CN113900000A - 晶闸管投切器自动校准和测试装置及工作方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种晶闸管投切器自动校准和测试装置及工作方法，包括：降压变压器、控制板、IO扩展板、上位机电脑以及被测晶闸管投切器；所述降压变压器连接所述控制板，所述控制板连接所述上位机电脑；所述控制板连接所述IO扩展板，所述IO扩展板连接所述被测晶闸管投切器；所述被测晶闸管投切器连接所述控制板。本装置是在晶闸管投切器老化前进行的低压测试，能够有效筛选出不良品，并且不会导致故障扩大，提高了生产效率，也大大提高了测试的安全性。
Description
技术领域
本发明涉及晶闸管投切器调试领域，具体地，涉及晶闸管投切器自动校准和测试装置及工作方法。
背景技术
随着电力电子技术及计算机控制技术的发展，各种新型的自动、快速无功补偿装置相继出现,晶闸管投切电容器(TSC)就是一种广泛应用于配电系统的动态无功补偿装置。晶闸管投切器作为TSC中的主要元件，市场需求也是日益增加。在生产环节中需要对晶闸管投切器的采样进行校准，其功能进行测试。现在生产厂家会将晶闸管投切器安装在400V测试架上，对晶闸管投切器做循环投切测试和老化测试。如果晶闸管投切器出现不良品，在400V电压下会导致故障扩大，无法维修增加生产成本。如果投切器需要电压和电流采样也没有进行调零调幅的校准，采样会有偏差。为了降低生产成本，提高生产效率，希望提出一种晶闸管投切器的自动校准和测试装置。
专利文献CN202260461U涉及电路装置，具体是一种针对TSC无功补偿系统的故障自诊断装置。其特点是：它包含检测电路(JC)、光电隔离输入模块(IP)、光电隔离输出模块(OP)、微处理器(MCU)、总线电路(BUS)、继电器模块(JDQ)。
专利文献CN113466653A公开了一种多功能晶闸管投切开关检测方法，包括步骤S1：控制器根据电容器容量的设定值控制相应电容器组的投入并且控制器实时采集三相电动调压器的输出电压，以使得三相电动调压器的输出电压达到设定值；步骤S2：分别对待测晶闸管进行投切装置的正常工作范围检测、缺相保护功能检测、限涌流与投切装置的响应时间检测、投切功能检测、电寿命检测和温升检测。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种晶闸管投切器自动校准和测试装置及工作方法。
根据本发明提供的一种晶闸管投切器自动校准和测试装置，包括：降压变压器、控制板、IO扩展板、上位机电脑以及被测晶闸管投切器；
所述降压变压器连接所述控制板，所述控制板连接所述上位机电脑；
所述控制板连接所述IO扩展板，所述IO扩展板连接所述被测晶闸管投切器；
所述被测晶闸管投切器连接所述控制板。
优选地，所述降压变压器连接断路器；
所述断路器连接电源输入端，所述电源输出端连接所述控制板。
优选地，所述被测晶闸管投切器安装有多个；
多个所述被测晶闸管投切器输入端并联后连接所述控制板，多个所述被测晶闸管投切器输出端并联后连接所述控制板和接触器。
优选地，所述接触器连接电容，所述电容连接所述降压变压器。
优选地，所述控制板上安装电源单元、电容放电单元、通信单元、IO单元、采样单元、投切器输入输出端口切换单元以及中央处理器。
优选地，所述通信单元设置多个485信号端口并连接所述上位机电脑和所述被测晶闸管投切器。
优选地，所述IO单元设置多个IO口并连接所述接触器和所述被测晶闸管投切器。
优选地，所述上位机电脑通过串口连接所述控制板。
优选地，所述降压变压器输出为三相四线，所述降压变压器端口包括A、B、C、N；
所述被测晶闸管投切器输出端和所述被测晶闸管投切器输入端允许通过所述投切器输入输出端口切换单元切换连接所述降压变压器A、B、C、N任一端口。
优选地，本发明还提供一种所述晶闸管投切器自动校准和测试装置的工作方法，包括以下步骤：
步骤S1，启动所述上位机电脑，闭合所述断路器，所述降压变压器、所述控制板以及所述电源开始工作；
步骤S2，对所述被测晶闸管投切器电压调零；
步骤S3，进行所述被测晶闸管投切器断路测试；
步骤S4，所述被测晶闸管投切器电压调幅；
步骤S5，进行所述被测晶闸管投切器的IO测试、投切测试和电流调幅；
步骤S6，重复步骤S5，对剩余所述被测晶闸管投切器进行测试；
在所述步骤S2中，包括以下步骤：
步骤S21，所述上位机电脑通过所述485信号端口传输指令至所述控制板，所述被测晶闸管投切器输出端和所述被测晶闸管投切器输入端连接所述降压变压器输出端口N；
步骤S22，所述上位机电脑通过所述串口读取多个所述被测晶闸管投切器三相市电电压采样值、三相开关电压采样值和三相电流采样值；
步骤S23，计算三相市电电压采样值、三相开关电压采样值和三相电流采样值的第一平均值，所述第一平均值取反的值为调零值；
步骤S24，所述上位机电脑保持所述调零值并通过所述485信号端口传输至所述控制板；
所述控制板通过所述485信号端口写入多个所述被测晶闸管投切器；
在步骤S3中，包括以下步骤：
步骤S31，所述上位机电脑通过所述485信号端口传输指令至所述控制板，所述被测晶闸管投切器输入端连接所述降压变压器输出端口A、B、C；
所述被测晶闸管投切器输出端悬浮，闭合所述接触器；
步骤S32，所述上位机电脑通过所述485信号端口传输指令至所述控制板，所述电容放电单元对所述电容放电；
步骤S33，所述控制板读取所述被测晶闸管投切器开关电压；
步骤S34，计算开关电压的第二平均值，当所述第二平均值超限，所述被测晶闸管投切器短路并停止测试，当所述第二平均值不超限，所述被测晶闸管投切器短路，测试通过；
在步骤S4中，包括以下步骤：
步骤S41，所述上位机电脑通过所述485信号端口传输指令至所述控制板，所述被测晶闸管投切器输入端连接所述降压变压器输出端口A、B、C；
所述被测晶闸管投切器输出端连接所述降压变压器输出端口N，断开所述接触器；
步骤S42，所述控制板通过所述采样单元采样三相电压，计算三相电压的第一有效值；
读取多个所述被测晶闸管投切器三相电压采样值和三相开关电压采样值，计算第二有效值；
步骤S43，所述被测晶闸管投切器电压采样校准系数为所述第一有效值与所述第二有效值比值；
步骤S44，所述上位机电脑保持所述电压采样校准系数，所述控制板将所述校准系数写入多个所述被测晶闸管投切器；
在步骤S5中，包括以下步骤：
步骤S51，所述上位机电脑通过所述485信号端口传输指令至所述控制板，所述被测晶闸管投切器输入端连接所述降压变压器输出端口A、B、C；
所述被测晶闸管投切器输出端悬浮，闭合所述接触器；
步骤S52，所述控制板对其中一个所述被测晶闸管投切器IO口发送投入指令并通过所述485信号端口读取所述IO口状态，判断所述IO口是否正常；
步骤S53，所述控制板通过所述485信号端口读取所述被测晶闸管投切器故障状态，如果没有故障则投入正常；
步骤S54，所述控制板通过所述采样单元采样三相电流，计算第三有效值；
读取多个所述被测晶闸管投切器三相电流采样值和，计算第四有效值；
步骤S55，所述被测晶闸管投切器电流采样校准系数为所述第三有效值与所述第四有效值比值；
步骤S56，所述控制板对所述被测晶闸管投切器IO口发送切除指令并通过所述485信号端口读取所述IO口状态，判断所述IO口是否正常。
优选地，所述485信号端口设置有6个，所述IO口设置有16个。
优选地，所述被测晶闸管投切器通过所述采样单元对输入电压、开关电压以及开关电流采集。
优选地，所述控制板通过所述IO扩展板扩展485信号和IO信号。
与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：
1、本装置是在晶闸管投切器老化前进行的低压测试，能够有效筛选出不良品，并且不会导致故障扩大，提高了生产效率，也大大提高了测试的安全性；
2、校准后的电压电流采样能提高晶闸管电流和电压的采样精度。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为晶闸管投切器自动校准和测试装置立体结构示意图；
图2为晶闸管投切器自动校准和测试装置主视图；
图3为晶闸管投切器自动校准和测试装置电气原理图；
图4为控制板结构示意图；
图5为工作方法原理图；
图中所示：
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明，但不以任何形式限制本发明。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变化和改进。这些都属于本发明的保护范围。
实施例1
如图1至图3所示，一种晶闸管投切器自动校准和测试装置，包括：降压变压器1、控制板2、IO扩展板3、断路器4、接触器5、上位机电脑6、电源7、被测晶闸管投切器8以及电容9；降压变压器1连接控制板2，控制板2连接上位机电脑6，控制板2连接IO扩展板3，IO扩展板3连接被测晶闸管投切器8，被测晶闸管投切器8连接控制板2。被测晶闸管投切器8安装有多个，多个被测晶闸管投切器8输入端并联后连接控制板2，多个被测晶闸管投切器8输出端并联后连接控制板2和接触器5，接触器5连接电容9，电容9连接降压变压器1。降压变压器1连接断路器4，断路器4连接电源7输入端，电源7输出端连接控制板2，上位机电脑6通过串口连接控制板2。
如图4所示，控制板2上安装电源单元21、电容放电单元22、通信单元23、IO单元24、采样单元25、投切器输入输出端口切换单元26以及中央处理器27。通信单元23设置多个485信号端口并连接上位机电脑6和被测晶闸管投切器8，IO单元24设置多个IO口并连接接触器5和被测晶闸管投切器8。降压变压器1包括输出端口A、B、C、N，被测晶闸管投切器8输出端和被测晶闸管投切器8输入端允许通过投切器输入输出端口切换单元26切换连接A、B、C、N任一输出端口。
如图5所示，本实施例还提供一种晶闸管投切器自动校准和测试装置的工作方法，包括以下步骤：步骤S1，启动上位机电脑6，闭合断路器4，降压变压器1、控制板2以及电源7开始工作；步骤S2，对被测晶闸管投切器8电压调零；步骤S3，进行被测晶闸管投切器8断路测试；步骤S4，被测晶闸管投切器8电压调幅；步骤S5，进行被测晶闸管投切器8的IO测试、投切测试和电流调幅；步骤S6，重复步骤S5，对剩余被测晶闸管投切器8进行测试；
在步骤S2中，包括以下步骤：步骤S21，上位机电脑6通过485信号端口传输指令至控制板2，被测晶闸管投切器8输出端和被测晶闸管投切器8输入端连接降压变压器1输出端口N；步骤S22，上位机电脑6通过串口读取多个被测晶闸管投切器8三相市电电压采样值、三相开关电压采样值和三相电流采样值；步骤S23，计算三相市电电压采样值、三相开关电压采样值和三相电流采样值的第一平均值，第一平均值取反的值为调零值；步骤S24，上位机电脑6保持调零值并通过485信号端口传输至控制板2，控制板2通过485信号端口写入多个被测晶闸管投切器8；
在步骤S3中，包括以下步骤：步骤S31，上位机电脑6通过485信号端口传输指令至控制板2，被测晶闸管投切器8输入端连接降压变压器1输出端口A、B、C；被测晶闸管投切器8输出端悬浮，闭合接触器5；步骤S32，上位机电脑6通过485信号端口传输指令至控制板2，电容放电单元22对电容9放电；步骤S33，控制板2读取被测晶闸管投切器8开关电压；步骤S34，计算开关电压的第二平均值，当第二平均值超限，被测晶闸管投切器短路并停止测试，当第二平均值不超限，被测晶闸管投切器短路，测试通过；
在步骤S4中，包括以下步骤：步骤S41，上位机电脑6通过485信号端口传输指令至控制板2，被测晶闸管投切器8输入端连接降压变压器1输出端口A、B、C；被测晶闸管投切器8输出端连接降压变压器1输出端口N，断开接触器5；步骤S42，控制板2通过采样单元25采样三相电压，计算三相电压的第一有效值；读取多个被测晶闸管投切器8三相电压采样值和三相开关电压采样值，计算第二有效值；步骤S43，被测晶闸管投切器8电压采样校准系数为第一有效值与第二有效值比值；步骤S44，上位机电脑6保持电压采样校准系数，控制板2将校准系数写入多个被测晶闸管投切器8；
在步骤S5中，包括以下步骤：步骤S51，上位机电脑6通过485信号端口传输指令至控制板2，被测晶闸管投切器8输入端连接降压变压器1的输出端口A、B、C；被测晶闸管投切器8输出端悬浮，闭合接触器5；步骤S52，控制板2对其中一个被测晶闸管投切器8IO口发送投入指令并通过485信号端口读取IO口状态，判断IO口是否正常；步骤S53，控制板2通过485信号端口读取被测晶闸管投切器8故障状态，如果没有故障则投入正常；步骤S54，控制板2通过采样单元25采样三相电流，计算第三有效值；读取多个被测晶闸管投切器8三相电流采样值和，计算第四有效值；步骤S55，被测晶闸管投切器8电流采样校准系数为第三有效值与第四有效值比值；步骤S56，控制板2对被测晶闸管投切器8IO口发送切除指令并通过485信号端口读取IO口状态，判断IO口是否正常。
实施例2
实施例2作为实施例的优选例。
如图1和图2所示，本实施例包括降压变压器1、控制板2、IO扩展板3、断路器4、接触器5、上位机电脑6、电源7、被测晶闸管投切器8以及电容9。
断路器4与降压变压器1相连，降压变压器1与控制板2相连，上位机电脑6与控制板2通过串口连接，电源7输入端与断路器4相连，电源7的输出端与控制板2相连，IO扩展板3与控制板2相连，IO扩展板3将控制板2传输过来的485信号和IO信号扩展后，与五个被测晶闸管投切器8的IO口和485信号端口一一相连；五个被测晶闸管投切器8输入端并联后与控制板2相连，被测晶闸管投切器8输出端并联后与控制板2、接触器5相连，接触器5与电容9相连，电容9与降压变压器1相连。
如图4所示，控制板2包括：电源单元21、电容放电单元22、通信单元23、IO单元24、采样单元25、投切器输入输出端口切换单元26和中央处理器27。通信单元23有六个485信号端口，分别与上位机电脑6、五个被测的晶闸管投切器8相连。IO单元24包括了十六个IO口，用于五个被测晶闸管投切器8以及接触器5的控制。采样单元25包括被测晶闸管投切器8的输入电压采集、开关电压采集、开关电流采集，采集的数据作为被测晶闸管投切器8采样校准的参考。投切器输入输出端口切换单元26可以将连接至控制板2上的被测晶闸管投切器8输入端和被测晶闸管投切器8输出端，任意连至降压变压器1的输出端口A、B、C、N上，用于电压的调零调幅。
如图5所示本实施例还相应公开了一种基于如上高压晶闸管投切电容器装置的投切方法，包括以下步骤：
步骤1、启动上位机电脑6；
步骤2、手动闭合断路器4，降压变压器1和电源7、控制板2开始工作；
步骤3、被测晶闸管投切器8的电压调零，本步骤可细分如下步骤：第1步，上位机电脑6通过485通讯给控制板2发送指令，控制被测晶闸管投切器8的输入输出端口都接至输出端口N上；第2步，通过串口读取五个被测晶闸管投切器8的三相市电电压采样值、三相开关电压采样值、三相电流采样值；第3步，计算第一平均值，调零值为第一平均值取反后的值；第4步，上位机电脑6保持调零数据，通过485通讯发送给控制板2，控制板2再通过485通讯分别写入五个被测晶闸管投切器8；
步骤4、被测晶闸管投切器8的断路测试，本步骤可细分如下步骤：第1步，上位机电脑6通过485通讯给控制板2发送指令，控制被测晶闸管投切器8输入端分别接至降压变压器1的输出端口A、B、C，被测晶闸管投切器8输出端悬浮，闭合接触器5；第2步，上位机电脑6通过485通讯给控制板2发送指令，控制电容放电单元22对电容9进行放电操作；第3步，控制板2读取五个被测晶闸管投切器8的开关电压；第4步，计算所有开关电压的第二平均值，如果第二平均值超限，则被测晶闸管投切器短路，报警后停止测试。如果第二平均值未超限，则被测晶闸管投切器断路，测试通过；
步骤5、电压调幅，本步骤可细分如下步骤：第1步，上位机电脑6通过485通讯给控制板2发送指令，控制被测晶闸管投切器8输入端分别接至降压变压器1的输出端口A、B、C上，被测晶闸管投切器8输出端接至输出端口N上，断开接触器5；第2步，控制板2通过采样单元25对三相电压进行采样，计算三相电压第一有效值；第3步，读取五个被测晶闸管投切器8的三相电压采样和三相开关电压采样，计算第二有效值；第4步，计算第一有效值和第二有效值比值，即为被测晶闸管投切器8电压采样校准系数；第5步，上位机电脑6读取并保持电压采样校准系数，控制板2将系数写入五个被测晶闸管投切器8；
步骤6、被测晶闸管投切器8的IO测试、投切测试和电流调幅：第1步，上位机电脑6通过485通讯给控制板2发送指令，控制被测晶闸管投切器8输入端分别接至降压变压器1的输出端口A、B、C上，被测晶闸管投切器8输出端悬浮，闭合接触器5；第2步，控制板2给1号被测晶闸管投切器8的IO口发送投入指令，通过485通讯读取IO口状态，判断IO口是否正常；第3步，控制板2通过485通讯读取1号被测晶闸管投切器8的故障状态，如果没有故障则投入正常；第4步：控制板2通过采样单元25对三相电流进行采样，计算第三有效值；第5步，读取五个被测晶闸管投切器8的三相电流采样计算第四有效值；第6步，计算第三有效值和第四有效值比值，即为被测晶闸管投切器8电流采样校准系数；第7步，控制板2给1号被测晶闸管投切器8的IO口发送切除指令，通过485通讯读取IO口状态，判断IO口是否正常；
步骤7：对剩下的四个被测晶闸管投切器8重复步骤6的测试。
本领域技术人员知道，除了以纯计算机可读程序代码方式实现本发明提供的系统及其各个装置、模块、单元以外，完全可以通过将方法步骤进行逻辑编程来使得本发明提供的系统及其各个装置、模块、单元以逻辑门、开关、专用集成电路、可编程逻辑控制器以及嵌入式微控制器等的形式来实现相同功能。所以，本发明提供的系统及其各项装置、模块、单元可以被认为是一种硬件部件，而对其内包括的用于实现各种功能的装置、模块、单元也可以视为硬件部件内的结构；也可以将用于实现各种功能的装置、模块、单元视为既可以是实现方法的软件模块又可以是硬件部件内的结构。
在本申请的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
以上对本发明的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变化或修改，这并不影响本发明的实质内容。在不冲突的情况下，本申请的实施例和实施例中的特征可以任意相互组合。
Claims (10)
1.一种晶闸管投切器自动校准和测试装置，其特征在于，包括：降压变压器(1)、控制板(2)、IO扩展板(3)、上位机电脑(6)以及被测晶闸管投切器(8)；
所述降压变压器(1)连接所述控制板(2)，所述控制板(2)连接所述上位机电脑(6)；
所述控制板(2)连接所述IO扩展板(3)，所述IO扩展板(3)连接所述被测晶闸管投切器(8)；
所述被测晶闸管投切器(8)连接所述控制板(2)。
2.根据权利要求1所述晶闸管投切器自动校准和测试装置，其特征在于：所述降压变压器(1)连接断路器(4)；
所述断路器(4)连接电源(7)输入端，所述电源(7)输出端连接所述控制板(2)。
3.根据权利要求2所述晶闸管投切器自动校准和测试装置，其特征在于：所述被测晶闸管投切器(8)安装有多个；
多个所述被测晶闸管投切器(8)输入端并联后连接所述控制板(2)，多个所述被测晶闸管投切器(8)输出端并联后连接所述控制板(2)和接触器(5)。
4.根据权利要求3所述晶闸管投切器自动校准和测试装置，其特征在于：所述接触器(5)连接电容(9)，所述电容(9)连接所述降压变压器(1)。
5.根据权利要求4所述晶闸管投切器自动校准和测试装置，其特征在于：所述控制板(2)上安装电源单元(21)、电容放电单元(22)、通信单元(23)、IO单元(24)、采样单元(25)、投切器输入输出端口切换单元(26)以及中央处理器(27)。
6.根据权利要求5所述晶闸管投切器自动校准和测试装置，其特征在于：所述通信单元(23)设置多个485信号端口并连接所述上位机电脑(6)和所述被测晶闸管投切器(8)。
7.根据权利要求6所述晶闸管投切器自动校准和测试装置，其特征在于：所述IO单元(24)设置多个IO口并连接所述接触器(5)和所述被测晶闸管投切器(8)。
8.根据权利要求7所述晶闸管投切器自动校准和测试装置，其特征在于：所述上位机电脑(6)通过串口连接所述控制板(2)。
9.根据权利要求8所述晶闸管投切器自动校准和测试装置，其特征在于：所述降压变压器(1)输出为三相四线，所述降压变压器(1)端口包括A、B、C、N；
所述被测晶闸管投切器(8)输出端和所述被测晶闸管投切器(8)输入端允许通过所述投切器输入输出端口切换单元(26)切换连接所述降压变压器(1)A、B、C、N任一端口。
10.一种权利要求9所述晶闸管投切器自动校准和测试装置的工作方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1，启动所述上位机电脑(6)，闭合所述断路器(4)，所述降压变压器(1)、所述控制板(2)以及所述电源(7)工作；
步骤S2，对所述被测晶闸管投切器(8)电压调零；
步骤S3，进行所述被测晶闸管投切器(8)断路测试；
步骤S4，所述被测晶闸管投切器(8)电压调幅；
步骤S5，进行所述被测晶闸管投切器(8)的IO测试、投切测试和电流调幅；
步骤S6，重复步骤S5，对剩余所述被测晶闸管投切器(8)进行测试；
在所述步骤S2中，包括以下步骤：
步骤S21，所述上位机电脑(6)通过所述485信号端口传输指令至所述控制板(2)，所述被测晶闸管投切器(8)输出端和所述被测晶闸管投切器(8)输入端连接所述降压变压器(1)输出端口N；
步骤S22，所述上位机电脑(6)通过所述串口读取多个所述被测晶闸管投切器(8)三相市电电压采样值、三相开关电压采样值和三相电流采样值；
步骤S23，计算三相市电电压采样值、三相开关电压采样值和三相电流采样值的第一平均值，所述第一平均值取反的值为调零值；
步骤S24，所述上位机电脑(6)保持所述调零值并通过所述485信号端口传输至所述控制板(2)；
所述控制板(2)通过所述485信号端口写入多个所述被测晶闸管投切器(8)；
在步骤S3中，包括以下步骤：
步骤S31，所述上位机电脑(6)通过所述485信号端口传输指令至所述控制板(2)，所述被测晶闸管投切器(8)输入端连接所述降压变压器(1)输出端口A、B、C；
所述被测晶闸管投切器(8)输出端悬浮，闭合所述接触器(5)；
步骤S32，所述上位机电脑(6)通过所述485信号端口传输指令至所述控制板(2)，所述电容放电单元(22)对所述电容(9)放电；
步骤S33，所述控制板(2)读取所述被测晶闸管投切器(8)开关电压；
步骤S34，计算开关电压的第二平均值，当所述第二平均值超限，所述被测晶闸管投切器(8)短路并停止测试，当所述第二平均值不超限，所述被测晶闸管投切器短路，测试通过；
在步骤S4中，包括以下步骤：
步骤S41，所述上位机电脑(6)通过所述485信号端口传输指令至所述控制板(2)，所述被测晶闸管投切器(8)输入端连接所述降压变压器(1)输出端口A、B、C；
所述被测晶闸管投切器(8)输出端连接所述降压变压器(1)输出端口N，断开所述接触器(5)；
步骤S42，所述控制板(2)通过所述采样单元(25)采样三相电压，计算三相电压的第一有效值；
读取多个所述被测晶闸管投切器(8)三相电压采样值和三相开关电压采样值，计算第二有效值；
步骤S43，所述被测晶闸管投切器(8)电压采样校准系数为所述第一有效值与所述第二有效值比值；
步骤S44，所述上位机电脑(6)保持所述电压采样校准系数，所述控制板(2)将所述校准系数写入多个所述被测晶闸管投切器(8)；
在步骤S5中，包括以下步骤：
步骤S51，所述上位机电脑(6)通过所述485信号端口传输指令至所述控制板(2)，所述被测晶闸管投切器(8)输入端连接所述降压变压器(1)输出端口A、B、C；
所述被测晶闸管投切器(8)输出端悬浮，闭合所述接触器(5)；
步骤S52，所述控制板(2)对其中一个所述被测晶闸管投切器(8)IO口发送投入指令并通过所述485信号端口读取所述IO口状态，判断所述IO口是否正常；
步骤S53，所述控制板(2)通过所述485信号端口读取所述被测晶闸管投切器(8)故障状态，如果没有故障则投入正常；
步骤S54，所述控制板(2)通过所述采样单元(25)采样三相电流，计算第三有效值；
读取多个所述被测晶闸管投切器(8)三相电流采样值和，计算第四有效值；
步骤S55，所述被测晶闸管投切器(8)电流采样校准系数为所述第三有效值与所述第四有效值比值；
步骤S56，所述控制板(2)对所述被测晶闸管投切器(8)IO口发送切除指令并通过所述485信号端口读取所述IO口状态，判断所述IO口是否正常。
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- 2021-11-10 CN CN202111327279.0A patent/CN113900000A/zh active Pending
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