CN114062891A - 基于ai芯片用算力测试装置 - Google Patents

基于ai芯片用算力测试装置 Download PDF

Info

Publication number
CN114062891A
CN114062891A CN202111179430.0A CN202111179430A CN114062891A CN 114062891 A CN114062891 A CN 114062891A CN 202111179430 A CN202111179430 A CN 202111179430A CN 114062891 A CN114062891 A CN 114062891A
Authority
CN
China
Prior art keywords
chip
module
data
output
calculation
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111179430.0A
Other languages
English (en)
Inventor
林锵
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Desige Intelligent Technology Co ltd
Original Assignee
Shenzhen Desige Intelligent Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Desige Intelligent Technology Co ltd filed Critical Shenzhen Desige Intelligent Technology Co ltd
Priority to CN202111179430.0A priority Critical patent/CN114062891A/zh
Publication of CN114062891A publication Critical patent/CN114062891A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Force Measurement Appropriate To Specific Purposes (AREA)

Abstract

本发明公开了基于AI芯片用算力测试装置，包括桌板，所述桌板顶部的左侧固定连接有芯片测算器，所述芯片测算器的内部设置有算力检测系统，所述桌板底部的两侧均固定连接有支撑板，所述支撑板的内侧活动连接有电脑主机，所述电脑主机的输出端电连接有电脑系统，所述桌板的顶部活动连接有显示器。本发明通过设置算力检测系统，可以对芯片算力进行不同算力的检测，从而达到了不需要挑选合适型号检测装置的效果，解决了AI芯片在检测时需要挑选合适型号的检测装置的问题，该基于AI芯片用算力测试装置，具备不需要挑选合适型号检测装置的优点，检测人员在使用时不需要提前挑选合适的检测装置，从而节省了大量的时间。

