CN114019415A - 一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器 - Google Patents
一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器 Download PDFInfo
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- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims abstract description 30
- 238000009966 trimming Methods 0.000 claims description 36
- 230000005669 field effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 3
- 238000013468 resource allocation Methods 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 3
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 3
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004576 sand Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000008092 positive effect Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明涉及短路电流检测技术领域,尤其涉及一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,包括电流采样电阻RS、数字控制模块、参考电压源、多路选通器、输入缓冲器B1和比较器C1,电流采样电阻RS将放电回路的电流转换成采样电压VRS,数字控制模块设置输入缓冲器B1内部的阈值档位,采样电压VRS经过输入缓冲器B1,输出到比较器C1,若采样电压VRS大于输入缓冲器B1阈值VTH,则比较器C1输出发生翻转,发出短路警报。本发明在重复利用系统内部资源的同时,削减外部测试校准资源的消耗,提高量产效率,改进了短路电流检测器的精度和泛用性。
Description
技术领域
本发明涉及短路电流检测技术领域,尤其涉及一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器。
背景技术
短路电流检测器是电源类芯片必备的安全保护措施之一。在电源类芯片的使用过程中,由于用户操作不当或者负载故障等,使芯片的电流输出端的输出电流大于系统额定的数值,从而引起整体电路的损坏。而短路电流检测器的引入,则可以避免这样的电路损坏出现。一旦,采样电阻上的压降大于设定的阈值,短路电流检测器就会向系统发出警告,从而避免了电路的损坏。
但是,传统的短路电流检测器也有着精度差,阈值漂移,系统内部资源利用率低、校准消耗大量外部资源的问题。
发明内容
本发明提供了一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,重复利用系统内部资源的同时,削减外部测试校准资源的消耗,提高短路电流检测器的精度和泛用性。
为了实现本发明的目的,所采用的技术方案是:一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,包括电流采样电阻RS、数字控制模块、输入缓冲器B1和比较器C1,电流采样电阻RS将放电回路的电流转换成采样电压VRS,数字控制模块设置输入缓冲器B1内部的阈值档位,采样电压VRS经过输入缓冲器B1,输出到比较器C1,若采样电压VRS大于输入缓冲器B1阈值VTH,则比较器C1输出发生翻转,发出短路警报。
作为本发明的优化方案,可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器还包括参考电压源和多路选通器,参考电压源通过多路选通器将参考电压送入输入缓冲器B1,数字控制模块对输入缓冲器B1的修调位进行扫描,当比较器C1输出发生翻转时,数字控制模块对此时的修调位进行锁存,此时,数字控制模块设置的输入缓冲器B1内部的阈值VTH与输入的参考电压值相等或近似,完成自校准。
作为本发明的优化方案,可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器还包括第一开关SW1、第二开关SW2、第三开关SW3和第四开关SW4,多路选通器经过第二开关SW2与输入缓冲器B1的正输入端VINP相连,采样电阻RS的正输出端经过第一开关SW1与输入缓冲器B1正端VINP相连,采样电阻RS的负输出端经过第三开关SW3与输入缓冲器B1的负输入端VINN相连,输入缓冲器B1的负输入端VINN经过第四开关SW4与地相连,输入缓冲器B1的正输出端VOUTP与比较器C1的正输入端相连,输入缓冲器B1的负输出端VOUTN与比较器C1的负输入端相连,比较器C1的输出端VOUTSCD与数字控制模块相连。
作为本发明的优化方案,输入缓冲器B1 内部的P型场效应晶体管的正输入端VINP与由数字模块控制的N比特修调单元相连,并通过正输出端VOUTP输出,此支路由与N比特修调单元相连的电流源供电;P型场效应晶体管的负输入端VINN与一个由数字模块控制的阈值选择单元的负端相连,阈值选择单元的正端与另一个由数字模块控制的N比特修调单元相连,并通过负输出端VOUTN输出,此支路由与另一个由数字模块控制的N比特修调单元相连的电流源供电。
