CN113922871B - 一体化综合测试装置以及基于其的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种一体化综合测试装置以及基于其的测试方法，其中一体化综合测试装置包括：控制单元，其配置成获取关于待测试有源光缆的测试信息，并基于测试信息输出测试指令；低速信号测试单元，其包括子测试单元和信号源，其中子测试单元配置成接收测试指令以及控制信号源输出测试信号，其中测试信号为模拟有源光缆与设备间握手交互用的低速协议信号；接口单元配置成接收且向待测试有源光缆输出所述测试信号以及向子测试单元输出待测试有源光缆的反馈信号；子测试单元还配置成对反馈信号进行测试分析；以及将对反馈信号的分析结果发送至控制单元。通过本发明的方案，能够支持有源光缆的低速协议信号的测试，且有效简化测试操作以及提高测试效率。

Description

一体化综合测试装置以及基于其的测试方法

技术领域

本发明一般地涉及有源光缆技术领域。更具体地，本发明涉及一种一体化综合测试装置和一种基于一体化综合测试装置的测试方法。

背景技术

本部分旨在为权利要求书中陈述的本发明的实施方式提供背景或上下文。此处的描述可包括可以探究的概念，但不一定是之前已经想到或者已经探究的概念。因此，除非在此指出，否则在本部分中描述的内容对于本申请的说明书和权利要求书而言不是现有技术，并且并不因为包括在本部分中就承认是现有技术。

大数据时代，高密度、高带宽应用越来越多，此时无源光缆或基于铜线的电缆系统就显得捉襟见肘。相较于传统线缆，有源光缆（例如满足USB 3.0协议的AOC）使用光纤或铜线来传输高速信号，其损耗比相同长度的无源线小，且在长距离传输中有巨大的优势，被大量应用到消费领域和工业领域。另外，相比与传统的纯铜线线缆，满足USB 3.0协议的有源光缆或混合线缆一般涉及集成有光电转换芯片以及各种辅助电路的收发模组、传输高速信号的光纤以及传输供电信号和低速信号的铜线等多个组件。因此，在有源光缆量产过程中需要严格把控所装配的多个组件来提高良品率。

然而目前并没有相应的测试设备来供测试使用。传统的USB 3.0铜线一般需要通过测试其电阻值来判断是否生产合格，然而有源光缆的光-电转换芯片需要将高速信号转换成光信号以使用光纤进行传输，并且高速信号铜线或者低速透传铜线在光缆的两端接头处截止。因此，传统的使用电阻值的测试方法不再适用于有源光缆高速信号或低速透传信号，且无法覆盖AOC与主机端进行握手的信号质量测试，特别是针对有源光缆与主机端交互用的低速协议信号的测试。

为此，相关技术中可以借助主机设备和示波器对成品进行测试，虽然能够支持对有源光缆的部分功能的测试。但是整个测试的实现成本较高，且操作过程繁琐复杂以及测试效率低下，进而影响量产效率。

发明内容

为了至少解决上述背景技术部分所描述的技术问题，本发明提出了一种一体化综合测试装置的方案。利用本发明的方案，能够支持有源光缆的低速协议信号的测试，且有效简化测试操作以及提高测试效率。

另外，本发明还提了一种基于一体化综合测试装置的测试方法，对有源光缆的低速协议信号进行测试和优化，从而有效提升有源光缆量产测试的良率。

鉴于此，本发明在如下的多个方面提供解决方案。

本发明的第一方面提供了一种一体化综合测试装置，包括：控制单元，其配置成获取关于待测试有源光缆的测试信息，并基于所述测试信息输出测试指令；低速信号测试单元，其包括子测试单元和信号源，其中所述子测试单元与所述控制单元和所述信号源相连接，并配置成接收所述测试指令，以及控制所述信号源输出测试信号，其中所述测试信号为模拟有源光缆与设备间握手交互用的低速协议信号；接口单元，其与所述信号源和所述待测试有源光缆相连接，并配置成接收且向所述待测试有源光缆输出所述测试信号，以及向所述子测试单元输出所述待测试有源光缆的反馈信号；其中，所述子测试单元还配置成：对所述反馈信号进行测试分析；以及将对所述反馈信号的分析结果发送至所述控制单元。

在一个实施例中，其中所述子测试单元包括低频周期信号测试单元和/或热复位信号测试单元，其中所述低频周期信号测试单元获取到的反馈信号包括有源光缆的接收端与发送端之间的双向反馈信号。

在一个实施例中，还包括：动态配置单元，其与所述控制单元和所述低频周期信号测试单元相连接，并配置成从所述控制单元处获取所述分析结果，且根据所述分析结果选择性调整目标寄存器的参数，以及根据对所述目标寄存器的参数的调整结果，触发所述低频周期信号测试单元再次执行对待测试有源光缆的测试和分析操作。

在一个实施例中，其中所述分析结果包括有源光缆的接收端与发送端之间的失败方向，所述动态配置单元还配置成获取关于所述失败方向的目标寄存器的参数，其中所述目标寄存器的参数包括宽带参数和/或光强参数。

在一个实施例中，其中所述目标寄存器为多个不同优先级的寄存器时，所述动态配置单元具体配置成根据优先级依次执行对寄存器的参数的调整操作和对所述低频周期信号测试单元的触发操作。

在一个实施例中，其中所述待测试有源光缆包括与所述接口单元连接的光电转换模组，所述一体化综合测试装置还包括：光功率测试单元，其与所述控制单元和所述接口单元相连接，并配置成执行以下操作：触发所述光电转换模组处于发光状态；接收所述光电转换模组反馈的用于表征接收信号强度指示值的电压信号；以及对所述电压信号进行分析，并将分析结果反馈至所述控制单元。

在一个实施例中，其中所述待测试有源光缆包括与所述接口单元连接的光电转换模组，其中所述测试信息包括关于所述光电转换模块的固件版本，所述一体化综合测试装置还包括：固件下载单元，其与所述控制单元和所述接口单元相连接，并配置成检测所述固件版本是否为测试版本，并响应于所述固件版本非测试版本，将其更新为所述测试版本。

本发明的第二方面提出了一种基于本发明的第一方面的实施例所述的一体化综合测试装置的测试方法，包括：通过所述控制单元获取关于待测试有源光缆的测试信息，并基于所述测试信息输出测试指令；以及通过所述子测试单元接收所述测试指令，并在所述子测试单元包括低频周期信号测试单元时，通过所述低频周期信号测试单元进行低频周期信号测试，以及根据对低频周期信号的测试结果选择性触发所述动态配置单元进行目标寄存器的参数的调整；以及通过所述动态配置单元根据调整结果触发所述低频周期信号测试单元再次测试低频周期信号。

在一个实施例中，其中所述子测试单元还包括热复位信号测试单元，所述一体化综合测试装置还包括固件下载单元和/或光功率测试单元，所述测试方法还包括：通过所述热复位信号测试单元进行热复位信号测试；通过所述固件下载单元检测所述待测试有源光缆中的光电转换模组是否需要更新固件版本，以及根据测试结果选择性为将所述光电转换模组的固件更新为测试版本；和/或通过光功率测试单元进行接收信号强度指示值的测试。

在一个实施例中，所述测试方法还包括：在完成对所述待测试有源光缆的所有测试后，通过所述固件下载单元将所述光电转换模组的固件更新为正式版本。

利用本发明所提供的方案，可以基于一体化综合测试装置的合理化设计实现对有源光缆的低速协议信号的测试。本发明方案所涉及的测试过程无需借助主机设备和示波器等，大大简化了测试操作，从而提高测试效率，并进而提高量产效率。在本发明的一些实施例中，该一体化综合测试装置还集成有动态配置单元，以通过该动态配置单元在测试低速协议信号过程中动态调整参数，以对测试失败的有源光缆进行优化，使其满足低速协议的要求，从而大大增加量产测试的良率。而在本发明的另一些实施例中，该一体化综合测试装置还集成有固件下载单元和光功率测试单元，以满足固件更新和光功率测试需求。

另外，通过本发明所提供的测试方案，可以实现对有源光缆的多种测试需求。此外，还可以基于固件下载单元完成光电转换模组的正式版本的烧写，无需再额外借助人工和烧写设备，从而有效降低量产成本。

附图说明

通过参考附图阅读下文的详细描述，本发明示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本发明的若干实施方式，并且相同或对应的标号表示相同或对应的部分，其中：

图1是示出根据本发明实施例的一体化综合测试装置的一个结构图；

图2是示出根据本发明实施例的一体化综合测试装置的另一个结构图；

图3是示出根据本发明实施例的一体化综合测试装置的又一个结构图；

图4是示出根据本发明实施例的一体化综合测试装置的再一个结构图；

图5是示出根据本发明实施例的基于一体化综合测试装置的一个测试方法的流程图；以及

图6是示出根据本发明实施例的基于一体化综合测试装置的另一个测试方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本发明一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本发明中的实施方式，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本发明保护的范围。

应当理解，本发明的权利要求、说明书及附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等是用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。本发明的说明书和权利要求书中使用的术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。

还应当理解，在此本发明说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施方式的目的，而并不意在限定本发明。如在本发明说明书和权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解，在本发明说明书和权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。

如在本说明书和权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当... 时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。

下面结合附图来详细描述本发明的具体实施方式。

图1是示出根据本发明实施例的一体化综合测试装置100的一个结构图。如图1所示，一体化综合测试装置100可以包括控制单元101、低速信号测试单元102以及接口单元103。其中，控制单元101可以配置成获取关于待测试有源光缆的测试信息，并基于该测试信息输出测试指令。在一些实施例中，待测试有源光缆的测试信息可以包括有源光缆一些标识信息（例如有源光缆及其所使用模组的类型、生产工站等），控制单元可以根据这些测试信息生成与该有源光缆对应的测试指令（例如开始测试指令等）。需要说明的是，这里对测试信息和测试指令的描述仅是示例性说明，本发明的方案并不受此限制，具体可以根据测试需求来进行设置和调整。

在一些实施例中，前述的低速信号测试单元102可以包括子测试单元和信号源。其中，前述的子测试单元与控制单元101和信号源相连接，并可以配置成接收前述的测试指令（例如开始测试指令），以及可以控制信号源输出测试信号。需要说明的是，这里的测试信号可以为模拟有源光缆与设备间握手交互用的低速协议信号，特别涉及支持USB3.0协议的低速握手协议信号。

在一些实施例中，前述的接口单元103可以与信号源和待测试有源光缆相连接，并可以配置成接收且向待测试有源光缆输出前述的测试信号，以及可以向子测试单元输出待测试有源光缆的反馈信号，以供子测试单元对反馈信号进行分析和分析结果的上传。需要说明的是，这里的待测试有源光缆不仅限于成品，也可以是量产过程中各个阶段的半成品（例如组装模组的半成品、焊接之后的半成品或注塑前的半成品等）。

例如，在实际应用中，待测试有源光缆（包括量产过程中各个阶段的半成品或成品）可以通过接口单元连接在一体式综合测试装置上，该装置中的控制单元可以获取到该待测试有源光缆的基本信息，并下发测试指令以触发子测试单元工作。接着，子测试单元可以激励信号源输出测试信号，并通过接口单元输出至待测试有源光缆。然后，通过接口单元将待测试有源光缆的反馈信号发送至子测试单元，子测试单元对该反馈信号进行分析，并上传分析结果至控制单元。至此，完成对待测试有源光缆的低速协议信号的测试。

可以看出，本发明方案无需借助主机设备和示波器等，大大简化了测试操作和降低实现成本，不仅提高测试效率，并且提高量产效率。另外，本发明的方案并不局限于有源光缆的成品测试，还可以对其量产过程中的半成品进行测试。由此，不仅提高了一体化综合测试装置的实用性，而且还有利于对任一环节质量问题及时跟进和维护，以降低维护成本和提高维护效率。

图2是示出根据本发明实施例的一体化综合测试装置200的另一个结构图。需要说明的是，这里的一体化综合测试装置200（以下简称装置200）可以理解为是对前文结合图1所描述的装置100的功能的进一步拓展和优化。因此，前文结合图1对一体化综合测试装置的一些细节描述同样也适用于下文。

