CN113870921B - 一种忆阻器阵列上符号数映射方法 - Google Patents

一种忆阻器阵列上符号数映射方法 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种忆阻器阵列上符号数映射方法,该映射方法将有符号数以补码的表达形式直接映射在忆阻器阵列上,并依据不同映射数的位宽以及忆阻器精度获得映射方案。首先,需要确认当前忆阻器类型器件为二值还是多值,如果是多值器件需再确认单元精度;然后,确定所映射符号数的位宽,并将符号数转为补码形式下的二进制数;最后,得出该符号数映射方案。本发明适用于神经网络计算,该方法映射符号数所占用忆阻器资源消耗小,通用性强,数值覆盖范围和实际表达范围一样。

Description

一种忆阻器阵列上符号数映射方法
技术领域
本发明涉及新型智能计算领域,尤其是涉及一种忆阻器阵列上符号数映射方法。
背景技术
当前对于忆阻器的研究越来越广泛,涉及的领域也各式各样,如安全、数学、人工智能领域。在人工智能领域,忆阻器常常被用来作为神经网络计算的工具与媒介,其高读写速度、低功耗、高并行度的特性被充分的体现出。忆阻器,记忆电阻器(Memristor)是表示磁通与电荷关系的电路器件,与电阻不同,忆阻的阻值是由流经它的电荷确定,通过测定忆阻的阻值,便可知道流经它的电荷量,从而有记忆电荷的作用。并且,基于忆阻的随机存储器的集成度、功耗、读写速度都要比传统的随机存储器优越。此外,忆阻是硬件实现人工神经网络突触的最好方式。由于忆阻的非线性性质,可以产生混沌电路,从而在保密通信中也有很多应用。
阻变忆阻器(Resistive Random Access Memory,ReRAM)作为忆阻器中研究较为广泛的一种,可以根据其上下两级施加的不同电压可以变换其电导值,根据这个特性,ReRAM可以作为实现存储器和处理器一体化“存算一体”芯片的基本单元。
ReRAM器件构成的阵列,可以将矩阵中对应的元素值对应ReRAM器件的电导值。由欧姆定律可以得到,器件输出的电流值就是电压值和电导值的乘积计算结果;又根据基尔霍夫定律,则各列的总的输出电流就应该等于该行中每一个器件电流之和,通过乘累加计算,即完成了卷积运算,整个计算过程不需要数据的搬移,在电导和电压施加的一个瞬间就可以完成卷积运算。极大降低了传统矩阵运算的复杂度,降低了系统的功耗。
但是,在通过忆阻器做矩阵计算的过程中,对于神经网络权重值的映射,现有技术中一方面,会采用将有符号数以无符号数值映射在一个正忆阻器阵列和一个负忆阻器阵列上,然后对于计算结果做差,得到最终值,但该方法会占用较多忆阻器的资源,在数值表达范围上,也会损失一个最小负数值。另一方面,是通过改变器件或者增加模拟电路,来实现对于符号数的映射,该方法比较复杂,且降低了通用性。
发明内容
为解决现有技术的不足,将有符号数以补码的表达形式,直接映射在忆阻器阵列上,并依据不同映射数的位宽以及忆阻器精度,获得映射方案,实现降低忆阻器资源占用,避免损失一个最小负数值,提高通用性的目的,本发明采用如下的技术方案:
一种忆阻器阵列上符号数映射方法,包括如下步骤:
S1,获取忆阻器类型;
S2,当忆阻器是多值器件时,获取其单元精度m
S3,获取待映射符号数的位宽N;
S4,将待映射符号数转为二进制补码形式;
S5,将二进制的N位符号数,映射在1+n个多值忆阻器上,其中最高位为符号位,由 一个多值忆阻器存储,当
Figure 722653DEST_PATH_IMAGE001
不为整数时,剩余的多值忆阻器数量
Figure 187263DEST_PATH_IMAGE002
向上取整,并 将多出的空位用符号位补全,放到原符号位后,并存储到n个多值忆阻器中。
进一步地,S5包括如下步骤:
S51,第一个多值忆阻器存放符号位;
S52,当
Figure 763738DEST_PATH_IMAGE001
不为整数时,获取其余数q
S53,计算p=m-q个补全位,从而使
Figure 690106DEST_PATH_IMAGE003
为整数;
S54,将补全位用符号位补全(即补全的数值与符号位相同)后,存入第二个多值忆阻器中,依次存储剩余的符号数(当第二个多值忆阻器的存储空间仍有剩余时,需先存满第二个多值忆阻器,再按次序存储后续的多值存储器)。
进一步地,S5中,当
Figure 51948DEST_PATH_IMAGE001
为整数时,剩余的
Figure 405569DEST_PATH_IMAGE004
个多值忆阻器,依次存储剩余的 符号数。
进一步地,当忆阻器为二值时,n=N-1个二值忆阻器,分别储存二进制符号数的第N-1位至0位。
进一步地,将忆阻器中的映射值作为权重值W,与输入数据
Figure 469340DEST_PATH_IMAGE005
进行计算,得到输出数 据
Figure 199399DEST_PATH_IMAGE006
。由于每个忆阻器拥有的电导值为
Figure 412818DEST_PATH_IMAGE007
,对应其权重值
Figure 937340DEST_PATH_IMAGE008
,施加电压
Figure 488407DEST_PATH_IMAGE009
,对 应输入特征值
Figure 507310DEST_PATH_IMAGE010
,依据欧姆定律,每个单元流出
Figure 827433DEST_PATH_IMAGE011
,该电流即输入特征值
Figure 54015DEST_PATH_IMAGE010
(即输入值)与权重值
Figure 843110DEST_PATH_IMAGE008
的(即映射在忆阻器上的值)乘积。
进一步地,在多值忆阻器阵列中,依据基尔霍夫电流定律,每一列流出的总电流是 一列中各个多值忆阻器RERAM流出电流的总合,
Figure 649392DEST_PATH_IMAGE012
Figure 89601DEST_PATH_IMAGE013
Figure 706658DEST_PATH_IMAGE014
,即对应矩阵乘加的结果值
Figure 232317DEST_PATH_IMAGE015
,其中
Figure 107869DEST_PATH_IMAGE016
表示符号位多值忆阻器的数据,
Figure 884808DEST_PATH_IMAGE017
表示其他多值忆阻器的数据,例如,用于卷积的运算时, 便可减少卷积计算所需的忆阻器的数量。
进一步地,在二值忆阻器阵列中,每一列各个二值忆阻器的总合,对应矩阵乘加的 结果值
Figure 453193DEST_PATH_IMAGE018
,其中
Figure 200569DEST_PATH_IMAGE019
表示符号位二值忆阻器的数 据,
Figure 364965DEST_PATH_IMAGE017
表示其他二值忆阻器的数据。
进一步地,待映射符号数为十进制时,将十进制数转为二进制数。
进一步地,符号位为正负符号,0表示正,1表示负。
本发明的优势和有益效果在于:
本发明实现的符号数映射方式,可以将有符号数直接以补码的表达形式,直接映射在忆阻器阵列上,并依据不同映射数的位宽以及忆阻器精度,获得映射方案,具有映射符号数占用忆阻器资源消耗小,通用性强,数值覆盖范围和实际表达范围一样的特征。
附图说明
图1是本发明的方法流程图。
图2是本发明中忆阻器阵列映射示意图。
图3是本发明中10位符号数映射到多值4比特忆阻器示意图。
图4是本发明中符号数映射到二值忆阻器示意图。
图5是本发明中符号数映射到多值2比特忆阻器示意图。
图6是本发明中二值忆阻器占用数量图。
图7是本发明中精度为2比特的多值忆阻器占用数量图。
图8是本发明中精度为3比特的多值忆阻器占用数量图。
图9是本发明中精度为5比特的多值忆阻器占用数量图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明,并不用于限制本发明。
如图1所示,一种忆阻器阵列上符号数映射方法,包括如下步骤:
(1)首先,需要确认当前忆阻器器件类型为二值还是多值;
(2)如果是多值器件需再确认单元精度;
(3)然后,确定所映射符号数的位宽;
(4)将所映射符号数转为二进制补码形式;
(5)最后,得出该符号数映射方案。各个步骤具体的实施,依据器件的特性以及所映射值的位宽确认。
如图2、图3所示,在尺寸为A*B的忆阻器阵列上,一个N位的有符号数值W将会被映 射在1+n个忆阻器上。当忆阻器为二值时,
Figure 514187DEST_PATH_IMAGE020
,其中1个忆阻器单元储存数值W的最高 位,代表其符号(即符号位忆阻器),剩余n个忆阻器分别储存数值W的第N-1位至0位。当忆阻 器为多值时,
Figure 987893DEST_PATH_IMAGE021
,m为忆阻器单元的精度,当
Figure 973298DEST_PATH_IMAGE022
不为整数,需要向上取整,其中1个 忆阻器单元储存数值W的最高位,代表其符号(即符号位忆阻器),剩余忆阻器分别储存数值 W的第N-1位至0位,依据不同的m值存入m位到忆阻器中,如果
Figure 190653DEST_PATH_IMAGE022
不为整数,在符号位忆阻器 后的第一个忆阻器需要补全p个符号位(即补全的P与符号位相同)。如N=10位的二进制符号 数映射到多值4比特忆阻器(每个可存4比特的忆阻器)上,N-1为9,
Figure 194381DEST_PATH_IMAGE022
不为整数,余q=1,需 要在W的第N位与N-1位之间补p=m-q=3个第N位(此时,第N位是1,则补全位是111),使得
Figure 855300DEST_PATH_IMAGE023
为整数。
在忆阻器阵列中,每个忆阻器拥有的电导值为
Figure 577269DEST_PATH_IMAGE007
,对应其权重值
Figure 598314DEST_PATH_IMAGE008
,施加电 压
Figure 938772DEST_PATH_IMAGE009
,对应输入特征值
Figure 19861DEST_PATH_IMAGE010
,依据欧姆定律,每个cell流出
Figure 229125DEST_PATH_IMAGE011
,该电流就是 输入特征值
Figure 804594DEST_PATH_IMAGE010
(即输入值)与权重值
Figure 782915DEST_PATH_IMAGE008
的(即映射在忆阻器上的值)乘积。同时,依据基 尔霍夫电流定律,每一列流出的总电流是一列中各个忆阻器RERAM流出电流的总合,
Figure 520058DEST_PATH_IMAGE012
,即对应矩阵乘加的结果值
Figure 951039DEST_PATH_IMAGE024
。上述变量m’
Figure 313887DEST_PATH_IMAGE013
;上述变量n’
Figure 163026DEST_PATH_IMAGE014
。如图4所示,所映射值W为4位,映射目标为二值忆阻器,目标值将会被映射到4 个忆阻器上,分别为
Figure 320337DEST_PATH_IMAGE025
Figure 504194DEST_PATH_IMAGE026
Figure 418536DEST_PATH_IMAGE027
Figure 840290DEST_PATH_IMAGE028
。如十进制数6,映射到
Figure 434082DEST_PATH_IMAGE025
为0,
Figure 324809DEST_PATH_IMAGE029
为1,
Figure 295039DEST_PATH_IMAGE027
为1,
Figure 836879DEST_PATH_IMAGE030
为0; 十进制数3,映射到
Figure 352305DEST_PATH_IMAGE025
为0,
Figure 979595DEST_PATH_IMAGE029
为0,
Figure 487937DEST_PATH_IMAGE027
为1,
Figure 900595DEST_PATH_IMAGE030
为1;十进制数-4,映射到
Figure 570611DEST_PATH_IMAGE025
为1,
Figure 950777DEST_PATH_IMAGE029
为1,
Figure 731651DEST_PATH_IMAGE027
为 0,
Figure 261465DEST_PATH_IMAGE030
为0;十进制数-7,映射到
Figure 102382DEST_PATH_IMAGE025
为1,
Figure 969844DEST_PATH_IMAGE029
为0,
Figure 570720DEST_PATH_IMAGE027
为0,
Figure 207238DEST_PATH_IMAGE030
为1。在实际计算过程中,
Figure 219056DEST_PATH_IMAGE025
为一 个符号标志位值,实际值是乘上系数
Figure 58968DEST_PATH_IMAGE031
Figure 447224DEST_PATH_IMAGE029
-
Figure 938248DEST_PATH_IMAGE030
可以视为无符号数,实际值分别乘上系数
Figure 137279DEST_PATH_IMAGE032
Figure 713754DEST_PATH_IMAGE033
Figure 905701DEST_PATH_IMAGE034
。即
Figure 733455DEST_PATH_IMAGE035
实例1:
Figure 618235DEST_PATH_IMAGE036
Figure 682005DEST_PATH_IMAGE037
实例2:
Figure 428376DEST_PATH_IMAGE038
Figure 362834DEST_PATH_IMAGE039
实例3:
Figure 418514DEST_PATH_IMAGE040
Figure 454735DEST_PATH_IMAGE041
如图5所示,所映射值W为N=4位,映射目标为多值2比特忆阻器(m=2),将十进制数转 成二进制数,然后目标值将会被映射到3个忆阻器上,分别为
Figure 988484DEST_PATH_IMAGE042
,
Figure 308607DEST_PATH_IMAGE043
,
Figure 20342DEST_PATH_IMAGE044
。如十进制数6,映 射到
Figure 793126DEST_PATH_IMAGE042
为0,
Figure 864987DEST_PATH_IMAGE043
为1,
Figure 76436DEST_PATH_IMAGE045
为2;十进制数3,映射到
Figure 942761DEST_PATH_IMAGE042
为0,
Figure 202841DEST_PATH_IMAGE043
为0,
Figure 812814DEST_PATH_IMAGE045
为3;十进制数-4,映射到
Figure 858262DEST_PATH_IMAGE042
为1,
Figure 895488DEST_PATH_IMAGE043
为1,
Figure 642864DEST_PATH_IMAGE045
为0;十进制数-7,映射到
Figure 807260DEST_PATH_IMAGE042
为1,
Figure 956482DEST_PATH_IMAGE043
为0,
Figure 695768DEST_PATH_IMAGE045
为1。在实际计算过程中,
Figure 415593DEST_PATH_IMAGE042
为一个符号标志位值只会位0或1,可以当作一个二值忆阻器来看待,实际值是乘上系数
Figure 367368DEST_PATH_IMAGE046
Figure 636676DEST_PATH_IMAGE043
-
Figure 29086DEST_PATH_IMAGE045
可以视为无符号数,实际值分别乘上系数
Figure 485476DEST_PATH_IMAGE047
Figure 506521DEST_PATH_IMAGE048
。即
Figure 364756DEST_PATH_IMAGE049
实例4:
Figure 196577DEST_PATH_IMAGE050
Figure 405841DEST_PATH_IMAGE051
实例5:
Figure 699419DEST_PATH_IMAGE052
Figure 428472DEST_PATH_IMAGE053
实例6:
Figure 100368DEST_PATH_IMAGE054
Figure 531350DEST_PATH_IMAGE055
如图6所示,当映射的器件为二值忆阻器时,在所映射符号数位宽范围为1-16为的情况下,该映射方法占用忆阻器的数量比普通正负阵列映射方法的占用忆阻器数量少0%-50%。如图7-图9所示,当映射的器件为多值忆阻器时,在所映射符号数位宽范围为1-16为的情况下,虽然随着忆阻器器件精度的变化占用忆阻器的数量也在变化,但是该映射方法占用忆阻器的数量还是比普通正负阵列映射方法的占用忆阻器数量少0%-40%。结合图6-9所示,在同一种忆阻器器件特性下,随着所映射符号数位宽的增长,该映射方法对于忆阻器的占用更少。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案,而非对其限制;尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改,或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换;而这些修改或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本发明实施例技术方案的范围。

Claims (8)

1.一种忆阻器阵列上符号数映射方法,其特征在于包括如下步骤:
S1,获取忆阻器类型;
S2,当忆阻器是多值器件时,获取其单元精度m
S3,获取待映射符号数的位宽N;
S4,将待映射符号数转为二进制补码形式;
S5,将二进制的N位符号数,映射在1+n个多值忆阻器上,其中最高位为符号位,由一个 多值忆阻器存储,当
Figure DEST_PATH_IMAGE001
不为整数时,剩余的多值忆阻器数量
Figure DEST_PATH_IMAGE002
向上取整,并将多 出的空位用符号位补全,放到原符号位后,并存储到n个多值忆阻器中;包括如下步骤:
S51,第一个多值忆阻器存放符号位;
S52,当
Figure 322567DEST_PATH_IMAGE001
不为整数时,获取其余数q
S53,计算p=m-q个补全位;
S54,将补全位用符号位补全后,存入第二个多值忆阻器中,依次存储剩余的符号数。
2.根据权利要求1所述的一种忆阻器阵列上符号数映射方法,其特征在于所述S5中,当
Figure 158149DEST_PATH_IMAGE001
为整数时,剩余的
Figure DEST_PATH_IMAGE003
个多值忆阻器,依次存储剩余的符号数。
3.根据权利要求1所述的一种忆阻器阵列上符号数映射方法,其特征在于当忆阻器为二值时,n=N-1个二值忆阻器,分别储存二进制符号数的第N-1位至0位。
4.根据权利要求1-3之一所述的一种忆阻器阵列上符号数映射方法,其特征在于将忆 阻器中的映射值作为权重值W,与输入数据
Figure DEST_PATH_IMAGE004
进行计算,得到输出数据
Figure DEST_PATH_IMAGE005
5.根据权利要求1或2所述的一种忆阻器阵列上符号数映射方法,其特征在于在多值忆 阻器阵列中,每一列各个多值忆阻器的总合,对应矩阵乘加的结果值
Figure DEST_PATH_IMAGE006
,其中
Figure DEST_PATH_IMAGE007
表示符号位多值忆阻器的数据,n表示多 值忆阻器的数量,
Figure DEST_PATH_IMAGE008
表示其他多值忆阻器的数据。
6.根据权利要求3所述的一种忆阻器阵列上符号数映射方法,其特征在于在二值忆阻 器阵列中,每一列各个二值忆阻器的总合,对应矩阵乘加的结果值
Figure DEST_PATH_IMAGE009
,其中
Figure DEST_PATH_IMAGE010
表示符号位二值忆阻器的数据,
Figure 577367DEST_PATH_IMAGE008
表 示其他二值忆阻器的数据。
7.根据权利要求1所述的一种忆阻器阵列上符号数映射方法,其特征在于所述待映射符号数为十进制时,将十进制数转为二进制数。
8.根据权利要求1所述的一种忆阻器阵列上符号数映射方法,其特征在于所述符号位为正负符号,0表示正,1表示负。
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