CN114019571A - 安检设备及射线光路校正方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 79
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 153
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 33
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 85
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 24
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 20
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 17
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 claims description 15
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 claims description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 6
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 claims description 5
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 claims 2
- 239000011541 reaction mixture Substances 0.000 claims 2
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 abstract description 6
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 17
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 8
- 230000036961 partial effect Effects 0.000 description 6
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 5
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 3
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 3
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008447 perception Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/02—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
- G01N23/04—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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- Immunology (AREA)
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Abstract
本发明提供一种安检设备及射线光路校正方法，安检设备包括设备机架、第一安装机构及准直位置调节组件，设备机架围设形成安检通道，第一安装机构安装于设备机架，能够连接射线发生器，第一安装机构包括用于连接准直器的第一安装组件；准直位置调节组件活动连接于设备机架，能够带动第一安装组件运动并调节第一安装组件相对于射线发生器的位置，以使射线光路占据安检通道的径向截面。本发明实现了准直器相对于设备机架及射线发生器的位置偏差校正，可消除准直器与射线发生器以及射线探测板的相对位置偏差，解决因射线光路相对于准直器的准直缝偏斜造成射线无法充分透过准直器的问题，保证射线探测板上的信号能量强度满足清晰、完整成像的需求。
Description
技术领域
本发明涉及安检技术领域，尤其涉及一种安检设备及射线光路校正方法。
背景技术
安检设备是一种通过X射线来探测行李或货物的设备，利用X射线穿透不同物质后具有不同程度的能量强度衰减的原理，在安检设备内的安检通道内壁设置用于接收X射线的探测板，并进行信号处理，将每个探测板上的能量强度信号转变为图像信号即可得到行李或货物的内部影像。
现有的安检设备存在以下问题：射线发生器与准直器、探测板之间存在位置偏差，造成探测板接收X射线的效果差、接收到的射线信号强度低，导致安检设备无法清晰、完整地成像，并且射线光路偏差难以校正。因此，提供一种能够使X射线准确、充分地照射至探测板，并且可以快速校正射线光路与准直器准直缝、探测板之间的相对位置偏差的安检设备，成为了亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此，本发明提供一种安检设备，包括设备机架、第一安装机构及准直位置调节组件，设备机架设有安检通道，第一安装机构安装于设备机架，能够连接射线发生器，第一安装机构包括用于连接准直器的第一安装组件；准直位置调节组件活动连接于设备机架，能够带动第一安装组件运动并调节第一安装组件相对于射线发生器的位置，以使射线光路占据安检通道的径向截面。
本发明提供的安检设备，通过准直位置调节组件实现了准直器相对于设备机架以及射线发生器的位置偏差校正，可以消除准直器与射线发生器以及射线探测板之间的相对位置偏差，解决了因射线光路相对于准直器的准直缝偏斜造成射线无法充分透过准直器的问题，以保证射线探测板上的信号能量强度满足清晰、完整成像的需求。
在其中一个实施方式中，安检设备还包括射线源位置调节组件，第一安装机构还包括用于连接射线发生器的第二安装组件；射线源位置调节组件与第二安装组件及设备机架活动连接，用于调节第二安装组件与第一安装组件及设备机架的相对位置。
