CN113760615A - 一种固态硬盘单板检测方法和相关装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例公开了一种固态硬盘单板检测方法和相关装置，可以先确定固态硬盘对应的定位孔，然后通过定位孔固定该待测固态硬盘，从而实现对固态硬盘位置的固定；随后，可以确定待测固态硬盘的待测单板对应的多个测试点位，并基于该测试点位生成包括测量探针的探测板，该测量探针与测试点位一一对应。因此，通过将该探测板，可以实现测量探针与测试点位的精确接触，从而完成对待测单板的准确测量，无需更改待测单板的物理结构即可实现对固态硬盘单板的检测，降低了检测对于固态硬盘结构的影响。

Description

一种固态硬盘单板检测方法和相关装置

技术领域

本申请涉及存储硬件技术领域，特别是涉及一种固态硬盘单板检测方法和相关装置。

背景技术

随着信息时代对数据存储容量及存取速度需求的不断提高，传统的机械硬盘已经不能满足对硬盘更高性能的要求，固态硬盘SSD应运而生。SSD也称为固态硬盘，相较于机械硬盘SSD最诸多方面均有所提升。伴随着SSD单盘容量的不断增加，SSD的单盘重量、功耗、温度也在不断增加。SSD单盘功耗不是一成不变的，功耗会随单盘老化程度增加，会跟随业务吞吐量发生变化。连续变化的SSD功耗会影响单盘温度，会影响电源完整性、信号完整性导致性能变差。因此，对SSD单盘功耗的检测尤其重要。

相关技术中，主要通过对SSD单板进行检测来检测SSD的单盘功耗。

然而，相关技术中的SSD单板检测方式需要对单板进行物理上的改造，对单板影响较大。

发明内容

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种固态与硬盘单板检测方法，可以通过与待测单板上的测试点位一一对应的测量探针，以接触的方式对待测单板进行测量，从而无需焊接等需要对待测单板物理结构进行改变的方式即可实现精准测量，降低了对待测单板的影响。

本申请实施例公开了如下技术方案：

第一方面，本申请实施例提供了一种固态硬盘单板检测方法，所述方法包括：

确定待测固态硬盘对应的定位孔；

通过所述定位孔固定所述待测固态硬盘；

确定所述待测固态硬盘的待测单板对应的多个测试点位，并基于所述测试点位生成探测板，所述探测板包括测量探针，所述测量探针与所述测试点位一一对应；

通过测量探针接触所述测试点位，对所述待测单板的信息进行检测。

在一种可能的实现方式中，所述待测单板的信息包括所述测试点位的电流、所述测试点位的温度、测试点位的电压中的任意一种或多种的组合。

在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：

通过显示装置显示所述待测单板的信息。

在一种可能的实现方式中，所述方法还包括：

采集所述待测固态硬盘对应的硬盘信号；

响应于所述硬盘信号为启动复位信号，执行所述对所述待测单板的信息进行检测的步骤。

在一种可能的实现方式中，所述对所述待测单板的信息进行检测，包括：

获取所述待测单板对应的信息以及信息数量；

若同种类信息的信息数量达到预设阈值，确定所述同种类信息的平均值；

将所述平均值确定为检测的检测结果。

第二方面，本申请实施例公开了一种固态硬盘单板检测装置，所述装置包括第一确定单元、固定单元、第二确定单元和检测单元：

所述第一确定单元，用于确定待测固态硬盘对应的定位孔；

所述固定单元，用于通过所述定位孔固定所述待测固态硬盘；

所述第二确定单元，用于确定所述待测固态硬盘的待测单板对应的多个测试点位，并基于所述测试点位生成探测板，所述探测板包括测量探针，所述测量探针与所述测试点位一一对应；

所述检测单元，用于通过测量探针接触所述测试点位，对所述待测单板的信息进行检测。

在一种可能的实现方式中，所述待测单板的信息包括所述测试点位的电流、所述测试点位的温度、测试点位的电压中的任意一种或多种的组合。

在一种可能的实现方式中，所述装置还包括显示单元：

所述显示单元，用于通过显示装置显示所述待测单板的信息。

在一种可能的实现方式中，所述装置还包括采集单元和执行单元：

所述采集单元，用于采集所述待测固态硬盘对应的硬盘信号；

所述执行单元，用于响应于所述硬盘信号为启动复位信号，执行所述对所述待测单板的信息进行检测的步骤。

在一种可能的实现方式中，所述检测单元具体用于：

获取所述待测单板对应的信息以及信息数量；

若同种类信息的信息数量达到预设阈值，确定所述同种类信息的平均值；

将所述平均值确定为检测的检测结果。

由上述技术方案可以看出，本申请提供了一种固态硬盘单板检测方法，可以先确定固态硬盘对应的定位孔，然后通过定位孔固定该待测固态硬盘，从而实现对固态硬盘位置的固定；随后，可以确定待测固态硬盘的待测单板对应的多个测试点位，并基于该测试点位生成包括测量探针的探测板，该测量探针与测试点位一一对应。因此，通过将该探测板，可以实现测量探针与测试点位的精确接触，从而完成对待测单板的准确测量，无需更改待测单板的物理结构即可实现对固态硬盘单板的检测，降低了检测对于固态硬盘结构的影响。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例提供的一种固态硬盘单板检测方法的流程图；

图2为本申请实施例提供的一种固态硬盘单板检测的示意图；

图3为本申请实施例提供的一种待测单板上的测量点位的示意图；

图4为本申请实施例提供的一种PC机中的主控模块程序控制流程图；

图5为本申请实施例提供的一种固态硬盘单板检测装置的结构框图。

具体实施方式

下面结合附图，对本申请的实施例进行描述。

固态硬盘(Solid State Disk或Solid State Drive，简称SSD)采用闪存作为存储介质，读取速度相对机械硬盘更快，而且固态硬盘寻道时间几乎为0，这样的特质在作为系统盘时候，可以明显加快操作系统启动速度和软件启动速度。抗震性能方面：SSD固态硬盘由于完全没有机械结构，所以不怎么怕震动和冲击，不用担心因为震动造成无可避免的数据损失。发热功耗方面：SSD固态硬盘不同于传统硬盘，不存在盘片的高速旋转，所以发热也明显低于机械硬盘，而且FLASH芯片的功耗极低，这对于笔记本用户来说，这意味着电池续航时间的增加。使用噪音方面：SSD固态硬盘没有盘体机构，不存在磁头臂寻道的声音和高速旋转时候的噪音，所以SSD工作时候完全不会产生噪音。

伴随着SSD单盘容量的不断增加，SSD的单盘重量、功耗、温度也在不断增加，对于确定的Flash颗粒，SSD容量越大单盘质量越大、单盘功耗越大、单盘温度越高。SSD单盘功耗不是一成不变的，功耗会随单盘老化程度增加，会跟随业务吞吐量发生变化。连续变化的SSD功耗会影响单盘温度，会影响电源完整性、信号完整性导致性能变差。

因此在SSD开发阶段需要对SSD单板进行检测，用于检测单盘主要电源网络的功耗、单盘主要功能模块的温度变化。在相关技术中，需要手动在单板上焊接引线，通过示波器电流探棒、电压探头将数据引入示波器，在示波器观察各通道电压、电流数据。示波器测量SSD单板电压电流需要焊接长引线，影响SSD的完整性。

为了解决上述技术问题，本申请实施例提供了一种固态与硬盘单板检测方法，可以通过与待测单板上的测试点位一一对应的测量探针，以接触的方式对待测单板进行测量，从而无需焊接等需要对待测单板物理结构进行改变的方式即可实现精准测量，降低了对待测单板的影响。

可以理解的是，该方法可以应用于处理设备上，该处理设备为能够进行固态硬盘单板检测的处理设备，例如可以为具有固态硬盘单板检测功能的终端设备。该方法可以通过终端设备独立执行，也可以应用于终端设备和服务器通信的网络场景，通过终端设备和服务器配合执行。其中，终端设备可以为计算机等设备。服务器可以理解为是应用服务器，也可以为Web服务器，在实际部署时，该服务器可以为独立服务器，也可以为集群服务器。同时，该方法也可以由相关人员手动执行，此处不作限定。

接下来，将结合附图，对本申请实施例提供的一种固态硬盘单板检测方法进行介绍。参见图1，图1为本申请实施例提供的一种固态硬盘单板检测方法的流程图，该方法包括:

S101：确定待测固态硬盘对应的定位孔。

其中，定位孔用于对该待测固态硬盘进行固定。

S102：通过定位孔固定待测固态硬盘。

如图2所示，图2展示了一种固态硬盘单板检测的示意图，可以基于该定位孔通过上板Top和下板Bot将该固态硬盘固定住。

S103：确定待测固态硬盘的待测单板对应的多个测试点位，并基于测试点位生成探测板。

其中，测试点位用于对待测单板的信息进行检测。例如，在一种可能的实现方式中，该待测单板的信息可以包括测试点位的电流、测试点位的温度、测试点位的电压中的任意一种或多种的组合。为了能够同时对该待测单板的多个测试点位进行测量，可以基于测试点位生成探测板，该探测板包括测量探针，该测量探针与测试点位一一对应。从而，通过对应多个测量点位的测量探针，可以实现对该待测单板多个信息的同时测量，提高测量效率。

S104：通过测量探针接触测试点位，对待测单板的信息进行测量。

由上述技术方案可以看出，本申请提供了一种固态硬盘单板检测方法，可以先确定固态硬盘对应的定位孔，然后通过定位孔固定该待测固态硬盘，从而实现对固态硬盘位置的固定；随后，可以确定待测固态硬盘的待测单板对应的多个测试点位，并基于该测试点位生成包括测量探针的探测板，该测量探针与测试点位一一对应。因此，通过将该探测板，可以实现测量探针与测试点位的精确接触，从而完成对待测单板的准确测量，无需更改待测单板的物理结构即可实现对固态硬盘单板的检测，降低了检测对于固态硬盘结构的影响。

其中，为了使检测出的信息能够较为清晰的进行展示，在一种可能的实现方式中，处理设备可以通过显示装置显示待测单板的信息。例如，处理设备可以将通过测量探针检测到的待测单板的信息实时显示在LCD屏幕上。

此外，为了保障检测的准确性，在一种可能的实现方式中，处理设备可以在待测固态硬盘处于较为稳定的状态下，例如处于复位状态下再进行采集。在一种可能的实现方式中，处理设备可以采集该待测固态硬盘对饮的硬盘信号，并判断该信号的类型。响应于该硬盘信号为启动复位信号，说明此时待测固态硬盘处于复位状态下，则可以执行对待测单板的信息进行检测的步骤。

在实际检测过程中，为了降低检测的误差值对检测结果带来的影响，在一种可能的实现方式中，处理设备可以获取该待测单板对应的信息以及信息数量，若同种类信息的信息数量达到预设阈值，则可以确定该同种类信息的平均值，将该平均值确定为检测的检测结果，从而能够通过取平均值的方式降低个别误差值对最终检测结果的影响。

为了便于理解本申请实施例提供的技术方案，接下来，将结合一种实际应用场景，对本申请实施例提供的一种固态硬盘单板检测方法进行介绍。在该实际应用场景中，处理设备可以为对固态硬盘进行检测的PC机。

首先，可以准备两台台PC机，一台安装Linux操作系统，编写SSD FIO业务压力脚本，将PC机主板PCIe接口通过PCIe转U.2接口线引出(转接线要适配不同速率)，另一台安装Windows及Uart调试助手。

由于SSD一般Top与Bottom层均贴电子元件，所以SSD单板功耗测试工装分为Top和Bot上下两部分，如图2所示，PCB在Top与Bot预留探针空位，探测板固定在Top与Bot板背面。

各电源网络通过探针引入分压网络和霍尔电流传感器，数字温度传感器安装与探针顶端，数字温度传感器紧贴相关芯片读取温度；电压经过分压、保持、调理、量化后送入单片机，霍尔传感器的输出电流通过跨阻放大器、保持、调理、量化后送入单片机；单片机汇总电压、电流、温度数据后通过实时LCD显示并实时上传至PC机串口；Windows PC机通过串口调试助手保存SSD单板功耗测试数据。参见图3，图3为待测单板上的测量点位的示意图。

PC机中的主控模块程序控制过程如下：

MCU移植FreeRTOS实时操作系统，创建12个ADC采集任务，其中6个为电压采集任务，6个为电流采集任务，创建13个Temperature任务，1个LCD数据实时显示任务，1个串口数据实时打印任务，1个输入捕获计时任务；

ADC+Temperature共23个任务，创建一个数据矩阵，采样数据存入数据矩阵，每个采样任务没50ms采样一次，采样5次取平均值作为有效数据；

系统启动后首先初始化所有任务；

通过捕获SSD复位信号，待SSD单板完成启动复位后启动所有信息采集任务；

将采集数据实时显示到LCD屏幕上，将数据通过串口实时发送到PC端保存。

参见图4，图4展示了一种PC机中的主控模块程序控制流程图，在实时操作系统初始化后，可以创建ADC、Temp、LCD、UART、输入捕获等任务，然后捕获RST_N信号低电平时长。在RST_N信号低电平时长达到80ms后，可以判定该SSD处于启动复位状态，可以启动ADC、Temp采集任务，并实时判断ADC、Temp数据矩阵是否刷新，若刷新，则开启下一轮采集任务，若未刷新，则可以启动LCD显示和UART打印任务，进行信息显示和信息记录。

在相关技术中，示波器测量SSD单板电压电流需要焊接长引线，影响电源完整性，同时8通道示波器仅能同时对4路电源做电压电流测量，并且示波器无法实时测量温度。而本申请中的SSD单板检测方法可以避免焊接对电路影响，同时测量电源通道可达到8个或以上通道，可同时测量多点温度且测温点可按要求扩展。该SSD单板检测方法提高了测试效率及测试数据可靠性，对于提高SSD功耗可靠性具有重要意义。

基于上述实施例提供的一种固态硬盘单板检测方法，本申请实施例还提供了一种固态硬盘单板检测装置，参见图5，图5为本申请实施例提供的一种固态硬盘单板检测装置的结构框图，该装置500包括第一确定单元501、固定单元502、第二确定单元503和检测单元504：

第一确定单元501，用于确定待测固态硬盘对应的定位孔；

固定单元502，用于通过所述定位孔固定所述待测固态硬盘；

第二确定单元503，用于确定所述待测固态硬盘的待测单板对应的多个测试点位，并基于所述测试点位生成探测板，所述探测板包括测量探针，所述测量探针与所述测试点位一一对应；

检测单元504，用于通过测量探针接触所述测试点位，对所述待测单板的信息进行检测。

在一种可能的实现方式中，所述待测单板的信息包括所述测试点位的电流、所述测试点位的温度、测试点位的电压中的任意一种或多种的组合。

在一种可能的实现方式中，装置500还包括显示单元：

显示单元，用于通过显示装置显示所述待测单板的信息。

在一种可能的实现方式中，装置500还包括采集单元和执行单元：

采集单元，用于采集所述待测固态硬盘对应的硬盘信号；

执行单元，用于响应于所述硬盘信号为启动复位信号，执行所述对所述待测单板的信息进行检测的步骤。

在一种可能的实现方式中，检测单元504具体用于：

获取所述待测单板对应的信息以及信息数量；

若同种类信息的信息数量达到预设阈值，确定所述同种类信息的平均值；

将所述平均值确定为检测的检测结果。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述程序可以存储于一计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质可以是下述介质中的至少一种：只读存储器(英文：read-only memory，缩写：ROM)、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于设备及系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的设备及系统实施例仅仅是示意性的，其中作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述，仅为本申请的一种具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本申请揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种固态硬盘单板检测方法，其特征在于，所述方法包括：

确定待测固态硬盘对应的定位孔；

通过所述定位孔固定所述待测固态硬盘；

确定所述待测固态硬盘的待测单板对应的多个测试点位，并基于所述测试点位生成探测板，所述探测板包括测量探针，所述测量探针与所述测试点位一一对应；

通过测量探针接触所述测试点位，对所述待测单板的信息进行检测。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测单板的信息包括所述测试点位的电流、所述测试点位的温度、测试点位的电压中的任意一种或多种的组合。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过显示装置显示所述待测单板的信息。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

采集所述待测固态硬盘对应的硬盘信号；

响应于所述硬盘信号为启动复位信号，执行所述对所述待测单板的信息进行检测的步骤。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述待测单板的信息进行检测，包括：

获取所述待测单板对应的信息以及信息数量；

若同种类信息的信息数量达到预设阈值，确定所述同种类信息的平均值；

将所述平均值确定为检测的检测结果。

6.一种固态硬盘单板检测装置，其特征在于，所述装置包括第一确定单元、固定单元、第二确定单元和检测单元：

所述第一确定单元，用于确定待测固态硬盘对应的定位孔；

所述固定单元，用于通过所述定位孔固定所述待测固态硬盘；

所述第二确定单元，用于确定所述待测固态硬盘的待测单板对应的多个测试点位，并基于所述测试点位生成探测板，所述探测板包括测量探针，所述测量探针与所述测试点位一一对应；

所述检测单元，用于通过测量探针接触所述测试点位，对所述待测单板的信息进行检测。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述待测单板的信息包括所述测试点位的电流、所述测试点位的温度、测试点位的电压中的任意一种或多种的组合。

8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括显示单元：

所述显示单元，用于通过显示装置显示所述待测单板的信息。

9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述装置还包括采集单元和执行单元：

所述采集单元，用于采集所述待测固态硬盘对应的硬盘信号；

所述执行单元，用于响应于所述硬盘信号为启动复位信号，执行所述对所述待测单板的信息进行检测的步骤。

10.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述检测单元具体用于：

获取所述待测单板对应的信息以及信息数量；

若同种类信息的信息数量达到预设阈值，确定所述同种类信息的平均值；

将所述平均值确定为检测的检测结果。

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