Description

基于AI芯片用算力测试装置
技术领域
本发明涉及芯片技术领域，具体为基于AI芯片用算力测试装置。
背景技术
AI芯片是用于芯片的一种，主要用于计算机，AI芯片在制成后形成的算力并不相同，故此需要使用者对AI芯片检测算力，但是AI芯片在检测时需要挑选合适型号的检测装置，导致检测人员在使用时需要提前挑选合适的检测装置，从而浪费了大量的时间。
发明内容
为解决上述背景技术中提出的问题，本发明的目的在于提供基于AI芯片用算力测试装置，具备不需要挑选合适型号检测装置的优点，解决了AI芯片在检测时需要挑选合适型号的检测装置的问题。
为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：基于AI芯片用算力测试装置，包括桌板，所述桌板顶部的左侧固定连接有芯片测算器，所述芯片测算器的内部设置有算力检测系统，所述桌板底部的两侧均固定连接有支撑板，所述支撑板的内侧活动连接有电脑主机，所述电脑主机的输出端电连接有电脑系统，所述桌板的顶部活动连接有显示器，所述电脑系统的输出端设置有控制模块；
所述算力检测系统包括检测处理器，所述检测处理器的输出端电连接有芯片连接器，所述芯片连接器的输出端电连接有算力记录器，所述算力记录器的输出度与检测处理器的输入端电连接，所述检测处理器的输出端双向电连接有算力运行系统，所述检测处理器的输出端双向电连接有数据连接口。
作为本发明优选的，所述电脑系统包括数据配合口，所述数据配合口的输入端通过数据线与数据连接口的输出端双向电连接，所述数据配合口的输出端双向电连接有数据收集模块，所述数据收集模块的输出端双向电连接有电脑处理器，所述电脑处理器的输出端双向电连接有算力分类储存模块，所述算力分类储存模块的输出端双向电连接有算力储存模块，所述电脑处理器的输出端与显示器的输入端电连接。
作为本发明优选的，所述控制模块为鼠标，所述控制模块的输出端通过无线电与电脑处理器的输入端电连接，所述控制模块活动连接在桌板顶部的右侧。
作为本发明优选的，所述芯片测算器的左侧开设有安装孔，所述安装孔的内部活动连接有散热风扇，所述散热风扇的输入端与电脑处理器的输出端电连接。
作为本发明优选的，所述检测处理器的输入端电连接有温度检测模块，所述温度检测模块为温度传感器。
作为本发明优选的，所述支撑板底部的前端和后端均固定连接有固定杆，所述固定杆的底部固定连接有限位块。
作为本发明优选的，所述数据配合口的输出端电连接有对比模块，所述对比模块的输出端电连接有温度数据储存模块。
作为本发明优选的，所述算力储存模块为固态硬盘，所述温度数据储存模块为移动硬盘。
作为本发明优选的，所述算力运行系统包括kH～MH算力运行模块、MH～TH算力运行模块和TH～PH算力运行模块，所述芯片连接器活动连接在芯片测算器的顶部。
与现有技术相比，本发明的有益效果如下：
1、本发明通过设置算力检测系统，可以对芯片算力进行不同算力的检测，从而达到了不需要挑选合适型号检测装置的效果，解决了AI芯片在检测时需要挑选合适型号的检测装置的问题，该基于AI芯片用算力测试装置，具备不需要挑选合适型号检测装置的优点，检测人员在使用时不需要提前挑选合适的检测装置，从而节省了大量的时间。
2、本发明通过设置电脑系统，可以对开启算力运行系统，使算力运行系统对芯片进行检测。
3、本发明通过设置控制模块，可以开启不同的算力模块，从而方便使用者使用。
4、本发明通过设置安装孔和散热风扇，可以对芯片测算器进行散热，避免芯片测算器温度过高出现意外情况。
5、本发明通过设置温度检测模块，可以对芯片测算器内部的温度进行收集，从而提示使用者芯片测算器内部的温度。
6、本发明通过设置固定杆和限位块，可以对支撑板进行固定，防止支撑板与地面上的腐蚀物质接触。
7、本发明通过设置对比模块和温度数据储存模块，可以使电脑系统了解芯片测算器内部的温度是否过高，若是过高电脑系统便会开启散热风扇对芯片测算器的内部进行散热。
8、本发明通过设置算力储存模块为固态硬盘，可以对检测的数据进行储存，通过设置温度数据储存模块为移动硬盘，可以对芯片测算器正常的温度数据进行储存。
9、本发明通过设置kH～MH算力运行模块、MH～TH算力运行模块和TH～PH算力运行模块，可以使算力运行系统分为不同等级的运算力，从而方便使用者使用。
附图说明
图1为本发明结构图；
图2为本发明图1的正视剖面结构图；
图3为本发明图1的系统图；
图4为本发明图1中算力检测系统的系统图；
图5为本发明图1中电脑系统的系统图；
图6为本发明图1中算力运行系统的系统图。
图中：1、桌板；2、芯片测算器；3、算力检测系统；31、检测处理器；32、芯片连接器；33、算力记录器；34、算力运行系统；341、kH～MH算力运行模块；342、MH～TH算力运行模块；343、TH～PH算力运行模块；35、数据连接口；4、支撑板；5、电脑主机；6、电脑系统；61、数据配合口；62、数据收集模块；63、电脑处理器；64、算力分类储存模块；65、算力储存模块；7、显示器；8、控制模块；9、安装孔；10、散热风扇；11、温度检测模块；12、固定杆；13、限位块；14、对比模块；15、温度数据储存模块。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