如此设置，准直位置调节组件与射线源位置调节组件协同配合，能够更加方便地校正准直器与射线发生器之间的位置，有利于维保人员根据射线探测板能量强度，有针对性地调节准直位置调节组件与射线源位置调节组件中的至少一者，进而消除射线光路与准直缝之间的相对位置偏差，保证每个射线探测板的能量强度均达到成像需求。
在其中一个实施方式中，第一安装组件与设备机架相对滑动，二者间设有第一调节轨迹；准直位置调节组件包括第一推动单元及第二推动单元，第一推动单元及第二推动单元与设备机架活动连接，二者分别位于第一安装组件相对设置的两个侧部；第一推动单元能够正向带动第一安装组件沿第一调节轨迹正向运动并靠近第二推动单元，第二推动单元能够反向带动第一安装组件沿第一调节轨迹反向运动并靠近第一推动单元。
如此设置，维保人员可以对第一推动单元与第二推动单元分别进行正向操纵或反向操纵，并沿着第一调节轨迹对第一安装组件与设备机架之间的位置进行往复调节，从而多次调节准直器与设备机架和射线发生器之间的位置，直至准直缝与射线光路之间的相对位置达到成像需求，提高了校正准确率。
在其中一个实施方式中，第一调节轨迹包括第一条形孔，第一条形孔开设于第一安装组件第一端与设备机架中的一者，第一安装组件第一端与设备机架中的另一者开设有第一连接孔，第一安装机构还包括穿设第一条形孔与第一连接孔的第一紧固单元；及/或，第一调节轨迹包括第二条形孔，第二条形孔开设于第一安装组件第二端与设备机架中的一者，第一安装组件第二端与设备机架中的另一者开设有第二连接孔，第一安装机构还包括穿设第二条形孔与第二连接孔的第二紧固单元。
如此设置，第一安装组件的两端均能够相对于设备机架活动，维保人员既可以调整第一安装组件两端中的一者相对于设备机架的位置，从而校正准直缝与射线光路之间的角度偏差，也可以同时调整第一安装组件的两端相对于设备机架的位置，从而校正准直缝与射线光路之间的距离偏差。
在其中一个实施方式中，第一推动单元包括第一推动元件，第一推动元件与设备机架螺纹配合，能够相对靠近第一安装组件运动，并带动第一安装组件靠近第二推动单元运动；及/或，第二推动单元包括第二推动元件，第二推动元件与设备机架螺纹配合，能够相对靠近第一安装组件运动，并带动第一安装组件靠近第一推动单元运动。
如此设置，第一推动单元与第二推动单元通过螺纹配合形式与设备机架连接，能够提高维保人员校正第一安装组件相对于设备机架和射线发生器位置时的调节精度，手动输入操纵位移与第一安装组件相对于设备机架运动的输出位移之比更大，可以降低人为操纵误差的干扰。
在其中一个实施方式中，第一安装机构还包括与设备机架固定连接的第一固定组件，第一固定组件与第二安装组件滑动配合，二者间设有第二调节轨迹；射线源位置调节组件与第一固定组件活动连接，能够带动第二安装组件沿第二调节轨迹相对于第一固定组件运动。
如此设置，第二调节轨迹确定出射线发生器相对于设备机架的位置调整的运动轨迹，也即射线发生器相对于设备机架位置的运动轨迹具有了确定性和唯一性，易于控制并且可以消除误差干扰。
在其中一个实施方式中，第二调节轨迹包括第三条形孔，第三条形孔开设于第二安装组件与第一固定组件中的一者；第二安装组件与第一固定组件中的另一者开设有第三连接孔，第一安装机构还包括穿设第三条形孔及第三连接孔的第三紧固单元。
如此设置，第二安装组件可以沿第三条形孔的长度方向准确地相对于设备机架滑动，第三紧固单元可以在射线发生器与设备机架间的相对位置达到预期校正要求后将第二安装组件与第一固定组件固定，从而使射线发生器相对于设备机架保持固定。
在其中一个实施方式中，第一安装机构还包括固设于第一固定组件的第一限位元件及第二限位元件，第一限位元件用于限定第二安装组件沿第二调节轨迹运动的范围；第二限位元件用于导引第二安装组件沿第二调节轨迹滑动，并限制第二安装组件沿垂直于第二调节轨迹的方向滑动。
如此设置，第一限位元件与第二限位元件协同配合，限定出第二安装组件相对于第一固定组件的位置调节范围，同时提高了第二安装组件相对于第一固定组件运动轨迹的精确性，避免二者间的相对运动方向出现偏差。
在其中一个实施方式中，射线源位置调节组件包括第一调节元件、第一止挡元件及第二止挡元件，第一调节元件转动安装于第一固定组件，并与第二安装组件螺纹配合，第一止挡元件与第二止挡元件固定套设第一调节元件；第一止挡元件能够在第一调节元件正向转动时抵接第一固定组件，以限制第一调节元件沿轴向相对于第一固定组件运动，第二止挡元件能够在第一调节元件反向转动时抵接第一固定组件，以限制第一调节元件沿轴向相对于第一固定组件运动。
如此设置，第一调节元件通过第一止挡元件及第二止挡元件与第一固定组件协同配合，使第一调节元件与第二安装组件之间的螺旋运动分解为第一调节元件与第一固定组件的转动，以及第二安装组件相对于第一固定组件的平动，便于维保人员以转动第一调节元件的方式，实现第二安装组件相对于第一固定组件平行移动；此外，手动转动第一调节元件的输入位移量与第二安装组件相对于设备机架的输出位移之比更大，可以降低人为操纵误差的干扰。
在其中一个实施方式中，第二安装组件包括第一安装支架、第二安装支架及第一连接支架，第一安装支架与第二安装支架并排设置，第一连接支架的两端与第一安装支架及第二安装支架固定连接，射线源位置调节组件带动第一安装支架及/或第二安装支架，沿第一连接支架的轴向相对设备机架运动。
如此设置，第二安装组件的结构简单可靠，便于加工和装配，成本更低。
在其中一个实施方式中，第一安装支架包括第一接触件及第一支撑件，第二安装支架包括第二接触件及第二支撑件，第一接触件与第二接触件分别连接第一连接支架的两端，第一支撑件弯折连接于第一接触件相对远离设备机架的一侧，第二支撑件弯折连接于第二接触件相对远离设备机架的一侧。
如此设置，第二安装组件的承力性能更好，强度更高，能够稳定地搭载射线发生器。
在其中一个实施方式中，安检设备还包括射线发生器、准直器及射线探测板，射线发生器安装于第二安装组件，准直器安装于第一安装组件；射线探测板的数量为多个，多个射线探测板沿安检通道的周向排布并活动安装于设备机架。
本发明还提供一种基于安检设备的射线光路校正方法，安检设备还包括射线发生器、准直器及射线探测板，射线光路校正方法包括以下步骤：
接通射线发生器，发出射线作为测试信号；
通过射线探测板接收测试信号，并获得能量强度数据；
根据能量强度数据的分布特征，分析射线光路位置偏差的原因，并调节准直位置调节组件及/或射线探测板。
在其中一个实施方式中，安检设备还包括射线源位置调节组件，射线源位置调节组件与射线发生器及设备机架活动连接，根据能量强度数据的分布特征，分析射线光路位置偏差的原因，并调节准直位置调节组件及/或射线探测板，包括以下步骤：
