CN113568517A - 触控模组评估方法及装置、电子设备及存储介质 - Google Patents
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Abstract
本公开涉及触控技术领域,尤其涉及一种触控模组评估方法及装置、电子设备及存储介质。该触控模组评估方法包括:接收待评估触控模组的单元图,并根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到所述待评估触控模组的效果图;对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估,以确定所述待评估触控模组的光学评估值;获取所述待评估触控模组的电学参数,并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值;基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。本公开可以缩短触控屏的开发周期以及降低开发成本。
Description
技术领域
本公开涉及触控技术领域,尤其涉及一种触控模组评估方法、触控模组评估装置、电子设备及存储介质。
背景技术
随着显示技术的飞速发展,触摸屏(Touch Screen Panel)已经逐渐遍及人们的生活中。简而言之,触控屏即集成有触控模组的显示面板;根据集成方式的不同,触摸屏包括如外挂式触摸屏、覆盖表面式触摸屏(On Cell)以及内嵌式触摸屏(In Cell)等。
现在技术中,在将触控模组和显示面板结合之后,不同的触控模组(如图案不同、材质不同、结构不同等)可能会对显示效果造成不同的影响;例如,产生暗态下的点状、线状及块状mura(不良)或者亮态下不同方位角的亮度衰减差异等。如果在触控屏制备完成后再进行检测,则整体开发周期会较长,而且开发成本也较高。
需要说明的是,在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本公开的背景的理解,因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。
发明内容
本公开的目的在于提供一种触控模组评估方法、触控模组评估装置、电子设备及计算机可读存储介质,以至少在一定程度上缩短触控屏的开发周期以及降低开发成本。
根据本公开的一个方面,提供一种触控模组评估方法,包括:
接收待评估触控模组的单元图,并根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到所述待评估触控模组的效果图;
对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估,以确定所述待评估触控模组的光学评估值;
获取所述待评估触控模组的电学参数,并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值;
基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。
在本公开的一种示例性实施例中,所述得到所述待评估触控模组的效果图,还包括:
将所述待评估触控模组的单元图调整至目标尺寸比例以及目标灰阶,得到第一处理结果图。
对所述第一处理结果图进行滤波处理,得到所述待评估触控模组的效果图。
在本公开的一种示例性实施例中,所述确定所述待评估触控模组的光学评估值,还包括:
根据所述待评估触控模组的效果图中各像素的亮度值,确定所述光学评估值。
在本公开的一种示例性实施例中,所述确定所述亮度评估值,包括:
获取所述待评估触控模组的效果图中所有像素亮度的平均值;
将所述待评估触控模组的效果图中亮度低于所述平均值的像素,确定为目标像素;
计算各所述目标像素的亮度与所述平均值的差值之和,并根据所述差值之和确定所述待评估触控模组的光学评估值。
在本公开的一种示例性实施例中,所述确定所述待评估触控模组的电学评估值,包括:
结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图,计算所述待评估触控模组的寄生电容以及电阻值;
根据所述寄生电容以及电阻值确定所述待评估触控模组的阻抗,以作为所述电学评估值。
在本公开的一种示例性实施例中,所述方法还包括:
在判断所述光学评估值或者电学评估值不满足预设条件时,接收新的待评估触控模组的单元图并进行重新评估。
在本公开的一种示例性实施例中,所述方法还包括:
根据所述待评估触控模组的效果图,确定所述待评估触控模组在目标方位角下的开口密度。
在本公开的一种示例性实施例中,所述确定所述待评估触控模组在目标方位角下的开口密度,包括:
获取所述待评估触控模组的效果图的像素总量以及所述待评估触控模组的效果图在所述目标方位角下包含开口区域的像素数量;
根据所述像素总量以及包含开口区域的像素数量计算所述开口密度。
在本公开的一种示例性实施例中,所述方法还包括:
接收输入的颜色参数,并根据所述颜色参数调整所述待评估触控模组的效果图的背景颜色;和/或,
接收输入的角度参数,并根据所述角度参数调整所述待评估触控模组的效果图的方位角。
根据本公开的一个方面,提供一种触控模组评估系统,包括:
输入端口,被配置为接收待评估触控模组的单元图;
仿真处理子电路,被配置为根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到所述待评估触控模组的效果图;
光学评估子电路,被配置为对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估,以确定所述待评估触控模组的光学评估值;
电学评估子电路,被配置为获取所述待评估触控模组的电学参数,并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值;
输出端口,被配置为基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。
根据本公开的一个方面,提供一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,所述程序被处理器执行时实现如上述任意一项所述的触控模组评估方法。
根据本公开的一个方面,提供一种电子设备,包括:
处理器;以及
存储器,用于存储一个或多个程序,当所述一个或多个程序被所述处理器执行时,使得所述处理器实现如上述任意一项所述的触控模组评估方法。
本公开示例性实施例中的触控模组评估方法中,首先基于待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到接近于人眼实际观看到的显示效果的效果图;接着根据效果图自动确定光学评估值以及电学评估值,并基于光学评估值和电学评估值得到评估结果。相比于现有技术中人工检测的方式,本公开示例性实施例中的触控模组评估方法效率更高、评估的标准更加均一且准确性更高。同时,相比于现有技术中在触控屏制备完成后再进行检测的技术方案,本公开示例性实施例中的触控模组评估方法可以实现提前评估,从而可以大幅缩短产品开发周期,降低产品开发成本。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本公开。
附图说明
此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本公开的实施例,并与说明书一起用于解释本公开的原理。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本公开的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1示出了可以应用本公开实施例的一种触控模组评估方法与装置的示例性应用环境的系统架构的示意图;
图2示出了本公开实施例中触控模组评估方法的一种流程图;
图3示出了本公开实施例中确定光学评估值的一种流程图;
图4示出了本公开实施例中触控模组评估方法的一种流程图;
图5示出了本公开实施例中触控模组评估装置的一种结构示意图;
图6示出了用于实现本公开实施例的电子设备的计算机系统的结构示意图。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而,示例实施方式能够以多种形式实施,且不应被理解为限于在此阐述的范例;相反,提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整,并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。
此外,附图仅为本公开的示意性图解,并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分,因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体,不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体,或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体,或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
需要说明的是,本公开中,用语“包括”、“配置有”、“设置于”用以表示开放式的包括在内的意思,并且是指除了列出的要素/组成部分/等之外还可存在另外的要素/组成部分/等。
图1示出了可以应用本公开实施例的一种触控模组评估方法与装置的示例性应用环境的系统架构的示意图。
如图1所示,系统架构100可以包括输入端口101、处理机构102和输出端口103。其中,输入端口101例如可以包括能够用于输入待评估触控模组单元图以及其他参数的PC设备,例如可以为台式计算机、笔记本电脑、智能手机等;输出端口103例如可以包括能够用于输出评估结果的显示设备,在一种示例性实施例中,该显示设备优选为能够显示彩色图像的显示器;处理机构102例如可以包括能够进行图像处理、仿真运算、数据处理或者矩阵运算等处理过程的处理器或者服务器。输入端口101与处理机构102之间以及处理机构102与输出端口103之间可以通过如有线、无线通信链路等方式通信连接。
应该理解,图1中的输入端口101、处理机构102和输出端口103的数目仅仅是示意性的。根据实现需要,可以具有任意数目的输入端口、处理机构和输出端口;此外,在输入端口101能够进行图像处理、仿真运算、数据处理或者矩阵运算等处理过程时,处理机构102亦可被包含于输入端口101;所述输入端口101和输出端口103亦可以为同一设备;本示例性实施例中对这些均不做特殊限定。
参见图2,图2示出了本公开实施例中触控模组评估方法的一种流程图,可以包括以下步骤:
步骤S210:接收待评估触控模组的单元图,并根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到所述待评估触控模组的效果图。
步骤S220:对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估,以确定所述待评估触控模组的光学评估值。
步骤S230:获取所述待评估触控模组的电学参数,并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值。
步骤S240:基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。
本公开示例性实施例中的触控模组评估方法中,首先基于待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到接近于人眼实际观看到的显示效果的效果图;接着根据效果图自动确定光学评估值以及电学评估值,并基于光学评估值和电学评估值得到评估结果。相比于现有技术中人工检测的方式,本公开示例性实施例中的触控模组评估方法效率更高、评估的标准更加均一且准确性更高。同时,相比于现有技术中在触控屏制备完成后再进行检测的技术方案,本公开示例性实施例中的触控模组评估方法可以实现提前评估,从而可以大幅缩短产品开发周期,降低产品开发成本。
以下对本公开实施例的触控模组评估方法进行更加详细的介绍。
在步骤S210中,接收待评估触控模组的单元图,并根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到所述待评估触控模组的效果图。
本示例实施方式中,待评估触控模组的单元图也即待评估触控模组的设计图或者其他包含待评估触控模组图案的图像数据。以电容式触控模组为例,其一般包括多层透明金属(如ITO(氧化铟锡))膜层;通过这些膜层,可以形成用于实现触控的驱动电极(Tx电极)、感应电极(Rx电极)以及相关的走线;待评估触控模组的单元图则可以包括上述各层透明金属膜层的图案设计。
测试人员可以将上述待评估触控模组的单元图输入至接收端口101。此外,还可以输入单元图尺寸、目标尺寸比例、目标灰阶等其他信息。接收端口101在接收到待评估触控模组的单元图之后,则可以将其传输至处理机构102。为了得到与实测图匹配的效果图,可以进一步通过处理机构102将所述待评估触控模组的单元图的尺寸比例调整至目标尺寸比例以及调整至目标灰阶,得到第一处理结果图。
举例而言,如果目标尺寸比例过大,则可能会导致得到的效果图有误差,与实际情况不符合;如果目标尺寸比例过小,则可能会增加仿真运算量,延长评估时间;基于上述考虑,本示例实施方式中,目标尺寸比例可以为1um/dot或2um/dot,dot指像素点。为了与实测图中灰阶匹配,本示例实施方式中,上述目标灰阶可以为180~220,例如,目标灰阶具体为200等;进而,可以将待评估触控模组的单元图中金属膜层对应灰阶调整为200。此外,上述目标尺寸比例和目标灰度也可以是预先设定的尺寸比例和灰度,而无需用户输入;本示例性实施例中对此不做特殊限定。
接着,可以对所述第一处理结果图进行滤波处理,得到所述待评估触控模组的效果图。本示例实施方式中,可以采用高斯滤波、人眼敏感度滤波等方法对第一处理结果图进行滤波处理;在滤波处理中选用的具体滤波参数,可以根据触控模组的不同进行适应性的调整,本示例性实施例中对此不做特殊限定。
由于待评估触控模组的单元图的多数元素尺寸一般在微米(um)级别,人眼是无法通过待评估触控模组的单元图获取该触控模组对实际显示效果的影响的。本示例实施方式中,通过仿真运算得到的所述待评估触控模组的效果图,则接近于人眼实际观看到的显示效果,从而便于实现后续评估。
在步骤S220中,对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估,以确定所述待评估触控模组的光学评估值。
本示例实施方式中,可以根据所述待评估触控模组的效果图中各像素的亮度值,确定所述光学评估值。举例而言,参考图3所示,可以通过下述步骤S310~S330。其中:
在步骤S310中,获取所述待评估触控模组的效果图中各像素的亮度值,并基于各像素的亮度值计算所有像素亮度的平均值L0。
在步骤S320中,将所述待评估触控模组的效果图中亮度低于所述平均值的像素,确定为目标像素;例如,共确定出n个目标像素,且n个目标像素的亮度值分别为L1~Ln。
在本示例实施方式中,示例性的提供了一种光学评估值确定方法,但在本公开的其他示例性实施例中,本领域技术人员也可以根据需求通过其他方式确定光学评估值。例如,基于像素灰度值确定光学评估值。本领域技术人员也可以根据需求对上述步骤S310~S330中的步骤进行调整;例如,在上述步骤S310中,获取所有像素亮度中的中位数或者其他统计指标作为上述L0并进行后续运算;又例如,在上述步骤S330中,计算各所述目标像素的亮度与所述平均值的方差之和等等;这些均属于本公开的保护范围。
在步骤S230中,获取所述待评估触控模组的电学参数,并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值。
本示例实施方式中,可以由评估人员将所述待评估触控模组的电学参数通过输入端口101输入至处理机构102,也可以由处理机构102直接读取设计数据获得。待评估触控模组的电学参数例如可以包括待评估触控模组的各金属膜层的厚度数据、介电常数、电阻率等。处理机构102在获取电学参数之后,可以通过现有电容值、电阻值计算公式直接结合待评估触控模组的单元图计算得到所述待评估触控模组的寄生电容以及电阻值。
本示例实施方式中,所述寄生电容例如可以包括待评估触控模组的各金属膜层之间的寄生电容以及各金属膜层与显示面板电极(如OLED显示面板的阴极或阳极等)之间的寄生电容;所述电阻值例如可以包括驱动电极(Tx电极)、感应电极(Rx电极)以及相关的走线的电阻值等。在计算得到所述待评估触控模组的寄生电容以及电阻值之后,则可以根据所述寄生电容以及电阻值确定所述待评估触控模组的阻抗,以作为所述电学评估值。
在步骤S240中,基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。
本示例实施方式中可以是如果所述光学评估值和电学评估值均满足预设条件,则认为待评估触控模组初步符合要求。但在本公开的其他示例性实施例中也可以是,虽然所述光学评估值和电学评估值之一(如电学评估值)不满足预设条件,但其中另一评估值(如光学评估值)表现特别优秀时,也认为待评估触控模组初步符合要求等;这同样属于本公开的保护范围。
在得到评估结果之后,则可以通过输出端口输出评估结果;同时,如果评估结果为不符合要求,如在判断所述光学评估值或者电学评估值不满足预设条件时,则可以接收新的待评估触控模组的单元图并通过上述步骤进行重新评估,直到得到初步符合要求的触控模组。
本示例实施方式中,可以设定多级光学指标,例如可以设定依次升高的光学指标V1、V2、V3;如果上述步骤S220中确定的光学评估值V高于或等于V2,则认为待评估触控模组不符合要求,输出评估结果并接收新的待评估触控模组的单元图并通过上述步骤进行重新评估。其中,V1~V3可以根据待评估触控模组的不同具体确定,或者,还可以设定更多级别的光学评估指标;本示例性实施例中对此不做特殊限定。
类似的,如果上述步骤S230确定的阻抗值高于或等于预先设定的阻抗规格,则同样认为待评估触控模组不符合要求,输出评估结果并接收新的待评估触控模组的单元图并通过上述步骤进行重新评估。
进一步的,本示例实施方式中,处理机构102还可以根据所述待评估触控模组的效果图,确定所述待评估触控模组在目标方位角下的开口密度,并通过输出端口103输出,从而供设计人员在优化待评估触控模组时作为参考指导。本示例实施方式中,所述目标方位角即观看显示画面的角度;由于从不同的视角观看到的显示画面可能会有所不同,因此在不同的目标方位角之下的开口密度可能会有所不同。本示例实施方式中,开口密度为包含开口区域(即显示面板光线的透出未受影响的区域)的像素数量在像素总量(对于同一效果图而言,为一固定值)中的占比。所述目标方位角例如可以为45°、135°、-135°、-45°,也可以为0°、90°、180°、270°等其他方位角度。示例性的,可以通过下述方法确定目标方位角下的开口密度:
首先获取所述待评估触控模组的效果图在所述目标方位角下,包含开口区域(即显示面板光线的透出未受影响的区域)的像素数量以及效果图的像素总量;例如,待评估触控模组的效果图在45°方位角下的像素总量为M,其中包含开口区域的像素数量为m。进而可以根据所述像素总量以及包含开口区域的像素数量计算所述开口密度;例如,待评估触控模组在45°方位角下的开口密度Cut density=m/M。当然,本领域技术人员也可以通过其他方式确定各目标方位角下的开口密度,本示例性实施例中对此不做特殊限定。
进一步的,本示例实施方式中,输入端口101还可以接收输入的颜色参数,并根据所述颜色参数调整所述待评估触控模组的效果图的背景颜色,也即调整对应的显示面板的显示色彩,例如调整为红色、绿色、蓝色等;此外,还可以调整为暗态,即显示面板不进行显示。在一些示例性实施例中,输入端口101还可以接收输入的角度参数,并根据所述角度参数调整所述待评估触控模组的效果图的方位角。通过这些调整,则可以使得设计人员获取在不同状态下,待评估触控模组对显示效果的影响,从而在优化待评估触控模组时作为参考指导。
参考图4所示,为一种示例性的整体流程图。其中,在步骤S410中,可以选择待评估触控模组单元图并输入至处理机构;在步骤S420中,可以向处理机构输入单元图尺寸以及输入目标尺寸比例。在步骤S430中,处理机构将所述待评估触控模组的单元图调整至所述目标尺寸比例以及预先设定的目标灰阶,得到第一处理结果图。在步骤S440中,可以选择高斯滤波或其他滤波进行滤波,处理机构则可以根据选择的滤波方式及对应的滤波参数对第一处理结果图进行滤波,得到待评估触控模组的效果图。处理机构在步骤S450中确定待评估触控模组的光学评估值以及在步骤S460中确定待评估触控模组的电学评估值。如果光学评估值和电学评估值之一不满足预设条件,则返回至步骤S410,调用下一版待评估触控模组的单元图,重新进行评估;如果光学评估值和电学评估值均满足预设条件,则可以初步确定待评估触控模组符合要求。
应当注意,尽管在附图中以特定顺序描述了本公开中方法的各个步骤,但是,这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些步骤,或是必须执行全部所示的步骤才能实现期望的结果。附加的或备选的,可以省略某些步骤,将多个步骤合并为一个步骤执行,以及/或者将一个步骤分解为多个步骤执行等。
相应于上述方法实施例,本公开实施例还提供了一种触控模组评估装置,参见图5,图5为本公开实施例的触控模组评估装置的一种示意结构500,包括输入端口510、处理机构520以及输出端口530;处理机构520包括仿真处理子电路521、光学评估子电路522以及电学评估子电路523。其中:
输入端口510被配置为接收待评估触控模组的单元图。仿真处理子电路521被配置为根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到所述待评估触控模组的效果图。光学评估子电路522被配置为对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估,以确定所述待评估触控模组的光学评估值。电学评估子电路523被配置为获取所述待评估触控模组的电学参数,并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值。输出端口530被配置为基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。
上述装置中各子电路可以是通用处理器,包括:中央处理器、网络处理器等;还可以是数字信号处理器、专用集成电路、现场可编程门阵列或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。上述装置中的各处理器可以是独立的处理器,也可以集成在一起。
在本公开的示例性实施例中,还提供一种电子设备,包括:处理器;被配置为存储处理器可执行指令的存储器;其中,处理器被配置为执行本示例实施方式中任一所述的方法。
图6出了用于实现本公开实施例的电子设备的计算机系统的结构示意图。需要说明的是,图6示出的电子设备的计算机系统600仅是一个示例,不应对本公开实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图6所示,计算机系统600包括中央处理器601,其可以根据存储在只读存储器602中的程序或者从存储部分608加载到随机访问存储器603中的程序而执行各种适当的动作和处理。在随机访问存储器603中,还存储有系统操作所需的各种程序和数据。中央处理器601、只读存储器602以及随机访问存储器603通过总线604彼此相连。输入/输出接口605也连接至总线604。
以下部件连接至输入/输出接口605:包括键盘、鼠标等的输入部分606;包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分607;包括硬盘等的存储部分608;以及包括诸如局域网(LAN)卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分609。通信部分609经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器610也根据需要连接至输入/输出接口605。可拆卸介质611,诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等,根据需要安装在驱动器610上,以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入存储部分608。
特别地,根据本公开的实施例,上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如,本公开的实施例包括一种计算机程序产品,其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序,该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中,该计算机程序可以通过通信部分609从网络上被下载和安装,和/或从可拆卸介质611被安装。在该计算机程序被中央处理器601执行时,执行本申请的装置中限定的各种功能。
在本公开的示例性实施例中,还提供一种非易失性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被计算机执行时,计算机执行上述任意一项所述的方法。
需要说明的是,本公开所示的非易失性计算机可读存储介质例如可以是—但不限于—电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件,或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于:具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器、只读存储器、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本公开中,计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质,该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本公开中,计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质,该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于:无线、电线、光缆、射频等等,或者上述的任意合适的组合。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的发明后,将容易想到本公开的其他实施例。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化,这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的,本公开的真正范围和精神由权利要求指出。
应当理解的是,本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构,并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限。
Claims (12)
1.一种触控模组评估方法,其特征在于,包括:
接收待评估触控模组的单元图,并根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到所述待评估触控模组的效果图;
对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估,以确定所述待评估触控模组的光学评估值;
获取所述待评估触控模组的电学参数,并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值;
基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述得到所述待评估触控模组的效果图,包括:
将所述待评估触控模组的单元图调整至目标尺寸比例以及目标灰阶,得到第一处理结果图;
对所述第一处理结果图进行滤波处理,得到所述待评估触控模组的效果图。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述待评估触控模组的光学评估值,包括:
根据所述待评估触控模组的效果图中各像素的亮度值,确定所述光学评估值。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述确定所述亮度评估值,包括:
获取所述待评估触控模组的效果图中所有像素亮度的平均值;
将所述待评估触控模组的效果图中亮度低于所述平均值的像素,确定为目标像素;
计算各所述目标像素的亮度与所述平均值的差值之和,并根据所述差值之和确定所述待评估触控模组的光学评估值。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述确定所述待评估触控模组的电学评估值,包括:
结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图,计算所述待评估触控模组的寄生电容以及电阻值;
根据所述寄生电容以及电阻值确定所述待评估触控模组的阻抗,以作为所述电学评估值。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
在判断所述光学评估值或者电学评估值不满足预设条件时,接收新的待评估触控模组的单元图并进行重新评估。
7.根据权利要求1~6任意一项所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
根据所述待评估触控模组的效果图,确定所述待评估触控模组在目标方位角下的开口密度。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述确定所述待评估触控模组在目标方位角下的开口密度,包括:
获取所述待评估触控模组的效果图的像素总量以及所述待评估触控模组的效果图在所述目标方位角下包含开口区域的像素数量;
根据所述像素总量以及包含开口区域的像素数量计算所述开口密度。
9.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
接收输入的颜色参数,并根据所述颜色参数调整所述待评估触控模组的效果图的背景颜色;和/或,
接收输入的角度参数,并根据所述角度参数调整所述待评估触控模组的效果图的方位角。
10.一种触控模组评估系统,其特征在于,包括:
输入端口,被配置为接收待评估触控模组的单元图;
仿真处理子电路,被配置为根据所述待评估触控模组的单元图进行仿真运算,得到所述待评估触控模组的效果图;
光学评估子电路,被配置为对所述待评估触控模组的效果图的进行光学评估,以确定所述待评估触控模组的光学评估值;
电学评估子电路,被配置为获取所述待评估触控模组的电学参数,并结合所述电学参数以及所述待评估触控模组的单元图确定所述待评估触控模组的电学评估值;
输出端口,被配置为基于所述光学评估值以及电学评估值输出对所述待评估触控模组的评估结果。
11.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,所述程序被处理器执行时实现如权利要求1至9中任一项所述的触控模组评估方法。
12.一种电子设备,其特征在于,包括:
处理器;以及
存储器,用于存储一个或多个程序,当所述一个或多个程序被所述处理器执行时,使得所述处理器实现如权利要求1至9中任一项所述的触控模组评估方法。
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