CN113447708A - 非恒包络调制信号的功率测量方法、装置及电子设备 - Google Patents

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Abstract

本申请公开了一种非恒包络调制信号的功率测量方法、装置、电子设备和存储介质。其中方法包括：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；根据采样数据，计算采样时长内的采样功率值；通过采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；获取目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；根据目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。本申请实施例可以在很大程度上降低了测量时间，同时保证了测量精确性，提高了功率测量效率，降低了测试成本。

Description

非恒包络调制信号的功率测量方法、装置及电子设备
技术领域
本申请涉及无线终端设备性能测试技术领域，尤其涉及一种非恒包络调制信号的功率测量方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。
背景技术
目前，针对非恒包络调制信号的功率测量而言，由于非恒包络调制信号在连续的周期内其峰值的幅度保持变化，短时间内测量功率会导致功率测量结果误差较大。因此，相关技术中，常用的测量方法就是通过长时间的测量来平均掉非恒包络测量带来的功率误差。但是，这种功率测量方法增加了测量时间，不适用于生产线上的快速大批量测试方式。
发明内容
本申请的目的旨在至少在一定程度上解决上述的技术问题之一。
为此，本申请的第一个目的在于提出一种非恒包络调制信号的功率测量方法。该方法可以在很大程度上降低测量时间，同时保证测量精确性，提高功率测量效率，并降低测试成本。
本申请的第二个目的在于提出另一种非恒包络调制信号的功率测量方法。
本申请的第三个目的在于提出一种非恒包络调制信号的功率测量装置。
本申请的第四个目的在于提出另一种非恒包络调制信号的功率测量装置。
本申请的第五个目的在于提出一种电子设备。
本申请的第六个目的在于提出一种计算机可读存储介质。
为达到上述目的，本申请第一方面实施例提出的非恒包络调制信号的功率测量方法，包括：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；根据所述采样数据，计算所述采样时长内的采样功率值；通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
根据本申请的一个实施例中，通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段，包括：以所述采样数据中采样值的数量为单元，将所述整个非恒包络的基带IQ数据划分为多个基带IQ数据段；通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段。
根据本申请的一个实施例中，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：计算所述采样数据中各采样值与每个基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和，得到多个差值总和；确定所述差值总和中的最小值，并将所述差值总和中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
根据本申请的一个实施例中，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：根据所述采样数据中各采样值和每个基带IQ数据段内各IQ数据进行方差计算，得到多个方差；确定所述多个方差中的最小值，并将所述方差中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
根据本申请的一个实施例中，获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，包括：基于所述目标基带IQ数据段，从多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。
根据本申请的一个实施例中，通过以下方式获得所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准：获取进行功率校准所需的整个包络的基带IQ数据样本；基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述基带IQ数据样本划分为多个基带IQ数据样本段；计算所述多个基带IQ数据样本段的功率分别与所述所需的整个非恒包络的平均功率的差值；将得到的多个差值确定为所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准。
根据本申请的一个实施例中，根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率，包括：将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
根据本申请的一个实施例中，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
为达到上述目的，本申请第二方面实施例提出的非恒包络调制信号的功率测量方法，包括：对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；对所述采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据；根据所述采样基带IQ数据，计算所述采样时长内的采样功率值；通过所述采样二进制数据在所述被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数据段；获取所述目标二进制数据段所对应的功率校准值；根据所述目标二进制数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
根据本申请的一个实施例中，获取所述目标二进制数据段所对应的功率校准值，包括：基于所述目标二进制数据段，从多个二进制数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标二进制数据段所对应的功率校准值。
根据本申请的一个实施例中，通过以下方式获得所述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值：获取进行功率校准所需的二进制数据样本；基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述所需的二进制数据样本划分为多个二进制数据样本段；基于所述多个二进制数据样本段所对应的基带IQ数据样本段，计算所述多个二进制数据样本段对应的多个IQ功率；计算所述多个IQ功率分别与整个非恒包络的平均功率的差值；将得到的多个差值确定为所述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值。
根据本申请的一个实施例中，根据所述目标二进制数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率，包括：将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标二进制数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
根据本申请的一个实施例中，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
为达到上述目的，本申请第三方面实施例提出的非恒包络调制信号的功率测试装置，包括：采样模块，用于对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；采样功率值计算模块，用于根据所述采样数据，计算所述采样时长内的采样功率值；数据匹配模块，用于通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；功率校准值获取模块，用于获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；校准模块，用于根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
根据本申请的一个实施例中，所述数据匹配模块具体用于：以所述采样数据中采样值的数量为单元，将所述整个非恒包络的基带IQ数据划分为多个基带IQ数据段；通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段。
根据本申请的一个实施例中，所述数据匹配模块具体用于：计算所述采样数据中各采样值与每个基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和，得到多个差值总和；确定所述差值总和中的最小值，并将所述差值总和中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
根据本申请的一个实施例中，所述数据匹配模块具体用于：根据所述采样数据中各采样值和每个基带IQ数据段内各IQ数据进行方差计算，得到多个方差；确定所述多个方差中的最小值，并将所述方差中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
根据本申请的一个实施例中，所述功率校准值获取模块具体用于：基于所述目标基带IQ数据段，从多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。
根据本申请的一个实施例中，所述装置还包括：基带IQ数据样本获取模块，用于获取进行功率校准所需的整个包络的基带IQ数据样本；划分模块，用于基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述基带IQ数据样本划分为多个基带IQ数据样本段；差值计算模块，用于计算所述多个基带IQ数据样本段的功率分别与所述所需的整个非恒包络的平均功率的差值；功率校准值确定模块，用于将得到的多个差值确定为所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值。
根据本申请的一个实施例中，所述校准模块具体用于：将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
根据本申请的一个实施例中，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
为达到上述目的，本申请第四方面实施例提出的非恒包络调制信号的功率测试装置，包括：采样模块，用于对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；解码模块，用于对所述采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据；采样功率值计算模块，用于根据所述采样基带IQ数据，计算所述采样时长内的采样功率值；数据匹配模块，用于通过所述采样二进制数据在所述被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数据段；功率校准值获取模块，用于获取所述目标二进制数据段所对应的功率校准值；校准模块，用于根据所述目标二进制数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
根据本申请的一个实施例中，所述功率校准值获取模块具体用于：基于所述目标二进制数据段，从多个二进制数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标二进制数据段所对应的功率校准值。
根据本申请的一个实施例中，所述装置还包括：二进制数据样本获取模块，用于获取进行功率校准所需的二进制数据样本；划分模块，用于基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述所需的二进制数据样本划分为多个二进制数据样本段；IQ功率计算模块，用于基于所述多个二进制数据样本段所对应的基带IQ数据样本段，计算所述多个二进制数据样本段对应的多个IQ功率；差值计算模块，用于计算所述多个IQ功率分别与整个非恒包络的平均功率的差值；功率校准值确定模块，用于将得到的多个差值确定为所述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值。
根据本申请的一个实施例中，所述校准模块具体用于：将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标二进制数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
根据本申请的一个实施例中，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
为达到上述目的，本申请第五方面实施例提出的电子设备，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现本申请第一方面实施例所述的非恒包络调制信号的功率测试方法，或者，本申请第二方面实施例所述的非恒包络调制信号的功率测试方法。
为达到上述目的，本申请第六方面实施例提出的计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现本申请第一方面实施例所述的非恒包络调制信号的功率测试方法，或者，本申请第二方面实施例所述的非恒包络调制信号的功率测试方法。
根据本申请实施例的技术方案，可通过短时间采样，提供了基于基带IQ数据或二进制码源数据匹配方式对整个非恒包络功率进行计算和校准，从而解决了包络不恒定造成的功率测量误差，在很大程度上降低了测量时间，极大地缩短了大规模生产的功率测试时间，同时保证了测量精确性，提高了功率测量效率，降低了测试成本。
本申请附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
附图说明
本申请上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为被测件作为发射源，仪表进行功率测量和解调的示意图；
图2为在不同采样时长下的测量精度曲线的示例图；
图3是根据本申请一个实施例的非恒包络调制信号的功率测量方法的流程图；
图4是根据本申请实施例的目标基带IQ数据段的匹配示例图；
图5是根据本申请实施例的获取多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值的流程图；
图6是根据本申请一个实施例的非恒包络调制信号的功率测试装置的结构示意图；
图7是根据本申请一个具体实施例的非恒包络调制信号的功率测试装置的结构示意图；
图8是根据本申请另一个实施例的非恒包络调制信号的功率测试方法的流程图；
图9是根据本申请另一个具体实施例的非恒包络调制信号的功率测试方法的流程图；
图10是根据本申请另一个实施例的非恒包络调制信号的功率测试装置的结构示意图；
图11是根据本申请另一个具体实施例的非恒包络调制信号的功率测试装置的结构示意图；
图12是根据本申请一个实施例的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本申请的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本申请，而不能理解为对本申请的限制。
无线终端设备在生产过程中都必须经过测试才可以销售到市场上。在生产过程的产线测试中，无线终端设备的无线收发性能尤为重要，决定了无线终端设备设备通信质量的好坏和用户的真实体验。在目前的无线终端设备设备产线测试中，以无线终端设备的收发性能测试为主，主要测试无线终端设备的接收信号电平以及发射功率，保证投放到市场的无线终端设备一致性，可靠性和稳定性。
在现有的无线终端测试中，功率测量是必不可缺的环节。无线终端的发射功率大小以及接收能力都是在实验室研发以及大规模产线测量中必须要进行的。随着5G(5thGeneration Mobile Networks，第五代移动通信技术)通信系统的到来，为保证更高的无线通信速率及可靠性，无线终端设备所涉及的天线个数增加，频段范围也有所增加，这些天线除了Wi-Fi(Wireless Fidelity，无线保真)天线、2G(The 2nd Generation，第二代手机通信技术)～4G(the 4th Generation Mobile Communication Technology，第四代移动信息系统)的移动通信天线等，还增加了多个5G的天线、天线工作的频段也增加了5G的频段，这导致测试工作量大大增加。对于移动信号来说，现在主要以4G LTE(Long Term Evolution，长期演进)和5G测量为主，随着4G、5G的发展，对手机的测量准确性以及测量速度有了更高的要求。在2G时代，对于一些简单的调制方式如MSK(Minimum Shift Keying，最小频移键控)以及GMSK(Gaussian Filtered Minimum Shift Keying，高斯最小频移键控)来说，都是恒包络信号，信号在连续的周期内其峰值的幅度保持不变，而对于现在的WIFI、LTE甚至是5G的测量信号来说，采用的是QPSK(Quadrature Phase Shift Keying，正交相移键控)、16-QAM(Quadrature Amplitude Modulation，正交幅度调制)、64-QAM、256-QAM或OFDM(Orthogonal Frequency Division Multiplexing，正交频分复用技术)调制信号，这些信号属于非恒包络信号，信号在连续的周期内其峰值的幅度保持变化，短时间内测量功率会导致功率测量结果误差较大，因此，常用的测量方法就是通过长时间的测量来平均掉非恒包络测量带来的测量，但这种功率测量方法增加了测量时间，不适用于生产线上的快速大批量测试方式。
下面以实际例子说明现有技术中的非恒包络功率测试方法。
以5G NR 20MHz带宽信号，调制方式为16-QAM为例，图1为被测件作为发射源，仪表进行功率测量和解调的示意图。如图1所示，在16-QAM调制中，二进制信号通过转换成基带的IQ数字信号，再经过上变频后，通过天线发射出去。在仪表接收端，通过下变频及低通滤波后变成基带IQ信号后，最终输出二进制信号。
在传统仪表功率测量中，通常是通过计算接收端IQ信号的功率。一般在计算过程中，通过采样一定的时长来计算IQ的信号的功率。以5G NR 20MHz带宽信号为例，一个周期信号为10ms(毫秒)，不同的采样时长，导致的采样精度不同。图2为在不同采样时长下的测量精度曲线的示例图。如图2所示，随着采样时长的增加，用采样点进行功率计算的误差逐渐减小，其几个典型值可如下表格1所示：
表格1
采样点数 采样时间 测量误差(dB)
1228 ≈10us 2.53
12288 100us 0.54
122880 1ms 0.13
245760 2ms 0.075
368640 3ms 0.051
614400 5ms 0.026
1228800 10ms 0.0002
由上述表格1中可以发现，要想使得测量误差在0.05以内，理论上采样时长至少要超过3ms，在有噪声干扰的情况下，进行精确测量所需要的采样时长可能更长。通过长时间的采样平均来消除非恒包络造成的功率误差的影响，会导致在大规模产线测量时间过长，测量效率低。
为了降低功率测量的时间，提高测量效率，本申请提出了一种非恒包络调制信号的快速功率测量方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。具体地，下面参考附图描述本申请实施例的非恒包络调制信号的功率测量方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质。
图3是根据本申请一个实施例的非恒包络调制信号的功率测量方法的流程图。如图3所示，该非恒包络调制信号的功率测量方法可以包括：
步骤310，对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度。作为一种示例，该被测件可为具有无线天线的无线终端设备，例如，移动终端等。
举例而言，假设本申请实施例的非恒包络调制信号的功率测量方法应用于电子设备上，该电子设备具有对被测件的无线性能进行测试的功能，比如该电子设备可为仪表功率测量设备，可通过电子设备对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度。作为一种示例，上述采样时长小于上述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
优选地，上述采样时长可为300μs(微秒)。由此可见，在本示例中，该采样时长为300μs，是一个较短时间，也就是说，可采用较短时间的采样时间对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得该采样时间内采集到的基带IQ数据段。
需要说明的是，上述基带IQ数据可理解是被测件中基带的I路信号和Q路信号数据。
步骤320，根据采样数据，计算上述采样时长内的采样功率值。
例如，可通过功率计算公式，通过上述采样数据计算上述采样时长内的采样功率值。其中，在本申请的实施例中，该功率计算公式可如下：PowerSample＝20*log[mean(abs(SampleIQ1))]，其中，PowerSample为上述采样功率值；SampleIQ1为上述采样时长内采集到的采样数据；abs()为绝对值函数；mean()为平均值函数；log()为对数函数。
步骤330，通过采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段。
可选地，以上述采样数据中采样值的数量为单元，将上述整个非恒包络的基带IQ数据划分为多个基带IQ数据段，之后，可通过上述采样数据，从上述多个基带IQ数据段中匹配出上述目标基带IQ数据段。也就是说，可将上述采样数据作为一个匹配单元，然后，将这个匹配单元内的各基带IQ数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，并将匹配到的基带IQ数据段作为上述目标基带IQ数据段。
在本申请的实施例中，通过上述采样数据，可采用匹配算法从上述多个基带IQ数据段中匹配出目标基带IQ数据段。其中，该匹配算法可以是计算方差最小值的方式进行匹配，或者，是计算差值总和的最小值的方法进行匹配，或者，还可以采用其他匹配算法，比如相似度匹配等，本申请对此不做具体限定。
作为一种可能实现方式的示例，所述通过上述采样数据，从上述多个基带IQ数据段中匹配出上述目标基带IQ数据段的具体实现过程可如下：计算上述采样数据中各采样值与每个基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和，得到多个差值总和，之后，可确定上述多个差值总和中的最小值，并将上述多个差值总和中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为上述目标基带IQ数据段。
可选地，通过以下求和公式，计算上述采样数据中各采样值与每个基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和，得到多个差值总和，之后，可将上述多个差值总和中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为上述目标基带IQ数据段。其中，上述求和公式可如下：Sum＝∑{abs(abs(SampleIQ1)-abs(SourceIQi))}，其中，Sum为差值总和，SampleIQ1为上述采样时长内采集到的采样数据，SourceIQi为第i个基带IQ数据段。
举例而言，假设整个非恒包络信号为10ms，其具有10000个基带IQ数据，上述采样数据中具有1000个采样值，在本示例中，可将上述1000个采样值，在10000个基带IQ数据中进行数据匹配。比如，10000个基带IQ数据可被划分为十个1000个基带IQ数据，可计算上述1000个采样值分别与上述十个1000个基带IQ数据的差值总和，这样，可得到十个差值总和，之后，可从这十个差值总和中确定出最小值，而该差值总和的最小值所对应的基带IQ数据段即为匹配到的目标基带IQ数据段。例如，上述整个非恒包络的基带IQ数据是以上述采样时长在任意采样时间点所采集到的基带IQ数据，所以，按照不同时间点，整个非恒包络的基带IQ数据会被分成多个基带IQ数据段，如图4所示，在匹配点时，采样数据中各采样值与基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和的最小值，会出现很大的凹陷点，得到的凹陷点对应的基带IQ数据段即为匹配到的目标基带IQ数据段。
作为另一种可能实现方式的示例，所述通过上述采样数据，从上述多个基带IQ数据段中匹配出上述目标基带IQ数据段的具体实现过程可如下：根据上述采样数据中各采样值和每个基带IQ数据段内各IQ数据进行方差计算，得到多个方差，之后，可确定上述多个方差中的最小值，并将上述方差中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为上述目标基带IQ数据段。
举例而言，假设整个非恒包络信号为10ms，其具有10000个基带IQ数据，上述采样数据中具有1000个采样值，在本示例中，可将上述1000个采样值，在10000个基带IQ数据中进行数据匹配。比如，10000个基带IQ数据可被划分为十个1000个基带IQ数据，可计算上述1000个采样值分别与上述十个1000个基带IQ数据的方差，这样，可得到十个方差值，之后，可从这十个方差值中确定出最小值，而该方差值的最小值所对应的基带IQ数据段即为匹配到的目标基带IQ数据段。
步骤340，获取目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。
可选地，基于上述目标基带IQ数据段，从多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值中，确定出上述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。可以理解，上述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值可以是预先计算而获得的，具体实现过程可参见后续实施例的描述。
步骤350，根据目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
可选地，将上述采样时长内的采样功率值减去上述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。也就是说，通过短时间采样以得到短时间内的采样数据，进而基于该短时间内的采样数据进行匹配，以得到对应的功率校准值，之后，基于该功率校准值对上述短时间内的功率进行校准，从而得到整个非恒包络的实际功率，能够实现在短时间采样的情况下快速并精确计算出整个非恒包络内的总功率，可用于4G LTE、5G NR以及WIFI等非恒包络调制的信号功率测量中。
需要说明的是，上述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值可以是预先计算而获得的。作为一种示例，如图5所示，上述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值可通过以下方式来获得：
步骤501，获取进行功率校准所需的整个非恒包络的基带IQ数据样本。
作为一种示例，可通过采样一个数据周期，来获取原始被测件发射出来的基带IQ数据，其中，该数据周期可为非恒包络信号的周期信号时长。作为另一种示例，上述进行功率校准所需的整个包络的基带IQ数据样本可以是预先协定的，比如，可与被测件厂商进行协定，规定周期内的基带IQ数据作为上述进行功率校准所需的整个非恒包络的基带IQ数据样本。
步骤502，基于上述采样时长和多个采样时间点，将上述基带IQ数据样本划分为多个基带IQ数据样本段。
也就是说，可按照上述采样时长和多个不同的采样时间点，将上述进行功率校准所需的整个非恒包络的基带IQ数据样本，划分为多个基带IQ数据样本段。其中，上述基带IQ数据样本段可理解为在对应采样时间点，进行上述采样时长的采样而能够得到的基带IQ数据。
步骤503，计算上述多个基带IQ数据样本段的功率分别与上述所需的整个非恒包络的平均功率的差值。
也就是说，可通过功率计算公式，计算每个基带IQ数据样本段的功率。其中，该功率计算公式可为：PowerSamplei＝20*log[mean(abs(SampleIQi))]，其中，PowerSamplei为第i个基带IQ数据样本段的功率，SampleIQi为第i个基带IQ数据样本段。
在本步骤中，可通过如下功率计算公式，计算上述所需的整个非恒包络的平均功率，其中，该功率计算公式可为：PowerSource＝20*log[mean(abs(SourceIQ))]，其中，PowerSource为上述所需的整个非恒包络的平均功率，SourceIQ为上述所需的整个非恒包络的基带IQ数据样本。
在得到上述多个基带IQ数据样本段的功率分别与上述所需的整个非恒包络的平均功率之后，可利用上述多个基带IQ数据样本段的功率分别减去上述所需的整个非恒包络的平均功率，可得到多个差值。
步骤504，将得到的多个差值确定为上述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值。
由此可见，通过上述步骤501-步骤504即可获得上述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值，以方便基于该功率校准值对短时间内的采样功率值进行校准，从而可以快速的获得较为精确的整个非恒包络的实际功率。
根据本申请实施例的非恒包络调制信号的功率测量方法，对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度，之后，根据采样数据，计算采样时长内的采样功率值，然后，通过采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；获取目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，之后，根据目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。即通过短时间采样，提供了基于基带IQ数据匹配方式对整个非恒包络功率进行计算和校准，从而解决了包络不恒定造成的功率测量误差，在很大程度上降低了测量时间，同时保证了测量精确性，提高了功率测量效率，降低了测试成本。
与上述几种实施例(即上述图3至图5所示的实施例)提供的非恒包络调制信号的功率测试方法相对应，本发明的一种实施例还提供一种非恒包络调制信号的功率测试装置，由于本发明实施例提供的非恒包络调制信号的功率测试装置与上述几种实施例(即上述图3至图5所示的实施例)提供的非恒包络调制信号的功率测试方法相对应，因此在前述非恒包络调制信号的功率测试方法的实施方式也适用于本实施例提供的非恒包络调制信号的功率测试装置，在本实施例中不再详细描述。图6是根据本申请一个实施例的非恒包络调制信号的功率测试装置的结构示意图。如图6所示，该非恒包络调制信号的功率测试装置600可以包括：采样模块610、采样功率值计算模块620、数据匹配模块630、功率校准值获取模块640和校准模块650。
具体地，采样模块610用于对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度。作为一种示例，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
采样功率值计算模块620用于根据采样数据，计算采样时长内的采样功率值。
数据匹配模块630用于通过采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段。可选地，数据匹配模块630以上述采样数据中采样值的数量为单元，将上述整个非恒包络的基带IQ数据划分为多个基带IQ数据段；通过上述采样数据，从上述多个基带IQ数据段中匹配出上述目标基带IQ数据段。
作为一种示例，数据匹配模块630通过上述采样数据，从上述多个基带IQ数据段中匹配出上述目标基带IQ数据段的具体实现过程可如下：计算所述采样数据中各采样值与每个基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和，得到多个差值总和；确定所述差值总和中的最小值，并将所述差值总和中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
作为另一种示例，数据匹配模块630通过上述采样数据，从上述多个基带IQ数据段中匹配出上述目标基带IQ数据段的具体实现过程可如下：根据所述采样数据中各采样值和每个基带IQ数据段内各IQ数据进行方差计算，得到多个方差；确定所述多个方差中的最小值，并将所述方差中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
功率校准值获取模块640用于获取目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。作为一种示例，功率校准值获取模块640基于所述目标基带IQ数据段，从多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。
校准模块650用于根据目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。作为一种示例，校准模块650将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
在本申请的一个实施例中，如图7所示，该非恒包络调制信号的功率测试装置还可包括：基带IQ数据样本获取模块660、划分模块670、差值计算模块680、功率校准值确定模块690。其中，基带IQ数据样本获取模块660用于获取进行功率校准所需的整个包络的基带IQ数据样本；划分模块670用于基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述基带IQ数据样本划分为多个基带IQ数据样本段；差值计算模块680用于计算所述多个基带IQ数据样本段的功率分别与所述所需的整个非恒包络的平均功率的差值；功率校准值确定模块690用于将得到的多个差值确定为所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值。
根据本申请实施例的非恒包络调制信号的功率测试装置，对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度，之后，根据采样数据，计算采样时长内的采样功率值，然后，通过采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；获取目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，之后，根据目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。即通过短时间采样，提供了基于基带IQ数据匹配方式对整个非恒包络功率进行计算和校准，从而解决了包络不恒定造成的功率测量误差，在很大程度上降低了测量时间，同时保证了测量精确性，提高了功率测量效率，降低了测试成本。
本申请还提出了另一种非恒包络调制信号的功率测试方法。
图8是根据本申请另一个实施例的非恒包络调制信号的功率测试方法的流程图。如图8所示，该非恒包络调制信号的功率测试方法可以包括：
步骤810，对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度。
举例而言，假设本申请实施例的非恒包络调制信号的功率测量方法应用于电子设备上，该电子设备具有对被测件的无线性能进行测试的功能，比如该电子设备可为仪表功率测量设备，可通过电子设备对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度。作为一种示例，上述采样时长小于上述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
优选地，上述采样时长可为300μs(微秒)。由此可见，在本示例中，该采样时长为300μs，是一个较短时间，也就是说，可采用较短时间的采样时间对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得该采样时间内采集到的基带IQ数据段。
需要说明的是，上述基带IQ数据可理解是被测件中基带的I路信号和Q路信号数据。
步骤820，对采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据。
步骤830，根据采样基带IQ数据，计算采样时长内的采样功率值。
例如，可通过功率计算公式，通过上述采样基带IQ数据计算出上述采样时长内的采样功率值。
步骤840，通过采样二进制数据在被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数据段。
也就是说，被测件中发射机发送的二进制数据是已知的，这样，可将上述采样二进制数据在被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，从而将被测件中发射机发送的二进制数据中与上述采样二进制数据相同的二进制数据段，作为匹配到的目标二进制数据段。
步骤850，获取目标二进制数据段所对应的功率校准值。
可选地，基于上述目标二进制数据段，从多个二进制数据样本段所对应的功率校准值中，确定出上述目标二进制数据段所对应的功率校准值。需要说明的是，上述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值可以是预先计算而获得的，具体实现过程可参见后续实施例的描述。
步骤860，根据目标二进制数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
可选地，将上述采样时长内的采样功率值减去上述目标二进制数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。也就是说，通过短时间采样以得到短时间内的输出二进制数据段，进而基于该短时间内的输出二进制数据段进行匹配，以得到对应的功率校准值，之后，基于该功率校准值对上述短时间内的功率进行校准，从而得到整个非恒包络的实际功率，能够实现在短时间采样的情况下快速并精确计算出整个非恒包络内的总功率，可用于4G LTE、5G NR以及WIFI等非恒包络调制的信号功率测量中。
需要说明的是，上述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值可以是预先计算而获得的。作为一种示例，如图9所示，上述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值可以通过以下方式来获得：
步骤910，获取进行功率校准所需的二进制数据样本。
步骤920，基于上述采样时长和多个采样时间点，将上述所需的二进制数据样本划分为多个二进制数据样本段。
也就是说，可按照上述采样时长和多个不同的采样时间点，将上述所需的二进制数据样本划分为多个二进制数据样本段。其中，上述二进制数据样本段可理解为在对应采样时间点，进行上述采样时长的采样而能够得到的二进制数据。
步骤930，基于上述多个二进制数据样本段所对应的基带IQ数据样本段，计算上述多个二进制数据样本段对应的多个IQ功率。
例如，基于每个二进制数据样本段所对应的基带IQ数据样本段，通过功率计算公式，计算出每个二进制数据样本段对应的IQ功率。
步骤940，计算上述多个IQ功率分别与整个非恒包络的平均功率的差值。
例如，可通过功率计算公式计算出整个非恒包络的平均功率，之后，可利用上述多个IQ功率分别减去上述整个非恒包络的平均功率，可得到多个差值。
步骤950，将得到的多个差值确定为上述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值。
由此可见，通过上述步骤910-步骤950即可获得上述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值，以方便基于该功率校准值对短时间内的采样功率值进行校准，从而可以快速的获得较为精确的整个非恒包络的实际功率。
根据本申请实施例的非恒包络调制信号的功率测试方法，可对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度，并对采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据，并根据采样基带IQ数据，计算采样时长内的采样功率值，之后，通过采样二进制数据在被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数据段，并获取目标二进制数据段所对应的功率校准值，然后，根据目标二进制数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。即通过短时间采样，提供了基于二进制码源数据匹配方式对整个非恒包络功率进行计算和校准，从而解决了包络不恒定造成的功率测量误差，在很大程度上降低了测量时间，同时保证了测量精确性，提高了功率测量效率，降低了测试成本。
与上述几种实施例(即上述图8和图9所示的实施例)提供的非恒包络调制信号的功率测试方法相对应，本发明的一种实施例还提供一种非恒包络调制信号的功率测试装置，由于本发明实施例提供的非恒包络调制信号的功率测试装置与上述几种实施例(即上述图8和图9所示的实施例)提供的非恒包络调制信号的功率测试方法相对应，因此在前述非恒包络调制信号的功率测试方法的实施方式也适用于本实施例提供的非恒包络调制信号的功率测试装置，在本实施例中不再详细描述。图10是根据本申请另一个实施例的非恒包络调制信号的功率测试装置的结构示意图。如图10所示，该非恒包络调制信号的功率测试装置1000可以包括：采样模块1010、解码模块1020、采样功率值计算模块1030、数据匹配模块1040、功率校准值获取模块1050和校准模块1060。
具体地，采样模块1010用于对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度。作为一种示例，上述采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
解码模块1020用于对采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据。
采样功率值计算模块1030用于根据采样基带IQ数据，计算采样时长内的采样功率值。
数据匹配模块1040用于通过采样二进制数据在被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数据段。
功率校准值获取模块1050用于获取目标二进制数据段所对应的功率校准值。可选地，功率校准值获取模块1050基于上述目标二进制数据段，从多个二进制数据样本段所对应的功率校准值中，确定出上述目标二进制数据段所对应的功率校准值。
校准模块1060用于根据目标二进制数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。作为一种示例，校准模块1060可将上述采样时长内的采样功率值减去上述目标二进制数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
在本申请的一个实施例中，如图11所示，该非恒包络调制信号的功率测试装置1000还可包括：二进制数据样本获取模块1070、划分模块1080、IQ功率计算模块1090、差值计算模块1100和功率校准值确定模块1110。其中，二进制数据样本获取模块1070用于获取进行功率校准所需的二进制数据样本；划分模块1080用于基于上述采样时长和多个采样时间点，将上述所需的二进制数据样本划分为多个二进制数据样本段；IQ功率计算模块1090用于基于上述多个二进制数据样本段所对应的基带IQ数据样本段，计算上述多个二进制数据样本段对应的多个IQ功率；差值计算模块1100用于计算上述多个IQ功率分别与整个非恒包络的平均功率的差值；功率校准值确定模块1110用于将得到的多个差值确定为上述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值。
根据本申请实施例的非恒包络调制信号的功率测试装置，可对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度，并对采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据，并根据采样基带IQ数据，计算采样时长内的采样功率值，之后，通过采样二进制数据在被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数据段，并获取目标二进制数据段所对应的功率校准值，然后，根据目标二进制数据段所对应的功率校准值和采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。即通过短时间采样，提供了基于二进制码源数据匹配方式对整个非恒包络功率进行计算和校准，从而解决了包络不恒定造成的功率测量误差，在很大程度上降低了测量时间，同时保证了测量精确性，提高了功率测量效率，降低了测试成本。
为了实现上述实施例，本申请还提出了一种电子设备。
图12是根据本申请一个实施例的电子设备的结构示意图。如图12所示，该电子设备1200可以包括：
存储器1201、处理器1202及存储在存储器1201上并可在处理器1202上运行的计算机程序。
处理器1202执行上述计算机程序时实现上述实施例中提供的非恒包络调制信号的功率测量方法。
进一步地，电子设备1200还包括：
通信接口1203，用于存储器1201和处理器1202之间的通信。
存储器1201，用于存放可在处理器1202上运行的计算机程序。
存储器1201可能包含高速RAM存储器，也可能还包括非易失性存储器(non-volatile memory)，例如至少一个磁盘存储器。
处理器1202，用于执行计算机程序时实现上述实施例的非恒包络调制信号的功率测量方法。
如果存储器1201、处理器1202和通信接口1203独立实现，则通信接口1203、存储器1201和处理器1202可以通过总线相互连接并完成相互间的通信。总线可以是工业标准体系结构(Industry Standard Architecture，简称为ISA)总线、外部设备互连(PeripheralComponent，简称为PCI)总线或扩展工业标准体系结构(Extended Industry StandardArchitecture，简称为EISA)总线等。总线可以分为地址总线、数据总线、控制总线等。为便于表示，图12中仅用一条粗线表示，但并不表示仅有一根总线或一种类型的总线。
可选的，在具体实现上，如果存储器1201、处理器1202及通信接口1203，集成在一块芯片上实现，则存储器1201、处理器1202及通信接口1203可以通过内部接口完成相互间的通信。
处理器1202可能是一个中央处理器(Central Processing Unit，简称为CPU)，或者是特定集成电路(Application Specific Integrated Circuit，简称为ASIC)，或者是被配置成实施本申请实施例的一个或多个集成电路。
本实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现本申请上述任一个实施例所述的非恒包络调制信号的功率测量方法。
在本申请的描述中，需要理解的是，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本申请的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。
流程图中或在此以其他方式描述的任何过程或方法描述可以被理解为，表示包括一个或更多个用于实现特定逻辑功能或过程的步骤的可执行指令的代码的模块、片段或部分，并且本申请的优选实施方式的范围包括另外的实现，其中可以不按所示出或讨论的顺序，包括根据所涉及的功能按基本同时的方式或按相反的顺序，来执行功能，这应被本申请的实施例所属技术领域的技术人员所理解。
在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备(如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统)使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例(非穷尽性列表)包括以下：具有一个或多个布线的电连接部(电子装置)，便携式计算机盘盒(磁装置)，随机存取存储器(RAM)，只读存储器(ROM)，可擦除可编辑只读存储器(EPROM或闪速存储器)，光纤装置，以及便携式光盘只读存储器(CDROM)。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得程序，然后将其存储在计算机存储器中。
应当理解，本申请的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列(PGA)，现场可编程门阵列(FPGA)等。
本技术领域的普通技术人员可以理解实现上述实施例方法携带的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件完成的，程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，该程序在执行时，包括方法实施例的步骤之一或其组合。
此外，在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理模块中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。集成的模块如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。
上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。尽管上面已经示出和描述了本申请的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本申请的限制，本领域的普通技术人员在本申请的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (17)

1.一种非恒包络调制信号的功率测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；
根据所述采样数据，计算所述采样时长内的采样功率值；
通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；
获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；
根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段，包括：
以所述采样数据中采样值的数量为单元，将所述整个非恒包络的基带IQ数据划分为多个基带IQ数据段；
通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：
计算所述采样数据中各采样值与每个基带IQ数据段内各IQ数据之间的差值总和，得到多个差值总和；
确定所述多个差值总和中的最小值，并将所述多个差值总和中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，通过所述采样数据，从所述多个基带IQ数据段中匹配出所述目标基带IQ数据段，包括：
根据所述采样数据中各采样值和每个基带IQ数据段内各IQ数据进行方差计算，得到多个方差；
确定所述多个方差中的最小值，并将所述方差中的最小值所对应的基带IQ数据段确定为所述目标基带IQ数据段。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，包括：
基于所述目标基带IQ数据段，从多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，通过以下方式获得所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值：
获取进行功率校准所需的整个包络的基带IQ数据样本；
基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述基带IQ数据样本划分为多个基带IQ数据样本段；
计算所述多个基带IQ数据样本段的功率分别与所述所需的整个非恒包络的平均功率的差值；
将得到的多个差值确定为所述多个基带IQ数据样本段所对应的功率校准值。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率，包括：
将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
9.一种非恒包络调制信号的功率测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；
对所述采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据；
根据所述采样基带IQ数据，计算所述采样时长内的采样功率值；
通过所述采样二进制数据在所述被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数据段；
获取所述目标二进制数据段所对应的功率校准值；
根据所述目标二进制数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，获取所述目标二进制数据段所对应的功率校准值，包括：
基于所述目标二进制数据段，从多个二进制数据样本段所对应的功率校准值中，确定出所述目标二进制数据段所对应的功率校准值。
11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，通过以下方式获得所述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值：
获取进行功率校准所需的二进制数据样本；
基于所述采样时长和多个采样时间点，将所述所需的二进制数据样本划分为多个二进制数据样本段；
基于所述多个二进制数据样本段所对应的基带IQ数据样本段，计算所述多个二进制数据样本段对应的多个IQ功率；
计算所述多个IQ功率分别与整个非恒包络的平均功率的差值；
将得到的多个差值确定为所述多个二进制数据样本段所对应的功率校准值。
12.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，根据所述目标二进制数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率，包括：
将所述采样时长内的采样功率值减去所述目标二进制数据段所对应的功率校准值，得到的差值确定为整个非恒包络的实际功率。
13.根据权利要求9至12中任一项所述的方法，其特征在于，所述采样时长小于所述整个非恒包络信号的周期长度的十分之一。
14.一种非恒包络调制信号的功率测试装置，其特征在于，包括：
采样模块，用于对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以获得采样数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；
采样功率值计算模块，用于根据所述采样数据，计算所述采样时长内的采样功率值；
数据匹配模块，用于通过所述采样数据在整个非恒包络的基带IQ数据中进行匹配，得到目标基带IQ数据段；
功率校准值获取模块，用于获取所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值；
校准模块，用于根据所述目标基带IQ数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
15.一种非恒包络调制信号的功率测试装置，其特征在于，包括：
采样模块，用于对被测件发射出来的基带IQ数据进行采样，以得到采样基带IQ数据，其中，采样时长小于整个非恒包络信号的周期长度；
解码模块，用于对所述采样基带IQ数据进行解码，得到采样二进制数据；
采样功率值计算模块，用于根据所述采样基带IQ数据，计算所述采样时长内的采样功率值；
数据匹配模块，用于通过所述采样二进制数据在所述被测件中发射机发送的二进制数据中进行匹配，得到目标二进制数据段；
功率校准值获取模块，用于获取所述目标二进制数据段所对应的功率校准值；
校准模块，用于根据所述目标二进制数据段所对应的功率校准值和所述采样时长内的采样功率值，获取整个非恒包络的实际功率。
16.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时，实现如权利要求1至13中任一项所述的非恒包络调制信号的功率测试方法。
17.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至13中任一项所述的非恒包络调制信号的功率测试方法。
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