CN113589746A - 一种ict及fct测试控制器 - Google Patents

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CN113589746A CN202111033754.3A CN202111033754A CN113589746A CN 113589746 A CN113589746 A CN 113589746A CN 202111033754 A CN202111033754 A CN 202111033754A CN 113589746 A CN113589746 A CN 113589746A
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程炜
韩雪涛
谭道
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    • G—PHYSICS
    • G05—CONTROLLING; REGULATING
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Abstract

本发明提供了一种ICT及FCT测试控制器，属于电子设计技术领域。本发明包括ICT及FCT测试控制板和外壳，ICT及FCT测试控制板包括单片机电路、电源电路、恒压恒流源电路、ADC采样电路、DAC输出电路、电容电感采样电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和校准电路。本发明体积小，测量精度高，可以实现对线充的任意调整，自带校准电路，每隔预设时间段，通过与校准电路连接的外部校准板，对所述ICT及FCT测试控制器进行校准。

Description

一种ICT及FCT测试控制器
技术领域
本发明涉及电子设计技术领域，尤其涉及一种ICT及FCT测试控制器。
背景技术
目前很多设备为满足PCBA的测试，会对PCBA上的电子元器件进行相关测试，测试一一般包括ICT测试和FCT测试，ICT(InCircuitTest)测试又称在线测试，可测试PCBA上已焊接的电阻、电容、电感、二极管、三极管、运算放大器及数字器件。FCT(FunctionalCircuitTest)测试又称功能测试，指的是对测试目标板PCBA提供模拟的运行环境，使其工作于各种设计状态，从而获取到各个状态的参数来验证PCBA的功能好坏的测试方法。即对PCBA加载合适的激励信号，测量输出端响应是否符合要求，以检测PCBA生产质量的好坏。
因此，为了满足PCBA的测试，需要一款ICT测试与FCT测试设备。目前存在的集成ICT测试及FCT测试的设备，大多体积较大，测量精度不高，不能满足一些需要高精度且随带随走的场合。
在中国专利文献CN103033738B中，公开了一种电路板全自动测试系统，包括中央处理器、用于安装被测电路板的测试治具、对被测电路板进行元件级测试的ICT电路板、对被测电路板进行板级测试的FCT电路板，以及实现元件级测试和板级测试之间转换的开关板；中央处理器包括输入系统参数的输入单元、控制整个系统运行的控制单元、整合测试数据并输出最终结果的数据转换输出单元，控制单元分别与输入单元、数据转换输出单元连接；开关板的一端与测试治具连接，ICT电路板的一端、FCT电路板的一端分别与开关板的另一端连接；中央处理器的控制单元分别与开关板的另一端、ICT电路板的另一端、FCT电路板的另一端连接；开关板包括隔离开关矩阵电路，隔离开关矩阵电路包括矩阵阵列芯片和继电器；矩阵阵列芯片的一端分别与ICT电路板的一端、FCT电路板的一端连接，矩阵阵列芯片的另一端与继电器的一端连接，继电器的另一端与测试治具连接；ICT电路板包括产生测试所需的恒压源和恒流源的DC信号板、产生测试所需的波形和相位的AC信号板、以及进行元件级测试控制的ICT控制器，ICT控制器分别与DC信号板、AC信号板连接；DC信号板、AC信号板分别与矩阵阵列芯片的一端连接；ICT控制器与中央处理器的控制单元连接；AC信号板与ICT控制器之间设有采样电路。FCT电路板包括采集板级测试所需信号的数据采集单元、对被测电路板进行板级测试的波形信号测试单元、以及进行板级测试控制的FCT控制器；FCT控制器分别与数据采集单元、波形信号测试单元连接；波形信号测试单元还与数据采集单元连接；数据采集单元与矩阵阵列芯片的一端连接；FCT控制器与中央处理器的控制单元连接。该电路板全自动测试系统中不包括AC信号板，不能测交流信号，没有矩阵阵列，且只能测24V以下的低压。
现有技术至少存在以下不足：
1.集成ICT测试及FCT测试的设备，大多体积较大，无法随身携带，测量精度不高。
2.不能测交流信号，只能测低压。
发明内容
为解决现有技术中存在的技术问题，本发明提供了一种ICT及FCT测试控制器，包括ICT及FCT测试控制板和外壳，ICT及FCT测试控制板包括单片机电路、电源电路、恒压恒流源电路、ADC采样电路、DAC输出电路、电容电感采样电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和校准电路，其中，恒压恒流源电路包括电压控制电路和电流控制电路，实现了过流保护，单片机电路对采样的数据进行傅利叶算法处理，每隔预设时间段，通过外部校准板对所述ICT及FCT测试控制器进行校准，接口电路包括继电器及HDMI连接器，可以实现对线充的任意调整。本发明的ICT及FCT测试控制器体积小，测量精度高，可以实现对线充的任意调整，自带校准电路，每隔预设时间段，通过与校准电路连接的外部校准板，对所述ICT及FCT测试控制器进行校准。
本发明提供了一种ICT及FCT测试控制器，包括：
ICT及FCT测试控制板和外壳；具有过流保护功能；
ICT及FCT测试控制板包括单片机电路、电源电路、恒压恒流源电路、ADC采样电路、DAC输出电路、电容电感采样电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和校准电路；
电源电路与单片机电路、DAC输出电路和恒压恒流源电路连接；
恒压恒流源电路与ELOAD负载电路、电容电感采样电路和ADC采样电路连接；
恒压恒流电路包括电压控制电路和电流控制电路，具有过流保护功能；
校准电路连接ADC采样电路；ADC采样电路与单片机电路连接；
DAC输出电路连接恒压恒流电路，待测电容电感接入电容电感采样电路；
单片机电路分别与DAC输出电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和电容电感采样电路连接，通过发送接收命令，进行数据交换，控制IO扩展电路、存储电路和校准电路，对ADC采样电路采样数据进行分析和存储；
单片机电路包括MCU最小系统、时钟电路和复位电路；
待测电流电压信号接入ADC采样电路，待拉负载接入ELOAD电路；将ADC采集电路和恒压恒流源电路封装在所述外壳内。
优选地，恒压恒流电路输出最大电压为10V，最大电流为100mA；
恒压恒流电路通过DAC输出电路输出两路信号，一路为电压控制电路，一路为电流控制电路；
恒压恒流电路的电压控制电路包括同向放大器和推挽电路；
恒压恒流电路的电流控制电路包括精密差分放大器和采样电阻，当供电电流大于负载所需的电流时，进入恒压状态，当供电电流小于负载所需的电流时，进入恒流状态。
优选地，信号输入ICT及FCT测试控制器后，先经过无源滤波电路进行滤波，然后输入到仪表放大，最后通过一个1:1的反向器将单端信号转换为差分输出，再进入ADC采样电路。
优选地，所述ADC采样电路，包括4路同步采样的24bit的ADC电路、滤波电路及运放电路；
所述DAC输出电路包括16bit的DAC电路及运放跟随电路。
优选地，所述ELOAD负载电路包括DAC电路、差分放大器和比较器。
优选地，所述校准电路包括基准IC电路、模拟开关和ADC采样，校准电路中的电阻的精度为0.01％，电容的精度为5％。
优选地，所述ICT及FCT测试控制器通过HDMI线连接被测产品，所述ICT及FCT测试控制器中的单片机电路通过USB线连接电脑或串口屏。
优选地，每隔预设时间段，通过与校准电路连接的外部校准板，对所述ICT及FCT测试控制器进行校准。
优选地，所述电源电路输入电源为DC12V，再通过电源管理芯片输出+5V、+3.3V、+/-2.5V、及+/-12V电压。
优选地，所述电容电感采样电路包括555定时器，所述IO扩展电路包括CAT9555；所述接口电路包括继电器及HDMI连接器；所述存储电路包括eMMC卡存储电路。
优选地，运放电路技术参数包括：双路供电，电压大于+/-12V；输入偏致电流小于50Pa；输入失调电压小于1.5Mv；输入阻抗大于10G。
优选地，所述差分放大器采用INA133差分放大器。
优选地，单片机电路对ADC采样电路采样的数据进行傅利叶算法处理。
与现有技术相对比，本发明的有益效果如下：
1.本发明中的恒压恒流电路包括电压控制电路和电流控制电路，其输出最大电压为10V，最大电流为100mA，具有过流保护功能。
2.本发明中的ADC采集电路和恒压恒流源电路封装在外壳内，进行屏蔽，防止周围环境对测量的干扰。
3.本发明的ICT及FCT测试控制器尺寸仅为109mm*100mm*20mm，体积小，且由于采用了32bitADC采样电路，24bit DAC输出电路，测量精度高。
4.本发明通过设置恒压恒流电路的电压电流，电容电感的采样频率，可以实现对电阻、电容、电感、二极管、三极管及MOS管的开短路进行测试，同时，通过提供I2C、I2S及SPI信号对被测产品进行FCT测试。
附图说明
图1是本发明的一个实施例的电路示意图；
图2a是本发明的一个实施例的恒压恒流电路示意图；
图2b是本发明的一个实施例的恒压恒流电路原理示意图；
图3a是本发明的一个实施例的单片机电路示意图；
图3b是本发明的一个实施例的单片机电路原理示意图；
图4a是本发明的一个实施例的ADC采样电路示意图；
图4b是本发明的一个实施例的ADC采样电路原理示意图；
图5a是本发明的一个实施例的DAC输出电路示意图；
图5b是本发明的一个实施例的DAC输出电路原理示意图；
图6a是本发明的一个实施例的ELOAD负载电路示意图；
图6b是本发明的一个实施例的ELOAD负载电路原理示意图；
图7a是本发明的一个实施例的校准电路示意图；
图7b是本发明的一个实施例的校准电路原理示意图；
图8a是本发明的一个实施例的电容电感采样电路示意图；
图8b是本发明的一个实施例的电容电感采样电路原理示意图；
图9是本发明的一个实施例的电阻测量示意图；
图10是本发明的一个实施例的二极管测量示意图；
图11是本发明的一个实施例的三极管测量示意图；
具体实施方式
下面结合附图，对本发明的具体实施方式作详细的说明。
本发明提供了一种ICT及FCT测试控制器，包括：ICT及FCT测试控制板和外壳；具有过流保护功能；
ICT及FCT测试控制板包括单片机电路、电源电路、恒压恒流源电路、ADC采样电路、DAC输出电路、电容电感采样电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和校准电路；
电源电路与单片机电路、DAC输出电路和恒压恒流源电路连接；
恒压恒流源电路与ELOAD负载电路、电容电感采样电路和ADC采样电路连接；
恒压恒流电路包括电压控制电路和电流控制电路，具有过流保护功能；
校准电路连接ADC采样电路；ADC采样电路与单片机电路连接；
DAC输出电路连接恒压恒流电路，待测电容电感接入电容电感采样电路；
单片机电路分别与DAC输出电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和电容电感采样电路连接，通过发送接收命令，进行数据交换，控制IO扩展电路、存储电路和校准电路，对ADC采样电路采样数据进行分析和存储；
单片机电路包括MCU最小系统、时钟电路和复位电路；
待测电流电压信号接入ADC采样电路，待拉负载接入ELOAD电路；将ADC采集电路和恒压恒流源电路封装在所述外壳内。对于ADC测量，因为有些小信号会受到空气中电磁干扰，50HZ工频干扰，为了减少这些外来干扰，设计了屏蔽罩来减少这些影响。
根据本发明的一个具体实施方案，恒压恒流电路输出最大电压为10V，最大电流为100mA；
恒压恒流电路通过DAC输出电路输出两路信号，一路为电压控制电路，一路为电流控制电路；
恒压恒流电路的电压控制电路包括同向放大器和推挽电路；
恒压恒流电路的电流控制电路包括精密差分放大器和采样电阻，当供电电流大于负载所需的电流时，进入恒压状态，当供电电流小于负载所需的电流时，进入恒流状态。
根据本发明的一个具体实施方案，信号输入ICT及FCT测试控制器后，先经过无源滤波电路进行滤波，然后输入到仪表放大，最后通过一个1:1的反向器将单端信号转换为差分输出，再进入ADC采样电路。
根据本发明的一个具体实施方案，所述ADC采样电路，包括4路同步采样的24bit的ADC电路、滤波电路及运放电路；
所述DAC输出电路包括16bit的DAC电路及运放跟随电路。
根据本发明的一个具体实施方案，所述ELOAD负载电路包括DAC电路、差分放大器和比较器。
根据本发明的一个具体实施方案，所述校准电路包括基准IC电路、模拟开关和ADC采样，校准电路中的电阻的精度为0.01％，电容的精度为5％。
根据本发明的一个具体实施方案，所述ICT及FCT测试控制器通过HDMI线连接被测产品，所述ICT及FCT测试控制器中的单片机电路通过USB线连接电脑或串口屏。
根据本发明的一个具体实施方案，每隔预设时间段，通过与校准电路连接的外部校准板，对所述ICT及FCT测试控制器进行校准。
根据本发明的一个具体实施方案，所述电源电路输入电源为DC12V，再通过电源管理芯片输出+5V、+3.3V、+/-2.5V、及+/-12V电压。
根据本发明的一个具体实施方案，所述电容电感采样电路包括555定时器，所述IO扩展电路包括CAT9555；所述接口电路包括继电器及HDMI连接器；所述存储电路包括eMMC卡存储电路。
根据本发明的一个具体实施方案，运放电路技术参数包括：双路供电，电压大于+/-12V；输入偏致电流小于50Pa；输入失调电压小于1.5Mv；输入阻抗大于10G。
根据本发明的一个具体实施方案，所述差分放大器采用INA133差分放大器。
根据本发明的一个具体实施方案，单片机电路对ADC采样电路采样的数据进行傅利叶算法处理。
实施例1
根据本发明的一个具体实施方案，结合附图，对本发明进行详细说明。
本发明提供了一种ICT及FCT测试控制器，包括：
ICT及FCT测试控制板和外壳；具有过流保护功能；
ICT及FCT测试控制板包括单片机电路、电源电路、恒压恒流源电路、ADC采样电路、DAC输出电路、电容电感采样电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和校准电路；
电源电路与单片机电路、DAC输出电路和恒压恒流源电路连接；
恒压恒流源电路与ELOAD负载电路、电容电感采样电路和ADC采样电路连接；
恒压恒流电路包括电压控制电路和电流控制电路，具有过流保护功能；
校准电路连接ADC采样电路；ADC采样电路与单片机电路连接；
DAC输出电路连接恒压恒流电路，待测电容电感接入电容电感采样电路；
单片机电路分别与DAC输出电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和电容电感采样电路连接，通过发送接收命令，进行数据交换，控制IO扩展电路、存储电路和校准电路，对ADC采样电路采样数据进行分析和存储；
单片机电路包括MCU最小系统、时钟电路和复位电路；
待测电流电压信号接入ADC采样电路，待拉负载接入ELOAD电路；将ADC采集电路和恒压恒流源电路封装在所述外壳内。
实施例2
根据本发明的一个具体实施方案，结合附图，对本发明进行详细说明。
本发明提供了一种ICT及FCT测试控制器，包括：
ICT及FCT测试控制板和外壳；具有过流保护功能；
ICT及FCT测试控制板包括单片机电路、电源电路、恒压恒流源电路、ADC采样电路、DAC输出电路、电容电感采样电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和校准电路；
电源电路与单片机电路、DAC输出电路和恒压恒流源电路连接；
恒压恒流源电路与ELOAD负载电路、电容电感采样电路和ADC采样电路连接；
恒压恒流电路包括电压控制电路和电流控制电路，具有过流保护功能；恒压恒流电路输出最大电压为10V，最大电流为100mA；
恒压恒流电路通过DAC输出电路输出两路信号，一路为电压控制电路，一路为电流控制电路；
恒压恒流电路的电压控制电路包括同向放大器和推挽电路；
恒压恒流电路的电流控制电路包括精密差分放大器和采样电阻，当供电电流大于负载所需的电流时，进入恒压状态，当供电电流小于负载所需的电流时，进入恒流状态；所述差分放大器采用INA133差分放大器；
校准电路连接ADC采样电路；ADC采样电路与单片机电路连接；
DAC输出电路连接恒压恒流电路，待测电容电感接入电容电感采样电路；
单片机电路分别与DAC输出电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和电容电感采样电路连接，通过发送接收命令，进行数据交换，控制IO扩展电路、存储电路和校准电路，对ADC采样电路采样数据进行傅利叶算法处理分析和存储；
单片机电路包括MCU最小系统、时钟电路和复位电路；
所述ADC采样电路，包括4路同步采样的24bit的ADC电路、滤波电路及运放电路；信号输入ICT及FCT测试控制器后，先经过无源滤波电路进行滤波，然后输入到仪表放大，最后通过一个1:1的反向器将单端信号转换为差分输出，再进入ADC采样电路；
所述DAC输出电路包括16bit的DAC电路及运放跟随电路；
所述ELOAD负载电路包括DAC电路、差分放大器和比较器；
所述校准电路包括基准IC电路、模拟开关和ADC采样，校准电路中的电阻的精度为0.01％，电容的精度为5％；每隔预设时间段，通过与校准电路连接的外部校准板，对所述ICT及FCT测试控制器进行校准；
所述电容电感采样电路包括555定时器，所述IO扩展电路包括CAT9555；所述接口电路包括继电器及HDMI连接器；所述存储电路包括eMMC卡存储电路；
待测电流电压信号接入ADC采样电路，待拉负载接入ELOAD电路；将ADC采集电路和恒压恒流源电路封装在所述外壳内；
所述电源电路输入电源为DC12V，再通过电源管理芯片输出+5V、+3.3V、+/-2.5V、及+/-12V电压；
所述ICT及FCT测试控制器通过HDMI线连接被测产品，所述ICT及FCT测试控制器中的单片机电路通过USB线连接电脑或串口屏；
所有运放电路相同，运放电路技术参数包括：双路供电，电压大于+/-12V；输入偏致电流小于50Pa；输入失调电压小于1.5Mv；输入阻抗大于10G。
实施例3
根据本发明的一个具体实施方案，下面对本发明的工作原理进行详细说明。
工作原理：
恒压恒流源电路可以提供恒定的电流及电压，可以用来测试电阻，二极管，三极管，电容电感采样电路利用555振荡，使待测电容电感产生振荡频率，通过MCU采样出频率，最后通过公式可以计算出电容电感值，电压电流可通过板自带的32bitADC进行采集，板子集成有IIC、IIS、SPI协议，可以对带有IIC、IIS、SPI的芯片进行功能测试。
电阻测量原理：如图9所示，恒压恒流源电路提供恒定的电流，经过电阻，产生电压，利用R＝V/C，计算出电阻。
二极管测量原理：如图10所示，恒压恒流源提供1mA电流加载在二极管上，量测出电压则是二极管的导通电压。
电容测量原理：利用固定电阻跟行测电容，用555电路产生振荡，频率接入MCU进行采集，利用公式CX＝1/(ln2*F(R1+2R2))，则可以算出电容容值。
电感测量原理：产生振荡频率，通过分频，接入MCU采集，最后利用公式LX＝R1/(2*ln2*F*D)，则可以算出电感的电感值。
IIC、SPI、IIS完全是由软件控制，单片机集成这些通迅协议的命令，最后需根据待测DUT的实际功能做相应命令的下发。
三极管测量原理：如图11所示，利用两个恒压恒流源电路，一路接入b极，一路接入c极，通过分别测量b跟c级的电流，可以算出三极管的放大倍数。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种ICT及FCT测试控制器，其特征在于，包括：
ICT及FCT测试控制板和外壳；具有过流保护功能；
ICT及FCT测试控制板包括单片机电路、电源电路、恒压恒流源电路、ADC采样电路、DAC输出电路、电容电感采样电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和校准电路；
电源电路与单片机电路、DAC输出电路和恒压恒流源电路连接；
恒压恒流源电路与ELOAD负载电路、电容电感采样电路和ADC采样电路连接；
恒压恒流电路包括电压控制电路和电流控制电路，具有过流保护功能；
校准电路连接ADC采样电路；ADC采样电路与单片机电路连接；
DAC输出电路连接恒压恒流电路，待测电容电感接入电容电感采样电路；
单片机电路分别与DAC输出电路、ELOAD负载电路、IO扩展电路、接口电路、存储电路和电容电感采样电路连接，通过发送接收命令，进行数据交换，控制IO扩展电路、存储电路和校准电路，对ADC采样电路采样数据进行分析和存储；
单片机电路包括MCU最小系统、时钟电路和复位电路；
待测电流电压信号接入ADC采样电路，待拉负载接入ELOAD电路；将ADC采集电路和恒压恒流源电路封装在所述外壳内。
2.根据权利要求1所述的ICT及FCT测试控制器，其特征在于，恒压恒流电路输出最大电压为10V，最大电流为100mA；
恒压恒流电路通过DAC输出电路输出两路信号，一路为电压控制电路，一路为电流控制电路；
恒压恒流电路的电压控制电路包括同向放大器和推挽电路；
恒压恒流电路的电流控制电路包括精密差分放大器和采样电阻，当供电电流大于负载所需的电流时，进入恒压状态，当供电电流小于负载所需的电流时，进入恒流状态。
3.根据权利要求1所述的ICT及FCT测试控制器，其特征在于，所述ADC采样电路，包括4路同步采样的24bit的ADC电路、滤波电路及运放电路；
所述DAC输出电路包括16bit的DAC电路及运放跟随电路。
4.根据权利要求3所述的ICT及FCT测试控制器，其特征在于，信号输入ICT及FCT测试控制器后，先经过无源滤波电路进行滤波，然后输入到仪表放大，最后通过一个1:1的反向器将单端信号转换为差分输出，再进入ADC采样电路。
5.根据权利要求1所述的ICT及FCT测试控制器，其特征在于，
所述ELOAD负载电路包括DAC电路、差分放大器和比较器。
6.根据权利要求1所述的ICT及FCT测试控制器，其特征在于，
所述校准电路包括基准IC电路、模拟开关和ADC采样，校准电路中的电阻的精度为0.01％，电容的精度为5％。
7.根据权利要求1所述的ICT及FCT测试控制器，其特征在于，所述ICT及FCT测试控制器通过HDMI线连接被测产品，所述ICT及FCT测试控制器中的单片机电路通过USB线连接电脑或串口屏。
8.根据权利要求1所述的ICT及FCT测试控制器，其特征在于，每隔预设时间段，通过与校准电路连接的外部校准板，对所述ICT及FCT测试控制器进行校准。
9.根据权利要求1所述的ICT及FCT测试控制器，其特征在于，所述电源电路输入电源为DC12V，再通过电源管理芯片输出+5V、+3.3V、+/-2.5V、及+/-12V电压。
10.根据权利要求1所述的ICT及FCT测试控制器，其特征在于，所述电容电感采样电路包括555定时器，所述IO扩展电路包括CAT9555；所述接口电路包括继电器及HDMI连接器；所述存储电路包括eMMC卡存储电路。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN113985260A (zh) * 2021-12-06 2022-01-28 苏州奥特美自动化技术有限公司 一种fct多功能矩阵测试板卡

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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