根据能量强度数据的分布特征，调节射线源位置调节组件及/或准直器及/或射线探测板。
在其中一个实施方式中，调节射线源位置调节组件及/或准直器及/或射线探测板，包括以下步骤：
在每个射线探测板的能量强度均低于预设下限值的情况下，调节射线源位置调节组件，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值；
在射线探测板的能量强度沿安检通道的周向单调增加或单调减少的情况下，调节准直位置调节组件，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值；
在部分射线探测板的能量强度低于预设下限值的情况下，调节对应的射线探测板的角度，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值。
如此设置，维保人员根据能量强度数据分布特征和变化趋势，能够及时、方便地判断异常射线探测板的分布特点和分布规律，从而快速确定设备机架与射线源发生器、准直器及射线探测板三者中的哪一者存在位置偏差，进而有针对性地调节射线源位置调节组件、准直位置调节组件或异常射线探测板，缩短射线光路校正调试时间，提高校正的准确率和成功率。
附图说明
图1为本发明一个优选实施例的安检设备的立体结构示意图；
图2为本发明一个优选实施例的安检设备的部分结构示意图；
图3为本发明一个优选实施例的安检设备的部分结构俯视图；
图4为图3所示安检设备中X处的局部放大示意图；
图5为本发明另一个优选实施例的安检设备的部分结构示意图；
图6为本发明一个实施例中的第一安装机构的部分结构示意图；
图7为本发明一个实施例中的第一固定组件的结构示意图；
图8为本发明一个实施例中第一安装机构的部分结构俯视图；
图9为本发明一个实施例中的射线源位置调节组件的部分结构示意图；
图10为能量接收反馈装置在射线光路校正状态下的能量强度-射线探测板序号曲线图；
图11为能量接收反馈装置在射线探测板处于低水平能量接收状态的能量强度-射线探测板序号曲线图；
图12为能量接收反馈装置在射线探测板的能量强度沿预设方向单调增加状态下的能量强度-射线探测板序号曲线图；
图13为能量接收反馈装置在射线探测板的能量强度沿预设方向单调减少状态下的能量强度-射线探测板序号曲线图；
图14为能量接收反馈在部分射线探测板的能量强度低于预设下极限值状态下的能量强度-射线探测板序号曲线图。
附图标记说明：
100、射线光路校正装置；
10、第一安装机构；11、第一安装组件；113、第三条形孔；114、第一螺纹配合部；115、第二螺纹配合部；
12、第二安装组件；121、第一安装支架；1211、第一接触件；1212、第一支撑件；1213、第一勾部；1214、安装基面；122、第二安装支架；1221、第二接触件；1222、第二支撑件；1223、第二勾部；123、第一连接支架；124、第三螺纹配合部；
131、第一紧固单元；132、第二紧固单元；133、第三紧固单元；
14、第一固定组件；141、第一限位元件；142、第二限位元件；143、挡台；
20、准直位置调节组件；21、第一推动单元；211、第一推动元件；22、第二推动单元；221、第二推动元件；
30、射线源位置调节组件；31、第一调节元件；32、第一止挡元件；33、第二止挡元件；
200、安检设备；210、设备机架；213、第三连接孔；220、射线发生器；230、准直器；240、射线探测板；250、安检通道。
具体实施方式
下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“或/及”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
安检设备是一种通过X射线来探测行李或货物的设备，其运行的原理是X射线在穿透不同物质时会出现不同程度的能量强度衰减。在安检设备内的安检通道内壁设置多个接收X射线的探测板，接收穿透物品后的射线，随后将对应多个探测板上的多个不同强度能量强度信号转变为图像信号，即可得到物品的内部影像。
请参阅图1至图4，图1为本发明一个优选实施例的安检设备200的立体结构示意图；图2为本发明一个优选实施例的安检设备200的部分结构示意图；
图3为本发明一个优选实施例的安检设备200的部分结构俯视图；图4为图3所示安检设备200中X处的局部放大示意图。
本发明提供一种安检设备200，包括设备机架210，设备机架210围设形成供物品通过的安检通道250。此外，安检设备200还可以设置用于输送物品的输送装置、射线发生器220、准直器230以及射线探测板240。射线发生器220安装在设备机架210，用于发出射线并照射至安检通道250的内壁；准直器230安装在设备机架210，具有供射线透照穿过的准直缝；射线探测板240的数量为多个，能够安装在设备机架210并朝向安检通道250设置，用于接收射线。
值得说明的是，上述射线发生器220、准直器230以及射线探测板240并非构成安检设备200的必要装置，在其他实施方式中，安检设备200也可以不包括射线发生器220、准直器230和射线探测板240。
现有的安检设备存在以下问题：射线发生器与准直器、探测板之间存在位置偏差，造成探测板接收X射线的效果差、接受到的射线信号强度低，导致安检设备无法清晰、完整地成像，并且射线光路偏差难以校正。因此，如何使X射线准确、充分地照射至探测板，并且能够快速校正射线光路与准直器准直缝、探测板接收面之间相对位置偏差的，成为了安检设备行业内亟待解决的问题。
鉴于此，本发明提供的安检设备200还包括射线光路校正装置100，射线光路校正装置100用于调整射线光路在安检设备200中的位置，包括第一安装机构10及准直位置调节组件20。
第一安装机构10安装于设备机架210，能够连接射线发生器220，且包括用于连接准直器230的第一安装组件11；准直位置调节组件20活动连接于设备机架210，能够带动第一安装组件11运动并调节第一安装组件11相对于射线发生器220及设备机架210的位置，进而能够调节准直器230与射线发生器220的相对位置，以使射线光路占据安检通道250的径向截面。
通常射线发生器220的射线光路接近于一个扇形平面，安检通道250的径向即为物品在安检通道250内输送的方向。射线光路占据安检通道250的径向截面，意味着此时射线充分照射至构成安检通道250的内壁面上，并且被射线探测板240接收，因而位于安检通道250内任意位置，或者具有任意尺寸形状的物品都能接受射线透照，从而清晰、完整地获得该物品的图像画面。
