CN113483657A - 数据采集方法、检测转盘、装置、计算机设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请涉及一种数据采集方法、检测转盘、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：处理器响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置，根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据，根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。其中，卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片，数据采集指令用于采集各微阵列芯片的数据。在本方案中，基于检测转盘中的卡槽设计，以预设的扫描步进，通过激光采集组件扫描转盘卡槽中的微阵列芯片，以获取微阵列芯片中的医疗样本对应的扫描数据，不需要重复确定下一行的起始位置，简化了扫描流程，提高了扫描效率。

Description

数据采集方法、检测转盘、装置、计算机设备和存储介质

技术领域

本申请涉及医疗检测技术领域，特别是涉及一种数据采集方法、检测转盘、装置、计算机设备和存储介质。

背景技术

基于微阵列芯片的医疗检测指的是采用光导原位合成或微量点样等方法，将大量生物大分子比如核酸片段、多肽分子甚至组织切片、细胞等生物样品有序地固化于支持物(如玻片、尼龙膜等载体)的表面，组成密集二维分子排列，然后与已标记的待测生物样品中靶分子反应，通过特定的扫描仪器，比如激光共聚焦扫描仪或摄像机对反应信号的强度进行快速、并行、高效地检测分析。

由于被测的靶点是均匀分布在微阵列芯片上的，因此为了获得所有目标靶点的荧光信号强度，需要对微阵列芯片进行成像，常见的成像方式包括基于激光扫描仪的逐行逐列扫描技术，即通过激光扫描仪对微阵列芯片进行逐行逐列扫描，从而根据扫描到的微阵列芯片的数据进行检测分析。

但是，逐行逐列扫描技术的扫描过程复杂，数据采集效率低。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够简化微阵列芯片的数据采集过程，提高数据采集效率的采集方法、检测转盘、装置、计算机设备和存储介质。

第一方面，提供一种数据采集方法，该方法包括：

响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；数据采集指令用于采集各微阵列芯片的数据；

根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据；

根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。

在其中可选地一个实施例中，检测转盘中包括第一卡槽和多个第二卡槽；确定检测转盘中各卡槽的位置，包括：

在检测转盘以预设转速旋转的过程中，获取第一卡槽对应的档条上的缺口经过预设传感器的第一时长；

根据第一时长，确定第一卡槽的位置；

基于第一卡槽的位置和预设转速，确定各第二卡槽的位置。

在其中可选地一个实施例中，基于第一卡槽的位置和预设转速，确定各第二卡槽的位置，包括：

根据第一卡槽的位置、检测转盘的旋转方向、预设转速、以及第一卡槽与各第二卡槽之间的相对位置，确定各第二卡槽的位置。

在其中可选地一个实施例中，激光采集组件包括激光器和光电倍增管；根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据，包括：

控制激光器发射激光；

在每个扫描位置以预设转速、预设旋转方向旋转检测转盘，接收各微阵列芯片反射的光信号，并通过光电倍增管将各光信号转换为电信号；

根据各电信号，得到候选扫描数据。

在其中可选地一个实施例中，该方法还包括：

判断激光器的当前扫描次数；

若当前扫描次数小于预设次数阈值，则控制激光器根据预设的扫描步进向下一个扫描位置移动，执行在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据的步骤，并将所有微阵列芯片的候选扫描数据存储至预设的存储空间中；

若当前扫描次数等于预设次数阈值，则将存储空间中的所有微阵列芯片的目标扫描数据发送至图像处理器。

在其中可选地一个实施例中，该方法还包括：

以预设转速、预设旋转方向旋转检测转盘，检测卡槽中是否有微阵列芯片；

若存在至少一个卡槽中有微阵列芯片，则执行响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置的步骤；

若所有卡槽中均没有微阵列芯片，则输出第一告警信息；第一告警信息用于提醒所有卡槽中均没有微阵列芯片。

在其中可选地一个实施例中，该方法还包括：

响应于微阵列芯片的样本载入指令，检测所有卡槽中是否有微阵列芯片；

若存在至少一个卡槽中没有微阵列芯片，则以预设转速旋转检测装盘，将没有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，以在没有微阵列芯片的卡槽中载入微阵列芯片；

若所有卡槽中均有微阵列芯片，则输出第二告警信息；第二告警信息用于提醒所有卡槽中均有微阵列芯片。

在其中可选地一个实施例中，该方法还包括：

响应于微阵列芯片的样本取出指令，检测所有卡槽中是否有微阵列芯片；

若存在至少一个卡槽中有微阵列芯片，则以预设转速旋转检测装盘，将有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，以取出有微阵列芯片的卡槽中的微阵列芯片。

第二方面，提供一种检测转盘，该检测转盘包括至少一个卡槽；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；

检测转盘可旋转，用于在旋转过程中使得微阵列芯片被扫描，以得到微阵列芯片的扫描数据。

第三方面，提供一种数据采集装置，该装置包括第二方面提供的检测转盘和处理器；

处理器，用于执行第一方面提供的数据采集方法。

在其中可选地一个实施例中，检测转盘上均匀设置多个卡槽；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片。

在其中可选地一个实施例中，检测转盘外围设置有档条；在档条的对应于各个卡槽的位置上设置有缺口。

在其中可选地一个实施例中，该装置还包括传感器；传感器，用于在检测转盘以预设转速、预设旋转方向的旋转过程中，获取各卡槽对应的档条上的缺口经过传感器的时间，并将时间发送至处理器；

处理器，用于根据时间确定卡槽对应的档条上的缺口经过传感器的第一时长，并根据第一时长确定各卡槽的位置。

在其中可选地一个实施例中，该装置还包括激光采集组件；激光采集组件，用于向检测转盘发射激光，以获取微阵列芯片的扫描数据。

在其中可选地一个实施例中，该装置还包括移动导轨；

激光采集组件沿着移动导轨以预设扫描步进移动，在每个扫描位置扫描各微阵列芯片，得到各微阵列芯片的扫描数据。

第四方面，提供一种数据采集装置，该装置包括：

第一确定模块，用于响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；数据采集指令用于采集各微阵列芯片的数据；

扫描模块，用于根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据；

第二确定模块，用于根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。

第五方面，提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，该存储器存储有计算机程序，该处理器执行该计算机程序时实现上述第一方面任一所述的数据采集方法。

第六方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述第一方面任一所述的数据采集方法。

上述数据采集方法、检测转盘、装置、计算机设备和存储介质，处理器响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置，根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据，根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。其中，卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片，数据采集指令用于采集各微阵列芯片的数据。在本方案中，基于检测转盘中的卡槽设计，以预设的扫描步进，通过激光采集组件扫描转盘卡槽中的微阵列芯片，以获取微阵列芯片中的医疗样本对应的扫描数据，避免了现有技术中以横向、纵向进行逐行扫描技术中需要构建位置坐标系的繁复流程，在基于检测转盘的扫描过程中，不需要重复确定下一行的起始位置，简化了扫描流程，提高了微阵列芯片的扫描效率。

附图说明

图1为一个实施例中数据采集装置的应用环境图；

图2为一个实施例中检测转盘的结构示意图；

图3为一个实施例中数据采集方法的流程示意图；

图4为一个实施例中数据采集方法的流程示意图；

图5为一个实施例中数据采集方法的流程示意图；

图6为一个实施例中数据采集方法的流程示意图；

图7为一个实施例中数据采集方法的流程示意图；

图8为一个实施例中数据采集方法的流程示意图；

图9为一个实施例中数据采集方法的流程示意图；

图10为一个实施例中数据采集方法的流程示意图；

图11为一个实施例中数据采集装置的结构框图；

图12为一个实施例中数据采集装置的结构框图；

图13为一个实施例中数据采集装置的结构框图；

图14为一个实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。

本申请提供的数据采集方法，可以应用于图1给出的检测转盘的应用环境中。如图1所示，图1给出了检测转盘的俯视结构示意图，该检测转盘包括至少一个卡槽；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片。

可选地，卡槽均匀设置在检测转盘上，如图1所示，检测转盘中包括4个分布均匀的卡槽，分别为卡槽1、卡槽2、卡槽3、以及卡槽4，每个卡槽中均可以放置医疗样本对应的微阵列芯片。

检测转盘可旋转，在检测转盘的旋转过程中使得各个卡槽的微阵列芯片被扫描，以得到微阵列芯片的扫描数据。

在本实施例中，检测转盘可以以预设的旋转速度，以顺时针或逆时针旋转，在旋转过程中，可以通过激光采集组件获取卡槽中微阵列芯片的扫描数据。可选地，可以基于伺服电机控制检测转盘的转动方向和转动速度。

上述检测转盘，通过伺服电机进行控制转动，实现卡槽中微阵列芯片的扫描，控制精准，移动粒度细，相比起现有技术中的相机扫描技术或横纵向逐行扫描技术，可以适用于不同的项目场景、实用性强，且对光学组件精密度要求较低、调试相对简单，整体上降低了硬件、人工成本。

在另一个可选的实施例中，本申请提供的数据采集方法，可以应用于如图2所示的数据采集装置的应用环境中。图2提供了一种数据采集装置，该装置包括上述图1提供的检测转盘和处理器。

其中，处理器，用于响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置，根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据，从而根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。

在本实施例中，可选的，如图1所示，检测转盘上均匀设置多个卡槽；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片。示例地，检测转盘的四个对称方位各有一个用于放置医疗样本卡盒的卡槽，微阵列芯片安装在样本卡盒的前下方，当卡槽装有医疗样本卡盒时，激光采集组件发射出的光信号经过光学组件聚焦的光斑最终垂直投射在微阵列芯片上，激发出的荧光信号反射回来后经二向色镜进入光电倍增管，经过转换、放大成电压信号，最终传输至处理器中，得到微阵列芯片的扫描数据。

上述数据采集装置中，基于检测转盘中的卡槽设计，以预设的扫描步进，通过激光采集组件扫描转盘卡槽中的微阵列芯片，以获取微阵列芯片中的医疗样本对应的扫描数据，避免了现有技术中以横向、纵向进行逐行扫描技术中需要构建位置坐标系的繁复流程，在基于检测转盘的扫描过程中，不需要重复确定下一行的起始位置，简化了扫描流程，提高了微阵列芯片的扫描效率。

为了确定检测转盘上各个卡槽的位置，在其中可选地一个实施例中，如图1所示，检测转盘外围设置有档条；在档条的对应于各个卡槽的位置上设置有缺口。

在本实施例中，检测转盘上均匀分布了用于装医疗样本卡盒的卡槽，检测转盘的底部设计了一个圆形挡条，圆形挡条设置在卡槽的外围，将圆形挡条对应于不同的卡槽设置不同的缺口，为了确定卡槽位置，可以设定一个目标卡槽，例如，目标卡槽为卡槽1，设定卡槽1的缺口长度最长，用于确定卡槽1的位置，其它卡槽对应的缺口长度可以相等，也可以不相等，本实施例对此不做限定。

基于设定的圆形档条，处理器可以确定各个卡槽的在检测转盘中的位置，在其中可选地一个实施例中，该装置还包括传感器。

传感器，用于在检测转盘以预设转速、预设旋转方向的旋转过程中，获取各卡槽对应的档条上的缺口经过传感器的时间，并将时间发送至处理器。

处理器，用于根据时间确定卡槽对应的档条上的缺口经过传感器的第一时长，并根据第一时长确定各卡槽的位置。

其中，检测转盘的下方固定位置安装了一个传感器，该传感器可以光电传感器，当圆形挡条的缺口旋转经过此传感器时(未遮挡光线)，传感器输出高电平1；当圆形挡条的未开口部分旋转经过此传感器时(遮挡光线)，传感器输出低电平0，根据电平变化情况，可以档条上的缺口经过传感器的时间。可选地，在结构设计上，设定当圆形挡条刚触发传感器时，激光采集组件发出的激光投射在微阵列芯片有效扫描区域的起始位置，也即行起始位置。

在本实施例中，可以基于预设的转动速度控制检测转盘以预设方向匀速转动，当圆形挡条的开口进入和离开传感器的检测范围时，传感器会发生电平上升沿、下降沿的翻转，处理器捕捉IO口产生上升沿的时刻t1和产生下降沿的时刻t2，基于t1和t2，确定当前缺口经过传感器的时长为△t＝t2-t1，由于卡槽1对应的开口最长，因此对应的时长△t最大。当检测到△t处于卡槽1对应的间隔时间范围内时，记录当前位置为卡槽1。本实施例对此不做限定。

在本实施例中，基于光电传感器和圆形档条的结构设计，可以简单、方便的确定卡槽在检测转盘中的位置，从而获取卡槽中微阵列芯片的扫描数据，提高了数据采集的效率。

在其中可选地一个实施例中，该装置还包括激光采集组件；激光采集组件，用于向检测转盘发射激光，以获取微阵列芯片的扫描数据。

其中，当卡槽装有微阵列芯片时，激光器发射出的光信号经过光学组件聚焦的光斑最终垂直投射在微阵列芯片上，激发出的荧光信号反射回来后经二向色镜进入光电倍增管，经过转换、放大成电压信号，最终送入处理器的模数转换器，以得到微阵列芯片的扫描数据。可选地，荧光信号强度与转换后的电压值成正比。

在本实施例中，在确定卡槽1的位置后，可选地，可以控制检测转盘暂停旋转，基于激光采集组件获取卡槽的微阵列芯片的扫描数据并记录，记录完成后，继续旋转检测转盘直至确定卡槽2的位置，暂停检测转盘旋转，基于激光采集组件获取卡槽的微阵列芯片的扫描数据并记录，以此类推，获取卡槽3中的微阵列芯片的扫描数据和卡槽4中的微阵列芯片的扫描数据。

在本实施例中，荧光信号采集灵敏度高、响应速度快，基于激光采集组件对微阵列芯片进行扫描，提高了微阵列芯片数据采集的效率。另外，由于微阵列芯片反射的光信号强度很微弱，光电倍增管具有极微弱光探测、灵敏度极高的特性，可有效的将探测到的微弱信号放大转换为电信号；同时光电倍增管响应速度快，可满足高速运动时的信号转换成像需求。

在其中可选地一个实施例中，该装置还包括移动导轨；

激光采集组件沿着移动导轨以预设扫描步进移动，在每个扫描位置扫描各微阵列芯片，得到各微阵列芯片的扫描数据。

其中，当检测转盘旋转时，激光采集组件扫描微阵列芯片，以获取微阵列芯片的扫描数据，每当检测转盘旋转一圈后，微阵列芯片被激光采集组件扫描一行，得到微阵列芯片的一行扫描数据，通过驱动激光采集组件按照预设的扫描步进沿移动导轨移动，例如，将激光采集组件向原理检测转盘圆心的方向移动一步，为扫描微阵列芯片的下一行做准备，如此循环，直至扫描完整个微阵列芯片有效区域，得到微阵列芯片的扫描数据。

在本实施例中，基于移动导轨和激光采集组件的设计，可以实现在检测转盘旋转过程中的微阵列芯片的数据的扫描获取，避免了现有技术中横纵向进行逐行扫描的局限性，可以适用于不同的项目场景、实用性强。

下面将通过实施例并结合附图具体地对本申请的技术方案以及本申请的技术方案如何解决上述技术问题进行详细说明。下面这几个具体的实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例中不再赘述。需要说明的是，本申请图3-图10实施例提供的数据采集方法，其执行主体为数据采集系统中的处理器，也可以是数据采集装置，该数据采集装置可以通过软件、硬件或者软硬件结合的方式成为处理器的部分或全部。下述方法实施例中，均以执行主体是处理器为例来进行说明。

在一个实施例中，如图3所示，提供了一种数据采集方法，涉及的是处理器响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置，根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据，从而根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据的过程，包括以下步骤：

S201、响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；数据采集指令用于采集各微阵列芯片的数据。

其中，数据采集指令可以是基于数据采集装置的交互界面所触发的指令，该数据采集指令用于指示数据采集装置采集检测转盘中各个卡槽中的微阵列芯片的数据。

在本实施例中，处理器响应数据采集指令，驱动检测转盘以预设的速度、预设的旋转方向开始旋转，在旋转过程中，确定检测转盘中各个卡槽的位置，以便扫描各个卡槽中微阵列芯片所对应的数据。可选地，在检测转盘的转速发生改变时，需要重新定位各卡槽的位置，这样便于在检测转盘以不同速度旋转时，仍然可以实现同步每个卡槽中微阵列芯片被激光采集组件所扫描的起始时刻。其中，旋转方向可以为顺时针，也可以为逆时针，本实施例对此不做限定。

S202、根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据。

其中，预设的扫描步进可以根据微阵列芯片的尺寸等其他属性信息确定。在本实施例中，在确定卡槽的位置之后，旋转检测转盘，激光采集组件基于初始位置依次逐个扫描各卡槽中的微阵列芯片，得到各个微阵列芯片对应的候选扫描数据。在对所有卡槽中的微阵列芯片扫描一次过后，激光采集组件根据扫描步进，移动到下一个扫描位置，旋转检测转盘，获取各个微阵列芯片对应的候选扫描数据。

S203、根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。

在本实施例中，激光采集组件扫描一次将扫描到的候选扫描数据传输至处理器中，处理器将每一次扫描所获取的候选扫描数据对应存储至指定的存储空间中，在激光采集组件采集到微阵列芯片的完整扫描数据之后，处理器根据各个微阵列芯片对应的候选扫描数据，确定各个微阵列芯片的目标扫描数据。示例的，目标扫描数据可以为微阵列芯片的图像数据。可选的，处理器在确定各个微阵列芯片的目标扫描数据之后，可以按照预设的通信协议，将目标扫描数据打包并发送至上位机，其中上位机可以为图像处理器，以使图像处理器根据目标扫描数据进行后续的图像分析处理，本实施例对此不做限定。

上述数据采集方法中，处理器响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置，根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据，根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。其中，卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片，数据采集指令用于采集各微阵列芯片的数据。在本方案中，基于检测转盘中的卡槽设计，以预设的扫描步进，通过激光采集组件扫描转盘卡槽中的微阵列芯片，以获取微阵列芯片中的医疗样本对应的扫描数据，避免了现有技术中以横向、纵向进行逐行扫描技术中需要构建位置坐标系的繁复流程，在基于检测转盘的扫描过程中，不需要重复确定下一行的起始位置，简化了扫描流程，提高了微阵列芯片的扫描效率。

处理器确定第一卡槽的位置的过程，可参考上述实施例中确定第一卡槽的方法，在其中可选地一个实施例中，检测转盘中包括第一卡槽和多个第二卡槽；如图4所示，确定检测转盘中各卡槽的位置，包括：

S301、在检测转盘以预设转速旋转的过程中，获取第一卡槽对应的档条上的缺口经过预设传感器的第一时长。

S302、根据第一时长，确定第一卡槽的位置。

S303、基于第一卡槽的位置和预设转速，确定各第二卡槽的位置。

其中，检测转盘的下方固定位置安装了一个传感器，该传感器可以光电传感器，当圆形挡条的缺口旋转经过此传感器时(未遮挡光线)，传感器输出高电平1；当圆形挡条的未开口部分旋转经过此传感器时(遮挡光线)，传感器输出低电平0，根据电平变化情况，可以档条上的缺口经过传感器的时间。

在本实施例中，可以基于预设的转动速度控制检测转盘以预设方向匀速转动，当圆形挡条的开口进入和离开传感器的检测范围时，传感器会发生电平上升沿、下降沿的翻转，处理器捕捉IO口产生上升沿的时刻t1和产生下降沿的时刻t2，基于t1和t2，确定当前缺口经过传感器的时长为△t＝t2-t1，由于卡槽1对应的开口最长，因此对应的时长△t最大。当检测到△t处于卡槽1对应的间隔时间范围内时，记录当前位置为卡槽1。

在本实施例中，基于光电传感器和圆形档条的结构设计，可以简单、方便的确定卡槽在检测转盘中的位置，从而获取卡槽中微阵列芯片的扫描数据，提高了数据采集的效率。

在确定第一卡槽的位置之后，处理器可以相应的确定其他卡槽的位置，在其中可选地一个实施例中，基于第一卡槽的位置和预设转速，确定各第二卡槽的位置，包括：

根据第一卡槽的位置、检测转盘的旋转方向、预设转速、以及第一卡槽与各第二卡槽之间的相对位置，确定各第二卡槽的位置。

在本实施例中，第一卡槽与各第二卡槽之间的相对位置是在设计检测转盘时就确定的，第一卡槽与第二卡槽可以均匀的分布在检测转盘上。因此，处理器基于第一卡槽与各第二卡槽之间的相对位置、以及上面实施例中确定的第一卡槽的位置、检测转盘当前的旋转方向、以及当前的转速，便可以确定各个第二卡槽在当前旋转方向、当前转速下所对应的扫描位置。

在本实施例中，基于第一卡槽的位置、检测转盘的旋转方向、预设转速、以及第一卡槽与各第二卡槽之间的相对位置，可以确定其他第二卡槽的位置，从而处理器可以获取到各个卡槽对应的扫描数据，该位置确定方法简单、有效，提高了扫描数据的有效性。

为了降低数据采集成本，本实施例中通过激光采集组件采集卡槽中微阵列芯片中的数据，在其中可选地一个实施例中，如图5所示，激光采集组件包括激光器和光电倍增管；根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据，包括：

S401、控制激光器发射激光。

在本实施例中，在检测转盘旋转过程中，处理器通过控制驱动激光器发射激光，激光信号垂直照射在卡槽中的微阵列芯片上，并由微阵列芯片产生反射荧光信号。

S402、在每个扫描位置以预设转速、预设旋转方向旋转检测转盘，接收各微阵列芯片反射的光信号，并通过光电倍增管将各光信号转换为电信号。

在本实施例中，在激光器处于每个扫描位置的情况下，以及在检测转盘以预设转速、预设旋转方向旋转的旋转过程中，激光器接收各微阵列芯片反射的光信号，示例地，光信号可以为荧光信号，激光器将该荧光信号传输至光电倍增管，以使光电倍增管对荧光信号进行放大、转换等信号处理，得到各微阵列芯片对应的电信号，示例地，电信号可以为电压信号。

S403、根据各电信号，得到候选扫描数据。

在本实施例中，处理器获取光电倍增管处理得到的各微阵列芯片的电压信号，得到各微阵列芯片对应的候选扫描数据。

在本实施例中，荧光信号采集灵敏度高、响应速度快，基于激光采集组件对微阵列芯片进行扫描，提高了微阵列芯片数据采集的效率。另外，由于微阵列芯片反射的光信号强度很微弱，光电倍增管具有极微弱光探测、灵敏度极高的特性，可有效的将探测到的微弱信号放大转换为电信号；同时光电倍增管响应速度快，可满足高速运动时的信号转换成像需求。

为了确保微阵列芯片扫描数据的完整性，在其中可选地一个实施例中，如图6所示，该方法还包括：

S501、判断激光器的当前扫描次数。

在本实施例中，在激光器发射一次激光，完成对检测装盘上所有卡槽的扫描之后，记录激光器的扫描次数，可选地，处理器可以将扫描次数存储于指定的存储空间中。

S502、若当前扫描次数小于预设次数阈值，则控制激光器根据预设的扫描步进向下一个扫描位置移动，执行在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据的步骤，并将所有微阵列芯片的候选扫描数据存储至预设的存储空间中。

其中，预设次数阈值可以根据微阵列芯片的属性确定。预设扫描步进也可以根据微阵列芯片的属性所确定。

在本实施例中，若激光器的当前扫描次数小于预设的次数阈值，说明还未完成对微阵列芯片的完整数据的扫描获取，此时，处理器控制激光器根据预设的扫描步进向下一个扫描位置移动，示例地，预设步进为X距离；移动方向为远离检测转盘圆心的方向，在处理器控制激光器移动之后，激光器在新的位置，返回执行扫描各微阵列芯片，获取各微阵列芯片的候选扫描数据的操作。在对每一个卡槽中的微阵列芯片进行扫描之后，激光器可以将扫描数据发送至处理器中，处理器将扫描数据存储至预设的存储空间中。

S503、若当前扫描次数等于预设次数阈值，则将存储空间中的所有微阵列芯片的目标扫描数据发送至图像处理器。

在本实施例中，若激光器的当前扫描次数等于预设的次数阈值，说明已经完成对微阵列芯片的完整数据的扫描获取，处理器接收激光器所传输的微阵列芯片的所有扫描数据，或者，处理器直接从预设的存储空间中的获取所有微阵列芯片的目标扫描数据，并将该目标扫描数据发送至图像处理器，以使图像处理器根据目标扫描数据进行成像操作，并进行下一步地医疗样本数据分析，本实施例对此不做限定。

在本实施例中，根据预设的次数阈值，可以确定激光器当前是否已经完成对微阵列芯片的完整数据的扫描获取，进一步地提高了数据采集的可靠性和有效性。

在响应数据采集指令之前，在其中可选地一个实施例中，如图7所示，该方法还包括：

S601、以预设转速、预设旋转方向旋转检测转盘，检测卡槽中是否有微阵列芯片。

在本实施例中，处理器可以以预设转速、预设旋转方向旋转检测转盘，示例地，处理器控制检测转盘以低速、逆时针旋转，在旋转过程中，可选地，基于激光采集组件获取各个卡槽中的微阵列芯片的扫描数据，即，检测各个卡槽中是否存在微阵列芯片。或者，处理器还可以通过卡槽中内置的压力传感器，确定各个卡槽中是否存在微阵列芯片，检测卡槽中是否有微阵列芯片的方案本实施例不做限定。

S602、若存在至少一个卡槽中有微阵列芯片，则执行响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置的步骤。

在本实施例中，若激光采集组件获取到至少一个卡槽中的微阵列芯片的扫描数据，或者，处理器获取到压力传感器中至少一个卡槽中有微阵列芯片，则执行响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置的步骤，进行各个卡槽中微阵列芯片的数据采集操作。

S603、若所有卡槽中均没有微阵列芯片，则输出第一告警信息；第一告警信息用于提醒所有卡槽中均没有微阵列芯片。

在本实施例中，若激光采集组件没有获取到任意一个卡槽中的微阵列芯片的扫描数据，或者，处理器获取到压力传感器的数据指向卡槽中没有微阵列芯片，则输出提醒所有卡槽中均没有微阵列芯片的告警信息，即检测转盘中所有卡槽中均没有微阵列芯片，无法进行数据采集操作。

在本实施例中，在响应数据采集指令之前，检测卡槽中是否有微阵列芯片，在有微阵列芯片的情况下才响应数据采集指令，提高了数据采集的可靠性。

可选地，数据采集装置还包括交互界面，基于交互界面，处理器还可以响应其他操作指令，在一种场景下，在其中可选地一个实施例中，如图8所示，该方法还包括：

S701、响应于微阵列芯片的样本载入指令，检测所有卡槽中是否有微阵列芯片。

在本实施例中，数据采集装置的交互界面中可以设置样本载入选项，在样本载入选项被触发后，处理器响应于微阵列芯片的样本载入指令，检测所有卡槽中是否有微阵列芯片，其中，检测卡槽中是否有微阵列芯片的检测方法可参考上述步骤601，本实施例对检测方法不做限定。

S702、若存在至少一个卡槽中没有微阵列芯片，则以预设转速旋转检测装盘，将没有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，以在没有微阵列芯片的卡槽中载入微阵列芯片。

在本实施例中，若存在至少一个卡槽中没有微阵列芯片，即，至少有一个空闲卡槽时，处理器以预设转速旋转检测装盘，将没有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，示例地，目标位置可以为数据采集装置的加样处，可选地，处理器还可以控制数据采集装置的加样处的门锁打开，以提示用户在没有微阵列芯片的卡槽中载入微阵列芯片。

S703、若所有卡槽中均有微阵列芯片，则输出第二告警信息；第二告警信息用于提醒所有卡槽中均有微阵列芯片。

在本实施例中，若所有卡槽中均有微阵列芯片，即，所有卡槽均为占用状态，在这种情况下，处理器输出提醒所有卡槽中均有微阵列芯片的告警信息，以提示用户无法在当前卡槽中载入新的微阵列芯片。

在本实施例中，在用户触发样本载入指令之后，处理器进行检测转盘的空闲卡槽检测，在无空闲卡槽的情况下输出告警信息，提高了样本载入的可靠性。

在另一种场景下，在其中可选地一个实施例中，如图9所示，该方法还包括：

S801、响应于微阵列芯片的样本取出指令，检测所有卡槽中是否有微阵列芯片。

在本实施例中，数据采集装置的交互界面中可以设置样本取出选项，在样本取出选项被触发后，处理器响应于微阵列芯片的样本取出指令，检测所有卡槽中是否有微阵列芯片，其中，检测卡槽中是否有微阵列芯片的检测方法可参考上述步骤601，本实施例对检测方法不做限定。

S802、若存在至少一个卡槽中有微阵列芯片，则以预设转速旋转检测装盘，将有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，以取出有微阵列芯片的卡槽中的微阵列芯片。

其中，当至少有一个卡槽装有样本卡盒时，即，至少有一个卡槽中有微阵列芯片，处理器控制检测转盘旋转，直至将有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，示例地，目标位置可以为数据采集装置的加样处，可选地，处理器还可以控制数据采集装置的加样处的门锁打开，以提示用户在装有微阵列芯片的卡槽中取出微阵列芯片。

在本实施例中，在用户触发样本取出指令之后，处理器进行检测转盘的占用卡槽检测，并将装有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，以使用户取出微阵列芯片，提高了样本取出交互的智能化。

为了更好的说明上述方法，如图10所示，本实施例提供一种数据采集方法，具体包括：

S101、以预设转速、预设旋转方向旋转检测转盘，检测卡槽中是否有微阵列芯片；

S102、若存在至少一个卡槽中有微阵列芯片，则响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置；

S103、控制激光器发射激光；

S104、在每个扫描位置以预设转速、预设旋转方向旋转检测转盘，接收各微阵列芯片反射的光信号，并通过光电倍增管将各光信号转换为电信号；

S105、根据各电信号，得到候选扫描数据；

S106、判断激光器的当前扫描次数；若当前扫描次数小于预设次数阈值，则执行步骤S107；若当前扫描次数等于预设次数阈值，则执行步骤108；

S107、将所有微阵列芯片的候选扫描数据存储至预设的存储空间中，控制激光器根据预设的扫描步进向下一个扫描位置移动，返回执行步骤S104；

S108、将存储空间中的所有微阵列芯片的目标扫描数据发送至图像处理器；

S109、若所有卡槽中均没有微阵列芯片，则输出第一告警信息。

在本实施例中，基于检测转盘中的卡槽设计，以预设的扫描步进，通过激光采集组件扫描转盘卡槽中的微阵列芯片，以获取微阵列芯片中的医疗样本对应的扫描数据，避免了现有技术中以横向、纵向进行逐行扫描技术中需要构建位置坐标系的繁复流程，在基于检测转盘的扫描过程中，不需要重复确定下一行的起始位置，简化了扫描流程，提高了微阵列芯片的扫描效率。

上述实施例提供的数据采集方法，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。

应该理解的是，虽然图3-10的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，图3-10中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。

在一个实施例中，如图11所示，提供了一种数据采集装置，包括：第一确定模块01、扫描模块02和第二确定模块03，其中：

第一确定模块01，用于响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；数据采集指令用于采集各微阵列芯片的数据；

扫描模块02，用于根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据；

第二确定模块03，用于根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。

在其中可选地一个实施例中，检测转盘中包括第一卡槽和多个第二卡槽；第一确定模块01，用于在检测转盘以预设转速旋转的过程中，获取第一卡槽对应的档条上的缺口经过预设传感器的第一时长；根据第一时长，确定第一卡槽的位置；基于第一卡槽的位置和预设转速，确定各第二卡槽的位置。

在其中可选地一个实施例中，第一确定模块01，用于根据第一卡槽的位置、检测转盘的旋转方向、预设转速、以及第一卡槽与各第二卡槽之间的相对位置，确定各第二卡槽的位置。

在其中可选地一个实施例中，激光采集组件包括激光器和光电倍增管；扫描模块02，用于控制激光器发射激光；在每个扫描位置以预设转速、预设旋转方向旋转检测转盘，接收各微阵列芯片反射的光信号，并通过光电倍增管将各光信号转换为电信号；根据各电信号，得到候选扫描数据。

在其中可选地一个实施例中，如图12所示，上述数据采集装置还包括判断模块04；

判断模块04，用于判断激光器的当前扫描次数；若当前扫描次数小于预设次数阈值，则控制激光器根据预设的扫描步进向下一个扫描位置移动，执行在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据的步骤，并将所有微阵列芯片的候选扫描数据存储至预设的存储空间中；若当前扫描次数等于预设次数阈值，则将存储空间中的所有微阵列芯片的目标扫描数据发送至图像处理器。

在其中可选地一个实施例中，如图13所示，上述数据采集装置还包括检测模块05；

检测模块05，用于以预设转速、预设旋转方向旋转检测转盘，检测卡槽中是否有微阵列芯片；若存在至少一个卡槽中有微阵列芯片，则执行响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置的步骤；若所有卡槽中均没有微阵列芯片，则输出第一告警信息；第一告警信息用于提醒所有卡槽中均没有微阵列芯片。

在其中可选地一个实施例中，检测模块05，还用于响应于微阵列芯片的样本载入指令，检测所有卡槽中是否有微阵列芯片；若存在至少一个卡槽中没有微阵列芯片，则以预设转速旋转检测装盘，将没有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，以在没有微阵列芯片的卡槽中载入微阵列芯片；若所有卡槽中均有微阵列芯片，则输出第二告警信息；第二告警信息用于提醒所有卡槽中均有微阵列芯片。

在其中可选地一个实施例中，检测模块05，还用于响应于微阵列芯片的样本取出指令，检测所有卡槽中是否有微阵列芯片；若存在至少一个卡槽中有微阵列芯片，则以预设转速旋转检测装盘，将有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，以取出有微阵列芯片的卡槽中的微阵列芯片。

关于数据采集装置的具体限定可以参见上文中对于数据采集方法的限定，在此不再赘述。上述数据采集装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图14所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器、通信接口、显示屏和输入装置。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质、内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、运营商网络、NFC(近场通信)或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种数据采集方法。该计算机设备的显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。

本领域技术人员可以理解，图14中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：

响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；数据采集指令用于采集各微阵列芯片的数据；

根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据；

根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。

上述实施例提供的计算机设备，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。

在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置；卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；数据采集指令用于采集各微阵列芯片的数据；

根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转检测转盘，通过激光采集组件扫描各微阵列芯片，得到候选扫描数据；

根据各卡槽的位置从候选扫描数据中确定每个微阵列芯片的目标扫描数据。

上述实施例提供的计算机可读存储介质，其实现原理和技术效果与上述方法实施例类似，在此不再赘述。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、磁带、软盘、闪存或光存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)或外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器(Static Random Access Memory，SRAM)或动态随机存取存储器(Dynamic Random Access Memory，DRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (18)

1.一种数据采集方法，其特征在于，所述方法包括：

响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置；所述卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；所述数据采集指令用于采集各所述微阵列芯片的数据；

根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转所述检测转盘，通过激光采集组件扫描各所述微阵列芯片，得到候选扫描数据；

根据各所述卡槽的位置从所述候选扫描数据中确定每个所述微阵列芯片的目标扫描数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述检测转盘中包括第一卡槽和多个第二卡槽；所述确定检测转盘中各卡槽的位置，包括：

在所述检测转盘以预设转速旋转的过程中，获取所述第一卡槽对应的档条上的缺口经过预设传感器的第一时长；

根据所述第一时长，确定所述第一卡槽的位置；

基于所述第一卡槽的位置和所述预设转速，确定各所述第二卡槽的位置。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一卡槽的位置和所述预设转速，确定各所述第二卡槽的位置，包括：

根据所述第一卡槽的位置、所述检测转盘的旋转方向、所述预设转速、以及所述第一卡槽与各所述第二卡槽之间的相对位置，确定各所述第二卡槽的位置。

4.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述激光采集组件包括激光器和光电倍增管；所述根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转所述检测转盘，通过激光采集组件扫描各所述微阵列芯片，得到候选扫描数据，包括：

控制所述激光器发射激光；

在每个扫描位置以预设转速、预设旋转方向旋转所述检测转盘，接收各所述微阵列芯片反射的光信号，并通过所述光电倍增管将各所述光信号转换为电信号；

根据各所述电信号，得到所述候选扫描数据。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

判断所述激光器的当前扫描次数；

若所述当前扫描次数小于预设次数阈值，则控制所述激光器根据所述预设的扫描步进向下一个扫描位置移动，执行所述在每个扫描位置旋转所述检测转盘，通过激光采集组件扫描各所述微阵列芯片，得到候选扫描数据的步骤，并将所有所述微阵列芯片的候选扫描数据存储至预设的存储空间中；

若所述当前扫描次数等于所述预设次数阈值，则将所述存储空间中的所有所述微阵列芯片的目标扫描数据发送至图像处理器。

6.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

以预设转速、预设旋转方向旋转所述检测转盘，检测所述卡槽中是否有微阵列芯片；

若存在至少一个卡槽中有所述微阵列芯片，则执行所述响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置的步骤；

若所有所述卡槽中均没有所述微阵列芯片，则输出第一告警信息；所述第一告警信息用于提醒所有卡槽中均没有微阵列芯片。

7.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

响应于所述微阵列芯片的样本载入指令，检测所有所述卡槽中是否有所述微阵列芯片；

若存在至少一个卡槽中没有微阵列芯片，则以预设转速旋转所述检测装盘，将没有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，以在所述没有微阵列芯片的卡槽中载入微阵列芯片；

若所有所述卡槽中均有所述微阵列芯片，则输出第二告警信息；所述第二告警信息用于提醒所有卡槽中均有微阵列芯片。

8.根据权利要求1-3中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

响应于接收所述微阵列芯片的样本取出指令，检测所有所述卡槽中是否有所述微阵列芯片；

若存在至少一个卡槽中有微阵列芯片，则以预设转速旋转所述检测装盘，将有微阵列芯片的卡槽旋转至目标位置，以取出所述有微阵列芯片的卡槽中的微阵列芯片。

9.一种检测转盘，其特征在于，所述检测转盘包括至少一个卡槽；所述卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；

所述检测转盘可旋转，用于在旋转过程中使得所述微阵列芯片被扫描，以得到所述微阵列芯片的扫描数据。

10.一种数据采集装置，其特征在于，所述装置包括权利要求9所述的检测转盘和处理器；

所述处理器，用于执行权利要求1-8所述的数据采集方法。

11.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述检测转盘上均匀设置多个卡槽；所述卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片。

12.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述检测转盘外围设置有档条；在档条的对应于各个卡槽的位置上设置有缺口。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述装置还包括传感器；所述传感器，用于在所述检测转盘以预设转速、预设旋转方向的旋转过程中，获取各所述卡槽对应的档条上的缺口经过所述传感器的时间，并将所述时间发送至所述处理器；

所述处理器，用于根据所述时间确定所述卡槽对应的档条上的缺口经过所述传感器的第一时长，并根据所述第一时长确定各所述卡槽的位置。

14.根据权利要求10所述的装置，其特征在于，所述装置还包括激光采集组件；所述激光采集组件，用于向所述检测转盘发射激光，以获取所述微阵列芯片的扫描数据。

15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，所述装置还包括移动导轨；

所述激光采集组件沿着所述移动导轨以预设扫描步进移动，在每个扫描位置扫描各所述微阵列芯片，得到各所述微阵列芯片的扫描数据。

16.一种数据采集装置，其特征在于，所述装置包括：

第一确定模块，用于响应于数据采集指令，确定检测转盘中各卡槽的位置；所述卡槽用于放置医疗样本对应的微阵列芯片；所述数据采集指令用于采集各所述微阵列芯片的数据；

扫描模块，用于根据预设的扫描步进，在每个扫描位置旋转所述检测转盘，通过激光采集组件扫描各所述微阵列芯片，得到候选扫描数据；

第二确定模块，用于根据各所述卡槽的位置从所述候选扫描数据中确定每个所述微阵列芯片的目标扫描数据。

17.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。

18.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至8中任一项所述的方法的步骤。

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