CN113595628A - 光器件测试方法以及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及光器件测试技术领域，提供了一种光器件测试方法，包括如下步骤：S1，将光器件的电路拓展到测试板上；S2，采用夹具将光器件固定，使光器件的FPC与测试板的焊盘对准夹好，完成上电；S3，接好测试板和误码仪，并采用误码仪配置交流调制信号，连接好测试设备，点击PC电脑开始测试。还提供一种光器件测试系统，包括用于配置交流调制信号的误码仪、集成有光器件的电路的测试板以及用于锁定光器件以完成测试板的上电的夹具，误码仪与测试板连接。本发明采用误码仪配置交流调制信号，在调制信号下进行测试，突破了原有的直流测试系统的限制，使得测试结果非常准确，光模块制程前端对光器件进行甄别和挑选可以节约成本、提高良率。
Description
技术领域
本发明涉及光器件测试技术领域，具体为一种光器件测试方法以及系统。
背景技术
传统光器件开发过程中不能进行调制信号下的相关测试，这会导致光功率、消光比、波长的测量结果均不够准确，只能作为一个大致的参考，与光器件在光模块上使用时的性能有较大出入，使得不能在光模块生产前端对光器件的性能做出一个很准确的甄别和挑选；另外传统光器件测试时需要进行模块排产测试，造成了资源浪费，操作效率低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种光器件测试方法以及系统，至少可以解决现有技术中的部分缺陷。
为实现上述目的，本发明实施例提供如下技术方案：一种光器件测试方法，包括如下步骤：
S1，将光器件的电路拓展到测试板上；
S2，采用夹具将所述光器件固定，使光器件的FPC与所述测试板的焊盘对准夹好，完成上电；
S3，接好所述测试板和误码仪，并采用所述误码仪配置交流调制信号，连接好测试设备，点击PC电脑开始测试。
进一步，在夹具固定测试板前，先将所述测试板上的TX-disable拨码开关关闭，并在对准夹好后再打开所述TX-disable拨码开关。
进一步，采用一分四的光开关来控制不同种类的测试设备来测试光器件的激光器。
进一步，进行光功率测试时，所述测试设备采用功率计，将所述光开关的档位打至光功率计档与所述功率计导通，所述功率计与所述PC电脑连接。
进一步，进行消光比测试时，所述测试设备采用示波器，将所述光开关的档位打至示波器档与所述示波器导通，所述示波器与所述PC电脑连接。
进一步，进行波长测试时，所述测试设备采用波长计，将所述光开关的档位打至波长计档与所述波长计导通，所述波长计与所述PC电脑连接。
进一步，采用带功率监控的程控衰减器来测试光器件的探测器的灵敏度，所述误码仪内置光源，光源出光经过所述程控衰减器，再回到所述测试板上的ROSA端。
本发明实施例提供另一种技术方案：一种光器件测试系统，包括用于配置交流调制信号的误码仪、集成有光器件的电路的测试板以及用于锁定光器件以完成所述测试板的上电的夹具，所述误码仪与所述测试板连接。
进一步，还包括用于固定CCD相机的架体，所述CCD相机将所述测试板的焊盘部分显示至显示屏上。
进一步，还包括用于使光器件的FPC与所述测试板上的焊盘对准的旋钮组件。
与现有技术相比，本发明的有益效果是：
1、采用误码仪配置交流调制信号，在调制信号下进行测试，突破了原有的直流测试系统的限制，使得测试结果非常准确，光模块制程前端对光器件进行甄别和挑选可以节约成本、提高良率。
2、先将所述测试板上的TX-disable拨码开关关闭，可以将激光器的发射关断，在器件成功上电后打开，这样可以避免瞬间上电将器件损坏。
3、通过旋钮组件可以使得本系统兼具激光器和探测器的检测。
附图说明
图1为本发明实施例提供的一种光器件测试系统的夹具、CCD相机、架体以及旋钮组件的组装示意图；
图2为本发明实施例提供的一种光器件测试系统的测试原理示意图；
图3为图1的A处放大示意图；
附图标记中：1-底座；2-立柱；3-底板；4-固定块；5-限位块；6-推杆；7-压杆；8-下板；9-轴套；10-光轴；11-安装座；12-上杆；13-顶杆；14-旋钮；15-锁紧件；16-CCD相机；17-万向支架。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一：
请参阅图1和图2，本发明实施例提供一种光器件测试方法，包括如下步骤：S1，将光器件的电路拓展到测试板上；S2，采用夹具将所述测试板固定，使光器件的FPC与所述测试板的焊盘对准夹好，完成上电；S3，接好所述测试板和误码仪，并采用所述误码仪配置交流调制信号，连接好测试设备，点击PC电脑开始测试。在本实施例中，采用误码仪配置交流调制信号，在调制信号下进行测试，突破了原有的直流测试系统的限制，使得测试结果非常准确，光模块制程前端对光器件进行甄别和挑选可以节约成本、提高良率。具体地，光器件的电路拓展到测试板上，测试板上即可具有TOSA(激光器)端和ROSA(探测器)端，通过本系统即可测试激光器和探测器。为了稳定地测试以及上电，采用夹具将光器件固定，测试板上的焊盘与光器件FPC(柔性电路板)对接即可完成上电，然后通过误码仪配置交流调制信号，即可开始测试，点击开始测试，自动化测试系统会按照录入的测试规范载入初始值，按照测试序列调测出最优的测试值。优选的，当调试完毕后，所有调制参数恢复为默认值，如此可以防止偏流加得太高，上电的瞬间或未夹好的时候将器件击伤。
作为本发明实施例的优化方案，请参阅图1和图2，在夹具固定测试板前，先将所述测试板上的TX-disable拨码开关关闭，并在对准夹好后再打开所述TX-disable拨码开关。在本实施例中，先将所述测试板上的TX-disable拨码开关关闭，可以将激光器的发射关断，在器件成功上电后打开，这样可以避免瞬间上电将器件损坏。
作为本发明实施例的优化方案，请参阅图1和图2，采用一分四的光开关来控制不同种类的测试设备来测试光器件的激光器。在本实施例中，光开关可以用来调到不同的测试设备档位，具体的测试设备包括功率计、示波器、波长计，当需要测试其他数据时，更换成对应的设备即可，非常灵活，便于后期扩展，各器件均可以通过电路与光开关连接。
进一步优化上述方案，请参阅图2，进行光功率测试时，所述测试设备采用功率计，将所述光开关的档位打至光功率计档与所述功率计导通，所述功率计与所述PC电脑连接。在本实施例中，在进行光功率测试时，TEC温度点、偏置电流、EA均可以在设定好的规范范围内调试，通过光功率计软件可以自动读出测量值并盘盾构光功率是否符合要求。而传统直流测试中，在进行光功率测试时，由探测器设备给定TEC温度点、偏置电流、EA＝0V，同时光探测器设备测量此时的光功率，这种测试方式的测量结果不够准确，只能作为一个大致的参考，与光器件在光模块上使用时的性能有较大的出入。
作为本发明实施例的优化方案，请参阅图2，进行消光比测试时，所述测试设备采用示波器，将所述光开关的档位打至示波器档与所述示波器导通，所述示波器与所述PC电脑连接。在本实施例中，在进行消光比测试时，由于可以带调制信号调试，所以可以直接通过示波器测量出最优眼图，从眼图测试中我们不止可以准确地测量消光比，还可以测量眼图margin、交叉点、上升下降时间、抖动等参数。而在传统的直流测试系统中，同样由光探测器设备分别在同一TEC温度点、偏置电流的情况下，EA分别设置为0V、-0.7V，得出两种参数下的光功率，再由消光比计算公式得出直流理论消光比值，其无法测试眼图。
作为本发明实施例的优化方案，请参阅图2，进行波长测试时，所述测试设备采用波长计，将所述光开关的档位打至波长计档与所述波长计导通，所述波长计与所述PC电脑连接。在本实施例中，在进行波长测试时，不单可以测量波长，还可以在逻辑中加入自动判别波长通道、TDM光器件，即可挑选出DWDM通道。而传统的直流测试系统中，其由特定电源设备给定TEC温度点、偏置电流、EA＝0V，波长计测量波长，这种测试方式的测量结果也是不够准确，只能作为一个大致的参考，与光器件在光模块上使用时的性能有较大的出入。
作为本发明实施例的优化方案，请参阅图1和图2，采用带功率监控的程控衰减器来测试光器件的探测器的灵敏度，所述误码仪内置光源，光源出光经过所述程控衰减器，再回到所述测试板上的ROSA端。在本实施例中，本系统除了可以测量激光器以外，还可以测量探测器，探测器可以用于灵敏度、传纤灵敏度的测试。采用的误码仪为16G误码仪，其内置光源。
实施例二：
请参阅图1和图2，本发明实施例提供一种光器件测试系统，包括用于配置交流调制信号的误码仪、集成有光器件的电路的测试板以及用于锁定所述测试板以完成所述测试板的上电的夹具，所述误码仪与所述测试板连接。在本实施例中，采用误码仪配置交流调制信号，在调制信号下进行测试，突破了原有的直流测试系统的限制，使得测试结果非常准确，光模块制程前端对光器件进行甄别和挑选可以节约成本、提高良率。具体地，光器件的电路拓展到测试板上，测试板上即可具有TOSA(激光器)端和ROSA(探测器)端，通过本系统即可测试激光器和探测器。为了稳定地测试以及上电，采用夹具将光器件固定，测试板上的焊盘与光器件FPC(柔性电路板)对接即可完成上电，然后通过误码仪配置交流调制信号，即可开始测试，点击开始测试，自动化测试系统会按照录入的测试规范载入初始值，按照测试序列调测出最优的测试值。优选的，当调试完毕后，所有调制参数恢复为默认值，如此可以防止偏流加得太高，上电的瞬间或未夹好的时候将器件击伤。
作为本发明实施例的优化方案，请参阅图1和图3，细化上述的夹具，夹具包括固定块4、限位块5以及推杆6，在使用时，推动推杆6可以挪动限位块5，将光器件卡在固定块4上，优选的，推杆6上设有弹簧，在光器件放好后松手即可回弹固定住器件。优选的，本系统还包括用于固定测试板的底板3，该底板3设于所述夹具的上方，且所述测试板固定在底板3朝向所述夹具的面上。测试板放平后，四个角上的螺丝旋紧，将测试板固定在夹具上。
作为本发明实施例的优化方案，请参阅图1和图3，本系统还包括用于固定CCD相机16的架体，所述CCD相机16将所述测试板的焊盘部分显示至显示屏上。还包括用于使光器件的FPC与所述测试板上的焊盘对准的旋钮14组件。在本实施例中，CCD相机16可以将测试板的焊盘部分显示到显示屏上，方便工作人员观测。所述架体包括底座1、设于所述底座1上的两个下板8以及分别立设于两个所述下板8上的光轴10，两根光轴10支撑住安装座11，敷设在立柱2上，旋钮14组件安装在安装座11上，上杆12和安装座11之间具有轴套9。CCD相机16通过万向支架17固定在底座1上，并通过锁紧件15锁定调整好角度的CCD相机16。CCD相机16与PC电脑通讯接好，即可通过显示屏上的高清显示来控制测试板的微调，优选的控制测试板可以通过微调平台来前后左右挪动以调整准确位置。底板3通过支撑架架设在底座1上，光器件以及固定光器件的夹具位于所述支撑架中。旋钮14组件包括压杆7、顶杆13以及旋钮14，所述压杆7按压在底板3上，通过旋钮14组件按压底板3使得底板3上的测试板的焊盘与光器件的FPC对接，此操作即模拟了焊接过程，对准旋紧后打开拨码开关，在上位机界面点击开始即可开始测试。而且，当需要从激光器准换成探测器的灵敏度检测时，只要将旋钮14和顶杆13平移挪至测试板的探测器的焊盘处，重复激光器的操作即可。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本发明的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由所附权利要求及其等同物限定。
Claims (10)
1.一种光器件测试方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1，将光器件的电路拓展到测试板上；
S2，采用夹具将所述光器件固定，使光器件的FPC与所述测试板的焊盘对准夹好，完成上电；
S3，接好所述测试板和误码仪，并采用所述误码仪配置交流调制信号，连接好测试设备，点击PC电脑开始测试。
2.如权利要求1所述的光器件测试方法，其特征在于：在夹具固定测试板前，先将所述测试板上的TX-disable拨码开关关闭，并在对准夹好后再打开所述TX-disable拨码开关。
3.如权利要求1所述的光器件测试方法，其特征在于：采用一分四的光开关来控制不同种类的测试设备来测试光器件的激光器。
4.如权利要求3所述的光器件测试方法，其特征在于：进行光功率测试时，所述测试设备采用功率计，将所述光开关的档位打至光功率计档与所述功率计导通，所述功率计与所述PC电脑连接。
5.如权利要求3所述的光器件测试方法，其特征在于：进行消光比测试时，所述测试设备采用示波器，将所述光开关的档位打至示波器档与所述示波器导通，所述示波器与所述PC电脑连接。
6.如权利要求3所述的光器件测试方法，其特征在于：进行波长测试时，所述测试设备采用波长计，将所述光开关的档位打至波长计档与所述波长计导通，所述波长计与所述PC电脑连接。
7.如权利要求1所述的光器件测试方法，其特征在于：采用带功率监控的程控衰减器来测试光器件的探测器的灵敏度，所述误码仪内置光源，光源出光经过所述程控衰减器，再回到所述测试板上的ROSA端。
8.一种光器件测试系统，其特征在于：包括用于配置交流调制信号的误码仪、集成有光器件的电路的测试板以及用于锁定光器件以完成所述测试板的上电的夹具，所述误码仪与所述测试板连接。
9.如权利要求8所述的光器件测试系统，其特征在于：还包括用于固定CCD相机的架体，所述CCD相机将所述测试板的焊盘部分显示至显示屏上。
10.如权利要求8所述的光器件测试系统，其特征在于：还包括用于使光器件的FPC与所述测试板上的焊盘对准的旋钮组件。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
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| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
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Application publication date: 20211102 |