本发明提供的安检设备200，通过准直位置调节组件20实现了准直器230相对于设备机架210以及射线发生器220的位置偏差校正，可以消除准直器230与射线发生器220以及射线探测板240之间的相对位置偏差，解决了因射线光路相对于准直器230的准直缝偏移或倾斜造成射线无法充分透过准直器230的问题，以保证射线探测板240上的信号能量强度满足清晰、完整成像的需求。
请再次参阅图1，并参阅图5至图9。图5为本发明另一个优选实施例的安检设备200的部分结构示意图；图6为本发明一个实施例中的第一安装机构10的部分结构示意图；图7为本发明一个实施例中的第一固定组件14的结构示意图；图8为本发明一个实施例中第一安装机构10的部分结构俯视图；图9为本发明一个实施例中的射线源位置调节组件30的部分结构示意图。
在本发明的一个实施方式中，射线光路校正装置100还包括射线源位置调节组件30，第一安装机构10还包括用于连接射线发生器220的第二安装组件12；射线源位置调节组件30与第二安装组件12及设备机架210活动连接，用于调节第二安装组件12与第一安装组件11及设备机架210的相对位置，进而实现了射线发生器220与准直器230及射线探测板240的相对位置。
如此设置，射线光路校正装置100集成了调节准直器230位置和调节射线发生器220位置的功能，准直位置调节组件20与射线源位置调节组件30协同配合，有利于维保人员根据射线探测板240接收到的能量的强度，有针对性地调节准直位置调节组件20与射线源位置调节组件30中的至少一者，进而消除射线光路与准直缝之间的相对位置偏差，保证每个射线探测板240的能量强度均达到成像需求。
请再次参阅图2。进一步地，第一安装组件11与设备机架210相对滑动设置，二者之间设有第一调节轨迹；准直位置调节组件20包括第一推动单元21及第二推动单元22，第一推动单元21及第二推动单元22均与设备机架210活动连接，二者分别位于第一安装组件11相对设置的两个侧部。
第一推动单元21能够靠近第二推动单元22并正向带动第一安装组件11沿第一调节轨迹正向运动，第二推动单元22能够靠近第一推动单元21并反向带动第一安装组件11沿第一调节轨迹反向运动。
具体地，第一安装组件11呈矩形板状结构，包括沿长度方向相对设置的第一端及第二端，第一安装组件11的长度方向与准直器230的准直缝的延伸方向相一致，即二者垂直于物品在安检通道250内的运动方向。第一安装组件11通过第一端及第二端与设备机架210滑动配合。第一调节轨迹包括第一条形孔(图中未标号)与第二条形孔(图中未标号)，第一条形孔开设于第一端相对靠近设备机架210的一侧，第二条形孔开设于第二端相对靠近设备机架210的一侧；设备机架210上开设有分别对应第一条形孔和第二条形孔的第一连接孔(图中未标号)及第二连接孔(图中未标号)。
第一推动单元21的数量为两个，位于第一安装组件11的一侧并分别对应第一端及第二端，第二推动单元22的数量为两个，位于第一安装组件11的另一侧并分别对应第一端及第二端，也即第一推动单元21与第二推动单元22分别位于第一安装组件11在宽度方向上相对设置的两侧的外部。
当维保人员操纵对应第一端或第二端的第一推动单元21正向运动时，对应的第一推动单元21正向带动第一端沿第一条形孔靠近第二推动单元22运动，或者正向带动第二端沿第二条形孔靠近第二推动单元22运动，如此则可以调整准直器230与射线发生器220的角度偏差，校正射线光路与准直缝的倾斜角度；同样地，当维保人员操纵对应第一端或第二端的第二推动单元22反向运动时，也可以校正射线光路与准直缝的倾斜角度。
当维保人员操纵对应第一端和第二端的两个第一推动单元21正向运动时，两个第一推动单元21正向带动第一安装组件11相对靠近两个第二推动单元22运动，如此则可以调整准直器230与射线发生器220的距离偏差，校正射线光路与准直缝的偏移距离；同样地，维保人员操纵对应第一端和第二端的两个第二推动单元22反向运动时，也可以校正射线光路与准直缝的偏移距离。
第一安装组件11的正向运动和反向运动，使得维保人员可以反复、多次地调试准直器230与设备机架210和射线发生器220之间的位置，直至准直缝与射线光路间的相对位置达到成像需求。
具体地，在本发明的优选实施例中，设备机架210固设有两个第一螺纹配合部114及两个第二螺纹配合部115，两个第一螺纹配合部114分别对应两个第一推动单元21，两个第二螺纹配合部115分别对应两个第二推动单元22；对应第一端的第一螺纹配合部114与第二螺纹配合部115之间的距离大于第一端的宽度方向尺寸，对应第二端的第一螺纹配合部114与第二螺纹配合部115之间的距离大于第二端的宽度方向尺寸，也即第一螺纹配合部114与第二螺纹配合部115之间具有供第一安装组件11沿第一条形孔和第二条形孔滑动的余量。
每个第一推动单元21包括一个第一推动元件211，第一推动元件211与第一螺纹配合部114螺纹配合并伸出对应的第一螺纹配合部114；每个第二推动单元22包括一个第二推动元件221，第二推动元件221与第二螺纹配合部115螺纹配合并伸出对应的第二螺纹配合部115。维保人员转动第一推动元件211，使之相对于第一螺纹配合部114螺旋运动并推动第一安装组件11靠近第二推动单元22运动，也可以转动第二推动元件221，使之相对于第二螺纹配合部115螺旋运动并推动第一安装组件11靠近第一推动单元21运动。
如此设置，第一推动单元21与第二推动单元22通过螺纹配合与设备机架210连接，能够提高维保人员校正第一安装组件11相对于设备机架210和射线发生器220位置时的调节精度，手动输入操纵位移与第一安装组件11相对于设备机架210运动的输出位移之比更大，可以降低人为操纵误差的干扰。
更进一步地，第一安装机构10还包括穿设第一条形孔与第一连接孔的第一紧固单元131，以及穿设第二条形孔与第二连接孔的第二紧固单元132。作为优选，第一紧固单元131与第二紧固单元132均为相互配合的螺栓与螺母。
如此设置，第一紧固单元131与第二紧固单元132可以在准直器230与设备机架210和射线发生器220间的相对位置达到预期校正要求后将第一安装组件11与设备机架210固定，从而使准直器230相对于设备机架210保持固定。
值得说明的是，上述正向运动/带动以及反向运动/带动，仅仅是对于第一安装组件11沿第一调节轨迹在两个相反方向上往复运动的区别性描述，并不与人为主观感知有关，例如，维保人员操纵第一安装组件11正向运动，既可以是靠近安检通道250进口处运动，也可以是靠近安检通道250出口处运动。