如图1至图6所示，本发明提供的基于AI芯片用算力测试装置，包括桌板1，桌板1顶部的左侧固定连接有芯片测算器2，芯片测算器2的内部设置有算力检测系统3，桌板1底部的两侧均固定连接有支撑板4，支撑板4的内侧活动连接有电脑主机5，电脑主机5的输出端电连接有电脑系统6，桌板1的顶部活动连接有显示器7，电脑系统6的输出端设置有控制模块8；
算力检测系统3包括检测处理器31，检测处理器31的输出端电连接有芯片连接器32，芯片连接器32的输出端电连接有算力记录器33，算力记录器33的输出度与检测处理器31的输入端电连接，检测处理器31的输出端双向电连接有算力运行系统34，检测处理器31的输出端双向电连接有数据连接口35。
参考图5，电脑系统6包括数据配合口61，数据配合口61的输入端通过数据线与数据连接口35的输出端双向电连接，数据配合口61的输出端双向电连接有数据收集模块62，数据收集模块62的输出端双向电连接有电脑处理器63，电脑处理器63的输出端双向电连接有算力分类储存模块64，算力分类储存模块64的输出端双向电连接有算力储存模块65，电脑处理器63的输出端与显示器7的输入端电连接。
作为本发明的一种技术优化方案，通过设置电脑系统6，可以对开启算力运行系统34，使算力运行系统34对芯片进行检测。
参考图5，控制模块8为鼠标，控制模块8的输出端通过无线电与电脑处理器63的输入端电连接，控制模块8活动连接在桌板1顶部的右侧。
作为本发明的一种技术优化方案，通过设置控制模块8，可以开启不同的算力模块，从而方便使用者使用。
参考图2，芯片测算器2的左侧开设有安装孔9，安装孔9的内部活动连接有散热风扇10，散热风扇10的输入端与电脑处理器63的输出端电连接。
作为本发明的一种技术优化方案，通过设置安装孔9和散热风扇10，可以对芯片测算器2进行散热，避免芯片测算器2温度过高出现意外情况。
参考图4，检测处理器31的输入端电连接有温度检测模块11，温度检测模块11为温度传感器。
作为本发明的一种技术优化方案，通过设置温度检测模块11，可以对芯片测算器2内部的温度进行收集，从而提示使用者芯片测算器2内部的温度。
参考图2，支撑板4底部的前端和后端均固定连接有固定杆12，固定杆12的底部固定连接有限位块13。
作为本发明的一种技术优化方案，通过设置固定杆12和限位块13，可以对支撑板4进行固定，防止支撑板4与地面上的腐蚀物质接触。
参考图5，数据配合口61的输出端电连接有对比模块14，对比模块14的输出端电连接有温度数据储存模块15。
作为本发明的一种技术优化方案，通过设置对比模块14和温度数据储存模块15，可以使电脑系统6了解芯片测算器2内部的温度是否过高，若是过高电脑系统6便会开启散热风扇10对芯片测算器2的内部进行散热。
参考图5，算力储存模块65为固态硬盘，温度数据储存模块15为移动硬盘。
作为本发明的一种技术优化方案，通过设置算力储存模块65为固态硬盘，可以对检测的数据进行储存，通过设置温度数据储存模块15为移动硬盘，可以对芯片测算器2正常的温度数据进行储存。
参考图6，算力运行系统34包括kH～MH算力运行模块341、MH～TH算力运行模块342和TH～PH算力运行模块343，芯片连接器32活动连接在芯片测算器2的顶部。
作为本发明的一种技术优化方案，通过设置kH～MH算力运行模块341、MH～TH算力运行模块342和TH～PH算力运行模块343，可以使算力运行系统34分为不同等级的运算力，从而方便使用者使用。
本发明的工作原理及使用流程：使用时，使用者手动先将芯片插入检测处理器31的内部，使用者再根据芯片的型号通过控制模块8对电脑处理器63下达命令，电脑处理器63将命令传入数据收集模块62的内部，数据收集模块62将命令传入数据配合口61的内部，数据配合口61通过数据线将命令传入数据连接口35的内部，数据连接口35将命令传入检测处理器31的内部，使检测处理器31根据命令开启算力运行系统34内部的kH～MH算力运行模块341、MH～TH算力运行模块342或者TH～PH算力运行模块343，若是开启kH～MH算力运行模块341，kH～MH算力运行模块341将运算力数据传入检测处理器31的内部，检测处理器31通过芯片连接器32内部的芯片对kH～MH算力运行模块341传输的数据进行运算，再通过算力记录器33得出芯片的数据，若是开启MH～TH算力运行模块342，MH～TH算力运行模块342将运算力数据传入检测处理器31的内部，检测处理器31通过芯片连接器32内部的芯片对MH～TH算力运行模块342传输的数据进行运算，再通过算力记录器33得出芯片的数据，若是开启TH～PH算力运行模块343，TH～PH算力运行模块343将运算力数据传入检测处理器31的内部，检测处理器31通过芯片连接器32内部的芯片对TH～PH算力运行模块343传输的数据进行运算，再通过算力记录器33得出芯片的数据，得出数据后算力记录器33通过检测处理器31将数据传入数据连接口35的内部，数据连接口35通过数据线传入数据配合口61的内部，数据配合口61通过数据收集模块62将数据电脑处理器63的内部，电脑处理器63将数据分别传入算力分类储存模块64和显示器7的内部，算力分类储存模块64将数据传入算力储存模块65的内部，通过显示器7对数据进行显示，从而达到了不需要挑选合适型号检测装置的效果。
综上所述：该基于AI芯片用算力测试装置，通过设置算力检测系统3，可以对芯片算力进行不同算力的检测，从而达到了不需要挑选合适型号检测装置的效果，解决了AI芯片在检测时需要挑选合适型号的检测装置的问题。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (9)

