CN113535554A - 一种Android系统设备的自动测试系统及其方法 - Google Patents

一种Android系统设备的自动测试系统及其方法 Download PDF

Info

Publication number
CN113535554A
CN113535554A CN202110784019.XA CN202110784019A CN113535554A CN 113535554 A CN113535554 A CN 113535554A CN 202110784019 A CN202110784019 A CN 202110784019A CN 113535554 A CN113535554 A CN 113535554A
Authority
CN
China
Prior art keywords
tested
test
module
hardware
determining
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202110784019.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN113535554B (zh
Inventor
柳美勋
耿霞
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Qingdao Wintec System Co ltd
Original Assignee
Qingdao Wintec System Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Qingdao Wintec System Co ltd filed Critical Qingdao Wintec System Co ltd
Priority to CN202110784019.XA priority Critical patent/CN113535554B/zh
Publication of CN113535554A publication Critical patent/CN113535554A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN113535554B publication Critical patent/CN113535554B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36Preventing errors by testing or debugging software
    • G06F11/3668Software testing
    • G06F11/3672Test management
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/26Functional testing

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本发明涉及一种Android系统设备的自动测试系统及其方法,所述系统包括:底层硬件驱动模块、系统测试模块及测试激活模块;底层硬件驱动模块用于调用底层封装函数,对硬件设备发出硬件操作指令;系统测试模块用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则,并基于待测参数发出测试指令驱动底层硬件驱动模块,以完成对硬件的测试操作;测试激活模块用于定义待测参数,并将待测参数存储于外部可移动存储介质中,当外部可移动存储介质连接到Android系统设备时,自动激活系统测试模块进行待测参数的读取和解析后,驱动硬件设备,完成系统测试。

Description

一种Android系统设备的自动测试系统及其方法
技术领域
本发明涉及一种测试系统,特别涉及一种Android系统设备的自动测试系统及其方法。
背景技术
目前,企业日益增多的Android系统设备具有多机型和多版本的特点,面对如此繁多的Android系统设备,Android系统设备的系统测试一直是研发工作的一个痛点。各个机型的Android系统设备都需要进行覆盖测试,而测试软件过于冗杂,如果针对每一款机型都要开发对应机型的系统测试软件,管理越来越繁杂,当我们需要某一个机型的测试软件时,不仅要花费时间去找文件所在位置,而且开发一个机型的测试软件也耗费大量的研发成本。
同时,由于Android系统设备的机型会不断更新换代,所以也要不断的根据设备要求开发新的系统测试软件,增加了成本,而如何提出一种在Android系统设备上的通用的系统测试软件的使用方法,能够在Android系统设备中实现通用,即使是新机型的设备,也可以做到仅需要通过修改少量的参数,就可以调出测试所需要的功能,以使系统测试软件更加方便使用和管理,正在成为一个亟待解决的技术问题。
因此,为解决目前现有技术中存在的上述缺陷,本发明特别提出一种Android系统设备的测试系统及其方法,同时,增加了通用自动测试方法,以解决现有技术中存在的测试版本繁多,测试效率低下,并且,开发新的测试软件费用高,造成资源浪费的技术问题。
发明内容
本发明针对上述现有技术中存在的测试版本繁多,测试效率低下,并且,开发新的测试软件费用高,造成资源浪费的技术问题,提出一种Android系统设备的自动测试系统及其方法。
为了达到上述目的,本发明采用的技术方案为:
本发明实施例提供一种Android系统设备的自动测试系统,该系统包括:
底层硬件驱动模块:用于基于调用底层封装函数,对硬件设备发出硬件操作指令;
系统测试模块:用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则,并基于待测参数发出测试指令驱动底层硬件驱动模块,以完成对硬件的测试操作;
测试激活模块:用于定义待测参数,并将待测参数存储于外部可移动存储介质中,当外部可移动存储介质连接到Android系统设备时,自动激活系统测试模块进行待测参数的读取和解析后,驱动硬件设备,完成系统测试。
作为优选,上述Android系统设备的自动测试系统,该系统还包括:
初始化模块:用于安装软件开发工具包,以对后续系统测试进行服务。
作为优选,上述外部可移动存储介质为USB盘。
作为优选,上述系统测试模块还包括:
待测参数自动读取模块:用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则,并通过读取USB盘中的待测参数,以确定需要测试的测试项;
待测参数自动解析模块:通过系统测试模块的读取规则读取到待测参数,以控制需要显示的待测试项。
作为优选,上述测试激活模块还包括:
激活参数确定模块:用于定义待测参数;
USB口数量确定模块:用于确定检测设备的usb口数量;
串口号确定模块:用于确定客显的串口号;
波特率确定模块:用于确定串口的波特率;
Delay参数确定模块:用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间;
串口地址确定模块:用于确定设备串口地址。
本发明还提供一种Android系统设备的自动测试方法,采用如上任意一项所述测试系统,该方法包括:
底层硬件驱动步骤:用于基于调用底层封装函数,对硬件设备发出硬件操作指令;
系统测试步骤:用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则,并基于待测参数发出测试指令驱动底层硬件驱动模块,以完成对硬件的测试操作;
测试激活步骤:用于定义待测参数,并将待测参数存储于外部可移动存储介质中,当外部可移动存储介质连接到Android系统设备时,自动激活系统测试模块进行待测参数的读取和解析后,驱动硬件设备,完成系统测试。
作为优选,上述Android系统设备的自动测试方法,该方法还包括:
初始化步骤:用于安装软件开发工具包,以对后续系统测试进行服务。
作为优选,上述外部可移动存储介质为USB盘。
作为优选,上述系统测试步骤还包括:
待测参数自动读取步骤:用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则,并通过读取USB盘中的待测参数,以确定需要测试的测试项;
待测参数自动解析步骤:通过系统测试模块的读取规则读取到待测参数,以控制需要显示的待测试项。
作为优选,上述测试激活步骤还包括:
激活参数确定步骤:用于定义待测参数;
USB口数量确定步骤:用于确定检测设备的usb口数量;
串口号确定步骤:用于确定客显的串口号;
波特率确定步骤:用于确定串口的波特率;
Delay参数确定步骤:用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间;
串口地址确定步骤:用于确定设备串口地址。
与现有技术相比,本发明的优点和积极效果在于:
(1)各个机型的Android系统设备都需要进行覆盖测试,而测试软件过于冗杂,本发明针对提出了一种通用的,可扩展的系统测试方法;
(2)本发明系统测试方法,节约了花费时间去找文件所在位置,而且极大节约了开发一个机型的测试软件耗费大量的研发成本;
(3)通用的系统测试软件的使用方法,能够在Android系统设备中实现通用,即使是新机型的设备,也可以做到仅需要通过修改少量的参数,就可以自动调出测试所需要的功能,并且方便了系统测试软件的使用和管理;
(4)同时,减少测试人员的工作量和工作时间,降低开发工作量,提高测试工作效率,确保产品无缝自动测试。
附图说明
图1为本发明自动测试系统结构示意图;
图2为本发明系统测试模块示意图;
图3为本发明测试激活模块示意图;
图4为本发明系统测试方法流程示意图。
以上各图中:
自动测试系统100
10、底层硬件驱动模块 20、系统测试模块
30、测试激活模块 40、初始化模块
21、待测参数自动读取模块 22、待测参数自动解析模块
31、激活参数确定模块 32、USB口数量确定模块
33、串口号确定模块 34、波特率确定模块
35、Delay参数确定模块 36、串口地址确定模块
具体实施方式
下面将结合附图对本发明具体实施例中的技术方案进行详细、完整的描述。显然,所描述的实施例仅仅是本发明总的技术方案的部分具体实施方式,而非全部的实施方式。基于本发明的总的构思,本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例,都落于本发明保护的范围。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。
在本发明的描述中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
本发明旨在解决现有Android系统设备的机型会不断更新换代,所以也要不断的根据设备要求开发新的系统测试软件,增加了成本,而这种在Android系统设备上的通用的系统测试软件的使用方法,会在Android系统设备中实现通用,即使是新机型的设备,也可以做到仅需要在txt文档修改少量的参数,就可以调出我们所需要的功能。这样可以使系统测试软件更加方便使用和管理。
为了实现系统测试软件的通用性,所以设计一款系统测试软件,在按照操作步骤安装后,通过将待测参数拷贝到外部可移动存储介质,如U盘,插入U盘自动控制测试项可轻松实现用一个测试软件在各个机型上使用。
以下结合具体实施例及附图对本发明Android系统设备的自动测试系统及其方法进行详尽说明:
图1为本发明自动测试系统结构示意图,如图1所示,本发明实施例提供一种Android系统设备的自动测试系统100,该系统包括:
底层硬件驱动模块10:用于基于调用底层封装函数,对硬件设备发出硬件操作指令;
系统测试模块20:用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则,并基于待测参数发出测试指令驱动底层硬件驱动模块,以完成对硬件的测试操作;
测试激活模块30:用于定义待测参数,并将待测参数存储于外部可移动存储介质中,当外部可移动存储介质连接到Android系统设备时,自动激活系统测试模块进行待测参数的读取和解析后,驱动硬件设备,完成系统测试。
本发明具体实施例中,采用外部可移动存储介质为USB盘。但本发明并不限于其他可移动存储介质,还可以为CD光盘等。
作为优选,上述Android系统设备的自动测试系统100,该系统还包括:
初始化模块40:用于安装软件开发工具包,以对后续系统测试进行服务。
其中,图2为本发明系统测试模块示意图,如图2所示,系统测试模块20还包括:
待测参数自动读取模块21:用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则,并通过读取USB盘中的待测参数,以确定需要测试的测试项;
待测参数自动解析模块22:通过系统测试模块的读取规则读取到待测参数,以控制需要显示的待测试项。
其中,图3为本发明测试激活模块示意图,如图3所示,测试激活模块30还包括:
激活参数确定模块31:用于定义待测参数;
USB口数量确定模块32:用于确定检测设备的usb口数量;
串口号确定模块33:用于确定客显的串口号;
波特率确定模块34:用于确定串口的波特率;
Delay参数确定模块35:用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间;
串口地址确定模块36:用于确定设备串口地址。
本发明还提供一种Android系统设备的自动测试方法,采用如上任意一项所述测试系统100,图4为本发明系统测试方法流程示意图,如图4所示,该方法包括:
底层硬件驱动步骤:用于基于调用底层封装函数,对硬件设备发出硬件操作指令;
系统测试步骤:用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则,并基于待测参数发出测试指令驱动底层硬件驱动模块,以完成对硬件的测试操作;
测试激活步骤:用于定义待测参数,并将待测参数存储于外部可移动存储介质中,当外部可移动存储介质连接到Android系统设备时,自动激活系统测试模块进行待测参数的读取和解析后,驱动硬件设备,完成系统测试。
本发明具体实施例中,采用外部可移动存储介质为USB盘。但本发明并不限于其他可移动存储介质,还可以为CD光盘等。
进一步的,该方法还包括:
初始化步骤:用于安装软件开发工具包,以对后续系统测试进行服务。
其中,系统测试步骤还包括:
待测参数自动读取步骤:用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则,并通过读取USB盘中的待测参数,以确定需要测试的测试项;
待测参数自动解析步骤:通过系统测试模块的读取规则读取到待测参数,以控制需要显示的待测试项。
其中,测试激活步骤还包括:
激活参数确定步骤:用于定义待测参数;
USB口数量确定步骤:用于确定检测设备的usb口数量;
串口号确定步骤:用于确定客显的串口号;
波特率确定步骤:用于确定串口的波特率;
Delay参数确定步骤:用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间;
串口地址确定步骤:用于确定设备串口地址。
以下通过本发明具体实施例一对本发明方法的原理及步骤进行详细说明:
1.安装SDK包,用来服务后续安装的系统测试软件apk.SDK叫软件开发工具包,我们这是将对硬件的操作(比如对打印机的打印指令)都封装起来,对外开放一些功能。应用层开发无需关心如何操作硬件,而是直接调用SDK封装好的函数即可,机器指令被封装起来,提高了系统的安全性。
2.系统测试软件,这是在安装设备的页面显示的。通过软件应用层来给所有需要测试的项定义好读取的顺序(比如屏幕测试我们定义顺序1,触摸屏测试定义顺序2,以次类推),然后通过读取U盘中的“item”参数,来确定我们需要显示的测试项。“item”参数有多少项,即说明测试软件定义了多少项,而这些被测试单项通过第3步骤激活的,通过测试软件的读取程序读取到item参数,来控制显示的测试单项。
3.修改txt文档的参数,根据txt里面的内容来激活对应的测试项,适应所选机型,然后把文档拷贝到U盘,需要测试时,将U盘插入所要测试机器的USB口,保持插入的状态,进行后续的测试操作。
txt文档内容:
Figure BDA0003158065450000081
通过item参数选择软件中的激活单项,"0"代表不选,"1"代表选择;
通过usbchecknum参数,确定检测设备的usb口数量;
通过dspport参数,确定客显的串口号;
通过dspbaud参数,确定串口的波特率;
通过delay参数,确定自动检测,检测完一个项目切换到下一个项目的时间。越短越快,不能为0;
通过sclcomio参数,确定电子秤串口地址;
需要注意的时当我们要测试的设备没有相关参数项时,那么相关参数也会失效。比如有一设备没有称台,那么sclcomio参数也就是无效参数。
4.打开软件,完成系统测试。
本发明的关键点是通过插入的U盘控制需要展示在系统测试软件的测试项更有选择性,并且通过修改txt文档里的参数可以控制需要测试的接口数量以及显示在系统测试软件里面的测试项的个数,这样既可以保证针对不同机型的测试项不同做出选择,也可以针对不同的接口做出合理的调试。并且通过软件开发者直接调用SDK封装好的函数进行软件开发,更加安全,底层机器指令被封装,提高了测试系统的通用性和可维护性。
本发明测试系统针对目前各个机型的Android系统设备都需要进行覆盖测试,而测试软件过于冗杂的技术问题,本发明针对提出了一种通用的,可扩展的系统测试方法;本发明系统测试方法,节约了花费时间去找文件所在位置,而且极大节约了开发一个机型的测试软件耗费大量的研发成本;通用的系统测试软件的使用方法,能够在Android系统设备中实现通用,即使是新机型的设备,也可以做到仅需要通过修改少量的参数,就可以自动调出测试所需要的功能,并且方便了系统测试软件的使用和管理;同时,减少测试人员的工作量和工作时间,降低开发工作量,提高测试工作效率,确保产品无缝自动测试。
以上所述为本发明的具体实施方式,其目的在于让技术人员能够了解本发明的内容并加以实施,并不能以此限制本发明的保护范围,任何根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围内。需要说明的是,在附图或说明书正文中,未绘出或描述的实现方式,均为所属技术领域中普通技术人员所知的形式,并未进行详细说明。此外,上述对各部件和工艺方法的定义并不仅限于实施例中提到的各种具体结构、形状或方式。

Claims (10)

1.一种Android系统设备的自动测试系统,其特征在于,所述系统包括:
底层硬件驱动模块:用于基于调用底层封装函数,对硬件设备发出硬件操作指令;
系统测试模块:用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则,并基于所述待测参数发出测试指令驱动所述底层硬件驱动模块,以完成对硬件的测试操作;
测试激活模块:用于定义所述待测参数,并将所述待测参数存储于外部可移动存储介质中,当所述外部可移动存储介质连接到所述Android系统设备时,自动激活所述系统测试模块进行所述待测参数的读取和解析后,驱动硬件设备,完成系统测试。
2.根据权利要求1所述Android系统设备的自动测试系统,其特征在于,所述系统还包括:
初始化模块:用于安装软件开发工具包,以对后续系统测试进行服务。
3.根据权利要求1所述Android系统设备的自动测试系统,其特征在于,所述外部可移动存储介质为USB盘。
4.根据权利要求3所述Android系统设备的自动测试系统,其特征在于,所述系统测试模块还包括:
待测参数自动读取模块:用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则,并通过读取所述USB盘中的所述待测参数,以确定需要测试的测试项;
待测参数自动解析模块:通过所述系统测试模块的读取规则读取到所述待测参数,以控制需要显示的待测试项。
5.根据权利要求1所述Android系统设备的自动测试系统,其特征在于,所述测试激活模块还包括:
激活参数确定模块:用于定义待测参数;
USB口数量确定模块:用于确定检测设备的usb口数量;
串口号确定模块:用于确定客显的串口号;
波特率确定模块:用于确定串口的波特率;
Delay参数确定模块:用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间;
串口地址确定模块:用于确定设备串口地址。
6.一种Android系统设备的自动测试方法,采用如权利要求1-5中任意一项所述测试系统,其特征在于,所述方法包括:
底层硬件驱动步骤:用于基于调用底层封装函数,对硬件设备发出硬件操作指令;
系统测试步骤:用于根据测试需求定义待测参数读取和解析规则,并基于所述待测参数发出测试指令驱动所述底层硬件驱动模块,以完成对硬件的测试操作;
测试激活步骤:用于定义所述待测参数,并将所述待测参数存储于外部可移动存储介质中,当所述外部可移动存储介质连接到所述Android系统设备时,自动激活所述系统测试模块进行所述待测参数的读取和解析后,驱动硬件设备,完成系统测试。
7.根据权利要求6所述Android系统设备的自动测试方法,其特征在于,所述方法还包括:
初始化步骤:用于安装软件开发工具包,以对后续系统测试进行服务。
8.根据权利要求6所述Android系统设备的自动测试方法,其特征在于,所述外部可移动存储介质为USB盘。
9.根据权利要求8所述Android系统设备的自动测试方法,其特征在于,所述系统测试步骤还包括:
待测参数自动读取步骤:用于通过软件应用层来给所有需要测试的待测项定义读取规则,并通过读取所述USB盘中的所述待测参数,以确定需要测试的测试项;
待测参数自动解析步骤:通过所述系统测试模块的读取规则读取到所述待测参数,以控制需要显示的待测试项。
10.根据权利要求6所述Android系统设备的自动测试方法,其特征在于,所述测试激活步骤还包括:
激活参数确定步骤:用于定义待测参数;
USB口数量确定步骤:用于确定检测设备的usb口数量;
串口号确定步骤:用于确定客显的串口号;
波特率确定步骤:用于确定串口的波特率;
Delay参数确定步骤:用于确定检测完一个项目切换到下一个项目的间隔时间;
串口地址确定步骤:用于确定设备串口地址。
CN202110784019.XA 2021-07-12 2021-07-12 一种Android系统设备的自动测试系统及其方法 Active CN113535554B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110784019.XA CN113535554B (zh) 2021-07-12 2021-07-12 一种Android系统设备的自动测试系统及其方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202110784019.XA CN113535554B (zh) 2021-07-12 2021-07-12 一种Android系统设备的自动测试系统及其方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN113535554A true CN113535554A (zh) 2021-10-22
CN113535554B CN113535554B (zh) 2024-03-12

Family

ID=78127430

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202110784019.XA Active CN113535554B (zh) 2021-07-12 2021-07-12 一种Android系统设备的自动测试系统及其方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN113535554B (zh)

Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20050144586A1 (en) * 2003-12-24 2005-06-30 Institute For Information Industry Automated generation method of hardware/software interface for SIP development
JP2005535003A (ja) * 2001-11-19 2005-11-17 セルフ リペアリング コンピューターズ インコーポレイテッド 複数の独立コンピューティング環境をサポートすることができるコンピュータシステム
CN102185738A (zh) * 2011-05-13 2011-09-14 迈普通信技术股份有限公司 通信设备硬件主机的测试系统及测试方法
CN102214133A (zh) * 2011-07-22 2011-10-12 苏州工业园区七星电子有限公司 一种计算机硬件快速诊断测试系统
US20110296384A1 (en) * 2010-05-27 2011-12-01 Michael Pasternak Mechanism for Performing Dynamic Software Testing Based on Grouping of Tests Using Test List Entity
CN102341781A (zh) * 2009-03-06 2012-02-01 微软公司 软件测试台生成
CN102955723A (zh) * 2011-08-19 2013-03-06 中国科学院微电子研究所 一种硬件自动测试方法及系统
CN103927260A (zh) * 2014-04-22 2014-07-16 中国移动(深圳)有限公司 一种电信设备测试方法及系统
CN104280674A (zh) * 2013-07-08 2015-01-14 深圳伊欧陆微电子系统有限公司 一种通用硬件测试系统
CN104780407A (zh) * 2015-01-09 2015-07-15 康佳集团股份有限公司 一种机顶盒自动测试方法及系统
CN107195131A (zh) * 2017-04-13 2017-09-22 深圳怡化电脑股份有限公司 一种模拟硬件设备的方法及装置
CN107247599A (zh) * 2017-06-26 2017-10-13 北京华睿集成科技有限公司 仪器驱动模组和仪器驱动方法
CN107390109A (zh) * 2017-06-09 2017-11-24 苏州迅芯微电子有限公司 高速adc芯片的自动测试平台及其软件架构设计方法
CN110659167A (zh) * 2019-09-12 2020-01-07 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器硬件的测试方法、设备以及存储介质
CN112100012A (zh) * 2020-09-08 2020-12-18 深圳市创维群欣安防科技股份有限公司 一种安卓设备测试方法、安卓设备及存储介质
CN112181749A (zh) * 2020-10-19 2021-01-05 龙尚科技(上海)有限公司 硬件测试方法、装置、电子设备和存储介质
CN112328467A (zh) * 2020-09-17 2021-02-05 北京中数科技术有限公司 一种嵌入式系统程序测试方法及装置
CN112948276A (zh) * 2021-04-27 2021-06-11 顶象科技有限公司 模糊测试方法、装置和电子设备

Patent Citations (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005535003A (ja) * 2001-11-19 2005-11-17 セルフ リペアリング コンピューターズ インコーポレイテッド 複数の独立コンピューティング環境をサポートすることができるコンピュータシステム
US20050144586A1 (en) * 2003-12-24 2005-06-30 Institute For Information Industry Automated generation method of hardware/software interface for SIP development
CN102341781A (zh) * 2009-03-06 2012-02-01 微软公司 软件测试台生成
US20110296384A1 (en) * 2010-05-27 2011-12-01 Michael Pasternak Mechanism for Performing Dynamic Software Testing Based on Grouping of Tests Using Test List Entity
CN102185738A (zh) * 2011-05-13 2011-09-14 迈普通信技术股份有限公司 通信设备硬件主机的测试系统及测试方法
CN102214133A (zh) * 2011-07-22 2011-10-12 苏州工业园区七星电子有限公司 一种计算机硬件快速诊断测试系统
CN102955723A (zh) * 2011-08-19 2013-03-06 中国科学院微电子研究所 一种硬件自动测试方法及系统
CN104280674A (zh) * 2013-07-08 2015-01-14 深圳伊欧陆微电子系统有限公司 一种通用硬件测试系统
CN103927260A (zh) * 2014-04-22 2014-07-16 中国移动(深圳)有限公司 一种电信设备测试方法及系统
CN104780407A (zh) * 2015-01-09 2015-07-15 康佳集团股份有限公司 一种机顶盒自动测试方法及系统
CN107195131A (zh) * 2017-04-13 2017-09-22 深圳怡化电脑股份有限公司 一种模拟硬件设备的方法及装置
CN107390109A (zh) * 2017-06-09 2017-11-24 苏州迅芯微电子有限公司 高速adc芯片的自动测试平台及其软件架构设计方法
CN107247599A (zh) * 2017-06-26 2017-10-13 北京华睿集成科技有限公司 仪器驱动模组和仪器驱动方法
CN110659167A (zh) * 2019-09-12 2020-01-07 苏州浪潮智能科技有限公司 一种服务器硬件的测试方法、设备以及存储介质
CN112100012A (zh) * 2020-09-08 2020-12-18 深圳市创维群欣安防科技股份有限公司 一种安卓设备测试方法、安卓设备及存储介质
CN112328467A (zh) * 2020-09-17 2021-02-05 北京中数科技术有限公司 一种嵌入式系统程序测试方法及装置
CN112181749A (zh) * 2020-10-19 2021-01-05 龙尚科技(上海)有限公司 硬件测试方法、装置、电子设备和存储介质
CN112948276A (zh) * 2021-04-27 2021-06-11 顶象科技有限公司 模糊测试方法、装置和电子设备

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
F.PROCHAZKA: "Development of a hardware-in-the-loop demonstrator for the validation of fault-tolerant control methods for a hybrid UAV", 《CEAS AERONAUTICAL JOURNAL》, pages 549 *
佚名: "Python解析命令行读取参数 -- argparse模块", pages 1 - 5, Retrieved from the Internet <URL:《 https://zhuanlan.zhihu.com/p/361710729》> *
王星: "基于嵌入式Linux电力网关设计与用电异常行为分析", 《万方》, pages 1 - 59 *
靳天舒: "激光参数测量软件系统的研制", 《中国优秀硕士学位论文全文数据库 (基础科学辑)》, pages 005 - 411 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN113535554B (zh) 2024-03-12

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109302522B (zh) 测试方法、装置以及计算机系统和介质
CN110471831B (zh) 一种兼容测试的自动化方法及装置
US5950006A (en) Object-oriented programmable controller
CN102662785B (zh) 一种Android系统内核错误信息获取方法及装置
CN107066390B (zh) 一种动态内存泄漏检测方法及系统
US20130159977A1 (en) Open kernel trace aggregation
US7987456B2 (en) Qualitatively annotated code
CN110457211B (zh) 脚本性能测试方法、装置和设备及计算机存储介质
CN108170494B (zh) 一种用于智能终端的应用程序启动方法及启动系统
EP2410430A1 (en) System and method for use in indicating execution of application code
CN101751329A (zh) 一种实现自动测试的方法和系统
TWI476587B (zh) 測試電子裝置之功能的測試方法以及測試裝置
US20050204345A1 (en) Method and apparatus for monitoring computer software
CN107038120A (zh) 一种软件测试方法和设备
CN113832663B (zh) 控制芯片故障记录方法、装置以及控制芯片故障读取方法
CN100416512C (zh) 嵌入式设备调试方法及其调试工具
CN113535554A (zh) 一种Android系统设备的自动测试系统及其方法
CN101727371A (zh) 在bios中加入并运行内存检测工具的方法
EP3674903B1 (en) Mobile device with secondary debug display
CN113076233B (zh) 一种io性能检测方法、装置、设备及存储介质
CN108984380A (zh) 一种基于Linux系统的服务器测试方法、装置及介质
CN114661586A (zh) 一种嵌入式计算机软件测试方法
JP2007141193A (ja) ワイヤレスデバイスのリアルタイム性に適用するメモリリーク検出手法
CN104079453A (zh) 调试设备的枚举方法和装置
CN101430656B (zh) 特别模块寄存器的读写方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant