CN113572576B - 采样数据校验方法、装置、继电保护装置和存储介质 - Google Patents

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CN113572576B CN202110809181.2A CN202110809181A CN113572576B CN 113572576 B CN113572576 B CN 113572576B CN 202110809181 A CN202110809181 A CN 202110809181A CN 113572576 B CN113572576 B CN 113572576B
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Abstract

本申请涉及一种采样数据校验方法、装置、计算机设备和存储介质。通过获取继电保护装置的采样报文数据，生成采样报文数据对应的采样报文复制数据；对采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；分别对第一冗余采样组数据和第二冗余采样组数据，进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；根据单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果，获取采样数据的校验结果。本申请通过单独校验、同组校验和异组校验，实现对整个采样回路更精确的监视，识别多种采样回路异常情况，做到及时反映采样回路异常，避免继电保护装置产生不正确动作行为。

Description

采样数据校验方法、装置、继电保护装置和存储介质
技术领域
本申请涉及电网配电领域，特别是涉及一种采样数据校验方法、装置、继电保护装置和存储介质。
背景技术
继电保护是对电力系统中发生的故障或异常情况进行检测，从而发出报警信号，或直接将故障部分隔离、切除的一种重要措施，而继电保护装置则是用于实现继电保护的一种设备。继电保护装置是电力系统中一个重要组成部分，当电力系统中的电力元件发生故障或者电力系统本身受到外界干扰时，继电保护装置应该向所控制断路器发出跳闸命令，阻止故障继续发展。
为了提高继电保护装置的可靠性，目前变电站多采用双冗余的设计方式来对继电保护装置的可靠性进行校验。然而对于双冗余的采样方式，目前的数据校验方式不能可靠地反映采样回路异常情况，存在有异常不告警的风险。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种更高准确地对继电保护装置的采样数据进行可靠性校验的采样数据校验方法、装置、设备和存储介质。
一种继电保护装置采样数据的校验方法，所述方法包括：
获取继电保护装置的采样报文数据，生成所述采样报文数据对应的采样报文复制数据；
对所述采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对所述采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；
对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；
根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果。
在其中一个实施例中，对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据，进行单独校验包括：
对所述第一冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第一单独校验结果，对所述第二冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第二单独校验结果；
根据所述第一单独校验结果以及所述第二单独校验结果，获取单独校验结果。
在其中一个实施例中，所述第一冗余采样组数据包括第一冗余采样数据以及第二冗余采样数据，所述第二冗余采样组数据包括第三冗余采样数据以及第四冗余采样数据；
对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据进行同组校验包括：
获取所述第一冗余采样数据与所述第二冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第一比例，根据所述第一比例获取第一同组校验结果；
获取所述第三冗余采样数据与所述第四冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第二比例，根据所述第二比例获取第二同组校验结果；
根据所述第一同组校验结果以及所述第二同组校验结果，获取同组校验结果。
在其中一个实施例中，所述第一冗余采样组数据包括第一冗余采样数据，所述第二冗余采样组数据包括第三冗余采样数据；
对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据，进行异组校验包括：
获取所述第一冗余采样数据内的第一有效值数据，以及所述第三冗余采样数据内的第三有效值数据；
获取所述第一有效值数据小于预设门槛值下限且第三有效值数据大于预设门槛值上限的第一持续时间，获取所述第一有效值数据大于预设门槛值上限且第三有效值数据小于预设门槛值下限的第二持续时间；
根据所述第一持续时间以及所述第二持续时间，获取异组校验结果。
在其中一个实施例中，所述根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果包括：
当所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果中任意校验结果出现异常时，确定所述采样数据的校验结果为采样回路异常。
在其中一个实施例中，所述根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果之后，还包括：
当所述采样数据的校验结果为采样回路异常时，获取异常采样数据；
根据所述异常采样数据定位异常采样通道的位置以及数量。
在其中一个实施例中，所述根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果之后，还包括：
当所述采样数据的校验结果为采样回路异常时，读取预设保护配置信息；
根据所述预设保护配置信息执行闭锁保护。
一种应用于继电保护装置的采样数据校验装置，所述采样数据校验装置包括：
报文数据复制模块，用于获取继电保护装置的采样报文数据，生成所述采样报文数据对应的采样报文复制数据；
数据采样模块，用于对所述采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对所述采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；
数据校验模块，用于对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；
校验结果获取模块，用于根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果。
一种继电保护装置，包括继电保护装置本体、处理器以及存储器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：
获取继电保护装置的采样报文数据，生成所述采样报文数据对应的采样报文复制数据；
对所述采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对所述采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；
对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；
根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果。
一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取继电保护装置的采样报文数据，生成所述采样报文数据对应的采样报文复制数据；
对所述采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对所述采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；
对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；
根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果。
上述采样数据校验方法、装置、计算机设备和存储介质，通过获取继电保护装置的采样报文数据，生成所述采样报文数据对应的采样报文复制数据；对所述采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对所述采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果。本申请通过获取继电保护装置的采样报文数据，而后将采样报文数据复制后，分别进行采样，得到第一冗余采样组数据以及第二冗余采样组数据，通过对第一冗余采样组数据以及第二冗余采样组数据进行单独校验、同组校验和异组校验，实现对整个采样回路更精确的监视，识别多种采样回路异常情况，做到及时反映采样回路异常，避免继电保护装置产生不正确动作行为。
附图说明
图1为一个实施例中采样数据校验方法的流程示意图；
图2为一个实施例中单独校验步骤的流程示意图；
图3为一个实施例中同组校验步骤的流程示意图；
图4为一个实施例中异组校验步骤的流程示意图；
图5为一个实施例中异常采样通道定位步骤的流程示意图；
图6为另一个实施例中采样数据校验方法的流程示意图；
图7为一个实施例中采样数据校验装置的结构框图；
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
在一个实施例中，如图1所示，提供了一种采样数据校验方法，本实施例以该方法应用于继电保护装置进行举例说明，可以理解的是，该方法也可以应用于服务器，还可以应用于包括继电保护装置和服务器的系统，并通过终端和服务器的交互实现。本实施例中，该方法包括以下步骤：
步骤102，获取继电保护装置的采样报文数据，生成采样报文数据对应的采样报文复制数据。
其中，报文(message)是网络中交换与传输的数据单元，也是网络传输的单元。报文包含了将要发送的完整的数据信息，其长短不需一致。报文在传输过程中会不断地封装成分组、包、帧来传输，封装的方式就是添加一些控制信息组成的首部，那些就是报文头。而采样报文数据即指SV(Sampled Value)报文，可以通过解析采样报文数据得到继电保护装置对应的采样值数据。一个采样报文数据内可以包含两个完全相同的采样报文。
具体地，本申请的采样数据校验方法用于对双冗余采样形式下的继电保护装置的采样数据进行校验，在双冗余采样的方式下，对单个继电保护装置而言，多采用双CPU运行的设计方式：采样模块获取数据后，复制生成采样数据1和采样数据2，分别传递给CPU1和CPU2，CPU1只对采样数据1进行分析计算， CPU2只对采样数据2进行分析计算，对CPU1和CPU2的计算结果进行“与”处理，只有当两个CPU判断结果都为故障时，装置才发出跳闸命令。而对于这种采样校验的方式，当采样模块和CPU之间的硬件通道发生损坏或者其它故障时，可能导致采样数据1和采样数据2有差异，进而导致CPU1和CPU2接收的采样数据有差异，最终影响CPU的计算处理结果。因此需要对CPU1和CPU2 接收到的采样数据进行校验，如果CPU1和CPU2接收到采样数据差异超过门槛值，即认为继电保护装置采样数据异常，通过配置可选择发出告警信号或者闭锁保护功能。因此，可以考虑通过本申请的采样数据校验方法，来对继电保护装置的采样数据进行校验，以保证其有效性。首先可以取得SV报文，通过将SV 报文复制来进行分组校验。具体地，继电保护装置可以包括主FPGA(FieldProgrammable Gate Array，现场可编程逻辑门阵列)模块和从FPGA模块，继电保护装置可以在获取继电保护装置的采样报文数据后，通过主FPGA模块将采样报文数据进行完全复制后传递给从FPGA模块。
步骤104，对采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据。
其中，由于采样报文数据包括两个完全相同的采样报文，因此第一冗余采样组数据具体可以包括两个完全相同的采样数据，第二冗余采样组数据同样也包括两个完全相同的采样数据。
具体地，继电保护装置具体还包括主从SV模块，用于对采样报文数据采样处理，得到处理后的采样数据。此外继电保护装置还包括了CPU1以及CPU2，用于执行具体地采样数据校验逻辑。主从FPGA模块对SV报文进行处理后，分别发送给主从SV模块，主FPGA模块只给主SV模块发送报文，从FPGA模块只给从SV模块发送报文。而后可以通过主SV模块对采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，第一冗余采样组数据内可以包含两个完全相同的采样数据，每个采样数据内包含有若干的采样值，而后第一冗余采样组数据被发送至CPU1进行校验。同样地，从SV模块则对采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据，第二冗余采样组数据内同样包含两个完全相同的采样数据。而后第二冗余采样组数据被发送至CPU2进行校验。
步骤106，对第一冗余采样组数据和第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果。
步骤108，根据单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果，获取采样数据的校验结果。
其中，单独校验是指对第一冗余采样组数据和第二冗余采样组数据内的单个采样数据进行校验。同组校验则是指根据第一冗余采样组数据内的两个采样数据进行数据校验，根据第二冗余采样组数据内的两个采样数据进行数据校验。异组校验则是指根据第一冗余采样组数据内的单个采样数据以及第二冗余采样组数据内的单个采样数据进行数据校验。而根据单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果，获取采样数据的校验结果，具体可以是当单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果内的数据出现异常时，确定采样数据对应的采样回路存在异常。
具体地，本申请的方案通过将采样数据分组后，通过不同校验方式的结合来对采样数据是否异常进行校验，而校验的方式具体包括单独校验、同组校验和异组校验。可以通过CPU1和CPU2分别进行单独校验和同组校验，而后结合两个 CPU1与CPU2来进行异组校验，而后通过三个校验的校验结果，获取最终的采样数据校验结果。
上述采样数据校验方法，通过获取继电保护装置的采样报文数据，生成采样报文数据对应的采样报文复制数据；对采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；分别对第一冗余采样组数据和第二冗余采样组数据，进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；根据单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果，获取采样数据的校验结果。本申请通过获取继电保护装置的采样报文数据，而后将采样报文数据复制后，分别进行采样，得到第一冗余采样组数据以及第二冗余采样组数据，通过对第一冗余采样组数据以及第二冗余采样组数据进行单独校验、同组校验和异组校验，实现对整个采样回路更精确的监视，识别多种采样回路异常情况，做到及时反映采样回路异常，避免继电保护装置产生不正确动作行为。
在一个实施例中，如图2所示，步骤106包括：
步骤201，对第一冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第一单独校验结果，对第二冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第二单独校验结果。
步骤203，根据第一单独校验结果以及第二单独校验结果，获取单独校验结果。
具体地，可以通过继电保护装置中的CPU1对第一冗余采样组数据内的采样数据进行单独校验，同时通过CPU2对第二冗余采样组数据内的采样数据自身进行校验，单独校验主要用来检测采样回路出现采样异常大数的情况，以及某个采样回路采样值时大时小的异常。其中单独校验的公式具体为：每个周波| Sampmax|>K1*基波有效值，Sampmax为采样数据最大值，K1为预设的门槛系数。具体地，可以通过单独校验，基于采样数据检测出采样回路出现采样异常大数的情况，以及某个采样回路采样值时大时小的异常，同时保证采样数据校验的有效性。
在一个实施例中，如图3所示，第一冗余采样组数据包括第一冗余采样数据以及第二冗余采样数据，第二冗余采样组数据包括第三冗余采样数据以及第四冗余采样数据，步骤106包括：
步骤302，获取第一冗余采样数据与第二冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第一比例，根据第一比例获取第一同组校验结果。
步骤304，获取第三冗余采样数据与第四冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第二比例，根据第二比例获取第二同组校验结果。
步骤306，根据第一同组校验结果以及第二同组校验结果，获取同组校验结果。
具体地，可以在继电保护装置中，将SV模块所得的采样数据发送至CPU 进行校验，在发送采样数据时，每个CPU接收到的采样数据，包括了两个完全冗余的采样数据。CPU1接收到的为第一冗余采样数据以及第二冗余采样数据。而CPU2接收到的则是第三冗余采样数据以及第四冗余采样数据。因此可以对单个CPU中接收到冗余采样数据进行同组校验。对于CPU1，可以获取第一冗余采样数据与第二冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值，以及瞬时值之差的绝对值的第一比例，根据第一比例获取第一同组校验结果。类似的，对于CPU2则是获取第三冗余采样数据与第四冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值，以及瞬时值之差的绝对值的第二比例，根据第二比例获取第二同组校验结果。对于同组校验，而言其具体地计算公式为：|I1-I2|>K2*|I1+I2|，其中对于CPU1，I1为第一冗余采样数据的瞬时值，I2为第二冗余采样数据的瞬时值，对于CPU2，I1为第三冗余采样数据的瞬时值，I2为第四冗余采样数据的瞬时值，K2为门槛系数。本实施例中，可以通过同组校验，可以校验出相同CPU中的同组冗余采样数据是否异常，从而有效提高采样数据校验的准确率。
在一个实施例中，如图4所示，第一冗余采样组数据包括第一冗余采样数据，第二冗余采样组数据包括第三冗余采样数据，步骤106包括：
步骤401，获取第一冗余采样数据内的第一有效值数据，以及第三冗余采样数据内的第三有效值数据。
步骤403，获取第一有效值数据小于预设门槛值下限且第三有效值数据大于预设门槛值上限的第一持续时间，获取第一有效值数据大于预设门槛值上限且第三有效值数据小于预设门槛值下限的第二持续时间。
步骤405，根据第一持续时间以及第二持续时间，获取异组校验结果。
具体地，对于异组校验，即是在CPU1中冗余采样数据和CPU2中冗余采样数据2之间进行数据校验。对于该数据校验过程其具体公式为：X1>XdefH且 X2<XdefL；或者X1<XdefL且X2>XdefH，以上条件连续满足时间t，即认为采样回路异常。其中，X1为CPU1中第一冗余采样数据的有效值，X2为 CPU2中第三冗余采样数据的有效值，XdefH和XdefL为预设的门槛上限值以及门槛下限值，t为预设的门槛时间值。因此，在进行异组校验时，获取第一冗余采样数据内的第一有效值数据，以及第三冗余采样数据内的第三有效值数据，而后通过有效值数据结合上述公式，确定对应的第一持续时间以及第二持续时间，结合预设的门槛时间，来获取异组校验结果。通过异组校验，可以校验出不同CPU中的冗余采样数据是否异常，从而有效提高采样数据校验的准确率。
在其中一个实施例中，根据单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果，获取采样数据的校验结果包括：当单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果中任意校验结果出现异常时，确定采样数据的校验结果为采样回路异常。
具体地，本申请中继电保护装置可以采用单独校验、同组校验和异组校验三种校验方式来对采样方式进行校验，当通过三种校验方式中的任意一种检测结果为异常时，即可认定当前采样数据对应的采样回路存在议程，即采样数据的校验结果为采样回路异常。本实施例中，对三种校验结果进行“或”的逻辑处理，来得到最终的采样数据校验结果，可以有效保证最终所得的采样数据的校验结果的有效性。
在其中一个实施例中，如图5所示，步骤108之后，还包括：
步骤502，当采样数据的校验结果为采样回路异常时，获取异常采样数据。
步骤504，根据异常采样数据定位异常采样通道的位置以及数量。
具体地，当采样数据的校验结果为采样回路异常时，本申请还可以依据该校验结果进行异常定位，从而更方便地对继电保护装置进行修复，以保证其有效性。在其中一个实施例中，可以通过使用嵌入式开发工具如aespstudio，来对采样数据校验过程进行参数配置，最终在发生采样异常时继电保护装置可以输出异常采样数据对应的异常信息，通过分析异常信息，可以确定异常通道的情况，从而定位到异常采样通道的位置以及数量。本实施例中，通过异常采样数据定位到异常采样通道，从而可以精确定位采样回路异常位置，便于分析解决问题。
在其中一个实施例中，步骤108之后，还包括：当采样数据的校验结果为采样回路异常时，读取预设保护配置信息；根据预设保护配置信息执行闭锁保护。
具体地，识别到采样数据异常之后，为了防止继电保护装置出现异常，可以通过读取预设保护配置信息来执行闭锁保护。同时，还可以向相关的装置维护工作人员发送告警信号，以提示采样回路异常，而在异常处理完成之后，则可以关闭闭锁保护，维持继电保护装置的正常运行。本实施例中，通过在采样回路异常之后的闭锁保护以及告警，可以有效对采样回路的异常进行提示，同时防止继电保护装置的运行出错。
在一个具体的实施例中，本申请的采样数据校验方法地流程具体可以参照图6所示。
首先SV报文被发送至主FPGA模块，在这个过程中，被分为了同样的采样报文1以及采样报文2。同时SV报文被复制到了从FPGA模块，因此从FPGA 模块内同样包括采样报文1以及采样报文2。而后采样报文被发送至主从SV模块，进行采样，得到了对应的采样数据1和采样数据2。采样数据1和采样数据 2被发送到CPU1和CPU2进行校验。其中校验方式1为同组校验，用于对CPU1 内的采样数据1和采样数据2进行校验，同时对CPU2内的采样数据1和采样数据2进行校验。校验方式2为异组校验，用于对CPU1内的采样数据1与CPU2 内的采样数据2之间进行校验。而校验方式3为单独校验，分别对CPU1内的采样数据1与CPU2内的采样数据2进行校验。
对于双冗余采样回路，在FPGA模块将采样数据经过SV模块传递给CPU 的回路中，可能发生硬件损坏或其它故障，例如上述流程图中的位置2和位置 3，此时异常情况会导致CPU1和CPU2接收到的采样数据有差异，对于单个CPU 来说，采样数据1和采样数据2可能完全相同；此时校验方式1对每个CPU中的采样数据1和采样数据2之间进行校验，校验结果为正常；校验方式2对CPU1 中的采样数据1和CPU2中的采样数据2之间进行校验，校验结果为异常；校验方式3对CPU1中的采样数据1和CPU2中的采样数据2分别进行校验，校验结果可能为正常，也可能为异常；对三种校验方式的结果进行逻辑“或”处理，结果为采样回路异常。
对于继电保护装置接收到的SV报文，其中采样报文1和采样报文2之间可能存在差异，例如流程图中的位置1发生异常。对于单个CPU来说，会导致接收到的采样数据1和采样数据2之间存在差异。此时校验方式1对每个CPU中的采样数据1和采样数据2之间进行校验，校验结果为异常；校验方式2对CPU1 中的采样数据1和CPU2中的采样数据2之间进行校验，如果采样回路中其它环节没有异常，校验结果为正常；校验方式3对CPU1中的采样数据1和CPU2 中的采样数据2分别进行校验，校验结果可能为正常，也可能为异常；对三种校验方式的结果进行逻辑“或”处理，结果为采样回路异常。
应该理解的是，虽然图1-5的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图1-5中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中，如图7所示，提供了一种采样数据校验装置，包括：
报文数据复制模块702，用于获取继电保护装置的采样报文数据，生成采样报文数据对应的采样报文复制数据。
数据采样模块704，用于对采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据。
数据校验模块706，用于对第一冗余采样组数据和第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果。
校验结果获取模块708，用于根据单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果，获取采样数据的校验结果。
在其中一个实施例中，数据校验模块706具体用于：对第一冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第一单独校验结果，对第二冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第二单独校验结果；根据第一单独校验结果以及第二单独校验结果，获取单独校验结果。
在其中一个实施例中，数据校验模块706具体用于：获取第一冗余采样数据与第二冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第一比例，根据第一比例获取第一同组校验结果；获取第三冗余采样数据与第四冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第二比例，根据第二比例获取第二同组校验结果；根据第一同组校验结果以及第二同组校验结果，获取同组校验结果。。
在其中一个实施例中，数据校验模块706具体用于：获取第一冗余采样数据内的第一有效值数据，以及第三冗余采样数据内的第三有效值数据；获取第一有效值数据小于预设门槛值下限且第三有效值数据大于预设门槛值上限的第一持续时间，获取第一有效值数据大于预设门槛值上限且第三有效值数据小于预设门槛值下限的第二持续时间；根据第一持续时间以及第二持续时间，获取异组校验结果。
在其中一个实施例中，校验结果获取模块708具体用于：当单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果中任意校验结果出现异常时，确定采样数据的校验结果为采样回路异常。
在其中一个实施例中，还包括异常定位模块，用于：当采样数据的校验结果为采样回路异常时，获取异常采样数据；根据异常采样数据定位异常采样通道的位置以及数量。
在其中一个实施例中，还包括闭锁保护模块，用于：当采样数据的校验结果为采样回路异常时，读取预设保护配置信息；根据预设保护配置信息执行闭锁保护。
关于采样数据校验装置的具体限定可以参见上文中对于采样数据校验方法的限定，在此不再赘述。上述采样数据校验装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是继电保护装置。该继电保护装置包括继电保护装置本体、处理器和存储器。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机程序被处理器执行时以实现一种采样数据校验方法。
在一个实施例中，提供了一种继电保护装置，包括继电保护装置本体、处理器以及存储器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
获取继电保护装置的采样报文数据，生成采样报文数据对应的采样报文复制数据；
对采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；
对第一冗余采样组数据和第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；
根据单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果，获取采样数据的校验结果。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：对第一冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第一单独校验结果，对第二冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第二单独校验结果；根据第一单独校验结果以及第二单独校验结果，获取单独校验结果。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取第一冗余采样数据与第二冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第一比例，根据第一比例获取第一同组校验结果；获取第三冗余采样数据与第四冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第二比例，根据第二比例获取第二同组校验结果；根据第一同组校验结果以及第二同组校验结果，获取同组校验结果。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：获取第一冗余采样数据内的第一有效值数据，以及第三冗余采样数据内的第三有效值数据；获取第一有效值数据小于预设门槛值下限且第三有效值数据大于预设门槛值上限的第一持续时间，获取第一有效值数据大于预设门槛值上限且第三有效值数据小于预设门槛值下限的第二持续时间；根据第一持续时间以及第二持续时间，获取异组校验结果。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：当单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果中任意校验结果出现异常时，确定采样数据的校验结果为采样回路异常。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：当采样数据的校验结果为采样回路异常时，获取异常采样数据；根据异常采样数据定位异常采样通道的位置以及数量。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：当采样数据的校验结果为采样回路异常时，读取预设保护配置信息；根据预设保护配置信息执行闭锁保护。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取继电保护装置的采样报文数据，生成采样报文数据对应的采样报文复制数据；
对采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；
对第一冗余采样组数据和第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；
根据单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果，获取采样数据的校验结果。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：对第一冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第一单独校验结果，对第二冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第二单独校验结果；根据第一单独校验结果以及第二单独校验结果，获取单独校验结果。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取第一冗余采样数据与第二冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第一比例，根据第一比例获取第一同组校验结果；获取第三冗余采样数据与第四冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第二比例，根据第二比例获取第二同组校验结果；根据第一同组校验结果以及第二同组校验结果，获取同组校验结果。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：获取第一冗余采样数据内的第一有效值数据，以及第三冗余采样数据内的第三有效值数据；获取第一有效值数据小于预设门槛值下限且第三有效值数据大于预设门槛值上限的第一持续时间，获取第一有效值数据大于预设门槛值上限且第三有效值数据小于预设门槛值下限的第二持续时间；根据第一持续时间以及第二持续时间，获取异组校验结果。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：当单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果中任意校验结果出现异常时，确定采样数据的校验结果为采样回路异常。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：当采样数据的校验结果为采样回路异常时，获取异常采样数据；根据异常采样数据定位异常采样通道的位置以及数量。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：当采样数据的校验结果为采样回路异常时，读取预设保护配置信息；根据预设保护配置信息执行闭锁保护。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-OnlyMemory，ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(RandomAccessMemory，RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限， RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(StaticRandomAccessMemory， SRAM)或动态随机存取存储器(DynamicRandomAccessMemory，DRAM)等。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种继电保护装置采样数据的校验方法，所述方法包括：
获取继电保护装置的采样报文数据，生成所述采样报文数据对应的采样报文复制数据；
对所述采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对所述采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；
对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果、同组校验结果以及异组校验结果；
根据所述单独校验结果、所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果；
所述第一冗余采样组数据包括第一冗余采样数据以及第二冗余采样数据，所述第二冗余采样组数据包括第三冗余采样数据以及第四冗余采样数据；
其中，对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据，进行单独校验包括：
对所述第一冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第一单独校验结果，对所述第二冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第二单独校验结果；
根据所述第一单独校验结果以及所述第二单独校验结果，获取单独校验结果；
对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据进行同组校验包括：
获取所述第一冗余采样数据与所述第二冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第一比例，根据所述第一比例获取第一同组校验结果；
获取所述第三冗余采样数据与所述第四冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第二比例，根据所述第二比例获取第二同组校验结果；
根据所述第一同组校验结果以及所述第二同组校验结果，获取同组校验结果；
对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据，进行异组校验包括：
获取所述第一冗余采样数据内的第一有效值数据，以及所述第三冗余采样数据内的第三有效值数据；
获取所述第一有效值数据小于预设门槛值下限且第三有效值数据大于预设门槛值上限的第一持续时间，获取所述第一有效值数据大于预设门槛值上限且第三有效值数据小于预设门槛值下限的第二持续时间；
根据所述第一持续时间以及所述第二持续时间，获取异组校验结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果包括：
当所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果中任意校验结果出现异常时，确定所述采样数据的校验结果为采样回路异常。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果之后，还包括：
当所述采样数据的校验结果为采样回路异常时，获取异常采样数据；
根据所述异常采样数据定位异常采样通道的位置以及数量。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果之后，还包括：
当所述采样数据的校验结果为采样回路异常时，读取预设保护配置信息；
根据所述预设保护配置信息，执行闭锁保护。
5.一种应用于继电保护装置的采样数据校验装置，其特征在于，所述采样数据校验装置包括：
报文数据复制模块，用于获取继电保护装置的采样报文数据，生成所述采样报文数据对应的采样报文复制数据；
数据采样模块，用于对所述采样报文数据进行采样，获取第一冗余采样组数据，对所述采样报文复制数据进行采样，获取第二冗余采样组数据；
数据校验模块，用于对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据分别进行单独校验、同组校验和异组校验，获取单独校验结果，同组校验结果以及异组校验结果；
校验结果获取模块，用于根据所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果，获取所述采样数据的校验结果；
所述第一冗余采样组数据包括第一冗余采样数据以及第二冗余采样数据，所述第二冗余采样组数据包括第三冗余采样数据以及第四冗余采样数据；
其中，对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据，进行单独校验包括：
对所述第一冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第一单独校验结果，对所述第二冗余采样组数据内的采样数据进行保护逻辑的计算，获取第二单独校验结果；
根据所述第一单独校验结果以及所述第二单独校验结果，获取单独校验结果；
对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据进行同组校验包括：
获取所述第一冗余采样数据与所述第二冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第一比例，根据所述第一比例获取第一同组校验结果；
获取所述第三冗余采样数据与所述第四冗余采样数据的瞬时值之和的绝对值、以及瞬时值之差的绝对值的第二比例，根据所述第二比例获取第二同组校验结果；
根据所述第一同组校验结果以及所述第二同组校验结果，获取同组校验结果；
所述第一冗余采样组数据包括第一冗余采样数据，所述第二冗余采样组数据包括第三冗余采样数据；对所述第一冗余采样组数据和所述第二冗余采样组数据，进行异组校验包括：
获取所述第一冗余采样数据内的第一有效值数据，以及所述第三冗余采样数据内的第三有效值数据；
获取所述第一有效值数据小于预设门槛值下限且第三有效值数据大于预设门槛值上限的第一持续时间，获取所述第一有效值数据大于预设门槛值上限且第三有效值数据小于预设门槛值下限的第二持续时间；
根据所述第一持续时间以及所述第二持续时间，获取异组校验结果。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述校验结果获取模块具体用于：当所述单独校验结果，所述同组校验结果以及所述异组校验结果中任意校验结果出现异常时，确定所述采样数据的校验结果为采样回路异常。
7.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括异常定位模块，用于：当所述采样数据的校验结果为采样回路异常时，获取异常采样数据；根据所述异常采样数据定位异常采样通道的位置以及数量。
8.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，还包括闭锁保护模块，用于：当所述采样数据的校验结果为采样回路异常时，读取预设保护配置信息；根据所述预设保护配置信息，执行闭锁保护。
9.一种继电保护装置，包括继电保护装置本体、处理器以及存储器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至4中任一项所述方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至4中任一项所述的方法的步骤。
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