作为本发明的优化方案,输入缓冲器B1根据实际精度需求增减修调位和修调步长,在修调完成后,锁定修调位,防止修调位被篡改。
作为本发明的优化方案,数字控制模块、参考电压源、多路选通器和电流采样电阻RS,均可集成于芯片内部或置于芯片外部,或根据芯片内部资源分配情况,部分置于片内,部分置于片外。
本发明具有积极的效果:1)本发明具有可全集成、阈值可变、自校准、高精度的优点;
2)本发明在重复利用系统内部资源的同时,削减外部测试校准资源的消耗,提高量产效率,改进了短路电流检测器的精度和泛用性。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。
图1是本发明的整体原理框图;
图2是本发明输入缓冲器B1的内部结构图。
具体实施方式
如图1所示,本发明公开了一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,包括电流采样电阻RS、数字控制模块(Digital Control Module)、输入缓冲器B1(Buffer)和比较器C1(Comparator),电流采样电阻RS将放电回路的电流转换成采样电压VRS,数字控制模块设置输入缓冲器B1内部的阈值档位,采样电压VRS经过输入缓冲器B1,输出到比较器C1,若采样电压VRS大于输入缓冲器B1阈值VTH,阈值VTH为此时短路电流检测器的阈值,则比较器C1输出发生翻转,发出短路警报。其中,电流采样电阻RS两端的电势差VRS=IL*RS=VINP-VINN。VRS≥VTH时,短路电流检测器输出电平发生翻转,发出短路警报。输入缓冲器B1内置多个阈值档位,通过数字控制模块进行设置,即可对应不同大小的采样电阻和被检测电流的组合。
电流采样电阻RS与放电之路串联。可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器还包括参考电压源(Voltage Reference)和多路选通器(MUX),参考电压源通过多路选通器将参考电压送入输入缓冲器B1,数字控制模块对输入缓冲器B1的修调位进行扫描,当比较器C1输出发生翻转时,数字控制模块对此时的修调位进行锁存,此时,数字控制模块设置的输入缓冲器B1内部的阈值VTH与输入的参考电压值相等或近似,完成自校准。
可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器还包括第一开关SW1、第二开关SW2、第三开关SW3和第四开关SW4,通过第一开关SW1、第二开关SW2、第三开关SW3和第四开关SW4相互配合可对短路电流检测器的工作模式进行设置。多路选通器经过第二开关SW2与输入缓冲器B1的正输入端VINP相连,采样电阻RS的正输出端经过第一开关SW1与输入缓冲器B1正端VINP相连,采样电阻RS的负输出端经过第三开关SW3与输入缓冲器B1的负输入端VINN相连,输入缓冲器B1的负输入端VINN经过第四开关SW4与地相连,输入缓冲器B1的正输出端VOUTP与比较器C1的正输入端相连,输入缓冲器B1的负输出端VOUTN与比较器C1的负输入端相连,比较器C1的输出端VOUTSCD与数字控制模块相连。
可通过数字控制模块对短路电流检测器的阈值进行设置。设置阈值后,SW1和SW3断开,SW2和SW4闭合,数字控制模块将与设置的阈值相等的参考电压送入输入缓冲器B1的正输入端,途经SW2。同时,输入缓冲器B1的负输入端经过SW4连接到地。之后,数字控制模块对输入缓冲器B1内置的N比特修调位进行扫描,数字控制模块同时检测比较器C1的输出VOUTSCD,输出VOUTSCD的电平发生翻转时,对修调位进行锁存,一次自动校准完成。SW1闭合,SW2断开,电流采样电阻RS的正输出端与输入缓冲器B1的正输入端VINP重新相连,SW3闭合,SW4断开,电流采样电阻RS的负输出端与输入缓冲器B1的负输入端VINN重新相连。短路电流检测器的阈值发生变更时,上述校准过程将重新执行,以保证短路电流检测器在任意阈值的精度。
如图2所述,输入缓冲器B1 内部的P型场效应晶体管的正输入端VINP与由数字模块控制的N比特修调单元相连,并通过正输出端VOUTP输出,此支路由与N比特修调单元相连的电流源供电;P型场效应晶体管的负输入端VINN与由数字模块控制的阈值选择单元的负端相连,阈值选择单元的正端与另一个由数字模块控制的N比特修调单元相连,并通过负输出端VOUTN输出,此支路由与另一个由数字模块控制的N比特修调单元相连的电流源供电。输入缓冲器B1根据实际精度需求增减修调位和修调步长,若要实现高精度应用,只需缩减修调步长至精度范围内即可,修调灵活。在修调完成后,锁定修调位,防止修调位被篡改。
数字控制模块、参考电压源、多路选通器和电流采样电阻RS,均可集成于芯片内部或置于芯片外部,或根据芯片内部资源分配情况,部分置于片内,部分置于片外。通过设置在片外或片内,可实现全集成或部分集成,应用范围更广泛。
以上所述的具体实施例,对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明,所应理解的是,以上所述仅为本发明的具体实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所做的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,其特征在于:包括电流采样电阻RS、数字控制模块、输入缓冲器B1和比较器C1,所述的电流采样电阻RS将放电回路的电流转换成采样电压VRS,数字控制模块设置输入缓冲器B1内部的阈值档位,采样电压VRS经过输入缓冲器B1,输出到比较器C1,若采样电压VRS大于输入缓冲器B1阈值VTH,则比较器C1输出发生翻转,发出短路警报。
