CN113701639B - 一种激光器光平面的获取方法及应用 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种激光器光平面的获取方法及应用，该方法在激光器的前方设置平面靶标，其前后移动得到激光器在不同工作距下的激光条；平面靶标包括两部分，一部分设置标记点，另一部分没有；固定相机位置，令相机能采集到各工作距靶标上的激光条；从未设置标记点部分的靶标处获取的图像中，以激光条图像灰度分布的对称程度确定激光器的工作距范围d1~d2；对介于d1~d2工作距内的激光平面，通过光条中心线上多个特征点的三维坐标拟合光平面来获取，对于≤d1或≥d2的工作距，分别获取激光条的两侧边缘线，以边缘线上特征点的三维坐标拟合出两个光平面来获取。其变单平面为双平面，能解决由于均匀性较差而导致的光条提取精度损失问题。

Description

一种激光器光平面的获取方法及应用
技术领域
本发明涉及结构光测量领域，具体涉及一种激光器光平面的获取方法及应用。
背景技术
激光器主要由激光光源与透镜组成，激光器发出的光束不是均匀平行的一条线，沿着激光发射方向具有两边线宽粗中间线宽细的特征，其中中间最细的位置为束腰；激光器的工作距指激光器到其束腰位置的距离，束腰处光束质量最好，即束腰位置处光条灰度均匀性最好。在实际应用中，激光器普遍会在最佳工作距前后范围选择一定距离作为实际工作区间。随着远离束腰位置，激光条宽度会逐渐变粗并且激光条灰度的均匀性逐渐变差。
结构光视觉测量过程中，激光投射至物体表面后被相机采集，如何精确提取图片中激光条位置将直接影响传感器测量精度。传统模型中普遍通过提取激光条中心位置作为激光平面方程，一个激光条对应一个光平面方程。对于均匀度较好的激光条，传统方法均可以提取出较高精度的中心光平面方程，但对于均匀度较差激光条，以上方法无法准确提取光条中心。
基于以上原因，实际检测过程中出现以下两种情况时，检测精度会被影响：1)激光器距待测物的距离不统一，部分位置的距离与束腰距激光器的距离相差较大，导致激光均匀度变差；2)低质量激光器，因激光束沿传播方向截面的能量非对称分布，导致光平面拟合结果不准。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供一种激光器光平面的获取方法及应用，其基于待测物与激光器的距离，获取不同的光平面，在激光条灰度均匀度较差时以光条边缘线为基准获取光平面，将单线激光视为双线激光处理，解决由于均匀性较差而导致的光条提取精度损失问题。
为此，本发明的技术方案如下：
一种激光器光平面的获取方法，激光器的前方设置平面靶标，激光器照射平面靶标产生激光条，靶标能前后移动以得到激光器在不同工作距下的激光条；所述平面靶标包括两部分，一部分未设置标记点，另一部分设有标记点；
固定相机位置，令相机能采集到不同工作距时靶标上的激光条；
从未设置标记点部分的靶标处获取的图像中，以整根激光条图像灰度分布的对称程度确定激光器的工作距范围d1～d2；
所述激光器光平面的获取方法为：
激光器向靶标投射激光条，所述相机采集激光条图像；
基于d1～d2将激光器的工作距分为三段，第一段≤d1，第二段介于d1～d2之间，第三段≥d2；
对于第二段，获取不同工作距下激光条图像的光条中心线，基于光条中心线上的多个特征点的三维坐标拟合光平面，记为第二段工作距内的激光器光平面；
对于第一段，获取不同工作距下激光条图像的两侧边缘线，分别以两侧边缘线上特征点的三维坐标拟合出两个光平面，记为第一段工作距内的激光器光平面；
对于第三段，获取工作距内的激光器光平面的方法同第一段。
进一步，所述确定激光器的工作距范围d1～d2的方法为：
以预设步长依次调整靶标与激光器之间距离，采集不同距离时激光器在靶标上形成的激光条图像；
沿着激光条长度方向在激光条任一边缘上选择多个检测点，各检测点先取其所在位置处激光条边缘的切线，再取切线的垂线，垂线在激光条宽度方向上贯穿激光条；取所述垂线经过激光条上各像点的灰度值；通过统计分析方法计算图像灰度的偏度值以表征激光条灰度分布的对称程度，记整根激光条上全部检测点所对应偏度值的绝对值中最大、最小、中值或平均值为评估参数；
选取评估参数不在预设范围内时所对应的靶标与激光器之间距离的临界值为所述激光器工作距范围的临界点d1、d2。
进一步，激光器光平面的计算方法为：对于靶标的每个位姿，通过PNP方法计算相机坐标系与靶标坐标系的旋转平移关系；再将光条中心线或者边缘线上特征点在靶标坐标系下的坐标转换到相机坐标系；最后将多个位姿下光条中心线或边缘线上特征点在相机坐标系下的坐标进行平面拟合，得到激光器光平面。
进一步，所述平面靶标的两部分为左右或上下分布，或者设有标记点的部分围绕在未设置标记点部分的外侧。
进一步，在第一段、第二段、第三段内，移动靶标获取不同工作距下激光条图像的次数为2～20次。
进一步，所述预设步长为5～30cm。
在实际使用过程中，预先利用本发明提供的方法获取不同待测物距激光器范围内的五个光平面，且确定使用激光器的d1、d2，通过以下方法提供光平面用于计算：
首先，假定激光器距待测物的距离位于第二段，利用第二段工作距内的激光器光平面计算待测物与激光器的实际距离；
其次，判断实际距离位于第几段，对应提供各段对应的激光器光平面。
该方法充分考虑了不同待测物与激光器距离处激光条的特点，获取不同的光平面，在激光条灰度均匀度较差时以光条边缘线为基准获取光平面，将单线激光视为双线激光处理，解决由于均匀性较差而导致的光条提取精度损失的问题。同时，该方法给出了激光器工作距临界点d1、d2的获取方法，一方面能解决低质量激光器的使用精度问题，另一方面还能解决实际使用过程中激光器距待测物距离不统一却使用相同光平面所产生精度问题。
附图说明
图1是本发明提供的激光器光平面的获取方法的结构示意图；
图2是不同工作距处激光条在靶标上宽度的示意图；
图3是能用于本发明的第一种平面靶标的结构示意图；
图4是能用于本发明的第二种平面靶标的结构示意图；
图5是能用于本发明的第三种平面靶标的结构示意图；
图6是能用于本发明的第四种平面靶标的结构示意图；
图7是能用于本发明的第五种平面靶标的结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施方式对本发明的技术方案进行详细描述：
一种激光器光平面的获取方法，激光器的前方设置平面靶标1，激光器2照射平面靶标产生激光条，平面靶标1能前后移动以得到激光器2在不同工作距下的激光条；平面靶标1包括两部分，一部分未设置标记点，另一部分设有标记点；如图3～7所示，平面靶标的两部分为左右或上下分布，或者设有标记点的部分围绕在未设置标记点部分的外侧；标记点可以是棋盘格交点、也可以是圆或圆环；
固定相机3位置，令相机能采集到不同工作距时靶标1上的激光条；
从未设置标记点部分的靶标1处获取的图像中，以整根激光条图像灰度分布的对称程度确定激光器2的工作距范围d1～d2；(该使用的图像所对应的平面靶标上灰度均匀)
激光器2光平面的获取方法为：
激光器2向靶标1投射激光条，相机采集激光条图像；
基于d1～d2将激光器的工作距分为三段，第一段≤d1，第二段介于d1～d2之间，第三段≥d2；
对于第二段，获取不同工作距下激光条图像的光条中心线，基于光条中心线l3上的多个特征点的三维坐标拟合光平面，记为第二段工作距内的激光器光平面；
对于第一段，获取不同工作距下激光条图像的两侧边缘线(l1、l2)，分别以两侧边缘线上特征点的三维坐标拟合出两个光平面，记为第一段工作距内的激光器光平面；
对于第三段，获取工作距内的激光器光平面的方法同第一段；其在不同工作距下激光条图像的两侧边缘线为l4、l5。
实施时，可依据实际场景设置靶标在第一段、第二段或第三段内的移动次数，这里给出参考值为2～20次。
确定激光器工作距时选用的激光条为平面靶标上不存在特征点的部分，也就是表面灰度均匀的部分，具体来说，确定激光器的工作距范围d1～d2的方法为：
以预设步长依次调整靶标与激光器之间距离，采集不同距离时激光器在靶标上形成的激光条图像；步长的设置可依据具体使用环境确定，这里给出参考值为5～30cm。
沿着激光条长度方向在激光条任一边缘上选择多个检测点，各检测点先取其所在位置处激光条边缘的切线，再取切线的垂线，垂线在激光条宽度方向上贯穿激光条；取垂线经过激光条上各像点的灰度值；通过统计分析方法计算图像灰度的偏度值以表征激光条灰度分布的对称程度，记整根激光条上全部检测点所对应偏度值的绝对值中最大、最小、中值或平均值为评估参数；
选取评估参数不在预设范围内时所对应的靶标与激光器之间距离的临界值为激光器工作距范围的临界点d1、d2。
使用时，本领域技术人员可基于现有技术灵活选用不同段中基于光条中心上点或边缘点获取激光器光平面的方法，也可以灵活选用光条中心线、边缘线的提取方法。这里仅给出示意，而非限定为只能使用如下方法：激光器光平面的计算方法为：对于靶标的每个位姿，通过PNP方法计算相机坐标系与靶标坐标系的旋转平移关系；再将光条中心线或者边缘线上特征点在靶标坐标系下的坐标转换到相机坐标系；最后将多个位姿下光条中心线或边缘线上特征点在相机坐标系下的坐标进行平面拟合，得到激光器光平面。
在实际使用过程中，预先利用本发明提供的方法获取不同待测物距激光器范围内的五个光平面，且确定使用激光器的d1、d2，通过以下方法提供光平面用于计算：
首先，假定激光器距待测物的距离位于第二段，利用第二段工作距内的激光器光平面计算待测物与激光器的实际距离；
其次，判断实际距离位于第几段，对应提供各段对应的激光器光平面。
该方法充分考虑了不同待测物与激光器距离处激光条的特点，获取不同的光平面，在激光条灰度均匀度较差时以光条边缘线为基准获取光平面，将单线激光视为双线激光处理，解决由于均匀性较差而导致的光条提取精度损失的问题。同时，该方法给出了激光器工作距临界点d1、d2的获取方法，一方面能解决低质量激光器的使用精度问题，另一方面还能解决实际使用过程中激光器距待测物距离不统一却使用相同光平面所产生精度问题。
前面对本发明具体示例性实施方案所呈现的描述是出于说明和描述的目的。前面的描述并不想要成为毫无遗漏的，也不是想要把本发明限制为所公开的精确形式，显然，根据上述教导很多改变和变化都是可能的。选择示例性实施方案并进行描述是为了解释本发明的特定原理及其实际应用，从而使得本领域的其它技术人员能够实现并利用本发明的各种示例性实施方案及其不同选择形式和修改形式。本发明的范围旨在由所附权利要求书及其等价形式所限定。

Claims (7)

1.一种激光器光平面的获取方法，其特征在于：
激光器的前方设置平面靶标，激光器照射平面靶标产生激光条，靶标能前后移动以得到激光器在不同工作距下的激光条；所述平面靶标包括两部分，一部分未设置标记点，另一部分设有标记点；
固定相机位置，令相机能采集到不同工作距时靶标上的激光条；
从未设置标记点部分的靶标处获取的图像中，以整根激光条图像灰度分布的对称程度确定激光器的工作距范围d1～d2；
所述激光器光平面的获取方法为：
激光器向靶标投射激光条，所述相机采集激光条图像；
基于d1～d2将激光器的工作距分为三段，第一段≤d1，第二段介于d1～d2之间，第三段≥d2；
对于第二段，获取不同工作距下激光条图像的光条中心线，基于光条中心线上的多个特征点的三维坐标拟合光平面，记为第二段工作距内的激光器光平面；
对于第一段，获取不同工作距下激光条图像的两侧边缘线，分别以两侧边缘线上特征点的三维坐标拟合出两个光平面，记为第一段工作距内的激光器光平面；
对于第三段，获取工作距内的激光器光平面的方法同第一段。
2.如权利要求1所述激光器光平面的获取方法，其特征在于：
所述确定激光器的工作距范围d1～d2的方法为：
以预设步长依次调整靶标与激光器之间距离，采集不同距离时激光器在靶标上形成的激光条图像；
沿着激光条长度方向在激光条任一边缘上选择多个检测点，各检测点先取其所在位置处激光条边缘的切线，再取切线的垂线，垂线在激光条宽度方向上贯穿激光条；取所述垂线经过激光条上各像点的灰度值；通过统计分析方法计算图像灰度的偏度值以表征激光条灰度分布的对称程度，记整根激光条上全部检测点所对应偏度值的绝对值中最大、最小、中值或平均值为评估参数；
选取评估参数不在预设范围内时所对应的靶标与激光器之间距离的临界值为所述激光器工作距范围的临界点d1、d2。
3.如权利要求1所述激光器光平面的获取方法，其特征在于：激光器光平面的计算方法为：对于靶标的每个位姿，通过PNP方法计算相机坐标系与靶标坐标系的旋转平移关系；再将光条中心线或者边缘线上特征点在靶标坐标系下的坐标转换到相机坐标系；最后将多个位姿下光条中心线或边缘线上特征点在相机坐标系下的坐标进行平面拟合，得到激光器光平面。
4.如权利要求1所述激光器光平面的获取方法，其特征在于：所述平面靶标的两部分为左右或上下分布，或者设有标记点的部分围绕在未设置标记点部分的外侧。
5.如权利要求1所述激光器光平面的获取方法，其特征在于：在第一段、第二段、第三段内，移动靶标获取不同工作距下激光条图像的次数为2～20次。
6.如权利要求2所述激光器光平面的获取方法，其特征在于：所述预设步长为5～30cm。
7.利用如权利要求1所述获取方法提供激光器光平面的方法，其特征在于：
首先，假定激光器距待测物的距离位于第二段，利用第二段工作距内的激光器光平面计算待测物与激光器的实际距离；
其次，判断实际距离位于第几段，对应提供各段对应的激光器光平面。
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102927908A (zh) * 2012-11-06 2013-02-13 中国科学院自动化研究所 机器人手眼系统结构光平面参数标定装置及方法
CN103884271A (zh) * 2012-12-20 2014-06-25 中国科学院沈阳自动化研究所 一种线结构光视觉传感器直接标定方法
CN111289226A (zh) * 2020-04-02 2020-06-16 易思维（杭州）科技有限公司 基于视觉测量技术的线激光器平面度检测方法
CN111784725A (zh) * 2020-06-29 2020-10-16 易思维（杭州）科技有限公司 光条中心提取方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106017355A (zh) * 2016-03-22 2016-10-12 武汉武大卓越科技有限责任公司 一种基于线结构光的三维测量传感器
CN108709499A (zh) * 2018-04-28 2018-10-26 天津大学 一种结构光视觉传感器及其快速标定方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102927908A (zh) * 2012-11-06 2013-02-13 中国科学院自动化研究所 机器人手眼系统结构光平面参数标定装置及方法
CN103884271A (zh) * 2012-12-20 2014-06-25 中国科学院沈阳自动化研究所 一种线结构光视觉传感器直接标定方法
CN111289226A (zh) * 2020-04-02 2020-06-16 易思维（杭州）科技有限公司 基于视觉测量技术的线激光器平面度检测方法
CN111784725A (zh) * 2020-06-29 2020-10-16 易思维（杭州）科技有限公司 光条中心提取方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
多场景下结构光三维测量激光中心线提取方法;宋晓凤等;《红外与激光工程》;20200131;第49卷(第1期);全文 *
机器视觉中激光光带两步提取算法研究;雷鸣;《计算机与数字工程》;20151231(第4期);全文 *

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