CN113779653B - 雷达天线的测试/设计方法、系统、设备及可读存储介质 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种雷达天线的测试/设计方法、系统、设备及可读存储介质，所述测试方法包括：获取雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度所产生的第一性能参数集；根据第一性能参数集，合成用于评估雷达天线的测距范围及测角性能的测试模型；获取雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集；根据第二性能参数集，确定雷达天线的探测性能；雷达天线的探测性能包括雷达天线的理想中心频率。本发明可以测试同批次/不同批次的多个样机天线性能并对比分析，可用于分析样机加工工艺的稳定性，准确反映雷达整机天线性能的问题，极大推动了雷达产品的量产进度；且该测试方法可有效地利用了现有的暗室资源，大大节约了测试成本。
Description
技术领域
本发明属于雷达技术领域，涉及一种方法、系统，特别是涉及一种雷达天线的测试/设计方法、系统、设备及可读存储介质。
背景技术
随着ADAS在车辆上的快速发展，毫米波雷达因其成本低、环境适应性强、探测能力好等特点成为ADAS主流的传感器之一。天线作为毫米波雷达的重要构件之一，其性能的好坏将直接决定雷达的探测性能。然而，由于毫米波对高频PCB材料参数非常敏感，往往很难从供应商那里拿到可直接用于天线设计的有效DK值，这就导致我们设计的天线在加工出来后，天线样品的性能特别是中心频率会与设计值相差较大，尤其是对于雷达整机来说，虽然单个无源天线的性能是OK的，但是在雷达整机上，天线的性能特别是中心频率也可能与设计值相差较大，导致雷达的探测性能受到严重影响。
当前常用的方法是通过探针台来测试无源天线的S参数来确定天线的中心频率，但这样测得的无源天线的中心频率与雷达整机有源天线的中心频率还存在一定的差异，此外，如果要使用探针台进行方向图测试，一方面这样测试无法带着天线罩一起进行测试，所以也就无法将天线罩的影响一起考虑进去，另一方面测试环境搭建比较麻烦，操作也比较复杂，成本也较高。
因此，如何提供一种雷达天线的测试/设计方法、系统、设备及可读存储介质，以解决现有技术无法精确分析样机天线性能是否满足设计要求，产生雷达的探测性能受到严重影响等缺陷，实已成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。
发明内容
鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种雷达天线的测试/设计方法、系统、设备及可读存储介质，用于解决现有技术无法精确分析样机天线性能是否满足设计要求，产生雷达的探测性能受到严重影响的问题。
为实现上述目的及其他相关目的，本发明一方面提供一种雷达天线的测试方法，包括：获取雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度所产生的第一性能参数集；根据所述第一性能参数集，合成用于评估所述雷达天线的测距范围及测角性能的测试模型；获取雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集；根据所述第二性能参数集，确定所述雷达天线的探测性能；所述雷达天线的探测性能包括雷达天线的理想中心频率。
于本发明的一实施例中，所述预设转动范围为[转动初始角度，转动终止角度]；所述第一性能参数集包括所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位
于本发明的一实施例中，通过对所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度每个收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位进行非相干累加方式合成所述测试模型。
于本发明的一实施例中，所述不同工作频率位于预设频段内，所述预设频段为[预设雷达天线的工作频率下限，预设雷达天线的工作频率上限]；所述雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集包括雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位。
于本发明的一实施例中，通过对雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位进行非相干累加方式，合成用于分析雷达天线频率的频率响应曲线，提取该频率响应曲线中能量最高点对应的频率，并对若干雷达天线所提取的频率均值化，以确定雷达天线的理想中心频率。
本发明另一方面提供一种雷达天线的设计方法，所述雷达天线在执行所述雷达天线的测试方法之前具有初始材料介电常数和初始中心频率；所述设计方法包括：获取原始雷达天线的理想中心频率；根据原始雷达天线的理想中心频率，推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值；将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，并调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率；利用材料介电常数的调节值优化所述原始雷达天线的仿真模型，以获取优化的雷达天线；其中，优化的雷达天线的中心频率为初始中心频率；通过对优化的雷达天线执行所述测试方法，以确定优化的雷达天线的理想中心频率；根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值。
于本发明的一实施例中，所述根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值的步骤包括：判断优化的雷达天线的理想中心频率是否在预设频率范围内；若是，则表示材料介电常数的调节值为有效值；若否，则表示材料介电常数的调节值为无效值，返回所述调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值的步骤。
本发明再一方面提供一种雷达天线的测试系统，包括：第一获取模块，用于获取雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度所产生的第一性能参数集及雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集；模型合成模块，用于根据所述第一性能参数集，合成用于评估所述雷达天线的测距范围及测角性能的测试模型；探测性能确定模块，用于根据所述第二性能参数集，确定所述雷达天线的探测性能；所述雷达天线的探测性能包括雷达天线的理想中心频率。
本发明又一方面提供一种雷达天线的设计系统，所述雷达天线在运行所述雷达天线的测试系统之前具有初始材料介电常数和初始中心频率；所述设计系统包括：第二获取模块，用于获取原始雷达天线的理想中心频率；推算模块，用于根据原始雷达天线的理想中心频率，推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值；仿真模块，用于将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，并调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率；优化模块，用于利用材料介电常数的调节值优化所述原始雷达天线的仿真模型，以获取优化的雷达天线；其中，优化的雷达天线的中心频率为初始中心频率；执行模块，用于通过对优化的雷达天线执行所述测试方法，以确定优化的雷达天线的理想中心频率；评估模块，用于根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值。
本发明还有一方面提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现所述雷达天线的测试方法和/或实现所述雷达天线的设计方法。
本发明最后一方面提供一种设备，其特征在于，包括：处理器及存储器；所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述设备执行所述雷达天线的测试方法和/或实现所述雷达天线的设计方法。
如上所述，本发明所述的雷达天线的测试/设计方法、系统、设备及可读存储介质，具有以下有益效果：
第一，本发明通过所述雷达天线的测试方法可以测试同批次/不同批次的多个样机天线性能并对比分析，可用于分析同批次/不同批次样机加工工艺的稳定性，准确反映雷达整机天线性能的问题，极大推动了雷达产品的量产进度；且该测试方法的测试环境搭建简单，操作简便，并有效地利用了现有的暗室资源，大大节约了测试成本。
第二，本发明提供了一种从设计到雷达成品便捷有效确定天线性能的方法，可设计出满足设计要求的产品；
第三，本发明通过所述雷达天线的设计方法可以实现在天线类型和阵元数量都确定的情况下，只需制作2～3次样机即可保证天线性能达到预期效果，特别是中心频率，极大提高了硬件研发效率；
第四，本发明通过所述雷达天线的设计方法可用于测试高频PCB板材的等效DK值。
附图说明
图1显示为本发明所应用的雷达天线示例图。
图2显示为本发明的雷达天线的测试方法于一实施例中的流程示意图。
图3显示为本发明的通过雷达天线的测试方法所产生的雷达天线的系统方向图。
图4显示为本发明的通过雷达天线的测试方法所产生的频率响应曲线示例图。
图5显示为本发明的雷达天线的设计方法于一实施例中的流程示意图。
图6A显示为本发明的雷达天线的测试系统于一实施例中的原理结构示意图。
图6B显示为本发明的雷达天线的设计系统于一实施例中的原理结构示意图。
元件标号说明
| 1 | 雷达天线 |
| 60 | 雷达天线的测试系统 |
| 601 | 第一获取模块 |
| 602 | 模型合成模块 |
| 603 | 探测性能确定模块 |
| 61 | 雷达天线的设计系统 |
| 610 | 第二获取模块 |
| 611 | 推算模块 |
| 613 | 仿真模块 |
| 614 | 优化模块 |
| 615 | 执行模块 |
| 616 | 评估模块 |
| S21～S24 | 雷达天线的测试方法的步骤 |
| S51～S56 | 雷达天线的设计方法的步骤 |
具体实施方式
以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。需说明的是，在不冲突的情况下，以下实施例及实施例中的特征可以相互组合。
需要说明的是，以下实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本发明的基本构想，遂图式中仅显示与本发明中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。
实施例一
本实施例提供一种雷达天线的测试方法，包括：
获取雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度所产生的第一性能参数集；
根据所述第一性能参数集，合成用于评估所述雷达天线的测距范围及测角性能的测试模型；
获取雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集；
根据所述第二性能参数集，确定所述雷达天线的探测性能；所述雷达天线的探测性能包括雷达天线的理想中心频率。
以下将结合图示对本实施例所提供的雷达天线的测试方法进行详细描述。本实施例所述雷达天线的测试方法应用于如图1所示的雷达天线1。所述雷达天线1的每个接收和发射通道的射频走线使其单个通道天线的反射系数小于预设反射系数，且使不同通道天线之间的隔离度大于预设隔离度。在执行实施例所述雷达天线的测试方法之前，需将雷达样机使用测试工装安装在暗室的转台支架上，把角反射器放置于距雷达特定距离的位置，保持雷达与角反射器同高，并且雷达面正对角反射器；将雷达与雷达通信控制器相连，并将雷达通信控制器与电脑相连，来发送雷达控制指令，并使雷达反馈测量数据；将转台控制器与转台相连，并与电脑相连，来发送转台控制指令，精确控制转台的转动，并实时获取转台的状态参数。
请参阅图2，显示为雷达天线的测试方法于一实施例中的流程示意图。如图2所示，所述雷达天线的测试方法具体包括以下步骤：
S21，获取雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度所产生的第一性能参数集。
