CN113986052B - 一种提高触控灵敏度的驱动方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种提高触控灵敏度的驱动方法，包括如下步骤：S1：当面板上电后，IC单独用一帧的时间来侦测Tr和Tf，在这一帧的时间内IC会给TP sensor发送检测信号，根据侦测到的充放电所产生电流的时间来判断TP讯号的Tr和Tf，获得数据后IC进入矫正模式；S2：在矫正模式中，IC依据所测得的TP信号的Tr和Tf数据来矫正数据线和扫描线的信号，将数据线和扫描线信号的Tr和Tf修改到和TP信号的Tr和Tf一致，在下一次面板进入触控时序时IC正常输出矫正后的TP信号；S3：每隔一定周期，重新矫正三个信号的Tr和Tf同步。本发明改善触控信号减少寄生电容，可有效减少寄生电容的出现，改善TP Demux结构的触控灵敏度，从而改善触控灵敏度，优化触控体验。

Description

一种提高触控灵敏度的驱动方法

技术领域

本发明属于触控显示屏技术领域，具体涉及一种提高触控灵敏度的驱动方法。

背景技术

传统的TP触控结构（如图1所示），由IC一个通道控制一个TP sensor（触控感应器件），若想实现更灵敏、精度更高的触控，则需要增加IC通道数，而IC尺寸则会变大，且面板Fanout区（布线区）走线会增加，从而导致面板下border（边框）增大；

图2为Demux（多路输出选择器）结构的一种，采用一对三的驱动结构，由IC一个通道控制三个TP sensor。使用Demux技术可降低驱动IC通道数，相比非Demux设计，可减少面板Fanout区走线，节省面板下border，提高屏占比。

但是，若采用Demux驱动结构，IC的TP走线就需要通过TFT控制TP sensor，相比较单一TP走线的结构，增加TFT会使整个TP走线的RC loading增加，从而导致TP信号（TP走线传递到TP Sensor的信号）出现上升沿时间和下降沿时间变差，而数据线和扫描线上的同驱讯号的上升沿时间（Tr）和下降沿时间（Tf）不变，因此数据线、扫描线对TP sensor的压降不同从而出现寄生电容（如图3所示），导致影响触控体验，为此，我们提出一种提高触控灵敏度的驱动方法，以解决上述背景技术中提到的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种提高触控灵敏度的驱动方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种提高触控灵敏度的驱动方法，包括如下步骤：

S1：当面板上电后，IC单独用一帧的时间来侦测Tr和Tf，在这一帧的时间内IC会给TP sensor发送检测信号，根据侦测到的充放电所产生电流的时间来判断TP讯号的Tr和Tf，获得数据后IC进入矫正模式；

S2：在矫正模式中，IC依据所测得的TP信号的Tr和Tf数据来矫正数据线和扫描线的信号，将数据线和扫描线信号的Tr和Tf修改到和TP信号的Tr和Tf一致，在下一次面板进入触控时序时IC正常输出矫正后的数据线和扫描线信号的Tr和Tf；

当IC发送侦测信号侦测TP讯号的Tr和Tf与IC发送侦测信号侦测数据线和扫描线讯号的Tr和Tf不一致时，需将数据线和扫描线信号的Tr和Tf修改到和TP信号的Tr和Tf一致后再输出；

当IC发送侦测信号侦测TP讯号的Tr和Tf与IC发送侦测信号侦测数据线和扫描线讯号的Tr和Tf一致时，正常输出数据线和扫描线信号即可；

S3：每隔一定周期IC会检测一次触控时序的TP信号的Tr和Tf，并重新矫正三个信号的Tr和Tf同步，不断重复以上步骤即可。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明提供的一种提高触控灵敏度的驱动方法，本发明改善触控信号减少寄生电容，可有效减少寄生电容的出现，改善TP Demux结构的触控灵敏度，从而改善触控灵敏度，优化触控体验。

附图说明

图1为传统TP触控结构示意图；

图2为TP Demux触控结构示意图；

图3为耦合电容示意图；

图4为面板正常的触控信号示意图；

图5为TP Demux 异常TP信号示意图；

图6为矫正后触控信号示意图；

图7为本发明一种提高触控灵敏度的驱动方法的流程示意图。

实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

传统的TP触控结构（如图1所示），由IC一个通道控制一个TP sensor（触控感应器件），若想实现更灵敏、精度更高的触控，则需要增加IC通道数，而IC尺寸则会变大，且面板Fanout区（布线区）走线会增加，从而导致面板下border（边框）增大；

图2为Demux（多路输出选择器）结构的一种，采用一对三的驱动结构，由IC一个通道控制三个TP sensor。使用Demux技术可降低驱动IC通道数，相比非Demux设计，可减少面板Fanout区走线，节省面板下border，提高屏占比。

但是，若采用Demux驱动结构，IC的TP走线就需要通过TFT控制TP sensor，相比较单一TP走线的结构，增加TFT会使整个TP走线的RC loading增加，从而导致TP信号（TP走线传递到TP Sensor的信号）出现上升沿时间和下降沿时间变差，而数据线和扫描线上的同驱讯号的上升沿时间（Tr）和下降沿时间（Tf）不变，因此数据线、扫描线对TP sensor的压降不同从而出现寄生电容（如图3所示），导致影响触控体验，图3中C1为数据线对TP Sensor耦合电容，C2为扫描线对TP Sensor耦合电容。

面板正常的触控信号如图4所示，TP 走线与数据线、扫描线的压降保持一致。但是Demux结构会有寄生电容影响TP Sensor的触控信号，造成触控不良，如图5所示。

为此，本发明提供了如图5-7的一种提高触控灵敏度的驱动方法，包括如下步骤：

S1：当面板上电后，IC单独用一帧的时间来侦测Tr和Tf，在这一帧的时间内IC会给TP sensor发送检测信号，根据侦测到的充放电所产生电流的时间来判断TP讯号的Tr和Tf，获得数据后IC进入矫正模式；

S2：如图6所示，在矫正模式中，IC依据所测得的TP信号的Tr和Tf数据来矫正数据线和扫描线的信号，将数据线和扫描线信号的Tr和Tf修改到和TP信号的Tr和Tf一致，在下一次面板进入触控时序时IC正常输出矫正后的数据线和扫描线信号的Tr和Tf；

S3：每隔一定周期IC会检测一次触控时序的TP信号的Tr和Tf，并重新矫正三个信号的Tr和Tf同步，不断重复以上步骤即可。

综上所述，与现有技术相比，本发明改善触控信号减少寄生电容，可有效减少寄生电容的出现，改善TP Demux结构的触控灵敏度，从而改善触控灵敏度，优化触控体验。

最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (3)

1.一种提高触控灵敏度的驱动方法，其特征在于：包括如下步骤：

S1：当面板上电后，IC单独用一帧的时间来侦测Tr和Tf，在这一帧的时间内IC会给TPsensor发送检测信号，根据侦测到的充放电所产生电流的时间来判断TP讯号的Tr和Tf，获得数据后IC进入矫正模式；

S2：在矫正模式中，IC依据所测得的TP信号的Tr和Tf数据来矫正数据线和扫描线的信号，将数据线和扫描线信号的Tr和Tf修改到和TP信号的Tr和Tf一致，在下一次面板进入触控时序时IC正常输出矫正后的数据线和扫描线信号的Tr和Tf；

S3：每隔一定周期IC会检测一次触控时序的TP信号的Tr和Tf，并重新矫正三个信号的Tr和Tf同步，不断重复以上步骤即可。

2.根据权利要求1所述的一种提高触控灵敏度的驱动方法，其特征在于：所述步骤S2中，当IC发送侦测信号侦测TP讯号的Tr和Tf与IC发送侦测信号侦测数据线和扫描线讯号的Tr和Tf不一致时，需将数据线和扫描线信号的Tr和Tf修改到和TP信号的Tr和Tf一致后再输出。

3.根据权利要求1所述的一种提高触控灵敏度的驱动方法，其特征在于：所述步骤S2中，当IC发送侦测信号侦测TP讯号的Tr和Tf与IC发送侦测信号侦测数据线和扫描线讯号的Tr和Tf一致时，正常输出数据线和扫描线信号即可。