CN113986708A - 一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN113986708A
CN113986708A CN202111304287.3A CN202111304287A CN113986708A CN 113986708 A CN113986708 A CN 113986708A CN 202111304287 A CN202111304287 A CN 202111304287A CN 113986708 A CN113986708 A CN 113986708A
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
time
real
performance
equipment
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202111304287.3A
Other languages
English (en)
Inventor
叶朋
郭建川
殷灿菊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Kedong Guangzhou Software Technology Co Ltd
Original Assignee
Kedong Guangzhou Software Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kedong Guangzhou Software Technology Co Ltd filed Critical Kedong Guangzhou Software Technology Co Ltd
Priority to CN202111304287.3A priority Critical patent/CN113986708A/zh
Publication of CN113986708A publication Critical patent/CN113986708A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/30Monitoring
    • G06F11/34Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment
    • G06F11/3409Recording or statistical evaluation of computer activity, e.g. of down time, of input/output operation ; Recording or statistical evaluation of user activity, e.g. usability assessment for performance assessment
    • G06F11/3428Benchmarking

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

本发明实施例公开了一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质。该性能测试方法应用于运行有实时操作系统的被测设备,包括:在确定测试设备进入对被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取所述测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,其中,所述测试设备以独立硬件计数器的方式进行计时操作;运行所述被测设备的目标性能测试程序;调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间;根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。本发明实施例的技术方案能够提高对实时操作系统进行实时性能指标测试的实时性和精确性。

Description

一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本发明实施例涉及计算机技术领域,尤其涉及一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
实时操作系统是对实时性有严格要求的专用计算机操作系统,其实时性体现在时间性能和运行时间的确定性,通常被广泛应用在汽车引擎控制领域、轨道交通领域、工业机器人领域、飞行器控制系统领域以及医疗领域等。现有实时操作系统的实时性能指标通常是指中断响应时间、任务切换时间以及任务抢占时间等。
现有实时操作系统的实时性能指标的测试通常采用实时操作系统通过时钟寄存器(TSM,Time System Memory)的方式获取计数器的差值得到。以时钟中断为例,测出每次响应时钟中断时定时器记录的时间,从中断发生到开始执行用户中断服务程序的第一条指令之间的时间,即中断响应时间为中断延迟与内核中断服务程序入口函数的执行时间的总和。现有技术中具体的测试方法为获取定时器的计数初值,初始化时装入的计数初值为T1,当计数器从默认值减到0时发生一次时钟中断,然后在中断服务程序函数开始处读出计数器数值,表明响应时计数器的脉冲数T2;最后,响应时间=(T1-T2)*1/频率(us)。
由于现有的实时性能指标的测试方法基于实时操作系统时钟寄存器实现,不能严格的在事件触发同时记录当前的计数器的值,导致开始时间存在一定的不确定性,造成实时性能指标测试的实时性和准确性较差。另外,由于不同实时操作系统之间系统调用时间开销及计数方式不完全相同,因此现有的性能指标测试方法无法保证测试数据的客观性,进而难以保证实时性能指标测试的精度。
发明内容
本发明实施例提供一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质,能够提高对实时操作系统进行实时性能指标测试的实时性和精确性。
第一方面,本发明实施例提供了一种性能测试方法,应用于运行有实时操作系统的被测设备,包括:
在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取所述测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,其中,所述测试设备以独立硬件计数器的方式进行计时操作;
运行所述被测设备的目标性能测试程序;
调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间;
根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
第二方面,本发明实施例还提供了一种性能测试系统,包括测试设备和被测设备,所述测试设备和被测设备通过预设连接方式进行通信连接;其中:
所述测试设备用于对所述被测设备进行性能测试;
所述被测设备用于在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,运行所述被测设备的目标性能测试程序,并调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,以根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
第三方面,本发明实施例还提供了一种电子设备,所述电子设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现本发明任意实施例所提供的性能测试方法。
第四方面,本发明实施例还提供了一种计算机存储介质,其上存储有计算机程序,该程序被处理器执行时实现本发明任意实施例所提供的性能测试方法。
本发明实施例通过在确定测试设备进入对被测设备进行性能测试的流程的情况下,被测设备获取测试设备对被测设备进行性能测试的第一测试时间,立即运行被测设备的目标性能测试程序,并调用测试设备的计数器获取接口,获取被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,以根据第一测试时间和第二测试时间确定被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标,由于采用以独立硬件计数器的方式进行计时操作的测试设备获取被测设备的测试时间,因此实现了将实时操作系统的实时性能指标的测试流程与被测设备相解耦,实时性能指标的测试流程不会受到被测设备的实时操作系统的干扰,解决了现有的基于实时操作系统时钟寄存器进行实时性能指标测试时导致的实时性和精确性较差等问题,能够提高对实时操作系统进行实时性能指标测试的实时性和精确性。
附图说明
图1是本发明实施例一提供的一种性能测试方法的流程图;
图2是本发明实施例二提供的一种性能测试方法的流程图;
图3是本发明实施例二提供的一种性能测试方法的示例流程图;
图4是本发明实施例三提供的一种性能测试系统的结构示意图;
图5是本发明实施例三提供的一种测试设备的示意图;
图6是本发明实施例三提供的一种性能测试系统的另一结构示意图;
图7是本发明实施例四提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是,此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明,而非对本发明的限定。
另外还需要说明的是,为了便于描述,附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部内容。在更加详细地讨论示例性实施例之前应当提到的是,一些示例性实施例被描述成作为流程图描绘的处理或方法。虽然流程图将各项操作(或步骤)描述成顺序的处理,但是其中的许多操作可以被并行地、并发地或者同时实施。此外,各项操作的顺序可以被重新安排。当其操作完成时所述处理可以被终止,但是还可以具有未包括在附图中的附加步骤。所述处理可以对应于方法、函数、规程、子例程、子程序等等。
本发明实施例的说明书和权利要求书及附图中的术语“第一”和“第二”等是用于区别不同的对象,而不是用于描述特定的顺序。此外术语“包括”和“具有”以及他们任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。例如包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备没有设定于已列出的步骤或单元,而是可包括没有列出的步骤或单元。
实施例一
图1是本发明实施例一提供的一种性能测试方法的流程图,本实施例可适用于实时且精确地测试实时操作系统的实时性能指标的情况,该方法可以由性能测试装置来执行,该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现,并一般可集成在执行本方法的电子设备中。该电子设备可以是运行有实时操作系统的被测设备,其中,被测设备可以是运行有实时操作系统的任意设备,例如可以是运行有实时操作系统的虚拟机设备等,本发明实施例对此并不进行限制。如图1所示,性能测试方法具体可以包括以下步骤:
S110、在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,其中,所述测试设备以独立硬件计数器的方式进行计时操作。
其中,测试设备可以是对被测设备进行性能测试的任意设备,例如可以是可以对被测设备进行性能测试的嵌入式设备等,本发明实施例对此并不进行限制。示例性的,测试设备可以以独立硬件计数器的方式进行计时操作。性能测试可以是对被测设备的性能进行测试,例如可以是实时性能的测试。第一测试时间可以是通过测试设备获取的一个时间,可以用于对被测设备进行性能测试。
在本发明实施例中,运行有实时操作系统的被测设备在确定测试设备进入对被测设备进行性能测试的流程的情况下,可以进一步获取测试设备的第一测试时间。可以理解的是,如果测试设备进入对被测设备进行性能测试的流程,说明测试设备已经处于工作状态,也即被测设备可以开始进行性能测试,则此时可以获取测试设备的第一测试时间。
上述技术方案,通过以独立硬件计数器的方式进行计时操作的测试设备对被测设备进行性能测试,使得实时性能指标的测试流程不会受到被测设备的实时操作系统的干扰,从而能够提高对实时操作系统进行实时性能指标测试的实时性和精确性。
S120、运行所述被测设备的目标性能测试程序。
其中,目标性能测试程序可以是对被测设备进行性能测试的一个目标程序,例如可以是中断程序,也可以是任务切换程序,或者还可以是任务抢占程序等,本发明实施例对此并不进行限制。可以理解的是,目标性能测试程序可以是在对被测设备进行性能测试之前安装的一个目标性能测试程序,也可以是被测设备本地存储的一个目标性能测试程序。
在本发明实施例中,被测设备在获取测试设备对被测设备进行性能测试的第一测试时间之后,立即运行被测设备的目标性能测试程序,以对被测设备的性能进行测试。可以理解的是,由于实时操作系统的实时性,获取第一测试时间与运行目标性能测试程序之间的时间延迟很小,可以忽略不计。
S130、调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间。