1.基于AI芯片用算力测试装置，包括桌板(1)，其特征在于：所述桌板(1)顶部的左侧固定连接有芯片测算器(2)，所述芯片测算器(2)的内部设置有算力检测系统(3)，所述桌板(1)底部的两侧均固定连接有支撑板(4)，所述支撑板(4)的内侧活动连接有电脑主机(5)，所述电脑主机(5)的输出端电连接有电脑系统(6)，所述桌板(1)的顶部活动连接有显示器(7)，所述电脑系统(6)的输出端设置有控制模块(8)；
所述算力检测系统(3)包括检测处理器(31)，所述检测处理器(31)的输出端电连接有芯片连接器(32)，所述芯片连接器(32)的输出端电连接有算力记录器(33)，所述算力记录器(33)的输出度与检测处理器(31)的输入端电连接，所述检测处理器(31)的输出端双向电连接有算力运行系统(34)，所述检测处理器(31)的输出端双向电连接有数据连接口(35)。
2.根据权利要求1所述的基于AI芯片用算力测试装置，其特征在于：所述电脑系统(6)包括数据配合口(61)，所述数据配合口(61)的输入端通过数据线与数据连接口(35)的输出端双向电连接，所述数据配合口(61)的输出端双向电连接有数据收集模块(62)，所述数据收集模块(62)的输出端双向电连接有电脑处理器(63)，所述电脑处理器(63)的输出端双向电连接有算力分类储存模块(64)，所述算力分类储存模块(64)的输出端双向电连接有算力储存模块(65)，所述电脑处理器(63)的输出端与显示器(7)的输入端电连接。
3.根据权利要求2所述的基于AI芯片用算力测试装置，其特征在于：所述控制模块(8)为鼠标，所述控制模块(8)的输出端通过无线电与电脑处理器(63)的输入端电连接，所述控制模块(8)活动连接在桌板(1)顶部的右侧。
4.根据权利要求2所述的基于AI芯片用算力测试装置，其特征在于：所述芯片测算器(2)的左侧开设有安装孔(9)，所述安装孔(9)的内部活动连接有散热风扇(10)，所述散热风扇(10)的输入端与电脑处理器(63)的输出端电连接。
5.根据权利要求1所述的基于AI芯片用算力测试装置，其特征在于：所述检测处理器(31)的输入端电连接有温度检测模块(11)，所述温度检测模块(11)为温度传感器。
6.根据权利要求1所述的基于AI芯片用算力测试装置，其特征在于：所述支撑板(4)底部的前端和后端均固定连接有固定杆(12)，所述固定杆(12)的底部固定连接有限位块(13)。
7.根据权利要求2所述的基于AI芯片用算力测试装置，其特征在于：所述数据配合口(61)的输出端电连接有对比模块(14)，所述对比模块(14)的输出端电连接有温度数据储存模块(15)。
8.根据权利要求7所述的基于AI芯片用算力测试装置，其特征在于：所述算力储存模块(65)为固态硬盘，所述温度数据储存模块(15)为移动硬盘。
9.根据权利要求1所述的基于AI芯片用算力测试装置，其特征在于：所述算力运行系统(34)包括kH～MH算力运行模块(341)、MH～TH算力运行模块(342)和TH～PH算力运行模块(343)，所述芯片连接器(32)活动连接在芯片测算器(2)的顶部。
CN202111179430.0A 2021-10-11 2021-10-11 基于ai芯片用算力测试装置 Pending CN114062891A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111179430.0A CN114062891A (zh) 2021-10-11 2021-10-11 基于ai芯片用算力测试装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111179430.0A CN114062891A (zh) 2021-10-11 2021-10-11 基于ai芯片用算力测试装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN114062891A true CN114062891A (zh) 2022-02-18

Family

ID=80234459

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111179430.0A Pending CN114062891A (zh) 2021-10-11 2021-10-11 基于ai芯片用算力测试装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN114062891A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115877185A (zh) * 2023-01-30 2023-03-31 北京怀美科技有限公司 适用于芯片检测的灵活比对方法和设备

Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070300115A1 (en) * 2006-06-01 2007-12-27 Ramyanshu Datta Apparatus and method for accelerating test, debug and failure analysis of a multiprocessor device
JP2012251806A (ja) * 2011-05-31 2012-12-20 Toshiba Corp 算出方法、算出プログラム、算出システム、算出装置
KR20130022511A (ko) * 2011-08-24 2013-03-07 이왕열 수학 지수 검사 방법 및 시스템
CN108733540A (zh) * 2018-05-30 2018-11-02 杭州嘉楠耘智信息科技有限公司 矿机算力与功耗的测试方法及系统
CN109213663A (zh) * 2018-08-06 2019-01-15 成都安易迅科技有限公司 一种手机人工智能算力的测评方法
CN109408399A (zh) * 2018-12-14 2019-03-01 武汉斗鱼鱼乐网络科技有限公司 一种算力估计方法、装置、设备和存储介质
CN109788349A (zh) * 2019-01-16 2019-05-21 武汉斗鱼鱼乐网络科技有限公司 一种探测计算能力的方法及相关装置
CN111833959A (zh) * 2020-07-20 2020-10-27 北京百度网讯科技有限公司 存储器的测试的方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质
CN111856258A (zh) * 2020-07-24 2020-10-30 北京百度网讯科技有限公司 用于芯片的测试的方法、设备、存储介质和相应的芯片
CN112488563A (zh) * 2020-12-11 2021-03-12 中国联合网络通信集团有限公司 一种算力参数的确定方法和装置
CN112600919A (zh) * 2020-12-10 2021-04-02 中国科学院深圳先进技术研究院 一种基于PoW共识机制的设备算力评价方法及系统
CN112666450A (zh) * 2021-01-13 2021-04-16 于成 一种智能芯片检测仪及其检测方法
CN112881887A (zh) * 2021-01-15 2021-06-01 深圳比特微电子科技有限公司 芯片测试方法、计算芯片和数字货币挖矿机

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20070300115A1 (en) * 2006-06-01 2007-12-27 Ramyanshu Datta Apparatus and method for accelerating test, debug and failure analysis of a multiprocessor device
JP2012251806A (ja) * 2011-05-31 2012-12-20 Toshiba Corp 算出方法、算出プログラム、算出システム、算出装置
KR20130022511A (ko) * 2011-08-24 2013-03-07 이왕열 수학 지수 검사 방법 및 시스템
CN108733540A (zh) * 2018-05-30 2018-11-02 杭州嘉楠耘智信息科技有限公司 矿机算力与功耗的测试方法及系统
CN109213663A (zh) * 2018-08-06 2019-01-15 成都安易迅科技有限公司 一种手机人工智能算力的测评方法
CN109408399A (zh) * 2018-12-14 2019-03-01 武汉斗鱼鱼乐网络科技有限公司 一种算力估计方法、装置、设备和存储介质
CN109788349A (zh) * 2019-01-16 2019-05-21 武汉斗鱼鱼乐网络科技有限公司 一种探测计算能力的方法及相关装置
CN111833959A (zh) * 2020-07-20 2020-10-27 北京百度网讯科技有限公司 存储器的测试的方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质
CN111856258A (zh) * 2020-07-24 2020-10-30 北京百度网讯科技有限公司 用于芯片的测试的方法、设备、存储介质和相应的芯片
CN112600919A (zh) * 2020-12-10 2021-04-02 中国科学院深圳先进技术研究院 一种基于PoW共识机制的设备算力评价方法及系统
CN112488563A (zh) * 2020-12-11 2021-03-12 中国联合网络通信集团有限公司 一种算力参数的确定方法和装置
CN112666450A (zh) * 2021-01-13 2021-04-16 于成 一种智能芯片检测仪及其检测方法
CN112881887A (zh) * 2021-01-15 2021-06-01 深圳比特微电子科技有限公司 芯片测试方法、计算芯片和数字货币挖矿机

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
于继成;王强;赵目龙;焦育成;: "智能驾驶-AI芯片的算力研究", 汽车文摘, no. 01, 5 January 2019 (2019-01-05), pages 47 - 52 *
杨婷婷;张笛;沙通;: "移动端AI芯片能力评测工具研究", 广东通信技术, no. 08, 15 August 2020 (2020-08-15), pages 31 - 36 *
程贵锋 等: "手机AI 芯片发展分析与性能评测研究", 《广东通信技术》, 31 December 2018 (2018-12-31), pages 2 - 6 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115877185A (zh) * 2023-01-30 2023-03-31 北京怀美科技有限公司 适用于芯片检测的灵活比对方法和设备

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN114062891A (zh) 基于ai芯片用算力测试装置
CN110796216A (zh) 一种智慧工地工具管理系统
CN205959188U (zh) 一种多功能计算机硬件检测装置
CN205885454U (zh) 一种智能听诊器
CN103376353B (zh) 测量装置与测量方法
CN206460091U (zh) 一种电力监测装置
CN203643380U (zh) 一种保温材料传热系数检测装置
CN209824268U (zh) 一种电力营销用数据采集装置
CN104596668B (zh) 一种基于声表面波的配电变压器温度在线监测系统
CN216450058U (zh) 一种基于单片机的笔记本cpu风扇清洁报警装置
CN104713862A (zh) 体外检测分析装置、使用该体外检测分析装置的体外检测分析系统及方法
CN108258343A (zh) 从控模块及电池管理系统
CN211216774U (zh) 一种电子信息工程专业用试验台
CN204462024U (zh) 体外检测分析装置及使用该体外检测分析装置的体外检测分析系统
CN208477088U (zh) 一种智能蓄电池检测仪器
CN207133706U (zh) 一种具有故障诊断功能的计算机主板
CN218937589U (zh) 母线槽温度传感器
CN212988650U (zh) 一种简易的温度校验台
CN103869234A (zh) 芯片测试结构、装置及方法
CN113065452A (zh) 基于互联网的人体动作识别装置
CN206788865U (zh) 一种智能化医疗数据采集设备
CN213421584U (zh) 一种底框结构以及移动血库
CN210895425U (zh) 一种计算机功耗分析系统
CN218632908U (zh) 一种具有远程监控检测系统的配电柜
CN215005551U (zh) 一种便携式电量检测仪

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination