CN113984338A - 一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质 - Google Patents
一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113984338A CN113984338A CN202111230244.5A CN202111230244A CN113984338A CN 113984338 A CN113984338 A CN 113984338A CN 202111230244 A CN202111230244 A CN 202111230244A CN 113984338 A CN113984338 A CN 113984338A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- laser
- wavelength
- temperature
- theoretical
- mode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 32
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims abstract description 44
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 13
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 6
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 claims description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 abstract description 14
- 230000005284 excitation Effects 0.000 abstract description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 3
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 238000013528 artificial neural network Methods 0.000 description 1
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 1
- 230000005496 eutectics Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
- G01R31/2601—Apparatus or methods therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
Abstract
本发明涉及一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质，该方法包括：获取所述温控激光器对应的预设映射关系；采集所述温控激光器在不同环境下的实测激光波长；根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。本发明全面的激发激光器的跳模激发环境，提高激光器跳摸被检测出的概率，误判率大大降低，实施简单，能够充分使用现有的激光器测试硬件方案。
Description
技术领域
本发明涉及半导体激光技术领域，尤其涉及一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质。
背景技术
对于DFB半导体激光器而言，由于环境的变化导致的激光器内部模式竞争发生变化，优势纵模和被抑制的纵模发生反转，导致激光器输出波长和功率发生变化，这个现象叫做激光器的跳模。在通信和传感类应用中，跳模会导致通信中断或是系统异常等严重问题，是半导体激光器厂商在生产检测环节极力控制的重要指标。
目前常见的激光器跳模检测方法是功率线性度控制方法，此方法基于对激光器的PI曲线进行微分计算，将微分值存在较大变化的激光器认为是有跳模的激光器。此方法实现起来比较简单，但是存在一下问题，一方面，测试基于当前环境情况(温度，电流等)，难以有效激发激光器跳模；另一方面，测试微分值的变化量阈值选取是经验值，误判率比较高。因此，如何实现实用且高效的温控激光器跳模监测方法是亟待解决的问题。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种温控激光器跳模检测方法及装置，用以克服现有技术中对温控激光器跳模激发困难且监测不准确的问题。
本发明提供一种温控激光器跳模检测方法，包括：
获取所述温控激光器对应的预设映射关系；
采集所述温控激光器在不同环境下的实测激光波长；
根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
进一步地，所述根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象，包括：
根据所述实测激光波长，确定所述温控激光器的实际波长差；
根据所述预设映射关系，确定所述温控激光器的理论波长差；
根据所述理论波长差和所述实际波长差，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
进一步地，所述根据所述实测激光波长，确定所述温控激光器的实际波长差，包括：
根据多组不同功率下测得的所述实测激光波长，确定两组所述实测激光波长之间的所述实际波长差。
进一步地，所述实测激光波长包括第一实测波长和第二实测波长，所述根据所述实测激光波长，确定所述温控激光器的实际波长差，包括：
获取在第一实际功率下生成的所述第一实测波长和在第二实际功率下生成的所述第二实测波长；
根据所述第一实测波长和所述第二实测波长之差，确定所述实际波长差。
进一步地，所述预设映射关系包括所述温控激光器的理论激光波长和理论功率的对应关系，所述根据所述预设映射关系，确定所述温控激光器的理论波长差，包括：
根据所述第一实际功率和所述第二实际功率，确定对应的所述第一理论功率和所述第二理论功率；
根据所述第一理论功率和所述预设映射关系，确定对应的第一理论波长；
根据所述第二理论功率和所述预设映射关系，确定对应的第二理论波长；
根据所述第一理论波长和所述第二理论波长之差，确定所述理论波长差。
进一步地，所述预设映射关系通过如下公式表示：
λP＝λ+(T+P*θ-K)*H
其中，λP表示为理论波长，所述理论波长包括所述第一理论波长或所述第二理论波长，λ表示所述温控激光器在预设环境温度下的波长，T表示温控温度，P表示所述理论功率，θ表示所述温控激光器和垫片之间的热阻，K表示所述预设环境温度，H表示预设常数。
进一步地，所述根据所述理论波长差和所述实际波长差，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象，包括：
根据所述理论波长差和所述实际波长差，确定对应的误差值；
根据所述误差值，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
进一步地，所述根据所述误差值，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象，包括：
若所述误差值超过预设范围，则判断所述温控激光器在所述第一实际功率和所述第二实际功率之内的功率范围发生了跳模现象。
进一步地，在各测点上收发信号的同时，测量并记录包括水文情况、风浪情况、航船情况中至少一种的同步环境参数。
本发明还提供一种温控激光器跳模检测装置，包括：
获取单元，用于获取所述温控激光器对应的预设映射关系；
处理单元，用于采集所述温控激光器在不同环境温度下的实测激光波长；
判断单元，用于根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时，实现如上所述的温控激光器跳摸检测方法。
与现有技术相比，本发明的有益效果包括：首先，对温控激光器的预设映射关系，便于求出其对应的理论值(一般为理论波长)；然后，采集温控激光器在不同环境下的实测激光波长，形成多组实测激光波长；最后，结合预设映射关系确定的理论值和实测激光波长进行对比判断，有效确定温控激光器是否发生了跳模现象。
附图说明
图1为本发明提供的温控激光器跳模检测方法的应用系统一实施例的场景示意图；
图2为本发明提供的温控激光器跳模检测方法一实施例的流程示意图；
图3为本发明提供的半导体激光器的测试系统的结构示意图；
图4为本发明提供的图2中步骤S3一实施例的流程示意图；
图5为本发明提供的图4中步骤S31一实施例的流程示意图；
图6为本发明提供的图4中步骤S32一实施例的流程示意图；
图7为本发明提供的图4中步骤S33一实施例的流程示意图；
图8为本发明提供的波长和功率关系一实施例的曲线示意图；
图9为本发明提供的波长和功率关系另一实施例的曲线示意图；
图10为本发明提供的波长和功率关系又一实施例的曲线示意图；
图11为本发明提供的温控激光器跳模检测装置一实施例的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图来具体描述本发明的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本发明的实施例一起用于阐释本发明的原理，并非用于限定本发明的范围。
在本发明的描述中，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。此外，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本发明的描述中，提及“实施例”意味着，结合实施例描述的特定特征、结构或特性可以包含在本发明的至少一个实施例中。在说明书中的各个位置出现该短语并不一定均是指相同的实施例，也不是与其它实施例互斥的独立的或备选的实施例。本领域技术人员显式地和隐式地理解的是，所描述的实施例可以与其它实施例相结合。
本发明提供了一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质，充分考虑了跳模激发环境的特点，结合多种波长特征，捕捉调模现象，为进一步提高跳模检测的准确性提供了新思路。以下分别进行详细说明：
本发明实施例提供了一种温控激光器跳模检测方法的应用系统，图1为本发明提供的温控激光器跳模检测方法的应用系统一实施例的场景示意图，该系统可以包括服务器100，服务器100中集成有温控激光器跳模检测装置，如图1中的服务器。
本发明实施例中服务器100主要用于：
获取所述温控激光器对应的预设映射关系；
采集所述温控激光器在不同环境下的实测激光波长；
根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
本发明实施例中，该服务器100可以是独立的服务器，也可以是服务器组成的服务器网络或服务器集群，例如，本发明实施例中所描述的服务器100，其包括但不限于计算机、网络主机、单个网络服务器、多个网络服务器集或多个服务器构成的云服务器。其中，云服务器由基于云计算(Cloud Computing)的大量计算机或网络服务器构成。
可以理解的是，本发明实施例中所使用的终端200可以是既包括接收和发射硬件的设备，即具有能够在双向通信链路上，执行双向通信的接收和发射硬件的设备。这种设备可以包括：蜂窝或其他通信设备，其具有单线路显示器或多线路显示器或没有多线路显示器的蜂窝或其他通信设备。具体的终端200可以是台式机、便携式电脑、网络服务器、掌上电脑(Personal Digital Assistant，PDA)、移动手机、平板电脑、无线终端设备、通信设备、嵌入式设备等，本实施例不限定终端200的类型。
本领域技术人员可以理解，图1中示出的应用环境，仅仅是与本发明方案一种应用场景，并不构成对本发明方案应用场景的限定，其他的应用环境还可以包括比图1中所示更多或更少的终端，例如图1中仅示出2个终端，可以理解的，该温控激光器跳模检测方法的应用系统还可以包括一个或多个其他终端，具体此处不作限定。
另外，如图1所示，该温控激光器跳模检测方法的应用系统还可以包括存储器200，用于存储数据，如预设映射关系、实测激光波长等。
需要说明的是，图1所示温控激光器跳模检测方法的应用系统的场景示意图仅仅是一个示例，本发明实施例描述的温控激光器跳模检测方法的应用系统以及场景是为了更加清楚地说明本发明实施例的技术方案，并不构成对于本发明实施例提供的技术方案的限定，本领域普通技术人员可知，随着温控激光器跳模检测方法的应用系统的演变和新业务场景的出现，本发明实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。
本发明实施例提供了一种温控激光器跳模检测方法，结合图2来看，图2为本发明提供的温控激光器跳模检测方法一实施例的流程示意图，包括步骤S1至步骤S3，其中：
在步骤S1中，获取所述温控激光器对应的预设映射关系；
在步骤S2中，采集所述温控激光器在不同环境下的实测激光波长；
在步骤S3中，根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
在本发明实施例中，首先，对温控激光器的预设映射关系，便于求出其对应的理论值(一般为理论波长)；然后，采集温控激光器在不同环境下的实测激光波长，形成多组实测激光波长；最后，结合预设映射关系确定的理论值和实测激光波长进行对比判断，有效确定温控激光器是否发生了跳模现象。
需要说明的是，结合图3来看，图3为本发明提供的半导体激光器的测试系统的结构示意图，上述温控激光器跳模检测方法在一般的半导体激光器的测试系统的结构基础上，使用特殊的数据处理算法来检测出激光器是否存在跳模的问题，TEC温控器完成对TEC温控封装激光器的温度控制，等温度稳定之后，LD驱动器给激光器加电，同步的背光检测电路完成背光的检测，激光器输出的光通过光功率计检测以及光谱仪测试具体的光谱指标指标。
其中结合图2、图3来看，具体的原理如下：
以DFB激光器为例，其波长与温度之间是严格的线性关系，一般是0.08nm/℃，而激光器的温度与激光器本身的功率也是线性关系，对于共金贴片的激光器，设激光器和垫片之间的热阻是：θ，激光器的功率P1，常温(25℃)下激光器的波长为λ1，设置环境温度(TEC温控温度)为T1，则此时的激光器波长为：
λP1＝λ1+(T1+P1*θ-25℃)*0.08
改变激光器不同的驱动电流，在不同的功率P2条件下的波长为：
λP2＝λ1+(T1+P2*θ-25℃)*0.08
波长差为：
Δλ＝λP2-λP1＝(P2-P1)*θ1*0.08
上述波长差只与功率差和热阻有关，是个确定的值。同理可以推导，在相同功率条件下，不同温控温度的波长差也是一个确定的值。如果激光器没有发生跳模，则测试得到的不同功率或是不同温控温度的波长差是可预期的。如果激光器发生跳模，则得到的波长差异值会比预期值有较大的差异(一般为大于0.5nm，跳模波长变化一般在1nm左右)，可以通过实际测试得到的波长值与预期值之间的差异来判断激光器是否发生跳模。由于激光器特性，在不同电流条件下，电压比较接近，实际计算功率的时候，可以使用驱动电流来近似，达到简化计算的目的。
作为优选的实施例，结合图4来看，图4为本发明提供的图2中步骤S3一实施例的流程示意图，上述步骤S3具体包括步骤S31至步骤S33，其中：
在步骤S31中，根据所述实测激光波长，确定所述温控激光器的实际波长差；
在步骤S32中，根据所述预设映射关系，确定所述温控激光器的理论波长差；
在步骤S33中，根据所述理论波长差和所述实际波长差，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
在本发明实施例中，通过确定理论波长差和实际波长差，有效判断温控激光器是否发生了跳模现象。
作为优选的实施例，在步骤S31中，包括：
根据多组不同环境下测得的所述实测激光波长，确定两组所述实测激光波长之间的所述实际波长差。
在本发明实施例中，通过改变不同的测试环境，得到多组不同环境下的实测激光波长。需要说明的是，可以通过改变环境温度或者电流(功率)两个维度的条件，更全面的激发激光器的跳模激发环境，提高激光器跳摸被检测出的概率。
作为优选的实施例，结合图5来看，图5为本发明提供的图4中步骤S31一实施例的流程示意图，上述步骤S31具体包括步骤S311至步骤S312，其中：
在步骤S311中，获取在第一实际功率下生成的所述第一实测波长和在第二实际功率下生成的所述第二实测波长；
在步骤S312中，根据所述第一实测波长和所述第二实测波长之差，确定所述实际波长差。
在本发明实施例中，获取不同电流功率下的实测波长，根据两组实测波长的差值，有效确定实际波长差。
作为优选的实施例，所述预设映射关系包括所述温控激光器的理论激光波长和理论功率的对应关系，结合图6来看，图6为本发明提供的图4中步骤S32一实施例的流程示意图，上述步骤S32具体包括步骤S321至步骤S324，其中：
在步骤S321中，根据所述第一实际功率和所述第二实际功率，确定对应的所述第一理论功率和所述第二理论功率；
在步骤S322中，根据所述第一理论功率和所述预设映射关系，确定对应的第一理论波长；
在步骤S323中，根据所述第二理论功率和所述预设映射关系，确定对应的第二理论波长；
在步骤S324中，根据所述第一理论波长和所述第二理论波长之差，确定所述理论波长差。
在本发明实施例中，基于预设映射关系，计算出第一理论功率和第二理论功率对应的理论波长，并根据两组理论波长的差值，有效确定理论波长差。
作为优选的实施例，所述预设映射关系通过如下公式表示：
λP＝λ+(T+P*θ-K)*H
其中，λP表示为理论波长，所述理论波长包括所述第一理论波长或所述第二理论波长，λ表示所述温控激光器在预设环境温度下的波长，T表示温控温度，P表示所述理论功率，θ表示所述温控激光器和垫片之间的热阻，K表示所述预设环境温度，H表示预设常数。
在本发明实施例中，通过上述预设映射关系，基于不同的功率即可有效算出对应激发的波长。
作为优选的实施例，结合图7来看，图7为本发明提供的图4中步骤S33一实施例的流程示意图，上述步骤S33具体包括步骤S331至步骤S332，其中：
在步骤S331中，根据所述理论波长差和所述实际波长差，确定对应的误差值；
在步骤S332中，根据所述误差值，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
在本发明实施例中，基于理论波长差和实际波长差的比较，判断波长的改变，有效确定是否发生跳模现象。
作为优选的实施例，步骤S332具体包括：
若所述误差值超过预设范围，则判断所述温控激光器在所述第一实际功率和所述第二实际功率之内的功率范围发生了跳模现象。
在本发明实施例中，基于误差值判断跳模或者不跳模，误判率大大降低，保证了检测的准确性。
在本发明一个具体的实施例中，上述方法的具体流程如下：
第一，获取激光器的封装热阻，波长温漂和功率关系。可以同时激光器实际实验得到；
第二，根据激光器本身特性设置不同驱动电流或是温度条件测试光谱波长第三，根据实际测试条件得出不同条件下的波长差以及实际预测值
第四，将实际测试的波长值结果与预期的波长值做比较，差异较大的即为跳摸激光器。
下面以一个具体的数值例更好地说明本发明方案：
首先，样品测试激光器封装，波长和功率关系，由于采用的生产工艺一致，因此得到的曲线一致性都比较好，形成一致趋势的曲线，描述为预设映射关系，可以得到激光器波长与功率(电流)是线性关系，功率(电流)每增加10mA，波长增加0.05nm；
其中，结合图8至图10来看，图8为本发明提供的波长和功率关系一实施例的曲线示意图，图9为本发明提供的波长和功率关系另一实施例的曲线示意图，图10为本发明提供的波长和功率关系又一实施例的曲线示意图，其拟合关系分别为：y＝0.0056x+1576.4、y＝0.0056x+1576.7和y＝0.0053x+1576.3。
然后，将激光器温控到50℃，同时给不同激光器驱动电流并测试波长，如下表1所示：
表1
进而，通过上述方法计算出实际波长差和理论波长差的对比，如下表2所示：
表2
其中，从表2中可以看到，110mA电流驱动的时候，其波长与13mA出的波长的差值超过理论计算值1.157nm，大大超过计算误差范文，可以判定在13mA～110mA范围内激光器发生了跳摸。
本发明实施例还提供了一种温控激光器跳模检测装置，结合图11来看，图11为本发明提供的温控激光器跳模检测装置一实施例的结构示意图，温控激光器跳模检测装置1100包括：
获取单元1101，用于获取所述温控激光器对应的预设映射关系；
处理单元1102，用于采集所述温控激光器在不同环境温度下的实测激光波长；
判断单元1103，用于根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
温控激光器跳模检测装置的各个单元的更具体实现方式可以参见对于本温控激光器跳模检测方法的描述，且具有与之相似的有益效果，在此不再赘述。
本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时，实现如上所述的温控激光器跳模检测方法。
一般来说，用于实现本发明方法的计算机指令的可以采用一个或多个计算机可读的存储介质的任意组合来承载。非临时性计算机可读存储介质可以包括任何计算机可读介质，除了临时性地传播中的信号本身。
计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。
可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，程序设计语言包括面向对象的程序设计语言—诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言—诸如“C”语言或类似的程序设计语言，特别是可以使用适于神经网络计算的Python语言和基于TensorFlow、PyTorch等平台框架。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络——包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
本发明实施例还提供了一种计算设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，处理器执行程序时，实现如上所述的温控激光器跳模检测方法。
根据本发明上述实施例提供的计算机可读存储介质和计算设备，可以参照根据本发明实现如上所述的温控激光器跳模检测方法具体描述的内容实现，并具有与如上所述的温控激光器跳模检测方法类似的有益效果，在此不再赘述。
本发明公开了一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质，首先，对温控激光器的预设映射关系，便于求出其对应的理论值(一般为理论波长)；然后，采集温控激光器在不同环境下的实测激光波长，形成多组实测激光波长；最后，结合预设映射关系确定的理论值和实测激光波长进行对比判断，有效确定温控激光器是否发生了跳模现象。
本发明技术方案，全面的激发激光器的跳模激发环境，提高激光器跳摸被检测出的概率，误判率大大降低，实施简单，能够充分使用现有的激光器测试硬件方案。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种温控激光器跳模检测方法，其特征在于，包括：
获取所述温控激光器对应的预设映射关系；
采集所述温控激光器在不同环境下的实测激光波长；
根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
2.根据权利要求1所述的温控激光器跳模检测方法，其特征在于，所述根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象，包括：
根据所述实测激光波长，确定所述温控激光器的实际波长差；
根据所述预设映射关系，确定所述温控激光器的理论波长差；
根据所述理论波长差和所述实际波长差，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
3.根据权利要求2所述的温控激光器跳模检测方法，其特征在于，所述根据所述实测激光波长，确定所述温控激光器的实际波长差，包括：
根据多组不同环境下测得的所述实测激光波长，确定两组所述实测激光波长之间的所述实际波长差。
4.根据权利要求3所述的温控激光器跳模检测方法，其特征在于，所述实测激光波长包括第一实测波长和第二实测波长，所述根据所述实测激光波长，确定所述温控激光器的实际波长差，包括：
获取在第一实际功率下生成的所述第一实测波长和在第二实际功率下生成的所述第二实测波长；
根据所述第一实测波长和所述第二实测波长之差，确定所述实际波长差。
5.根据权利要求4所述的温控激光器跳模检测方法，其特征在于，所述预设映射关系包括所述温控激光器的理论激光波长和理论功率的对应关系，所述根据所述预设映射关系，确定所述温控激光器的理论波长差，包括：
根据所述第一实际功率和所述第二实际功率，确定对应的所述第一理论功率和所述第二理论功率；
根据所述第一理论功率和所述预设映射关系，确定对应的第一理论波长；
根据所述第二理论功率和所述预设映射关系，确定对应的第二理论波长；
根据所述第一理论波长和所述第二理论波长之差，确定所述理论波长差。
6.根据权利要求5所述的温控激光器跳模检测方法，其特征在于，所述预设映射关系通过如下公式表示：
λP＝λ+(T+P*θ-K)*H
其中，λP表示为理论波长，所述理论波长包括所述第一理论波长或所述第二理论波长，λ表示所述温控激光器在预设环境温度下的波长，T表示温控温度，P表示所述理论功率，θ表示所述温控激光器和垫片之间的热阻，K表示所述预设环境温度，H表示预设常数。
7.根据权利要求5所述的温控激光器跳模检测方法，其特征在于，所述根据所述理论波长差和所述实际波长差，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象，包括：
根据所述理论波长差和所述实际波长差，确定对应的误差值；
根据所述误差值，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
8.根据权利要求4所述的温控激光器跳模检测方法，其特征在于，所述根据所述误差值，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象，包括：
若所述误差值超过预设范围，则判断所述温控激光器在所述第一实际功率和所述第二实际功率之内的功率范围发生了跳模现象。
9.一种温控激光器跳模检测装置，其特征在于，包括：
获取单元，用于获取所述温控激光器对应的预设映射关系；
处理单元，用于采集所述温控激光器在不同环境温度下的实测激光波长；
判断单元，用于根据所述预设映射关系和所述实测激光波长，判断所述温控激光器是否发生了跳模现象。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时，实现根据权利要求1至8任一项所述的温控激光器跳模检测方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111230244.5A CN113984338A (zh) | 2021-10-21 | 2021-10-21 | 一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202111230244.5A CN113984338A (zh) | 2021-10-21 | 2021-10-21 | 一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN113984338A true CN113984338A (zh) | 2022-01-28 |
Family
ID=79740109
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202111230244.5A Pending CN113984338A (zh) | 2021-10-21 | 2021-10-21 | 一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN113984338A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117030198A (zh) * | 2023-10-10 | 2023-11-10 | 成都明夷电子科技有限公司 | 一种激光器跳模检测器、检测方法、电子设备及存储介质 |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5600442A (en) * | 1993-12-29 | 1997-02-04 | Kabushiki Kaisha Topcon | Position detecting apparatus based on before and after mode-hop signals |
| JP2004241659A (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-26 | Japan Science & Technology Agency | ２波長型半導体レーザ装置、２波長型干渉計測装置、２波長型半導体レーザ発振方法及び２波長型干渉計測方法 |
| JP2007157819A (ja) * | 2005-12-01 | 2007-06-21 | Sony Corp | 外部共振器型レーザ装置、そのスペクトラム・モード遷移検出方法およびホログラム記録再生装置 |
| US20150255951A1 (en) * | 2014-03-04 | 2015-09-10 | Tomey Corporation | Wavelength -swept light source apparatus and measuring apparatus |
| CN110429467A (zh) * | 2019-07-15 | 2019-11-08 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 集成化外腔半导体激光器的无跳模调频控制方法 |
-
2021
- 2021-10-21 CN CN202111230244.5A patent/CN113984338A/zh active Pending
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5600442A (en) * | 1993-12-29 | 1997-02-04 | Kabushiki Kaisha Topcon | Position detecting apparatus based on before and after mode-hop signals |
| JP2004241659A (ja) * | 2003-02-06 | 2004-08-26 | Japan Science & Technology Agency | ２波長型半導体レーザ装置、２波長型干渉計測装置、２波長型半導体レーザ発振方法及び２波長型干渉計測方法 |
| JP2007157819A (ja) * | 2005-12-01 | 2007-06-21 | Sony Corp | 外部共振器型レーザ装置、そのスペクトラム・モード遷移検出方法およびホログラム記録再生装置 |
| US20150255951A1 (en) * | 2014-03-04 | 2015-09-10 | Tomey Corporation | Wavelength -swept light source apparatus and measuring apparatus |
| CN110429467A (zh) * | 2019-07-15 | 2019-11-08 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 集成化外腔半导体激光器的无跳模调频控制方法 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117030198A (zh) * | 2023-10-10 | 2023-11-10 | 成都明夷电子科技有限公司 | 一种激光器跳模检测器、检测方法、电子设备及存储介质 |
| CN117030198B (zh) * | 2023-10-10 | 2023-12-22 | 成都明夷电子科技有限公司 | 一种激光器跳模检测器、检测方法、电子设备及存储介质 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP2937928B1 (en) | Battery management based on internal optical sensing | |
| US20230347785A1 (en) | Consistency evaluation method for vehicle battery cell, device, equipment and storage medium | |
| CN114216938B (zh) | 一种气体浓度检测补偿方法及装置 | |
| CN110888065B (zh) | 电池包荷电状态修正方法和装置 | |
| CN113984338A (zh) | 一种温控激光器跳模检测方法、装置及存储介质 | |
| CN112637756B (zh) | 位置检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 | |
| CN112291000B (zh) | 光模块异常检测方法、装置、通信设备和可读存储介质 | |
| CN112462005B (zh) | 温度补偿方法及相关产品 | |
| CN108571997A (zh) | 一种检测探头稳定接触被测点的方法和装置 | |
| CN111239515A (zh) | 电力设备载流故障预测方法及系统 | |
| CN110631618B (zh) | 一种φ-OTDR分布式光纤传感系统断纤定位方法 | |
| CN112014737A (zh) | 一种电芯的健康状态的检测方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN115238831A (zh) | 故障预测方法、装置、计算机设备、存储介质和程序产品 | |
| CN103994840A (zh) | 一种获取移动终端电池的最高温度值的方法及装置 | |
| CN110736807A (zh) | 检测气体浓度的方法以及气体检测装置 | |
| CN109506683A (zh) | 一种面向海洋环境监测的fbg光纤传感解调系统 | |
| CN115112605B (zh) | 变压器油光谱的波长矫正方法、计算机设备及存储介质 | |
| CN111256955B (zh) | 基于激光器频率噪声谱的光相干系统性能评估方法 | |
| CN108693164B (zh) | 基于光纤拉曼散射信号的温度解调方法、装置及系统 | |
| CN115941055B (zh) | 油井信息传输的执行方法及相关设备 | |
| CN114964367B (zh) | 一种基于时变参数的lng罐箱故障预报方法及系统 | |
| CN111722170B (zh) | 电量变送器检定装置稳定性的确定装置及其方法和电子设备 | |
| CN116304519B (zh) | X射线管的实时热量计算方法、装置、系统和存储介质 | |
| CN116773042A (zh) | 一种电池模组温度检测方法、系统及存储介质 | |
| CN113916942A (zh) | 燃气探测方法、燃气探测器及存储介质 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |