CN113654683B - 一种分布式光纤测温系统校准方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种分布式光纤测温系统校准方法及装置，其中方法包括：通过温度检测器分别获取恒温水槽的第一温度检测值和分布式光纤测温系统的环境温度检测值；依据第一温度检测值和环境温度检测值，得到分布式光纤测温系统检测温度的修正系数；获取分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值；依据修正系数，对分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值进行修正计算，得到分布式光纤测温系统的校准温度检测值。通过将测温光纤尾端预设长度的光纤置于恒温水槽中，获取恒温水槽的检测温度值和分布式光纤测温系统的环境温度值，得到分布式光纤测温系统检测温度的修正系数，对其检测温度进行校准，具有简便快捷、校准时间短等优点，提高了系统检测精度。
Description
技术领域
本发明涉及光纤测温技术领域，特别涉及一种分布式光纤测温系统校准方法及装置。
背景技术
基于拉曼散射的分布式光纤测温技术是一种可以实现光纤沿线温度连续探测的传感技术，根据拉曼散射的强度仅与温度有关的特性，结合光时域反射技术对光纤的温度进行长距离和高精度的测量。由于分布式光纤测温系统中光纤本身就是传感器，因此具有抗电磁干扰、结构紧凑、易于敷设和经济性、易弯曲、易于实现远距离测量等优点，在电力电缆、管廊/电力遂道、电缆沟、开关柜、电抗器的温度监测、变压器局部过热点定位等诸多场合得到广泛应用。
分布式光纤测温系统温度解调精度的主要受光信号的采样值的强度的影响。光信号采样值主要受波分复用器的隔离度、光纤损耗、APD的响应特性、暗电流以及装置环境温度等因素的影响。不同型号、厂家、批次的器件在干扰抑制指标和滤波性能上可能存在差异，而且光学元器件在不同环境温度下响应强度不同。在光纤测温系统中由于后散射光较弱，需要经过雪崩光电探测器(APD)进行放大，与此同时噪声、暗电流等信号也会被APD放大，导致采集卡采集的信号强度与实际有差异，导致温度解调不准确。
在分布式光纤测温系统中，温度解调值的准确度与采集卡采样值密切相关，影响采集卡采样值的因素有：波分复用器(WDM)的隔离度、光纤损耗、暗电流、雪崩光电探测器(APD)的响应强度以及装置环境的温度等因素。在采样数据处理方面，为了消除噪声的影响先通过累加平均和滤波等方法对采样值的进行处理。在温度校准方面常用的方法有两种：1)为了简化计算通常用泰勒展开等近似方法实现温度解调，并对温度进行分段标定及校准；2)目前对分布式光纤测温系统进行校准常用的做法是通过解调温度值和实际值之间关系进行多项式拟合得到相应的修正参数，拟合的参数只能在一定温度范围内满足要求，为了提高装置的精度，进行高次拟合时需要引进更多的参数，导致分布式光纤测温的校准方式繁琐，且需要专业的人士来进行校准，而且外部环境发生变化时需要重新进行拟合。
发明内容
本发明实施例的目的是提供一种分布式光纤测温系统校准方法及装置，通过将测温光纤尾端预设长度的光纤置于恒温水槽中，获取恒温水槽的检测温度值和分布式光纤测温系统的环境温度值，得到分布式光纤测温系统检测温度的修正系数，对其检测温度进行校准，具有校准过程简便快捷、校准时间短等优点，提高了分布式光纤测温系统的检测精度。
为解决上述技术问题，本发明实施例的第一方面提供了一种分布式光纤测温系统校准方法，分布式光纤测温系统包括：测温光纤、恒温水槽和温度检测器，所述测温光纤尾端预设长度的光纤置于所述恒温水槽中，包括如下步骤：
通过温度检测器分别获取所述恒温水槽的第一温度检测值和所述分布式光纤测温系统的环境温度检测值；
依据所述第一温度检测值和所述环境温度检测值，得到所述分布式光纤测温系统检测温度的修正系数；
获取所述分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值；
依据所述修正系数，对所述分布式光纤测温系统解调的所述原始温度检测值进行修正计算，得到所述分布式光纤测温系统的校准温度检测值。
进一步地，所述获取所述恒温水槽的第一温度检测值之前，包括：
将所述测温光纤尾端预设长度的光纤置于所述恒温水槽中，获取所述恒温水槽的温度检测数值；
当所述恒温水槽的温度检测数值在预设时间内的温度变化值小于第一预设数值时，得到所述第一温度检测值。
进一步地，所述依据所述第一温度检测值和所述环境温度检测值进而得到所述分布式光纤测温系统检测温度的修正系数，包括：
获取光脉冲产生的Stokes拉曼散射光的第一光通量光电转换值和Anti-Stokes拉曼散射光的第二光通量光电转换值，进而得到所述环境温度检测值下的Anti-Stokes拉曼散射光与Stokes拉曼散射光的强度比函数；
依据所述强度比函数，结合所述第一温度检测值和所述环境温度检测值，计算所述修正系数。
进一步地，所述修正系数kb的计算公式为：