如图2所示，装置200可以包括控制单元101、低速信号测试单元102、接口单元103和动态配置单元104。其中，控制单元101和接口单元103可以具有图1中所描述相关单元的配置和功能，这里就不再进行赘述。

在一些实施例中，前述的低速信号测试单元102可以包括子测试单元和信号源。其中，该子测试单元可以包括低频周期信号测试单元和/或热复位信号测试单元，通过低频周期信号测试单元可以支持对有源光缆的低频周期信号（Low Frequency Period Signal，LFPS）的测试，通过热复位信号测试单元可以支持对有源光缆的热复位信号（WARMRESET）的测试。其中，LFPS 信号和WARMRESET信号为支持USB3.0协议的有源光缆与设备间握手交互用的低速协议信号。需要说明的是，装置200的信号源可以模拟这两种低速协议信号，以支持对这两种信号中的任一或全部的测试。另外，本发明的方案也并不局限于这两种信号的测试，还可以根据实际设计和测试需求来拓展可测试的低速协议信号。

在一些实施例中，关于LFPS 信号的测试，具体可以涉及低频周期信号测试单元在接收到控制单元的开始测试指令时，激励信号源产生LFPS 信号。然后通过接口单元将该LFPS 信号传输给与其连接的有源光缆，并将有源光缆的反馈信号反馈给低频周期信号测试单元。然后，低频周期信号测试单元对接收到的反馈信号进行分析，并可以将分析结果上传至控制单元。至此，完成对LFPS 信号的测试。

需要说明的是，由于USB 3.0协议为一发一收，而有源光缆的TX/RX模组的单边均具有收发功能。因此，装置200中低频周期信号测试单元可以设计为满足对TX-RX方向以及RX-TX方向的LFPS信号进行测试的需求，并能对不同方向的反馈信号进行独立分析和分析结果的上传，不仅使得测试过程贴合实际需求，而且便于在该信号测试失败时能够精准定位问题点。

进一步地，在一些实施例中，装置200还集成有动态配置单元104。该动态配置单元104可以在低频周期信号测试单元测试完成后，通过控制单元获取到此次LFPS信号测试的结果。若此次测试通过，此时动态配置单元可以不进行任何操作。而当LFPS信号测试失败，动态配置单元可以根据测试失败方向对相应的模组进行目标寄存器的参数配置。通过对相应模组的带宽或其他参数的目标寄存器进行变化配置和调整，使之能满足LFPS信号测试要求。需要说明的是，这里的目标寄存器参数可以根据光电转换模组类型、测试失败方向（例如TX-RX方向或RX-TX方向）等具体确定，所涉及到的目标寄存器的个数和参数可能为多个。

在对寄存器的参数调整完成后，前述动态配置单元104还可以通知低频周期信号测试单元在新的参数配置下再次对有源光缆再次进行测试，并将最终测试结果上传至控制单元。由此，通过在测试低频周期信号过程中动态调整寄存器参数对测试失败的有源光缆进行优化，使其满足低速协议的要求，从而大大增加量产测试的良率。

此外，在一些实施例中，WARMRESET信号在实际应用中为主机端（Source端）向设备端（Sink端）发送的。关于该WARMRESET信号的测试，具体可以涉及热复位信号测试单元在接收到控制单元的开始测试指令时，激励信号源产生WARMRESET信号。然后通过接口单元将该WARMRESET信号传输给与其连接的有源光缆，并将有源光缆的反馈信号反馈给WARMRESET信号测试单元（例如测试信号通过接口单元流经有源光缆的TX模组和RX模组后，再由接口单元进行信号反馈）。然后，WARMRESET信号测试单元对接收到的反馈信号进行分析，并可以将分析结果上传至控制单元。至此，完成对WARMRESET信号的测试。

图3是示出根据本发明实施例的一体化综合测试装置300的又一个结构图。需要说明的是，这里的一体化综合测试装置300（以下简称装置300）可以理解为是对前文结合图1和图2所描述的装置100和装置200的功能的进一步拓展和优化。因此，前文结合图1和图2对一体化综合测试装置的描述同样也适用于下文。

如图3所示，装置300可以包括控制单元101、低速信号测试单元102、接口单元103、动态配置单元104、光功率测试单元105和固件下载单元106。其中，控制单元101和接口单元103可以具有图1所描述的配置和功能，低速信号测试单元102和动态配置单元104可以具有图2所描述的配置和功能，因此这里不再进行赘述。

在一些实施例中，前述的光功率测试单元105在接收到控制单元的开始测试指令时，可以触发有源光缆中的光电转化模组发光。需要说明的是，这里的光电转换模组在发光状态下可以输出一表征接收信号强度指示值（即RSSI值）的电压信号。然后，接收该光电转换模组反馈的电压信号，并通过对该电压信号的分析实现光功率值的测试，并将分析结果上传至控制单元。由此，实现对有源光缆的RSSI值测试。

在一些实施例中，前述的固件下载单元106可以为AOC光缆或者其模组进行供电，并在接收到控制单元的开始测试指令时，可以判断是否需要更新模组固件。在确定需要更新模组固件时，可以将固件更新为测试版本，并将更新结果上传给控制单元。此外，还可以在完成对有源光缆的全部测试后，通过该固件下载单元为固件更新正式版本。由此，在有源光缆量产时无需再额外增加固件烧写的工站，使得不依赖人工和烧写器即可实现固件的更新，从而有效节省量产成本，并提高量产效率。

在实际应用中，装置300中的接口单元可以包括连接器C1和连接器C2，其中连接器C1和连接器C2可以采用标准的TypeA，也可更换成使用USB3.0协议的其他类型连接器。例如，可以将连接器转板或模组夹具可拆卸地设置在装置300的连接器上，以实现对各种类型接口的产品的测试。具体地，待测试有源光缆或其上的模组通过连接器连接到装置300上，连接器上的发射及接收信号线可以连接到低频周期信号测试单元、WARMRESET测试单元，连接器上的低速信号连接线可以连接到固件下载单元、动态配置单元和RSSI测试单元。装置通过这些低、高速信号可以对有源光缆或其上的模组进行测试。

前述的控制单元具体可以采集用户提供的AOC类型、产品种类、生产工站等信息，并可以根据这些信息来控制整个测试的内容和流程。该控制单元与光功率测试单元RTU、低频周期信号测试单元LTU、WARMRESET测试单元WTU、固件下载单元DLU以及动态配置单元CTU之间可以用串口、IIC或SPI等通信协议进行通信。另外，在测试完成后，还可以对接收到的测试结果进行展示以及保存。在实际应用中，控制单元可以具有多种实现方式。在一个实施例中，可以采用PC+上位机来实现。在另一个实施例中，还可以通过MCU+显示屏来实现。在再一个实施例中，还可通过CPLD+显示屏实现。在又一个实施例中，还可以通过FPGA+显示屏实现。此外，前述的显示屏可以是可触控显示屏（例如UI界面）、OLED显示屏或LED显示等。前述的测试结果的保存和展示方式也可以有多种，例如可以通过上位机保存到本地数据库或云端数据库中，并根据需求以易读方式（例如Excel表等）展示。这里对控制单元可实现方式和功能的细节性描述仅是示例性说明，本发明的方案并不受此限制。

图4是示出根据本发明实施例的一体化综合测试装置400的再一个结构图。需要说明的是，这里的一体化综合测试装置400（以下简称装置400）可以理解为是对前文结合图1至图3所描述的装置100、装置200以及装置300的一种可能的示例性应用。

如图4所示，装置400可以采用核心处理模块401、ADC采样电路402、信号接收电路403、信号源404、供电系统405以及连接器406和407。待测试有源光缆可以连接在连接器406和407。另外，在实际使用过程中还可以根据其具体接口类型来通过转接板或模组夹具408和409可拆卸连接在连接器上，从而能够在不更改装置的基础上，拓展装置的通用性。其中，供电系统405可以根据各个模块或电路的工作需求为其进行供电，供电系统405可以采用市面上通用的供电电路来实现。核心处理模块401可以理解为是前文结合图1至图3所描述的控制单元，例如可以获取用户输入或通过其他外部设备输入的有源光缆和其上模组的类型、序列号、生产工站等信息。而接信号接收电路403可以是前文所描述的各个测试单元，例如可以是低频周期信号测试单元。

例如，在实际应用中，核心处理模块在发送测试指令后，低频周期信号测试单元可以触发信号源输出LFPS信号，并接收待测试有源光缆的反馈信号。然后，经由采样位数高的采样电路（例如ADC采集电路）进行采样，使得经过待测试有源光缆的LFPS信号得到高精度还原。最后，由核心处理模块通过Uart串口或其他协议将测试结果（包括测试波形、测试数据以及测试状态等）发送给上位机进行处理（例如显示及保存等）。需要说明的是，这里对装置400的测试过程的描述仅是示例性说明，本发明的方案并不受此限制。

图5是示出根据本发明实施例的基于一体化综合测试装置的测试方法500的流程图。需要说明的是，这里的一体化综合测试装置可以集成有控制单元、低频周期信号测试单元、接口单元和动态配置单元，该装置中的各个单元可以理解为是前文结合图1至图3中所描述的相关单元。在进行低频周期信号测试时，各个单元之间的交互过程具体可以参考图5。

如图5所示，在步骤S501处，可以通过控制单元获取关于待测试有源光缆的测试信息，并基于测试信息输出测试指令。如前所述，这里的待测试有源光缆可以为成品光缆或者量产过程中多个阶段的半成品。

接着，在步骤S502处，可以通过子测试单元接收前述的测试指令，并在该子测试单元包括低频周期信号测试单元时，可以通过该低频周期信号测试单元进行低频周期信号测试，以及根据对低频周期信号的测试结果选择性触发动态配置单元进行目标寄存器的参数的调整。然后，在步骤S503处，可以通过该动态配置单元根据调整结果触发低频周期信号测试单元再次测试低频周期信号。

在一些实施例中，进行低频周期信号测试可以包括TX-RX方向的LFPS信号测试和RX-TX方向的LFPS信号测试。而前述的目标寄存器具体可以根据测试失败方向、模组类型等进行确定。例如，在确定到TX-RX方向测试失败，可以调整RX端光电转换模组的寄存器参数。具体可能涉及到的寄存器有1个或多个。当需要调整参数的寄存器为多个时，可以通过寄存器的优先级在控制单元中罗列好配置组合，然后从优先级高至低逐个进行调节。若基于任一调整后的参数测试通过，则在控制单元中存储此种配置组合，并开始其他功能的测试。若基于任一调整后的参数测试失败，则继续按照下一种组合进行测试，直至测试通过。

例如，所涉及的目标寄存器可以包括AOC带宽控制寄存器和AOC光强控制寄存器等。当LFPS信号测试失败时，可以调整对应接收模组的带宽控制寄存器，以提升LFPS低速信号通过能力，并进行LFPS信号二次测试。若二次测试通过，则测试其他功能。若二次测试失败，则开始调整对应发射模组的光强强度寄存器，以提升LFPS低速信号通过能力，并再次进行LFPS信号测试。若再次测试通过，即进入下一功能测试；若再次测试失败，则可以上报测试失败的最终测试结果。需要说明的是，这里对寄存器参数的调整测试过程仅是示例性说明，本发明的方案并不受此限制。例如可以通过修改测试步骤来实现多元化寄存器参数的调整，并在所有的配置组合均测试失败时，将测试结果发送给控制单元，以此判定此AOC或模组为不良产品。

图6是示出根据本发明实施例的基于一体化综合测试装置的另一个测试方法的流程图。需要说明的是，这里的一体化综合测试装置可以是前文结合图3所描述的装置300。该装置300进行测试时，其中的各个单元之间的交互过程具体可以参考图6。

如图6所示，在步骤S601处，控制及数据存储单元CSU（也即前文中的控制单元）可以根据用户输入信息来收集有源光缆或模组的类型、生产工站等信息，并发送相关信息和开始测试命令给其他各个单元。

在步骤S602处，固件下载单元DLU可以给AOC上电，并判断AOC或模组是否需要下载固件。需要说明的是，由于后续测试流程中可能需要进行动态配置和测试RSSI等功能，因此在S602处需要判断AOC或模组是否为测试固件。若需要下载固件版本，则执行步骤S603；若不需要下载，则执行步骤S604。

在步骤S603处，可以通过固件下载单元下载测试固件。在本发明的上下文中，固件下载单元所使用的下载协议不限制于IIC、UART或单线协议等。

在步骤S604处，可以为LFPS测试做铺垫，通过LFPS信号测试单元（即前文中的低频周期信号测试单元）LTU激励信号源切换LFPS信号。

在步骤S605处，可以通过LFPS信号测试单元完成LFPS信号测试，并上传测试结果数据。

在步骤S606处，动态配置单元CTU启动，并与控制及数据存储单元CSU通信以获取S604处的测试结果，以及根据测试结果判断是否进行动态配置。若测试结果通过，动态配置单元CTU进入休眠状态，并执行步骤S608。若测试结果失败，动态配置单元获取失败方向的测试结果，并依据测试结果调整对应模组寄存器参数（例如TX-RX方向测试失败，则准备调整RX端光电转换芯片的寄存器参数）。调整成功后通知LFPS信号测试单元准备进行再次测试，并执行步骤S607。

在步骤S607处，LFPS信号测试单元完成再次LFPS信号测试，并上传最终测试结果数据。

在步骤S608处，为WARMRESET测试做铺垫，WARMRESET信号测试单元（即前文中的热复位测试单元）将激励信号源切换成WARMRESET信号。接着，在步骤S609处， WARMRESET信号测试单元完成WARMRESET信号测试并上传测试结果数据。

在步骤S610处，RSSI测试单元（即前文中的光功率测试单元）完成AOC的RSSI测试。具体测试过程可以参考前文结合图3所描述的光功率测试过程，这里就不再进行赘述。

在步骤S611处，固件下载单元在测试完成后，将AOC或模组固件更新为正式固件，可用于出货。

本发明的方案可以实现对AOC的传输LFPS信号能力进行测试和对AOC的传输WARMRESET信号能力进行测试。并且通过动态配置参数单元对带宽不足、性能稍劣等的AOC或模组进行优化，以提高出货良率。还通过RSSI测试单元RTU对AOC或模组的接收光功率进行测试。可以看出，本发明的一体化综合测试装置可以具有多样化的功能和结构，并且可以根据不同需求进行功能的选择组合，有利于该装置的功能升级。同时，还有效降低维修成本以及提高维修效率，用极小的成本使得装置可以适用于不同的产品测试。经实际应用验证，该一体化综合测试装置可以降低测试用主机设备、示波器、PC机等设备的投入，并可以提升测试和量产效率5倍以上，是实现大批量规模交付和降低成本的核心技术。

从上面关于本发明模块化设计的描述可以看出，本发明的系统可以根据应用场景或需求进行灵活地布置而不限于附图所示出的架构。进一步，还应当理解，本发明示例的执行操作的任何模块、单元、组件、服务器、计算机或设备可以包括或以其他方式访问计算机可读介质，诸如存储介质、计算机存储介质或数据存储设备（可移除的）和/或不可移动的）例如磁盘、光盘或磁带。计算机存储介质可以包括以用于存储信息的任何方法或技术实现的易失性和非易失性、可移动和不可移动介质，例如计算机可读指令、数据结构、程序模块或其他数据。基于此，本发明也公开了一种计算机可读存储介质，其上存储有基于一体化综合测试装置的测试的计算机可读指令，该计算机可读指令被一个或多个处理器执行时，实现在前结合附图所描述的方法和操作。

虽然本说明书已经示出和描述了本发明的多个实施方式，但对于本领域技术人员显而易见的是，这样的实施方式是仅以示例的方式提供的。本领域技术人员在不偏离本发明思想和精神的情况下想到许多更改、改变和替代的方式。应当理解在实践本发明的过程中，可以采用本文所描述的本发明实施方式的各种替代方案。所附权利要求书旨在限定本发明的保护范围，并因此覆盖这些权利要求范围内的模块组成、等同或替代方案。

Claims (10)

1.一种一体化综合测试装置，其特征在于，包括：

控制单元，其配置成获取关于待测试有源光缆的测试信息，并基于所述测试信息输出测试指令；

低速信号测试单元，其包括子测试单元和信号源，其中所述子测试单元与所述控制单元和所述信号源相连接，并配置成接收所述测试指令，以及控制所述信号源输出测试信号，其中所述测试信号为模拟有源光缆与设备间握手交互用的低速协议信号；

接口单元，其与所述信号源和所述待测试有源光缆相连接，并配置成接收且向所述待测试有源光缆输出所述测试信号，以及向所述子测试单元输出所述待测试有源光缆的反馈信号；

其中，所述子测试单元还配置成：

对所述反馈信号进行测试分析；以及

将对所述反馈信号的分析结果发送至所述控制单元。

2.根据权利要求1所述的一体化综合测试装置，其特征在于，其中所述子测试单元包括低频周期信号测试单元和/或热复位信号测试单元，其中所述低频周期信号测试单元获取到的反馈信号包括有源光缆的接收端与发送端之间的双向反馈信号。

3.根据权利要求2所述的一体化综合测试装置，其特征在于，还包括：

动态配置单元，其与所述控制单元和所述低频周期信号测试单元相连接，并配置成从所述控制单元处获取所述分析结果，且根据所述分析结果选择性调整目标寄存器的参数，以及根据对所述目标寄存器的参数的调整结果，触发所述低频周期信号测试单元再次执行对待测试有源光缆的测试和分析操作。

4.根据权利要求3所述的一体化综合测试装置，其特征在于，其中所述分析结果包括有源光缆的接收端与发送端之间的失败方向，所述动态配置单元还配置成获取关于所述失败方向的目标寄存器的参数，其中所述目标寄存器的参数包括宽带参数和/或光强参数。

5.根据权利要求4所述的一体化综合测试装置，其特征在于，其中所述目标寄存器为多个不同优先级的寄存器时，所述动态配置单元具体配置成根据优先级依次执行对寄存器的参数的调整操作和对所述低频周期信号测试单元的触发操作。

6.根据权利要求1所述的一体化综合测试装置，其特征在于，其中所述待测试有源光缆包括与所述接口单元连接的光电转换模组，所述一体化综合测试装置还包括：

光功率测试单元，其与所述控制单元和所述接口单元相连接，并配置成执行以下操作：

触发所述光电转换模组处于发光状态；

接收所述光电转换模组反馈的用于表征接收信号强度指示值的电压信号；以及

对所述电压信号进行分析，并将分析结果反馈至所述控制单元。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的一体化综合测试装置，其特征在于，其中所述待测试有源光缆包括与所述接口单元连接的光电转换模组，其中所述测试信息包括关于所述光电转换模组的固件版本，所述一体化综合测试装置还包括：

固件下载单元，其与所述控制单元和所述接口单元相连接，并配置成检测所述固件版本是否为测试版本，并响应于所述固件版本非测试版本，将其更新为所述测试版本。

8.一种基于权利要求3至5中任一项所述的一体化综合测试装置的测试方法，其特征在于，包括：

通过所述控制单元获取关于待测试有源光缆的测试信息，并基于所述测试信息输出测试指令；

通过所述子测试单元接收所述测试指令，并在所述子测试单元包括低频周期信号测试单元时，通过所述低频周期信号测试单元进行低频周期信号测试，以及根据对低频周期信号的测试结果选择性触发所述动态配置单元进行目标寄存器的参数的调整；以及

通过所述动态配置单元根据调整结果触发所述低频周期信号测试单元再次测试低频周期信号。

9.根据权利要求8所述的测试方法，其特征在于，其中所述子测试单元还包括热复位信号测试单元，所述一体化综合测试装置还包括固件下载单元和/或光功率测试单元，所述测试方法还包括：

通过所述热复位信号测试单元进行热复位信号测试；

通过所述固件下载单元检测所述待测试有源光缆中的光电转换模组是否需要更新固件版本，以及根据测试结果选择性为将所述光电转换模组的固件更新为测试版本；和/或

通过光功率测试单元进行接收信号强度指示值的测试。

10.根据权利要求9所述的测试方法，其特征在于，所述测试方法还包括：

在完成对所述待测试有源光缆的所有测试后，通过所述固件下载单元将所述光电转换模组的固件更新为正式版本。

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