其中,计数器获取接口可以是获取计数器计时时间的接口。目标性能测试响应程序可以是对被测设备进行性能测试的一个目标响应程序。示例性的,在目标性能测试程序为中断程序时,目标性能测试响应程序可以是中断响应程序。在目标性能测试程序为任务切换程序时,目标性能测试响应程序可以是任务切换响应程序。在目标性能测试程序为任务抢占程序时,目标性能测试响应程序可以是任务抢占响应程序。第二测试时间可以是通过测试设备获取的另一个时间,可以用于结合第一测试时间对被测设备进行性能测试。
在本发明实施例中,被测设备在运行被测设备的目标性能测试程序之后,可以进一步调用测试设备的计数器获取接口,以获取被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,从而根据第二测试时间确定被测设备的实时性能指标。
S140、根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
其中,实时性能指标可以是表征被测设备运行的实时操作系统的实时性能的指标,例如可以是中断响应性能指标,也可以是任务切换性能指标,或者还可以是任务抢占性能指标等,本发明实施例对此并不进行限制。
在本发明实施例中,被测设备在调用测试设备的计数器获取接口,获取被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间之后,可以进一步根据第一测试时间和第二测试时间确定被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标,以实现对被测设备运行的实时操作系统的实时性能进行测试。示例性的,可以将第二测试时间与第一测试时间的差值作为被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
上述技术方案,通过采用被测设备对测试设备运行的实时操作系统的性能进行测试,能够采用独立计数的方式获取被测设备的测试时间,从而保证对实时操作系统进行实时性能指标测试的实时性和精确性。
可以理解的是,如果实时性能指标越优,说明被测设备的实时性能越优,则被测设备可以被广泛应用在对实时性能要求高的领域。相应的,如果实时性能指标较差,说明被测设备的实时性能较差,则被测设备无法被广泛应用在对实时性能要求高的领域。
本实施例的技术方案,通过在确定测试设备进入对被测设备进行性能测试的流程的情况下,被测设备获取测试设备对被测设备进行性能测试的第一测试时间,立即运行被测设备的目标性能测试程序,并调用测试设备的计数器获取接口,获取被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,以根据第一测试时间和第二测试时间确定被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标,由于采用以独立硬件计数器的方式进行计时操作的测试设备获取被测设备的测试时间,因此实现了将实时操作系统的实时性能指标的测试流程与被测设备相解耦,实时性能指标的测试流程不会受到被测设备的实时操作系统的干扰,解决了现有的基于实时操作系统时钟寄存器进行实时性能指标测试时导致的实时性和精确性较差等问题,能够提高对实时操作系统进行实时性能指标测试的实时性和精确性。
实施例二
图2是本发明实施例二提供的一种性能测试方法的流程图,本实施例是对上述各技术方案的进一步细化,给出了获取测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,以及根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标的多种具体可选的实现方式。本实施例中的技术方案可以与上述一个或多个实施例中的各个可选方案结合。如图2所示,该方法可以包括如下步骤:
S210、生成所述测试设备的设备初始化指令,并将所述设备初始化指令发送至所述测试设备,以使所述测试设备根据所述设备初始化指令进行设备初始化配置。
其中,设备初始化指令可以是被测设备生成的用于对测试设备进行初始化的指令,例如可以是开始工作的指令,也可以是工作时长的指令,或者还可以是工作次数的指令等,本发明实施例对此并不进行限制。设备初始化配置可以是根据设备初始化指令对测试设备进行初始化配置,以使测试设备进入工作状态。
在本发明实施例中,被测设备生成测试设备的设备初始化指令之后,并将设备初始化指令发送至测试设备,以使测试设备根据设备初始化指令进行设备初始化配置。测试设备完成初始化配置后,可以自动进入工作状态。
可选的,设备初始化指令可以包括工作使能指令、工作时间间隔指令和工作触发次数指令。
其中,工作使能指令可以是使测试设备进入工作状态的指令,例如可以是使测试设备进入中断状态的指令等,本发明实施例对此并不进行限制。工作时间间隔指令可以是测试设备进入工作的时间间隔的指令,例如可以是测试设备进入中断的中断时间间隔指令等,本发明实施例对此并不进行限制。工作触发次数指令可以是测试设备进入工作的触发次数的指令,例如可以是测试设备进入中断状态的中断触发次数指令等,本发明实施例对此并不进行限制。
具体的,被测设备生成测试设备的工作使能指令、工作时间间隔指令和工作触发次数指令之后,并将工作使能指令、工作时间间隔指令和工作触发次数指令发送至测试设备,以使测试设备根据工作使能指令、工作时间间隔指令和工作触发次数指令进行设备初始化配置。
S220、在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取所述测试设备中计数器的第一计时时间,并将所述第一计时时间确定为所述第一测试时间。
其中,第一计时时间可以是测试设备中计数器的一个计时时间,可以用于确定第一测试时间。
在本发明实施例中,在测试设备根据设备初始化指令进行设备初始化配置之后,测试设备进入对被测设备进行性能测试的流程,则被测设备可以进一步获取测试设备中计数器的当前计时时间作为第一计时时间,并将该第一计时时间确定为第一测试时间,从而根据第一测试时间确定被测设备的实时性能指标。
可选的,可以预先设置对被测设备进行性能测试的预设测试总次数,并在被测设备确定当前测试轮次与预设测试总次数不匹配的情况下,可以确定继续对被测设备进行性能测试。
其中,当前测试轮次可以是被测设备当前进行性能测试的次数。预设测试总次数可以是预设的对被测设备进行性能测试的总次数。
具体的,如果被测设备当前进行性能测试的次数未达到预设的性能测试总次数,则继续对被测设备进行性能测试,直到被测设备当前进行性能测试的次数等于预设的性能测试总次数,才结束对被测设备的性能测试。示例性的,如果预设测试总次数为100次,则说明需要对被测设备进行100次性能测试,也即在当前测试轮次不足100次时,需要继续对被测设备进行性能测试,直到对被测设备进行100次性能测试之后,结束对被测设备的性能测试。
S230、运行所述被测设备的目标性能测试程序。
S240、根据所述目标性能测试程序的类型触发匹配的目标性能测试响应程序。
在本发明实施例中,在被测设备触发被测设备的目标性能测试程序之后,可以进一步根据目标性能测试程序的类型触发匹配的目标性能测试响应程序,以获取第二测试时间,从而实现对被测设备运行的实时操作系统的性能测试。
示例性的,如果目标性能测试程序为中断程序,则与中断程序匹配的目标性能测试响应程序为中断响应程序。如果目标性能测试程序为任务切换程序,则与任务切换程序匹配的目标性能测试响应程序为任务切换响应程序。如果目标性能测试程序为任务抢占程序,则与任务抢占程序匹配的目标性能测试响应程序为任务抢占响应程序。
S250、在确定所述目标性能测试响应程序被触发的情况下,调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述测试设备中计数器的第二计时时间,并将所述第二计时时间确定为所述第二测试时间。
其中,第二计时时间可以是测试设备中计数器的另一个计时时间,可以用于确定第二测试时间。
在本发明实施例中,被测设备在根据目标性能测试程序的类型触发匹配的目标性能测试响应程序之后,可以进一步确定目标性能测试响应程序是否被触发,并在确定目标性能测试响应程序被触发时,调用测试设备的计数器获取接口,获取测试设备中计数器的当前计时时间作为第二计时时间,以将第二计时时间确定为第二测试时间,从而根据第二测试时间确定被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
S260、计算所述第二测试时间和所述第一测试时间之间的时间差值,并将所述时间差值作为当前测试轮次的实时性能指标测试结果。
其中,时间差值可以是第二测试时间与第一测试时间的差值。实时性能指标测试结果可以是当前对被测设备运行的实时操作系统进行实时性能测试得到的测试结果。可以理解的是,实时性能指标测试结果的数值越小,说明实时性能指标测试结果越优,也即被测设备的实时性能越优。
在本发明实施例中,在将第二计时时间确定为第二测试时间之后,可以进一步计算第二测试时间和第一测试时间之间的时间差值,并将该时间差值作为当前测试轮次的实时性能指标测试结果。可以理解的是,对被测设备运行的实时操作系统进行性能测试就是测试被测设备触发目标性能测试程序之后,被测设备是否能及时进入目标性能测试响应程序的性能,也即可以将第二测试时间和第一测试时间的时间差值作为当前测试轮次的实时性能指标测试结果。
上述技术方案,通过采用测试设备获取被测设备从触发目标性能测试程序到进入目标性能测试响应程序的时间差值,能够获取从触发目标性能测试程序到进入目标性能测试响应程序的相对时间,从而消除因获取测试时间导致的时延误差,确保了实时性能指标测试结果的精确性。
S270、根据预设测试总次数的实时性能指标测试结果确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
在本发明实施例中,被测设备在计算第二测试时间和第一测试时间之间的时间差值,并将时间差值作为当前测试轮次的实时性能指标测试结果之后,可以进一步确定预设测试总次数的实时性能指标测试结果,并根据预设测试总次数的实时性能指标测试结果确定被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。示例性的,如果预设测试总次数为100次,则可以获取100个的实时性能指标测试结果,也即根据100个实时性能指标测试结果确定被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
可选的,根据预设测试总次数的实时性能指标测试结果确定被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标,可以包括:根据各测试轮次的实时性能指标测试结果计算目标实时性能指标;将目标实时性能指标确定为被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
其中,目标实时性能指标可以是多个测试轮次的实时性能指标测试结果中的一个目标值,例如可以是多个测试轮次的实时性能指标测试结果中的最大值,也可以是多个测试轮次的实时性能指标测试结果中的最小值,或者还可以是多个测试轮次的实时性能指标测试结果的平均值等,本发明实施例对此并不进行限制。
具体的,被测设备在确定各测试轮次的实时性能指标测试结果之后,可以进一步计算各测试轮次的实时性能指标测试结果中的最大值,或各测试轮次的实时性能指标测试结果中的最小值,或各测试轮次的实时性能指标测试结果的平均值,以将各测试轮次的实时性能指标测试结果中的最大值,或各测试轮次的实时性能指标测试结果中的最小值,或各测试轮次的实时性能指标测试结果的平均值确定为被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。通常情况下,会选择各测试轮次的实时性能指标测试结果中的最小值作为被测设备的实时性能指标。
上述技术方案,通过对被测设备运行的实时操作系统进行多次性能测试,能够使被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标更客观且更稳定,实时性能指标测试结果更准确。
本实施例的技术方案,通过被测设备生成测试设备的设备初始化指令,并将设备初始化指令发送至测试设备,使测试设备根据设备初始化指令进行设备初始化配置,并在确定测试设备进入对被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备中计数器的第一计时时间,且将第一计时时间确定为第一测试时间之后,立即运行被测设备的目标性能测试程序,再根据目标性能测试程序的类型触发匹配的目标性能测试响应程序,并在确定目标性能测试响应程序被触发的情况下,调用测试设备的计数器获取接口,获取测试设备中计数器的第二计时时间,并将第二计时时间确定为第二测试时间,再计算第二测试时间和第一测试时间之间的时间差值,以将时间差值作为当前测试轮次的实时性能指标测试结果,从而根据预设测试总次数的实时性能指标测试结果确定被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标,由于采用测试设备获取被测设备的测试时间,因此实现了将实时操作系统的实时性能指标的测试流程与被测设备相解耦,实时性能指标的测试流程不会受到被测设备的实时操作系统的干扰,解决了现有的基于实时操作系统时钟寄存器进行实时性能指标测试时导致的实时性和精确性较差等问题,能够提高对实时操作系统进行实时性能指标测试的实时性和精确性。
为了使本领域技术人员更好的了解本发明实施例的性能测试方法,下面以中断性能测试为具体示例进行说明,图3是本发明实施例二提供的一种性能测试方法的示例流程图,如图3所示,具体过程包括有:
设置测试设备(如中断卡设备)的中断使能、中断时间间隔和中断触发次数;安装被测设备的中断程序,并在触发中断程序之前获取测试设备的第一测试时间T1;触发被测设备的中断程序;在进入中断响应程序时,获取测试设备的第二测试时间T2;计算第二测试时间和第一测试时间的时间差值(也即中断处理响应时间)T2-T1;判断测试是否达到10000次,若测试未达到10000次,则返回执行安装被测设备的中断程序,并继续对被测设备进行性能测试,若测试达到10000次,则结束对被测设备的性能测试;计算中断处理响应时间的最小值、平均值和最大值,从而实现对被测设备的性能测试。
上述技术方案,通过采用中断卡设备,同时记录从触发中断程序到进入中断响应程序的时间,记录的时间精度可达纳秒级,能够保证计数值的准确性,客观的对实时性能指标的测量,且适用于各种不同的操作系统。
实施例三
图4是本发明实施例三提供的一种性能测试系统的结构示意图,如图4所示,性能测试系统,包括测试设备410和被测设备420,所述测试设备410和被测设备420通过预设连接方式进行通信连接;其中:
所述测试设备410用于对所述被测设备420进行性能测试;
所述被测设备420用于在确定测试设备410进入对所述被测设备420进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备410对所述被测设备420进行性能测试的第一测试时间,运行所述被测设备420的目标性能测试程序,并调用所述测试设备410的计数器获取接口,获取所述被测设备420进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,以根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备420运行的实时操作系统的实时性能指标。
其中,预设连接方式可以是设定的连接测试设备410和被测设备420的方式,例如可以是PCIE(peripheral component interconnect express,高速串行计算机扩展总线标准)的连接方式等,以实现高速通信连接,本发明实施例对此并不进行限制。
在本发明实施例中,性能测试系统的测试设备410可以用于对被测设备420进行性能测试。与测试设备410通过预设连接方式进行通信连接的被测设备420可以用于在确定测试设备410进入对被测设备420进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备410对被测设备420进行性能测试的第一测试时间,运行被测设备420的目标性能测试程序,并调用测试设备410的计数器获取接口,获取被测设备420进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,以根据第一测试时间和第二测试时间确定被测设备420运行的实时操作系统的实时性能指标。可选的,测试设备410可以包括:处理器和计数器,处理器和计数器通信连接;其中:处理器用于在对测试设备410进行设备初始化配置之后,向计数器发送计时指令;计数器用于根据计时指令进行计时,以生成计时时间;其中,计时时间用于被测设备420确定第一测试时间和第二测试时间。
其中,处理器可以用于处理测试设备410中各种数据,例如可以是DSP微处理器等,本发明实施例对此并不进行限制。
具体的,性能测试系统的测试设备410可以包括处理器和计数器。测试设备410进行设备初始化之后,处理器可以向计数器发送计时指令,以使测试设备410的计数器在接收到计时指令时开始计时,从而生成计时时间。计数器生成的计时时间可以用于被测设备420确定第一测试时间和第二测试时间。
示例性的,图5是本发明实施例三提供的一种测试设备的示意图,如图5所示,测试设备410可以为中断卡,具体可以包括1xPCIE(peripheral component interconnectexpress x1,x1规格的高速串行计算机扩展总线标准)接口、四路SDI(serial digitalinterface,数字分量串行接口)输入输出接口、两个按键、两排GPIO(General purposeinput/output,通用型输入输出)引脚、一个SFP(Small Form-factor Pluggable,将千兆位电信号转换为光信号的接口)光口和DSP(Digital Signal Process,数字信号处理)处理器等。其中,LVDS(Low-Voltage Differential Signaling,低电压差分信号)右边上Pin3(第三引脚)和下Pin4(第四引脚)可以用做按键延长线插针口。测试设备410可以通过1xPCIE接口与测试设备420进行通信连接。测试设备410可以在中断产生时开始计数器的计数,并在接收到测试设备420的调用后取出计数器的值,以返回中断触发到收到调用的时间,该时间的单位为纳秒。测试设备410的软件部分可以实现对外的调用接口,包括中断卡初始化、开关中断和设置中断触发间隔、获取计数器等接口。
可选的,被测设备420具体可以用于:在确定测试设备410进入对被测设备420进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备410中计数器的第一计时时间,并将第一计时时间确定为第一测试时间;其中,测试设备410在确定当前测试轮次与预设测试总次数不匹配的情况下,确定对被测设备420进行性能测试。
可选的,被测设备420具体可以用于:根据目标性能测试程序的类型触发匹配的目标性能测试响应程序;在确定目标性能测试响应程序被触发的情况下,调用测试设备的计数器获取接口,获取测试设备410中计数器的第二计时时间,并将第二计时时间确定为第二测试时间。
可选的,被测设备420具体可以用于:计算第二测试时间和第一测试时间之间的时间差值,并将时间差值作为当前测试轮次的实时性能指标测试结果;根据预设测试总次数的实时性能指标测试结果确定被测设备420运行的实时操作系统的实时性能指标。
可选的,被测设备420具体可以用于:根据各测试轮次的实时性能指标测试结果计算目标实时性能指标;将目标实时性能指标确定为被测设备420运行的实时操作系统的实时性能指标。
可选的,被测设备420具体可以用于:生成测试设备410的设备初始化指令,并将设备初始化指令发送至测试设备410,以使测试设备410根据设备初始化指令进行设备初始化配置;其中,设备初始化指令包括工作使能指令、工作时间间隔指令和工作触发次数指令。
可选的,图6是本发明实施例三提供的一种性能测试系统的另一结构示意图,在一个具体的例子中,如图6所示,目标板可以作为被测设备,中断卡可以作为测试设备。目标板可以向中断卡发送设备初始化指令,中断卡可以通过DSP处理器根据设备初始化指令进行设备初始化配置,并通过计数器获取被测设备进行性能测试时的第一测试时间和目标性能测试响应程序被触发时的第二测试时间,从而将第二测试时间和第一测试时间之间的时间差值作为被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标测试结果。
本实施例的技术方案,通过由预设连接方式进行通信连接的测试设备410和被测设备420构成一种性能测试系统。该性能测试系统通过测试设备410对被测设备420进行性能测试,并在确定测试设备410进入对被测设备420进行性能测试的流程的情况下,被测设备420获取测试设备410对被测设备420进行性能测试的第一测试时间,运行被测设备420的目标性能测试程序,并调用测试设备410的计数器获取接口,获取被测设备420进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,以根据第一测试时间和第二测试时间确定被测设备420的实时性能指标,由于采用测试设备410对被测设备420运行的实时操作系统进行性能测试,因此实现了将实时操作系统的实时性能指标的测试流程与被测设备420相解耦,实时性能指标的测试流程不会受到被测设备420的实时操作系统的干扰,解决了现有的基于实时操作系统时钟寄存器进行实时性能指标测试时导致的实时性和精确性较差等问题,能够提高对实时操作系统进行实时性能指标测试的实时性和精确性。
实施例四
图7是本发明实施例四提供的一种电子设备的结构示意图。图7示出了适于用来实现本发明实施方式的示例性电子设备12的框图。图7显示的电子设备12仅仅是一个示例,不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图7所示,电子设备12以通用计算设备的形式表现。电子设备12的组件可以包括但不限于:一个或者多个处理器16,存储器28,连接不同系统组件(包括存储器28和处理器16)的总线18。
总线18表示几类总线结构中的一种或多种,包括存储器总线或者存储器控制器,外围总线,图形加速端口,处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说,这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(Industry StandardArchitecture,ISA)总线,微通道体系结构(Micro Channel Architecture,MCA)总线,增强型ISA总线、视频电子标准协会(Video Electronics Standards Association,VESA)局域总线以及外围组件互连(Peripheral Component Interconnect,PCI)总线。
电子设备12典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被电子设备12访问的可用介质,包括易失性和非易失性介质,可移动的和不可移动的介质。
存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质,例如随机存取存储器(Random Access Memory,RAM)30和/或高速缓存存储器32。电子设备12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例,存储系统34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图7未显示,通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图7中未示出,可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器,以及对可移动非易失性光盘(例如只读光盘(Compact Disc-Read Only Memory,CD-ROM)、数字视盘(Digital Video Disc-Read Only Memory,DVD-ROM)或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下,每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线18相连。存储器28可以包括至少一个程序产品,该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块,这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。
具有一组(至少一个)程序模块42的程序/实用工具40,可以存储在例如存储器28中,这样的程序模块42包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据,这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。
电子设备12也可以与一个或多个外部设备14(例如键盘、指向设备、显示器24等)通信,还可与一个或者多个使得用户能与该电子设备12交互的设备通信,和/或与使得该电子设备12能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡,调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(Input/Output,I/O)接口22进行。并且,电子设备12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(Local Area Network,LAN),广域网Wide Area Network,WAN)和/或公共网络,例如因特网)通信。如图所示,网络适配器20通过总线18与电子设备12的其它模块通信。应当明白,尽管图7中未示出,可以结合电子设备12使用其它硬件和/或软件模块,包括但不限于:微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、(Redundant Arrays of Independent Disks,RAID)系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。
处理器16通过运行存储在存储器28中的程序,从而执行各种功能应用以及数据处理,实现本发明实施例所提供的性能测试方法,该方法应用于被测设备,包括:在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,其中,所述测试设备以独立硬件计数器的方式进行计时操作;运行所述被测设备的目标性能测试程序;调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间;根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
实施例五
本发明实施例五还提供一种存储计算机程序的计算机存储介质,所述计算机程序在由计算机处理器执行时用于执行本发明上述实施例任一所述的性能测试方法,该方法应用于被测设备,包括:在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,其中,所述测试设备以独立硬件计数器的方式进行计时操作;运行所述被测设备的目标性能测试程序;调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间;根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
本发明实施例的计算机存储介质,可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ReadOnly Memory,ROM)、可擦式可编程只读存储器((Erasable Programmable Read OnlyMemory,EPROM)或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。
计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、电线、光缆、射频(Radio Frequency,RF)等等,或者上述的任意合适的组合。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码,所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++,还包括常规的过程式程序设计语言,诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络,包括局域网(LAN)或广域网(WAN)连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里所述的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种性能测试方法,其特征在于,应用于运行有实时操作系统的被测设备,包括:
在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取所述测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,其中,所述测试设备以独立硬件计数器的方式进行计时操作;
运行所述被测设备的所述目标性能测试程序;
调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间;
根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,包括:
获取所述测试设备中计数器的第一计时时间,并将所述第一计时时间确定为所述第一测试时间;
其中,在确定当前测试轮次与预设测试总次数不匹配的情况下,确定对所述被测设备进行性能测试。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,包括:
根据所述目标性能测试程序的类型触发匹配的目标性能测试响应程序;
在确定所述目标性能测试响应程序被触发的情况下,调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述测试设备中计数器的第二计时时间,并将所述第二计时时间确定为所述第二测试时间。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标,包括:
计算所述第二测试时间和所述第一测试时间之间的时间差值,并将所述时间差值作为当前测试轮次的实时性能指标测试结果;
根据预设测试总次数的实时性能指标测试结果确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据预设测试总次数的实时性能指标测试结果确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标,包括:
根据各测试轮次的实时性能指标测试结果计算目标实时性能指标;
将所述目标实时性能指标确定为所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程之前,还包括:
生成所述测试设备的设备初始化指令,并将所述设备初始化指令发送至所述测试设备,以使所述测试设备根据所述设备初始化指令进行设备初始化配置;
其中,所述设备初始化指令包括工作使能指令、工作时间间隔指令和工作触发次数指令。
7.一种性能测试系统,其特征在于,包括测试设备和被测设备,所述测试设备和被测设备通过预设连接方式进行通信连接;其中:
所述测试设备用于对所述被测设备进行性能测试;
所述被测设备用于在确定测试设备进入对所述被测设备进行性能测试的流程的情况下,获取测试设备对所述被测设备进行性能测试的第一测试时间,运行所述被测设备的目标性能测试程序,并调用所述测试设备的计数器获取接口,获取所述被测设备进入目标性能测试响应程序的第二测试时间,以根据所述第一测试时间和所述第二测试时间确定所述被测设备运行的实时操作系统的实时性能指标。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述测试设备包括:处理器和计数器,所述处理器和所述计数器通信连接;其中:
所述处理器用于在对所述测试设备进行设备初始化配置之后,向所述计数器发送计时指令;
所述计数器用于根据所述计时指令进行计时,以生成计时时间;
其中,所述计时时间用于所述被测设备确定所述第一测试时间和所述第二测试时间。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
一个或多个处理器;
存储装置,用于存储一个或多个程序;
当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行,使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的性能测试方法。
10.一种计算机存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-6中任一所述的性能测试方法。
CN202111304287.3A 2021-11-05 2021-11-05 一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质 Pending CN113986708A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111304287.3A CN113986708A (zh) 2021-11-05 2021-11-05 一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202111304287.3A CN113986708A (zh) 2021-11-05 2021-11-05 一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN113986708A true CN113986708A (zh) 2022-01-28

Family

ID=79746678

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202111304287.3A Pending CN113986708A (zh) 2021-11-05 2021-11-05 一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113986708A (zh)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0762278A1 (en) * 1995-08-30 1997-03-12 Motorola, Inc. Data processor with built-in emulation circuit
CN112115047A (zh) * 2020-10-22 2020-12-22 麒麟软件有限公司 一种硬实时操作系统延时测试方法及系统
CN112597049A (zh) * 2020-12-28 2021-04-02 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 一种中断响应时间测试方法、设备及介质

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0762278A1 (en) * 1995-08-30 1997-03-12 Motorola, Inc. Data processor with built-in emulation circuit
CN112115047A (zh) * 2020-10-22 2020-12-22 麒麟软件有限公司 一种硬实时操作系统延时测试方法及系统
CN112597049A (zh) * 2020-12-28 2021-04-02 济南浪潮高新科技投资发展有限公司 一种中断响应时间测试方法、设备及介质

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张波: "《空面导弹系统设计》", 31 December 2013 *
杨雅雯: "高可靠性嵌入式仿真测试平台的硬件逻辑设计", 《中国优秀博硕士学位论文全文数据库(硕士)信息科技辑》 *
程敬原: "《VxWorks软件开发项目实例完全解析》", 31 October 2005 *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9355002B2 (en) Capturing trace information using annotated trace output
US20080137800A1 (en) Method, Apparatus, and Program for Detecting the Correlation Between Repeating Events
US10324816B2 (en) Checking a computer processor design for soft error handling
CN109783345B (zh) 一种小程序性能测试方法和系统
WO2023207965A1 (zh) 芯片验证方法及平台
CN112115047B (zh) 一种硬实时操作系统延时测试方法及系统
US9852037B2 (en) Efficiency of cycle-reproducible debug processes in a multi-core environment
US10546279B2 (en) Scenario based logging
CN112286750A (zh) 一种gpio验证方法、装置、电子设备和介质
CN107003828B (zh) 图形指令的仪器化
CN113986708A (zh) 一种性能测试方法、系统、装置、电子设备及存储介质
CN115470125B (zh) 基于日志文件的调试方法、设备以及存储介质
CN107168776B (zh) 一种事件统计方法、装置、设备及存储介质
CN107291617B (zh) 一种基于隐式污点传播的漏洞分析方法
CN109885442B (zh) 性能分析方法、装置、设备及存储介质
US9619312B2 (en) Persistent command parameter table for pre-silicon device testing
CN109726693B (zh) 用于评估设备环境噪声的方法、装置、介质及电子设备
CN110085237B (zh) 交互过程的恢复方法、装置及设备
CN112540288B (zh) 用于硅后芯片验证的方法、系统、设备以及存储介质
CN116594862B (zh) Dbms的测试方法、装置、电子设备及可读存储介质
US11093346B2 (en) Uninterrupted backup operation using a time based approach
CN112650687B (zh) 引擎调度动作执行优先级的测试方法、装置、设备及介质
CN113407408B (zh) 数据传输规则验证方法、装置、设备和存储介质
US10261925B2 (en) Enhanced techniques for detecting programming errors in device drivers
US20200379851A1 (en) Uninterrupted restore operation using a time based approach

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20220128

RJ01 Rejection of invention patent application after publication