设备的故障位置。

需要说明的是，在上述流程中或者附图的流程图中示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行，并且，虽然在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

本实施例提供的方法实施例可以在终端、计算机或者类似的运算装置中执行。以运行在终端上为例，图9为本申请实施例的电子设备的故障检测方法的终端的硬件结构框图。如图9所示，终端90可以包括一个或多个(图9中仅示出一个)处理器902(处理器902可以包括但不限于微处理器MCU或可编程逻辑器件FPGA等的处理装置)和用于存储数据的存储器904，可选地，上述终端还可以包括用于通信功能的传输设备906以及输入输出设备909。本领域普通技术人员可以理解，图9所示的结构仅为示意，其并不对上述终端的结构造成限定。例如，终端90还可包括比图9中所示更多或者更少的组件，或者具有与图9所示不同的配置。

存储器904可用于存储计算机程序，例如，应用软件的软件程序以及模块，如本申请实施例中的电子设备的故障检测方法对应的计算机程序，处理器902通过运行存储在存储器904内的计算机程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，即实现上述的方法。存储器904可包括高速随机存储器，还可包括非易失性存储器，如一个或者多个磁性存储装置、闪存、或者其他非易失性固态存储器。在一些实例中，存储器904可进一步包括相对于处理器902远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至终端90。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

传输设备906用于经由一个网络接收或者发送数据。上述的网络具体实例可包括终端90的通信供应商提供的无线网络。在一个实例中，传输设备906包括一个网络适配器(Network Interface Controller，简称为NIC)，其可通过基站与其他网络设备相连从而可与互联网进行通讯。在一个实例中，传输设备906可以为射频(Radio Frequency，简称为RF)模块，其用于通过无线方式与互联网进行通讯。

本实施例还提供了一种电子设备的故障检测装置，该装置用于实现上述实施例及优选实施方式，已经进行过说明的不再赘述。如以下所使用的，术语“模块”、“单元”、“子单元”等可以实现预定功能的软件和/或硬件的组合。尽管以下实施例所描述的装置较佳地以软件来实现，但是硬件，或者软件和硬件的组合的实现也是可能并被构想的。

图10为本申请实施例的电子设备的故障检测装置的结构框图，如图10所示，该装置包括：

第一自检模块110，用于对每一发射器进行自检，得到每一发射器的第一自检结果；

第二自检模块120，用于对每一感应器进行自检，得到每一感应器的第二自检结果；

配套检测模块130，用于检测多个发射器与多个感应器的对应关系，并根据对应关系，确定发射器与感应器的配套检测结果；

故障确定模块140，用于根据第一自检结果、第二自检结果和配套检测结果，确定电子设备的故障位置。

在其中一些实施例中，第一自检模块110还用于针对每一发射器，关闭发射器对应载波电路的信号源，并获取发射器对应电流调节电路的输出电压；根据输出电压，得到发射器的第一自检结果。

在其中一些实施例中，第二自检模块120还用于若所有发射器均正常，则获取每一感应器的感应电压；将每一感应器的感应电压与第一预设电压阈值进行比较，得到第二比较结果；根据第二比较结果，确定每一感应器的第二自检结果。

在其中一些实施例中，配套检测模块130包括选取单元、设置单元、获取单元、检测单元和确定单元，其中：

选取单元，用于从多个发射器中选取一个发射器作为当前被检测发射器。

设置单元，用于设置当前被检测发射器处于第一状态，并设置其他发射器处于第二状态。

获取单元，用于获取每一感应器的感应电压。

检测单元，用于根据每一感应器的感应电压、第一状态和第二状态，得到当前被检测发射器的对应关系检测结果，并确定下一被检测发射器，依次类推，直至遍历所有发射器。

确定单元，用于根据所有对应关系检测结果和预设对应关系，得到发射器与感应器的配套检测结果。

在其中一些实施例中，设置单元还用于设置当前被检测发射器处于开启状态，并设置其他发射器处于关闭状态；或者，设置当前被检测发射器处于关闭状态，并设置其他发射器处于开启状态。

在其中一些实施例中，检测单元还用于将每一感应器的感应电压与第二预设电压阈值进行比较，得到第三比较结果；根据第三比较结果、第一状态和第二状态，确定与当前被检测发射器存在对应关系的感应器。

在其中一些实施例中，检测单元还用于计算每一感应器的感应电压与第二预设电压阈值的差值；根据差值、预设差值阈值、第一状态和第二状态，确定与当前被检测发射器存在对应关系的感应器。

需要说明的是，上述各个模块可以是功能模块也可以是程序模块，既可以通过软件来实现，也可以通过硬件来实现。对于通过硬件来实现的模块而言，上述各个模块可以位于同一处理器中；或者上述各个模块还可以按照任意组合的形式分别位于不同的处理器中。

本实施例还提供了一种电子装置，包括存储器和处理器，该存储器中存储有计算机程序，该处理器被设置为运行计算机程序以执行上述任一项方法实施例中的步骤。

可选地，上述电子装置还可以包括传输设备以及输入输出设备，其中，该传输设备和上述处理器连接，该输入输出设备和上述处理器连接。

可选地，在本实施例中，上述处理器可以被设置为通过计算机程序执行以下步骤：

S1，对每一发射器进行自检，得到每一发射器的第一自检结果。

S2，对每一感应器进行自检，得到每一感应器的第二自检结果。

S3，检测多个发射器与多个感应器的对应关系，并根据对应关系，确定发射器与感应器的配套检测结果。

S4，根据第一自检结果、第二自检结果和配套检测结果，确定电子设备的故障位置。

需要说明的是，本实施例中的具体示例可以参考上述实施例及可选实施方式中所描述的示例，本实施例在此不再赘述。

另外，结合上述实施例中的电子设备的故障检测方法，本申请实施例可提供一种存储介质来实现。该存储介质上存储有计算机程序；该计算机程序被处理器执行时实现上述实施例中的任意一种电子设备的故障检测方法。

本领域的技术人员应该明白，以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种电子设备的故障检测方法，应用于电子设备，所述电子设备包括多个配套使用的发射器和感应器，其特征在于，包括：

对每一所述发射器进行自检，得到每一所述发射器的第一自检结果；

对每一所述感应器进行自检，得到每一所述感应器的第二自检结果；

检测多个所述发射器与多个所述感应器的对应关系，并根据所述对应关系，确定所述发射器与所述感应器的配套检测结果；

根据所述第一自检结果、所述第二自检结果和所述配套检测结果，确定所述电子设备的故障位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述发射器的驱动电路包括载波电路和电流调节电路；所述对每一所述发射器进行自检，得到每一所述发射器的第一自检结果包括：

针对每一所述发射器，关闭所述发射器对应载波电路的信号源，并获取所述发射器对应电流调节电路的输出电压；

根据所述输出电压，得到所述发射器的第一自检结果。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对每一所述感应器进行自检，得到每一所述感应器的第二自检结果包括：

若所有所述发射器均正常，则获取每一所述感应器的感应电压；

将每一所述感应器的感应电压与第一预设电压阈值进行比较，得到第二比较结果；

根据所述第二比较结果，确定每一所述感应器的第二自检结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测多个所述发射器与多个所述感应器的对应关系，并根据所述对应关系，确定所述发射器与所述感应器的配套检测结果包括：

从多个所述发射器中选取一个发射器作为当前被检测发射器；

设置所述当前被检测发射器处于第一状态，并设置其他发射器处于第二状态；

获取每一所述感应器的感应电压；

根据每一所述感应器的感应电压、所述第一状态和所述第二状态，得到所述当前被检测发射器的对应关系检测结果，并确定下一被检测发射器，依次类推，直至遍历所有所述发射器；

根据所有所述对应关系检测结果和预设对应关系，得到所述发射器与所述感应器的配套检测结果。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述设置所述当前被检测发射器处于第一状态，并设置其他发射器处于第二状态包括：

设置所述当前被检测发射器处于开启状态，并设置其他发射器处于关闭状态；或者，

设置所述当前被检测发射器处于关闭状态，并设置其他发射器处于开启状态。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据每一所述感应器的感应电压、所述第一状态和所述第二状态，得到所述当前被检测发射器的对应关系检测结果包括：

将每一所述感应器的感应电压与第二预设电压阈值进行比较，得到第三比较结果；

根据所述第三比较结果、所述第一状态和所述第二状态，确定与所述当前被检测发射器存在对应关系的感应器。

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述根据每一所述感应器的感应电压、所述第一状态和所述第二状态，得到所述当前被检测发射器的对应关系检测结果包括：

计算每一所述感应器的感应电压与第二预设电压阈值的差值；

根据所述差值、预设差值阈值、所述第一状态和所述第二状态，确定与所述当前被检测发射器存在对应关系的感应器。

8.一种电子设备的故障检测装置，其特征在于，包括：

第一自检模块，用于对每一发射器进行自检，得到每一所述发射器的第一自检结果；

第二自检模块，用于对每一感应器进行自检，得到每一所述感应器的第二自检结果；

配套检测模块，用于检测多个所述发射器与多个所述感应器的对应关系，并根据所述对应关系，确定所述发射器与所述感应器的配套检测结果；

故障确定模块，用于根据所述第一自检结果、所述第二自检结果和所述配套检测结果，确定所述电子设备的故障位置。

9.一种电子装置，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为运行所述计算机程序以执行权利要求1至7中任一项所述的电子设备的故障检测方法。

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质中存储有计算机程序，其中，所述计算机程序被设置为运行时执行权利要求1至7中任一项所述的电子设备的故障检测方法。

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