2.根据权利要求1所述的一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,其特征在于:可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器还包括参考电压源和多路选通器,参考电压源通过多路选通器将参考电压送入输入缓冲器B1,数字控制模块对输入缓冲器B1的修调位进行扫描,当比较器C1输出发生翻转时,数字控制模块对此时的修调位进行锁存,此时,数字控制模块设置的输入缓冲器B1内部的阈值VTH与输入的参考电压值相等或近似,完成自校准。
3.根据权利要求2所述的一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,其特征在于:可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器还包括第一开关SW1、第二开关SW2、第三开关SW3和第四开关SW4,多路选通器经过第二开关SW2与输入缓冲器B1的正输入端VINP相连,采样电阻RS的正输出端经过第一开关SW1与输入缓冲器B1正端VINP相连,采样电阻RS的负输出端经过第三开关SW3与输入缓冲器B1的负输入端VINN相连,输入缓冲器B1的负输入端VINN经过第四开关SW4与地相连,输入缓冲器B1的正输出端VOUTP与比较器C1的正输入端相连,输入缓冲器B1的负输出端VOUTN与比较器C1的负输入端相连,比较器C1的输出端VOUTSCD与数字控制模块相连。
4.根据权利要求3所述的一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,其特征在于:输入缓冲器B1 内部的P型场效应晶体管的正输入端VINP与由数字模块控制的N比特修调单元相连,并通过正输出端VOUTP输出,此支路由与N比特修调单元相连的电流源供电;P型场效应晶体管的负输入端VINN与由数字模块控制的阈值选择单元负端相连,阈值选择单元的正端与另一个由数字模块控制的N比特修调单元相连,并通过负输出端VOUTN输出,此支路由与另一个由数字控制模块的N比特修调单元相连的电流源供电。
5.根据权利要求4所述的一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,其特征在于:输入缓冲器B1根据实际精度需求增减修调位和修调步长,在修调完成后,可锁定修调位,防止修调位被篡改。
6.根据权利要求2-5任一项所述的一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器,其特征在于:数字控制模块、参考电压源、多路选通器和电流采样电阻RS,均可集成于芯片内部或置于芯片外部,或根据芯片内部资源分配情况,部分置于片内,部分置于片外。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202210008778.1A CN114019415B (zh) | 2022-01-06 | 2022-01-06 | 一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (2)
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---|---|
CN114019415A true CN114019415A (zh) | 2022-02-08 |
CN114019415B CN114019415B (zh) | 2022-04-15 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202210008778.1A Active CN114019415B (zh) | 2022-01-06 | 2022-01-06 | 一种可集成、阈值可变、自校准、高精度短路电流检测器 |
Country Status (1)
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---|---|
CN (1) | CN114019415B (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115407180A (zh) * | 2022-11-02 | 2022-11-29 | 上海阿米芯光半导体有限责任公司 | 可调阈值的信号强度检测电路及阈值电压调节方法和迟滞调节方法 |
CN117013483A (zh) * | 2023-05-17 | 2023-11-07 | 小米汽车科技有限公司 | 过流保护方法、装置、介质及车辆 |
Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5012181A (en) * | 1987-01-29 | 1991-04-30 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Apparatus for and method of internally calibrating an electrical calibrator |
WO2007122551A2 (en) * | 2006-04-25 | 2007-11-01 | Nxp B.V. | Circuit arrangement and corresponding method for voltage reference and/or for current reference |
WO2015009700A1 (en) * | 2013-07-16 | 2015-01-22 | Hella Corporate Center Usa, Inc. | Current sense circuit with offset calibration |
CN104376961A (zh) * | 2013-08-16 | 2015-02-25 | 西门子公司 | 消磁电路、磁调制系统及剩余电流装置 |
CN104569549A (zh) * | 2014-12-30 | 2015-04-29 | 上海贝岭股份有限公司 | 一种开关电源电流检测电路 |
CN106209041A (zh) * | 2016-09-14 | 2016-12-07 | 英特格灵芯片(天津)有限公司 | 一种过流保护电路 |
CN205811508U (zh) * | 2016-07-27 | 2016-12-14 | 深圳市科华恒盛科技有限公司 | 一种输出电流过流保护电路 |
CN106486963A (zh) * | 2016-11-25 | 2017-03-08 | 西安微电子技术研究所 | 一种星用抗辐照自恢复式过流/短路保护电路 |
CN106526295A (zh) * | 2016-12-26 | 2017-03-22 | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 | 自校准电流比较电路 |
CN107040249A (zh) * | 2017-03-29 | 2017-08-11 | 湖南汇德电子有限公司 | 一种用于比较器反转电压阈值修调判断的电路 |
CN107390009A (zh) * | 2017-07-28 | 2017-11-24 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种微电流测试装置和方法 |
US20170371362A1 (en) * | 2016-06-28 | 2017-12-28 | Silicon Laboratories Inc. | Apparatus for Electric Current Measurement or Calibration and Associated Methods |
WO2019060461A1 (en) * | 2017-09-19 | 2019-03-28 | The Regents Of University Of California | FRONTAL CURRENT MEASUREMENT OF EXTENDED DYNAMIC RANGE |
CN209119791U (zh) * | 2018-11-16 | 2019-07-16 | 南宁职业技术学院 | 过流保护电路 |
US20190346528A1 (en) * | 2018-05-08 | 2019-11-14 | Qualcomm Incorporated | Differential current sensing with robust path, voltage offset removal and process, voltage, temperature (pvt) tolerance |
US20190361087A1 (en) * | 2018-05-24 | 2019-11-28 | Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. | Differential circuit calibration apparatus and method |
CN110958021A (zh) * | 2019-12-26 | 2020-04-03 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种高速高精度电流舵数模转换器自校准系统及方法 |
CN112531646A (zh) * | 2020-12-03 | 2021-03-19 | 上海晶丰明源半导体股份有限公司 | 一种过压保护电路及方法、以及开关电源 |
CN214703769U (zh) * | 2021-03-15 | 2021-11-12 | 深圳市弦动科技有限公司 | 一种电机驱动器的过流检测电路 |
-
2022
- 2022-01-06 CN CN202210008778.1A patent/CN114019415B/zh active Active
Patent Citations (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5012181A (en) * | 1987-01-29 | 1991-04-30 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Apparatus for and method of internally calibrating an electrical calibrator |
WO2007122551A2 (en) * | 2006-04-25 | 2007-11-01 | Nxp B.V. | Circuit arrangement and corresponding method for voltage reference and/or for current reference |
WO2015009700A1 (en) * | 2013-07-16 | 2015-01-22 | Hella Corporate Center Usa, Inc. | Current sense circuit with offset calibration |
CN104376961A (zh) * | 2013-08-16 | 2015-02-25 | 西门子公司 | 消磁电路、磁调制系统及剩余电流装置 |
CN104569549A (zh) * | 2014-12-30 | 2015-04-29 | 上海贝岭股份有限公司 | 一种开关电源电流检测电路 |
US20170371362A1 (en) * | 2016-06-28 | 2017-12-28 | Silicon Laboratories Inc. | Apparatus for Electric Current Measurement or Calibration and Associated Methods |
CN205811508U (zh) * | 2016-07-27 | 2016-12-14 | 深圳市科华恒盛科技有限公司 | 一种输出电流过流保护电路 |
CN106209041A (zh) * | 2016-09-14 | 2016-12-07 | 英特格灵芯片(天津)有限公司 | 一种过流保护电路 |
CN106486963A (zh) * | 2016-11-25 | 2017-03-08 | 西安微电子技术研究所 | 一种星用抗辐照自恢复式过流/短路保护电路 |
CN106526295A (zh) * | 2016-12-26 | 2017-03-22 | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 | 自校准电流比较电路 |
CN107040249A (zh) * | 2017-03-29 | 2017-08-11 | 湖南汇德电子有限公司 | 一种用于比较器反转电压阈值修调判断的电路 |
CN107390009A (zh) * | 2017-07-28 | 2017-11-24 | 北京无线电计量测试研究所 | 一种微电流测试装置和方法 |
WO2019060461A1 (en) * | 2017-09-19 | 2019-03-28 | The Regents Of University Of California | FRONTAL CURRENT MEASUREMENT OF EXTENDED DYNAMIC RANGE |
US20190346528A1 (en) * | 2018-05-08 | 2019-11-14 | Qualcomm Incorporated | Differential current sensing with robust path, voltage offset removal and process, voltage, temperature (pvt) tolerance |
US20190361087A1 (en) * | 2018-05-24 | 2019-11-28 | Cirrus Logic International Semiconductor Ltd. | Differential circuit calibration apparatus and method |
CN209119791U (zh) * | 2018-11-16 | 2019-07-16 | 南宁职业技术学院 | 过流保护电路 |
CN110958021A (zh) * | 2019-12-26 | 2020-04-03 | 北京时代民芯科技有限公司 | 一种高速高精度电流舵数模转换器自校准系统及方法 |
CN112531646A (zh) * | 2020-12-03 | 2021-03-19 | 上海晶丰明源半导体股份有限公司 | 一种过压保护电路及方法、以及开关电源 |
CN214703769U (zh) * | 2021-03-15 | 2021-11-12 | 深圳市弦动科技有限公司 | 一种电机驱动器的过流检测电路 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN115407180A (zh) * | 2022-11-02 | 2022-11-29 | 上海阿米芯光半导体有限责任公司 | 可调阈值的信号强度检测电路及阈值电压调节方法和迟滞调节方法 |
CN117013483A (zh) * | 2023-05-17 | 2023-11-07 | 小米汽车科技有限公司 | 过流保护方法、装置、介质及车辆 |
CN117013483B (zh) * | 2023-05-17 | 2024-05-24 | 小米汽车科技有限公司 | 过流保护方法、装置、介质及车辆 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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CN114019415B (zh) | 2022-04-15 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant | ||
PE01 | Entry into force of the registration of the contract for pledge of patent right |
Denomination of invention: An integrated, variable threshold, self calibration, high-precision short-circuit current detector Granted publication date: 20220415 Pledgee: Bank of Nanjing Jiangbei District branch of Limited by Share Ltd. Pledgor: Yisiyuan semiconductor Nanjing Co.,Ltd. Registration number: Y2024980015816 |