CN113608937A - 硬盘背板led无硬盘测试装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种硬盘背板LED无硬盘测试装置及方法，所述装置包括：CPLD，所述CPLD设置在硬盘背板上，且CPLD控制硬盘背板的LED；所述CPLD包括解码器、数据选择器和寄存器，所述数据选择器的输入端和输出端均设有解码器；所述数据选择器包括第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径，第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径分别对应特定的LED控制状态；所述CPLD还包括对外接口，所述对外接口连接解码器；所述对外接口连接外部控制器。本发明能够在无硬盘、无主板的情况下对硬盘背板的LED进行各种状态测试，且本发明能够通过多种途径对LED状态进行控制，充分考虑了硬盘背板在生成后的各种测试场景，提高了硬盘背板LED测试效率和质量。

Description

硬盘背板LED无硬盘测试装置及方法

技术领域

本发明涉及服务器技术领域，具体涉及一种硬盘背板LED无硬盘测试装置及方法。

背景技术

目前服务器的背板设计,皆会在背板上设计一颗CPLD来控制背板上所有插入硬盘的上电时序与所有的硬盘LED的控制，而此背板也必须与服务器的主板共接，因为背板上的硬盘是通过服务器方法上的主板来进行读写，所以主板上会设计一颗BMC来掌控整个服务器上所有器件，也包含背板上的所有硬盘信息，而主板的BMC一般会通过i2c的interface来与背板上的CPLD做讯息沟通，BMC即可从此interface来得到背板上硬盘上的信息。目前服务器背板上硬盘LED灯的控制，会有Active/Locate/Fault三种表现形式，Active led是在方法在对硬盘做读写时，Active led就会闪烁，Locate led是当方法要定位找寻硬盘位子导就会持续恒亮，Fault led是当硬盘有异常时，Fault led就会闪烁。

传统硬盘背板LED控制的方式是通过背板CPLD的解码器来切换点灯的控制讯号来源，若硬盘背板插入的是NVMe硬盘，就将点灯讯号切至CPU’s VPP界面，若硬盘背板插入的是SAS/SATA硬盘，就将点灯讯号切至PCH’s SGPIO接口，最后再通过另一个解码器来解析CPU或PCH发送的点灯讯号，但不论是从CPU’s VPP讯号或是PCH’s SGPIO讯号，这些点灯的来源讯号都是要在有插入硬盘的情况下，背板CPLD内的解码器能够正常的让硬盘背板LED可以正常点亮。而在没插入硬盘的情况下，硬盘背板LED皆无法被点亮，且因为硬盘是受主板端的CPU与PCH控制，所以在实际测试时，还要与主板对接，且主板还要接上CPU。这样的话在加工厂打件时，就无法提早发现LED物料是否有毁损或是加工厂打件是否有正常，且一般加工厂也没有CPU可以使用，所以LED的测试极为不便。另外，也因为物料皆在加工厂，一旦PCBA出货离开了加工厂，后续的维修都是很麻烦的一件事情；另一方面在做方法测试时，若有时设计的硬盘背板的硬盘数量到36盘，1颗硬盘若包含3颗LED，那总共就有108颗led需要被测试，若测试单位无法一次拿到这么多颗硬盘，又不知硬盘背板上的LED是好是坏，就只能在方法还进入到OS下才做测试，且拿1颗硬盘一步一步慢慢做测试，测试1颗硬盘的LED后，拔出硬盘再测试下一颗硬盘的LED，这整个测试就会非常耗时耗人力。

发明内容

针对现有技术的上述不足，本发明提供一种硬盘背板LED无硬盘测试装置及方法，以解决上述技术问题。

第一方面，本发明提供一种硬盘背板LED无硬盘测试装置，包括：

CPLD，所述CPLD设置在硬盘背板上，且CPLD控制硬盘背板的LED；所述CPLD包括解码器、数据选择器和寄存器，所述数据选择器的输入端和输出端均设有解码器；所述数据选择器包括第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径，第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径分别对应特定的LED控制状态；所述CPLD还包括对外接口，所述对外接口连接解码器；所述对外接口连接外部控制器。

进一步的，所述外部控制器为指拨开关。

进一步的，所述对外接口通过I2C总线连接BMC。

进一步的，所述对外接口对接通用异步收发传输器，所述通用异步收发传输器连接外部控制终端。

进一步的，所述解码器包括第一子解码器和第二子解码器，所述数据选择器包括第一控制路径和第二控制路径；所述第一控制路径连接CPU VPP接口，第二控制路径连接PCH的SGPIO接口；所述第一子解码器连接数据选择器的输入端，第二子解码器连接数据选择器的输出端。

第二方面，本发明提供一种硬盘背板LED无硬盘测试方法，包括：

通过设置指拨开关将CPLD的数据选择器实际路径切换至目标测试路径，所述目标测试路径为第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径中的任一种；

通过将数据选择器的实际路径切换至目标测试路径，控制LED执行目标测试路径对应的控制状态；

检验LED的实际状态是否与目标测试路径对应的控制状态一致，若是则判定硬盘背板LED通过测试。

进一步的，通过设置指拨开关将CPLD的数据选择器实际路径切换至目标测试路径，包括：

指拨开关将设置的开关位发送至CPLD解码器；

解码器对接收的开关位进行信号转换后将转换后的开关位信号发送至数据选择器；

数据选择器将实际路径切换至转换后的开关位信号对应的目标测试路径。

进一步的，所述方法还包括：

BMC将目标测试路径写入CPLD的寄存器；

CPLD根据寄存器内写入的目标测试路径将数据选择器的实际路径切换至目标测试路径。

进一步的，所述方法还包括：

通过通用异步收发传输器向CPLD的寄存器写入目标测试路径；

CPLD根据寄存器内写入的目标测试路径将数据选择器的实际路径切换至目标测试路径。

进一步的，所述方法还包括：

设置循环测试次数，根据循环测试次数循环切换目标测试路径执行测试，直至测试次数达到所述循环测试次数。

本发明的有益效果在于，

本发明提供的硬盘背板LED无硬盘测试装置及方法，通过设置CPLD直接对接解码器的对外接口，并在数据选择器增设路径，实现通过解码器直接控制数据选择器切换路径，通过切换路径生成LED状态控制信号，从而实现对LED状态的控制。本发明能够在无硬盘、无主板的情况下对硬盘背板的LED进行各种状态测试，工厂端可以能够快速确认LED物料或是PCBA打件是否有问题，且本发明能够通过多种途径对LED状态进行控制，充分考虑了硬盘背板在生成后的各种测试场景，提高了硬盘背板LED测试效率和质量。

此外，本发明设计原理可靠，结构简单，具有非常广泛的应用前景。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一个实施例的硬盘背板LED无硬盘测试装置的示意性结构图。

图2是本发明另一个实施例的硬盘背板LED无硬盘测试装置的示意性结构图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明中的技术方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

下面对本发明中出现的关键术语进行解释。

BMC，执行伺服器远端管理控制器，英文全称为Baseboard ManagementController.为基板管理控制器。它可以在机器未开机的状态下，对机器进行固件升级、查看机器设备、等一些操作。在BMC中完全实现IPMI功能需要一个功能强大的16位元或32位元微控制器以及用于数据储存的RAM、用于非挥发性数据储存的快闪记忆体和韧体，在安全远程重启、安全重新上电、LAN警告和方法健康监视方面能提供基本的远程可管理性。除了基本的IPMI功能和方法工作监视功能外，通过利用2个快闪记忆体之一储存以前的BIOS，mBMC还能实现BIOS快速元件的选择和保护。例如，在远程BIOS升级後方法不能启动时，远程管理人员可以切换回以前工作的BIOS映像来启动方法。一旦BIOS升级後，BIOS映像还能被锁住，可有效防止病毒对它的侵害。

I2C总线是由Philips公司开发的一种简单、双向二线制同步串行总线。它只需要两根线即可在连接于总线上的器件之间传送信息。主器件用于启动总线传送数据，并产生时钟以开放传送的器件，此时任何被寻址的器件均被认为是从器件.在总线上主和从、发和收的关系不是恒定的，而取决于此时数据传送方向。如果主机要发送数据给从器件，则主机首先寻址从器件，然后主动发送数据至从器件，最后由主机终止数据传送；如果主机要接收从器件的数据，首先由主器件寻址从器件.然后主机接收从器件发送的数据，最后由主机终止接收过程。在这种情况下.主机负责产生定时时钟和终止数据传送。

