CN113624615A - 一种光缆抗弯曲张力测试装置及测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及光缆测试技术领域,尤其涉及一种光缆抗弯曲张力测试装置及测试方法,包括驱动装置、上夹块、下夹块和压力传感器,所述上夹块与下夹块之间设置有光缆,所述驱动装置用于带动上夹块均匀的将光缆整体压弯,所述压力传感器用于检测光缆压弯过程中受到的压力变化。测试方法通过控制上夹块将光缆整体压弯,在此过程中采集压力传感器监测到的压力变化数据,包括初始状态的压力值Fs、压弯过程中的最大压力值Fmax及压弯到位后的压力值Fe数据。本发明通过采用标准化光缆抗弯曲张力测试方法,使光缆抗弯曲张力指标可量化,实现该方法的检测装置结构简单,使用方式灵活多变,适用范围广。

Description

一种光缆抗弯曲张力测试装置及测试方法
技术领域
本发明涉及光缆测试技术领域,尤其涉及一种光缆抗弯曲张力测试装置及测试方法。
背景技术
随着光通信行业的迅速发展,光缆的应用越来越广泛,客户在不同使用场景下对光缆的抗弯曲张力要求不一样。如在航空航天领域中,在进行短段使用时,就要求光缆的要柔软,即抗弯曲张力要小。但目前行业内对光缆抗弯曲张力暂无直接的客观化的测试方法和测试设备,导致无法对光缆的抗弯曲张力进行客观化的测试和管控。
光缆结构和所使用的材料多样,使用广泛,目前仅通过人员的主观评价进行抗弯曲张力测试,而不同人员对主观评价结果影响显著,导致结果离散,测试准确性差,且每次主观评价要求评价人员有不同梯度、以主观感觉为准,无具体评判标准,无客观数据支撑,因此无法统一测试及管控指标。为此,我们提出一种光缆抗弯曲张力测试装置及测试方法。
发明内容
基于背景技术存在的技术问题,本发明提出了一种光缆抗弯曲张力测试装置及测试方法,具有通过采用标准化光缆抗弯曲张力测试方法,使光缆抗弯曲张力指标可量化的特点,解决了现有技术采用主观评价,要求评价人员有不同梯度、以主观感觉为准,无具体评判标准,无客观数据支撑,因此无法统一测试及管控指标的问题。
本发明提供如下技术方案:一种光缆抗弯曲张力测试装置,包括驱动装置、上夹块、下夹块和压力传感器,所述上夹块与下夹块之间设置有光缆,所述驱动装置用于带动上夹块均匀的将光缆整体压弯,所述压力传感器用于检测光缆压弯过程中受到的压力变化。
优选的,所述下夹块设置在底板上,所述下夹块与底板之间设置有垫块。
优选的,所述上夹块和下夹块上均设置有用于夹持光缆的夹缆槽,所述上夹块和下夹块的夹缆槽中至少一个设置有压力传感器。
优选的,所述驱动装置用于推动连接板运动,所述上夹块安装在连接板上。
优选的,所述驱动装置采用自动化驱动装置或手动驱动摇臂。
优选的,所述上夹块底面或下夹块上表面设置测距仪,所述测距仪用于精确控制上夹块下压距离。
优选的,还包括用于限制上夹块下压最大距离的限位装置。
一种光缆抗弯曲张力测试方法,包括如下步骤:
S1、将制作好的光缆样品上下两端分别插入上夹块和下夹块的夹缆槽内,通过驱动装置控制上夹块匀速下移至指定位置,即控制上夹块将光缆整体压弯,在此过程中采集压力传感器监测到的压力变化数据,包括初始状态的压力值Fs、压弯过程中的最大压力值Fmax及压弯到位后的压力值Fe数据;
S2、根据光缆的抗弯曲张力与压弯过程中的最大压力值Fmax及压弯到位后的压力值Fe与初始状态的压力值Fs之间的差值正相关,对光缆的抗弯曲张力进行量化,从而评判光缆整体的抗弯曲张力,其中最大压力值Fmax用于计算光缆动态下的弯曲应力,压弯到位后的压力值Fe与初始状态的压力值Fs之间的差值用于计算光缆静态下的弯曲应力。
优选的,所述步骤S1中光缆样品制作需将待测抗弯曲张力裁剪成指定长度。
优选的,所述步骤S1通过对同一根样品多次重复压弯测试或对多根不同样品进行压弯测试,并将测试结果进行对比分析,获取光缆的抗弯曲张力数据。
本发明提供了一种光缆抗弯曲张力测试装置及测试方法,通过采用标准化光缆抗弯曲张力测试方法,使光缆抗弯曲张力指标可量化,实现该方法的检测装置结构简单,使用方式灵活多变,适用范围广,十分适合在行业内推广使用;当采用自动化驱动装置时,整个测试过程无人为因素干扰,可提供客观化的测试数据,为光缆的研发和生产改进提供支撑,方便管控。
附图说明
图1为本发明初始状态示意图;
图2为本发明光缆被压弯后的状态示意图;
图3为本发明下夹块和垫块的半剖结构示意图。
图中:1、驱动装置;2、上夹块;3、下夹块;4、垫块;5、底板;6、光缆;7、连接板;8、夹缆槽;9、压力传感器。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
如图1所示,本发明提供一种技术方案:一种光缆抗弯曲张力测试装置,包括驱动装置、上夹块、下夹块和压力传感器,所述上夹块与下夹块之间设置有光缆,所述驱动装置用于带动上夹块均匀的将光缆整体压弯,所述压力传感器用于检测光缆压弯过程中受到的压力变化。下夹块设置在底板上,所述下夹块与底板之间设置有垫块。
上夹块和下夹块上均设置有用于夹持光缆的夹缆槽,所述上夹块和下夹块的夹缆槽中至少一个设置有压力传感器。夹缆槽内的压力传感器用于实时采集光缆压弯过程中的压力变化,实际应用中可采用电子秤或其他传感器。
如图2和3所示,通过将压力传感器安装在下夹块上的夹缆槽内为例,光缆上下两端分别插设在上夹块和下夹块的夹缆槽内,且光缆下端顶住压力传感器,从而当光缆受到上夹块的挤压力时,光缆就会发生弯曲,此时通过压力传感器便可测出光缆在弯曲状态下受到的应力,通过该应力的大小便可判定光缆的抗弯曲张力。
驱动装置用于推动连接板运动,所述上夹块安装在连接板上。驱动装置采用自动化驱动装置或手动驱动摇臂。
上夹块底面或下夹块上表面设置测距仪(图中未示出),以精确控制上夹块下压距离;当采用手动压臂驱动下压时,通过在驱动装置一侧设置手动压臂,并在手动压臂末端设置限位装置(图中未示出),从而当手动压臂驱动连接板带动上夹块时,通过限位装置便可控制上夹块下压距离,以维持手动下压的稳定性和操作可重复性。
测试方法:
S1、光缆样品制作需将待测抗弯曲张力裁剪成指定长度,如裁剪成11cm。将制作好的光缆样品上下两端分别插入上夹块和下夹块的夹缆槽内,通过驱动装置控制上夹块匀速下移至指定位置,如下降至5cm处,即控制上夹块将光缆整体压弯,在此过程中采集压力传感器监测到的压力变化数据,包括初始状态的压力值Fs、压弯过程中的最大压力值Fmax及压弯到位后的压力值Fe数据;
S2、根据光缆的抗弯曲张力与压弯过程中的最大压力值Fmax及压弯到位后的压力值Fe与初始状态的压力值Fs之间的差值正相关,对光缆的抗弯曲张力进行量化,从而评判光缆整体的抗弯曲张力。一般初始状态的压力值Fs为0,而压弯后的压力值Fe与Fs的差值代表光缆静态下的弯曲应力,如一种型号为1400R的光缆测试出的弯曲应力为0.66N。通过对同一根样品多次重复压弯测试或对多根不同样品进行压弯测试,并将测试结果进行对比分析,获取光缆的抗弯曲张力数据。如经过多根光缆测试以及一根光缆的反复测试可以得到该1400R光缆的静态弯曲应力在0.62N-0.70N之间。其中压弯过程中的最大压力值Fmax代表该1400R光缆动态下的弯曲应力,根据不同的需求需要测试不同状态下的弯曲应力值。
本发明中,通过采用标准化光缆抗弯曲张力测试方法,使光缆抗弯曲张力指标可量化,实现该方法的检测装置结构简单,使用方式灵活多变,适用范围广,十分适合在行业内推广使用;当采用自动化驱动装置时,整个测试过程无人为因素干扰,可提供客观化的测试数据,为光缆的研发和生产改进提供支撑,方便管控。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光缆抗弯曲张力测试装置,其特征在于:包括驱动装置、上夹块、下夹块和压力传感器,所述上夹块与下夹块之间设置有光缆,所述驱动装置用于带动上夹块均匀的将光缆整体压弯,所述压力传感器用于检测光缆压弯过程中受到的压力变化。
2.根据权利要求1所述的一种光缆抗弯曲张力测试装置,其特征在于:所述下夹块设置在底板上,所述下夹块与底板之间设置有垫块。
3.根据权利要求1所述的一种光缆抗弯曲张力测试装置,其特征在于:所述上夹块和下夹块上均设置有用于夹持光缆的夹缆槽,所述上夹块和下夹块的夹缆槽中至少一个设置有压力传感器。
4.根据权利要求1所述的一种光缆抗弯曲张力测试装置,其特征在于:所述驱动装置用于推动连接板运动,所述上夹块安装在连接板上。
5.根据权利要求1所述的一种光缆抗弯曲张力测试装置,其特征在于:所述驱动装置采用自动化驱动装置或手动驱动摇臂。
6.根据权利要求1所述的一种光缆抗弯曲张力测试装置,其特征在于:所述上夹块底面或下夹块上表面设置测距仪,所述测距仪用于精确控制上夹块下压距离。
7.根据权利要求1所述的一种光缆抗弯曲张力测试装置,其特征在于:还包括用于限制上夹块下压最大距离的限位装置。
8.一种光缆抗弯曲张力测试方法,其特征在于:包括如下步骤:
S1、将制作好的光缆样品上下两端分别插入上夹块和下夹块的夹缆槽内,通过驱动装置控制上夹块匀速下移至指定位置,即控制上夹块将光缆整体压弯,在此过程中采集压力传感器监测到的压力变化数据,包括初始状态的压力值Fs、压弯过程中的最大压力值Fmax及压弯到位后的压力值Fe数据;
S2、根据光缆的抗弯曲张力与压弯过程中的最大压力值Fmax及压弯到位后的压力值Fe与初始状态的压力值Fs之间的差值正相关,对光缆的抗弯曲张力进行量化,从而评判光缆整体的抗弯曲张力,其中最大压力值Fmax用于计算光缆动态下的弯曲应力,压弯到位后的压力值Fe与初始状态的压力值Fs之间的差值用于计算光缆静态下的弯曲应力。
9.根据权利要求8所述的一种光缆抗弯曲张力测试方法,其特征在于:所述步骤S1中光缆样品制作需将待测抗弯曲张力裁剪成指定长度。
10.根据权利要求8所述的一种光缆抗弯曲张力测试方法,其特征在于:所述步骤S1通过对同一根样品多次重复压弯测试或对多根不同样品进行压弯测试,并将测试结果进行对比分析,获取光缆的抗弯曲张力数据。
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