在本实施例中，所述预设转动范围为[转动初始角度，转动终止角度]。
具体地，所述预设转动范围为[-90°，90°]。
具体地，在执行S21之前，需将雷达天线的中心频率设为fc，雷达天线从-90°位置处开始转动，到90°位置处停止转动。
所述第一性能参数集包括所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位。
S22，根据所述第一性能参数集，合成用于评估所述雷达天线的测距范围及测角性能的测试模型。在本实施例中，所述测试模型为如图3所示的雷达天线的系统方向图。根据所述系统方向图，可以分析出雷达天线的波束宽度、副瓣等。
在本实施例中，由于雷达天线是多通道接收，因此，需要通过对所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度每个收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位进行非相干累加方式合成所述测试模型。
具体地，对所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度每个收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位(幅度和相位采用复数形式表示)求模，再对同一角度的不同通道的模值进行累加，将累加后的模值平均化，即可得到雷达天线的系统方向图。
例如，雷达天线从-90°到90°转动时，获取到每转动1°各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位进行非相干累加。
S23，获取雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集。此时，所述雷达天线的下固定测试角度为0°，即转台转至雷达面和角反射器正对。所述不同工作频率位于预设频段内。
在本实施例中，所述预设频段为[预设雷达天线的工作频率下限，预设雷达天线的工作频率上限]，即[fdown,fup]，其中，fdown代表雷达天线的工作频率下限，fup代表雷达天线的工作频率上限，fstep代表预设间隔，fcn代表雷达天线于预设频段内每间隔预设间隔频率对应的工作频率，fcn＝fdown+fstep*n，n＝0，1，2,3，…。
所述雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集包括雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位。
S24，根据所述第二性能参数集，确定所述雷达天线的探测性能；其中，所述雷达天线的探测性能包括雷达天线的理想中心频率。
具体地，通过对雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位进行非相干累加方式，合成用于分析雷达天线频率的频率响应曲线，频率响应曲线示例图如图4所示，提取该频率响应曲线中能量最高点对应的频率，并对若干雷达天线(雷达天线的数量大于等于10)所提取的频率均值化，以确定雷达天线的理想中心频率。
本实施例所述雷达天线的测试方法通过测试同批次/不同批次的多个样机天线性能并对比分析，可用于分析同批次/不同批次样机加工工艺的稳定性，准确反映雷达整机天线性能的问题，极大推动了雷达产品的量产进度；且该测试方法的测试环境搭建简单，操作简便，并有效地利用了现有的暗室资源，大大节约了测试成本。
本实施例还提供一种雷达天线的设计方法，所述雷达天线在执行上述雷达天线的测试方法之前具有初始材料介电常数和初始中心频率；所述设计方法包括：
获取原始雷达天线的理想中心频率；
根据原始雷达天线的理想中心频率，推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值；
将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，并调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率；
利用材料介电常数的调节值优化所述原始雷达天线的仿真模型，以获取优化的雷达天线；其中，优化的雷达天线的中心频率为初始中心频率；
通过对优化的雷达天线执行所述测试方法，以确定优化的雷达天线的理想中心频率；
根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值。
以下将结合图示对本实施例所提供的雷达天线的设计方法进行详细描述。在执行雷达天线的测试方法时具有初始材料介电常数DK1和初始中心频率f1，综合考虑加工工艺的影响，仿真设计指定中心频率为f1的天线阵列A。按照雷达天线布局，优化雷达每个接收和发射通道的射频走线，使其单个通道天线的反射系数小于一特定值及不同通道天线之间的隔离度小于另一特定值。将设计好的天线加上天线罩，进行雷达整机的天线仿真，优化天线的电磁环境，通过PCB生产供应商生产按照上述方法设计的雷达天线，并在暗室使用上述雷达天线的测试方法进行性能测试。
请参阅图5，显示为雷达天线的设计方法于一实施例中的流程示意图，如图5所示，所述雷达天线的设计方法具体包括以下步骤：
S51，获取原始雷达天线的理想中心频率f2，系统方向图(系统幅度方向图和相位方向图)。
S52，根据原始雷达天线的理想中心频率f2，推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值。
具体通过公式：推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值DK2。
S53，将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，并调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率。
在本实施例中，原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率的一种调节方式如下：
将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，获取仿真后雷达天线的中心频率f1″，计算仿真后雷达天线的中心频率f1″与原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率f2之间的差值，即Δf＝f1″-f2，根据DK值每增大k1(k1为经验值，例如，k1为0.01)时，则中心频率f会减小约k2MHz(k2为经验值，例如，k2为135)的对应关系，且按照公式：DK3＝DK2+k1*(f1″-f2)/k2，将原始雷达天线的材料介电常数的理想值DK2调节至DK3，以使得原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率f2。
S54，利用材料介电常数的调节值DK3优化所述原始雷达天线的仿真模型，以获取优化的雷达天线。其中，优化的雷达天线的中心频率为初始中心频率f1。
在本实施例中，利用材料介电常数的调节值DK3优化所述原始雷达天线的仿真模型，即通过仿真软件根据材料介电常数的调节值DK3，调整天线阵列的尺寸。
S55，通过对优化的雷达天线执行所述测试方法，以确定优化的雷达天线的理想中心频率f3，系统方向图(系统幅度方向图和相位方向图)。
S56，根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值。
具体地，所述S56包括：
判断优化的雷达天线的理想中心频率是否在预设频率范围内；若是，则表示材料介电常数的调节值DK3为有效值；若否，则表示材料介电常数的调节值DK3为无效值，返回所述调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值的步骤。在本实施例中，所述预设频率范围为[f1-Δf,f1+Δf]，Δf为实际天线的中心频率相对于仿真设计指定中心频率f1所允许的最大频偏。
本实施例所述雷达天线的设计方法具有以下有益效果：
第一，提供了一种从设计到雷达成品便捷有效确定天线性能的方法，可设计出满足设计要求的产品；
第二，通过所述雷达天线的设计方法可以实现在天线类型和阵元数量都确定的情况下，只需制作2～3次样机即可保证天线性能达到预期效果，特别是中心频率，极大提高了硬件研发效率；
第三，所述雷达天线的设计方法可用于测试高频PCB板材的等效DK值。
本实施例又提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如图2所示雷达天线的测试方法和/或如图5所示雷达天线的设计方法。
在任何可能的技术细节结合层面，本申请可以是系统、方法和/或计算机程序产品。计算机程序产品可以包括计算机可读存储介质，其上载有用于使处理器实现本申请的各个方面的计算机可读程序指令。
计算机可读存储介质可以是可以保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备。计算机可读存储介质例如可以是(但不限于)电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意合适的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、静态随机存取存储器(SRAM)、便携式压缩盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能盘(DVD)、记忆棒、软盘、机械编码设备、例如其上存储有指令的打孔卡或凹槽内凸起结构、以及上述的任意合适的组合。这里所使用的计算机可读存储介质不被解释为瞬时信号本身，诸如无线电波或者其他自由传播的电磁波、通过波导或其他传输媒介传播的电磁波(例如，通过光纤电缆的光脉冲)、或者通过电线传输的电信号。
这里所描述的计算机可读程序可以从计算机可读存储介质下载到各个计算/处理设备，或者通过网络、例如因特网、局域网、广域网和/或无线网下载到外部计算机或外部存储设备。网络可以包括铜传输电缆、光纤传输、无线传输、路由器、防火墙、交换机、网关计算机和/或边缘服务器。每个计算/处理设备中的网络适配卡或者网络接口从网络接收计算机可读程序指令，并转发该计算机可读程序指令，以供存储在各个计算/处理设备中的计算机可读存储介质中。用于执行本申请操作的计算机程序指令可以是汇编指令、指令集架构(ISA)指令、机器指令、机器相关指令、微代码、固件指令、状态设置数据、集成电路配置数据或者以一种或多种编程语言的任意组合编写的源代码或目标代码，所述编程语言包括面向对象的编程语言—诸如Smalltalk、C++等，以及过程式编程语言—诸如“C”语言或类似的编程语言。计算机可读程序指令可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络—包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。在一些实施例中，通过利用计算机可读程序指令的状态信息来个性化定制电子电路，例如可编程逻辑电路、现场可编程门阵列(FPGA)或可编程逻辑阵列(PLA)，该电子电路可以执行计算机可读程序指令，从而实现本申请的各个方面。
实施例二
本实施例提供一种雷达天线的测试系统，其特征在于，包括：
第一获取模块，用于获取雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度所产生的第一性能参数集及雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集；
模型合成模块，用于根据所述第一性能参数集，合成用于评估所述雷达天线的测距范围及测角性能的测试模型；
探测性能确定模块，用于根据所述第二性能参数集，确定所述雷达天线的探测性能；所述雷达天线的探测性能包括雷达天线的理想中心频率。
本实施例还提供一种雷达天线的设计系统，所述雷达天线在运行所述雷达天线的测试系统之前具有初始材料介电常数和初始中心频率；所述设计系统包括：
第二获取模块，用于获取原始雷达天线的理想中心频率；
推算模块，用于根据原始雷达天线的理想中心频率，推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值；
仿真模块，用于将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，并调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率；
优化模块，用于利用材料介电常数的调节值优化所述原始雷达天线的仿真模型，以获取优化的雷达天线；其中，优化的雷达天线的中心频率为初始中心频率；
执行模块，用于通过对优化的雷达天线执行所述测试方法，以确定优化的雷达天线的理想中心频率；
评估模块，用于根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值。
以下将结合图示对本实施例所述雷达天线的测试系统和所述雷达天线的设计系统的进行详细描述。请参阅图6A，显示为雷达天线的测试系统于一实施例中的原理结构示意图。如图6A所示，所述雷达天线的测试系统60包括第一获取模块601、模型合成模块602及探测性能确定模块603。
所述第一获取模块601用于获取雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度所产生的第一性能参数集及获取雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集。
在本实施例中，所述预设转动范围为[转动初始角度，转动终止角度]。
具体地，所述预设转动范围为[-90°，90°]。
具体地，所述第一获取模块601在获取第一性能参数集之前，需将雷达天线的中心频率设为fc，雷达天线从-90°位置处开始转动，到90°位置处停止转动。
所述第一性能参数集包括所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位。
获取第二性能参数集时，所述雷达天线的下固定测试角度为0°，即转台转至雷达面和角反射器正对。所述不同工作频率位于预设频段内。
在本实施例中，所述预设频段为[预设雷达天线的工作频率下限，预设雷达天线的工作频率上限]，即[fdown,fup]，其中，fdown代表雷达天线的工作频率下限，fup代表雷达天线的工作频率上限，fstep代表预设间隔，fcn代表雷达天线于预设频段内每间隔预设间隔频率对应的工作频率，fcn＝fdown+fstep*n，n＝0，1，2,3，…。
所述雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集包括雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位。
所述模型合成模块602用于根据所述第一性能参数集，合成用于评估所述雷达天线的测距范围及测角性能的测试模型。在本实施例中，所述测试模型为雷达天线的系统方向图。根据所述系统方向图，可以分析出雷达天线的波束宽度、副瓣等。
在本实施例中，由于雷达天线是多通道接收，因此，所述模型合成模块602需要通过对所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度每个收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位进行非相干累加方式合成所述测试模型。
具体地，对所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度每个收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位(幅度和相位采用复数形式表示)求模，再对同一角度的不同通道的模值进行累加，将累加后的模值平均化，即可得到雷达天线的系统方向图。
所述探测性能确定模块603用于根据所述第二性能参数集，确定所述雷达天线的探测性能；所述雷达天线的探测性能包括雷达天线的理想中心频率。
具体地，所述探测性能确定模块603通过对雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位进行非相干累加方式，合成用于分析雷达天线频率的频率响应曲线，频率响应曲线示例图如图4所示，提取该频率响应曲线中能量最高点对应的频率，并对若干雷达天线(雷达天线的数量大于等于10)所提取的频率均值化，以确定雷达天线的理想中心频率。
请参阅图6B，显示为雷达天线的设计系统于一实施例中的原理结构示意图。如图6B所示，所述雷达天线的设计系统61包括：第二获取模块610、推算模块611、仿真模块613、优化模块614、执行模块615及评估模块616。
所述第二获取模块610用于获取原始雷达天线的理想中心频率f2，系统方向图(系统幅度方向图和相位方向图)。
所述推算模块611用于根据原始雷达天线的理想中心频率f2，推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值。
具体所述推算模块611通过公式：推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值DK2。
所述仿真模块613用于将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，并调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率。
在本实施例中，原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率的一种调节方式如下：
将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，获取仿真后雷达天线的中心频率f1″，计算仿真后雷达天线的中心频率f1″与原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率f2之间的差值，即Δf＝f1″-f2，根据DK值每增大k1(k1为经验值，例如，0.01)时，则中心频率f会减小约k2MHz(k2为经验值，例如，k2为135)的对应关系，且按照公式：DK3＝DK2+k1*(f1″-f2)/k2，将原始雷达天线的材料介电常数的理想值DK2调节至DK3，以使得原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率f2。
所述优化模块614用于利用材料介电常数的调节值DK3优化所述原始雷达天线的仿真模型，以获取优化的雷达天线。其中，优化的雷达天线的中心频率为初始中心频率f1。
在本实施例中，所述优化模块614利用材料介电常数的调节值DK3优化所述原始雷达天线的仿真模型，即通过仿真软件根据材料介电常数的调节值DK3，调整天线阵列的尺寸。
所述执行模块615用于通过对优化的雷达天线执行所述测试方法，以确定优化的雷达天线的理想中心频率f3，系统方向图(系统幅度方向图和相位方向图)。
所述评估模块616用于根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值。
具体地，所述评估模块616用于判断优化的雷达天线的理想中心频率是否在预设频率范围内；若是，则表示材料介电常数的调节值DK3为有效值；若否，则表示材料介电常数的调节值DK3为无效值，返回所述调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值的步骤。在本实施例中，所述预设频率范围为[f1-Δf,f1+Δf]，Δf为实际天线的中心频率相对于仿真设计指定中心频率f1所允许的最大频偏。
需要说明的是，应理解以上系统的各个模块的划分仅仅是一种逻辑功能的划分，实际实现时可以全部或部分集成到一个物理实体上，也可以物理上分开。且这些模块可以全部以软件通过处理元件调用的形式实现，也可以全部以硬件的形式实现，还可以部分模块通过处理元件调用软件的形式实现，部分模块通过硬件的形式实现。例如：x模块可以为单独设立的处理元件，也可以集成在上述系统的某一个芯片中实现。此外，x模块也可以以程序代码的形式存储于上述系统的存储器中，由上述系统的某一个处理元件调用并执行以上x模块的功能。其它模块的实现与之类似。这些模块全部或部分可以集成在一起，也可以独立实现。这里所述的处理元件可以是一种集成电路，具有信号的处理能力。在实现过程中，上述方法的各步骤或以上各个模块可以通过处理器元件中的硬件的集成逻辑电路或者软件形式的指令完成。以上这些模块可以是被配置成实施以上方法的一个或多个集成电路，例如：一个或多个特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit，简称ASIC)，一个或多个微处理器(Digital Singnal Processor，简称DSP)，一个或者多个现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，简称FPGA)等。当以上某个模块通过处理元件调度程序代码的形式实现时，该处理元件可以是通用处理器，如中央处理器(CentralProcessing Unit，简称CPU)或其它可以调用程序代码的处理器。这些模块可以集成在一起，以片上系统(System-on-a-chip，简称SOC)的形式实现。
实施例三
本实施例提供一种设备，包括：处理器、存储器、收发器、通信接口或/和系统总线；存储器和通信接口通过系统总线与处理器和收发器连接并完成相互间的通信，存储器用于存储计算机程序，通信接口用于和其他设备进行通信，处理器和收发器用于运行计算机程序，使所述设备执行如上所述雷达天线的测试方法和/或实所述雷达天线的设计方法的各个步骤。
上述提到的系统总线可以是外设部件互连标准(Peripheral ComponentInterconnect，简称PCI)总线或扩展工业标准结构(Extended Industry StandardArchitecture，简称EISA)总线等。该系统总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。通信接口用于实现数据库访问装置与其他设备(如客户端、读写库和只读库)之间的通信。存储器可能包含随机存取存储器(Random Access Memory，简称RAM)，也可能还包括非易失性存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。
上述的处理器可以是通用处理器，包括中央处理器(Central Processing Unit，简称CPU)、网络处理器(Network Processor，简称NP)等；还可以是数字信号处理器(Digital Signal Processing，简称DSP)、专用集成电路(Application SpecificIntegrated Circuit，简称ASIC)、现场可编程门阵列(Field Programmable Gate Array，简称FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。
本发明所述的雷达天线的测试/设计方法的保护范围不限于本实施例列举的步骤执行顺序，凡是根据本发明的原理所做的现有技术的步骤增减、步骤替换所实现的方案都包括在本发明的保护范围内。
本发明还提供一种雷达天线的测试/设计系统，所述雷达天线的测试/设计系统可以实现本发明所述的雷达天线的测试/设计方法，但本发明所述的雷达天线的测试/设计方法的实现装置包括但不限于本实施例列举的雷达天线的测试/设计系统的结构，凡是根据本发明的原理所做的现有技术的结构变形和替换，都包括在本发明的保护范围内。
综上所述，本发明所述雷达天线的测试/设计方法、系统、设备及可读存储介质具有以下有益效果：
第一，本发明通过所述雷达天线的测试方法可以测试同批次/不同批次的多个样机天线性能并对比分析，可用于分析同批次/不同批次样机加工工艺的稳定性，准确反映雷达整机天线性能的问题，极大推动了雷达产品的量产进度；且该测试方法的测试环境搭建简单，操作简便，并有效地利用了现有的暗室资源，大大节约了测试成本。
第二，本发明提供了一种从设计到雷达成品便捷有效确定天线性能的方法，可设计出满足设计要求的产品；
第三，本发明通过所述雷达天线的设计方法可以实现在天线类型和阵元数量都确定的情况下，只需制作2～3次样机即可保证天线性能达到预期效果，特别是中心频率，极大提高了硬件研发效率；
第四，本发明通过所述雷达天线的设计方法可用于测试高频PCB板材的等效DK值。本发明有效克服了现有技术中的种种缺点而具高度产业利用价值。
上述实施例仅例示性说明本发明的原理及其功效，而非用于限制本发明。任何熟悉此技术的人士皆可在不违背本发明的精神及范畴下，对上述实施例进行修饰或改变。因此，举凡所属技术领域中具有通常知识者在未脱离本发明所揭示的精神与技术思想下所完成的一切等效修饰或改变，仍应由本发明的权利要求所涵盖。
Claims (11)
1.一种雷达天线的设计方法，其特征在于，所述雷达天线具有初始材料介电常数和初始中心频率；所述设计方法包括：
获取原始雷达天线的理想中心频率；
根据原始雷达天线的理想中心频率，推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值；
将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，并调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率；
利用材料介电常数的调节值优化所述原始雷达天线的仿真模型，以获取优化的雷达天线；其中，优化的雷达天线的中心频率为初始中心频率；
通过对优化的雷达天线执行测试方法，以确定优化的雷达天线的理想中心频率；根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值。
2.根据权利要求1所述的设计方法，其特征在于，所述根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值的步骤包括：
判断优化的雷达天线的理想中心频率是否在预设频率范围内；若是，则表示材料介电常数的调节值为有效值；若否，则表示材料介电常数的调节值为无效值，返回所述调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值的步骤。
3.一种雷达天线的测试方法，其特征在于，应用于权利要求1-2中任一项所述的雷达天线的设计方法设计得到的雷达天线，包括：
获取雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度所产生的第一性能参数集；
根据所述第一性能参数集，合成用于评估所述雷达天线的测距范围及测角性能的测试模型；
获取雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集；
根据所述第二性能参数集，确定所述雷达天线的探测性能；所述雷达天线的探测性能包括雷达天线的理想中心频率。
4.根据权利要求3所述的雷达天线的测试方法，其特征在于，
所述预设转动范围为[转动初始角度，转动终止角度]；
所述第一性能参数集包括所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位。
5.根据权利要求4所述的雷达天线的测试方法，其特征在于，通过对所述雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度每个收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位进行非相干累加方式合成所述测试模型。
6.根据权利要求3所述的雷达天线的测试方法，其特征在于，
所述不同工作频率位于预设频段内，所述预设频段为[预设雷达天线的工作频率下限，预设雷达天线的工作频率上限]；
所述雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集包括雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位。
7.根据权利要求6所述的雷达天线的测试方法，其特征在于，通过对雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处各收发通道天线水平和俯仰的幅度和相位进行非相干累加方式，合成用于分析雷达天线频率的频率响应曲线，提取该频率响应曲线中能量最高点对应的频率，并对若干雷达天线所提取的频率均值化，以确定雷达天线的理想中心频率。
8.一种雷达天线的测试系统，其特征在于，应用于权利要求1-2中任一项所述的雷达天线的设计方法设计得到的雷达天线，包括：
第一获取模块，用于获取雷达天线于预设转动范围内每转动预设间隔角度所产生的第一性能参数集及雷达天线于不同工作频率下固定测试角度处所产生的第二性能参数集；
模型合成模块，用于根据所述第一性能参数集，合成用于评估所述雷达天线的测距范围及测角性能的测试模型；
探测性能确定模块，用于根据所述第二性能参数集，确定所述雷达天线的探测性能；所述雷达天线的探测性能包括雷达天线的理想中心频率。
9.一种雷达天线的设计系统，其特征在于，所述雷达天线具有初始材料介电常数和初始中心频率；所述设计系统包括：
第二获取模块，用于获取原始雷达天线的理想中心频率；
推算模块，用于根据原始雷达天线的理想中心频率，推算原始雷达天线的材料介电常数的理想值；
仿真模块，用于将原始雷达天线的材料介电常数的理想值加入到所述原始雷达天线的仿真模型中进行仿真，并调节原始雷达天线的材料介电常数的理想值，获取材料介电常数的调节值，使所述原始雷达天线的中心频率达到理想中心频率；
优化模块，用于利用材料介电常数的调节值优化所述原始雷达天线的仿真模型，以获取优化的雷达天线；其中，优化的雷达天线的中心频率为初始中心频率；
执行模块，用于通过对优化的雷达天线执行测试方法，以确定优化的雷达天线的理想中心频率；
评估模块，用于根据优化的雷达天线的理想中心频率来评估材料介电常数的调节值是否为有效值。
10.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求3至7中任一项所述雷达天线的测试方法和/或实现权利要求1至2中任一项所述雷达天线的设计方法。
11.一种设备，其特征在于，包括：处理器及存储器；
所述存储器用于存储计算机程序，所述处理器用于执行所述存储器存储的计算机程序，以使所述设备执行如权利要求3至7中任一项所述雷达天线的测试方法和/或实现权利要求1至2中任一项所述雷达天线的设计方法。
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Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104133119A (zh) * | 2014-07-29 | 2014-11-05 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于多工器的宽频带rcs测试方法 |
| RU2570600C1 (ru) * | 2014-07-22 | 2015-12-10 | Открытое акционерное общество "Омский научно-исследовательский институт приборостроения" (ОАО "ОНИИП") | Способ моделирования при разработке антенн |
| CN106772286A (zh) * | 2016-12-06 | 2017-05-31 | 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所 | 一种小型天线转台 |
| CN109633650A (zh) * | 2019-01-10 | 2019-04-16 | 南京理工大学 | 一种车载毫米波雷达多通道阵列天线幅相校正装置及方法 |
| CN109959902A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-07-02 | 国网浙江省电力有限公司 | 一种雷达极化天线校准曲线测试方法 |
| CN110568414A (zh) * | 2019-10-17 | 2019-12-13 | 上海机电工程研究所 | 基于w波段雷达系统的半实物仿真延时校准方法及系统 |
| CN111507008A (zh) * | 2020-04-23 | 2020-08-07 | 成都众享天地网络科技有限公司 | 一种基于参数化的通用雷达模型建模方法 |
| CN112363000A (zh) * | 2020-11-18 | 2021-02-12 | 扬州船用电子仪器研究所(中国船舶重工集团公司第七二三研究所) | 一种机载电子对抗设备的自动测试装置及方法 |
| CN212845623U (zh) * | 2020-07-20 | 2021-03-30 | 中国人民解放军空军预警学院 | 一种地面对空情报雷达天线波瓣参数测量系统 |
| CN112964939A (zh) * | 2021-02-05 | 2021-06-15 | 合肥楚航科技发展有限公司 | 天线测试系统 |
| CN113064123A (zh) * | 2021-03-09 | 2021-07-02 | 浙江省计量科学研究院 | 一种多目标雷达测速仪多参数检定装置及回波模拟方法 |
-
2021
- 2021-08-02 CN CN202110881880.8A patent/CN113779653B/zh active Active
Patent Citations (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| RU2570600C1 (ru) * | 2014-07-22 | 2015-12-10 | Открытое акционерное общество "Омский научно-исследовательский институт приборостроения" (ОАО "ОНИИП") | Способ моделирования при разработке антенн |
| CN104133119A (zh) * | 2014-07-29 | 2014-11-05 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于多工器的宽频带rcs测试方法 |
| CN106772286A (zh) * | 2016-12-06 | 2017-05-31 | 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所 | 一种小型天线转台 |
| CN109959902A (zh) * | 2018-12-26 | 2019-07-02 | 国网浙江省电力有限公司 | 一种雷达极化天线校准曲线测试方法 |
| CN109633650A (zh) * | 2019-01-10 | 2019-04-16 | 南京理工大学 | 一种车载毫米波雷达多通道阵列天线幅相校正装置及方法 |
| CN110568414A (zh) * | 2019-10-17 | 2019-12-13 | 上海机电工程研究所 | 基于w波段雷达系统的半实物仿真延时校准方法及系统 |
| CN111507008A (zh) * | 2020-04-23 | 2020-08-07 | 成都众享天地网络科技有限公司 | 一种基于参数化的通用雷达模型建模方法 |
| CN212845623U (zh) * | 2020-07-20 | 2021-03-30 | 中国人民解放军空军预警学院 | 一种地面对空情报雷达天线波瓣参数测量系统 |
| CN112363000A (zh) * | 2020-11-18 | 2021-02-12 | 扬州船用电子仪器研究所(中国船舶重工集团公司第七二三研究所) | 一种机载电子对抗设备的自动测试装置及方法 |
| CN112964939A (zh) * | 2021-02-05 | 2021-06-15 | 合肥楚航科技发展有限公司 | 天线测试系统 |
| CN113064123A (zh) * | 2021-03-09 | 2021-07-02 | 浙江省计量科学研究院 | 一种多目标雷达测速仪多参数检定装置及回波模拟方法 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| 星载SAR天线转动控制的软件模拟实现;张晓光;吴其昌;张平;;科学技术与工程(13);全文 * |
| 路面雷达检测精度影响因素评价;梁武星;屈战辉;;公路交通科技(应用技术版)(07);全文 * |
Also Published As
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|---|---|
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Legal Events
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| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
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| GR01 | Patent grant | ||
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