其中，Tb为通过所述温度检测器获取的所述恒温水槽的第一温度检测值，T0为通过所述温度检测器获取的所述分布式光纤测温系统的环境温度检测值，T为所述分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值。
进一步地，所述温度检测器包括：高精度温度检测仪和/或温度变送器。
相应地，本发明实施例的第二方面提供了一种分布式光纤测温系统校准装置，分布式光纤测温系统包括：测温光纤、恒温水槽和温度检测器，所述测温光纤尾端预设长度的光纤置于所述恒温水槽中，包括：
第一获取模块，其用于通过温度检测器分别获取所述恒温水槽的第一温度检测值和所述分布式光纤测温系统的环境温度检测值；
计算模块，其用于依据所述第一温度检测值和所述环境温度检测值，得到所述分布式光纤测温系统检测温度的修正系数；
第二获取模块，其用于获取所述分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值；
校准模块，其用于依据所述修正系数，对所述分布式光纤测温系统解调的所述原始温度检测值进行修正计算，得到所述分布式光纤测温系统的校准温度检测值。
进一步地，所述分布式光纤测温系统校准装置还包括：温度检测控制模块；
所述温度检测控制模块包括：
温度检测单元，将所述测温光纤尾端预设长度的光纤置于所述恒温水槽中，获取所述恒温水槽的温度检测数值；
控制单元，当所述恒温水槽的温度检测数值在预设时间内的温度变化值小于第一预设数值时，得到所述第一温度检测值。
进一步地，所述计算模块包括：
第一获取单元，其用于获取光脉冲产生的Stokes拉曼散射光的第一光通量光电转换值和Anti-Stokes拉曼散射光的第二光通量光电转换值，进而得到所述环境温度检测值下的Anti-Stokes拉曼散射光与Stokes拉曼散射光的强度比函数；
计算单元，其用于依据所述强度比函数，结合所述第一温度检测值和所述环境温度检测值，计算所述修正系数。
进一步地，所述修正系数kb的计算公式为：
其中，Tb为通过所述温度检测器获取的所述恒温水槽的第一温度检测值，T0为通过所述温度检测器获取的所述分布式光纤测温系统的环境温度检测值，T为所述分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值。
进一步地，所述温度检测器包括：高精度温度检测仪和/或温度变送器。
相应地，本发明实施例的第三方面还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行上述分布式光纤测温系统校准方法。
此外，本发明实施例的第四方面还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述分布式光纤测温系统校准方法。
本发明实施例的上述技术方案具有如下有益的技术效果：
通过将测温光纤尾端预设长度的光纤置于恒温水槽中，获取恒温水槽的检测温度值和分布式光纤测温系统的环境温度值，得到分布式光纤测温系统检测温度的修正系数，对其检测温度进行校准，具有校准过程简便快捷、校准时间短等优点，提高了分布式光纤测温系统的检测精度。
附图说明
图1是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准方法流程图；
图2是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准方法逻辑图；
图3是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准方法实现方式原理图一；
图4是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准方法实现方式原理图二；
图5是本发明实施例提供的校准结果对比图；
图6是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准装置模块框图；
图7是本发明实施例提供的计算模块框图；
图8是本发明实施例提供的温度检测控制模块框图。
附图标记：
1、第一获取模块，2、计算模块，21、第一获取单元，22、计算单元，3、第二获取模块，4、校准模块，5、温度检测控制模块，51、温度检测单元，52、控制单元。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面结合具体实施方式并参照附图，对本发明进一步详细说明。应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本发明的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本发明的概念。
图1是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准方法流程图。
图2是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准方法逻辑图。
请参照图1和图2，本发明实施例的第一方面提供了一种分布式光纤测温系统校准方法，分布式光纤测温系统包括：测温光纤、恒温水槽和温度检测器，测温光纤尾端预设长度的光纤置于恒温水槽中，包括如下步骤：
S100，通过温度检测器分别获取恒温水槽的第一温度检测值和分布式光纤测温系统的环境温度检测值。
S200，依据第一温度检测值和环境温度检测值，得到分布式光纤测温系统检测温度的修正系数。
S300，获取分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值。
S400，依据修正系数，对分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值进行修正计算，得到分布式光纤测温系统的校准温度检测值。
在分布式光纤测温系统中采集卡的采样值受系统内部多个因素影响，引起解调温度值与实际值有差异。从温度解调方案的理论出发，对影响采样值大小的因素进行分析，通过装置的环境温度、初次解调温度和目标温度计算修正系数，对温度解调方案进行修正，实现解调温度的校准。
当激光脉冲在光纤中传播时，激光光子与光纤分子的非线性相互作用，入射光子被分子散射成一个低频Stokes拉曼散射光子或高频Anti-Stokes拉曼散射光子，每个光脉冲产生Stokes散射光的光通量为φs和Anti-Stokes散射光的光通量φas。影响Stoke光通量φs和Anti-Stokes光通量φas的因素有散射截面、两束光的中心频率、损耗系数以及两束光在不同能级下的分布系数等。采集卡的采样值与光通量成正比。由于各个元器件加工工艺、批次和价格等因素导致装置采集到的信号值不能达到理论值，使得两种散射光的强度值会发生变化，所以需要对分布式光纤测温系统进行校准。校准时需要对装置进行多温度点的标定，且在高温和低温下用的液体不同，另外，校准还需要专业人士进行操作，操作流程比较繁琐。本发明通过拉曼散射温度解调公式，对采集卡采集的光强度信号进行修正，通过数学换算增加一个修正系数，简化标定的步骤。
进一步地，步骤S100中获取恒温水槽的第一温度检测值之前，包括：
S101，将测温光纤尾端预设长度的光纤置于恒温水槽中，获取恒温水槽的温度检测数值；
S102，当恒温水槽的温度检测数值在预设时间内的温度变化值小于第一预设数值时，得到第一温度检测值。
进一步地，步骤S200中，依据第一温度检测值和环境温度检测值进而得到分布式光纤测温系统检测温度的修正系数，包括：
S210，获取光脉冲产生的Stokes拉曼散射光的第一光通量光电转换值和Anti-Stokes拉曼散射光的第二光通量光电转换值，进而得到环境温度检测值下的Anti-Stokes拉曼散射光与Stokes拉曼散射光的强度比函数。
S220，依据强度比函数，结合第一温度检测值和环境温度检测值，计算修正系数。
进一步地，修正系数kb的计算公式为：
其中，Tb为通过温度检测器获取的恒温水槽的第一温度检测值，T0为通过温度检测器获取的分布式光纤测温系统的环境温度检测值，T为分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值。
进一步地，温度检测器包括：高精度温度检测仪和/或温度变送器。
本发明为解决在分布式光纤测温系统中不同的型号、厂家和工艺等元器件性能差异，引起温度解调误差较大导致装置温度校准方法繁琐的技术问题，其具体方案是：一种分布式拉曼光纤测温系统同步采集同一传感光纤的Stokes光和Anti-Stokes光信号；用Stokes光作为参考光，利用Anti-Stokes与Stokes光强度的比值解调出温度信息；利用光时域反射原理获取相应采样点的位置信息；最后通过温度变送器获取装置的环境温度和水浴槽内的目标温度计算出修正系数，再对温度值进行重新计算实现温度校准，该方法包括以下步骤：
1)光信号采集：在分布式光纤测温系统中，通过采集卡获取光脉冲产生的Stokes散射光的光通量为φs和Anti-Stokes散射光的光通量φas。Anti-Stokes光与Stokes散射光的强度比I(T)：
求出定标光纤在T0温度下Anti-Stokes拉曼散射光与Stokes拉曼散射光的强度比I(T0)：
2)温度计算：由公式(1)和(2)相除获取两者强度比，得到含有光纤各段温度信息的函数：
由上式得：
其中，h是普朗克(Planck)常数，h＝6.626×10-34J.s，Δν是光纤分子的声子频率为13.2THz，k是波尔兹曼常数，k＝1.38×10-23J/K,T是开尔文温度，φa(T)和φs(T)为光通量经过光电转换后的电压值。
在实际测量中，可以通过采集卡得到φa(T)、φs(T)以及定标曲线φa(T0)、φs(T0)值以及定标光纤处的温度T0，就能由(4)式求温度T。
3)标定过程：通过PT100(A/B)和温度变送器采集目标温度值Tb和环境温度值T0，在温度解调公式中添加修正系数kb。此时温度解调公式：
公式5与公式4联立得
最后，将求得的kb带入公式5，对温度进行计算。
图3是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准方法实现方式原理图一。
图4是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准方法实现方式原理图二。
请参照图3或图4，在本发明实施例的具体实施方式中，上述分布式光纤测温系统在测试过程包括如下步骤：
1)由于测温光纤的尾端的采样值受到系统影响的因素较大和装置空间分辨率为1m，所以将测温光纤的尾端大于3m长的光纤放置于恒温水槽中，其中恒温水槽的温度设定为目标温度，并稳定5min。
2)将传感器探头分别放置在恒温水槽和环境中，通过高精度温度监测仪获取两者的温度值Tb和T0。
3)在持续的时间段内，温度的变化值小于±0.1℃时，判断恒温水槽温度和环境温度值稳定。
4)将温度变送器获得的环境温度T0和目标温度值Tb通过RS232/485传输到分布式光纤测温主机，在修正前光纤测温系统解调的温度为T，将三个温度值带入公式6，求出修正系数kb。
5)将修正系数kb带入公式5，对光纤测温的温度解调值进行重新计算，就可以实现光纤测温系统的校准。
图5是本发明实施例提供的校准结果对比图。
请参照图5，通过matlab软件来验证温度解调方法校准前和校准后的温度值，由图4可知，通过对分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值进行修正，得到的校准温度检测值与标定温度的结果基本一致，上述校准方法的精度较高，满足了分布式光纤测温系统日常的使用需求。
图6是本发明实施例提供的分布式光纤测温系统校准装置模块框图。
请参照图6，相应地，本发明实施例的第二方面提供了一种分布式光纤测温系统校准装置，分布式光纤测温系统包括：测温光纤、恒温水槽和温度检测器，测温光纤尾端预设长度的光纤置于恒温水槽中，包括：
第一获取模块1，其用于通过温度检测器分别获取恒温水槽的第一温度检测值和分布式光纤测温系统的环境温度检测值；
计算模块2，其用于依据第一温度检测值和环境温度检测值，得到分布式光纤测温系统检测温度的修正系数；
第二获取模块3，其用于获取分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值；
校准模块4，其用于依据修正系数，对分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值进行修正计算，得到分布式光纤测温系统的校准温度检测值。
图7是本发明实施例提供的计算模块框图。
进一步地，请参照图7，计算模块2包括：
第一获取单元21，其用于获取光脉冲产生的Stokes拉曼散射光的第一光通量光电转换值和Anti-Stokes拉曼散射光的第二光通量光电转换值，进而得到环境温度检测值下的Anti-Stokes拉曼散射光与Stokes拉曼散射光的强度比函数；
计算单元22，其用于依据强度比函数，结合第一温度检测值和环境温度检测值，计算修正系数。
图8是本发明实施例提供的温度检测控制模块框图。
进一步地，请参照图8，分布式光纤测温系统校准装置还包括：温度检测控制模块5。温度检测控制模块5包括：
温度检测单元51，将测温光纤尾端预设长度的光纤置于恒温水槽中，获取恒温水槽的温度检测数值；
控制单元52，当恒温水槽的温度检测数值在预设时间内的温度变化值小于第一预设数值时，得到第一温度检测值。
进一步地，修正系数kb的计算公式为：
其中，Tb为通过温度检测器获取的恒温水槽的第一温度检测值，T0为通过温度检测器获取的分布式光纤测温系统的环境温度检测值，T为分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值。
进一步地，温度检测器包括：高精度温度检测仪和/或温度变送器。
相应地，本发明实施例的第三方面还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及与所述至少一个处理器连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述一个处理器执行的指令，所述指令被所述一个处理器执行，以使所述至少一个处理器执行上述分布式光纤测温系统校准方法。
此外，本发明实施例的第四方面还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机指令，该指令被处理器执行时实现上述分布式光纤测温系统校准方法。
本发明实施例旨在保护一种分布式光纤测温系统校准方法及装置，分布式光纤测温系统包括：测温光纤、恒温水槽和温度检测器，测温光纤尾端预设长度的光纤置于恒温水槽中，其中校准方法包括如下步骤：通过温度检测器分别获取恒温水槽的第一温度检测值和分布式光纤测温系统的环境温度检测值；依据第一温度检测值和环境温度检测值，得到分布式光纤测温系统检测温度的修正系数；获取分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值；依据修正系数，对分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值进行修正计算，得到分布式光纤测温系统的校准温度检测值。上述技术方案具备如下效果：
通过将测温光纤尾端预设长度的光纤置于恒温水槽中，获取恒温水槽的检测温度值和分布式光纤测温系统的环境温度值，得到分布式光纤测温系统检测温度的修正系数，对其检测温度进行校准，具有校准过程简便快捷、校准时间短等优点，提高了分布式光纤测温系统的检测精度。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
最后应当说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非对其限制，尽管参照上述实施例对本发明进行了详细的说明，所属领域的普通技术人员应当理解：依然可以对本发明的具体实施方式进行修改或者等同替换，而未脱离本发明精神和范围的任何修改或者等同替换，其均应涵盖在本发明的权利要求保护范围之内。
Claims (6)
1.一种分布式光纤测温系统校准方法，其特征在于，分布式光纤测温系统包括：测温光纤、恒温水槽和温度检测器，所述测温光纤尾端预设长度的光纤置于所述恒温水槽中，包括如下步骤：
通过温度检测器分别获取所述恒温水槽的第一温度检测值和所述分布式光纤测温系统的环境温度检测值；
依据所述第一温度检测值和所述环境温度检测值，得到所述分布式光纤测温系统检测温度的修正系数；
获取所述分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值；
依据所述修正系数，对所述分布式光纤测温系统解调的所述原始温度检测值进行修正计算，得到所述分布式光纤测温系统的校准温度检测值；
所述依据所述第一温度检测值和所述环境温度检测值进而得到所述分布式光纤测温系统检测温度的修正系数，包括：
获取光脉冲产生的Stokes拉曼散射光的第一光通量光电转换值和Anti-Stokes拉曼散射光的第二光通量光电转换值，进而得到所述环境温度检测值下的Anti-Stokes拉曼散射光与Stokes拉曼散射光的强度比函数；
依据所述强度比函数，结合所述第一温度检测值和所述环境温度检测值，计算所述修正系数；
所述修正系数kb的计算公式为：
其中，Tb为通过所述温度检测器获取的所述恒温水槽的第一温度检测值，T0为通过所述温度检测器获取的所述分布式光纤测温系统的环境温度检测值，T为所述分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值。
2.根据权利要求1所述的分布式光纤测温系统校准方法，其特征在于，所述获取所述恒温水槽的第一温度检测值之前，包括：
将所述测温光纤尾端预设长度的光纤置于所述恒温水槽中，获取所述恒温水槽的温度检测数值；
当所述恒温水槽的温度检测数值在预设时间内的温度变化值小于第一预设数值时，得到所述第一温度检测值。
3.根据权利要求1或2所述的分布式光纤测温系统校准方法，其特征在于，
所述温度检测器包括：高精度温度检测仪和/或温度变送器。
4.一种分布式光纤测温系统校准装置，其特征在于，分布式光纤测温系统包括：测温光纤、恒温水槽和温度检测器，所述测温光纤尾端预设长度的光纤置于所述恒温水槽中，包括：
第一获取模块，其用于通过温度检测器分别获取所述恒温水槽的第一温度检测值和所述分布式光纤测温系统的环境温度检测值；
计算模块，其用于依据所述第一温度检测值和所述环境温度检测值，得到所述分布式光纤测温系统检测温度的修正系数；
第二获取模块，其用于获取所述分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值；
校准模块，其用于依据所述修正系数，对所述分布式光纤测温系统解调的所述原始温度检测值进行修正计算，得到所述分布式光纤测温系统的校准温度检测值；
所述计算模块包括：
第一获取单元，其用于获取光脉冲产生的Stokes拉曼散射光的第一光通量光电转换值和Anti-Stokes拉曼散射光的第二光通量光电转换值，进而得到所述环境温度检测值下的Anti-Stokes拉曼散射光与Stokes拉曼散射光的强度比函数；
计算单元，其用于依据所述强度比函数，结合所述第一温度检测值和所述环境温度检测值，计算所述修正系数；
所述修正系数kb的计算公式为：
其中，Tb为通过所述温度检测器获取的所述恒温水槽的第一温度检测值，T0为通过所述温度检测器获取的所述分布式光纤测温系统的环境温度检测值，T为所述分布式光纤测温系统解调的原始温度检测值。
5.根据权利要求4所述的分布式光纤测温系统校准装置，其特征在于，还包括：温度检测控制模块；
所述温度检测控制模块包括：
温度检测单元，将所述测温光纤尾端预设长度的光纤置于所述恒温水槽中，获取所述恒温水槽的温度检测数值；
控制单元，当所述恒温水槽的温度检测数值在预设时间内的温度变化值小于第一预设数值时，得到所述第一温度检测值。
6.根据权利要求4或5所述的分布式光纤测温系统校准装置，其特征在于，
所述温度检测器包括：高精度温度检测仪和/或温度变送器。
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