可以理解，在其他实施方式中，第一条形孔、第二条形孔也可以开设于设备机架210上，与之相适应地，第一安装组件11的第一端与第二端分别开设第一连接孔及第二连接孔；为了消除第一安装组件11相对于设备机架210活动时的阻塞或干涉，第一条形孔和第二条形孔可以是带有弧度的孔。
进一步地，在本发明的一个实施方式中，第一安装机构10还包括与设备机架210固定连接的第一固定组件14，第一固定组件14与第二安装组件12之间滑动配合，二者间设有第二调节轨迹；射线源位置调节组件30与第一固定组件14和第二安装组件12活动连接，操纵射线源位置调节组件30运动，即可带动第二安装组件12沿第二调节轨迹相对于第一固定组件14运动。
第二调节轨迹确定出射线发生器220相对于设备机架210的位置调整的运动轨迹，也即射线发生器220相对于设备机架210的运动轨迹具有了确定性和唯一性，易于控制并且可以消除误差干扰。
如图6至图7所示。第一固定组件14为板状结构，贴合固定于设备机架210的顶部，射线发生器220相对于第一固定组件14倾斜设置。第二调节轨迹包括第三条形孔113，第三条形孔113开设于第二安装组件12上与第一固定组件14相接触的区域，第一固定组件14开设有与第三条形孔113的宽度尺寸相适配的第三连接孔213。
请再次参阅图5至图7。第一安装机构10还包括穿设第三条形孔113及第三连接孔213的第三紧固单元133，第三紧固单元133用于切换第二安装组件12与第一固定组件14相对运动和相对固定的状态，并且使第二安装组件12与第一固定组件14能够且仅能沿第三条形孔113相对滑动。
优选地，第三条形孔113的长度方向与物品在安检通道250内运动的方向相一致，也即垂直于射线光路所在的扇形平面；第三紧固单元133包括穿设于第三条形孔113和第三连接孔213中的螺栓以及与螺栓配合的螺母。
请再次参阅图5。进一步地，第一固定组件14朝向第二安装组件12的一侧还固设有第一限位元件141及第二限位元件142，二者分别为相互垂直设置的矩形挡块。其中第一限位元件141垂直于第三条形孔113，用于止挡第二安装组件12以限定第二安装组件12沿第三条形孔113运动的范围；第二限位元件142能够与第二安装组件12滑动接触，用于导引第二安装组件12沿第三条形孔113滑动，以限制第二安装组件12在垂直于第三条形孔113的方向上与第一固定组件14错动。
如此设置，第一限位元件141与第二限位元件142协同配合，限定出第二安装组件12相对于第一固定组件14的位置变化范围，同时提高了第二安装组件12运动轨迹的精确性。
请再次参阅图9。在本发明的一个实施方式中，射线源位置调节组件30包括第一调节元件31、第一止挡元件32及第二止挡元件33，第一调节元件31转动安装于第一固定组件14，并与第二安装组件12螺纹配合，第一止挡元件32与第二止挡元件33固定套设在第一调节元件31的外周壁。
请一并参阅图7、图8和图9。具体地，第一调节元件31为螺栓，第一止挡元件32及第二止挡元件33为固定套设在第一调节元件31螺纹段外周的挡环，第一固定组件14靠近第二安装组件12一侧的外周凸设有挡台143，挡台143用于和第一调节元件31转动配合，第一止挡元件32与第二止挡元件33沿第一调节元件31的轴向分别位于挡台143的两侧。其中第一止挡元件32位于挡台143相对远离第二安装组件12的一侧，第二止挡元件33位于挡台143相对靠近第二安装组件12的一侧。
请再次参阅图5至图7。第二安装组件12包括第一安装支架121、第二安装支架122及第一连接支架123，第一安装支架121与第二安装支架122在物品运输方向上并排设置，第一连接支架123的两端固定连接第一安装支架121及第二安装支架122。第一调节元件31与第二安装支架122螺纹配合，能够带动第二安装组件12整体沿第一连接支架123的轴向相对第一固定组件14运动。
第一安装支架121包括一体成型的第一接触件1211及第一支撑件1212，第二安装支架122包括一体成型的第二接触件1221及第二支撑件1222，第一连接支架123的两端与第一接触件1211和第二接触件1221固定连接，第一支撑件1212沿远离第一固定组件14的方向相对于第一接触件1211弯折设置，第二支撑件1222沿远离第一固定组件14的方向相对于第二接触件1221弯折设置。
为了提高第二安装组件12与第一调节元件31螺纹配合的可靠性，第二安装支架122包括固设于第二接触件1221的第三螺纹配合部124。
第一接触件1211及第二接触件1221分别位于第一安装组件11宽度方向上的两侧，并使得第一支撑件1212与第二支撑件1222之间的距离大于第一安装组件11的宽度尺寸，此外第一支撑件1212与第二支撑件1222共同支撑射线发生器220，使得射线发生器220在安检设备200的高度方向上与第一安装组件11和准直器230之间形成间隙。
如此设置，第一安装支架121与第二安装支架122之间形成了用于让位第二安装组件12运动的空间余量，避免了在调节第一安装组件11与设备机架210间相对位置时，第一安装组件11与第二安装组件12出现干涉的不良。
作为优选，第一安装组件11的第二端与设备机架210的棱边相对应，第二安装组件12与第一安装组件11的第二端相对应。也即第一安装组件11第二端与第二安装组件12之间的距离小于第一端与第二安装组件12之间的距离。
请再次参阅图5。当操纵第一调节元件31正向转动时，如沿图5中的顺时针方向转动，第一调节元件31带动第二安装组件12沿第三条形孔113向靠近挡台143的方向滑动，同时第一止挡元件32抵接在挡台143远离第二安装组件12的一侧，以限制第一调节元件31与挡台143之间的轴向运动；当操纵第一调节元件31反向转动时，如沿图5中的逆时针方向转动，第一调节元件31带动第二安装组件12沿第三条形孔113远离挡台143滑动，同时第二止挡元件33抵接在挡台143靠近第二安装组件12的一侧，以限制第一调节元件31与挡台143之间的轴向运动。
如此设置，第一调节元件31与第二安装组件12的螺旋运动在第一止挡元件32、第二止挡元件33与挡台143的协同配合下，被分解为第一调节元件31与挡台143之间的转动和但第二安装组件12与第一固定组件14之间的平动。维保人员通过转动第一调节元件31即可校正射线光路与准直缝之间的距离偏差；此外，手动转动的第一调节元件31的输入位移与第二安装组件12相对于设备机架210的输出位移之比更大，可以降低认为操纵误差的影响。
更进一步地，第一支撑件1212以及第二支撑件1222均设有弯折成型的安装基面1214用于承托射线发生器220，第一支撑件1212与第二支撑件1222相对靠近第一连接支架123的一端分别设有第一勾部1213和第二勾部1223用于定位射线发生器220，以提高射线发生器220与第二安装组件12的连接可靠性。
可以理解的是，在其他实施方式中，第一调节元件31还可以与第一安装支架121螺纹配合，或者与第一安装支架121及第二安装支架122共同形成螺纹配合；第三条形孔113也可以开设于第一固定组件14上，与之相适应地第三连接孔213也可以开设于第二安装组件12；此外，第一固定组件14的设置，是便于设置挡台143、第一限位元件141、第二限位元件142以及第二调节轨迹的需要，在其他实施方式中，也可以不设置第一固定组件14。
本发明提供的安检设备200，可以使维保人员基于多个射线探测板240上的能量强度信号差异，以及在安检通道250周向上的射线探测板240能量强度分布规律，有针对性地调节准直位置调节组件20、射线源位置调节组件30以及射线探测板240中的至少一个，从而更加高效、准确地消除射线光路与准直缝、射线探测板240之间的相对位置偏差，射线发生器220与准直器230之间的角度偏差和距离偏差均能够得到修正。
本发明还提供一种基于上述安检设备的射线光路校正方法，在本方法所涉及的安检设备中，射线光路校正装置包括上述射线源位置调节组件，第一安装机构包括上述第二安装组件，射线源位置调节组件与第二安装组件及设备机架活动连接。射线光路校正方法包括以下步骤：
S10、接通射线发生器，发出射线作为测试信号；
S20、通过射线探测板接收测试信号，并获得能量强度数据；
S30、根据能量强度数据的分布特征，分析射线光路位置偏差的原因，并调节准直位置调节组件及/或射线探测板。
在其中一个实施方式中，安检设备还包括能量接收反馈装置，能量接收反馈装置用于将每个射线探测板接收到的测试信号的强度沿特定顺序，以曲线图的形式呈现出来。
请参阅图10，图10为能量接收反馈装置在射线光路校正状态下的能量强度-射线探测板序号曲线图。
优选地，能量接收反馈装置能够沿着安检通道的周向，将每个射线探测板的能量强度数据依次展示并自动绘制出能量强度-射线探测板序号的曲线图。当射线光路相对于准直缝和射线探测板的位置偏差处于合理范围内时，能量接收反馈装置绘制出的能量强度-射线探测板序号图如附图10所示。其中横坐标对应沿安检通道的周向排布的射线探测板序号，纵坐标为每个射线探测板的能量强度数值。
因而步骤S20，即通过射线探测板接收测试信号，并获得能量强度数据，包括以下步骤：
S21、通过射线探测板接收测试信号，并获得能量强度-射线探测板序号曲线图；
步骤S30，即根据能量强度数据的分布特征，分析射线光路位置偏差的原因，并调节准直位置调节组件及/或射线探测板，包括以下步骤：
S31、根据能量强度-射线探测板曲线图的变化趋势，分析射线光路位置偏差的原因，并调节准直位置调节组件及/或射线探测板。
如此设置，射线探测板的能量强度数据分布特征能够以能量强度-射线探测板序号曲线图的变化趋势呈现出来，因而分布特征更为直观、清楚，便于维保人员快速分析出射线光路位置偏差的原因，从而确定调节目标。
此时，射线光路校正方法包括以下步骤：
S10、接通射线发生器，发出射线作为测试信号；
S21、通过射线探测板接收测试信号，并获得能量强度-射线探测板序号曲线图；
S31、根据能量强度-射线探测板曲线图的变化趋势，分析射线光路位置偏差的原因，并调节准直位置调节组件及/或射线探测板。
进一步地，在其中一个实施方式中，安检设备还包括射线源位置调节组件，射线源位置调节组件通过与第二安装组件与射线发生器活动连接，并通过第一固定组件与设备机架活动连接；步骤S30，即根据能量强度数据的分布特征，分析射线光路位置偏差的原因，并调节准直位置调节组件及/或射线探测板，包括以下步骤：
S32、根据能量强度数据的分布特征，调节射线源位置调节组件及/或准直器及/或射线探测板。
如此设置，射线光路校正方法覆盖了射线发生器的位置偏差、准直器的位置偏差以及射线探测板的角度偏差这三重原因，提高了射线光路校正的准确性。
此时，射线光路校正方法包括以下步骤：
S10、接通射线发生器，发出射线作为测试信号；
S20、通过射线探测板接收测试信号，并获得能量强度数据；
S32、根据能量强度数据的分布特征，调节射线源位置调节组件及/或准直器及/或射线探测板。
进一步地，在步骤S32，即根据能量强度数据的分布特征，调节射线源位置调节组件及/或准直器及/或射线探测板，包括以下步骤：
S321、在每个射线探测板的能量强度均低于预设下限值的情况下，调节射线源位置调节组件，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值；
S322、在射线探测板的能量强度沿安检通道的周向单调增加或单调减少的情况下，调节准直位置调节组件，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值；
S323、在部分射线探测板的能量强度低于预设下限值的情况下，调节对应的射线探测板的角度，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值。
本方法中的预设下限值，是一个人为预先设置的射线探测板能量强度的容许最低值，一旦射线探测板上接收到的测试信号的能量强度低于该预设下限值，即表明该射线探测板所接收到的射线能量无法满足成像需求，需要调整准直位置调节组件、射线源位置调节组件与该射线探测板中的至少一者和设备机架之间的相对位置，直至该射线探测板接收到的能量强度不低于预设下限值。
请参阅图11至图14。图11为能量接收反馈装置在射线探测板处于低水平能量接收状态的能量强度-射线探测板序号曲线图；图12为能量接收反馈装置在射线探测板的能量强度沿预设方向单调增加状态下的能量强度-射线探测板序号曲线图；图13为能量接收反馈装置在射线探测板的能量强度沿预设方向单调减少状态下的能量强度-射线探测板序号曲线图；图14为能量接收反馈在部分射线探测板的能量强度低于预设下极限值状态下的能量强度-射线探测板序号曲线图。
上述步骤S321所对应的情形如图11所示。图11所反映的问题，其原因在于射线发生器与准直器之间存在距离偏差，导致射线光路与准直缝相互偏离。此时维保人员需通过射线源位置调节组件，带动射线发生器整体沿第三条形孔平移运动，消除射线光路所在平面与准直缝之间的距离，直至能量接收反馈装置生成如图10所示的能量强度-射线探测板序号曲线图。
