CN113792781A - 评估x射线管性能的方法及装置 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 51
- 230000007773 growth pattern Effects 0.000 claims abstract description 63
- 238000010304 firing Methods 0.000 claims abstract description 29
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims abstract description 26
- 230000012010 growth Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 18
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 16
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 9
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 7
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 6
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 8
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 6
- 238000002591 computed tomography Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000006870 function Effects 0.000 description 5
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 2
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 2
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 description 1
- 238000003491 array Methods 0.000 description 1
- 238000013473 artificial intelligence Methods 0.000 description 1
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 1
- 230000010267 cellular communication Effects 0.000 description 1
- 230000001413 cellular effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000002059 diagnostic imaging Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 230000005865 ionizing radiation Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000010801 machine learning Methods 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000001953 sensory effect Effects 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
- G01R19/0084—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof measuring voltage only
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/12—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing
- G01R31/1227—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials
- G01R31/1263—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation
- G01R31/1281—Testing dielectric strength or breakdown voltage ; Testing or monitoring effectiveness or level of insulation, e.g. of a cable or of an apparatus, for example using partial discharge measurements; Electrostatic testing of components, parts or materials of solid or fluid materials, e.g. insulation films, bulk material; of semiconductors or LV electronic components or parts; of cable, line or wire insulation of liquids or gases
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/003—Environmental or reliability tests
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F18/00—Pattern recognition
- G06F18/20—Analysing
- G06F18/24—Classification techniques
- G06F18/241—Classification techniques relating to the classification model, e.g. parametric or non-parametric approaches
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/24—Testing of discharge tubes
- G01R31/25—Testing of vacuum tubes
- G01R31/257—Testing of beam-tubes, e.g. cathode-ray tubes, image pick-up tubes
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- General Physics & Mathematics (AREA)
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- Data Mining & Analysis (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Bioinformatics & Cheminformatics (AREA)
- Bioinformatics & Computational Biology (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Evolutionary Biology (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Artificial Intelligence (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- X-Ray Techniques (AREA)
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Abstract
本公开涉及一种评估X射线管性能的方法、装置、电子产品、非瞬时计算机可读介质以及计算机程序产品,其中评估X射线管性能的方法包括:记录X射线管在使用过程中发生的打火事件;对打火事件按严重程度进行分类;基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式;基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式进行匹配,判断X射线管内气泡水平。根据本公开的评估X射线管性能的方法能够通过远程预测X射线管内气泡水平的增长趋势或模式,以及时对X射线管进行检查、更换,无需仅依赖于现场检查。
Description
技术领域
本公开涉及X射线发生技术,特别涉及一种评估X射线管性能的方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质及计算机程序产品。
背景技术
用于产生X射线的X射线源包括X射线管,是一种将电源输入转换为X射线的真空管。可利用的X射线的可控源造就了放射性成像技术的诞生,即一种对部分不透明的物体通过穿透的射线进行成像。与其它离子辐射源不同,X射线只有当X射线管通电后产生。X射线管被广泛使用于计算机断层扫描(CT)设备,X射线衍射设备,X射线医学影像成像设备以及工业探伤领域。
X射线管中使用的真空管包括一用于将电子发射到真空的阴极灯丝,以及一用于接收被发射电子的阳极,从而在X射线管中形成被称为线束的电子流。在阳极与阴极之间通常提供被称为管电压的高电压电源,该管电压通常在30至200kV之间,以加速电子。
X射线管在使用过程中用于冷却的绝缘油会产生气泡,并随着使用时间气泡产生的数量积累,而气泡会致使绝缘油降低绝缘度。气泡会随着绝缘油在冷却装置的作用下到达X射线管,从而导致X射线管在高电压工作环境下产生打火,损坏X射线管。
发明内容
根据本公开的一个方面,提供一种评估X射线管性能的方法,可以非接触的、及时评估预测X射线管内的气泡水平,以获取及时维护、更换X射线管的信息。该评估X射线管性能的方法包括:记录X射线管在使用过程中发生的打火事件;对打火事件按严重程度进行分类;基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式;基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式进行匹配,判断X射线管内气泡水平。
本公开的另一方面,提供了一种评估X射线管性能的装置,包括:感测部,配置为记录X射线管在使用过程中发生的打火事件;处理部,配置为对打火事件按严重程度进行分类,并基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式;以及计算部,配置为基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式进行匹配,判断X射线管内气泡水平。
根据本公开的另一方面,提供一种电子设备,包括:至少一个处理器;以及与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序在被所述至少一个处理器执行时实现上述方面的方法。
根据本公开的另一方面,提供一种存储有计算机程序的非瞬时计算机可读存储介质,其中,所述计算机程序在被处理器执行时实现上述方面的方法。
根据本公开的另一方面,提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,其中,所述计算机程序在被处理器执行时实现上述方面的方法。
根据本公开的一个或多个实施例,通过记录X射线管在使用过程中发生的打火事件,并据此按打火的严重程度分类,可以按发生打火事件的事件生成数条曲线作为该X射线管发生打火事件的增长模式,通过与先验或已知的X射线管的多种增长模式之间的比较或配对可以预测X射线管内的气泡水平,从而判断X射线管的性能或是否需要及时维护、更换等,提高了X射线管产品在使用过程中的体验和保证其可靠性等。
应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本公开的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本公开的范围。本公开的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
附图示例性地示出了实施例并且构成说明书的一部分,与说明书的文字描述一起用于讲解实施例的示例性实施方式。所示出的实施例仅出于例示的目的,并不限制权利要求的范围。在所有附图中,相同的附图标记指代类似但不一定相同的要素。
下面将通过参照附图详细描述本公开的实施例,使本领域的普通技术人员更清楚本公开的上述及其它特征和优点,附图中:
图1为根据本公开实施例的评估X射线管性能的方法的流程图;
图2为根据本公开另一个实施例的评估X射线管性能的方法的流程图;
图3为根据本公开实施例的打火事件按严重程度进行分类后生成的曲线的示意图;
图4为根据本公开实施例的评估X射线管性能的装置的结构框图;以及
图5为能够用于实现本公开实施例的示例性电子设备的结构框图。
其中,附图标记如下:
200a I级第一曲线
200b II级第一曲线
200c III级第一曲线
300 评估X射线管性能的装置
302 感测部
304 处理部
306 计算部
具体实施方式
为了对本公开的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解,现对照附图说明本公开的具体实施方式,在各图中相同的标号表示相同的部分。
在本文中,“示意性”表示“充当实例、例子或说明”,不应将在本文中被描述为“示意性”的任何图示、实施方式解释为一种更优选的或更具优点的技术方案。
为使图面简洁,各图中只示意性地表示出了与本公开相关的部分,它们并不代表其作为产品的实际结构。另外,以使图面简洁便于理解,在有些图中具有相同结构或功能的部件,仅示意性地绘示了其中的一个,或仅标出了其中的一个。
在本文中,“一个”不仅表示“仅此一个”,也可以表示“多于一个”的情形。在本文中,“第一”、“第二”等仅用于彼此的区分,而非表示它们的重要程度及顺序、以及互为存在的前提等。
在X射线管在使用过程中起冷却作用的绝缘油随使用时间,产生并积累气泡。产生气泡的来源例如高能X射线在轰击绝缘油后,导致绝缘油裂解进而产生气体;另外,外界的气体通过用于泵送绝缘油的循环管路使扩散到绝缘油中,从而产生并积累气泡。
打火也称为放电或拉弧,在X射线管中发生打火时,X射线管的管电压之间伴随电阻变小,该电压会发生快速压降。通过探测电压的压降程度可以可判断是否发生了打火,根据电压下降率、幅度以区分打火的严重程度。
由于X射线管的阴极、阳极两端通常施加较高的电压,即为X射线管的管电压,以加速X射线管的真空区域中电子的速度从而轰击阳极靶盘以产生X射线。但是,当绝缘油中因积累气泡从而破坏其绝缘性,由于较高的电压作用产生的电场会因气泡破环了绝缘油的绝缘性,从而产生电场击穿效应,发生打火或拉弧事件。据此,发生打火事件与X射线管内的气泡水平之间具有关联性,X射线管内的气泡水平即可作为评价X射线管的性能的一个指标。
现有的X射线管系统中未提供排除气体的功能或装置。当X射线管中含有一定程度的气泡污染的绝缘油,导致X射线管在工作中发生打火,破坏原有电势场,甚至导致X射线管无法产生X射线。为排除因气泡导致X射线管的故障,通常需要专业操作者到达现场,拆卸X射线管或冷却装置(通常基于绝缘油的循环泵送装置),退回工厂并安装在专用检测设备上,例如通过不同角度的转动、振动冷却装置,操作者通过听冷却装置的声音辨别是否有气泡。另外,通过退回工厂检修的方法有X射线管的性能损害被延迟检测到的风险。
为此,本公开提供一种评估X射线管性能的方法,基于远程或在线记录X射线管使用过程打火事件或日志,可以及时判定X射线管内存在气泡的水平。
图1为根据本公开实施例的评估X射线管性能的方法的流程图。
在步骤S110中,记录X射线管在使用过程中发生的打火事件。
在此,例如利用感测电路检测X射线管的阴极、阳极两端发生电压的快速下降判断打火事件的发生。
在此,可以通过获取与X射线管在使用过程中相关的报错日志,判断X射线管的扫描工作状态。例如,在CT系统的报错日志中可以用于判断X射线管是否完成了扫描,记录X射线管因打火导致的扫描中断的信息,此类扫描中断的发生通常伴随者在短时间内发生多次打火事件,因而与此扫描中断的信息相关的打火事件可以被判定是严重的。
在步骤S120中,对打火事件按严重程度进行分类。
根据一示出的示例性实施例,通过感测X射线管在使用过程中其管电压的幅度变化判断发生打火事件的严重程度,并按幅度变化设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。X射线管的管电压因发生打火事件而发生幅度变化,其幅度变化的大小正比于打火事件的严重程度,据此按幅度变化设定数个区间范围以将打火事件按区间范围分类,实现打火事件按严重程度分类。
根据另一示出的示例性实施例,通过判断X射线管在使用过程中其管电压的变化率判断发生打火事件的严重程度,并按变换率设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。X射线管的管电压因发生打火事件而发生电压的压降,电压的压降的变化率或速率通常正比于打火事件的严重程度,据此按X射线管的管电压的(压降)变化率设定数个区间范围,并据此将打火事件按区间范围分类,实现打火事件按严重程度分类。需要说明的是,对X射线管在使用过程中发生打火事件的严重程度的判断,可以同时借助于对X射线管的管电压的幅度变化、变化率等设定多个区间,用于对发生的打火事件按严重程度加以分类。
在步骤S130中,基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式。
在此,第一增长模式包括基于分类的打火事件生成多条第一曲线。
图3为根据本公开实施例的打火事件按严重程度进行分类后生成的曲线的示意图。
如图3所示,第一增长模式包括按严重程度分类为I级打火事件、II级打火事件以及III级打火事件,并分别按发生的时间、次数分别生成三条第一曲线,即I级第一曲线200a,II级第一曲线200b以及III级第一曲线200c,其中,III级第一曲线200c表示记录的最严重的打火事件的曲线。
在步骤S140中,基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的多个第二增长模式进行匹配,判断X射线管内气泡水平。
在此,由于第一增长模式包括基于分类的打火事件生成多条第一曲线,相应的第二增长模式包括对应数量的第二曲线,并与第一增长模式中涉及了相同的对打火事件的严重程度分类标准。第二增长模式记录了各种已知或先验的X射线管内气泡水平与打火事件之间确定的对应关系。通过记录的打火事件相关第一增长模式与先验的多个第二增长模式之间匹配,可以预测X射线管内气泡水平的现状、变化趋势等。
根据一示出的示例性实施例,可以通过比较第一增长模式与第二增长模式的相似性,以预测或判断X射线管内气泡水平或变化趋势。例如,分别比较I级第一曲线200a,II级第一曲线200b以及III级第一曲线200c与多个第二增长模式中的对应的第二曲线的相似性或相似度,以匹配一种第二增长模式,从而预测或判别当前X射线管内气泡水平或变化趋势。
根据另一示出的示例性实施例,可以通过比较第一增长模式与第二增长模式的增长率,以预测或判断X射线管内气泡水平或变化趋势。I级第一曲线200a,II级第一曲线200b以及III级第一曲线200c与多个第二增长模式中的对应的第二曲线增长率,以匹配一种第二增长模式,从而预测或判别当前X射线管内气泡水平或变化趋势。
需要说明的是,在比较第一增长模式与第二增长模式以找到匹配的一个或数个第二增长模式的过程中,可以比较第一曲线中的各种组合与对应的第二曲线的相似性和/或增长率从而进行匹配。本实施例对此不作限制。
图2为根据本公开另一个实施例的评估X射线管性能的方法的流程图。
如图2所示,在本实施例的评估X射线管性能的方法,其步骤S210至步骤S230与前述的步骤S110~步骤S130一致,再次不作赘述。本实施例的评估X射线管性能的方法还包括如下步骤:
在步骤S240中,判断第一增长模式是否与已知的第二增长模式匹配。
在步骤S250中,若未匹配,则判断绝缘油内无气泡。
在步骤S260中,获取与X射线管在使用过程中相关的报错日志。
在步骤S270中,判断X射线管是否完成了扫描。
在步骤S280中,若未完成,则判断绝缘油无气泡或气泡水平较低。
在步骤S290中,判断X射线管未完成的扫描是否与X射线管的打火事件相关。若不相关,则判断绝缘油无气泡或气泡水平较低。
在步骤S292中,若判断X射线管未完成的扫描与X射线管的打火事件相关,则判断绝缘油内气泡水平较高。
图4为根据本公开实施例的评估X射线管性能的装置的结构框图。
如图4所示,该评估X射线管性能的装置300包括:感测部302,配置为记录X射线管在使用过程中发生的打火事件;处理部304,配置为对打火事件按严重程度进行分类,并基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式;以及计算部306,配置为基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式进行匹配,判断X射线管内气泡水平。
感测部302可以包括一感测电路,以配置为感测X射线管的管电压的压降以记录X射线管在使用过程中发生的打火事件。另外,感测部302还可以包括一存储器或介质以记录上述打火事件。
根据一些示出实施例的评估X射线管性能的装置300,处理部304配置为获取与X射线管在使用过程中相关的报错日志,判断X射线管的扫描工作状态。在此,报错日志例如是CT系统或X射线检查设备记录X射线管因打火导致的扫描中断的信息。
根据一些示出实施例的评估X射线管性能的装置300,处理部304配置为通过判断X射线管在使用过程中其管电压的变化率判断发生打火事件的严重程度,并按变换率设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。
根据一些示出实施例的评估X射线管性能的装置300,处理部304配置为通过判断X射线管在使用过程中其管电压的变化率判断发生打火事件的严重程度,并按变换率设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。
根据一些示出实施例的评估X射线管性能的装置300,计算部306还配置为比较第一增长模式与第二增长模式相似性。
根据一些示出实施例的评估X射线管性能的装置300,计算部306还配置为比较第一增长模式与第二增长模式的增长率。
根据一些示出实施例,第一增长模式包括基于分类的打火事件生成多条第一曲线,以及第二增长模式至少包括对应数量的第二曲线。在计算部306比较第一增长模式与第二增长模式的相似性、增长率时,可以分别比较第一曲线与对应第二曲线的一种或组合之间的相似性、增长率,以实现第一增长模式与第二增长模式进行匹配,预测或评估X射线管内的气泡水平,以帮助评估X射线管的性能。
需要说明的是,处理部304、计算部306可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。
根据本公开的另一方面,提供一种电子设备,包括:至少一个处理器;以及与至少一个处理器通信连接的存储器;其中,存储器存储有计算机程序,计算机程序在被至少一个处理器执行时实现上述方面的方法。在一些实施例中,电子设备可以包括计算机断层扫描系统。
根据本公开实施例的另一方面,提供一种存储有计算机程序的非瞬时计算机可读存储介质,其中,计算机程序在被处理器执行时实现上述方法。
根据本公开实施例的另一方面,提供一种计算机程序产品,包括计算机程序,其中,计算机程序在被处理器执行时实现上述方法。
参考图5,现将描述可以作为本公开的电子设备400的结构框图,其是可以应用于本公开的各方面的硬件设备的示例。电子设备旨在表示各种形式的数字电子的计算机设备,诸如,膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置,诸如,个人数字助理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例,并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本公开的实现。
如图5所示,设备400包括计算单元401,其可以根据存储在只读存储器(ROM)402中的计算机程序或者从存储单元408加载到随机访问存储器(RAM)403中的计算机程序,来执行各种适当的动作和处理。在RAM 403中,还可存储设备400操作所需的各种程序和数据。计算单元401、ROM 402以及RAM 403通过总线404彼此相连。输入/输出(I/O)接口405也连接至总线404。
设备400中的多个部件连接至I/O接口405,包括:输入单元406、输出单元407、存储单元408以及通信单元409。输入单元406可以是能向设备400输入信息的任何类型的设备,输入单元406可以接收输入的数字或字符信息,以及产生与电子设备的用户设置和/或功能控制有关的键信号输入,并且可以包括但不限于鼠标、键盘、触摸屏、轨迹板、轨迹球、操作杆、麦克风和/或遥控器。输出单元407可以是能呈现信息的任何类型的设备,并且可以包括但不限于显示器、扬声器、视频/音频输出终端、振动器和/或打印机。存储单元408可以包括但不限于磁盘、光盘。通信单元409允许设备400通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据,并且可以包括但不限于调制解调器、网卡、红外通信设备、无线通信收发机和/或芯片组,例如蓝牙TM设备、1302.11设备、Wi-Fi设备、Wi-Max设备、蜂窝通信设备和/或类似物。
计算单元401可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。计算单元401的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的计算单元、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。计算单元401执行上文所描述的各个方法和处理,例如根据本公开的实施例的评估X射线管性能的方法。例如,在一些实施例中,根据本公开的实施例的方法可被实现为计算机软件程序,其被有形地包含于机器可读介质,例如存储单元408。在一些实施例中,计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 402和/或通信单元409而被载入和/或安装到设备400上。当计算机程序加载到RAM 403并由计算单元401执行时,可以执行上文描述的方法的一个或多个步骤。备选地,在其他实施例中,计算单元401可以通过其他任何适当的方式(例如,借助于固件)而被配置为执行本公开的实施例的方法。
本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括:实施在一个或者多个计算机程序中,该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释,该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器,可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令,并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。
用于实施本公开的方法的程序代码可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些程序代码可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器或控制器,使得程序代码当由处理器或控制器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。程序代码可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行,作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。
在本公开的上下文中,机器可读介质可以是有形的介质,其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的程序。机器可读介质可以是机器可读信号介质或机器可读储存介质。机器可读介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备,或者上述内容的任何合适组合。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。
为了提供与用户的交互,可以在计算机上实施此处描述的系统和技术,该计算机具有:用于向用户显示信息的显示装置(例如,CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器);以及键盘和指向装置(例如,鼠标或者轨迹球),用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给计算机。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互;例如,提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如,视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈);并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。
可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如,作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如,应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如,具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机,用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如,通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括:局域网(LAN)、广域网(WAN)和互联网。
计算机系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。
应该理解,可以使用上面所示的各种形式的流程,重新排序、增加或删除步骤。例如,本公开中记载的各步骤可以并行地执行、也可以顺序地或以不同的次序执行,只要能够实现本公开公开的技术方案所期望的结果,本文在此不进行限制。
虽然已经参照附图描述了本公开的实施例或示例,但应理解,上述的方法、系统和设备仅仅是示例性的实施例或示例,本发明的范围并不由这些实施例或示例限制,而是仅由授权后的权利要求书及其等同范围来限定。实施例或示例中的各种要素可以被省略或者可由其等同要素替代。此外,可以通过不同于本公开中描述的次序来执行各步骤。进一步地,可以以各种方式组合实施例或示例中的各种要素。重要的是随着技术的演进,在此描述的很多要素可以由本公开之后出现的等同要素进行替换。
以上所述仅为本发明的实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (17)
1.一种评估X射线管性能的方法,其特征在于,包括:
记录X射线管在使用过程中发生的打火事件;
对打火事件按严重程度进行分类;
基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式;
基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的多个第二增长模式进行匹配,判断X射线管内气泡水平。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述对打火事件按严重程度进行分类还包括:
获取与X射线管在使用过程中相关的报错日志,判断X射线管的扫描工作状态。
3.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式匹配包括:
比较第一增长模式与第二增长模式的相似性。
4.根据权利要求1所述的方法,其中,所述基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式匹配包括:
比较第一增长模式与第二增长模式的增长率。
5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述对打火事件按严重程度分类包括:
通过判断X射线管在使用过程中其管电压的幅度变化判断发生打火事件的严重程度,并按所述幅度变化设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。
6.根据权利要求1或5所述的方法,其中,所述对打火事件按严重程度分类包括:
通过判断X射线管在使用过程中其管电压的变化率判断发生打火事件的严重程度,并按所述变换率设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。
7.根据权利要求1至5任一项所述的方法,其中,所述第一增长模式包括基于分类的打火事件生成多条第一曲线,以及所述第二增长模式至少包括对应数量的第二曲线。
8.一种评估X射线管性能的装置,其特征在于,包括:
感测部,配置为记录X射线管在使用过程中发生的打火事件;
处理部,配置为对打火事件按严重程度进行分类,并基于分类的打火事件生成关于发生打火事件的第一增长模式;以及
计算部,配置为基于第一增长模式与已知的X射线管内气泡水平关联的第二增长模式进行匹配,判断X射线管内气泡水平。
9.根据权利要求8所述的装置,其中,所述处理部配置为获取与X射线管在使用过程中相关的报错日志,判断X射线管的扫描工作状。
10.根据权利要求8所述的装置,其中,所述计算部还配置为比较第一增长模式与第二增长模式相似性。
11.根据权利要求8所述的装置,其中,所述计算部还配置为比较第一增长模式与第二增长模式的增长率。
12.根据权利要求8所述的装置,其中,所述处理部配置为通过判断X射线管在使用过程中其管电压的变化率判断发生打火事件的严重程度,并按所述变换率设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。
13.根据权利要求8或12所述的装置,其中,所述处理部配置为通过判断X射线管在使用过程中其管电压的变化率判断发生打火事件的严重程度,并按所述变换率设定区间范围对打火事件按严重程度进行分类。
14.根据权利要求8至12任一项所述的装置,其中,所述第一增长模式包括基于分类的打火事件生成多条第一曲线,以及所述第二增长模式至少包括对应数量的第二曲线。
15.一种电子设备,包括:
至少一个处理器;以及
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序在被所述至少一个处理器执行时实现根据权利要求1-7中任一项所述的方法。
16.一种存储有计算机程序的非瞬时计算机可读存储介质,其中,所述计算机程序在被处理器执行时实现根据权利要求1-7中任一项所述的方法。
17.一种计算机程序产品,包括计算机程序,其中,所述计算机程序在被处理器执行时实现根据权利要求1-7中任一项所述的方法。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202111062770.5A CN113792781A (zh) | 2021-09-10 | 2021-09-10 | 评估x射线管性能的方法及装置 |
DE102022122937.8A DE102022122937A1 (de) | 2021-09-10 | 2022-09-09 | Verfahren und Gerät zur Bewertung der Leistung einer Röntgenröhre |
US17/941,245 US20230079022A1 (en) | 2021-09-10 | 2022-09-09 | Evaluating Performance of X-Ray Tube |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202111062770.5A CN113792781A (zh) | 2021-09-10 | 2021-09-10 | 评估x射线管性能的方法及装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113792781A true CN113792781A (zh) | 2021-12-14 |
Family
ID=78880131
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202111062770.5A Pending CN113792781A (zh) | 2021-09-10 | 2021-09-10 | 评估x射线管性能的方法及装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20230079022A1 (zh) |
CN (1) | CN113792781A (zh) |
DE (1) | DE102022122937A1 (zh) |
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Publication number | Publication date |
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US20230079022A1 (en) | 2023-03-16 |
DE102022122937A1 (de) | 2023-03-16 |
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PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
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