CN113740035B - 投影质量检测方法、装置、设备及可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本公开提供了一种投影质量检测方法、装置、设备及可读存储介质，该方法包括：响应于对所述投影光机的投影质量检测请求，根据预设的最小线对基元生成对应的线对图；其中，所述最小线对基元表示一个线对所对应的最小像素单元在至少一个颜色通道的像素值；所述线对图为根据所述最小线对基元按照逻辑设定所组合得到的图片；通过所述微米发光二极管投影装置投射与预设的最小线对基元对应的线对图；采集包含所述投影光机所投射的所述线对图的投影图像；根据所述投影图像，对所述投影光机的投影质量进行检测，得到与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果。

Description

投影质量检测方法、装置、设备及可读存储介质

技术领域

本公开涉及投影技术领域，更具体地，涉及一种投影光机的投影质量检测方法、装置、设备及一种可读存储介质。

背景技术

随着电子设备的快速发展，投影光机也历经变更，从庞大体积的老式胶片放映机到摆放在会议室内桌子上的小型投影光机，由胶片时代进入到了数字化时代。

在投影光机出厂之前，为了提高投影光机的可靠性，需要对投影光机的投影质量进行检测。现有的检测方式通常为，在投影光机中预先存储完整的图片，在对投影光机进行投影质量检测时，需使得投影光机投射该图片，再通过相机采集包含投影光机所投射的图片的投影图像，基于投影图像对投影光机的投影质量进行检测。

但是，如果预先在投影光机中存储完整的图片，会占用投影光机中较大的存储空间，对投影光机的存储要求较高。

发明内容

本公开的一个目的是提供一种检测投影光机的投影质量的新技术方案。

根据本公开的第一方面，提供了一种投影光机的投影质量检测方法，所述投影光机具有微米发光二极管投影装置；所述方法包括：

响应于对所述投影光机的投影质量检测请求，根据预设的最小线对基元生成对应的线对图；其中，所述最小线对基元表示一个线对所对应的最小像素单元在至少一个颜色通道的像素值；所述线对图为根据所述最小线对基元按照逻辑设定所组合得到的图片；

通过所述微米发光二极管投影装置投射与预设的最小线对基元对应的线对图；

采集包含所述投影光机所投射的所述线对图的投影图像；

根据所述投影图像，对所述投影光机的投影质量进行检测，得到与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果。

可选的，生成所述最小线对基元的方法包括：

获取目标参数；其中，所述目标参数表示一个线对所对应的最小像素单元所包含的像素点的数量；

根据所述目标参数，生成所述最小线对基元。

可选的，所述根据预设的最小线对基元生成对应的线对图包括：

获取所述投影光机的分辨率，

根据所述最小线对基元和所述投影光机的分辨率，生成所述线对图。

可选的，所述根据所述最小线对基元和所述投影光机的分辨率，生成所述线对图包括：

根据所述最小线对基元和所述投影光机的分辨率，生成任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值；

根据所述任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值，生成所述线对图的每一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值，作为所述线对图。

可选的，所述最小线对基元为多个；

所述方法还包括：

根据预设的目标结果、以及与多个所述最小线对基元对应的投影质量检测结果，确定所述投影光机的最优投影质量检测结果。

可选的，所述根据所述投影图像，对所述投影光机的投影质量进行检测，得到与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果包括：

获取所述投影图像中的待测区域；

计算所述待测区域的调制传递函数，作为与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果。

可选的，所述计算所述待测区域的调制传递函数，作为与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果包括：

根据预设的像素值阈值，确定所述待测区域中像素值小于所述像素值阈值的像素点的第一数量，以及所述待测区域中像素值大于所述像素值阈值的像素点的第二数量；

根据所述第一数量和所述第二数量，计算所述待测区域的调制传递函数，作为与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果。

根据本公开的第二方面，提供了一种投影光机的投影质量检测装置，所述投影光机具有微米发光二极管投影装置；所述装置包括：

线对图生成模块，响应于对所述投影光机的投影质量检测请求，根据预设的最小线对基元生成对应的线对图；其中，所述最小线对基元表示一个线对所对应的最小像素单元在至少一个颜色通道的像素值；所述线对图为根据所述最小线对基元按照逻辑设定所组合得到的图片；

线对图投射模块，用于通过所述微米发光二极管投影装置投射与预设的最小线对基元对应的线对图；

图像采集模块，用于采集包含所述投影光机所投射的所述线对图的投影图像；

质量检测模块，用于根据所述投影图像，对所述投影光机的投影质量进行检测，得到与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果。

根据本公开的第三方面，提供了一种投影光机的投影质量检测设备，包括处理器和存储器，所述存储器用于存储指令，所述指令用于控制所述处理器执行根据本公开第一方面所述的方法。

根据本公开的第四方面，提供了一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现如本公开第一方面所述的方法。

通过本实施例的方法，根据最小线对基元生成对应的线对图，再由投影光机投射该线对图，无需在电子设备或投影光机中存储完整大小的线对图，而是仅存储最小线对基元，可以减小存储占用空间。

通过以下参照附图对本公开的示例性实施例的详细描述，本公开的其它特征及其优点将会变得清楚。

附图说明

被结合在说明书中并构成说明书的一部分的附图示出了本公开的实施例，并且连同其说明一起用于解释本公开的原理。

图1是显示可用于实现本公开的实施例的电子设备的硬件配置的一个例子的框图。

图2示出了本公开的实施例的投影光机的投影质量检测方法的流程图。

图3示出了本公开的实施例的投影光机的投影质量检测装置的一个例子的框图。

图4示出了本公开的实施例的投影光机的投影质量检测设备的一个例子的框图。

具体实施方式

现在将参照附图来详细描述本公开的各种示例性实施例。应注意到：除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本公开的范围。

以下对至少一个示例性实施例的描述实际上仅仅是说明性的，决不作为对本公开及其应用或使用的任何限制。

对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为说明书的一部分。

在这里示出和讨论的所有例子中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它例子可以具有不同的值。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

<硬件配置>

图1是可用于实现本公开实施例的电子设备的结构示意图。

该电子设备1000可以是智能手机、便携式电脑、台式计算机、平板电脑、服务器等，在此不做限定。

该电子设备1000可以包括但不限于处理器1100、存储器1200、接口装置1300、通信装置1400、显示装置1500、输入装置1600、扬声器1700、麦克风1800等等。其中，处理器1100可以是中央处理器CPU、图形处理器GPU、微处理器MCU等，用于执行计算机程序，该计算机程序可以采用比如x86、Arm、RISC、MIPS、SSE等架构的指令集编写。存储器1200例如包括ROM(只读存储器)、RAM(随机存取存储器)、诸如硬盘的非易失性存储器等。接口装置1300例如包括USB接口、串行接口、并行接口等。通信装置1400例如能够利用光纤或电缆进行有线通信，或者进行无线通信，具体地可以包括WiFi通信、蓝牙通信、2G/3G/4G/5G通信等。显示装置1500例如是液晶显示屏、触摸显示屏等。输入装置1600例如可以包括触摸屏、键盘、体感输入等。扬声器1700用于输出音频信号。麦克风1800用于采集音频信号。

应用于本公开实施例中，电子设备1000的存储器1200用于存储计算机程序，该计算机程序用于控制所述处理器1100进行操作以实现根据本公开实施例的方法。技术人员可以根据本公开所公开方案设计该计算机程序。该计算机程序如何控制处理器进行操作，这是本领域公知，故在此不再详细描述。该电子设备1000可以安装有智能操作系统(例如Windows、Linux、安卓、IOS等系统)和应用软件。

本领域技术人员应当理解，尽管在图1中示出了电子设备1000的多个装置，但是，本公开实施例的电子设备1000可以仅涉及其中的部分装置，例如，只涉及处理器1100和存储器1200等。

下面，参照附图描述根据本发明的各个实施例和例子。

<方法实施例>

图2是根据一个实施例的投影光机的投影质量检测方法的流程示意图，该实施例可以由电子设备和待检测的投影光机共同实施。例如，该电子设备可以是如图1所示的电子设备1000。

本实施例中的投影光机具有微米发光二极管(Micro LED)投影装置。Micro LED技术，即LED微缩化和矩阵化技术，指的是在一个芯片上集成高密度微小尺寸的LED数组。RGB-LED全彩显示显示原理主要是基于三原色(红，绿，蓝)调色基本原理。众所周知，RGB三原色经过一定配比可以合成自然界中绝大部分色彩。同理，对红色、绿色、蓝色LED，以不同的电流可控制其亮度值，从而实现三原色的组合，达到全彩色显示的效果。每个像素点都含三个RGB三色LED，如果要显示单色的话，只需要给相应的位色的LED发送相应的指令即可。

如图2所示，本实施例的投影光机的投影质量检测方法可以包括如下所示的步骤S2100～S2400：

步骤S2100，响应于对投影光机的投影质量检测请求，根据预设的最小线对基元生成对应的线对图。

其中，最小线对基元表示一个线对所对应的最小像素单元在至少一个颜色通道的像素值。线对图为根据最小线对基元按照逻辑设定所组合得到的图片。

在本公开的一个实施例中，最小线对基元可以是预先生成、并存储在投影光机或者是电子设备中的。

在最小线对基元预先生成在投影光机中的情况下，电子设备响应于对投影光机的投影质量检测请求，可以向投影光机发送投射与最小线对基元对应的线对图的控制指令。投影光机在接收到该控制指令的情况下，生成与最小线对基元对应的线对图。

在最小线对基元预先生成在电子设备中的情况下，电子设备响应于对投影光机的投影质量检测请求，可以生成与最小线对基元对应的线对图。

一个线对可以包括一条黑线和一条白线，那么，一个线对所对应的最小像素单元，可以包括位于一行的2*N个像素点，具体可以包括N个用于在至少一个颜色通道为黑色的像素点、和N个用于在至少一个颜色通道为白色的像素点，其中，N为正整数。

对于任意一个像素点在一个颜色通道为黑色，表示该像素点在对应通道的LED的亮度为最小值，该像素点在一个颜色通道为白色，表示该像素点在对应通道的LED的亮度为最大值。其中，LED的亮度的最大值可以是由LED本身的性能所决定的。在LED的亮度为最小值的情况下，对应LED可以是不发光。

至少一个颜色通道可以包括R通道、G通道、B通道中的至少一个。其中，R通道对应于红色LED，G通道对应于绿色LED，B通道对应于蓝色LED。

具体的，该方法还可以包括生成最小线对基元的步骤，该步骤可以是由电子设备或投影光机实施，包括如下所示的步骤S2500～S2600：

步骤S2500，获取目标参数。

其中，目标参数表示一个线对所对应的最小像素单元所包含的像素点的数量。具体的，目标参数可以为2*N。

该目标参数可以是预先根据应用场景或具体需求设定好的，也可以是预先根据投影光机的镜头的解析力所设定的。

本实施例中的目标参数，可以是至少一个。

步骤S2600，根据目标参数，生成最小线对基元。

在本实施例中，一个像素点的像素值可以是3字节的数据。

以B通道为例，在N＝1的情况下，所生成的最小线对基元可以表示为：

黑色	白色
		0XFF，0XFF，0X00	0XFF，0XFF，0XFF

在本实施例中，最小线对基元，可以包括1个用于在B通道为黑色的像素点、和1个用于在B通道为白色的像素点。

其中，一个像素点的像素值为0XFF，0XFF，0X00，可以表示该像素点在R通道为白色，在G通道为白色，在B通道为黑色。一个像素点的像素值为0XFF，0XFF，0XFF，表示该像素点在R通道、G通道和B通道均为白色。

在N＝2的情况下，所生成的最小线对基元可以表示为：

在本实施例中，最小线对基元，可以包括2个用于在B通道为黑色的像素点、和2个用于在B通道为白色的像素点。

在N＝4的情况下，所生成的最小线对基元可以表示为：

在本实施例中，最小线对基元，可以包括4个用于在B通道为黑色的像素点、和4个用于在B通道为白色的像素点。

在本公开的另一个实施例中，还可以是用3字节的数据表示两个像素点的像素值。

以B通道为例，在N＝1的情况下，所生成的最小线对基元可以表示为：

黑色	白色
		0XF，0XF，0X0	0XF，0XF，0XF

在本实施例中，最小线对基元，可以包括1个用于在B通道为黑色的像素点、和1个用于在B通道为白色的像素点。

其中，一个像素点的像素值为0XF，0XF，0X0，可以表示该像素点在R通道为白色，在G通道为白色，在B通道为黑色。一个像素点的像素值为0XF，0XF，0XF，表示该像素点在R通道、G通道和B通道均为白色。

在本公开的一个实施例中，根据预设的最小线对基元生成对应的线对图可以包括如下所示的步骤S2110～S2120：

步骤S2110，根据最小线对基元和投影光机的分辨率，生成线对图。

在本公开的一个实施例中，根据最小线对基元和投影光机的分辨率，生成线对图可以包括如下所示的步骤S2111～S2112：

步骤S2111，根据最小线对基元和投影光机的分辨率，生成任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值。

在本实施例中，生成的一行像素所包含的像素数量，与微米发光二极管投影装置中一行像素所包含的像素数量相同。例如，在投影光机的分辨率为640*480的情况下，微米发光二极管投影装置中一行像素所包含的像素数量为640，一列像素所包含的像素数量为480。

进一步地，生成任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值的方式，可以是对最小线对基元进行复制。

例如，在最小线对基元所对应的最小像素单元包括2*N个像素点，一行包括M个像素点的情况下，一行像素中可以包括M/(2*N)个最小线对基元。

步骤S2112，根据所述任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值，生成线对图的每一行像素在至少一个颜色通道的像素值，得到线对图。

在本实施例中，可以是对通过步骤S2111所得到的所述任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值进行复制，使得每一行位于同一列的像素在所述至少一个颜色通道的像素值相同。

以B通道为例，最小线对基元可以表示为：

00

FF

那么，通过本实施例的方法，所得到的线对图可以表示为：

00

FF

00

FF

…

…

00

FF

00

FF

00

FF

00

FF

…

…

00

FF

00

FF

00

FF

00

FF

…

…

00

FF

00

FF

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

…

00

FF

00

FF

…

…

00

FF

00

FF

00

FF

00

FF

…

…

00

FF

00

FF

00

FF

00

FF

…

…

00

FF

00

FF

通过本实施例方法所生成的线对图的分辨率，可以是与投影光机的分辨率相同。

步骤S2200，通过微米发光二极管投影装置投射该线对图。

在线对图是由投影光机生成的情况下，投影光机可以是在生成线对图的情况下，控制微米发光二极管投影装置中每个像素的LED按照线对图中对应像素的像素值进行发光，以将线对图投射至指定位置上。

在线对图是由电子设备生成的情况下，电子设备可以是在生成线对图的情况下，将线对图发送至投影光机中，使得投影光机控制微米发光二极管投影装置中每个像素的LED按照线对图中对应像素的像素值进行发光，以将线对图投射至指定位置上。

在一个例子中，指定位置可以是投影屏幕。具体的，线对图可以是完整的投射在投影屏幕上。

步骤S2300，采集包含投影光机所投射的线对图的投影图像。

在本实施例中，该电子设备可以是具有相机，并通过相机采集投影图像。

具体的，在相机所采集的投影图像中，可以是完全包含投影光机所投射的线对图。

步骤S2400，根据投影图像，对投影光机的投影质量进行检测，得到与最小线对基元对应的投影质量检测结果。

在本公开的一个实施例中，可以是通过调制传递函数对投影光机的投影质量进行检测。

本实施例中的步骤S2300和步骤S2400可以是由电子设备实施。

通过本实施例的方法，根据最小线对基元生成对应的线对图，再由投影光机投射该线对图，无需在电子设备或投影光机中存储完整大小的线对图，而是仅存储最小线对基元，可以减小存储占用空间。

而且，在需要投射线对图的情况下才会根据最小线对基元生成线对图，最小线对基元是数据化存储方式，无需对文件化的完整图片进行加密或解密处理。

具体的，根据投影图像，对投影光机的投影质量进行检测，得到与最小线对基元对应的投影质量检测结果可以包括如下所示的步骤S2410～S2420：

步骤S2410，获取投影图像中的待测区域。

本实施例中的待测区域位于投影图像中线对图所在区域内。

在本实施例中，待测区域可以是由测试人员根据应用场景或具体需求所指定的。

步骤S2420，计算待测区域的调制传递函数，作为与最小线对基元对应的投影质量检测结果。

在本公开的一个实施例中，计算待测区域的调制传递函数，作为与最小线对基元对应的投影质量检测结果可以包括如下所示的步骤S2421～S2422：

步骤S2421，根据预设的像素值阈值，确定待测区域中像素值小于像素值阈值的像素点的第一数量，以及待测区域中像素值大于像素值阈值的像素点的第二数量。

在本实施例中，像素值阈值可以是预先根据应用场景或具体需求设定好的。

步骤S2422，根据第一数量和第二数量，计算待测区域的调制传递函数，作为与最小线对基元对应的投影质量检测结果。

在一个例子中，可以是计算第一数量和第二数量的差值、以及第一数量和第二数量的和，再计算差值与和的比值，作为待测区域的调制传递函数，即与最小线对基元对应的投影质量检测结果。

在本公开的一个实施例中，最小线对基元可以是多个，那么，电子设备可以是控制投影光机通过微米发光二极管投影装置分别投射与每个最小线对基元对应的线对图，并采集包含每个线对图的投影图像；再根据每个投影图像，对投影光机的投影质量进行检测，得到与每个投影图像中的线对图对应的最小线对基元对应的投影质量检测结果。

进一步地，该方法还可以包括：

根据预设的目标结果、以及与多个最小线对基元对应的投影质量检测结果，确定投影光机的最优投影质量检测结果。

在本实施例中，目标结果可以是由预先根据应用场景或具体需求所设定的。例如，该目标结果可以是由客户所设定。

最优投影质量检测结果，可以是与多个最小线对基元对应的投影质量检测结果中，与目标结果最接近的一个。

在本实施例中，由于相机的分辨率的不同，以及投影距离的原因，检测时不确定哪个最小线对基元合适用于对投影光机的投影质量进行检测，因此，可以是采用轮询的方式，得到与每个最小线对基元对应的投影质量检测结果，并从中选取最优投影质量检测结果。

<装置实施例>

在本实施例中，提供一种投影光机的投影质量检测装置3000，其中，投影光机具有微米发光二极管投影装置。如图3所示，投影光机的投影质量检测装置3000可以包括线对图生成模块3100、线对图投射模块3200、图像采集模块3300和质量检测模块3400。线对图生成模块3100响应于对投影光机的投影质量检测请求，根据预设的最小线对基元生成对应的线对图；其中，最小线对基元表示一个线对所对应的最小像素单元在至少一个颜色通道的像素值；线对图为根据最小线对基元按照逻辑设定所组合得到的图片；线对图投射模块3200用于通过微米发光二极管投影装置投射与预设的最小线对基元对应的线对图；该图像采集模块3300用于采集包含投影光机所投射的线对图的投影图像；该质量检测模块3400用于根据投影图像，对投影光机的投影质量进行检测，得到与最小线对基元对应的投影质量检测结果。

在本公开的一个实施例中，该投影质量检测装置3000还可以包括：

用于获取目标参数的模块；其中，目标参数表示一个线对所对应的最小像素单元所包含的像素点的数量；

用于根据目标参数，生成最小线对基元的模块。

在本公开的一个实施例中，根据预设的最小线对基元生成对应的线对图包括：

获取投影光机的分辨率，

根据最小线对基元和投影光机的分辨率，生成线对图。

在本公开的一个实施例中，根据最小线对基元和投影光机的分辨率，生成线对图包括：

根据最小线对基元和投影光机的分辨率，生成任一行像素在至少一个颜色通道的像素值；

根据任一行像素在至少一个颜色通道的像素值，生成线对图的每一行像素在至少一个颜色通道的像素值，作为线对图。

在本公开的一个实施例中，最小线对基元为多个；

该投影质量检测装置3000还可以包括：

用于根据预设的目标结果、以及与多个最小线对基元对应的投影质量检测结果，确定投影光机的最优投影质量检测结果的模块。

在本公开的一个实施例中，质量检测模块3300还可以用于：

获取投影图像中的待测区域；

计算待测区域的调制传递函数，作为与最小线对基元对应的投影质量检测结果。

在本公开的一个实施例中，计算待测区域的调制传递函数，作为与最小线对基元对应的投影质量检测结果包括：

根据预设的像素值阈值，确定待测区域中像素值小于像素值阈值的像素点的第一数量，以及待测区域中像素值大于像素值阈值的像素点的第二数量；

根据第一数量和第二数量，计算待测区域的调制传递函数，作为与最小线对基元对应的投影质量检测结果。

本领域技术人员应当明白，可以通过各种方式来实现投影光机的投影质量检测装置3000。例如，可以通过指令配置处理器来实现投影光机的投影质量检测装置3000。例如，可以将指令存储在ROM中，并且当启动设备时，将指令从ROM读取到可编程器件中来实现投影光机的投影质量检测装置3000。例如，可以将投影光机的投影质量检测装置3000固化到专用器件(例如ASIC)中。可以将投影光机的投影质量检测装置3000分成相互独立的单元，或者可以将它们合并在一起实现。投影光机的投影质量检测装置3000可以通过上述各种实现方式中的一种来实现，或者可以通过上述各种实现方式中的两种或更多种方式的组合来实现。

在本实施例中，投影光机的投影质量检测装置3000可以具有多种实现形式，例如，投影光机的投影质量检测装置3000可以是任何的提供视频编码服务的软件产品或者应用程序中运行的功能模块，或者是这些软件产品或者应用程序的外设嵌入件、插件、补丁件等，还可以是这些软件产品或者应用程序本身。

<设备实施例>

在本实施例中，还提供一种投影光机的投影质量检测设备4000。

在一个例子中，如图4所示，该投影光机的投影质量检测设备4000可以包括：

存储器4100和处理器4200，该存储器4100用于存储可执行的指令；该指令用于控制处理器4200执行前述的投影光机的投影质量检测方法。

<可读存储介质>

在本实施例中，还提供一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序在被处理器执行时实现如本公开任意实施例的投影光机的投影质量检测方法。

本公开可以是系统、方法和/或计算机程序产品。计算机程序产品可以包括计算机可读存储介质，其上载有用于使处理器实现本公开的各个方面的计算机可读程序指令。

计算机可读存储介质可以是可以保持和存储由指令执行设备使用的指令的有形设备。计算机可读存储介质例如可以是――但不限于――电存储设备、磁存储设备、光存储设备、电磁存储设备、半导体存储设备或者上述的任意合适的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、静态随机存取存储器(SRAM)、便携式压缩盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能盘(DVD)、记忆棒、软盘、机械编码设备、例如其上存储有指令的打孔卡或凹槽内凸起结构、以及上述的任意合适的组合。这里所使用的计算机可读存储介质不被解释为瞬时信号本身，诸如无线电波或者其他自由传播的电磁波、通过波导或其他传输媒介传播的电磁波(例如，通过光纤电缆的光脉冲)、或者通过电线传输的电信号。

这里所描述的计算机可读程序指令可以从计算机可读存储介质下载到各个计算/处理设备，或者通过网络、例如因特网、局域网、广域网和/或无线网下载到外部计算机或外部存储设备。网络可以包括铜传输电缆、光纤传输、无线传输、路由器、防火墙、交换机、网关计算机和/或边缘服务器。每个计算/处理设备中的网络适配卡或者网络接口从网络接收计算机可读程序指令，并转发该计算机可读程序指令，以供存储在各个计算/处理设备中的计算机可读存储介质中。

用于执行本公开操作的计算机程序指令可以是汇编指令、指令集架构(ISA)指令、机器指令、机器相关指令、微代码、固件指令、状态设置数据、或者以一种或多种编程语言的任意组合编写的源代码或目标代码，所述编程语言包括面向对象的编程语言—诸如Smalltalk、C++等，以及常规的过程式编程语言—诸如“C”语言或类似的编程语言。计算机可读程序指令可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络—包括局域网(LAN)或广域网(WAN)—连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。在一些实施例中，通过利用计算机可读程序指令的状态信息来个性化定制电子电路，例如可编程逻辑电路、现场可编程门阵列(FPGA)或可编程逻辑阵列(PLA)，该电子电路可以执行计算机可读程序指令，从而实现本公开的各个方面。

这里参照根据本公开实施例的方法、装置(系统)和计算机程序产品的流程图和/或框图描述了本公开的各个方面。应当理解，流程图和/或框图的每个方框以及流程图和/或框图中各方框的组合，都可以由计算机可读程序指令实现。

这些计算机可读程序指令可以提供给通用计算机、专用计算机或其它可编程数据处理装置的处理器，从而生产出一种机器，使得这些指令在通过计算机或其它可编程数据处理装置的处理器执行时，产生了实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的装置。也可以把这些计算机可读程序指令存储在计算机可读存储介质中，这些指令使得计算机、可编程数据处理装置和/或其他设备以特定方式工作，从而，存储有指令的计算机可读介质则包括一个制造品，其包括实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作的各个方面的指令。

也可以把计算机可读程序指令加载到计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上，使得在计算机、其它可编程数据处理装置或其它设备上执行一系列操作步骤，以产生计算机实现的过程，从而使得在计算机、其它可编程数据处理装置、或其它设备上执行的指令实现流程图和/或框图中的一个或多个方框中规定的功能/动作。

附图中的流程图和框图显示了根据本公开的多个实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。在这点上，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段或指令的一部分，所述模块、程序段或指令的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个连续的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图和/或流程图中的每个方框、以及框图和/或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或动作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。对于本领域技术人员来说公知的是，通过硬件方式实现、通过软件方式实现以及通过软件和硬件结合的方式实现都是等价的。

以上已经描述了本公开的各实施例，上述说明是示例性的，并非穷尽性的，并且也不限于所披露的各实施例。在不偏离所说明的各实施例的范围和精神的情况下，对于本技术领域的普通技术人员来说许多修改和变更都是显而易见的。本文中所用术语的选择，旨在最好地解释各实施例的原理、实际应用或对市场中的技术改进，或者使本技术领域的其它普通技术人员能理解本文披露的各实施例。本公开的范围由所附权利要求来限定。

Claims (8)

1.一种投影光机的投影质量检测方法，其特征在于，所述投影光机具有微米发光二极管投影装置；所述方法包括：

响应于对所述投影光机的投影质量检测请求，根据预设的最小线对基元生成对应的线对图；其中，所述最小线对基元表示一个线对所对应的最小像素单元在至少一个颜色通道的像素值；所述线对图为根据所述最小线对基元按照逻辑设定所组合得到的图片；

通过所述微米发光二极管投影装置投射与预设的最小线对基元对应的线对图；

采集包含所述投影光机所投射的所述线对图的投影图像；

根据所述投影图像，对所述投影光机的投影质量进行检测，得到与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果；

所述根据预设的最小线对基元生成对应的线对图包括：

获取所述投影光机的分辨率；

根据所述最小线对基元和所述投影光机的分辨率，生成任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值；

根据所述任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值，生成所述线对图的每一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值，作为所述线对图。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，生成所述最小线对基元的方法包括：

获取目标参数；其中，所述目标参数表示一个线对所对应的最小像素单元所包含的像素点的数量；

根据所述目标参数，生成所述最小线对基元。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最小线对基元为多个；

所述方法还包括：

根据预设的目标结果、以及与多个所述最小线对基元对应的投影质量检测结果，确定所述投影光机的最优投影质量检测结果。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述投影图像，对所述投影光机的投影质量进行检测，得到与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果包括：

获取所述投影图像中的待测区域；

计算所述待测区域的调制传递函数，作为与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果。

5.根据权利要求4所述的方法，所述计算所述待测区域的调制传递函数，作为与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果包括：

根据预设的像素值阈值，确定所述待测区域中像素值小于所述像素值阈值的像素点的第一数量，以及所述待测区域中像素值大于所述像素值阈值的像素点的第二数量；

根据所述第一数量和所述第二数量，计算所述待测区域的调制传递函数，作为与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果。

6.一种投影光机的投影质量检测装置，其特征在于，所述投影光机具有微米发光二极管投影装置；所述装置包括：

线对图生成模块，响应于对所述投影光机的投影质量检测请求，根据预设的最小线对基元生成对应的线对图；其中，所述最小线对基元表示一个线对所对应的最小像素单元在至少一个颜色通道的像素值；所述线对图为根据所述最小线对基元按照逻辑设定所组合得到的图片；

线对图投射模块，用于通过所述微米发光二极管投影装置投射与预设的最小线对基元对应的线对图；

图像采集模块，用于采集包含所述投影光机所投射的所述线对图的投影图像；

质量检测模块，用于根据所述投影图像，对所述投影光机的投影质量进行检测，得到与所述最小线对基元对应的投影质量检测结果；

所述根据预设的最小线对基元生成对应的线对图包括：

获取所述投影光机的分辨率；

根据所述最小线对基元和所述投影光机的分辨率，生成任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值；

根据所述任一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值，生成所述线对图的每一行像素在所述至少一个颜色通道的像素值，作为所述线对图。

7.一种投影光机的投影质量检测设备，其特征在于，包括处理器和存储器，所述存储器用于存储指令，所述指令用于控制所述处理器执行根据权利要求1-5中任一项所述的方法。

8.一种可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序在被处理器执行时实现如权利要求1至5中任一项所述的方法。