上述步骤S322所对应的情形如图12至图13所示。图12与图13所反应的问题，其原因在于射线发生器与准直器之间存在角度偏差，导致射线光路与准直缝相互倾斜。此时维保人员需通过准直位置调节组件，带动准直器的第一端沿第一条形孔运动，或者带动准直器的第二端沿第二条形孔运动，消除射线光路所在平面与准直缝之间的夹角，直至能量接收反馈装置生成如图10所示的能量强度-射线探测板序号曲线图。
具体地，图12表明准直器相对靠近射线发生器的一端的偏斜程度较大，导致射线在准直缝相对靠近射线发生器的方向上的偏斜程度增大。此时维保人员带动第一安装组件相对靠近射线发生器一侧的第二端运动，直至能量接收反馈装置生成如图10所示的能量强度-射线探测板序号曲线图。
图13表明准直器相对远离射线发生器的一端的偏斜程度较大，导致射线在准直缝相对远离射线发生器的方向上的偏斜程度增大。此时维保人员带动第一安装组件相对靠近远离射线发生器一侧的第一端运动，直至能量接收反馈装置生成如图10所示的能量强度-射线探测板序号曲线图。
上述步骤S323所对应的情形如图14所示。图14所反应的问题，其原因在于，标号5、标号6、标号7以及标号8所对应的射线探测板相对于设备机架的位置不合理，无法充分地接收测试信号。此时，维保人员只需分别调整标号5-8所对应的射线探测板与设备机架的相对位置，改变异常射线探测板和射线光路的角度，直至能量接收反馈装置生成如图10所示的能量强度曲线。
值得说明的是，步骤S322中所示的单调增加和单调减少，并非是指能量强度曲线严格遵循数学定义的单调递增或单调递减，而是指能量强度曲线整体的宏观增减变化趋势，在实际应用中，能量强度曲线也会出现微小波动，如图12与图13所示。
此时，射线光路校正方法包括以下步骤：
S10、接通射线发生器，发出射线作为测试信号；
S20、通过射线探测板接收测试信号，并获得能量强度数据；
S321、在每个射线探测板的能量强度均低于预设下限值的情况下，调节射线源位置调节组件，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值；
S322、在射线探测板的能量强度沿安检通道的周向单调增加或单调减少的情况下，调节准直位置调节组件，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值；
S323、在部分射线探测板的能量强度低于预设下限值的情况下，调节对应的射线探测板的角度，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值。
进一步地，在步骤S10，即接通所述射线发生器，发出射线作为测试信号之前，还包括以下步骤：
S01、将能量接收反馈装置与射线探测板连接，并沿安检通道的周向依次对每个射线探测板标号。
如此设置，能量接收反馈装置可以更好地沿安检通道的周向呈现出每个射线探测板的能量强度，从而更加直观地展示射线探测板能量强度分布规律，方便维保人员快速判断射线光路位置出现偏差的原因，提高校正效率和便利性。
此时，射线光路校正方法包括以下步骤：
S01、将能量接收反馈装置与射线探测板连接，并沿安检通道的周向依次对每个射线探测板标号；
S10、接通射线发生器，发出射线作为测试信号；
S20、通过射线探测板接收测试信号，并获得能量强度数据；
S321、在每个射线探测板的能量强度均低于预设下限值的情况下，调节射线源位置调节组件，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值；
S322、在射线探测板的能量强度沿安检通道的周向单调增加或单调减少的情况下，调节准直位置调节组件，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值；
S323、在部分射线探测板的能量强度低于预设下限值的情况下，调节对应的射线探测板的角度，以使每个射线探测板的能量强度均不低于预设下限值。
以上所述实施方式的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施方式中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围内，对以上实施方式所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围内。
Claims (15)
1.一种安检设备，其特征在于，包括设备机架(210)、第一安装机构(10)及准直位置调节组件(20)，所述设备机架(210)设有安检通道(250)，所述第一安装机构(10)安装于所述设备机架(210)，能够连接射线发生器(220)，所述第一安装机构(10)包括用于连接准直器(230)的第一安装组件(11)；
所述准直位置调节组件(20)活动连接于所述设备机架(210)，能够带动所述第一安装组件(11)运动并调节所述第一安装组件(11)相对于射线发生器的位置，以使射线光路占据所述安检通道(250)的径向截面。
2.根据权利要求1所述的安检设备，其特征在于，所述安检设备还包括射线源位置调节组件(30)，所述第一安装机构(10)还包括用于连接射线发生器(220)的第二安装组件(12)；
所述射线源位置调节组件(30)与所述第二安装组件(12)及所述设备机架(210)活动连接，用于调节所述第二安装组件(12)与所述第一安装组件(11)及所述设备机架(210)的相对位置。
3.根据权利要求2所述的安检设备，其特征在于，所述第一安装组件(11)与所述设备机架(210)相对滑动，二者间设有第一调节轨迹；
所述准直位置调节组件(20)包括第一推动单元(21)及第二推动单元(22)，所述第一推动单元(21)及所述第二推动单元(22)与所述设备机架(210)活动连接，二者分别位于所述第一安装组件(11)相对设置的两个侧部；
所述第一推动单元(21)能够正向带动所述第一安装组件(11)沿所述第一调节轨迹正向运动并靠近所述第二推动单元(22)，所述第二推动单元(22)能够反向带动所述第一安装组件(11)沿所述第一调节轨迹反向运动并靠近所述第一推动单元(21)。
4.根据权利要求3所述的安检设备，其特征在于，所述第一调节轨迹包括第一条形孔，所述第一条形孔开设于所述第一安装组件(11)第一端与所述设备机架(210)中的一者，所述第一安装组件(11)第一端与所述设备机架(210)中的另一者开设有第一连接孔，所述第一安装机构(10)还包括穿设所述第一条形孔与所述第一连接孔的第一紧固单元(131)；及/或，
所述第一调节轨迹包括第二条形孔，所述第二条形孔开设于所述第一安装组件(11)第二端与所述设备机架(210)中的一者，所述第一安装组件(11)第二端与所述设备机架(210)中的另一者开设有第二连接孔，所述第一安装机构(10)还包括穿设所述第二条形孔与所述第二连接孔的第二紧固单元(132)。
5.根据权利要求3所述的安检设备，其特征在于，所述第一推动单元(21)包括第一推动元件(211)，所述第一推动元件(211)与所述设备机架(210)螺纹配合，能够相对靠近所述第一安装组件(11)运动，并带动所述第一安装组件(11)靠近所述第二推动单元(22)运动；及/或，
所述第二推动单元(22)包括第二推动元件(221)，所述第二推动元件(221)与所述设备机架(210)螺纹配合，能够相对靠近所述第一安装组件(11)运动，并带动所述第一安装组件(11)靠近所述第一推动单元(21)运动。
6.根据权利要求2所述的安检设备，其特征在于，所述第一安装机构(10)还包括与所述设备机架(210)固定连接的第一固定组件(14)，所述第一固定组件(14)与所述第二安装组件(12)滑动配合，二者间设有第二调节轨迹；
所述射线源位置调节组件(30)与所述第一固定组件(14)活动连接，能够带动所述第二安装组件(12)沿所述第二调节轨迹相对于所述第一固定组件(14)运动。
7.根据权利要求6所述的安检设备，其特征在于，所述第二调节轨迹包括第三条形孔(113)，所述第三条形孔(113)开设于所述第二安装组件(12)与所述第一固定组件(14)中的一者；所述第二安装组件(12)与所述第一固定组件(14)中的另一者开设有第三连接孔(213)，所述第一安装机构(10)还包括穿设所述第三条形孔(113)及所述第三连接孔(213)的第三紧固单元(133)。
8.根据权利要求6所述的安检设备，其特征在于，所述第一安装机构(10)还包括固设于所述第一固定组件(14)的第一限位元件(141)及第二限位元件(142)，所述第一限位元件(141)用于限定所述第二安装组件(12)沿所述第二调节轨迹运动的范围；
所述第二限位元件(142)用于导引所述第二安装组件(12)沿所述第二调节轨迹滑动，并限制所述第二安装组件(12)沿垂直于所述第二调节轨迹的方向滑动。
9.根据权利要求6所述的安检设备，其特征在于，所述射线源位置调节组件(30)包括第一调节元件(31)、第一止挡元件(32)及第二止挡元件(33)，所述第一调节元件(31)转动安装于所述第一固定组件(14)，并与所述第二安装组件(12)螺纹配合，所述第一止挡元件(32)与所述第二止挡元件(33)固定套设所述第一调节元件(31)；
所述第一止挡元件(32)能够在所述第一调节元件(31)正向转动时抵接所述第一固定组件(14)，以限制所述第一调节元件(31)沿轴向相对于所述第一固定组件(14)运动，所述第二止挡元件(33)能够在所述第一调节元件(31)反向转动时抵接所述第一固定组件(14)，以限制所述第一调节元件(31)沿轴向相对于所述第一固定组件(14)运动。
10.根据权利要求2所述的安检设备，其特征在于，所述第二安装组件(12)包括第一安装支架(121)、第二安装支架(122)及第一连接支架(123)，所述第一安装支架(121)与所述第二安装支架(122)并排设置，所述第一连接支架(123)的两端与所述第一安装支架(121)及所述第二安装支架(122)固定连接，所述射线源位置调节组件(30)带动所述第一安装支架(121)及/或所述第二安装支架(122)，沿所述第一连接支架(123)的轴向相对设备机架(210)运动。
11.根据权利要求10所述的安检设备，其特征在于，所述第一安装支架(121)包括第一接触件(1211)及第一支撑件(1212)，所述第二安装支架(122)包括第二接触件(1221)及第二支撑件(1222)，所述第一接触件(1211)与所述第二接触件(1221)分别连接所述第一连接支架(123)的两端，所述第一支撑件(1212)弯折连接于所述第一接触件(1211)相对远离所述设备机架(210)的一侧，所述第二支撑件(1222)弯折连接于所述第二接触件(1221)相对远离所述设备机架(210)的一侧。
12.根据权利要求2所述的安检设备，其特征在于，所述安检设备还包括射线发生器(220)、准直器(230)及射线探测板(240)，所述射线发生器(220)安装于所述第二安装组件(12)，所述准直器(230)安装于所述第一安装组件(11)；
所述射线探测板(240)的数量为多个，多个所述射线探测板(240)沿所述安检通道(250)的周向排布并活动安装于所述设备机架(210)。
13.一种基于安检设备的射线光路校正方法，其特征在于，所述安检设备为权利要求1-12中任意一项所述的安检设备；所述安检设备还包括射线发生器、准直器及射线探测板，所述射线光路校正方法包括以下步骤：
接通射线发生器，发出射线作为测试信号；
通过射线探测板接收所述测试信号，并获得能量强度数据；
根据所述能量强度数据的分布特征，分析射线光路位置偏差的原因，并调节所述准直位置调节组件及/或所述射线探测板。
14.根据权利要求13所述的射线光路校正方法，其特征在于，所述安检设备还包括射线源位置调节组件，所述射线源位置调节组件与所述射线发生器及所述设备机架活动连接；
所述根据所述能量强度数据的分布特征，分析射线光路位置偏差的原因，并调节所述准直位置调节组件及/或所述射线探测板，包括以下步骤：
根据所述能量强度数据的分布特征，调节所述射线源位置调节组件及/或所述准直器及/或所述射线探测板。
15.根据权利要求14所述的射线光路校正方法，其特征在于，所述调节所述射线源位置调节组件及/或所述准直器及/或所述射线探测板，包括以下步骤：
在每个所述射线探测板的能量强度均低于预设下限值的情况下，调节所述射线源位置调节组件，以使每个所述射线探测板的能量强度均不低于所述预设下限值；
在所述射线探测板的能量强度沿所述安检通道的周向单调增加或单调减少的情况下，调节所述准直位置调节组件，以使每个所述射线探测板的能量强度均不低于预设下限值；
在部分所述射线探测板的能量强度低于预设下限值的情况下，调节对应的所述射线探测板的角度，以使每个所述射线探测板的能量强度均不低于所述预设下限值。
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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