CPU中央处理器(central processing unit，简称CPU)作为计算机方法的运算和控制核心，是信息处理、程序运行的最终执行单元。

CPLD采用CMOS EPROM、EEPROM、快闪存储器和SRAM等编程技术，从而构成了高密度、高速度和低功耗的可编程逻辑器件。CPLD中的逻辑块类似于一个小规模PLD，通常一个逻辑块包含4～20个宏单元，每个宏单元一般由乘积项阵列、乘积项分配和可编程寄存器构成。每个宏单元有多种配置方式，各宏单元也可级联使用，因此可实现较复杂组合逻辑和时序逻辑功能。对集成度较高的CPLD，通常还提供了带片内RAM/ROM的嵌入阵列块。可编程互连通道主要提供逻辑块、宏单元、输入/输出引脚间的互连网络。输入/输出块(I/O块)提供内部逻辑到器件I/O引脚之间的接口。

为了便于对本发明的理解，下面以本发明硬盘背板LED无硬盘测试装置的原理，结合实施例中对硬盘背板LED进行无硬盘测试的过程，对本发明提供的硬盘背板LED无硬盘测试装置及方法做进一步的描述。

实施例1

请参考图1，本实施例提供一种硬盘背板LED无硬盘测试装置，包括：

CPLD，CPLD设置在硬盘背板上，且CPLD控制硬盘背板的LED；CPLD包括解码器、数据选择器和寄存器，数据选择器的输入端和输出端均设有解码器；数据选择器包括第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径，第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径分别对应特定的LED控制状态；具体的，第一测试路径对应Active状态，即读写状态，LED在该状态下闪烁；第二测试路径对应Locate状态，即当方法要定位找寻硬盘位子导就会持续恒亮；第三测试路径对应Fault状态，即当硬盘有异常时，Fault状态的LED就会闪烁。

CPLD还包括对外接口，对外接口连接解码器；对外接口连接外部控制器，外部控制器为指拨开关，本实施例中指拨开关具有三个档位，档位1对应第一测试路径，档位2对应第二测试路径，档位3对应第三测试路径。

在使用时，指拨开关将当前档位信号发送至CPLD，CPLD的解码器对档位信号进行解码处理，将处理后的档位信号发送至数据选择器，数据选择器将路径切换为档位信号对应的测试路径，切换后的测试路径信号由数据选择器输出端的解码器进行处理，并将处理后的路径信号发送至LED控制器，LED控制器根据处理后的路径信号控制LED点亮状态。例如指拨开关的当前档位为档位1，则解码器1对档位1信号进行处理发送至数据选择器，CPLD将数据选择器的路径切换至与档位1对应的第一测试路径(图1中的路径2)，然后解码器2对路径信号进行处理，并将处理后的路径信号发送至硬盘背板的LED控制器，控制所有LED均处于Active状态。

同时，为了增加装置的适用性，将CPLD寄存器与解码器1连接，BMC通过I2C总线连接CPLD，BMC可将控制指令写入CPLD的寄存器，解码器1将寄存器中的指令进行处理，处理后的指令可控制数据选择器切换路径，通过控制数据选择器切换路径实现对LED状态的控制。

本实施例中优先将BMC来的控制讯号做为第一优先级可决定数据选择器的切换路径为何，BMC通过I2C interface,即可将数据选择器路径由0/1切换至2/3/4；只有在BMC管理失效的情况下再采用指拨开关的控制信号。

实施例2

请参考图2，本实施例提供一种硬盘背板LED无硬盘测试装置，包括：

CPLD，CPLD设置在硬盘背板上，且CPLD控制硬盘背板的LED；CPLD包括解码器、数据选择器和寄存器，数据选择器的输入端和输出端均设有解码器；解码器包括解码器1和解码器2，数据选择器包括第一控制路径(路径0)和第二控制路径(路径1)；第一控制路径连接CPU VPP接口，第二控制路径连接PCH的SGPIO接口；解码器1连接数据选择器的输入端，解码器2数据选择器的输出端。数据选择器包括第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径，第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径分别对应特定的LED控制状态；具体的，第一测试路径对应Active状态，即读写状态，LED在该状态下闪烁；第二测试路径对应Locate状态，即当方法要定位找寻硬盘位子导就会持续恒亮；第三测试路径对应Fault状态，即当硬盘有异常时，Fault状态的LED就会闪烁。

CPLD还包括对外接口，对外接口连接解码器；对外接口连接外部控制器，外部控制器为指拨开关，本实施例中指拨开关具有三个档位，档位1对应第一测试路径，档位2对应第二测试路径，档位3对应第三测试路径。

在使用时，指拨开关将当前档位信号发送至CPLD，CPLD的解码器对档位信号进行解码处理，将处理后的档位信号发送至数据选择器，数据选择器将路径切换为档位信号对应的测试路径，切换后的测试路径信号由数据选择器输出端的解码器进行处理，并将处理后的路径信号发送至LED控制器，LED控制器根据处理后的路径信号控制LED点亮状态。例如指拨开关的当前档位为档位1，则解码器1对档位1信号进行处理发送至数据选择器，CPLD将数据选择器的路径切换至与档位1对应的第一测试路径(图1中的路径2)，然后解码器2对路径信号进行处理，并将处理后的路径信号发送至硬盘背板的LED控制器，控制所有LED均处于Active状态。

同时，为了增加装置的适用性，将CPLD寄存器与解码器1连接，BMC通过I2C总线连接CPLD，BMC可将控制指令写入CPLD的寄存器，解码器1将寄存器中的指令进行处理，处理后的指令可控制数据选择器切换路径，通过控制数据选择器切换路径实现对LED状态的控制。

然而，在实际应用上，也遇过有时候BMC至BP的I2C Bus不通或是BMC软件开发尚未完整，而整个方法又全部装入方法机壳内，导致BMC无法点灯也无法去播动开关来确认硬盘背板是否可以正常点亮。本实施例令对外接口对接通用异步收发传输器，通用异步收发传输器连接外部控制终端。在BMC或是硬件上的开关皆无法正常使用的情况下，外部控制终端通过异步收发传输器向CPLD的寄存器写入控制指令，进而控制数据选择器进行路径切换，从而控制LED状态。

本实施例提供的硬盘背板LED无硬盘测试装置，通过设置CPLD直接对接解码器的对外接口，并在数据选择器增设路径，实现通过解码器直接控制数据选择器切换路径，通过切换路径生成LED状态控制信号，从而实现对LED状态的控制。本发明能够在无硬盘、无主板的情况下对硬盘背板的LED进行各种状态测试，工厂端可以能够快速确认LED物料或是PCBA打件是否有问题，且本发明能够通过多种途径对LED状态进行控制，充分考虑了硬盘背板在生成后的各种测试场景，提高了硬盘背板LED测试效率和质量。

实施例3

本实施例提供一种硬盘背板LED无硬盘测试装置，包括：

CPLD，CPLD设置在硬盘背板上，且CPLD控制硬盘背板的LED；CPLD包括解码器、数据选择器和寄存器，数据选择器的输入端和输出端均设有解码器；解码器包括解码器1和解码器2，数据选择器包括第一控制路径(路径0)和第二控制路径(路径1)；第一控制路径连接CPU VPP接口，第二控制路径连接PCH的SGPIO接口；解码器1连接数据选择器的输入端，解码器2数据选择器的输出端。数据选择器包括第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径，第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径分别对应特定的LED控制状态；具体的，第一测试路径对应Active状态，即读写状态，LED在该状态下闪烁；第二测试路径对应Locate状态，即当方法要定位找寻硬盘位子导就会持续恒亮；第三测试路径对应Fault状态，即当硬盘有异常时，Fault状态的LED就会闪烁。

CPLD还包括对外接口，对外接口连接解码器；对外接口连接外部控制器，外部控制器为指拨开关，本实施例中指拨开关具有三个档位，档位1对应第一测试路径，档位2对应第二测试路径，档位3对应第三测试路径。

在使用时，指拨开关将当前档位信号发送至CPLD，CPLD的解码器对档位信号进行解码处理，将处理后的档位信号发送至数据选择器，数据选择器将路径切换为档位信号对应的测试路径，切换后的测试路径信号由数据选择器输出端的解码器进行处理，并将处理后的路径信号发送至LED控制器，LED控制器根据处理后的路径信号控制LED点亮状态。例如指拨开关的当前档位为档位1，则解码器1对档位1信号进行处理发送至数据选择器，CPLD将数据选择器的路径切换至与档位1对应的第一测试路径(图1中的路径2)，然后解码器2对路径信号进行处理，并将处理后的路径信号发送至硬盘背板的LED控制器，控制所有LED均处于Active状态。

实施例4

本实施例提供一种硬盘背板LED无硬盘测试方法，包括以下步骤：

S1、通过设置指拨开关将CPLD的数据选择器实际路径切换至目标测试路径，所述目标测试路径为第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径中的任一种；具体的，指拨开关将设置的开关位发送至CPLD解码器；解码器对接收的开关位进行信号转换后将转换后的开关位信号发送至数据选择器；数据选择器将实际路径切换至转换后的开关位信号对应的目标测试路径。

S2、通过将数据选择器的实际路径切换至目标测试路径，控制LED执行目标测试路径对应的控制状态；

S3、检验LED的实际状态是否与目标测试路径对应的控制状态一致，若是则判定硬盘背板LED通过测试。

在实际应用中，具体步骤为：

在系统完全没上硬盘的情况，将系统上电；

通过切换SW的3个开关，若播1，则让Active LED恒亮；

通过切换SW的3个开关，若播2，则让Locate LED恒亮；

通过切换SW的3个开关，若播3，则让Fault LED恒亮。

实施例5

本实施例提供一种硬盘背板LED无硬盘测试方法，包括以下步骤：

BMC填写CPLD内的寄存器，当写入启动至Active LED缓存器,则让Active LED恒亮；

BMC填写CPLD内的寄存器，当写入启动至Locate LED缓存器,则让Locate LED恒亮；

BMC填写CPLD内的寄存器，当写入启动至Fault LED缓存器,则让FaultLED恒亮。

实施例6

本实施例提供一种硬盘背板LED无硬盘测试，包括：

Uart路径填写CPLD内的寄存器，当写入启动至Active LED缓存器,则让ActiveLED恒亮；

Uart路径填写CPLD内的寄存器，当写入启动至Locate LED缓存器,则让LocateLED恒亮；

Uart路径填写CPLD内的寄存器，当写入启动至Fault LED缓存器,则让Fault LED恒亮。

实施例7

本实施例提供一种硬盘背板LED无硬盘测试方法，包括：

预先设定BMC的控制信号等级最高，根据BMC信号对LED状态进行控制：

BMC填写CPLD内的寄存器，当写入启动至Active LED缓存器,则让Active LED恒亮；

BMC填写CPLD内的寄存器，当写入启动至Locate LED缓存器,则让Locate LED恒亮；

BMC填写CPLD内的寄存器，当写入启动至Fault LED缓存器,则让FaultLED恒亮。

若BMC控制失败则接收指拨开关的控制信号，指拨开关的控制方法为：

通过切换SW的3个开关，若播1，则让Active LED恒亮；

通过切换SW的3个开关，若播2，则让Locate LED恒亮；

通过切换SW的3个开关，若播3，则让Fault LED恒亮。

每次控制LED状态后，查看LED的实际点亮状态，判断与控制状态是否一致，若一致则判定硬盘背板的LED正常，若不一致则判定硬盘背板不合格。

预先设定循环测试次数，例如测试10次，LED依次被设定为Active LED、LocateLED、Fault LED为测试一次，在循环测试10次后可以确保硬盘背板的准确性。

本实施例提供的硬盘背板LED无硬盘测试方法，通过设置CPLD直接对接解码器的对外接口，并在数据选择器增设路径，实现通过解码器直接控制数据选择器切换路径，通过切换路径生成LED状态控制信号，从而实现对LED状态的控制。本发明能够在无硬盘、无主板的情况下对硬盘背板的LED进行各种状态测试，工厂端可以能够快速确认LED物料或是PCBA打件是否有问题，且本发明能够通过多种途径对LED状态进行控制，充分考虑了硬盘背板在生成后的各种测试场景，提高了硬盘背板LED测试效率和质量。

本实施例提供的一种终端，该终端可以包括：处理器、存储器、硬盘背板及通信单元。这些组件通过一条或多条总线进行通信，本领域技术人员可以理解，图中示出的服务器的结构并不构成对本发明的限定，它既可以是总线形结构，也可以是星型结构，还可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

其中，该存储器可以用于存储处理器的执行指令，存储器可以由任何类型的易失性或非易失性存储终端或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。当存储器中的执行指令由处理器执行时，使得终端能够执行以下上述方法实施例中的部分或全部步骤。

处理器为存储终端的控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子终端的各个部分，通过运行或执行存储在存储器内的软件程序和/或模块，以及调用存储在存储器内的数据，以执行电子终端的各种功能和/或处理数据。所述处理器可以由集成电路(IntegratedCircuit，简称IC)组成，例如可以由单颗封装的IC所组成，也可以由连接多颗相同功能或不同功能的封装IC而组成。举例来说，处理器可以仅包括中央处理器(Central ProcessingUnit，简称CPU)。在本发明实施方式中，CPU可以是单运算核心，也可以包括多运算核心。

通信单元，用于建立通信信道，从而使所述存储终端可以与其它终端进行通信。接收其他终端发送的用户数据或者向其他终端发送用户数据。

硬盘背板包括CPLD，CPLD控制硬盘背板的LED；CPLD包括解码器、数据选择器和寄存器，所述数据选择器的输入端和输出端均设有解码器；所述数据选择器包括第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径，第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径分别对应特定的LED控制状态；所述CPLD还包括对外接口，所述对外接口连接解码器；所述对外接口连接外部控制器。

因此，本发明通过设置CPLD直接对接解码器的对外接口，并在数据选择器增设路径，实现通过解码器直接控制数据选择器切换路径，通过切换路径生成LED状态控制信号，从而实现对LED状态的控制。本发明能够在无硬盘、无主板的情况下对硬盘背板的LED进行各种状态测试，工厂端可以能够快速确认LED物料或是PCBA打件是否有问题，且本发明能够通过多种途径对LED状态进行控制，充分考虑了硬盘背板在生成后的各种测试场景，提高了硬盘背板LED测试效率和质量，本实施例所能达到的技术效果可以参见上文中的描述，此处不再赘述。

本说明书中各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。尤其，对于终端实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例中的说明即可。

在本发明所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的方法实施例仅仅是示意性的。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，方法或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

尽管通过参考附图并结合优选实施例的方式对本发明进行了详细描述，但本发明并不限于此。在不脱离本发明的精神和实质的前提下，本领域普通技术人员可以对本发明的实施例进行各种等效的修改或替换，而这些修改或替换都应在本发明的涵盖范围内/任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种硬盘背板LED无硬盘测试装置，其特征在于，所述装置包括：

CPLD，所述CPLD设置在硬盘背板上，且CPLD控制硬盘背板的LED；所述CPLD包括解码器、数据选择器和寄存器，所述数据选择器的输入端和输出端均设有解码器；所述数据选择器包括第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径，第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径分别对应特定的LED控制状态；所述CPLD还包括对外接口，所述对外接口连接解码器；所述对外接口连接外部控制器。

2.根据权利要求1所述的硬盘背板LED无硬盘测试装置，其特征在于，所述外部控制器为指拨开关。

3.根据权利要求1或2所述的硬盘背板LED无硬盘测试装置，其特征在于，所述对外接口通过I2C总线连接BMC。

4.根据权利要求3所述的硬盘背板LED无硬盘测试装置，其特征在于，所述对外接口对接通用异步收发传输器，所述通用异步收发传输器连接外部控制终端。

5.根据权利要求1所述的硬盘背板LED无硬盘测试装置，其特征在于，所述解码器包括第一子解码器和第二子解码器，所述数据选择器包括第一控制路径和第二控制路径；所述第一控制路径连接CPU VPP接口，第二控制路径连接PCH的SGPIO接口；所述第一子解码器连接数据选择器的输入端，第二子解码器连接数据选择器的输出端。

6.一种硬盘背板LED无硬盘测试方法，其特征在于，所述方法包括：

通过设置指拨开关将CPLD的数据选择器实际路径切换至目标测试路径，所述目标测试路径为第一测试路径、第二测试路径和第三测试路径中的任一种；

通过将数据选择器的实际路径切换至目标测试路径，控制LED执行目标测试路径对应的控制状态；

检验LED的实际状态是否与目标测试路径对应的控制状态一致，若是则判定硬盘背板LED通过测试。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，通过设置指拨开关将CPLD的数据选择器实际路径切换至目标测试路径，包括：

指拨开关将设置的开关位发送至CPLD解码器；

解码器对接收的开关位进行信号转换后将转换后的开关位信号发送至数据选择器；

数据选择器将实际路径切换至转换后的开关位信号对应的目标测试路径。

8.根据权利要求6所述的硬盘背板LED无硬盘测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

BMC将目标测试路径写入CPLD的寄存器；

CPLD根据寄存器内写入的目标测试路径将数据选择器的实际路径切换至目标测试路径。

9.根据权利要求6所述的硬盘背板LED无硬盘测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

通过通用异步收发传输器向CPLD的寄存器写入目标测试路径；

CPLD根据寄存器内写入的目标测试路径将数据选择器的实际路径切换至目标测试路径。

10.根据权利要求6所述的硬盘背板LED无硬盘测试方法，其特征在于，所述方法还包括：

设置循环测试次数，根据循环测试次数循环切换目标测试路径执行测试，直至测试次数达到所述循环测试次数。

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