CN113866595A - 一种集成电路测试设备及测试系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种集成电路测试设备及测试系统，涉及电路测试技术领域，通过设置有数据预分析模块，从而对用户输入的测试参数进行预分析，数据预分析模块所输出的匹配结果包括集成电路中各个元器件的模拟负载值，当某一个元器件在输入的测试参数的基础上，模拟负载值超出该元器件的测试条件范围，则判定输入的测试参数不符合测试标准；当集成电路上的所有元器件的模拟负载值均处于对应的测试条件范围，则判定输入的测试参数符合测试标准；通过在系统内设置有一个数据预分析模块，从而能够对集成电路在即将测试的参数进行模拟分析，并输出分析结果，避免集成电路因为测试条件的不规范，导致集成电路损坏。
Description
技术领域
本发明属于电路测试技术领域，具体是一种集成电路测试设备及测试系统。
背景技术
在集成电路技术领域中，几乎所有芯片在进入市场前，都需要经过很多环节严格的测试，而每个环节的都会产生海量信息数据，包括整合验证数据、功能性能测试数据、测试条件、测试环境信息等芯片全套数测试相关信息。半导体集成电路制程的最后一道工序，是将封装后的芯片置于各种环境下测试其电学性能，如响应时间、消耗功率、精度和噪声、运行速度、电压耐压度等等。现有的测试方法是通过一台测试机对集成电路的各项性能进行测试，即通过该测试机测试后所得的测试结果作为性能评判依据，判断该集成电路中各功能电路性能优劣，继而依据评判结果得出良品率。
在现有的技术中，在进行集成电路测试的过程中，通常是直接将检测条件输入后，即可对集成电路的性能进行检测，而这样的检测方式容易因为人为输入的检测条件不合理，导致集成电路不可逆的损坏，为了解决上述问题，现提供一种集成电路测试设备及测试系统。
发明内容
本发明的目的在于提供一种集成电路测试设备及测试系统。
本发明的目的可以通过以下技术方案实现：一种集成电路测试系统，包括数据输入模块、数据预分析模块、测试模块以及控制中心；
所述数据输入模块，用于输入测试参数；
所述数据预分析模块，用于对用户所输入的测试参数进行预分析。
进一步地，控制中心由上位机和下位机组成，上位机与下位机之间通过信号线进行连接。
进一步地，所述数据输入模块以及数据预分析模块均位于上位机内，所述测试模块位于下位机内，上位机与集成电路测试设备通过信号线相连接。
进一步地，预分析的过程包括：获得待测试的集成电路的参数指标，根据待测试的集成电路的参数指标生成测试条件限制范围；将数据输入模块中输入的测试参数与测试条件范围分别进行匹配；输出匹配结果。
进一步地，数据预分析模块所输出的匹配结果包括集成电路中各个元器件的模拟负载值，当某一个元器件在输入的测试参数的基础上，模拟负载值超出该元器件的测试条件范围，则判定输入的测试参数不符合测试标准；当集成电路上的所有元器件的模拟负载值均处于对应的测试条件范围，则判定输入的测试参数符合测试标准。
一种集成电路测试设备，包括基座，所述基座的上端表面设置有两个检测平台，所述检测平台的检测位呈凹槽型，所述检测位内的中部设置有升降组件，检测位的内部两侧对称安装有夹持组件。
进一步地，所述升降组件包括升降平台、支撑杆以及升降气缸，所述基座内设置有一块安装板，所述安装板的上端与检测平台下方正对的表面安装有升降气缸，所述升降气缸的输出端与支撑杆的一端相连接，所述支撑杆的另一端连接有升降平台。
进一步地，所述夹持组件包括伸缩气缸、伸缩杆以及夹持块，所述伸缩气缸固定安装在检测位的内部，所述伸缩气缸的输出端与伸缩杆相连接，所述伸缩杆的另一端与夹持块相连接。
进一步地，所述升降平台的表面设置有触发按钮。
进一步地，所述基座的一侧设置有支撑板，支撑板的上端设置有两个对检测平台相对的辅助平台，所述辅助平台的下端面的中部安装有检测头，检测头的两侧设置有照明灯。
本发明的有益效果：
通过设置有数据预分析模块，从而对用户输入的测试参数进行预分析，数据预分析模块所输出的匹配结果包括集成电路中各个元器件的模拟负载值，当某一个元器件在输入的测试参数的基础上，模拟负载值超出该元器件的测试条件范围，则判定输入的测试参数不符合测试标准；当集成电路上的所有元器件的模拟负载值均处于对应的测试条件范围，则判定输入的测试参数符合测试标准；通过在系统内设置有一个数据预分析模块，从而能够对集成电路在即将测试的参数进行模拟分析，并输出分析结果，避免集成电路因为测试条件的不规范，导致集成电路损坏。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一种集成电路测试系统的原理框图；
图2为一种集成电路测试设备的整体结构示意图；
图3为一种集成电路测试设备的检测平台结构示意图；
图4为一种集成电路测试设备的夹持组件结构示意图；
图5为一种集成电路测试设备的升降组件结构示意图；
图6为一种集成电路测试设备的辅助平台结构示意图。
图中：1、基座；2、支撑板；3、辅助平台；4、检测位；5、升降平台；6、夹持块；7、伸缩气缸；8、伸缩杆；9、检测头；10、触发按钮；11、安装板；12、蓄电池；13、升降气缸；14、支撑杆；15、照明灯。
具体实施方式
如图1所示，一种集成电路测试系统，包括数据输入模块、数据预分析模块、测试模块以及控制中心；
控制中心由上位机和下位机组成，上位机与下位机之间通过信号线进行连接，所述数据输入模块以及数据预分析模块均位于上位机内，所述测试模块位于下位机内，上位机与集成电路测试设备通过信号线相连接。
将集成电路的测试参数输入至数据输入模块中，在具体使用时，用户通过上位机，在数据输入模块内依次输入测试参数，输入完成后，对所输入的测试参数进行保存；
在完成在数据输入模块内输入测试参数后，将所输入的测试参数发送至数据预分析模块，所述数据预分析模块用于对用户所输入的测试参数进行预分析，具体预分析过程包括以下步骤：
步骤F1：获得待测试的集成电路的参数指标，所述参数指标包括额定电流值、额定电压值以及测试环境；所述测试环境包括测试温度以及测试亮度；
步骤F2：根据待测试的集成电路的参数指标生成测试条件限制范围；
步骤F3：将数据输入模块中输入的测试参数与测试条件范围分别进行匹配；
步骤F4：输出匹配结果。
在具体实施过程中，数据预分析模块所输出的匹配结果包括集成电路中各个元器件的模拟负载值，当某一个元器件在输入的测试参数的基础上，模拟负载值超出该元器件的测试条件范围，则判定输入的测试参数不符合测试标准；当集成电路上的所有元器件的模拟负载值均处于对应的测试条件范围，则判定输入的测试参数符合测试标准；通过在系统内设置有一个数据预分析模块，从而能够对集成电路在即将测试的参数进行模拟分析，并输出分析结果，避免集成电路因为测试条件的不规范，导致集成电路损坏。
所述测试模块用于控制集成电路测试设备对集成电路进行测试，测试模块在接收到数据预分析模块的预分析结果，且预分析结果为符合测试标准时，则启动集成电路测试设备，此时则用户能够通过集成电路测试设备对集成电路进行检测。
如图2-6所示，一种集成电路测试设备包括基座1、支撑板2、辅助平台3、检测位4、升降平台5、夹持块6、伸缩气缸7、伸缩杆8、检测头9、触发按钮10、安装板11、蓄电池12、升降气缸13、支撑杆14、照明灯15；
所述基座1的上端表面设置有两个检测平台，所述检测平台包括检测位4、升降组件以及夹持组件，所述检测位4呈凹槽型，所述检测位4内的中部设置有升降组件，检测位4的内部两侧对称安装有夹持组件。
所述升降组件包括升降平台5、支撑杆14以及升降气缸13，所述基座1内设置有一块安装板11，所述安装板11的上端与检测平台下方正对的表面安装有升降气缸13，所述升降气缸13的输出端与支撑杆14的一端相连接，所述支撑杆14的另一端连接有升降平台5。
所述夹持组件包括伸缩气缸7、伸缩杆8以及夹持块6，所述伸缩气缸7固定安装在检测位4的内部，所述伸缩气缸7的输出端与伸缩杆8相连接，所述伸缩杆8的另一端与夹持块6相连接。
所述升降平台5的表面设置有触发按钮10，当集成电路板放置在检测平台内时，集成电路将升降平台5表面的触发按钮10按下，然后在升降气缸13的带动下，支撑杆14将升降平台5升起至一定高度，然后升降气缸13停止工作，之后在伸缩气缸7的作用下，伸缩杆8带动夹持块6对集成电路板进行夹紧。
所述基座1的内设置有蓄电池12以及相配套的充电端口，用于为设备提供电源，保持设备正常运转。
所述基座1的一侧设置有支撑板2，支撑板2的上端设置有两个对检测平台相对的辅助平台3，所述辅助平台3的下端面的中部安装有检测头9，检测头9的两侧设置有照明灯15。在进行集成电路测试时，通过辅助平台3能够对集成电路在测试过程中添加部分测试条件，比如光照强度，从而能够使得检测过程更加方便。
工作原理：在对集成电路进行测试前，将集成电路的测试参数通过上位机输入至数据输入模块中，在数据输入模块内依次输入测试参数后，对所输入的测试参数进行保存；然后，将所输入的测试参数发送至数据预分析模块，通过数据预分析模块对用户所输入的测试参数进行预分析，具体预分析过程包括以下步骤：获得待测试的集成电路的参数指标，所述参数指标包括额定电流值、额定电压值以及测试环境；所述测试环境包括测试温度以及测试亮度；根据待测试的集成电路的参数指标生成测试条件限制范围；将数据输入模块中输入的测试参数与测试条件范围分别进行匹配；输出匹配结果；数据预分析模块所输出的匹配结果包括集成电路中各个元器件的模拟负载值，当某一个元器件在输入的测试参数的基础上，模拟负载值超出该元器件的测试条件范围，则判定输入的测试参数不符合测试标准；当集成电路上的所有元器件的模拟负载值均处于对应的测试条件范围，则判定输入的测试参数符合测试标准；通过在系统内设置有一个数据预分析模块，从而能够对集成电路在即将测试的参数进行模拟分析，并输出分析结果，避免集成电路因为测试条件的不规范，导致集成电路损坏。
测试模块用于控制集成电路测试设备对集成电路进行测试，测试模块在接收到数据预分析模块的预分析结果，且预分析结果为符合测试标准时，则启动集成电路测试设备，此时则用户能够通过集成电路测试设备对集成电路进行检测。在集成电路的升降平台5的表面设置有触发按钮10，当集成电路板放置在检测平台内时，集成电路将升降平台5表面的触发按钮10按下，然后在升降气缸13的带动下，支撑杆14将升降平台5升起至一定高度，然后升降气缸13停止工作，之后在伸缩气缸7的作用下，伸缩杆8带动夹持块6对集成电路板进行夹紧。在基座1的一侧设置有支撑板2，支撑板2的上端设置有两个对检测平台相对的辅助平台3，辅助平台3的下端面的中部安装有检测头9，检测头9的两侧设置有照明灯15。在进行集成电路测试时，通过辅助平台3能够对集成电路在测试过程中添加部分测试条件，比如光照强度，从而能够使得检测过程更加方便。
以上内容仅仅是对本发明结构所作的举例和说明，所属本技术领域的技术人员对所描述的具体实施例做各种各样的修改或补充或采用类似的方式替代，只要不偏离发明的结构或者超越本权利要求书所定义的范围，均应属于本发明的保护范围，此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。以上实施例仅用以说明本发明的技术方法而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方法进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方法的精神和范围。
Claims (10)
1.一种集成电路测试系统，其特征在于，包括数据输入模块、数据预分析模块、测试模块以及控制中心；
所述数据输入模块，用于输入测试参数；
所述数据预分析模块，用于对用户所输入的测试参数进行预分析。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试系统，其特征在于，控制中心由上位机和下位机组成，上位机与下位机之间通过信号线进行连接。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试系统，其特征在于，所述数据输入模块以及数据预分析模块均位于上位机内，所述测试模块位于下位机内，上位机与集成电路测试设备通过信号线相连接。
4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试系统，其特征在于，预分析的过程包括：获得待测试的集成电路的参数指标，根据待测试的集成电路的参数指标生成测试条件限制范围；将数据输入模块中输入的测试参数与测试条件范围分别进行匹配；输出匹配结果。
5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试系统，其特征在于，数据预分析模块所输出的匹配结果包括集成电路中各个元器件的模拟负载值，当某一个元器件在输入的测试参数的基础上，模拟负载值超出该元器件的测试条件范围，则判定输入的测试参数不符合测试标准；当集成电路上的所有元器件的模拟负载值均处于对应的测试条件范围，则判定输入的测试参数符合测试标准。
6.一种集成电路测试设备，包括基座(1)和集成电路测试系统，其特征在于，所述基座(1)的上端表面设置有两个检测平台，所述检测平台的检测位(4)呈凹槽型，所述检测位(4)内的中部设置有升降组件，检测位(4)的内部两侧对称安装有夹持组件。
7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试设备，其特征在于，所述升降组件包括升降平台(5)、支撑杆(14)以及升降气缸(13)，所述基座(1)内设置有一块安装板(11)，所述安装板(11)的上端与检测平台下方正对的表面安装有升降气缸(13)，所述升降气缸(13)的输出端与支撑杆(14)的一端相连接，所述支撑杆(14)的另一端连接有升降平台(5)。
8.根据权利要求6所述的一种集成电路测试设备，其特征在于，所述夹持组件包括伸缩气缸(7)、伸缩杆(8)以及夹持块(6)，所述伸缩气缸(7)固定安装在检测位(4)的内部，所述伸缩气缸(7)的输出端与伸缩杆(8)相连接，所述伸缩杆(8)的另一端与夹持块(6)相连接。
9.根据权利要求7所述的一种集成电路测试设备，其特征在于，所述升降平台(5)的表面设置有触发按钮(10)。
10.根据权利要求6所述的一种集成电路测试设备，其特征在于，所述基座(1)的一侧设置有支撑板(2)，支撑板(2)的上端设置有两个对检测平台相对的辅助平台(3)，所述辅助平台(3)的下端面的中部安装有检测头(9)，检测头(9)的两侧设置有照明灯(15)。
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